JPH06205309A - Ccd固体撮像素子 - Google Patents

Ccd固体撮像素子

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Publication number
JPH06205309A
JPH06205309A JP43A JP36046592A JPH06205309A JP H06205309 A JPH06205309 A JP H06205309A JP 43 A JP43 A JP 43A JP 36046592 A JP36046592 A JP 36046592A JP H06205309 A JPH06205309 A JP H06205309A
Authority
JP
Japan
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reset
electrode
gate
floating diffusion
reset gate
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP43A
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English (en)
Inventor
Naoki Katou
奈沖 加藤
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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Publication of JPH06205309A publication Critical patent/JPH06205309A/ja
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  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 リセット後に発生するフィードスルー成分の
低減化を図り、フィードスルー成分によるフローティン
グ・ディフュージョンの最大取扱い電荷量の減少を防止
し、撮像信号のS/Nの劣化を防止する。 【構成】 リセットゲートRGのゲート電極として使用
される1枚の電極膜を、電荷転送方向に沿って互いに平
行に配置された2枚の電極膜5及び6にて構成して、リ
セットゲートRGを、フローティング・ディフュージョ
ン側の電極膜5による第1のリセットゲートRG1 と、
ドレイン領域側の電極膜6による第2のリセットゲート
RG2 とで構成する。そして、第2のリセットゲートR
G2 へのリセットパルスφPの供給経路に例えば多結晶
シリコン層による抵抗、あるいは配線の引き回しによる
配線抵抗Rを接続して、第2のリセットゲートRG2 に
配線抵抗Rと負荷容量による積分回路を接続したことと
等価にする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、CCD固体撮像素子、
特にCCDで構成された電荷転送部からの信号電荷を出
力電圧に変換する、いわゆるフローティング・ディフュ
ージョン・アンプを有するCCD固体撮像素子に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来のCCD固体撮像素子、特にその出
力部は、図4に示すように、CCDで構成された電荷転
送部(例えば水平転送レジスタ)51からの信号電荷を
電圧信号(電圧差)に変換するフローティング・ディフ
ュージョンFDと、所定の固定電圧Vogが印加され、
上記電荷転送部51からフローティング・ディフュージ
ョンFDに信号電荷が注入される際のゲートとなる水平
転送レジスタ用出力ゲートHOGと、フローティング・
ディフュージョンFDに蓄積された信号電荷を1ビット
ごとにリセットするリセットゲートRGと、所定のドレ
イン電圧Vddが供給されるドレイン領域Dから構成さ
れている。
【0003】上記電荷転送部51は、例えばP形のウェ
ル領域52上に形成されたN形の転送レジスタ領域53
と、この転送レジスタ領域53上において、複数の電荷
転送電極が一方向(例えば水平方向)に配列されて構成
されている。そして、2枚の電荷転送電極を1組として
各組に互い違いにそれぞれ位相の異なる2相の駆動パル
スφ1及びφ2が印加されることにより、信号電荷をフ
ローティング・ディフュージョンFD側に順次転送す
る。
【0004】ここで、駆動パルスφ1が供給される電荷
転送電極の組をそれぞれ第1の蓄積電極CG1 と第1の
転送電極TG1 と定義し、駆動パルスφ2が供給される
電荷転送電極の組をそれぞれ第2の蓄積電極CG2 と第
2の転送電極TG2 と定義する。
【0005】そして、上記電荷転送部51のうち、最終
段の第1の蓄積電極CG1 下から転送される信号電荷を
一旦フローティング・ディフュージョンFDに蓄積し、
その蓄積電荷に基づく電圧変化を後段の出力アンプ54
に供給することにより、出力アンプ54の出力端子55
から出力電圧(撮像信号成分)Sとして取り出す。
【0006】出力アンプ54の出力端子55から出力電
圧Sを取り出した後は、リセットゲートRGにリセット
パルスφPを供給してフローティング・ディフュージョ
ンFDをドレイン電圧Vddにリセットし、フローティ
ング・ディフュージョンFDに蓄積されていた電荷をド
レイン領域D側に掃き出す。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
CCD固体撮像素子においては、リセット後において発
生するフィードスルー成分によって最大取扱い電荷量が
減少し、撮像信号のS/Nが劣化するという問題があっ
た。
【0008】ここで、上記問題が発生する要因を図5の
タイミングチャート及び図6の動作概念図も参照しなが
ら説明すると、まず、t1 時においては、2つの駆動パ
ルスφ1及びφ2がそれぞれ高レベル及び低レベル、リ
セットパルスφPが低レベルであることから、電荷転送
部51における第2の転送電極TG2 から第1の蓄積電
極CG1 にかけて下り階段状のポテンシャル井戸が形成
され、第2の蓄積電極CG2 下にあった信号電荷eが、
第1の蓄積電極CG1 下にそれぞれ転送・蓄積される。
そして、最終段の第1の蓄積電極CG1 に蓄積された信
号電荷eは次段の出力ゲートHOGによるポテンシャル
障壁によってフローティング・ディフュージョンFDへ
の転送が阻止された状態となる。
【0009】次のt2 においては、逆に2つの駆動パル
スφ1及びφ2がそれぞれ低レベル及び高レベルになる
(リセットパルスφPは依然低レベルのままである)こ
とから、今度は、電荷転送部51における第1の電荷転
送電極(CG1 及びTG1 )下のポテンシャルが浅くな
って第1の転送電極TG1 から第2の蓄積電極CG2に
かけて下り階段状のポテンシャル井戸が形成され、第1
の蓄積電極CG1 下にあった信号電荷eが、第2の蓄積
電極CG2 下にそれぞれ転送・蓄積される。
【0010】このとき、最終段の第1の蓄積電極CG1
に蓄積されていた信号電荷eが、次段の出力ゲートHO
Gによるポテンシャル障壁を越えてフローティング・デ
ィフュージョンFDに転送・蓄積される。このフローテ
ィング・ディフュージョンFDに蓄積された信号電荷e
に基づく電圧変化が図4で示す後段の出力アンプ54に
供給され、出力アンプ54の出力端子55から撮像信号
成分Sとして取り出される。
【0011】次のt3 においては、2つの駆動パルスφ
1及びφ2がそれぞれ高レベル及び低レベルになること
から、電荷転送部51においては、t1 時の場合と同様
に、第2の転送電極TG2 から第1の蓄積電極CG1 に
かけて下り階段状のポテンシャル井戸が形成されて、第
2の蓄積電極CG2 下にあった信号電荷eが、第1の蓄
積電極CG1 下にそれぞれ転送・蓄積され、最終段の第
1の蓄積電極CG1 に蓄積された信号電荷eは次段の出
力ゲートHOGによるポテンシャル障壁によってフロー
ティング・ディフュージョンFDへの転送が阻止された
状態となる。
【0012】このとき、リセットパルスφPが高レベル
であることから、リセットゲートRG下のポテンシャル
障壁が下がり、フローティング・ディフュージョンFD
に蓄積されていた信号電荷eが上記ポテンシャル障壁を
越えてドレイン領域Dに掃き出される。即ち、フローテ
ィング・ディフュージョンFDの電圧がドレイン電圧V
ddにリセットされる。
【0013】そして、次のt4 時においては、リセット
パルスφPの信号レベルが低レベルに移行する過程にあ
り、リセットゲートRG下のポテンシャル障壁は、リセ
ットパルスφPの上記低レベルへの移行に伴って持ち上
がることとなる。このとき、リセットゲートRGのチャ
ネル上に存在していた電荷が、上記ポテンシャル障壁の
持ち上がりによって、それぞれドレイン領域D側とフロ
ーティング・ディフュージョンFD側に振り分けられる
こととなり、フローティング・ディフュージョンFD
に、リセットに伴うフィードスルー成分(t1 時及びt
2 時におけるフローティング・ディフュージョンFD上
の電荷fによる成分)が多く発生することとなる。
【0014】このリセット後に多く発生するフィードス
ルー成分によって、フローティング・ディフュージョン
FDにおける最大取扱い電荷量QFDが減少し、撮像信号
成分SのS/Nも劣化するという不都合が生じる。
【0015】本発明は、上記の課題に鑑みてなされたも
ので、その目的とするところは、リセット後に発生する
フィードスルー成分の低減化を図ることができ、フィー
ドスルー成分によるフローティング・ディフュージョン
の最大取扱い電荷量の減少を防止し、撮像信号のS/N
の劣化を防止することができるCCD固体撮像素子を提
供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、CCDによる
電荷転送部1の後段に、電荷転送部1からの信号電荷を
電圧変換するフローティング・ディフュージョンFD
と、所定のドレイン電圧Vddが印加されるドレイン領
域Dと、フローティング・ディフュージョンFDに蓄積
された信号電荷を、リセットパルスφPの供給によっ
て、ドレイン領域Dに掃き出すリセットゲートRGを有
する出力部を具備したCCD固体撮像素子において、リ
セットゲートRGのゲート電極構造を、互いに平行に配
された複数の電極膜5及び6にて構成し、かつ複数の電
極膜5及び6中、ドレイン領域D側の電極膜6に、フロ
ーティング・ディフュージョンFD側の電極膜5に印加
されるリセットパルスφPよりも位相の遅れたリセット
パルスφPを印加して構成する。
【0017】この場合、上記リセットゲートRGは、こ
のリセットゲートRGを構成する複数の電極膜5及び6
中、ドレイン領域D側の電極膜6に、配線抵抗Rと電極
膜6による負荷容量で構成され、かつリセットパルスφ
Pの位相を遅らせる積分回路を接続して構成することが
できる。
【0018】
【作用】本発明に係るCCD固体撮像素子においては、
リセットゲートRGのゲート構造を互いに平行に配され
た複数の電極膜5及び6にて構成していることから、リ
セットゲートRG下には、各電極膜5及び6に対応した
ポテンシャル分布が形成されることとなる。しかも、本
発明においては、ドレイン領域D側の電極膜6に、フロ
ーティング・ディフュージョンFD側の電極膜5に印加
されるリセットパルスφPよりも位相の遅れたリセット
パルスφPを印加することから、上記リセットパルスφ
Pが印加されたとき(例えばリセットパルスφPの信号
レベルが高レベルになったとき)、時間の経過に伴っ
て、ドレイン領域D側の電極膜6下のポテンシャル障壁
が、フローティング・ディフュージョンFD側の電極膜
5下のポテンシャル障壁よりも下がることになる。この
とき、フローティング・ディフュージョンFDに蓄積さ
れていた信号電荷がリセットゲートRG下のポテンシャ
ル障壁を越えてドレイン領域Dに掃き捨てられる。
【0019】そして、リセットパルスφPの信号レベル
が低レベルに移行する過程において、フローティング・
ディフュージョンFD側の電極膜5に印加されるリセッ
トパルスφPの立ち下がりに比べて、ドレイン領域D側
の電極膜6に印加されるリセットパルスφPの立ち下が
りが遅れるため、フローティング・ディフュージョンF
D側の電極膜5下におけるポテンシャル障壁が持ち上が
った後に、ドレイン領域D側の電極膜6下におけるポテ
ンシャル障壁が持ち上がることになる。
【0020】従って、リセットパルスφPの信号レベル
が低レベルに移行する過程においては、まず、フローテ
ィング・ディフュージョンFD側の電極膜5下における
ポテンシャル障壁の持ち上がりに伴って、上記電極膜5
下におけるチャネル上の電荷がドレイン領域D側に掃き
捨てられる。このとき、その一部がフローティング・デ
ィフュージョンFD側に振り分けられるが、その量は非
常に少ないものとなる。その後、ドレイン領域D側の電
極膜6下におけるポテンシャル障壁が持ち上がることに
なるが、このとき、フローティング・ディフュージョン
FD側の電極膜5下におけるポテンシャル障壁が、上記
電極膜6下におけるチャネル上の電荷のフローティング
・ディフュージョンFD側への流れ込みに対する障壁と
なるため、上記電極膜6下におけるチャネル上の電荷は
全てドレイン領域Dに掃き捨てられることになる。
【0021】このため、リセット後に発生するフィード
スルー成分(電荷fによる成分)は、非常に少ないもの
となり、従来のCCD固体撮像素子よりもフローティン
グ・ディフュージョンFDにおける最大取扱い電荷量Q
FDを増加させることができ、それに伴って、フィードス
ルー成分による撮像信号のS/Nの劣化を抑えることが
できる。
【0022】また、請求項2記載の本発明に係るCCD
固体撮像素子においては、ドレイン領域D側の電極膜6
に、配線抵抗Rと電極膜6による負荷容量で構成された
積分回路を接続することから、この積分回路を構成する
上記配線抵抗Rと上記負荷容量による時定数によって、
ドレイン領域D側の電極膜6に供給されるリセットパル
スφPの位相が、フローティング・ディフュージョンF
D側の電極膜5に供給されるリセットパルスφPの位相
よりも上記時定数で定まる時間Tほど遅れることにな
る。
【0023】
【実施例】以下、本発明に係るCCD固体撮像素子の実
施例を図1〜図3を参照しながら説明する。
【0024】この実施例に係るCCD固体撮像素子、特
にその出力部の構成は、図1に示すように、CCDで構
成された電荷転送部(例えば水平転送レジスタ)1から
の信号電荷を電圧信号(電圧差)に変換するフローティ
ング・ディフュージョンFDと、所定の固定電圧Vog
が印加され、上記電荷転送部からフローティング・ディ
フュージョンFDに信号電荷が注入される際のゲートと
なる水平転送レジスタ用出力ゲートHOGと、フローテ
ィング・ディフュージョンFDに蓄積された信号電荷を
1ビットごとにリセットするリセットゲートRGと、所
定のドレイン電圧Vddが供給されるドレイン領域Dか
ら構成されている。
【0025】電荷転送部1は、例えばP形のウェル領域
2上に形成されたN形の転送レジスタ領域3と、この転
送レジスタ領域3上において、例えば多結晶シリコン層
や高融点金属シリサイド層(例えばタングステンシリサ
イド層)等による複数の電荷転送電極が一方向(例えば
水平方向)に配列されて構成されている。そして、2枚
の電荷転送電極を1組として各組に互い違いにそれぞれ
位相の異なる2相の駆動パルスφ1及びφ2が印加され
ることにより、信号電荷をフローティング・ディフュー
ジョンFD側に順次転送する。
【0026】ここで、駆動パルスφ1が供給される電荷
転送電極の組をそれぞれ第1の蓄積電極CG1 と第1の
転送電極TG1 と定義し、駆動パルスφ2が供給される
電荷転送電極の組をそれぞれ第2の蓄積電極CG2 と第
2の転送電極TG2 と定義する。
【0027】なお、第1及び第2の転送電極TG1 及び
TG2 下におけるポテンシャルが、それぞれ第1及び第
2の蓄積電極CG1 及びCG2 下におけるポテンシャル
よりも浅くなるように、各転送電極TG1 及びTG2 下
に形成される不純物拡散領域が、それぞれ低濃度のN形
領域として形成されている。この低濃度のN形領域4は
出力ゲートHOG下にも形成される。また、転送される
信号電荷は、ここでは図示しないが、各画素に対応して
例えばpn接合によるフォトダイオードで構成された受
光部にて蓄積された信号電荷である。
【0028】そして、本実施例においては、図示するよ
うに、リセットゲートRGのゲート構造が以下のように
構成されている。即ち、リセットゲートRGのゲート電
極として使用される1枚の電極膜を、電荷転送方向に沿
って互いに平行に配置された2枚の電極膜5及び6にて
構成する。この構成によって、リセットゲートRGは、
フローティング・ディフュージョン側の電極膜5による
第1のリセットゲートRG1 と、ドレイン領域側の電極
膜6による第2のリセットゲートRG2 とで構成される
ことになる。
【0029】この場合、上記2枚の電極膜5及び6によ
る占有面積を、通常のリセットゲート用のゲート電極膜
の占有面積とほぼ同等にする。従って、第1及び第2の
リセットゲートRG1 及びRG2 における各チャネル長
は、それぞれ通常のリセットゲートRGにおけるチャネ
ル長の1/2となる。
【0030】更に、本実施例においては、第2のリセッ
トゲートRG2 へのリセットパルスφPの供給経路に例
えば多結晶シリコン層による抵抗、あるいは配線の引き
回しによる抵抗(以下、総称して配線抵抗と記す)Rを
接続する。これによって、第2のリセットゲートRG2
には、上記配線抵抗Rと第2のリセットゲートRG2自
身の負荷容量による積分回路が接続されたことと等価と
なるため、この積分回路を構成する上記配線抵抗Rと上
記負荷容量による時定数によって、第2のリセットゲー
トRG2 に供給されるリセットパルスφPの位相は、第
1のリセットゲートRG1 に供給されるリセットパルス
φPの位相よりも、上記時定数で定まる時間Tほど遅れ
ることになる。
【0031】次に、上記実施例に係るCCD固体撮像素
子の出力部における信号電荷の転送動作を図2のタイミ
ングチャート及び図3の動作概念図も参照しながら順次
説明する。
【0032】まず、t1 時においては、2つの駆動パル
スφ1及びφ2がそれぞれ高レベル及び低レベル、リセ
ットパルスφPが低レベルであることから、電荷転送部
1における第2の転送電極TG2 から第1の蓄積電極C
G1 にかけて下り階段状のポテンシャル井戸が形成さ
れ、第2の蓄積電極CG2 下にあった信号電荷eが、第
1の蓄積電極CG1 下にそれぞれ転送・蓄積される。そ
して、最終段の第1の蓄積電極CG1 に蓄積された信号
電荷eは次段の出力ゲートHOGによるポテンシャル障
壁によってフローティング・ディフュージョンFDへの
転送が阻止された状態となる。
【0033】次のt2 においては、逆に2つの駆動パル
スφ1及びφ2がそれぞれ低レベル及び高レベルになる
(リセットパルスφPは依然低レベルのままである)こ
とから、今度は、電荷転送部1における第1の電荷転送
電極(CG1 及びTG1 )下のポテンシャルが浅くなっ
て第1の転送電極TG1 から第2の蓄積電極CG2 にか
けて下り階段状のポテンシャル井戸が形成され、第1の
蓄積電極CG1 下にあった信号電荷eが、第2の蓄積電
極CG2 下にそれぞれ転送・蓄積される。
【0034】このとき、最終段の第1の蓄積電極CG1
に蓄積されていた信号電荷eが、次段の出力ゲートHO
Gによるポテンシャル障壁を越えてフローティング・デ
ィフュージョンFDに転送・蓄積される。このフローテ
ィング・ディフュージョンFDに蓄積された信号電荷e
に基づく電圧変化が図1で示す後段の出力アンプ7に供
給され、出力アンプ7の出力端子8から撮像信号成分S
として取り出される。
【0035】次のt3 においては、2つの駆動パルスφ
1及びφ2がそれぞれ高レベル及び低レベルになること
から、電荷転送部1においては、t1 時の場合と同様
に、第2の転送電極TG2 から第1の蓄積電極CG1 に
かけて下り階段状のポテンシャル井戸が形成されて、第
2の蓄積電極CG2 下にあった信号電荷eが、第1の蓄
積電極CG1 下にそれぞれ転送・蓄積され、最終段の第
1の蓄積電極CG1 に蓄積された信号電荷eは、次段の
出力ゲートHOGによるポテンシャル障壁によってフロ
ーティング・ディフュージョンFDへの転送が阻止され
た状態となる。
【0036】このとき、リセットパルスφPが高レベル
になることと、第2のリセットゲートRG2 に、第1の
リセットゲートRG1 に印加されるリセットパルスφP
よりも位相の遅れたリセットパルスφPが印加されるこ
とから、まず、第1のリセットゲートRG1 下のポテン
シャル障壁が下がる。そして、このt3 時からT時間経
過後のt4 時において、第2のリセットゲートRG2 下
のポテンシャル障壁が下がる。従って、このt4 時にお
いて、フローティング・ディフュージョンFDに蓄積さ
れていた信号電荷eが第1及び第2のリセットゲートR
G1 及びRG2下におけるポテンシャル障壁を越えてド
レイン領域Dに掃き出され、フローティング・ディフュ
ージョンFDの電圧がドレイン電圧Vddにリセットさ
れる。
【0037】そして、次のt5 時においては、リセット
パルスφPの信号レベルが低レベルに移行する過程にあ
り、また、上記積分回路によって、第2のリセットゲー
トRG2 におけるリセットパルスφPの立ち下がりが、
第1のリセットゲートRG1に印加されるリセットパル
スφPの立ち下がりに比べて時間Tほど遅れることとな
る。従って、第2のリセットゲートRG2 下におけるポ
テンシャル障壁は、第1のリセットゲートRG1 下にお
けるポテンシャル障壁が持ち上がった後に時間Tほど遅
れて持ち上がることになる。
【0038】このことから、リセットパルスφPの信号
レベルが低レベルに移行する過程においては、まず、第
1のリセットゲートRG1 下におけるポテンシャル障壁
の持ち上がりに伴って、上記第1のリセットゲートRG
1 下におけるチャネル上の電荷がドレイン領域D側に掃
き捨てられる。このとき、その一部がフローティング・
ディフュージョンFD側に振り分けられるが、その量は
非常に少ないものとなる。即ち、この振り分けによって
生じるフィードスルー成分(t1 時及びt2 時における
フローティング・ディフュージョンFD上の電荷fによ
る成分)のレベルは非常に小さいものとなる。
【0039】その後、第2のリセットゲートRG2 下に
おけるポテンシャル障壁が持ち上がることになるが、こ
のとき、第1のリセットゲートRG1 下におけるポテン
シャル障壁が、上記第2のリセットゲートRG2 下にお
けるチャネル上の電荷のフローティング・ディフュージ
ョンFD側への流れ込みに対する障壁となるため、上記
第2のリセットゲートRG2 下におけるチャネル上の電
荷は全てドレイン領域Dに掃き捨てられることになる。
【0040】このように、本実施例に係るCCD固体撮
像素子によれば、リセット後に発生するフィードスルー
成分(電荷f)は、非常に少ないものとなり、従来のC
CD固体撮像素子よりもフローティング・ディフュージ
ョンFDにおける最大取扱い電荷量(t2 時においてQ
FDとして表示)を増加させることができ、それに伴っ
て、フィードスルー成分(電荷f)による撮像信号成分
SのS/Nの劣化を抑えることができる。
【0041】しかも、本実施例においては、第2のリセ
ットゲートRG2 に供給するリセットパルスφPの位相
が、第1のリセットゲートRG1 に供給するリセットパ
ルスφPの位相よりも遅れるようにしているため、通常
よりもチャネル長の短い第1及び第2のリセットゲート
において発生するおそれがあるチャネル長変調による特
性劣化を回避することができる。
【0042】
【発明の効果】上述のように、本発明に係るCCD固体
撮像素子によれば、CCDによる電荷転送部の後段に、
上記電荷転送部からの信号電荷を電圧変換するフローテ
ィング・ディフュージョンと、所定のドレイン電圧が印
加されるドレイン領域と、上記フローティング・ディフ
ュージョンに蓄積された信号電荷を、リセットパルスの
供給によって、上記ドレイン領域に掃き出すリセットゲ
ートを有する出力部を具備したCCD固体撮像素子にお
いて、上記リセットゲートのゲート電極構造を、互いに
平行に配された複数の電極膜にて構成し、かつ上記複数
の電極膜中、ドレイン領域側の電極膜に、フローティン
グ・ディフュージョン側の電極膜に印加されるリセット
パルスよりも位相の遅れたリセットパルスを印加するよ
うにしたので、リセット後に発生するフィードスルー成
分の低減化を図ることができ、フィードスルー成分によ
るフローティング・ディフュージョンの最大取扱い電荷
量の減少を防止し、撮像信号のS/Nの劣化を防止する
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るCCD固体撮像素子の実施例、特
にその出力部を示す構成図である。
【図2】本発明に係るCCD固体撮像素子の第1及び第
2の電荷転送電極並びにリセットゲートに印加される駆
動パルス並びにリセットパルスの出力タイミングを示す
タイミングチャートである。
【図3】本発明に係るCCD固体撮像素子の出力部にお
ける信号電荷の転送動作を示す動作概念図である。
【図4】従来例に係るCCD固体撮像素子の出力部を示
す構成図である。
【図5】従来例に係るCCD固体撮像素子の第1及び第
2の電荷転送電極並びにリセットゲートに印加される駆
動パルス並びにリセットパルスの出力タイミングを示す
タイミングチャートである。
【図6】従来例に係るCCD固体撮像素子の出力部にお
ける信号電荷の転送動作を示す動作概念図である。
【符号の説明】
1 電荷転送部 TG1 第1の転送電極 CG1 第1の蓄積電極 TG2 第2の転送電極 CG2 第2の蓄積電極 HOG 出力ゲート FD フローティング・ディフュージョン RG リセットゲート RG1 第1のリセットゲート RG2 第2のリセットゲート D ドレイン領域 R 配線抵抗 5 フローティング・ディフュージョン側の電極膜 6 ドレイン領域側の電極膜 7 出力アンプ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 CCDによる電荷転送部の後段に、上記
    電荷転送部からの信号電荷を電圧変換するフローティン
    グ・ディフュージョンと、 所定のドレイン電圧が印加されるドレイン領域と、 上記フローティング・ディフュージョンに蓄積された信
    号電荷を、リセットパルスの供給によって、上記ドレイ
    ン領域に掃き出すリセットゲートを有する出力部を具備
    したCCD固体撮像素子において、 上記リセットゲートのゲート電極構造が、互いに平行に
    配された複数の電極膜にて構成され、かつ上記複数の電
    極膜中、ドレイン領域側の電極膜に、フローティング・
    ディフュージョン側の電極膜に印加されるリセットパル
    スよりも位相の遅れたリセットパルスが印加されること
    を特徴とするCCD固体撮像素子。
  2. 【請求項2】 上記リセットゲートを構成する複数の電
    極膜中、上記ドレイン領域側の電極膜に、配線抵抗と上
    記電極膜による負荷容量で構成され、かつ上記リセット
    パルスの位相を遅らせる積分回路が接続されていること
    を特徴とする請求項1記載のCCD固体撮像素子。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008193373A (ja) * 2007-02-05 2008-08-21 Sony Corp 固体撮像装置および撮像装置
US7719037B2 (en) 2006-05-31 2010-05-18 Nec Electronics Corporation Image sensor having reset transistor

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