JPH06216178A - Molding die for resin-sealed semiconductor device - Google Patents

Molding die for resin-sealed semiconductor device

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JPH06216178A
JPH06216178A JP784693A JP784693A JPH06216178A JP H06216178 A JPH06216178 A JP H06216178A JP 784693 A JP784693 A JP 784693A JP 784693 A JP784693 A JP 784693A JP H06216178 A JPH06216178 A JP H06216178A
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JP
Japan
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resin
lead frame
cavity
gate
mold
Prior art date
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Application number
JP784693A
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Japanese (ja)
Inventor
Daiichi Saito
大一 齋藤
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Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
Original Assignee
Fujitsu Miyagi Electronics Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH06216178A publication Critical patent/JPH06216178A/en
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Abstract

PURPOSE:To block the turning intrusion of resin at the outer surface through a gate sufficiently as the preventing countermeasure against the occurrence of the burr of the resin attached to the outer surface of a lead frame with regard to a molding die for forming the package of a resin sealed semiconductor device so as to hold the lead frame between a lower die and an upper die. CONSTITUTION:A wall surface 2a faces an outer side surface 21a of a lead frame 21, which is mounted on a cavity forming surface 7. A protruding part 13 is provided in the vicinity of a gate 5 of a lower die 2. The protruding part 13 is made to extend into the local region of the outer surface part of the lead frame 21 from the side wall 2a and made to protrude from the cavity forming surface 7. The protruding part 13 crushes the local region to the thin form by closing with an upper die 1. A protruding part 21b, which is locally formed at the outer shape of the lead frame by the crushing, narrows a part of a gap (g) between the outer side surface 21a and the side wall 2a. The turning intrusion of the resin into the outer surface of the lead frame 21 from the gate 5 is blocked when the resin is injected in the halfway in this constitution.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、下型と上型の間にリー
ドフレームを挟んで、樹脂封止半導体装置のパッケージ
を形成する樹脂封止半導体装置用モールド金型に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resin-molded semiconductor device molding die for forming a package of a resin-molded semiconductor device by sandwiching a lead frame between a lower mold and an upper mold.

【0002】上記樹脂封止半導体装置は、内部リード及
び外部リードを有するリードフレームの内部リード側に
半導体チップを実装し、上記モールド金型を用いた樹脂
成形により内部リードと共に半導体チップを樹脂封止す
るパッケージを形成し、リードフレームの不要部切断そ
の他の後加工を加えて完成する。
In the above resin-sealed semiconductor device, a semiconductor chip is mounted on the inner lead side of a lead frame having an inner lead and an outer lead, and the semiconductor chip is resin-sealed together with the inner lead by resin molding using the molding die. Package is formed, and unnecessary parts of the lead frame are cut and other post-processing is performed to complete the process.

【0003】この樹脂成形では、リードフレームの外周
に不要な樹脂バリが付着しないようにすることが望まし
く、少なくとも除去困難な樹脂バリの付着は生じないよ
うにする必要がある。そのためモールド金型には所要の
措置が講じられる。本発明はその措置に関する工夫であ
る。
In this resin molding, it is desirable to prevent unnecessary resin burrs from adhering to the outer periphery of the lead frame, and at least to prevent the adhesion of resin burrs that are difficult to remove. Therefore, necessary measures are taken for the mold. The present invention is a device related to that measure.

【0004】[0004]

【従来の技術】図4は上述した樹脂封止半導体装置用モ
ールド金型を説明するための斜視図であり、図5はリー
ドフレームの平面図(a)とパッケージ形成時の平面図
(b)である。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is a perspective view for explaining a molding die for a resin-sealed semiconductor device described above, and FIG. 5 is a plan view (a) of a lead frame and a plan view (b) when a package is formed. Is.

【0005】図4において、このモールド金型とそれに
よる樹脂成形は凡そ次の通りである。即ち、1は上型、
2は下型であり、下型2のキャビティ形成面7(図では
6個のキャビティ6を一列に並べて彫り込んだ面)上に
図5(a)のようなリードフレーム21を載置し、上型
1と下型2を上下突き当てる型締めによりリードフレー
ム21を両面から挟み、上型1のポット14に予熱され
た樹脂タブレット15を投入し、プランジャー16で樹
脂タブレット15に圧力を加える。タブレット15の樹
脂は、センターカル3→ランナー4→ゲート5を経て個
々のキャビティ6に注入され、図5(b)のように樹脂
封止半導体装置のパッケージ25を形成する。
In FIG. 4, the molding die and the resin molding using the same are as follows. That is, 1 is the upper mold,
Reference numeral 2 denotes a lower mold. The lead frame 21 as shown in FIG. 5A is placed on the cavity forming surface 7 of the lower mold 2 (the surface in which the six cavities 6 are engraved in a line in the figure). The lead frame 21 is sandwiched from both sides by mold clamping in which the mold 1 and the lower mold 2 are butted against each other, the preheated resin tablet 15 is put into the pot 14 of the upper mold 1, and pressure is applied to the resin tablet 15 by the plunger 16. The resin of the tablet 15 is injected into the individual cavities 6 through the center cull 3 → runner 4 → gate 5 to form the package 25 of the resin-sealed semiconductor device as shown in FIG. 5B.

【0006】リードフレーム21は、内部リード22、
外部リード23、ダイステージ24を有し、予め、半導
体チップをダイステージ24に固定し内部リード22に
接続してある(図示省略)ので、パッケージ25は、内
部リード22及びダイステージ24と共に半導体チップ
を樹脂封止する。
The lead frame 21 includes internal leads 22,
Since the semiconductor chip is fixed to the die stage 24 in advance and connected to the internal lead 22 (not shown), the package 25 includes the external lead 23 and the die stage 24. Is sealed with resin.

【0007】上述のモールド金型は、製造や保守を容易
にするため、下型2で見ると、センターブロック8と図
6に示すチェイスブロック9を組み込んだ形態にしてあ
り、センターブロック8にはセンターカル3とランナー
4の前半が配置され、チェイスブロック9には、ランナ
ー4の後半が配置され、その両側に上面がキャビティ形
成面7となるキャビティブロック10を組み込んであ
る。ゲート5は、チェイスブロック9のランナー4から
キャビティブロック10のキャビティ6に通ずる。
In order to facilitate manufacturing and maintenance, the above-mentioned molding die has a form in which the center block 8 and the chase block 9 shown in FIG. The center half 3 and the first half of the runner 4 are arranged, the second half of the runner 4 is arranged in the chase block 9, and the cavity blocks 10 whose upper surfaces serve as the cavity forming surfaces 7 are incorporated on both sides thereof. The gate 5 extends from the runner 4 of the chase block 9 to the cavity 6 of the cavity block 10.

【0008】上型1は、下型2と同様にセンターブロッ
クとチェイスブロックを組み込んだ形態をなし、ポット
14がセンターカル3の上に位置しキャビティ6と組に
なるキャビティがキャビティブロックに設けられて、ラ
ンナー及びゲートは一般には下型2に依存して省略され
ている。
Like the lower mold 2, the upper mold 1 has a form in which a center block and a chase block are incorporated, and a cavity is provided in the cavity block so that the pot 14 is located above the center cull 3 and forms a pair with the cavity 6. The runner and gate are generally omitted depending on the lower mold 2.

【0009】ところで、リードフレーム21は下型2に
対し搬入搬出するものであるため、下型2は、リードフ
レーム21を載置した際にその周囲に若干(例えば0.
05mm程度)の隙間が生ずるように作ってあり、然
も、ゲート5がその隙間を横切っている。このため樹脂
成形において、樹脂をキャビティ6に注入する際にその
樹脂がゲート5の途中から上記隙間にも回り込むので、
リードフレーム21には、図5(b)のように、所要の
パッケージ25が形成されると共に外周に不要な樹脂バ
リ26,27が付着する。
By the way, since the lead frame 21 is carried in and out of the lower die 2, the lower die 2 is slightly (for example, 0.
A gap of about 05 mm) is formed, and the gate 5 crosses the gap. For this reason, in resin molding, when the resin is injected into the cavity 6, the resin also wraps around the gap from the middle of the gate 5,
As shown in FIG. 5B, a required package 25 is formed on the lead frame 21, and unnecessary resin burrs 26 and 27 are attached to the outer periphery thereof.

【0010】樹脂バリ26は、リードフレーム21の側
部の平坦な外側面に付着するもので、事後に容易に除去
可能であるが、樹脂バリ27は、リードフレーム21の
端部に回り込んで外部リード23に付着するもので、事
後の除去の際に外部リード23を変形させないようにす
ることが極めて困難である。特に、型締めの安定化のた
め外部リード23の部分でキャビティ形成面7に凹みに
よる逃げを取ってある場合には、樹脂バリ27は外部リ
ード23の表面にも回り込むので除去が不可能に近い。
従って上記モールド金型では、樹脂バリ27の付着が生
じないような措置を講ずる必要がある。
The resin burr 26 adheres to the flat outer surface of the side portion of the lead frame 21 and can be easily removed after the fact. However, the resin burr 27 wraps around the end portion of the lead frame 21. Since it adheres to the external leads 23, it is extremely difficult to prevent the external leads 23 from being deformed during subsequent removal. In particular, in the case where the cavity forming surface 7 is provided with a recess in the outer lead 23 for stabilizing the mold clamping, the resin burr 27 also wraps around the surface of the outer lead 23 and is thus almost impossible to remove. .
Therefore, it is necessary to take measures to prevent the resin burr 27 from adhering to the mold.

【0011】上述したモールド金型の従来例の上記措置
は、図6及び図7に示される。図6は従来例の下型にお
けるチェイスブロックの斜視図、図7は従来例の下型に
おけるキャビティブロックの斜視図(a)と部分拡大斜
視図(b)であり、件の措置として、チェイスブロック
9とキャビティブロック10との境界部の樹脂バリ27
を回り込ませる前記隙間となる部分に、その隙間の一部
が狭まるように(例えば0.05mm程度となるよう
に)した樹脂回り止めブロック11を配置してある。
The above-mentioned measures of the conventional example of the molding die described above are shown in FIGS. 6 and 7. FIG. 6 is a perspective view of a chase block in a lower die of a conventional example, and FIG. 7 is a perspective view (a) and a partially enlarged perspective view (b) of a cavity block in a lower die of the conventional example. Resin burr 27 at the boundary between 9 and the cavity block 10.
A resin rotation-stop block 11 is arranged in a portion to be the gap around which the resin is blocked so that a part of the gap is narrowed (for example, about 0.05 mm).

【0012】これにより、樹脂バリ27になろうとする
樹脂は、樹脂回り止めブロック11の位置からリードフ
レーム21の端部側へ多少滲み出たとしても、外部リー
ド23が並ぶ部分まで回り込むことがなくなって、樹脂
バリ27にはならず樹脂バリ26と類似した除去容易な
樹脂バリとなるに留まる。
As a result, even if the resin that is about to become the resin burr 27 slightly bleeds from the position of the resin rotation-stop block 11 to the end portion side of the lead frame 21, it does not come around to the portion where the external leads 23 are lined up. As a result, the resin burr 27 does not become the resin burr 27 and is similar to the resin burr 26 and is easily removed.

【0013】樹脂回り止めブロック11によって狭めら
れた隙間の大きさは、0にするのが理想的であるが、樹
脂回り止めブロック11がキャビティ形成面7からリー
ドフレーム21の厚さ分だけ突出するので、キャビティ
形成面7に載置したリードフレーム21が樹脂回り止め
ブロック11と重ならないようにするため、少なくとも
0.01mm程度以上にする必要がある。
The size of the gap narrowed by the resin rotation preventing block 11 is ideally set to 0, but the resin rotation preventing block 11 projects from the cavity forming surface 7 by the thickness of the lead frame 21. Therefore, in order to prevent the lead frame 21 placed on the cavity forming surface 7 from overlapping with the resin rotation-stop block 11, it is necessary to make it at least about 0.01 mm or more.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】ところが、近年新タイ
プ樹脂の開発が進み、その結果として、流れ性が極端に
良い樹脂や、大幅に高い樹脂充填圧力を必要として注入
時の流れが従来より大になる樹脂が出回ってきた。この
様な樹脂を使用すると、樹脂回り止めブロック11の上
述した機能が不十分となり、樹脂バリ27の発生を起こ
す場合がある。その場合には、リードフレーム21の外
周におけるゲート5からの樹脂の回り込みをより一層強
く阻止する措置が必要である。
However, in recent years, the development of new type resins has progressed, and as a result, the resin with extremely good flowability and the flow at the time of injection, which requires a significantly high resin filling pressure, are larger than before. The resin that becomes becomes available. If such a resin is used, the above-mentioned function of the resin rotation-stop block 11 becomes insufficient, and the resin burr 27 may be generated. In that case, it is necessary to more strongly prevent the resin from flowing from the gate 5 around the outer periphery of the lead frame 21.

【0015】本発明は、下型と上型の間にリードフレー
ムを挟んで、樹脂封止半導体装置のパッケージを形成す
る樹脂封止半導体装置用モールド金型に関し、リードフ
レームの外周におけるゲートからの樹脂の回り込みを確
実に阻止し得るようにすることを目的とする。
The present invention relates to a resin-molded semiconductor device molding die for forming a package of a resin-molded semiconductor device by sandwiching a lead frame between a lower mold and an upper mold. The purpose of the present invention is to reliably prevent the resin from wrapping around.

【0016】[0016]

【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理説明
図であり、(a)は下型の部分平面図、(b)はそのA
−A断面図、(c)は同じくB−B断面図である。
1A and 1B are explanatory views of the principle of the present invention. FIG. 1A is a partial plan view of a lower mold, and FIG.
-A sectional drawing, (c) is BB sectional drawing similarly.

【0017】上記目的を達成するために、本発明による
樹脂封止半導体装置用モールド金型は、図1を参照し
て、下型2のキャビティ形成面7にリードフレーム21
を載置し、上型1との型締めによりリードフレーム21
を両面から挟み、下型2の表面に設けたゲート5を通し
て樹脂をキャビティ6に注入することにより、リードフ
レーム21に樹脂封止半導体装置のパッケージを形成す
るモールド金型であって、下型2のゲート5近傍に、前
記載置されたリードフレーム21の外側面21aに対向
する壁面2aからリードフレーム21外周部の局部領域
に延在させてキャビティ形成面7より突出し、前記型締
めにより該局部領域を肉薄に押し潰す凸部13を有し、
前記押し潰しによりリードフレーム21の外形に局部的
に生ずる突出部21bが、外側面21aと壁面2aとの
間の隙間gの一部を狭めて、前記注入時における樹脂の
ゲート5からリードフレーム21外周への回り込みを途
中で阻止することを特徴としている。
In order to achieve the above-mentioned object, the resin-molded semiconductor device molding die according to the present invention is provided with a lead frame 21 on the cavity forming surface 7 of the lower die 2 with reference to FIG.
The lead frame 21 by mounting the
Is a mold die for forming a package of the resin-sealed semiconductor device on the lead frame 21 by injecting resin into the cavity 6 through the gate 5 provided on the surface of the lower mold 2 with the lower mold 2 In the vicinity of the gate 5 of the lead frame 21 extending from the wall surface 2a facing the outer surface 21a of the lead frame 21 to the local area of the outer peripheral portion of the lead frame 21 and projecting from the cavity forming surface 7 by the mold clamping. Has a convex portion 13 that crushes the region thinly,
The protruding portion 21b locally generated on the outer shape of the lead frame 21 by the squeezing narrows a part of the gap g between the outer surface 21a and the wall surface 2a, and the resin gate 5 to the lead frame 21 at the time of the injection. The feature is that it is prevented from wrapping around the outer circumference.

【0018】そして、凸部13を有するゲート5近傍
は、リードフレーム21の外部リードが並ぶ端部への樹
脂の回り込みを阻止する部位であることが望ましく、ま
た、下型2は、キヤビテイ6がキャビティブロックに配
置され、凸部13は、該キャビティブロックに取り外し
可能な樹脂回り止めブロツクによって形成されているこ
とが望ましい。
It is desirable that the vicinity of the gate 5 having the convex portion 13 is a portion for preventing resin from wrapping around to the end portion of the lead frame 21 where the external leads are lined up. It is desirable that the convex portion 13 disposed on the cavity block is formed by a resin rotation stop block that is removable from the cavity block.

【0019】[0019]

【作用】先に述べたように、リードフレーム21をキャ
ビティ形成面7に載置する都合から、下型2の壁面2a
は、載置したリードフレーム21の外側面21aとの間
に例えば0.05mm程度の隙間が生ずるような配置で
あることが必要であり、その隙間をゲート5からの樹脂
回り込みの阻止のため局部的に狭めても0.01mm程
度が限界であるので、従来例のモールド金型では注入時
の樹脂流れが良い新タイプ樹脂を使用した際に上記回り
込みの阻止が不十分となった。
As described above, since the lead frame 21 is placed on the cavity forming surface 7, the wall surface 2a of the lower mold 2 is used.
Must be arranged such that a gap of, for example, about 0.05 mm is formed between the mounted lead frame 21 and the outer side surface 21a. Since the limit is about 0.01 mm even if it is narrowed, the conventional mold die cannot sufficiently prevent the above-mentioned wraparound when a new type resin having a good resin flow at the time of injection is used.

【0020】これに対して本発明のモールド金型では、
リードフレーム21を載置した後の型締めにおいてリー
ドフレーム21に突出部21aを形成し、それにより壁
面2aに対する隙間gの一部を狭めるので、リードフレ
ーム21の載置に支障を来さないようにしながら、リー
ドフレーム21の外周におけるゲート5からの樹脂の回
り込みを確実に阻止し得るようにすることが可能とな
る。
On the other hand, in the molding die of the present invention,
Since the projecting portion 21a is formed on the lead frame 21 in the mold clamping after the lead frame 21 is placed, and a part of the gap g with respect to the wall surface 2a is narrowed thereby, the placement of the lead frame 21 is not hindered. However, it is possible to reliably prevent the resin from flowing around from the gate 5 on the outer periphery of the lead frame 21.

【0021】そして、突出部21aを形成する凸部13
をリードフレーム21の外部リードが並ぶ端部への樹脂
の回り込みを阻止するゲート5近傍に配置すれば、先に
説明した樹脂バリ27の発生を抑えることができて、事
後の除去が困難な樹脂バリの付着を防止することができ
る。いうまでもなく、凸部13を各ゲート5の両側に配
置すれば、樹脂バリ27と共に先に説明した樹脂バリ2
6も抑えることができる。
Then, the convex portion 13 forming the protruding portion 21a
Is disposed in the vicinity of the gate 5 that prevents the resin from wrapping around the end of the lead frame 21 where the external leads are lined up, the resin burr 27 described above can be suppressed from being generated, and the resin that is difficult to remove afterwards. It is possible to prevent the adhesion of burrs. Needless to say, if the convex portions 13 are arranged on both sides of each gate 5, the resin burr 27 and the resin burr 2 described above will be used.
6 can be suppressed.

【0022】また、当該モールド金型は、キャビティ6
をキャビティブロックに配置した形態にし、凸部13を
そのキャビティブロックに取り外し可能な上記樹脂回り
止めブロツクによって形成することにより、製造及び保
守が容易になる。
Further, the molding die has a cavity 6
Is arranged in the cavity block, and the convex portion 13 is formed in the cavity block by the removable resin blocking block, which facilitates manufacturing and maintenance.

【0023】[0023]

【実施例】以下本発明の実施例について図2及び図3を
用いて説明する。図2は実施例の下型におけるチェイス
ブロックの斜視図、図3は実施例の下型におけるキャビ
ティブロックの斜視図(a)と部分拡大斜視図(b)で
あり、全図を通し同一符号は同一対象物を示す。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. 2 is a perspective view of the chase block in the lower mold of the embodiment, and FIG. 3 is a perspective view (a) and a partially enlarged perspective view (b) of the cavity block in the lower mold of the embodiment. Indicates the same object.

【0024】この実施例は、先に説明した図4の形態を
なし、前述した樹脂バリ27の付着が生じないようにす
る措置として、従来例の樹脂回り止めブロック11を図
2及び図3に示す樹脂回り止めブロック12に変えたも
のである。
This embodiment has the form of FIG. 4 described above, and as a measure for preventing the adhesion of the resin burr 27 described above, the conventional resin whirl-stop block 11 is shown in FIG. 2 and FIG. The resin rotation stop block 12 shown in FIG.

【0025】即ち、図2及び図3において、樹脂回り止
めブロック12は、キャビティブロック10のチェイス
ブロック9と接する部分の樹脂バリ27を回り込ませる
隙間が形成される部位に、具体的にはキャビティブロッ
ク10の隅(端面側)に配置してあり、上端部の一部が
キャビティ形成面7から突出して図1で説明した凸部1
3とそれに連なる壁面2aを形成している。
That is, in FIG. 2 and FIG. 3, the resin whirl-stop block 12 is specifically a cavity block 10 at a portion in contact with the chase block 9 where a gap for letting the resin burr 27 around is formed, specifically, the cavity block. The convex portion 1 described above with reference to FIG. 1 is arranged at the corner (end face side) of 10 and a part of the upper end portion projects from the cavity forming face 7.
3 and a wall surface 2a continuous with the wall surface 3 are formed.

【0026】その壁面2aは、キャビティ形成面7から
見た高さがリードフレーム21の厚さにほぼ合致して、
載置したリードフレーム21の外側面21aとの間の隙
間gが0.01mm程度となるようにしてあり、凸部1
3は、同じく高さhがリードフレーム21の厚さの約3
5%で、リードフレーム21側への奥行きが約1mmで
ある。また樹脂回り止めブロック12の幅はその取扱い
を容易にするため約10mmにしてあるが、壁面2a及
び凸部13の幅はキャビティブロック10の隅から約3
mmである。
The height of the wall surface 2a as viewed from the cavity forming surface 7 substantially matches the thickness of the lead frame 21,
The gap g between the mounted lead frame 21 and the outer surface 21a is set to about 0.01 mm, and the convex portion 1
3, the height h is about 3 of the thickness of the lead frame 21.
At 5%, the depth toward the lead frame 21 side is about 1 mm. The width of the resin rotation-stop block 12 is about 10 mm for easy handling, but the widths of the wall surface 2a and the protrusion 13 are about 3 mm from the corner of the cavity block 10.
mm.

【0027】このような樹脂回り止めブロック12を配
置した実施例は、図1で説明したように、型締めの際に
凸部13がリードフレーム21外周部の局部領域を押し
潰して、上記0.01mm程度の隙間gを0mm程度に
狭めるので、リードフレーム21の載置に支障をきたす
ことがなく、且つ、注入時の流れが良い樹脂を使用して
も事後の除去が困難な樹脂バリ27の発生が抑えられ
る。
In the embodiment in which the resin rotation preventing block 12 is arranged, as described with reference to FIG. 1, the convex portion 13 crushes the local area of the outer peripheral portion of the lead frame 21 at the time of mold clamping, so that Since the gap g of about 0.01 mm is narrowed to about 0 mm, the resin burr 27 which does not hinder the placement of the lead frame 21 and is difficult to remove afterwards even if a resin having a good flow at the time of injection is used. Can be suppressed.

【0028】そして、樹脂回り止めブロック12はキャ
ビティブロック10に取り外し可能に取り付けてある。
これにより実施例のモールド金型は製造及び保守が容易
である。
The resin detent block 12 is detachably attached to the cavity block 10.
As a result, the mold of the embodiment is easy to manufacture and maintain.

【0029】なお、樹脂回り止めブロック12の上記寸
法は、状況に応じて適宜に決定すれば良いものである。
また、樹脂回り止めブロック12を配置する部位は、キ
ャビティブロック10の上述した端面の代わりに、可能
ならばゲートの直ぐ隣であっても良い。更に、樹脂回り
止めブロック12と同様にした樹脂回り止めブロックを
各ゲート5の両側に配置すれば、先に説明した樹脂バリ
26も抑えることができる。
The above-described dimensions of the resin rotation-stop block 12 may be appropriately determined depending on the situation.
Further, the position where the resin rotation-stop block 12 is arranged may be adjacent to the gate, if possible, instead of the above-mentioned end surface of the cavity block 10. Furthermore, by disposing resin blocking blocks similar to the resin locking block 12 on both sides of each gate 5, the resin burr 26 described above can also be suppressed.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、下
型と上型の間にリードフレームを挟んで、樹脂封止半導
体装置のパッケージを形成する樹脂封止半導体装置用モ
ールド金型に関し、リードフレームの外周におけるゲー
トからの樹脂の回り込みを十分に阻止することが可能に
なり、注入時の流れが良い樹脂を使用する際にも、その
回り込みによりリードフレームの外周に付着する樹脂バ
リの発生を適宜に抑えて、事後に行う樹脂バリの除去で
リードフレームが変形しないようにすることを可能にさ
せる効果がある。
As described above, the present invention relates to a resin-molded semiconductor device molding die for forming a package of a resin-molded semiconductor device by sandwiching a lead frame between a lower mold and an upper mold. It is possible to sufficiently prevent the resin from wrapping around from the gate on the outer periphery of the lead frame, and even when using a resin that has a good flow at the time of injection, the resin burr that adheres to the outer periphery of the lead frame due to the wraparound There is an effect that the generation is appropriately suppressed and the lead frame is prevented from being deformed by the removal of the resin burr which is performed later.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の原理説明図FIG. 1 is an explanatory view of the principle of the present invention.

【図2】 実施例の下型におけるチェイスブロックの斜
視図
FIG. 2 is a perspective view of a chase block in the lower mold of the embodiment.

【図3】 実施例の下型におけるキャビティブロックの
斜視図と部分拡大斜視図
FIG. 3 is a perspective view and a partially enlarged perspective view of a cavity block in the lower mold of the embodiment.

【図4】 樹脂封止半導体装置用モールド金型を説明す
るための斜視図
FIG. 4 is a perspective view for explaining a molding die for a resin-sealed semiconductor device.

【図5】 リードフレームの平面図とパッケージ形成時
の平面図
FIG. 5 is a plan view of the lead frame and a plan view of the package formation.

【図6】 従来例の下型におけるチェイスブロックの斜
視図
FIG. 6 is a perspective view of a chase block in a lower mold of a conventional example.

【図7】 従来例の下型におけるキャビティブロックの
斜視図と部分拡大斜視図
FIG. 7 is a perspective view and a partially enlarged perspective view of a cavity block in a lower mold of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 上型 2 下型 2a 下型の壁面 3 センターカル 4 ランナー 5 ゲート 6 キャビティ 7 キャビティ形成面 8 センターブロック 9 チェイスブロック 10 キャビティブロック 11,12 樹脂回り止めブロック 13 凸部 14 ポット 15 樹脂タブレット 16 プランジャー 21 リードフレーム 21a リードフレームの外側面 21b 突出部 22 内部リード 23 外部リード 24 ダイステージ 25 パッケージ 26,27 樹脂バリ g リードフレーム外側面と下型壁面との間の隙間 h 凸部の高さ 1 Upper Mold 2 Lower Mold 2a Lower Mold Wall 3 Center Cull 4 Runner 5 Gate 6 Cavity 7 Cavity Forming Surface 8 Center Block 9 Chase Block 10 Cavity Block 11, 12 Resin Rotation Block 13 Convex 14 Pot 15 Resin Tablet 16 Plan Jar 21 Lead frame 21a Outer surface of lead frame 21b Projection 22 Internal lead 23 External lead 24 Die stage 25 Package 26, 27 Resin burr g Gap between outer surface of lead frame and lower mold wall h Convex height

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 下型(2)のキャビティ(6)形成面
(7)にリードフレーム(21)を載置し、上型(1)
との型締めにより該リードフレーム(21)を両面から
挟み、該下型(2)の表面に設けたゲート(5)を通し
て樹脂を前記キャビティ(6)に注入することにより、
該リードフレーム(21)に樹脂封止半導体装置のパッ
ケージを形成するモールド金型であって、 該下型(2)の該ゲート(5)近傍に、前記載置された
リードフレーム(21)の外側面(21a)に対向する
壁面(2a)から該リードフレーム(21)外周部の局
部領域に延在させて該キャビティ形成面(7)より突出
し、前記型締めにより該局部領域を肉薄に押し潰す凸部
(13)を有し、 前記押し潰しにより該リードフレーム(21)の外形に
局部的に生ずる突出部(21b)が、該外側面(21
a)と該壁面(2a)との間の隙間(g)の一部を狭め
て、前記注入時における樹脂の該ゲート(5)から該リ
ードフレーム(21)外周への回り込みを途中で阻止す
ることを特徴とする樹脂封止半導体装置用モールド金
型。
1. A lead frame (21) is placed on a cavity (6) forming surface (7) of a lower mold (2), and an upper mold (1) is mounted on the lead frame (21).
The lead frame (21) is sandwiched from both sides by mold clamping with and resin is injected into the cavity (6) through the gate (5) provided on the surface of the lower mold (2),
A molding die for forming a package of a resin-sealed semiconductor device on the lead frame (21), wherein the lead frame (21) is placed near the gate (5) of the lower die (2). It extends from the wall surface (2a) facing the outer side surface (21a) to the local area of the outer peripheral portion of the lead frame (21) and projects from the cavity forming surface (7), and the local area is pressed thinly by the mold clamping. A protrusion (21b) having a crushing convex portion (13) locally generated on the outer shape of the lead frame (21) by the crushing is formed on the outer surface (21).
Part of the gap (g) between a) and the wall surface (2a) is narrowed to prevent the resin from wrapping around the lead frame (21) from the gate (5) during the injection. A mold die for a resin-sealed semiconductor device, which is characterized in that
【請求項2】 前記凸部(13)を有する前記ゲート
(5)近傍は、前記リードフレーム(21)の外部リー
ドが並ぶ端部への樹脂の回り込みを阻止する部位である
ことを特徴とする請求項1記載の樹脂封止半導体装置用
モールド金型。
2. The vicinity of the gate (5) having the convex portion (13) is a portion for preventing resin from wrapping around to an end portion of the lead frame (21) where the external leads are arranged. The mold for a resin-sealed semiconductor device according to claim 1.
【請求項3】 前記下型(2)は、前記キヤビテイ
(6)がキャビティブロックに配置され、前記凸部(1
3)は、該キャビティブロックに取り外し可能な樹脂回
り止めブロツクによって形成されていることを特徴とす
る請求項1または2記載の樹脂封止半導体装置用モール
ド金型。
3. In the lower mold (2), the cavity (6) is arranged in a cavity block, and the projection (1) is formed.
3. The mold for a resin-sealed semiconductor device according to claim 1 or 2, wherein 3) is formed by a resin blocking block which can be removed from the cavity block.
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