JPH06215726A - 電気噴霧装置の粘性フロージェット膨張領域におけるイオン焦合方法及び装置 - Google Patents

電気噴霧装置の粘性フロージェット膨張領域におけるイオン焦合方法及び装置

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JPH06215726A
JPH06215726A JP4124008A JP12400892A JPH06215726A JP H06215726 A JPH06215726 A JP H06215726A JP 4124008 A JP4124008 A JP 4124008A JP 12400892 A JP12400892 A JP 12400892A JP H06215726 A JPH06215726 A JP H06215726A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 イオンの取得を増大させるイオン噴霧装置の
提供。 【構成】 イオン化領域から分析領域へとイオンを導く
ような細管チューブを有する電気噴霧イオン源であり、
分析領域はイオンとともに膨張するガスジェットを形成
し、細管チューブと協同したチューブレンズによってイ
オンをジェット中央に焦合させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電気噴霧イオン源、更に
言えば、粘性フロー膨張領域におけるイオン焦合手段を
備えるイオン源に関する。
【０００２】
【従来の技術】電気噴霧イオン化において、イオンは、
一般には大気圧であるイオン化領域において形成され、
粘性ジェットフロー膨張が行われるオリフィスあるいは
チューブを通じて低圧領域へと引き込まれる。スキマー
は一般に、これらチューブのオリフィスに隣接して配置
され、軸に沿うようにして低圧領域である分析領域へイ
オンを流通させる。電気噴霧イオン化アセンブリについ
ては、米国特許第4,121,099 号、4,861,988 号、4,137,
750 号、4,531,056 号及び4,542,293 号に記述されてい
る。特許第4,861,988 号及び4,121,099 号には、低圧領
域にエンターした後のイオン焦合について開示されてい
る。特許第4,861,988 号において、イオンは、分析領域
及びそれに続くスキマーに配置された円筒形部材によっ
て焦合される。特許第4,121,099 号では、イオン化領域
と低圧領域との間を連絡する開口から離間された円錐部
材である。
【０００３】米国特許第4,542,293 号には、電気絶縁体
で形成された細管チューブの使用が開示されており、こ
れは大気圧のイオン化電気噴霧領域及び低圧領域内のイ
オンを導電する。ガラスあるいは石英細管が適してい
る。イオン及びガスは、イオン化領域からチューブを通
じてフリージェット膨張が発生する低圧領域へと流れ込
む。導電性コーティングが絶縁チューブの端部に形成さ
れており、その両端に電圧が印加され、チューブを通じ
て流れるイオンを加速する。導電性スキマーはチューブ
の端部に隣接して配置されており、また、焦合レンズ及
び分析装置を備える低圧領域を通じてまたその低圧領域
中へとイオンが更に加速されるよう、ある電圧に保持さ
れている。
【０００４】イオンを搬送するガスがフリー膨張を受け
たとき、流れの中央がスキマーによってスキムされる。
しかしながら、高いパーセンテージでイオンが取り除か
れてしまうため、スキマーは高いパーセンテージでそれ
を取得しない。
【０００５】
【発明の概要及び目的】本発明の目的は、改良されたイ
オン取得を提供する電気噴霧装置を提供することにあ
る。本発明の他の目的は、チューブレンズにより、スキ
マーによって取得されるジェットフローの中央位置にイ
オンを集中させるような電気噴霧装置を提供することに
ある。
【０００６】本発明のこれらの及び他の目的は、イオン
搬送ガスをイオン化領域から低圧領域へと方向付ける細
管チューブの端部と協同するようにして導電性チューブ
レンズを配置し、細管チューブの端部とチューブレンズ
との間に電圧を印加して、イオンをジェットフローの中
央に集中させる電界を設定することにより達成される。
【０００７】
【実施例】図１には、電気噴霧イオン源１１が分析チャ
ンバ１２と共に示されている。イオン源は、液体サンプ
ルをイオン化チャンバ１４内に導入する入力ニードルア
センブリ１３を備える。このニードルは液体サンプルを
チャンバへ導入する内チューブを備える。第２チューブ
は第１チューブを取り囲んで環状領域を形成する。シー
ス液はこの環状領域を通じて導入され、サンプル液と混
合して表面張力を減少させ小滴を形成する。外チューブ
は第２環状形を形成し、焦合ガスはこの環状形を通じて
導入され、ニードルから細管チューブ１６方向に流出す
る際に小滴を焦合させる。
【０００８】ニードルアセンブリ１３について詳しくは
記述しない。それらの動作原理は公知である。前に説明
したように、ニードル即ち細管は、イオン化チャンバ１
４を形成している付近の表面に比べて高電圧に保持され
ており、液体が分散される際、小滴あるいは粒子はこの
細管先端における電圧こう配によって荷電される。イオ
ン化メカニズムには、電気的に良好に荷電された小滴か
らイオンを大気圧にて脱着させる処理が含まれる。この
脱着処理は矢印１７によって示された逆流ガスにより強
化される。チャンバ１４を通じて流れるこのガスは細管
１６を通過し、１８で示されたイオン化チャンバ１４の
外へ流出する。
【０００９】チャンバ１４の気圧よりも低圧に保持され
たチャンバ２１は、細管チューブ１６を通じてイオン化
チャンバと連絡している。気圧差により、イオン及びガ
スは細管１６を通じてチャンバ２１へと流れ込む。導電
スリーブ２２、２３を用いることにより絶縁された細管
に沿って電圧こう配が形成され、そこへ電圧を印加して
電圧こう配を与える。
【００１０】細管の端部は、低圧領域２１を分析領域１
２から分離するスキマー２６と向き合っている。スキマ
ーは細管の内腔軸と整列された中央オリフィスあるいは
開口２７を含む。スキマーの後部にはイオンオプチック
スが備えられており、これは第２スキマー２８及びレン
ズ２９を備え、イオンを分析チャンバ及び関連する質量
分析計へと導く。
【００１１】上で述べたように、イオンが細管を離れる
ときは圧力が非常に高いため、関連する質量分析計に直
接的に導入されてしまうが、これを克服するため、ガス
が押出チャンバ２１へのフリージェット膨張を受けるよ
うにされる。流れ中央はジェットによってスキムされ、
質量分析計内へ移動できるが、端部は押し出される。本
発明によれば、チューブレンズ３１は細管１６の端部に
よって支持される。レンズ３１は、細管の端部から絶縁
スリーブ３２によって絶縁される。チューブレンズは図
１及び図２のように穴を設けたものであっても、また図
２に示すように穴を設けないものでもよい。その後、細
管上の導電性コーティングと導電性チューブレンズとの
間に電圧が印加される。この電圧はチューブ内に電界を
設定するため、イオンは図２及び図３の線３４で示した
拡張する流れの中央に焦合され、一方、ガスは線３６で
示したように拡張され得る。こうしてジェット中央によ
り良好なイオンフローが提供される。
【００１２】まとめれば、チューブレンズは、イオンが
ジェットの中央線に焦合されるようにこの領域の電界を
適切に定めるものであり、この結果、質量分析計によっ
て取得されるイオン部分が増大されるということであ
る。レンズの焦合機能はイオンビームを強力にするだけ
でなく、スキマー後のイオンビームの発散角がフリージ
ェット膨張から予期される発散角よりも狭いという点で
他の有効な効果を持つ。この発散の減少は、スキマー上
流側の強力な電界こう配により、その中の幾度かはガス
速度よりもより高速であるような速度でイオンがオリフ
ィスを通過させられることによる。これは、オリフィス
のイオン軌道の下流が、スキマーからのガス膨張より
も、これらのこう配による影響をより多く受けることを
意味する。本出願人は、チューブレンズを用いることに
よって、分析器へのイオン転送が少なくとも３のファク
タ分増大されることを発見した。
【図面の簡単な説明】
【図１】細管チューブを通じて分析領域と結合された電
気噴霧イオン源。
【図２】図１の領域２─２の拡大図。
【図３】図１及び図２に示されたチューブレンズの代替
実施例を示す図。
フロントページの続き (72)発明者 マーク エドワード ハイル アメリカ合衆国 カリフォルニア州 94536 フリーモント エイ2019 パント ン テラス 37191 (72)発明者 ジョン ロバート ヘロン アメリカ合衆国 オレゴン州 97333 コ ーヴァリス ハイウェイ 34−28934

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 イオン化チャンバ及び隣接する低圧領域
    を備えるイオン源であって、前記低圧領域は、オリフィ
    スを備えるスキマーと、前記イオンチャンバと前記低圧
    領域との間を連絡する軸上の内腔を有しこれによってイ
    オン化チャンバ内のイオン及びガスを前記内腔を通じて
    前記低圧領域へと流入させジェットフロー膨張を受けさ
    せる細管チューブとを含むイオン源において、 前記細管チューブと協同させるようにして低圧チャンバ
    内に導電性チューブレンズを設け、このチューブレンズ
    に電圧を印加して前記ジェットフロー内のイオンをジェ
    ット中央に位置付けスキマーにより取得することを特徴
    とするイオン源。
  2. 【請求項２】 請求項１記載のイオン源において、前記
    イオン化チャンバは分析すべきサンプルを電気噴霧する
    手段を有するイオン源。
  3. 【請求項３】 請求項１記載のイオン源において、前記
    レンズに穴が設けられているイオン源。
  4. 【請求項４】 請求項１記載のイオン源において、前記
    レンズに穴が設けられていないイオン源。
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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002526892A (ja) * 1998-09-28 2002-08-20 ヴァリアン インコーポレーテッド 電気スプレー質量分析のための渦状ガス流インターフェース
WO2003046543A1 (fr) * 2001-11-26 2003-06-05 Hitachi High-Technologies Corporation Spectrometre de masse a ionisation a la pression atmospherique
JPWO2003046543A1 (ja) * 2001-11-26 2005-04-07 株式会社日立ハイテクノロジーズ 大気圧イオン化質量分析装置
JP2006518914A (ja) * 2003-02-19 2006-08-17 サイエンス・アンド・エンジニアリング・サービシズ・インコーポレーテッド 質量分析計内へとイオンを効率的に搬送するための方法および装置
JP2013531334A (ja) * 2010-05-11 2013-08-01 ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド 質量分析計イオンガイド内の汚染影響低減のためのイオンレンズ
WO2018055815A1 (ja) * 2016-09-21 2018-03-29 ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社 イオン源アダプタ

Families Citing this family (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1992021138A1 (en) * 1991-05-21 1992-11-26 Analytica Of Brandford, Inc. Method and apparatus for improving electrospray ionization of solute species
US6002130A (en) * 1991-09-12 1999-12-14 Hitachi, Ltd. Mass spectrometry and mass spectrometer
JP2913924B2 (ja) * 1991-09-12 1999-06-28 株式会社日立製作所 質量分析の方法および装置
US5432343A (en) * 1993-06-03 1995-07-11 Gulcicek; Erol E. Ion focusing lensing system for a mass spectrometer interfaced to an atmospheric pressure ion source
US7047171B1 (en) 1995-12-08 2006-05-16 Sproch Norman K Method for the characterization of the three-dimensional structure of proteins employing mass spectrometric analysis and computational feedback modeling
US5504327A (en) * 1993-11-04 1996-04-02 Hv Ops, Inc. (H-Nu) Electrospray ionization source and method for mass spectrometric analysis
US20060277017A1 (en) * 1993-11-04 2006-12-07 Sproch Norman K Method for the characterization of the three-dimensional structure of proteins employing mass spectrometric analysis and computational feedback modeling
US8610056B2 (en) 1994-02-28 2013-12-17 Perkinelmer Health Sciences Inc. Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSn analysis
JP3671354B2 (ja) * 1994-02-28 2005-07-13 アナリチカ オブ ブランフォード，インコーポレーテッド 質量分析用の多重極イオンガイド
US6011259A (en) * 1995-08-10 2000-01-04 Analytica Of Branford, Inc. Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSN analysis
US5495108A (en) * 1994-07-11 1996-02-27 Hewlett-Packard Company Orthogonal ion sampling for electrospray LC/MS
US5750988A (en) * 1994-07-11 1998-05-12 Hewlett-Packard Company Orthogonal ion sampling for APCI mass spectrometry
DE19515271C2 (de) * 1995-04-26 1999-09-02 Bruker Daltonik Gmbh Vorrichtung für den gasgeführten Transport von Ionen durch ein Kapillarrohr
JP2953344B2 (ja) * 1995-04-28 1999-09-27 株式会社島津製作所 液体クロマトグラフ質量分析装置
DE19520276C2 (de) * 1995-06-02 1999-08-26 Bruker Daltonik Gmbh Vorrichtung für die Einführung von Ionen in ein Massenspektrometer
US8847157B2 (en) 1995-08-10 2014-09-30 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Multipole ion guide ion trap mass spectrometry with MS/MSn analysis
US5868322A (en) * 1996-01-31 1999-02-09 Hewlett-Packard Company Apparatus for forming liquid droplets having a mechanically fixed inner microtube
US5672868A (en) * 1996-02-16 1997-09-30 Varian Associates, Inc. Mass spectrometer system and method for transporting and analyzing ions
US5750993A (en) * 1996-05-09 1998-05-12 Finnigan Corporation Method of reducing noise in an ion trap mass spectrometer coupled to an atmospheric pressure ionization source
US5745356A (en) * 1996-06-25 1998-04-28 Exide Electronics Corporation Independent load sharing of AC power systems connected in parallel
JP3213697B2 (ja) * 1997-01-14 2001-10-02 株式会社ディジタル・ビジョン・ラボラトリーズ 中継ノードシステム及び同システムにおける中継制御方法
GB9820210D0 (en) 1998-09-16 1998-11-11 Vg Elemental Limited Means for removing unwanted ions from an ion transport system and mass spectrometer
US6248999B1 (en) * 1998-09-24 2001-06-19 Finnigan Corporation Assembly for coupling an ion source to a mass analyzer
US7119342B2 (en) * 1999-02-09 2006-10-10 Syagen Technology Interfaces for a photoionization mass spectrometer
US6368562B1 (en) 1999-04-16 2002-04-09 Orchid Biosciences, Inc. Liquid transportation system for microfluidic device
US6485690B1 (en) 1999-05-27 2002-11-26 Orchid Biosciences, Inc. Multiple fluid sample processor and system
US6528784B1 (en) 1999-12-03 2003-03-04 Thermo Finnigan Llc Mass spectrometer system including a double ion guide interface and method of operation
US6593570B2 (en) 2000-05-24 2003-07-15 Agilent Technologies, Inc. Ion optic components for mass spectrometers
US6797950B2 (en) 2002-02-04 2004-09-28 Thermo Finnegan Llc Two-dimensional quadrupole ion trap operated as a mass spectrometer
GB0210930D0 (en) 2002-05-13 2002-06-19 Thermo Electron Corp Improved mass spectrometer and mass filters therefor
US6872940B1 (en) 2002-05-31 2005-03-29 Thermo Finnigan Llc Focusing ions using gas dynamics
DE10392952B4 (de) * 2002-09-03 2012-04-19 Micromass Uk Ltd. Verfahren zur Massenspektrometrie
US7109474B2 (en) * 2003-06-05 2006-09-19 Thermo Finnigan Llc Measuring ion number and detector gain
US7015466B2 (en) * 2003-07-24 2006-03-21 Purdue Research Foundation Electrosonic spray ionization method and device for the atmospheric ionization of molecules
US7458786B2 (en) * 2004-03-04 2008-12-02 Robert George Mac Donald Oil well pumping unit and method therefor
US7009176B2 (en) * 2004-03-08 2006-03-07 Thermo Finnigan Llc Titanium ion transfer components for use in mass spectrometry
US7199364B2 (en) * 2004-05-21 2007-04-03 Thermo Finnigan Llc Electrospray ion source apparatus
US20050275372A1 (en) * 2004-06-14 2005-12-15 Crowell Jonathan C Power controller for managing arrays of smart battery packs
US6972408B1 (en) * 2004-09-30 2005-12-06 Ut-Battelle, Llc Ultra high mass range mass spectrometer systems
US7642511B2 (en) * 2004-09-30 2010-01-05 Ut-Battelle, Llc Ultra high mass range mass spectrometer systems
US7575707B2 (en) * 2005-03-29 2009-08-18 University Of Washington Electrospinning of fine hollow fibers
CA2590762C (en) * 2006-06-08 2013-10-22 Microsaic Systems Limited Microengineered vacuum interface for an ionization system
US20090283674A1 (en) * 2006-11-07 2009-11-19 Reinhold Pesch Efficient Atmospheric Pressure Interface for Mass Spectrometers and Method
US20080116370A1 (en) 2006-11-17 2008-05-22 Maurizio Splendore Apparatus and method for a multi-stage ion transfer tube assembly for use with mass spectrometry
US7470899B2 (en) * 2006-12-18 2008-12-30 Thermo Finnigan Llc Plural bore to single bore ion transfer tube
US8288719B1 (en) 2006-12-29 2012-10-16 Griffin Analytical Technologies, Llc Analytical instruments, assemblies, and methods
US7915580B2 (en) 2008-10-15 2011-03-29 Thermo Finnigan Llc Electro-dynamic or electro-static lens coupled to a stacked ring ion guide
US20100154568A1 (en) * 2008-11-19 2010-06-24 Roth Michael J Analytical Instruments, Assemblies, and Methods
US8242440B2 (en) * 2009-05-01 2012-08-14 Thermo Finnigan Llc Method and apparatus for an ion transfer tube and mass spectrometer system using same
KR101089328B1 (ko) * 2009-12-29 2011-12-02 한국기초과학지원연구원 전기분무 이온화 장치 및 이를 이용한 전기분무 이온화 방법
US10345281B2 (en) 2014-04-04 2019-07-09 Massachusetts Institute Of Technology Reagents for enhanced detection of low volatility analytes
US9588095B2 (en) 2012-07-24 2017-03-07 Massachusetts Institute Of Technology Reagents for oxidizer-based chemical detection
CA2889372C (en) * 2012-10-28 2022-12-06 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Direct sample analysis device adapters and methods of using them
US9117641B2 (en) 2012-10-29 2015-08-25 Perkinelmer Health Sciences, Inc. Direct sample analysis device adapters and methods of using them
US10816530B2 (en) 2013-07-23 2020-10-27 Massachusetts Institute Of Technology Substrate containing latent vaporization reagents
CN106053588B (zh) * 2016-06-02 2018-08-17 中国检验检疫科学研究院 一种基于离子迁移谱的烷基酚聚氧乙烯醚的快速检测方法
WO2018075136A2 (en) 2016-08-26 2018-04-26 Massachusetts Institute Of Technology Substrate containing latent vaporization reagents

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1248820B (ja) * 1962-04-02
GB1246709A (en) * 1969-04-30 1971-09-15 Ass Elect Ind Improvements in or relating to mass spectrometry
US4023398A (en) * 1975-03-03 1977-05-17 John Barry French Apparatus for analyzing trace components
JPS5291494A (en) * 1976-01-28 1977-08-01 Hitachi Ltd Mass spectrometer
US4209696A (en) * 1977-09-21 1980-06-24 Fite Wade L Methods and apparatus for mass spectrometric analysis of constituents in liquids
JPS583592B2 (ja) * 1978-09-08 1983-01-21 日本分光工業株式会社 質量分析計への試料導入方法及び装置
US4318028A (en) * 1979-07-20 1982-03-02 Phrasor Scientific, Inc. Ion generator
US4542293A (en) * 1983-04-20 1985-09-17 Yale University Process and apparatus for changing the energy of charged particles contained in a gaseous medium
US4531056A (en) * 1983-04-20 1985-07-23 Yale University Method and apparatus for the mass spectrometric analysis of solutions
US4842701A (en) * 1987-04-06 1989-06-27 Battelle Memorial Institute Combined electrophoretic-separation and electrospray method and system
US4885076A (en) * 1987-04-06 1989-12-05 Battelle Memorial Institute Combined electrophoresis-electrospray interface and method
US4882485A (en) * 1987-08-10 1989-11-21 Tracor, Inc. Ion detector and associated removable ionizer inlet assembly
US4861988A (en) * 1987-09-30 1989-08-29 Cornell Research Foundation, Inc. Ion spray apparatus and method
JP2834136B2 (ja) * 1988-04-27 1998-12-09 株式会社日立製作所 質量分析計
AU5815590A (en) * 1989-05-19 1990-12-18 John B. Fenn Multiply charged ions and a method for determining the molecular weight of large molecules
US4977320A (en) * 1990-01-22 1990-12-11 The Rockefeller University Electrospray ionization mass spectrometer with new features
US5070240B1 (en) * 1990-08-29 1996-09-10 Univ Brigham Young Apparatus and methods for trace component analysis

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002526892A (ja) * 1998-09-28 2002-08-20 ヴァリアン インコーポレーテッド 電気スプレー質量分析のための渦状ガス流インターフェース
JP4657451B2 (ja) * 1998-09-28 2011-03-23 バリアン・インコーポレイテッド 電気スプレー質量分析のための渦状ガス流インターフェース
WO2003046543A1 (fr) * 2001-11-26 2003-06-05 Hitachi High-Technologies Corporation Spectrometre de masse a ionisation a la pression atmospherique
JPWO2003046543A1 (ja) * 2001-11-26 2005-04-07 株式会社日立ハイテクノロジーズ 大気圧イオン化質量分析装置
US7081620B2 (en) 2001-11-26 2006-07-25 Hitachi High -Technologies Corporation Atmospheric pressure ionization mass spectrometer system
JP2006518914A (ja) * 2003-02-19 2006-08-17 サイエンス・アンド・エンジニアリング・サービシズ・インコーポレーテッド 質量分析計内へとイオンを効率的に搬送するための方法および装置
JP2013531334A (ja) * 2010-05-11 2013-08-01 ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド 質量分析計イオンガイド内の汚染影響低減のためのイオンレンズ
WO2018055815A1 (ja) * 2016-09-21 2018-03-29 ヒューマン・メタボローム・テクノロジーズ株式会社 イオン源アダプタ
US10734214B2 (en) 2016-09-21 2020-08-04 Human Metabolome Technologies, Inc. Ion source adapter

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