JPH06204273A - 半導体樹脂封止装置 - Google Patents

半導体樹脂封止装置

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JPH06204273A
JPH06204273A JP4348107A JP34810792A JPH06204273A JP H06204273 A JPH06204273 A JP H06204273A JP 4348107 A JP4348107 A JP 4348107A JP 34810792 A JP34810792 A JP 34810792A JP H06204273 A JPH06204273 A JP H06204273A
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metal molds
semiconductor
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JP4348107A
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Norio Nishino
典男 西野
清 ▲高▼岡
Kiyoshi Takaoka
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Matsushita Electronics Corp
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29CSHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
    • B29C45/00Injection moulding, i.e. forcing the required volume of moulding material through a nozzle into a closed mould; Apparatus therefor
    • B29C45/17Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
    • B29C45/72Heating or cooling
    • B29C45/7207Heating or cooling of the moulded articles

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Processing And Handling Of Plastics And Other Materials For Molding In General (AREA)
  • Injection Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 樹脂封止後の半導体装置に反りを生じさせな
い。 【構成】 成形下金型2a、成形上金型2bにより、樹
脂封止された成形製品3は、成形後成形金型より取り出
されると同時に徐冷金型1により上下からプレスされ
る。徐冷金型1には成形製品3の上下面だけを押さえ、
カル5を押さえないために、凹凸が設けられている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、エポキシ樹脂による半
導体樹脂封止装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は従来の半導体樹脂封止装置を示す
斜視図である。図2において、半導体装置の樹脂封止に
おける成形工程では、成形下金型6aの規定位置にセッ
トされたリードフレーム12に対し、ポット10に投入
されたエポキシ樹脂がランナー部11を通って成形部9
に圧入されて、成形製品8が完成する。通常成形時に
は、成形下金型6a、成形上金型6bは対象成形製品8
の大きさに応じた圧力で、締め付けられている。また、
成形下金型6a、成形上金型6bは約175℃に加熱さ
れており、成形時間は、30〜90秒が一般的である。
最後に、成形された製品は、カル7が成形製品8につな
がった状態で成形下金型6aより取り出され、カル7が
成形製品8より取り外される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
半導体製品寸法の薄型化により、エポキシ樹脂部の成形
厚みは薄くなってきている。
【0004】図3は成形製品8の側面図である。図3に
おいて、寸法tは寸法Aに対し、小さくなっている。寸
法A:寸法tが約10:1以下になると、成形部はエポ
キシ樹脂部13とリードフレーム14の熱膨張率の差に
より、図4のように、反りが生じてくる。反り発生は、
後工程に悪影響を与える。
【0005】成形材料のエポキシ樹脂は熱により時間と
共に硬化する特性があるが、通常の成形においては、生
産性を上げるため、成形時間は30〜90秒としてい
る。そのため、成形直後の成形製品8は完全に硬化しき
っていない。反りを防止するためには、成形下金型6
a、成形上金型6bを締め付けた状態で、エポキシ樹脂
が完全に硬化するまで放置しておけば良いが、生産性が
非常に悪くなる。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の半導体樹脂封止装置は、樹脂成形後に金型
より取り出した半導体装置を徐冷する徐冷部を設けてい
る。
【0007】
【作用】上記構成において、徐冷部を設けることによ
り、半導体装置は急冷されずに徐冷されるため、成形後
の反りは防止され、不良品の発生が防止される。
【0008】
【実施例】図1は本発明の一実施例における半導体樹脂
封止装置の斜視図である。
【0009】図1において、従来例と同様に成形下金型
2a、成形上金型2bにより樹脂封止された成形製品3
は成形後、成形下金型2a、成形上金型2bより取り出
されると同時に徐冷金型1により上下からプレスされ
る。徐冷金型1には成形製品3の上下面だけを押さえ、
カル5を押さえないために、凹凸が設けられている。
【0010】また、ヒーター4により、徐冷金型1は1
00〜180℃に加熱され、徐冷金型1に接触すること
で成形製品3は、急冷されないようになっている。
【0011】徐冷金型1の締め付け力は、成形製品3の
形状により、適宜合わせられ、0.2〜0.5kg/cm2
であり、これにより反り防止に効果が現れる。
【0012】
【発明の効果】本発明の半導体樹脂封止装置によれば、
樹脂封止された半導体装置は徐冷部で徐冷され、成形時
間を長くすることなく、反りが防止される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例における半導体樹脂封止装置
の斜視図
【図2】従来の半導体樹脂封止装置の斜視図
【図3】従来の半導体装置の側面図
【図4】従来の半導体装置の側面図
【符号の説明】
1 徐冷金型 2a,6a 成形下金型 2b,6b 成形上金型 3,8 成形製品 4 ヒーター 5,7 カル 9 成形部 10 ポット 11 ランナー部 12,14 リードフレーム 13 エポキシ樹脂部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】樹脂成形後に金型より取り出した半導体装
    置を徐冷する徐冷部を設けた半導体樹脂封止装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0849062A1 (de) * 1996-12-21 1998-06-24 HERBST, Richard Verfahren und Vorrichtung zum Entnehmen von Kunststofferzeugnissen aus einer Kunststoff-Spritzgiessmaschine
WO2022190450A1 (ja) * 2021-03-10 2022-09-15 Towa株式会社 樹脂成形装置および樹脂成形品の製造方法

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JP2022138380A (ja) * 2021-03-10 2022-09-26 Towa株式会社 樹脂成形装置および樹脂成形品の製造方法
TWI788112B (zh) * 2021-03-10 2022-12-21 日商Towa股份有限公司 樹脂成形裝置以及樹脂成形品的製造方法

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