JPH06201371A - 走査型力顕微鏡 - Google Patents
走査型力顕微鏡Info
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- JPH06201371A JPH06201371A JP4347690A JP34769092A JPH06201371A JP H06201371 A JPH06201371 A JP H06201371A JP 4347690 A JP4347690 A JP 4347690A JP 34769092 A JP34769092 A JP 34769092A JP H06201371 A JPH06201371 A JP H06201371A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 大気中においても動作可能なFM方式走査型
力顕微鏡を提供すること。 【構成】 カンチレバー1の変位検出に光てこを用い、
その周波数検出にフェイズ・ロックド・ループを用いた
FM検波器7を用いる。 【効果】 大気中で動作可能なり、調整容易かつ安価な
装置を提供できる。
力顕微鏡を提供すること。 【構成】 カンチレバー1の変位検出に光てこを用い、
その周波数検出にフェイズ・ロックド・ループを用いた
FM検波器7を用いる。 【効果】 大気中で動作可能なり、調整容易かつ安価な
装置を提供できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、固体表面の微細な形態
及び磁気情報を計測する計測装置に関わる。
及び磁気情報を計測する計測装置に関わる。
【0002】
【従来の技術】固体表面の微細な形態等を観察する手段
として、近年、従来の走査型電子顕微鏡等に加えて走査
型トンネル顕微鏡や走査型力顕微鏡等が実用に供される
ようになってきた。走査型力顕微鏡は、原子間力顕微鏡
や磁気力顕微鏡等の総称で、試料の導電性の有無に関わ
らず測定が可能であるという特徴を有する。また、磁気
力顕微鏡に代表されるように磁気情報などの形態以外の
物理量を測定することも可能である。
として、近年、従来の走査型電子顕微鏡等に加えて走査
型トンネル顕微鏡や走査型力顕微鏡等が実用に供される
ようになってきた。走査型力顕微鏡は、原子間力顕微鏡
や磁気力顕微鏡等の総称で、試料の導電性の有無に関わ
らず測定が可能であるという特徴を有する。また、磁気
力顕微鏡に代表されるように磁気情報などの形態以外の
物理量を測定することも可能である。
【0003】走査型力顕微鏡の動作モードは、大別して
2つある。第1のモードは、カンチレバー(片持ち梁)
の尖端(自由端側にある)を試料に接触させて表面を走
査し、表面の凹凸を捕らえる。その際にかかる荷重を極
めて小さくするこにより原子レベルの分解能を実現して
いる。第2のモードは、カンチレバー尖端に働く力によ
ってカンチレバーの共振周波数変化を検出する。この場
合、カンチレバーは接触させずに微小振幅で試料面に垂
直に振動させながら走査する。本発明は、この第2のモ
ードに関わるので、以下に簡単に解説する。
2つある。第1のモードは、カンチレバー(片持ち梁)
の尖端(自由端側にある)を試料に接触させて表面を走
査し、表面の凹凸を捕らえる。その際にかかる荷重を極
めて小さくするこにより原子レベルの分解能を実現して
いる。第2のモードは、カンチレバー尖端に働く力によ
ってカンチレバーの共振周波数変化を検出する。この場
合、カンチレバーは接触させずに微小振幅で試料面に垂
直に振動させながら走査する。本発明は、この第2のモ
ードに関わるので、以下に簡単に解説する。
【0004】このモードを用いた原子間力顕微鏡は、米
国特許出願第802123号(特開昭62−13030
2)にもとづいて実現される。そして、その実現例がジ
ャーナル・オブ・フィジックス(J.Appl.Phys.)誌、1987
年、第61巻、4723項から4729項に記述されている。この
モードでは、カンチレバーを試料表面に接触させずに数
10nm程度離した状態で、カンチレバーの先端と試料の間
に働く原子間力によるカンチレバーの実効的なバネ定数
の変化によっておこるカンチレバーの共振周波数の変化
を検出する。すなわち、カンチレバーの共振周波数に近
い周波数の駆動力でカンチレバーを励振して、カンチレ
バーの共振特性を用いて共振周波数変化をその振幅変化
から検出する方法(スロープ・ディテクション法)であ
る。そして、この振幅が一定になるように試料とカンチ
レバーの距離を制御しながら走査を行う。このモードの
特徴は、直接力を検出するのではなく力のz軸(試料表
面に対し垂直)方向の微係数を検出することにある。こ
のため、カンチレバー尖端に働く力が小さくてもz軸方
向の微係数が十分に大きければ検出できる。事実、この
モードにおいて検出される力は、固体表面近傍で働く極
弱い引力である。また、このモードは磁気力顕微鏡にお
いては最も広く用いられているものである。これは、強
磁性体尖端の体積が極めて小さいため、試料との相互作
用も極小さなものであるからである。このモードを用い
た磁気力顕微鏡については、アプライド・フィジックス
・レターズ(Appl.Phys.Lett.)誌、1987年、第50巻、14
55項から1457項に記載の論文に述べられている。
国特許出願第802123号(特開昭62−13030
2)にもとづいて実現される。そして、その実現例がジ
ャーナル・オブ・フィジックス(J.Appl.Phys.)誌、1987
年、第61巻、4723項から4729項に記述されている。この
モードでは、カンチレバーを試料表面に接触させずに数
10nm程度離した状態で、カンチレバーの先端と試料の間
に働く原子間力によるカンチレバーの実効的なバネ定数
の変化によっておこるカンチレバーの共振周波数の変化
を検出する。すなわち、カンチレバーの共振周波数に近
い周波数の駆動力でカンチレバーを励振して、カンチレ
バーの共振特性を用いて共振周波数変化をその振幅変化
から検出する方法(スロープ・ディテクション法)であ
る。そして、この振幅が一定になるように試料とカンチ
レバーの距離を制御しながら走査を行う。このモードの
特徴は、直接力を検出するのではなく力のz軸(試料表
面に対し垂直)方向の微係数を検出することにある。こ
のため、カンチレバー尖端に働く力が小さくてもz軸方
向の微係数が十分に大きければ検出できる。事実、この
モードにおいて検出される力は、固体表面近傍で働く極
弱い引力である。また、このモードは磁気力顕微鏡にお
いては最も広く用いられているものである。これは、強
磁性体尖端の体積が極めて小さいため、試料との相互作
用も極小さなものであるからである。このモードを用い
た磁気力顕微鏡については、アプライド・フィジックス
・レターズ(Appl.Phys.Lett.)誌、1987年、第50巻、14
55項から1457項に記載の論文に述べられている。
【0005】これまでのところ、カンチレバーの共振点
シフトを検出する方法として、スロープ・ディテクショ
ン法がもっぱら用いられてきた。この方式の欠点は、第
一には、カンチレバーの共振点シフトとは無関係な要
因、例えば、カンチレバーの振幅を検出する光干渉計の
光源であるレーザのパワー変動などの影響を受けやすい
ことにある。第二には、動作周波数の帯域幅が狭いこと
である。これは、カンチレバーの振幅が数nmから数10nm
と非常に小さいために十分な信号対雑音比を確保すると
振幅検出回路系の帯域幅を広くとれないためである。こ
れらの欠点を解決する手段として、カンチレバーの共振
点を直接検出することが考えられている。この方法は既
に一部で実現されている。その一例は、ジャーナル・オ
ブ・アプライド・フィジックス(J.Appl.Py
s.)誌、1991年、第69巻、668項から673
項に記載の論文中で述べられている。これらの装置の特
徴は、真空中に置かれたカンチレバーの振幅検出系の出
力をカンチレバー励振系に正帰還させることにより発振
回路を構成し、その発振信号の周波数をFM検波器で検
出することによりカンチレバーの共振点を直接検出して
いることである。これは、このような発振回路系は、そ
の中に含まれる共振器の共振点で発振することを利用し
たものである。この技術により、外乱の影響を受けにく
く、かつ、帯域幅の広い走査型力顕微鏡を構成すること
が可能となった。しかし、この論文に記述されている装
置で採用されているFM検波器は、LCフィルタのスロ
ープ特性を利用したもので雑音特性は他のFM検波器と
比較して特に優れているわけではない。
シフトを検出する方法として、スロープ・ディテクショ
ン法がもっぱら用いられてきた。この方式の欠点は、第
一には、カンチレバーの共振点シフトとは無関係な要
因、例えば、カンチレバーの振幅を検出する光干渉計の
光源であるレーザのパワー変動などの影響を受けやすい
ことにある。第二には、動作周波数の帯域幅が狭いこと
である。これは、カンチレバーの振幅が数nmから数10nm
と非常に小さいために十分な信号対雑音比を確保すると
振幅検出回路系の帯域幅を広くとれないためである。こ
れらの欠点を解決する手段として、カンチレバーの共振
点を直接検出することが考えられている。この方法は既
に一部で実現されている。その一例は、ジャーナル・オ
ブ・アプライド・フィジックス(J.Appl.Py
s.)誌、1991年、第69巻、668項から673
項に記載の論文中で述べられている。これらの装置の特
徴は、真空中に置かれたカンチレバーの振幅検出系の出
力をカンチレバー励振系に正帰還させることにより発振
回路を構成し、その発振信号の周波数をFM検波器で検
出することによりカンチレバーの共振点を直接検出して
いることである。これは、このような発振回路系は、そ
の中に含まれる共振器の共振点で発振することを利用し
たものである。この技術により、外乱の影響を受けにく
く、かつ、帯域幅の広い走査型力顕微鏡を構成すること
が可能となった。しかし、この論文に記述されている装
置で採用されているFM検波器は、LCフィルタのスロ
ープ特性を利用したもので雑音特性は他のFM検波器と
比較して特に優れているわけではない。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来技術においては、
カンチレバーは真空中に置かれているために一度真空中
に置けば、そのカンチレバー変位検出系の調整を行なう
のは困難である。また、真空を作るための真空容器やポ
ンプ類が必要であるために装置の価格が高くなる。ま
た、カンチレバー変位検出手段に光てこを用いている場
合には、カンチレバーが微細なために光軸の調整に顕微
鏡等の観察手段が必要である。本発明の目的は、発振回
路系を大気中で動作させることによりこれらの課題を解
決し、調整容易かつ低価格な走査型力顕微鏡を提供する
ことにある。
カンチレバーは真空中に置かれているために一度真空中
に置けば、そのカンチレバー変位検出系の調整を行なう
のは困難である。また、真空を作るための真空容器やポ
ンプ類が必要であるために装置の価格が高くなる。ま
た、カンチレバー変位検出手段に光てこを用いている場
合には、カンチレバーが微細なために光軸の調整に顕微
鏡等の観察手段が必要である。本発明の目的は、発振回
路系を大気中で動作させることによりこれらの課題を解
決し、調整容易かつ低価格な走査型力顕微鏡を提供する
ことにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の一局面によれば、カンチレバー変位信号を
増幅する手段と、フェイズ・ロックド・ループを用い
た、カンチレバー変位信号周波数を検出する手段を有す
る。また、本発明の限定された一局面によればカンチレ
バー尖端と試料の間に静電バイアスをかける手段を有す
る。また、本発明の限定された一局面によればカンチレ
バーが強磁性を有する尖端を有する。また、本発明の限
定された一局面によれば、光てこ光学系と調整用光学系
が一体化されている。
に、本発明の一局面によれば、カンチレバー変位信号を
増幅する手段と、フェイズ・ロックド・ループを用い
た、カンチレバー変位信号周波数を検出する手段を有す
る。また、本発明の限定された一局面によればカンチレ
バー尖端と試料の間に静電バイアスをかける手段を有す
る。また、本発明の限定された一局面によればカンチレ
バーが強磁性を有する尖端を有する。また、本発明の限
定された一局面によれば、光てこ光学系と調整用光学系
が一体化されている。
【0008】
【作用】カンチレバーの変位信号を増幅することは大気
中でも安定に発振するように作用する。フェイズ・ロッ
クド・ループを用いてカンチレバー変位信号周波数を検
出することは、検波出力の雑音を低減するように作用す
る。カンチレバー尖端と試料表面の間に静電バイアスを
かけることは、カンチレバー尖端と試料表面の距離の調
整を容易にするように作用する。強磁性体からなるカン
チレバー尖端は、試料からの漏洩磁界を測定可能にする
ように作用する。
中でも安定に発振するように作用する。フェイズ・ロッ
クド・ループを用いてカンチレバー変位信号周波数を検
出することは、検波出力の雑音を低減するように作用す
る。カンチレバー尖端と試料表面の間に静電バイアスを
かけることは、カンチレバー尖端と試料表面の距離の調
整を容易にするように作用する。強磁性体からなるカン
チレバー尖端は、試料からの漏洩磁界を測定可能にする
ように作用する。
【0009】
【実施例】図1は、本発明の一実施例である。本実施例
では、カンチレバー1の変位検出手段として光てこを用
いている。光てこの代わりに光干渉計などを用いること
も出来る。半導体レーザモジュール2は、半導体レーザ
とレーザ光線を収束させるための光学系から成る。半導
体レーザ・モジュールからでるレーザ光線は、カンチレ
バーの表面に合焦するように調整されている。カンチレ
バーの表面は、平坦で必要に応じて金属等がコーティン
グされているのでレーザ光線は反射される。反射光は、
光スポット・センサ3に入射するように半導体レーザ・
モジュール、カンチレバー、光スポット・センサの位置
・光軸は調整されている。反射光は、光スポットセンサ
上に光スポットを形成する。光スポット・センサは、同
センサ上の光スポットの位置を電気信号(カンチレバー
変位信号)に変換する。光スポット・センサとしては、
2分割光ダイオードや表面に抵抗層を形成した光ダイオ
ード等が利用できる。カンチレバー変位信号は、帰還ア
ンプ5によって増幅され、圧電振動子6とFM検波器7
とにそれぞれ入力される。この信号により圧電振動子は
カンチレバーを振動させる。即ち、光てこ、帰還アン
プ、圧電振動子から成る帰還ループを構成している。カ
ンチレバーは、その構造・材質によって決定される機械
的な共振特性を有する。カンチレバーの共振周波数にお
いて、先の帰還ループは正帰還かつループ・ゲインが1
以上になるように振幅・位相が調整されているので、こ
の帰還ループはカンチレバーの共振周波数において発振
する。即ち、発振回路が構成されている。従って、FM
検波器への入力信号もこの発振信号となる。大気中にお
いては、カンチレバーのQ値は、空気抵抗のためにあま
り大きくない。これにより、発振周波数の変動が大きく
なり、結果として最終出力の雑音を増大させる。しか
し、本実施例においてはループ・ゲインを十分に大きく
とることにより、発振周波数の変動を小さく抑えてい
る。
では、カンチレバー1の変位検出手段として光てこを用
いている。光てこの代わりに光干渉計などを用いること
も出来る。半導体レーザモジュール2は、半導体レーザ
とレーザ光線を収束させるための光学系から成る。半導
体レーザ・モジュールからでるレーザ光線は、カンチレ
バーの表面に合焦するように調整されている。カンチレ
バーの表面は、平坦で必要に応じて金属等がコーティン
グされているのでレーザ光線は反射される。反射光は、
光スポット・センサ3に入射するように半導体レーザ・
モジュール、カンチレバー、光スポット・センサの位置
・光軸は調整されている。反射光は、光スポットセンサ
上に光スポットを形成する。光スポット・センサは、同
センサ上の光スポットの位置を電気信号(カンチレバー
変位信号)に変換する。光スポット・センサとしては、
2分割光ダイオードや表面に抵抗層を形成した光ダイオ
ード等が利用できる。カンチレバー変位信号は、帰還ア
ンプ5によって増幅され、圧電振動子6とFM検波器7
とにそれぞれ入力される。この信号により圧電振動子は
カンチレバーを振動させる。即ち、光てこ、帰還アン
プ、圧電振動子から成る帰還ループを構成している。カ
ンチレバーは、その構造・材質によって決定される機械
的な共振特性を有する。カンチレバーの共振周波数にお
いて、先の帰還ループは正帰還かつループ・ゲインが1
以上になるように振幅・位相が調整されているので、こ
の帰還ループはカンチレバーの共振周波数において発振
する。即ち、発振回路が構成されている。従って、FM
検波器への入力信号もこの発振信号となる。大気中にお
いては、カンチレバーのQ値は、空気抵抗のためにあま
り大きくない。これにより、発振周波数の変動が大きく
なり、結果として最終出力の雑音を増大させる。しか
し、本実施例においてはループ・ゲインを十分に大きく
とることにより、発振周波数の変動を小さく抑えてい
る。
【0010】FM検波器は、先の発振信号の周波数を検
出してそれに対応するベースバンド信号に変換する。F
M検波器は、各種の形式が存在するが、本実施例では雑
音特性に優れるフェイズ・ロックド・ループ方式を採用
している。図2にフェイズ・ロックド・ループの構成を
示す。フェイズ・ロックド・ループは、一種のフィード
バック系で、無線通信機、テレビジョンをはじめとした
電子機器に広く応用されている技術であるが、以下に簡
単に説明を加えておく。尚、同技術に関する文献として
は、フェーズ・ロックド・ループス(Phase−lo
cked loops),ローランド・ベスト(Rol
and Best)著、マクグロウ・ヒル(McGra
w−Hill,Inc.)社、1984年刊やフェーズ
ロック・テクニックス(Phaselock Tech
niques),フロイド・ガードナー(Floyd
Gardner)著、ジョン・ワイリー・アンド・サン
ズ(John Wiley & Sons,Inc.)
社、1966年刊が挙げられる。フェイズ・ロックド・
ループは、位相比較器21、ループ・フィルタ22、電
圧制御発振器23から構成される。位相比較器は、入力
信号の位相と電圧制御発振器の出力の位相差を出力す
る。位相差信号は、ループ・フィルタ(低域フィルタ)
に入力され不要な高周波成分の除去が行なわれる。ルー
プ・フィルタの出力は、電圧制御発振器の制御電圧(制
御信号)となる。電圧制御発振器の発振周波数は、この
制御電圧によって2つの信号の周波数差が小さく(周波
数は位相の時間微分)なるように制御される。電圧制御
発振器の制御信号は入力信号の周波数変化の追従信号に
なっている。すなわち、フェイズ・ロックド・ループは
FM検波器として動作する。フェイズ・ロックド・ルー
プを応用したFM検波器は、入力雑音の影響を最大で6
dB低減できる優れた特性を有する。
出してそれに対応するベースバンド信号に変換する。F
M検波器は、各種の形式が存在するが、本実施例では雑
音特性に優れるフェイズ・ロックド・ループ方式を採用
している。図2にフェイズ・ロックド・ループの構成を
示す。フェイズ・ロックド・ループは、一種のフィード
バック系で、無線通信機、テレビジョンをはじめとした
電子機器に広く応用されている技術であるが、以下に簡
単に説明を加えておく。尚、同技術に関する文献として
は、フェーズ・ロックド・ループス(Phase−lo
cked loops),ローランド・ベスト(Rol
and Best)著、マクグロウ・ヒル(McGra
w−Hill,Inc.)社、1984年刊やフェーズ
ロック・テクニックス(Phaselock Tech
niques),フロイド・ガードナー(Floyd
Gardner)著、ジョン・ワイリー・アンド・サン
ズ(John Wiley & Sons,Inc.)
社、1966年刊が挙げられる。フェイズ・ロックド・
ループは、位相比較器21、ループ・フィルタ22、電
圧制御発振器23から構成される。位相比較器は、入力
信号の位相と電圧制御発振器の出力の位相差を出力す
る。位相差信号は、ループ・フィルタ(低域フィルタ)
に入力され不要な高周波成分の除去が行なわれる。ルー
プ・フィルタの出力は、電圧制御発振器の制御電圧(制
御信号)となる。電圧制御発振器の発振周波数は、この
制御電圧によって2つの信号の周波数差が小さく(周波
数は位相の時間微分)なるように制御される。電圧制御
発振器の制御信号は入力信号の周波数変化の追従信号に
なっている。すなわち、フェイズ・ロックド・ループは
FM検波器として動作する。フェイズ・ロックド・ルー
プを応用したFM検波器は、入力雑音の影響を最大で6
dB低減できる優れた特性を有する。
【0011】検波出力(電圧制御発振器の制御信号)
は、サーボ回路8と表示装置12とにそれぞれ送られ
る。サーボ回路は、検波出力が所望の値になるようにX
YZスキャナのZ軸を駆動して試料4とカンチレバーの
尖端との距離を調節する(後述するように、発振回路の
発振周波数は試料とカンチレバー尖端の間の距離で変化
する)。
は、サーボ回路8と表示装置12とにそれぞれ送られ
る。サーボ回路は、検波出力が所望の値になるようにX
YZスキャナのZ軸を駆動して試料4とカンチレバーの
尖端との距離を調節する(後述するように、発振回路の
発振周波数は試料とカンチレバー尖端の間の距離で変化
する)。
【0012】XY走査信号源11は、2次元走査信号を
発生し、XYZスキャナのX,Y各軸を駆動する。走査
信号は、同時に表示装置にも送られる。表示装置は、走
査信号と検波出力をもとにして各走査位置毎に検波出力
信号を表示する。
発生し、XYZスキャナのX,Y各軸を駆動する。走査
信号は、同時に表示装置にも送られる。表示装置は、走
査信号と検波出力をもとにして各走査位置毎に検波出力
信号を表示する。
【0013】次に、カンチレバーの共振周波数とカンチ
レバーに働く力の関係を説明する。式1にカンチレバー
の運動方程式を示す。カンチレバーを試料表面のポテン
シャル中で強制振動させるのでこのように表現される。
レバーに働く力の関係を説明する。式1にカンチレバー
の運動方程式を示す。カンチレバーを試料表面のポテン
シャル中で強制振動させるのでこのように表現される。
【0014】
【数1】
【0015】ただし、mは有効質量、kはカンチレバー
のバネ定数、Γは効力の係数、V(z)はポテンシャ
ル、Fはカンチレバー駆動力の振幅、aはカンチレバー
の平衡点のz座標、ωは外力の角周波数である。カンチ
レバーの平衡点(z=a)の近傍で、振幅が十分に小さ
いという仮定で近似を行い、ポテンシャルの影響による
共振点のシフト量を求めると次のようになる。
のバネ定数、Γは効力の係数、V(z)はポテンシャ
ル、Fはカンチレバー駆動力の振幅、aはカンチレバー
の平衡点のz座標、ωは外力の角周波数である。カンチ
レバーの平衡点(z=a)の近傍で、振幅が十分に小さ
いという仮定で近似を行い、ポテンシャルの影響による
共振点のシフト量を求めると次のようになる。
【0016】
【数2】
【0017】ただし、
【0018】
【数3】
【0019】一般に、カンチレバー尖端を試料表面に接
近させると図3に示すような力が働くことが知られてい
る。このことは、当業者には広く知られている。本実施
例の装置は、図3でカンチレバーに働く力が負の領域、
すなわち、引力領域で動作する。引力領域においては、
力のz方向の微係数は負である。従って、カンチレバー
の尖端を試料表面に接近させると発振回路の発振周波数
は下がる。図4は、カンチレバーを試料表面に接近させ
たときの周波数変化の実験結果である。表面に接近する
につれて発振周波数が下がっている。
近させると図3に示すような力が働くことが知られてい
る。このことは、当業者には広く知られている。本実施
例の装置は、図3でカンチレバーに働く力が負の領域、
すなわち、引力領域で動作する。引力領域においては、
力のz方向の微係数は負である。従って、カンチレバー
の尖端を試料表面に接近させると発振回路の発振周波数
は下がる。図4は、カンチレバーを試料表面に接近させ
たときの周波数変化の実験結果である。表面に接近する
につれて発振周波数が下がっている。
【0020】本装置の特徴の一つは、大気中において動
作可能でありながら、より高性能を発揮してしかるべき
真空中にて動作する同種の装置に迫る性能を実現してい
ることである。このことは、図5と図6を比較すれば明
らかである。図5は、本装置を用いて光磁気ディスクの
記録磁区を観察した例である。磁気情報を得るために、
観察には強磁性体尖端を有するカンチレバーを用いてい
る。図5中の長楕円形の図形が記録磁区である。試料表
面からの漏洩磁界は、この記録磁区の境界部から特に強
く漏れている。カンチレバーの強磁性体尖端は、漏洩磁
界と相互作用を起こすので、図5のように磁区の境界部
が明暗のコントラストとして観察される。磁区の境界部
及び内部に見られる微細な構造から分解能はおよそ10
0nmと判断される。図6は、同一の試料を真空中で動
作する図1と同種の装置で観察した例である。走査機構
の相違等により倍率及び縦横比が異なるが、分解能は図
5と同等である。尚、分解能はカンチレバー尖端と試料
の間の距離の影響を受けるが図5と図6とではこの距離
はほぼ同一である。明らかに、本装置は大気中動作であ
りながら真空中動作の装置と同等の性能を発揮してい
る。
作可能でありながら、より高性能を発揮してしかるべき
真空中にて動作する同種の装置に迫る性能を実現してい
ることである。このことは、図5と図6を比較すれば明
らかである。図5は、本装置を用いて光磁気ディスクの
記録磁区を観察した例である。磁気情報を得るために、
観察には強磁性体尖端を有するカンチレバーを用いてい
る。図5中の長楕円形の図形が記録磁区である。試料表
面からの漏洩磁界は、この記録磁区の境界部から特に強
く漏れている。カンチレバーの強磁性体尖端は、漏洩磁
界と相互作用を起こすので、図5のように磁区の境界部
が明暗のコントラストとして観察される。磁区の境界部
及び内部に見られる微細な構造から分解能はおよそ10
0nmと判断される。図6は、同一の試料を真空中で動
作する図1と同種の装置で観察した例である。走査機構
の相違等により倍率及び縦横比が異なるが、分解能は図
5と同等である。尚、分解能はカンチレバー尖端と試料
の間の距離の影響を受けるが図5と図6とではこの距離
はほぼ同一である。明らかに、本装置は大気中動作であ
りながら真空中動作の装置と同等の性能を発揮してい
る。
【0021】図1に示した装置は、大気中においても動
作可能である。従って、必要に応じて光てこなどの調整
を随時行なうことが可能である。また、真空容器やポン
プ類が不要であるので装置を安価に構成できる。
作可能である。従って、必要に応じて光てこなどの調整
を随時行なうことが可能である。また、真空容器やポン
プ類が不要であるので装置を安価に構成できる。
【0022】図7は、光てこの光軸調整が容易なように
改良された半導体レーザ・モジュールの例である。カン
チレバーは、リソグラフィー技術を用いて作製した全長
200ミクロンほどの極小さなものである。従って、光
軸を調整する際には顕微鏡などを用いることが多い。図
7の例においては、光源、収束光学系、顕微鏡が一体化
されている。半導体レーザ31を発したレーザ光線は、
コリメータ・レンズ32によって収束される。焦点は、
カンチレバー表面上に合わせる必要があるが、これは半
導体レーザ・モジュール全体を移動させることにより行
なう。光路の途中には、ビーム・スプリッタ33が配置
されている。これは、2つの45度直角プリズムを図に
示すように貼りあわせたものである。カンチレバー側か
ら入射して来る光の一部はプリズムの貼り合わせ面で反
射されレンズ34を通過する。レンズとコリメータ・レ
ンズは、焦点距離が同一である。半導体レーザ、コリメ
ータ・レンズ、ビーム・スプリッタ、レンズ、焦点板3
5を図7に示す関係に配置してあるので、焦点板の上に
できる像はレーザ光線の焦点位置にある物体のみピント
が合った状態になる。接眼鏡36を通したカンチレバー
拡大像のピントを合わせることによりレーザの焦点をカ
ンチレバー表面に合わせることが出来る。これは、従来
のようにレーザ光線のスポット径を最小にする方法より
も遥かに容易である。また、各光学部品の光軸を精密に
合わせておけばレーザを点灯することなく焦点だけでな
くカンチレバーとレーザ光線の位置合わせも行なうこと
が出来る。エネルギー密度の高いレーザ光線が眼球など
の人体に当たる危険性が無くなり、安全性が向上する。
尚、レーザを点灯して調整を行なう可能性がある場合に
は焦点板を曇りガラスにするなどレーザ光線が直接眼球
に入射しないよう配慮する。また、焦点位置に電荷結合
素子のような撮像素子を置き、画像処理システムと組み
合わせて調整を自動化することも可能である。
改良された半導体レーザ・モジュールの例である。カン
チレバーは、リソグラフィー技術を用いて作製した全長
200ミクロンほどの極小さなものである。従って、光
軸を調整する際には顕微鏡などを用いることが多い。図
7の例においては、光源、収束光学系、顕微鏡が一体化
されている。半導体レーザ31を発したレーザ光線は、
コリメータ・レンズ32によって収束される。焦点は、
カンチレバー表面上に合わせる必要があるが、これは半
導体レーザ・モジュール全体を移動させることにより行
なう。光路の途中には、ビーム・スプリッタ33が配置
されている。これは、2つの45度直角プリズムを図に
示すように貼りあわせたものである。カンチレバー側か
ら入射して来る光の一部はプリズムの貼り合わせ面で反
射されレンズ34を通過する。レンズとコリメータ・レ
ンズは、焦点距離が同一である。半導体レーザ、コリメ
ータ・レンズ、ビーム・スプリッタ、レンズ、焦点板3
5を図7に示す関係に配置してあるので、焦点板の上に
できる像はレーザ光線の焦点位置にある物体のみピント
が合った状態になる。接眼鏡36を通したカンチレバー
拡大像のピントを合わせることによりレーザの焦点をカ
ンチレバー表面に合わせることが出来る。これは、従来
のようにレーザ光線のスポット径を最小にする方法より
も遥かに容易である。また、各光学部品の光軸を精密に
合わせておけばレーザを点灯することなく焦点だけでな
くカンチレバーとレーザ光線の位置合わせも行なうこと
が出来る。エネルギー密度の高いレーザ光線が眼球など
の人体に当たる危険性が無くなり、安全性が向上する。
尚、レーザを点灯して調整を行なう可能性がある場合に
は焦点板を曇りガラスにするなどレーザ光線が直接眼球
に入射しないよう配慮する。また、焦点位置に電荷結合
素子のような撮像素子を置き、画像処理システムと組み
合わせて調整を自動化することも可能である。
【0023】
【発明の効果】本発明によれば、カンチレバー変位信号
を増幅する手段を備えているので大気中においても発振
周波数変動を少なくできる。大気中において動作可能で
あるので光学系の調整が容易である。また、真空容器・
ポンプが不要であるから装置が安価である。フェイズ・
ロックド・ループを用いたカンチレバー変位信号周波数
検出手段を有するので、カンチレバー変位信号の雑音が
大きくても最終出力の雑音を小さくできる。また、光て
こ光学系と調整用光学系が一体化されているので光てこ
の調整が容易かつ安全に行なうことが可能である。
を増幅する手段を備えているので大気中においても発振
周波数変動を少なくできる。大気中において動作可能で
あるので光学系の調整が容易である。また、真空容器・
ポンプが不要であるから装置が安価である。フェイズ・
ロックド・ループを用いたカンチレバー変位信号周波数
検出手段を有するので、カンチレバー変位信号の雑音が
大きくても最終出力の雑音を小さくできる。また、光て
こ光学系と調整用光学系が一体化されているので光てこ
の調整が容易かつ安全に行なうことが可能である。
【図1】大気中動作可能な走査型力顕微鏡の一例を示す
ブロック図。
ブロック図。
【図2】フェイズ・ロックド・ループのブロック図。
【図3】原子間力の説明のためのグラフ図。
【図4】原子間力によるカンチレバーの共振周波数変化
の一測定例を示すグラフ図。
の一測定例を示すグラフ図。
【図5】図1に示した装置で大気中で観察した結果を示
す平面図。
す平面図。
【図6】真空中で動作する図1に示した装置と同種の装
置で観察した結果を示す平面図。
置で観察した結果を示す平面図。
【図7】光てこ調整用光学系と一体化された半導体レー
ザ・モジュールの一例を示す構成図。
ザ・モジュールの一例を示す構成図。
1…カンチレバー、2…半導体レーザ・モジュール、3
…光スポット・センサ、4…試料、5…帰還アンプ、6
…圧電振動子、7…FM検波器、8…サーボ回路、9…
XYZスキャナ、10…指示部、11…XY走査信号
源、12…表示装置、21…位相比較器、22…ループ
・フィルタ、23…電圧制御発振器、31…半導体レー
ザ、32…コリメータ・レンズ、33…ビーム・スプリ
ッタ、34…レンズ、35…焦点板、36…接眼鏡。
…光スポット・センサ、4…試料、5…帰還アンプ、6
…圧電振動子、7…FM検波器、8…サーボ回路、9…
XYZスキャナ、10…指示部、11…XY走査信号
源、12…表示装置、21…位相比較器、22…ループ
・フィルタ、23…電圧制御発振器、31…半導体レー
ザ、32…コリメータ・レンズ、33…ビーム・スプリ
ッタ、34…レンズ、35…焦点板、36…接眼鏡。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年8月2日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図5
【補正方法】変更
【補正内容】
【図5】図1の走査型力顕微鏡で光磁気ディスク上の記
録マークである磁性膜の微細磁区構造を大気中で観察し
た結果を示す顕微鏡写真。
録マークである磁性膜の微細磁区構造を大気中で観察し
た結果を示す顕微鏡写真。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図6
【補正方法】変更
【補正内容】
【図6】真空中で動作する走査型力顕微鏡で光磁気ディ
スク上の記録マークである磁性膜の微細磁区構造を観察
した結果を示す顕微鏡写真。
スク上の記録マークである磁性膜の微細磁区構造を観察
した結果を示す顕微鏡写真。
Claims (4)
- 【請求項1】a)尖端を有するバネ状のカンチレバーと、 b)前記カンチレバーの尖端を試料表面に沿って走査する
手段と、 c)前記カンチレバーの変位を検出する手段と、 d)前記カンチレバー変位信号を増幅する手段と、 e)前記カンチレバー変位信号で前記カンチレバーを励振
するための手段と、 f)フェイズ・ロックド・ループを用いた、前記カンチレ
バー変位信号の周波数を検出する手段と、 g)前記カンチレバー変位信号周波数と目標周波数との差
を検出する手段と、 h)前記カンチレバー・試料表面間距離を調節する手段と
を有することを特徴とする走査型力顕微鏡。 - 【請求項2】請求項1に記載の走査型力顕微鏡におい
て、前記試料と前記カンチレバー尖端との間に静電バイ
アスをかける手段を有することを特徴とする走査型力顕
微鏡。 - 【請求項3】請求項1に記載の走査型力顕微鏡におい
て、前記カンチレバーが強磁性体尖端を有することを特
徴とする走査型力顕微鏡。 - 【請求項4】請求項1に記載の走査型力顕微鏡におい
て、前記カンチレバー変位検出手段に光てこを用い、前
記光てこの光源及び収束光学系と調整機構が一体化され
ていることを特徴とする走査型力顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4347690A JP3070316B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 走査型力顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4347690A JP3070316B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 走査型力顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06201371A true JPH06201371A (ja) | 1994-07-19 |
JP3070316B2 JP3070316B2 (ja) | 2000-07-31 |
Family
ID=18391916
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4347690A Expired - Fee Related JP3070316B2 (ja) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | 走査型力顕微鏡 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3070316B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE36488E (en) * | 1992-08-07 | 2000-01-11 | Veeco Instruments Inc. | Tapping atomic force microscope with phase or frequency detection |
JP2009109377A (ja) * | 2007-10-31 | 2009-05-21 | Jeol Ltd | 走査プローブ顕微鏡 |
CN113108696A (zh) * | 2021-04-06 | 2021-07-13 | 合肥埃科光电科技有限公司 | 一种光源波长扫描光谱共焦传感器 |
-
1992
- 1992-12-28 JP JP4347690A patent/JP3070316B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE36488E (en) * | 1992-08-07 | 2000-01-11 | Veeco Instruments Inc. | Tapping atomic force microscope with phase or frequency detection |
JP2009109377A (ja) * | 2007-10-31 | 2009-05-21 | Jeol Ltd | 走査プローブ顕微鏡 |
CN113108696A (zh) * | 2021-04-06 | 2021-07-13 | 合肥埃科光电科技有限公司 | 一种光源波长扫描光谱共焦传感器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3070316B2 (ja) | 2000-07-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |