JPH06204780A - ノイズ・フィルタ - Google Patents
ノイズ・フィルタInfo
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- JPH06204780A JPH06204780A JP35871992A JP35871992A JPH06204780A JP H06204780 A JPH06204780 A JP H06204780A JP 35871992 A JP35871992 A JP 35871992A JP 35871992 A JP35871992 A JP 35871992A JP H06204780 A JPH06204780 A JP H06204780A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 極めて小型で優れたノイズ阻止特性を有する
ノイズ・フィルタを得ること。 【構成】 高純度のシリコン・ウエハなどの絶縁基板1
に、シリコン酸化膜(Si02膜)2を介して第1の凹凸状
の屈曲電極3aを形成し、この第1の凹凸状の屈曲電極3a
上および絶縁基板1上にシリコン酸化膜を形成し、この
シリコン酸化膜上に、第1の凹凸状の屈曲電極3aに少な
くとも一部分が重なるように第2の凹凸状の屈曲電極6d
を形成したものであり、一方の凹凸状の屈曲電極3aの少
なくとも1つの端部3cを交流的に接地し、他方の凹凸状
の屈曲電極6dの両端6b,6cを伝送信号通過回路に直列に
接続して、ノーマルモードで動作させる。あるいは、各
凹凸状の屈曲電極3a、6dの両端部を伝送信号通過回路に
直列に接続して、コモンモードで動作させる。
ノイズ・フィルタを得ること。 【構成】 高純度のシリコン・ウエハなどの絶縁基板1
に、シリコン酸化膜(Si02膜)2を介して第1の凹凸状
の屈曲電極3aを形成し、この第1の凹凸状の屈曲電極3a
上および絶縁基板1上にシリコン酸化膜を形成し、この
シリコン酸化膜上に、第1の凹凸状の屈曲電極3aに少な
くとも一部分が重なるように第2の凹凸状の屈曲電極6d
を形成したものであり、一方の凹凸状の屈曲電極3aの少
なくとも1つの端部3cを交流的に接地し、他方の凹凸状
の屈曲電極6dの両端6b,6cを伝送信号通過回路に直列に
接続して、ノーマルモードで動作させる。あるいは、各
凹凸状の屈曲電極3a、6dの両端部を伝送信号通過回路に
直列に接続して、コモンモードで動作させる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、電子機器における信
号通過回路または電源回路などに使用してノイズの伝搬
を阻止するノイズ・フィルタに関する。
号通過回路または電源回路などに使用してノイズの伝搬
を阻止するノイズ・フィルタに関する。
【0002】
【従来の技術】コンピュータなどのディジタル信号を扱
う電子機器においては、信号通過回路または電源回路な
どにノイズ・フィルタが使用されている。
う電子機器においては、信号通過回路または電源回路な
どにノイズ・フィルタが使用されている。
【0003】従来のノイズ・フィルタの一例として、図
12に示すように、誘電体20を介して1対のスパイラル
電極21、22を対向配置し、一方のスパイラル電極21の両
端子23、24を伝送信号通過回路に直列に挿入し、他方の
スパイラル電極22の任意の一端25を接地する。そして、
図13の等価回路に示すように、1対のスパイラル電極
21、22の間に分布容量を形成させるとともに、信号通過
回路となるスパイラル電極21が有するインダクタンスに
よりシャープ・カットオフのローパス・フィルタを得て
いる。
12に示すように、誘電体20を介して1対のスパイラル
電極21、22を対向配置し、一方のスパイラル電極21の両
端子23、24を伝送信号通過回路に直列に挿入し、他方の
スパイラル電極22の任意の一端25を接地する。そして、
図13の等価回路に示すように、1対のスパイラル電極
21、22の間に分布容量を形成させるとともに、信号通過
回路となるスパイラル電極21が有するインダクタンスに
よりシャープ・カットオフのローパス・フィルタを得て
いる。
【0004】このような従来のフィルタにおいては、誘
電体20としてセラミック、プラスチック、ガラス、マイ
カなどの材料を使用し、印刷工程により誘電体20の両面
に対向配置したスパイラル電極を形成している。
電体20としてセラミック、プラスチック、ガラス、マイ
カなどの材料を使用し、印刷工程により誘電体20の両面
に対向配置したスパイラル電極を形成している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】近年、携帯電話、携帯
用パソコンなどのディジタル信号を扱う携帯用の電子機
器が普及するにつれて、ノイズ・フィルタも小型化が要
求されている。しかし、このような従来のフィルタにお
いては、誘電体を薄くして分布容量を増すこと、印刷工
程により長いスパイラル電極を形成することには限度が
あり、著しい小型化は困難であった。
用パソコンなどのディジタル信号を扱う携帯用の電子機
器が普及するにつれて、ノイズ・フィルタも小型化が要
求されている。しかし、このような従来のフィルタにお
いては、誘電体を薄くして分布容量を増すこと、印刷工
程により長いスパイラル電極を形成することには限度が
あり、著しい小型化は困難であった。
【0006】そこで、この発明は、大量生産に適し、極
めて小型で、優れたノイズ阻止特性を有するノイズ・フ
ィルタを得るために考えられたものである。
めて小型で、優れたノイズ阻止特性を有するノイズ・フ
ィルタを得るために考えられたものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明のノイズ・フィ
ルタは、絶縁基板に、第1の凹凸状の屈曲電極を形成
し、この第1の凹凸状の屈曲電極上に誘電体層を介して
第2の凹凸状の屈曲電極を形成したものである。
ルタは、絶縁基板に、第1の凹凸状の屈曲電極を形成
し、この第1の凹凸状の屈曲電極上に誘電体層を介して
第2の凹凸状の屈曲電極を形成したものである。
【0008】また、この発明のノイズ・フィルタは、絶
縁基板に、第1の凹凸状の屈曲電極を形成し、この第1
の凹凸状の屈曲電極上および絶縁基板上に誘電体層を形
成し、この誘電体層上に、第1の凹凸状の屈曲電極に一
部分が重なるように第2の凹凸状の屈曲電極を形成する
こともできる。そして、絶縁基板として高純度でバルク
抵抗が大きい半導体基板を用いることができる。
縁基板に、第1の凹凸状の屈曲電極を形成し、この第1
の凹凸状の屈曲電極上および絶縁基板上に誘電体層を形
成し、この誘電体層上に、第1の凹凸状の屈曲電極に一
部分が重なるように第2の凹凸状の屈曲電極を形成する
こともできる。そして、絶縁基板として高純度でバルク
抵抗が大きい半導体基板を用いることができる。
【0009】
【作用】各凹凸状の屈曲電極が有するインダクタンス
と、2つの凹凸状の屈曲電極間に存在する静電容量とに
より擬似的な分布定数を形成して、広い周波数帯域にわ
たってノイズを抑制することができる。
と、2つの凹凸状の屈曲電極間に存在する静電容量とに
より擬似的な分布定数を形成して、広い周波数帯域にわ
たってノイズを抑制することができる。
【0010】
【実施例】(第1実施例)図11(a)の等価回路に示
し、図2の組立図に示すノイズ・フィルタの第1実施例
を製造工程順に説明すると、図1の断面図に示すよう
に、(1) まず、ガラス、合成樹脂、高純度のシリコン・
ウエハなどの絶縁基板1を用意する。特に、絶縁基板1
には、バルク抵抗が大きい高純度のシリコン・ウエハが
適している。
し、図2の組立図に示すノイズ・フィルタの第1実施例
を製造工程順に説明すると、図1の断面図に示すよう
に、(1) まず、ガラス、合成樹脂、高純度のシリコン・
ウエハなどの絶縁基板1を用意する。特に、絶縁基板1
には、バルク抵抗が大きい高純度のシリコン・ウエハが
適している。
【0011】(2) このシリコン・ウエハ1の上に、化学
気相法(CVD)により第1のシリコン酸化膜(Si02膜)
2を形成したのち、(3) このシリコン・ウエハ1のシリ
コン酸化膜2上に、次の化学気相法の工程に耐え得る金
属、例えば、金、タングステン、モリブデン、タンタ
ル、ニオブなどの金属膜3を蒸着し、(4) 写真蝕刻法に
より、金属膜3上に、凹凸状に屈曲したフォトレジスト
4のパターンを形成し、(5) このフォトレジスト4をマ
スクにして、第1の凹凸状に屈曲した金属電極3aを形成
したのち、フォトレジスト4を洗い落とす。
気相法(CVD)により第1のシリコン酸化膜(Si02膜)
2を形成したのち、(3) このシリコン・ウエハ1のシリ
コン酸化膜2上に、次の化学気相法の工程に耐え得る金
属、例えば、金、タングステン、モリブデン、タンタ
ル、ニオブなどの金属膜3を蒸着し、(4) 写真蝕刻法に
より、金属膜3上に、凹凸状に屈曲したフォトレジスト
4のパターンを形成し、(5) このフォトレジスト4をマ
スクにして、第1の凹凸状に屈曲した金属電極3aを形成
したのち、フォトレジスト4を洗い落とす。
【0012】(6) 第1の凹凸状に屈曲した金属電極3aお
よび露出している第1のシリコン酸化膜2の上に化学気
相法により第2のシリコン酸化膜5を形成したのち、
(7) この第2のシリコン酸化膜5上にアルミニューム膜
6を蒸着する。
よび露出している第1のシリコン酸化膜2の上に化学気
相法により第2のシリコン酸化膜5を形成したのち、
(7) この第2のシリコン酸化膜5上にアルミニューム膜
6を蒸着する。
【0013】(8) アルミニューム膜6上において、第1
の凹凸状に屈曲した金属電極3aの上に凹凸状に屈曲した
フォトレジスト7aのパターンを形成し、(9) このフォト
レジスト7aのパターンをマスクにして、端部に端子電極
6b、6cを有する第2の凹凸状に屈曲したアルミニューム
電極6dを形成した後、フォトレジスト7aのパターンを洗
い落とす。
の凹凸状に屈曲した金属電極3aの上に凹凸状に屈曲した
フォトレジスト7aのパターンを形成し、(9) このフォト
レジスト7aのパターンをマスクにして、端部に端子電極
6b、6cを有する第2の凹凸状に屈曲したアルミニューム
電極6dを形成した後、フォトレジスト7aのパターンを洗
い落とす。
【0014】(10) 第1の凹凸状に屈曲した金属電極3a
の両端部または一端部表面の第1のシリコン酸化膜5を
エッチングにより除去して露出させることにより、端子
電極3cを形成する。
の両端部または一端部表面の第1のシリコン酸化膜5を
エッチングにより除去して露出させることにより、端子
電極3cを形成する。
【0015】そして、シリコン・ウエハ1を素子単位に
分割して、2つの凹凸状に屈曲した金属電極3a、6dの端
子電極3c、6b、6cにそれぞれボンディングしてパッケー
ジに収める。
分割して、2つの凹凸状に屈曲した金属電極3a、6dの端
子電極3c、6b、6cにそれぞれボンディングしてパッケー
ジに収める。
【0016】図3の平面図に示すように、凹凸状に屈曲
した電極6dに通電したとき、丸印の中に「・」および
「×」で示す方向の磁束が発生して、あたかも1/2タ
ーンのコイルが直列に接続された状態になるので、凹凸
状に屈曲した電極はインダクタンスを具備することにな
る。凹凸状に屈曲した電極とスパイラル電極とを比較し
たとき、電極の幅および隣接する電極の間隔を同一にし
たとき、同じ面積に形成し得る電極の長さは、凹凸状に
屈曲した電極の方がスパイラル電極よりも長くなり、イ
ンダクタンスの値にあまり差がないことが確認された。
した電極6dに通電したとき、丸印の中に「・」および
「×」で示す方向の磁束が発生して、あたかも1/2タ
ーンのコイルが直列に接続された状態になるので、凹凸
状に屈曲した電極はインダクタンスを具備することにな
る。凹凸状に屈曲した電極とスパイラル電極とを比較し
たとき、電極の幅および隣接する電極の間隔を同一にし
たとき、同じ面積に形成し得る電極の長さは、凹凸状に
屈曲した電極の方がスパイラル電極よりも長くなり、イ
ンダクタンスの値にあまり差がないことが確認された。
【0017】そして、スパイラル電極によると、電極の
両端部の内、一端が中心部に位置し、他端が周辺部に位
置するのに対し、凹凸状に屈曲した電極によると、電極
の両端部が周辺部に位置するので、端子を設けたり、他
の回路素子と接続する際に好都合である。
両端部の内、一端が中心部に位置し、他端が周辺部に位
置するのに対し、凹凸状に屈曲した電極によると、電極
の両端部が周辺部に位置するので、端子を設けたり、他
の回路素子と接続する際に好都合である。
【0018】(第2実施例)図4に示す第2実施例の製
造工程のうち、工程(1)〜(7)は、図1によって説明した
第1実施例と同じである。
造工程のうち、工程(1)〜(7)は、図1によって説明した
第1実施例と同じである。
【0019】(1) まず、高純度のシリコン・ウエハ1な
どの絶縁基板を用意し、(2) このシリコン・ウエハ1の
上に、化学気相法(CVD)により第1のシリコン酸化膜
2を形成したのち、(3) このシリコン・ウエハ1のシリ
コン酸化膜2上に、次の化学気相法の工程に耐え得る金
属膜3を蒸着し、(4) 写真蝕刻法により、金属膜3上
に、凹凸状に屈曲したフォトレジスト4のパターンを形
成し、(5) このフォトレジスト4をマスクにして、第1
の凹凸状に屈曲した金属電極3aを形成したのち、フォト
レジスト4を洗い落とす。
どの絶縁基板を用意し、(2) このシリコン・ウエハ1の
上に、化学気相法(CVD)により第1のシリコン酸化膜
2を形成したのち、(3) このシリコン・ウエハ1のシリ
コン酸化膜2上に、次の化学気相法の工程に耐え得る金
属膜3を蒸着し、(4) 写真蝕刻法により、金属膜3上
に、凹凸状に屈曲したフォトレジスト4のパターンを形
成し、(5) このフォトレジスト4をマスクにして、第1
の凹凸状に屈曲した金属電極3aを形成したのち、フォト
レジスト4を洗い落とす。
【0020】(6) 第1の凹凸状に屈曲した金属電極3aお
よび露出している第1のシリコン酸化膜2の上に化学気
相法により第2のシリコン酸化膜5を形成したのち、
(7) この第2のシリコン酸化膜5上にアルミニューム膜
6を蒸着する。
よび露出している第1のシリコン酸化膜2の上に化学気
相法により第2のシリコン酸化膜5を形成したのち、
(7) この第2のシリコン酸化膜5上にアルミニューム膜
6を蒸着する。
【0021】(8) アルミニューム膜6上において、隣接
する第1の凹凸状に屈曲した金属電極3a間の中心線に沿
って、電極間の間隔よりも広い幅の凹凸状に屈曲したフ
ォトレジスト7のパターンを形成し、(9) このフォトレ
ジスト7をマスクにして、端部に端子電極を有する第2
の凹凸状に屈曲したアルミニューム電極6aを形成した
後、フォトレジスト7のパターンを洗い落とす。
する第1の凹凸状に屈曲した金属電極3a間の中心線に沿
って、電極間の間隔よりも広い幅の凹凸状に屈曲したフ
ォトレジスト7のパターンを形成し、(9) このフォトレ
ジスト7をマスクにして、端部に端子電極を有する第2
の凹凸状に屈曲したアルミニューム電極6aを形成した
後、フォトレジスト7のパターンを洗い落とす。
【0022】(10) 第1実施例と同様に、第1の凹凸状
に屈曲した金属電極3aの両端部または一端部表面の第1
のシリコン酸化膜5をエッチングにより除去して露出さ
せ、端子電極を形成する。
に屈曲した金属電極3aの両端部または一端部表面の第1
のシリコン酸化膜5をエッチングにより除去して露出さ
せ、端子電極を形成する。
【0023】そして、シリコン・ウエハ1を素子単位に
分割して、2つの凹凸状に屈曲した金属電極3a、6dの端
子電極にそれぞれボンディングしてパッケージに収め
る。
分割して、2つの凹凸状に屈曲した金属電極3a、6dの端
子電極にそれぞれボンディングしてパッケージに収め
る。
【0024】(第3実施例)以上で説明した第2実施例
においては、第1の凹凸状に屈曲した電極3aの隣接する
両電極上に跨がって第2の凹凸状に屈曲した電極6aの両
側部が重なるように形成しているが、図5の断面図に示
すように、第2の凹凸状に屈曲した電極6aの片側部だ
け、すなわち、少なくとも一部分が重なるように形成し
て、2つの凹凸状に屈曲した電極3a、6a間の結合状態を
変えてもよいのである。
においては、第1の凹凸状に屈曲した電極3aの隣接する
両電極上に跨がって第2の凹凸状に屈曲した電極6aの両
側部が重なるように形成しているが、図5の断面図に示
すように、第2の凹凸状に屈曲した電極6aの片側部だ
け、すなわち、少なくとも一部分が重なるように形成し
て、2つの凹凸状に屈曲した電極3a、6a間の結合状態を
変えてもよいのである。
【0025】(第4実施例)第2の凹凸状に屈曲した電
極が有するインダクタンスと、第1の凹凸状に屈曲した
電極3aとの間に形成される静電容量とを所望の値に設定
して、図11(b)の等価回路に示すように、擬似的な分
布定数回路と集中定数回路よりなるハイブリッド回路を
形成する手法として、図6の組立図に示すように、第1
の凹凸状に屈曲した電極3aの長さを短くして、擬似的な
分布定数回路6eの長さを短くし、インダクタンスよりな
る集中定数回路6fを形成する。
極が有するインダクタンスと、第1の凹凸状に屈曲した
電極3aとの間に形成される静電容量とを所望の値に設定
して、図11(b)の等価回路に示すように、擬似的な分
布定数回路と集中定数回路よりなるハイブリッド回路を
形成する手法として、図6の組立図に示すように、第1
の凹凸状に屈曲した電極3aの長さを短くして、擬似的な
分布定数回路6eの長さを短くし、インダクタンスよりな
る集中定数回路6fを形成する。
【0026】(第5実施例)図7の組立図に示すよう
に、第1の凹凸状に屈曲した電極3aの長さを短くすると
ともにその幅を広げて、静電容量の大きい擬似的な分布
定数回路6eと、インダクタンスとよりなる集中定数回路
6fとを形成する。
に、第1の凹凸状に屈曲した電極3aの長さを短くすると
ともにその幅を広げて、静電容量の大きい擬似的な分布
定数回路6eと、インダクタンスとよりなる集中定数回路
6fとを形成する。
【0027】(第6実施例)また、図11(c)の等価回
路に示し、図8の組立図に示すように、第1の平面電極
3gと、この第1の平面電極3gに対向した第2の平面電極
6gおよび凹凸状に屈曲した電極6fとを形成して、静電容
量とインダクタンスとの集中定数回路よりなるノイズ・
フィルタを得ることができる。
路に示し、図8の組立図に示すように、第1の平面電極
3gと、この第1の平面電極3gに対向した第2の平面電極
6gおよび凹凸状に屈曲した電極6fとを形成して、静電容
量とインダクタンスとの集中定数回路よりなるノイズ・
フィルタを得ることができる。
【0028】第1〜第6実施例の工程によって製造した
ノイズ・フィルタのパッケージングの方法として、図9
に示すように、分割されたシリコン・ウエハのチップ12
の全表面に、化学液相法によりシリコン酸化膜13を形成
し、エッチングによって端子電極上のシリコン酸化膜13
を除去して孔をあけ、その孔をハンダ14で表面に盛り上
がる程度に封じると、突出したハンダ14を印刷配線基板
のランドと直接接触させることができるので、表面実装
に際して好都合である。なお、チップ12表面の保護膜
に、合成樹脂などの他の絶縁材料を使用してもよく、保
護膜の穿孔に、レーザー光線を利用してもよいのであ
る。
ノイズ・フィルタのパッケージングの方法として、図9
に示すように、分割されたシリコン・ウエハのチップ12
の全表面に、化学液相法によりシリコン酸化膜13を形成
し、エッチングによって端子電極上のシリコン酸化膜13
を除去して孔をあけ、その孔をハンダ14で表面に盛り上
がる程度に封じると、突出したハンダ14を印刷配線基板
のランドと直接接触させることができるので、表面実装
に際して好都合である。なお、チップ12表面の保護膜
に、合成樹脂などの他の絶縁材料を使用してもよく、保
護膜の穿孔に、レーザー光線を利用してもよいのであ
る。
【0029】(第7実施例)既に集積回路を形成したシ
リコン・ウエハの表面上に、ノイズ・フィルタを立体的
に形成する実施例について説明する。
リコン・ウエハの表面上に、ノイズ・フィルタを立体的
に形成する実施例について説明する。
【0030】図10(a),(b),(c)の各断面図に示す
ように、既に集積回路11を形成したシリコン・ウエハ10
の上に、化学気相法によりシリコン酸化膜2を形成し、
このシリコン酸化膜2の上に、第1〜第4実施例で説明
した工程を経て、ノイズ・フィルタを形成する。
ように、既に集積回路11を形成したシリコン・ウエハ10
の上に、化学気相法によりシリコン酸化膜2を形成し、
このシリコン酸化膜2の上に、第1〜第4実施例で説明
した工程を経て、ノイズ・フィルタを形成する。
【0031】このように、ノイズ・フィルタを立体的に
形成すると、シリコン・ウエハの面積を有効利用するこ
とができる。
形成すると、シリコン・ウエハの面積を有効利用するこ
とができる。
【0032】以上で説明した第1〜第7実施例の工程に
よって製造されたノイズ・フィルタをノーマルモードで
動作させる場合には、2つの凹凸状に屈曲した金属電極
のうち、第1の凹凸状に屈曲した金属電極の端部を基準
電位点に接続、例えば接地して、第2の凹凸状の屈曲金
属電極を伝送信号通過回路に直列に挿入すると、第2の
凹凸状に屈曲した金属電極は、交流的に接地された第1
の金属電極の存在により、分布定数的な回路を形成し
て、高い周波数のノイズの伝搬を阻止することができ
る。
よって製造されたノイズ・フィルタをノーマルモードで
動作させる場合には、2つの凹凸状に屈曲した金属電極
のうち、第1の凹凸状に屈曲した金属電極の端部を基準
電位点に接続、例えば接地して、第2の凹凸状の屈曲金
属電極を伝送信号通過回路に直列に挿入すると、第2の
凹凸状に屈曲した金属電極は、交流的に接地された第1
の金属電極の存在により、分布定数的な回路を形成し
て、高い周波数のノイズの伝搬を阻止することができ
る。
【0033】また、第1〜第3実施例の工程によって製
造されたノイズ・フィルタをコモンモードで動作させる
際には、2つの凹凸状に屈曲した金属電極を伝送信号通
過回路に直列に挿入すればよいのである。
造されたノイズ・フィルタをコモンモードで動作させる
際には、2つの凹凸状に屈曲した金属電極を伝送信号通
過回路に直列に挿入すればよいのである。
【0034】凹凸状に屈曲した各金属電極3a、6a、6d
は、膜厚および幅に応じた抵抗を有しており、その厚み
および/または幅を変えて抵抗を調整することにより、
分布定数的な回路のQを調整することができる。
は、膜厚および幅に応じた抵抗を有しており、その厚み
および/または幅を変えて抵抗を調整することにより、
分布定数的な回路のQを調整することができる。
【0035】Qが高い場合には、減衰特性において、特
定の周波数で急峻な減衰または共振点をもつが、Qが低
い場合には、広い周波数帯域にわたって一様な減衰特性
を得ることができるので、絶縁基板となるシリコン・ウ
エハのバルク抵抗、凹凸状の屈曲の金属電極の長さ、厚
み、幅および絶縁性酸化皮膜となるシリコン酸化膜の厚
みなどを選択することにより、所望の減衰特性のノイズ
・フィルタを得ることができる。
定の周波数で急峻な減衰または共振点をもつが、Qが低
い場合には、広い周波数帯域にわたって一様な減衰特性
を得ることができるので、絶縁基板となるシリコン・ウ
エハのバルク抵抗、凹凸状の屈曲の金属電極の長さ、厚
み、幅および絶縁性酸化皮膜となるシリコン酸化膜の厚
みなどを選択することにより、所望の減衰特性のノイズ
・フィルタを得ることができる。
【0036】(その他の実施例)以上で説明した各実施
例においては、2つの凹凸状に屈曲した金属電極3a、6a
または3a、6dは、それぞれ1層づつ形成されているが、
シリコン酸化膜を介在させ、その層間で接続して複数層
形成することにより、インダクタンスおよび/または静
電容量を増加することができる。
例においては、2つの凹凸状に屈曲した金属電極3a、6a
または3a、6dは、それぞれ1層づつ形成されているが、
シリコン酸化膜を介在させ、その層間で接続して複数層
形成することにより、インダクタンスおよび/または静
電容量を増加することができる。
【0037】凹凸状に屈曲した金属電極のインダクタン
スを増加させたい場合には、絶縁基板としてフェライト
のような磁性絶縁体を使用すればよいのである。
スを増加させたい場合には、絶縁基板としてフェライト
のような磁性絶縁体を使用すればよいのである。
【0038】この発明のノイズ・フィルタは、単一の素
子をケースに収めて1つの部品として使用することもで
きるが、印刷配線基板やICカードなどの絶縁基板上に
形成される他の回路の一部としてノイズ・フィルタを形
成し、電源回路や伝送信号通過回路に接続して使用する
ことができる。
子をケースに収めて1つの部品として使用することもで
きるが、印刷配線基板やICカードなどの絶縁基板上に
形成される他の回路の一部としてノイズ・フィルタを形
成し、電源回路や伝送信号通過回路に接続して使用する
ことができる。
【0039】また、絶縁基板に複数個のノイズ・フィル
タを形成して、一体化することにより、単一部品とし
て、複数ビットの伝送信号より発生するノイズの伝搬を
阻止することができる。
タを形成して、一体化することにより、単一部品とし
て、複数ビットの伝送信号より発生するノイズの伝搬を
阻止することができる。
【0040】この発明のノイズ・フィルタは、単一の素
子をケースに収めて1つの部品として使用することもで
きるが、印刷配線基板やICカードなどの絶縁基板上に
形成される他の回路の一部としてノイズ・フィルタを形
成し、電源回路や伝送信号通過回路に接続して使用する
ことができる。
子をケースに収めて1つの部品として使用することもで
きるが、印刷配線基板やICカードなどの絶縁基板上に
形成される他の回路の一部としてノイズ・フィルタを形
成し、電源回路や伝送信号通過回路に接続して使用する
ことができる。
【0041】2つの凹凸状に屈曲した金属電極間の誘電
体層の静電気による破壊を防止するためには、電極間に
放電ギャップを設けたり、複数の直列接続されたダイオ
ードを接続してその順方向の閾値電圧以下で動作させた
り、ツェナー・ダイオードを接続すればよいのである。
体層の静電気による破壊を防止するためには、電極間に
放電ギャップを設けたり、複数の直列接続されたダイオ
ードを接続してその順方向の閾値電圧以下で動作させた
り、ツェナー・ダイオードを接続すればよいのである。
【0042】2つの凹凸状に屈曲した金属電極間に存在
する誘電体層として、シリコン酸化膜に代えて誘電率が
比較的大きいシリコン窒化膜(Si3N4膜)を使用しても
よいのである。
する誘電体層として、シリコン酸化膜に代えて誘電率が
比較的大きいシリコン窒化膜(Si3N4膜)を使用しても
よいのである。
【0043】高純度の半導体基板、例えば、高純度のシ
リコン・ウエハは、そのバルク抵抗が、凹凸状に屈曲し
た金属電極3a、6a、6dなどの金属導電体に比して極めて
高く、絶縁基板として充分使用することができる。
リコン・ウエハは、そのバルク抵抗が、凹凸状に屈曲し
た金属電極3a、6a、6dなどの金属導電体に比して極めて
高く、絶縁基板として充分使用することができる。
【0044】この発明のノイズ・フィルタをシリコン・
ウエハを絶縁基板として構成すると、従来から使用され
ている集積回路の製造装置によって製造し、検査し、パ
ッケージングすることが可能になり、新たな設備を設け
る必要はないのである。
ウエハを絶縁基板として構成すると、従来から使用され
ている集積回路の製造装置によって製造し、検査し、パ
ッケージングすることが可能になり、新たな設備を設け
る必要はないのである。
【0045】
【発明の効果】以上の実施例に基づく説明から明らかな
ように、この発明のノイズ・フィルタによると、集積回
路の製造技術と類似な技術によって製造することができ
るので、小型化が容易であり、新たな設備投資を要する
ことなく、大量生産に適し、廉価に製造することが可能
であり、また、種々の減衰特性を有する素子を得ること
が容易である。
ように、この発明のノイズ・フィルタによると、集積回
路の製造技術と類似な技術によって製造することができ
るので、小型化が容易であり、新たな設備投資を要する
ことなく、大量生産に適し、廉価に製造することが可能
であり、また、種々の減衰特性を有する素子を得ること
が容易である。
【図1】この発明のノイズ・フィルタの第1実施例を製
造工程順に示した断面図、
造工程順に示した断面図、
【図2】図1の工程で製造するノイズ・フィルタの組立
図、
図、
【図3】この発明のノイズ・フィルタの原理を説明する
ための平面図、
ための平面図、
【図4】この発明のノイズ・フィルタの第2実施例を製
造工程順に示した断面図、
造工程順に示した断面図、
【図5】この発明のノイズ・フィルタの第3実施例の断
面図、
面図、
【図6】この発明のノイズ・フィルタの第4実施例の組
立図、
立図、
【図7】この発明のノイズ・フィルタの第5実施例の組
立図、
立図、
【図8】この発明のノイズ・フィルタの第6実施例の組
立図、
立図、
【図9】第1〜第6実施例の工程により製造したノイズ
・フィルタをパッケージングした状態の一例を示す断面
図、
・フィルタをパッケージングした状態の一例を示す断面
図、
【図10】この発明のノイズ・フィルタの第7実施例の
断面図、
断面図、
【図11】この発明のノイズ・フィルタのの等価回路
図、
図、
【図12】従来のノイズ・フィルタの一例を示す表面図
(a)、側面図(b)、裏面図(c)、
(a)、側面図(b)、裏面図(c)、
【図13】従来のノイズ・フィルタの等価回路図であ
る。
る。
1 シリコン・ウエハ(絶縁基板) 2、5 シリコン酸化膜またはシリコン窒化膜(誘電体
層) 3a、6a、6d 凹凸状に屈曲した金属電極 3b、3c、6b 端子電極 4、7、7a フォトレジスト
層) 3a、6a、6d 凹凸状に屈曲した金属電極 3b、3c、6b 端子電極 4、7、7a フォトレジスト
Claims (10)
- 【請求項1】 絶縁基板に、第1の凹凸状の屈曲状電極
を形成し、該第1の凹凸状の屈曲電極上に誘電体層を介
して第2の凹凸状の屈曲電極を形成したことを特徴とす
るノイズ・フィルタ。 - 【請求項2】 絶縁基板に、第1の凹凸状の屈曲電極を
形成し、該第1の凹凸状の屈曲電極上および絶縁基板上
に誘電体層を形成し、該誘電体層上に、上記第1の凹凸
状の屈曲電極に少なくとも一部分が重なるように第2の
凹凸状の屈曲電極を形成したことを特徴とするノイズ・
フィルタ。 - 【請求項3】 絶縁基板に、第1の凹凸状の屈曲電極を
形成し、該第1の凹凸状の屈曲電極上および絶縁基板上
に誘電体層を形成し、該誘電体層上に、上記第1の凹凸
状の屈曲電極の各隣接する電極に跨がって重なるように
第2の凹凸状の屈曲電極を形成したことを特徴とするノ
イズ・フィルタ。 - 【請求項4】 2つの凹凸状の屈曲電極の長さを相違さ
せたことを特徴とする請求項1乃至請求項3に記載のノ
イズ・フィルタ。 - 【請求項5】 一方の凹凸状の屈曲電極の少なくとも1
つの端部を接地し、他方の凹凸状の屈曲電極の両端を伝
送信号通過回路に直列に接続して、ノーマルモードで動
作することを特徴とする請求項1乃至請求項3に記載の
ノイズ・フィルタ。 - 【請求項6】 両凹凸状の屈曲電極の両端部を伝送信号
通過回路に直列に接続して、コモンモードで動作するこ
とを特徴とする請求項1乃至請求項3に記載のノイズ・
フィルタ。 - 【請求項7】 絶縁基板として高純度の半導体基板を用
いたことを特徴とする請求項1乃至請求項6に記載のノ
イズ・フィルタ。 - 【請求項8】 絶縁基板としてガラス基板を用いたこと
を特徴とする請求項1乃至請求項6に記載のノイズ・フ
ィルタ。 - 【請求項9】 絶縁基板に複数個のノイズ・フィルタを
形成して、一体化したことを特徴とする請求項1乃至請
求項6に記載のノイズ・フィルタ。 - 【請求項10】 集積回路が形成されている基板の上に
形成したことを特徴とする請求項1乃至請求項7に記載
のノイズ・フィルタ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35871992A JPH06204780A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | ノイズ・フィルタ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35871992A JPH06204780A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | ノイズ・フィルタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06204780A true JPH06204780A (ja) | 1994-07-22 |
Family
ID=18460763
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP35871992A Pending JPH06204780A (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | ノイズ・フィルタ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06204780A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0936312A (ja) * | 1995-07-18 | 1997-02-07 | Nec Corp | インダクタンス素子およびその製造方法 |
JP2006245273A (ja) * | 2005-03-03 | 2006-09-14 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | インダクタ |
JP2013172027A (ja) * | 2012-02-21 | 2013-09-02 | Tdk Corp | 積層型電子部品 |
JP2013172025A (ja) * | 2012-02-21 | 2013-09-02 | Tdk Corp | 積層型電子部品 |
-
1992
- 1992-12-28 JP JP35871992A patent/JPH06204780A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0936312A (ja) * | 1995-07-18 | 1997-02-07 | Nec Corp | インダクタンス素子およびその製造方法 |
JP2006245273A (ja) * | 2005-03-03 | 2006-09-14 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | インダクタ |
JP2013172027A (ja) * | 2012-02-21 | 2013-09-02 | Tdk Corp | 積層型電子部品 |
JP2013172025A (ja) * | 2012-02-21 | 2013-09-02 | Tdk Corp | 積層型電子部品 |
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