JPH062271Y2 - Tabと電極の精密位置決め機構 - Google Patents

Tabと電極の精密位置決め機構

Info

Publication number
JPH062271Y2
JPH062271Y2 JP5923188U JP5923188U JPH062271Y2 JP H062271 Y2 JPH062271 Y2 JP H062271Y2 JP 5923188 U JP5923188 U JP 5923188U JP 5923188 U JP5923188 U JP 5923188U JP H062271 Y2 JPH062271 Y2 JP H062271Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tab
pusher
specific symbol
electrode
clamp
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP5923188U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH01163335U (ja
Inventor
裕之 牧下
Original Assignee
安藤電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 安藤電気株式会社 filed Critical 安藤電気株式会社
Priority to JP5923188U priority Critical patent/JPH062271Y2/ja
Publication of JPH01163335U publication Critical patent/JPH01163335U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH062271Y2 publication Critical patent/JPH062271Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (a)考案の技術分野 この考案は、TABと電極を精密に位置決めするための
位置決め機構についてのものである。
(b)従来技術と問題点 最初に、TABの外観を第8図で説明する。
TAB1は基板が写真のフィルム状になっており、各コ
マにデバイス1Aを構成している。
デバイス1Aを試験するためには、測定ピンを端子1B
に接触させる。
測定ピンは電極に取り付けられているので、TABと電
極を正確に位置決めしなければならない。
TABと電極の接触機構については、例えば、実願昭62
-130232号明細書にも記載されている。
しかし、この従来技術では、位置決めピンでTABと電
極の位置決めをしており、スプロケットと位置決めピン
との間には、わずかの隙間があるので、精密に位置合わ
せをするのは困難である。
(c)考案の目的 この考案は、TABの固定機構全体を微動できるように
し、最初に電極の上に移動したTABを正確に位置決め
し、このときのTABの特定シンボルを撮像管で撮影し
て表示器に表示しておき、次のTABを電極の上に移動
したときは、表示器に表示されている特定シンボルと次
のTABの特定シンボルがオーバーラップするように固
定機構全体を微動して、TABと電極を精密に位置合わ
せをすることができるようにした位置決め機構の提供を
目的とする。
(d)考案の実施例 次に、この考案による実施例の構成図を第1図に示す。
第1図の1はTAB、2はプッシャ、3はクランプ、4
はXY移動機構、5は撮像管、6は表示器、7は電極、
8は測定ピンである。
TAB1はプーリ9A・9Bの間を通過する。
プッシャ2はボールネジ10の回転でZ方向に移動す
る。
クランプ3は、TAB1に対し、プッシャ2の反対側に
配置されている。
XY移動機構4は、プッシャ2とクランプ3をXY方向
に微動させる。XY移動機構4には、XY軸パルスステ
ージなどを使用することができる。
撮像管5は、後述のTAB1の特定シンボル11を撮影
する。
表示器6は、撮像管5で撮影した特定シンボル11を表
示する。
次に、第1図の要部分解図を第2図に示す。第2図のプ
ッシャ2を下に移動してクランプ3とプッシャ2でTA
B1を挟む。
クランプ3には、TAB1に接触する4個の凸部3Aが
あり、中央部分には電極7が入るように穴3Bがあけら
れている。
プッシャ2とクランプ3でTAB1を挟んだ状態で、第
1図のXY移動機構4を駆動し、電極7の測定ピン8と
TAB1の端子1Bが最適の位置になるように調節す
る。この調節は手動でもよい。
この状態で、後述のTAB1の特定シンボル11を撮像
管5で撮影する。
次に、第1図の状態からTAB1を電極7の測定ピン8
に接触させるまでの要部の状態を第3図から第5図で説
明する。
第3図は、プッシャ2を上にあげ、TAB1をフリーの
状態にしているところを示す。
第4図は、第3図の状態からプッシャ2を下にさげ、プ
ッシャ2とクランプ3とでTAB1を挟んだ状態を示
す。
第4図の状態で、第1図のXY移動機構4を駆動して、
または手動で、TAB1を微動し、電極7とTAB1を
正確に位置決めする。
そして、第1図の撮像管5で、このときのTAB1の特
定シンボル11を撮影し、この特定シンボル11を表示
器6に表示する。
次に、表示器6に表示された特定シンボル11の例を第
6図に示す。
第6図は、第8図の端子1Bとデバイス1Aの間のリー
ド線の一部の幅を太くした部分を特定シンボル11とし
て表示したものである。
第5図は、第4図の状態からさらにプッシャ2を下にさ
げ、プッシャ2とクランプ3で挟んだTAB1を電極7
の測定ピン8に接触させている状態を示す。
第5図では、プッシャ2がTAB1を押しながら下にさ
がるので、クランプ3も下にさがるように、クランプ3
に連結しているバー3Aが下にさがり、その分、ばね3
Bが縮むようになっている。
すなわち、第3図から第4図になるときは、プッシャ2
だけが下にさがっていくが、第4図から第5図になると
きは、プッシャ2とクランプ3が一体となって下にさが
っていく。
第5図の状態で、電極7の測定ピン8をTAB1に接触
させ、TAB1の1コマのデバイス1Aを試験する。
試験が終ると、プッシャ2を上にあげ、第3図の状態に
してTAB1をフリーにし、次のTAB1が電極7の上
にくるように、TAB1を送り出す。
そして、第3図から第4図までを繰り返し、次のTAB
1を電極7の位置に移動させる。
次のTAB1が電極7の上にきたときは、表示器6に表
示されている特定シンボル11と次のTAB1の特定シ
ンボル12が一致するようにXY移動機構4を微動させ
る。
次に、表示器6に表示された特定シンボル12の例を第
7図に示す。
第7図は、第6図と同じ部分を特定シンボルとして表示
したものであるが、第6図に比べて位置が右にずれてい
る状態を示している。
第7図の特定シンボル12が第6図の特定シンボル11
とオーバーラップするように、XY移動機構4を微動す
れば、次のTAB1と電極7は正確に位置決めされたこ
とになる。
(e)考案の効果 この考案によれば、TABの固定機構全体を微動できる
ようにするとともに、最初に電極の上に移動したTAB
を正確に位置決めし、このときのTABの特定シンボル
を撮像管で撮影して表示器に表示しておき、次のTAB
を電極の上に移動したときは、表示器に表示されている
特定シンボルと次のTABの特定シンボルがオーバーラ
ップするように固定機構全体を微動するようにしている
ので、TABと電極を精密に位置合わせをすることがで
きる。
なお、第6図と第7図のように、表示器6に特定シンボ
ル11・12を表示して位置合せをすることもできる
が、特開昭62-200274号公報のように表示画面の目視に
よらないで、位置合せをすることもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案による実施例の構成図、第2図は第1
図の要部分解図、第3図から第5図は第1図の状態変化
図、第6図と第7図は表示器6の表示例を示す図、第8
図はTABの外観図である。 1……TAB、2……プッシャ、3……クランプ、4…
…XY移動機構、5……撮像管、6……表示器、7……
電極、8……測定ピン、9A・9B……プーリ、10…
…ボールネジ、11・12……特定シンボル。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】Z方向に移動してTAB(1)に接触するプ
    ッシャ(2)と、 TAB(1)に対し、プッシャ(2)の反対側に配置され、T
    AB(1)に接触するクランプ(3)と、 プッシャ(2)とクランプ(3)をXY方向に微動させるXY
    移動機構(4)と、 TAB(1)の特定シンボル(1A)を撮影する撮像管(5)と、 撮像管(5)で撮影した特定シンボル(1A)を表示する表示
    器(6)とを備え、 最初にプッシャ(2)を移動してプッシャ(2)とクランプ
    (3)でTAB(1)を挟み、XYテーブル(4)を微動して電
    極(7)の測定ピン(8)とTAB(1)の位置決めをし、この
    ときのTAB(1)の特定シンボル(11)を撮像管(5)で撮影
    して表示器(6)に表示し、 次のTAB(1)を電極(7)の位置に移動させたとき、表示
    器(6)に表示されている特定シンボル(11)と次のTAB
    (1)の特定シンボル(12)が一致するまでXY移動機構(4)
    を微動させることを特徴とするTABと電極の精密位置
    決め機構。
JP5923188U 1988-04-30 1988-04-30 Tabと電極の精密位置決め機構 Expired - Lifetime JPH062271Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5923188U JPH062271Y2 (ja) 1988-04-30 1988-04-30 Tabと電極の精密位置決め機構

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5923188U JPH062271Y2 (ja) 1988-04-30 1988-04-30 Tabと電極の精密位置決め機構

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01163335U JPH01163335U (ja) 1989-11-14
JPH062271Y2 true JPH062271Y2 (ja) 1994-01-19

Family

ID=31285013

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5923188U Expired - Lifetime JPH062271Y2 (ja) 1988-04-30 1988-04-30 Tabと電極の精密位置決め機構

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH062271Y2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2556386Y2 (ja) * 1991-02-21 1997-12-03 安藤電気株式会社 Tabテープ用オートハンドラ
JP2570568Y2 (ja) * 1991-03-19 1998-05-06 安藤電気株式会社 プローブへの過負荷防止機構

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01163335U (ja) 1989-11-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0415032A (ja) 眼球運動測定装置
TW528855B (en) Method of alignment between sheet materials, method of alignment, substrate assembling method and aligning apparatus
JPH062271Y2 (ja) Tabと電極の精密位置決め機構
JPH07115300A (ja) 電子部品位置決め装置
JP4926075B2 (ja) Tcpハンドリング装置およびtcpハンドリング装置における接続端子の位置合わせ方法
US5519535A (en) Precision placement apparatus having liquid crystal shuttered dual prism probe
JPS6211105A (ja) 光学的計測法及びその装置
JPH05326675A (ja) プローブ装置
JP2001255232A (ja) 表示用パネル基板の検査装置
JPS5855366Y2 (ja) 外部センサ
JP3336728B2 (ja) Tab用オートハンドラ
TW535007B (en) Position adjusting device for optical device, method for adjusting position of optical modulating device, and its initial position adjusting clamp
JP3876516B2 (ja) 光学式伸び計用校正装置
JP2002149347A (ja) タッチパネル搭載機器調整装置およびタッチパネル搭載機器調整方法
JP2708460B2 (ja) チップ貼付装置
JP2001050858A (ja) 表示用パネル基板の検査装置
JPS63237538A (ja) ウエハオ−トプロ−バ
JPS636942Y2 (ja)
JP2606536B2 (ja) 材料試験機
JPH0682927A (ja) 写真プリンタの液晶パネルモニタ
JPS58127103A (ja) 目合せマ−ク検出装置
JP2897750B2 (ja) 半導体装置のリードコンタクト装置
US5361146A (en) Liquid crystal display panel monitor
JPH02212975A (ja) プリント配線板検査装置
JPH03230308A (ja) 磁気ヘッド特性測定方法及び装置