JPH06215170A - 光学情報読取装置 - Google Patents
光学情報読取装置Info
- Publication number
- JPH06215170A JPH06215170A JP5031072A JP3107293A JPH06215170A JP H06215170 A JPH06215170 A JP H06215170A JP 5031072 A JP5031072 A JP 5031072A JP 3107293 A JP3107293 A JP 3107293A JP H06215170 A JPH06215170 A JP H06215170A
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- JP
- Japan
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- light
- optical information
- optical path
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- electronic scanning
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光学情報読取装置において、電子走査形読取
センサに至る光路中に正反射光が存在し得ないようにす
ること、照明むらを補償すること、結像光学系の透過率
の不均一性を補償すること。 【構成】 電子走査形読取センサ（８）を含有する光学
情報読取装置において、光源（２）の前面に、正反射光
進入防止手段を配設する。正反射光進入防止手段（３）
は、電子走査形読取センサ（８）に進入する正反射光の
光路を形成し得べぎ入射光の光路上に、プリズム加工部
又は遮光帯を配設し、かかる入射光が存在し得ないよう
にする。
センサに至る光路中に正反射光が存在し得ないようにす
ること、照明むらを補償すること、結像光学系の透過率
の不均一性を補償すること。 【構成】 電子走査形読取センサ（８）を含有する光学
情報読取装置において、光源（２）の前面に、正反射光
進入防止手段を配設する。正反射光進入防止手段（３）
は、電子走査形読取センサ（８）に進入する正反射光の
光路を形成し得べぎ入射光の光路上に、プリズム加工部
又は遮光帯を配設し、かかる入射光が存在し得ないよう
にする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この出願の発明は、光学情報読取
装置、特に光学的記録媒体に記録した光学的情報パター
ンを電子走査形読取センサによって光学的に読取る光学
情報読取装置に関する。
装置、特に光学的記録媒体に記録した光学的情報パター
ンを電子走査形読取センサによって光学的に読取る光学
情報読取装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の装置は、例えば、光学的
記録媒体に記録された光学的情報パターンを照明し、光
学的情報パターンからの散乱反射光によって得られた光
像を電子走査形読取センサ上に結像させ、電子走査形読
取センサの光電変換機能によって得られた電気的アナロ
グ信号から、前記情報パターＭを読取るようにしてい
る。そして、光学的情報パターンからの反射光として
は、正反射（鏡面反射）光ではなく、図８の如く、散乱
反射光を利用している。周知の通り、正反射光では情報
パターンを読取ることは出来ないのである。
記録媒体に記録された光学的情報パターンを照明し、光
学的情報パターンからの散乱反射光によって得られた光
像を電子走査形読取センサ上に結像させ、電子走査形読
取センサの光電変換機能によって得られた電気的アナロ
グ信号から、前記情報パターＭを読取るようにしてい
る。そして、光学的情報パターンからの反射光として
は、正反射（鏡面反射）光ではなく、図８の如く、散乱
反射光を利用している。周知の通り、正反射光では情報
パターンを読取ることは出来ないのである。
【０００３】
【従来技術の問題点】しかるところ、従来の光学情報読
取装置においては、被読取部材（例えばラベル）対向し
て保持すべき角度位置如何によっては、電子走査形読取
センサに至る光路中に、図９の如く、強力な反射光が含
まれ得る。即ち、被読取部材からの正反射光の方向は、
反射の法則に基づき、被読取部材に対する照射光の入射
角に従って変化するから、この入射角如何によっては、
電子走査形読取センサに至る光路中に、強力な正反射光
が含まれ得ることになる。その様な場合には、強力な正
反射光が、散乱光によって形成された正規の映像を照ら
し潰してしまう。
取装置においては、被読取部材（例えばラベル）対向し
て保持すべき角度位置如何によっては、電子走査形読取
センサに至る光路中に、図９の如く、強力な反射光が含
まれ得る。即ち、被読取部材からの正反射光の方向は、
反射の法則に基づき、被読取部材に対する照射光の入射
角に従って変化するから、この入射角如何によっては、
電子走査形読取センサに至る光路中に、強力な正反射光
が含まれ得ることになる。その様な場合には、強力な正
反射光が、散乱光によって形成された正規の映像を照ら
し潰してしまう。
【０００４】このため、被読取部材に対向して保持すべ
き光学情報読取装置の角度位置については、前記情報パ
ターンを読取る事の不可能な領域（デッドゾーン）が生
じ得る。これが、従来技術の第１の大きな欠点である。
又、被読取部材の照明に発光ダイオードを使用する際に
は、発光ダイオードを線状又は面状に並べることになる
が、発光ダイオードは点状光源であるから、面状の照明
は、むらのある不均一なものとなる。バーコードや文字
等の光学的情報パターンを記録したラベル等を取る際
に、ラベル等が不均一に照明されていると、記録された
光学的情報に変調がかかることになる。これが従来技術
の第２の大きな欠点である。更に、結像光学系には、透
過率の不均一性が存在する。これが第３の欠点である。
き光学情報読取装置の角度位置については、前記情報パ
ターンを読取る事の不可能な領域（デッドゾーン）が生
じ得る。これが、従来技術の第１の大きな欠点である。
又、被読取部材の照明に発光ダイオードを使用する際に
は、発光ダイオードを線状又は面状に並べることになる
が、発光ダイオードは点状光源であるから、面状の照明
は、むらのある不均一なものとなる。バーコードや文字
等の光学的情報パターンを記録したラベル等を取る際
に、ラベル等が不均一に照明されていると、記録された
光学的情報に変調がかかることになる。これが従来技術
の第２の大きな欠点である。更に、結像光学系には、透
過率の不均一性が存在する。これが第３の欠点である。
【０００５】
【発明の目的】それ故、この出願の発明の第１の目的
は、光学情報読取装置において、電子走査形読取センサ
に至る光路中に正反射光が存在し得ないようにすること
にある。この出願の発明の第２の目的は、光学情報読取
装置において、被読取部材に対する照明むらを補償する
ことにある。この出願の発明の第３の目的は、光学情報
読取装置において、結像光学系の透過率の不均一性を補
償することにある。
は、光学情報読取装置において、電子走査形読取センサ
に至る光路中に正反射光が存在し得ないようにすること
にある。この出願の発明の第２の目的は、光学情報読取
装置において、被読取部材に対する照明むらを補償する
ことにある。この出願の発明の第３の目的は、光学情報
読取装置において、結像光学系の透過率の不均一性を補
償することにある。
【０００６】
【目的を達成するための手段】この出願の発明は、光学
情報読取装置において、上記の諸目的を達成するため
に、光源の前面に、正反射光進入防止手段を配設する。
上記正反射光進入防止手段（３）は、上記電子走査形読
取センサ（８）に進入する正反射光の光路を形成し得べ
き入射光の光路上に、プリズム加工部又は遮光帯を配設
して、かかる入射光が存在し得ないようにする。上記入
射光の光路上の照射光は、微小プリズム群によって異方
向へ屈折せしめられるか、遮光帯によって完全に遮光さ
れる。前者の手段においては、その屈折方向をプリズム
の設置する角度で制御することにより、前記発光ダイオ
ードの照明光の中心部が明るく周辺部が暗いといった照
明むらのある不均一性が改善される。
情報読取装置において、上記の諸目的を達成するため
に、光源の前面に、正反射光進入防止手段を配設する。
上記正反射光進入防止手段（３）は、上記電子走査形読
取センサ（８）に進入する正反射光の光路を形成し得べ
き入射光の光路上に、プリズム加工部又は遮光帯を配設
して、かかる入射光が存在し得ないようにする。上記入
射光の光路上の照射光は、微小プリズム群によって異方
向へ屈折せしめられるか、遮光帯によって完全に遮光さ
れる。前者の手段においては、その屈折方向をプリズム
の設置する角度で制御することにより、前記発光ダイオ
ードの照明光の中心部が明るく周辺部が暗いといった照
明むらのある不均一性が改善される。
【０００７】
【発明の作用】上述の構成を有する光学情報読取装置
は、読取情報から反射した光束で結像レンズを通過する
反射光は散乱反射光のみとなる。従って、読取情報の位
置決めなどに正確に同期させる必要がないので、簡単な
構成で正確かつ高い読取率を達成できるものである。
又、照明光の不均一性等を補償し、受光素子へ所望の入
射特性光を供与することができる。
は、読取情報から反射した光束で結像レンズを通過する
反射光は散乱反射光のみとなる。従って、読取情報の位
置決めなどに正確に同期させる必要がないので、簡単な
構成で正確かつ高い読取率を達成できるものである。
又、照明光の不均一性等を補償し、受光素子へ所望の入
射特性光を供与することができる。
【０００８】
【実施例】この出願の発明による光学情報読取装置の第
１の実施例について説明する。図１は、第１の実施例の
全体構成を示す縦断面図である。図１において、１は筐
体 、２は光源（被読取部材照射手段）、３は正反射
（鏡面反射）防止用投光レンズ、４は被読取部材（例え
ばラベル）、５は反射鏡、６はスリット、７は結像レン
ズ、８は受光素子、９は信号処理部である。
１の実施例について説明する。図１は、第１の実施例の
全体構成を示す縦断面図である。図１において、１は筐
体 、２は光源（被読取部材照射手段）、３は正反射
（鏡面反射）防止用投光レンズ、４は被読取部材（例え
ばラベル）、５は反射鏡、６はスリット、７は結像レン
ズ、８は受光素子、９は信号処理部である。
【０００９】光源２は、例えば複数個の発光ダイオード
が横方向に線状又は面状に排列されたものであって、協
働して被読取部材４を照射する。受光素子８は、例えば
ＣＣＤ（電荷結合素子）から構成されている。光源２の
前部には、正反射防止用投光レンズ４（詳細は後述す
る。）が配設され、その上部には反射鏡５が配設されて
いる。筐体１の中央部には、スリット６と、結像レンズ
７とが配設されている。結像レンズ７の後段には、受光
素子８が配設されている。受光素子８の出力側には、信
号処理装置９が接続されている。信号処理装置９は、受
光素子８からの電気的アナログ信号を処理し、光学的記
録媒体に記録された光学的情報パターンを繰り返し読取
る。
が横方向に線状又は面状に排列されたものであって、協
働して被読取部材４を照射する。受光素子８は、例えば
ＣＣＤ（電荷結合素子）から構成されている。光源２の
前部には、正反射防止用投光レンズ４（詳細は後述す
る。）が配設され、その上部には反射鏡５が配設されて
いる。筐体１の中央部には、スリット６と、結像レンズ
７とが配設されている。結像レンズ７の後段には、受光
素子８が配設されている。受光素子８の出力側には、信
号処理装置９が接続されている。信号処理装置９は、受
光素子８からの電気的アナログ信号を処理し、光学的記
録媒体に記録された光学的情報パターンを繰り返し読取
る。
【００１０】ここで、正反射防止用投光レンズ３の第１
の実施例について説明する。図３は、正反射防止用投光
レンズの第１の実施例の外観図であって、同図左側は正
面図、同右側は側面図である。図４は、同実施例の略々
水平断面図である。図３及び４における黒っぽい縦縞部
分は、プリズム加工部分である。図５は、これらのプリ
ズム加工部分の一（丸印を付した部分）についての、拡
大断面図である。プリズム加工部分は、例えば切削によ
って、例えば鋸歯状に形成される。図５では、０．２ミ
リピッチで、１０個の微小プリズムが形成されている。
プリズム加工部分を通過した光は、進行方向が変化す
る。図５では、上側からの光は、右方向に屈折せしめら
れる。
の実施例について説明する。図３は、正反射防止用投光
レンズの第１の実施例の外観図であって、同図左側は正
面図、同右側は側面図である。図４は、同実施例の略々
水平断面図である。図３及び４における黒っぽい縦縞部
分は、プリズム加工部分である。図５は、これらのプリ
ズム加工部分の一（丸印を付した部分）についての、拡
大断面図である。プリズム加工部分は、例えば切削によ
って、例えば鋸歯状に形成される。図５では、０．２ミ
リピッチで、１０個の微小プリズムが形成されている。
プリズム加工部分を通過した光は、進行方向が変化す
る。図５では、上側からの光は、右方向に屈折せしめら
れる。
【００１１】各個のプリズム加工部分は、図６の如く、
各個の点光源と１対１対応をなすよう、離散的に排列さ
れている。各個のプリズム加工部分の配設位置は、受光
素子８に至る反射光路を形成し得べき入射光路と、投光
レンズとの、交点の集合である。従って、これらのプリ
ズム加工部分を、これらの交点に配設するときは、受光
素子８に至る反射光路を形成し得べき入射光路はもはや
形成され得ない。
各個の点光源と１対１対応をなすよう、離散的に排列さ
れている。各個のプリズム加工部分の配設位置は、受光
素子８に至る反射光路を形成し得べき入射光路と、投光
レンズとの、交点の集合である。従って、これらのプリ
ズム加工部分を、これらの交点に配設するときは、受光
素子８に至る反射光路を形成し得べき入射光路はもはや
形成され得ない。
【００１２】光学情報読取装置の第１実施例の全体動作
について説明する。光源２は、正反射（鏡面反射）防止
用投光レンズ３を介して、被読取部材４を照射する。被
読取部材４上の情報パターンによる散乱反射光の一部
は、反射鏡５に導かれ、スリット６及び結像レンズ７を
通過し、受光素子８上に結像する。この実施例では、光
源からの照射光は正反射防止用投光レンズ４を通過し、
情報パターンを照射する。情報パターンで反射された反
射光は、散乱反射光の一部のみが反射鏡５、絞り６、及
び結像レンズ７を通過して、受光素子８に導入される。
正反射光は、導入されない。ついでながら、プリズム加
工部分における屈折角を制御することによって、被読取
部材上の照明むらを補償することが出来る。又、結像レ
ンズ７の透明度の不均一性を補償することも出来る。
について説明する。光源２は、正反射（鏡面反射）防止
用投光レンズ３を介して、被読取部材４を照射する。被
読取部材４上の情報パターンによる散乱反射光の一部
は、反射鏡５に導かれ、スリット６及び結像レンズ７を
通過し、受光素子８上に結像する。この実施例では、光
源からの照射光は正反射防止用投光レンズ４を通過し、
情報パターンを照射する。情報パターンで反射された反
射光は、散乱反射光の一部のみが反射鏡５、絞り６、及
び結像レンズ７を通過して、受光素子８に導入される。
正反射光は、導入されない。ついでながら、プリズム加
工部分における屈折角を制御することによって、被読取
部材上の照明むらを補償することが出来る。又、結像レ
ンズ７の透明度の不均一性を補償することも出来る。
【００１３】次に、この出願の発明による光学情報読取
装置の第２の実施例について説明する。図７は、この出
願の発明の正反射防止用投光レンズの第２の実施例の説
明図である。第２の実施例においては、プリズム加工部
の代りに、遮光帯が配設される。このようにすると、受
光素子に至る反射光路を生成し得べき入射光路は、最早
存在し得ない。ついでながら、上記遮光帯による遮光面
積を制御することによって、被読取部材上の照明むらを
補償することが出来る。又、結像レンズ７の透明度の不
均一性を補償することも出来る。
装置の第２の実施例について説明する。図７は、この出
願の発明の正反射防止用投光レンズの第２の実施例の説
明図である。第２の実施例においては、プリズム加工部
の代りに、遮光帯が配設される。このようにすると、受
光素子に至る反射光路を生成し得べき入射光路は、最早
存在し得ない。ついでながら、上記遮光帯による遮光面
積を制御することによって、被読取部材上の照明むらを
補償することが出来る。又、結像レンズ７の透明度の不
均一性を補償することも出来る。
【００１４】
【発明の効果】この出願の発明の基本的な効果は、下記
ａ〜ｃの通りである。 ａ光学情報読取装置において、受光素子８に向かう正反
射光を形成し得る入射光を遮断し、又は、方向転換させ
る事によって、読取情報パターンの読取不可能領域が無
くなる。 ｂ光学情報読取装置において、被読取部材に対する照明
むらを補償することが出来る。 ｃ光学情報読取装置において、結像光学系の透過率の不
均一性を補償することが出来る。
ａ〜ｃの通りである。 ａ光学情報読取装置において、受光素子８に向かう正反
射光を形成し得る入射光を遮断し、又は、方向転換させ
る事によって、読取情報パターンの読取不可能領域が無
くなる。 ｂ光学情報読取装置において、被読取部材に対する照明
むらを補償することが出来る。 ｃ光学情報読取装置において、結像光学系の透過率の不
均一性を補償することが出来る。
【図１】この出願の発明の光学情報読取装置の第１の実
施例の全体構成図である。
施例の全体構成図である。
【図２】この出願の発明の光学情報読取装置の第１の実
施例の光路図である。
施例の光路図である。
【図３】
４この出願の発明の正反射防止用投光レ
ンズの第１の実施例の外形を示す図である。
４この出願の発明の正反射防止用投光レ
ンズの第１の実施例の外形を示す図である。
【図４】図３の実施例の水平断面図である。
【図５】図４の実施例の要部（丸部）拡大図である。
【図６】図３の実施例の動作説明図である。
【図７】この出願の発明の正反射防止用投光レンズの第
２の実施例の説明図である。
２の実施例の説明図である。
【図８】従来の光学情報読取装置を正しく使用した場合
の光路の側面図である。
の光路の側面図である。
【図９】従来の光学情報読取装置を誤って使用した場合
の光路の側面図である。
の光路の側面図である。
【図１０】従来の光学情報読取装置を誤って使用した場
合の光路の上面図である。
合の光路の上面図である。
１ 筐体 ２ 光源（被読取部材照射手段） ３ 正反射防止用投光レンズ ３１ 投光レンズ ４ 被読取部材 ５ 反射鏡 ６ スリット ７ 結像レンズ ８ 受光素子 ９ 信号処理部
Claims (4)
- 【請求項１】 筺体（１）と、被読取部材（４）を照射
する光源（２）と、被読取部材（４）からの反射光を電
気的アナログ信号に変換する電子走査形読取センサ
（８）とを含有する光学情報読取装置において、 上記光源（２）の前面に、上記電子走査形読取センサ
（８）に進入する正反射光を形成し得べき入射光の発生
を防止する正反射光進入防止手段（３）を配設してなる
光学情報読取装置。 - 【請求項２】上記正反射光進入防止手段（３）は、上記
電子走査形読取センサ（８）に進入する正反射光の光路
を形成し得べき入射光の光路に、プリズム加工部を配設
して成る 請求項１記載の光学情報読取装置。 - 【請求項３】上記正反射光進入防止手段（３）は、上記
電子走査形読取センサ（８）に進入する正反射光の光路
を形成し得べき入射光の光路に、遮光帯を配設して成る
請求項１記載の光学情報読取装置。 - 【請求項４】上記正反射光進入防止手段（３）は、上記
光源（２）に由来する光量分布むら、及び／又は結像光
学系（６・７）の透過率の不均一性をも補償するように
構成して成る 請求項１記載の光学情報読取装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5031072A JPH06215170A (ja) | 1993-01-05 | 1993-01-05 | 光学情報読取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5031072A JPH06215170A (ja) | 1993-01-05 | 1993-01-05 | 光学情報読取装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06215170A true JPH06215170A (ja) | 1994-08-05 |
Family
ID=12321248
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5031072A Pending JPH06215170A (ja) | 1993-01-05 | 1993-01-05 | 光学情報読取装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06215170A (ja) |
-
1993
- 1993-01-05 JP JP5031072A patent/JPH06215170A/ja active Pending
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