JPH0619845B2 - デイスク変動状態検出装置 - Google Patents
デイスク変動状態検出装置Info
- Publication number
- JPH0619845B2 JPH0619845B2 JP61227880A JP22788086A JPH0619845B2 JP H0619845 B2 JPH0619845 B2 JP H0619845B2 JP 61227880 A JP61227880 A JP 61227880A JP 22788086 A JP22788086 A JP 22788086A JP H0619845 B2 JPH0619845 B2 JP H0619845B2
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- JP
- Japan
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- light receiving
- disc
- disk
- light
- receiving element
- Prior art date
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、ディスク変動状態検出装置に係り、光学読取
方式のディスクを再生する装置でディスクの傾斜又は高
さの変動状態を検出する装置に関する。
方式のディスクを再生する装置でディスクの傾斜又は高
さの変動状態を検出する装置に関する。
従来の技術 従来より光学読取方式のディスクがある。このディスク
が恒久的に平面性を保つことは難かしく、一般には中心
部と外周縁部との高さが変わり略椀形状に変形すること
が多いが、エアサンドイッチ構造のディスクなどではス
ペーサのある内周縁部及び外周縁部のディスク面で傾斜
が起こることがある。
が恒久的に平面性を保つことは難かしく、一般には中心
部と外周縁部との高さが変わり略椀形状に変形すること
が多いが、エアサンドイッチ構造のディスクなどではス
ペーサのある内周縁部及び外周縁部のディスク面で傾斜
が起こることがある。
上記の変形を生じたディスクに情報を記録する場合に
は、ディスク面に垂直に光ビームが照射されないので、
ビームスポットが歪み、歪んだピットが形成されたり、
ときにはピットが形成されないこともある。ピットが歪
むと再生時の周波数特性が劣化し、ディスクの内周縁部
で上記傾斜があるとＣＡＶ方式では特に問題となる。ま
た、ディスクを再生する場合には、ディスクで反射され
たビームが正確にピックアップに戻らないため情報を正
確に検出できなくなる。
は、ディスク面に垂直に光ビームが照射されないので、
ビームスポットが歪み、歪んだピットが形成されたり、
ときにはピットが形成されないこともある。ピットが歪
むと再生時の周波数特性が劣化し、ディスクの内周縁部
で上記傾斜があるとＣＡＶ方式では特に問題となる。ま
た、ディスクを再生する場合には、ディスクで反射され
たビームが正確にピックアップに戻らないため情報を正
確に検出できなくなる。
このため、従来より例えば特開昭６０−２３６１３０号
の如き傾斜度検出装置を用いてディスクの傾斜を検出
し、これによってピックアップの姿勢制御を行なうもの
があった。
の如き傾斜度検出装置を用いてディスクの傾斜を検出
し、これによってピックアップの姿勢制御を行なうもの
があった。
上記の傾斜度検出装置は、第７図（Ａ）に示す如く、発
光素子１０と受光素子１１とがディスク１２の半径方向
に沿って位置されている。このため、ディスク１２の変
形による傾斜に応じて、受光素子１１における反射ビー
ムの受光位置が上下に変位する。
光素子１０と受光素子１１とがディスク１２の半径方向
に沿って位置されている。このため、ディスク１２の変
形による傾斜に応じて、受光素子１１における反射ビー
ムの受光位置が上下に変位する。
また、この他に第７図（ｂ）に示す如く、発光素子１４
と受光素子１５，１６とをディスク１２の半径方向に沿
って配置し、受光素子１５，１６夫々の出力信号を差動
増幅する装置がある。この場合ディスク１２の傾斜に応
じ差動増幅器１７の出力レベルが変化する。
と受光素子１５，１６とをディスク１２の半径方向に沿
って配置し、受光素子１５，１６夫々の出力信号を差動
増幅する装置がある。この場合ディスク１２の傾斜に応
じ差動増幅器１７の出力レベルが変化する。
発明が解決しようとする問題点 しかし、第７図（Ａ）の装置では、ディスク１２全体の
発光素子１０及び受光素子１１に対する高さが面ずれ等
により変化した場合にも上記反射ビームの受光位置が上
下に変位してしまい、ディスク１２の傾斜として検出さ
れてしまうという問題点があった。
発光素子１０及び受光素子１１に対する高さが面ずれ等
により変化した場合にも上記反射ビームの受光位置が上
下に変位してしまい、ディスク１２の傾斜として検出さ
れてしまうという問題点があった。
また、第７図（Ｂ）に示す装置ではディスク全体の高さ
が多少変化しても、これを傾斜として検出することはな
い。しかし、ディスク１２が例えばライトワンス型ディ
スクの如く情報の記録部と未記録部とで光反射率が異な
るものであるとき、例えばディスク１２の発光素子１４
に対応する位置より外周側が情報の記録部で内周側が未
記録部である場合に差動増幅器１７の出力レベルは変化
して、ディスク１２の傾斜を示す誤りの信号を出力して
しまうという問題があった。
が多少変化しても、これを傾斜として検出することはな
い。しかし、ディスク１２が例えばライトワンス型ディ
スクの如く情報の記録部と未記録部とで光反射率が異な
るものであるとき、例えばディスク１２の発光素子１４
に対応する位置より外周側が情報の記録部で内周側が未
記録部である場合に差動増幅器１７の出力レベルは変化
して、ディスク１２の傾斜を示す誤りの信号を出力して
しまうという問題があった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、ディス
クの傾斜又は高さの変動状態を誤りなく正確に検出する
ディスク変動状態検出装置を提供することを目的とす
る。
クの傾斜又は高さの変動状態を誤りなく正確に検出する
ディスク変動状態検出装置を提供することを目的とす
る。
問題点を解決するための手段 本発明においては、ディスクの接線方向に発光素子及び
受光素子を配設して、発光素子より発射された光ビーム
をディスクの接線方向又は接線方向と垂直方向に沿った
細長い形状のスリットを通してディスクに照射し、ディ
スクで反射された光ビームを受光素子で受光し、受光素
子上での受光位置のディスクの接線方向と垂直方向又は
接線方向の変位によりディスクの傾斜又は高さの変動に
応じたエラー信号を生成し、エラー信号をディスクの読
取再生を行なうピックアップの姿勢制御に用いる。
受光素子を配設して、発光素子より発射された光ビーム
をディスクの接線方向又は接線方向と垂直方向に沿った
細長い形状のスリットを通してディスクに照射し、ディ
スクで反射された光ビームを受光素子で受光し、受光素
子上での受光位置のディスクの接線方向と垂直方向又は
接線方向の変位によりディスクの傾斜又は高さの変動に
応じたエラー信号を生成し、エラー信号をディスクの読
取再生を行なうピックアップの姿勢制御に用いる。
該受光素子上の光ビームスポットの変位方向の幅をｄと
し、 受光素子の受光部の変位方向の長さをＬとし、 長さＬに対応するディスクの変動量をαとし、 ピックアップの姿勢制御における許容誤差範囲をβとし
て、 ｄ／Ｌ≦β／α を満足するよう該幅ｄ，長さＬ，変動量α，許容誤差範
囲β夫々の値を定めている。
し、 受光素子の受光部の変位方向の長さをＬとし、 長さＬに対応するディスクの変動量をαとし、 ピックアップの姿勢制御における許容誤差範囲をβとし
て、 ｄ／Ｌ≦β／α を満足するよう該幅ｄ，長さＬ，変動量α，許容誤差範
囲β夫々の値を定めている。
作用 本発明においては、ディスクの傾斜及び高さ夫々の変動
に応じて受光素子上の光ビームスポットは互いに垂直方
向に偏移する。また、光ビームスポットの幅ｄはｄ／Ｌ
≦β／αを満足するような小さな値とされている。
に応じて受光素子上の光ビームスポットは互いに垂直方
向に偏移する。また、光ビームスポットの幅ｄはｄ／Ｌ
≦β／αを満足するような小さな値とされている。
実施例 第１図（Ａ），（Ｂ）は本発明装置の一実施例の構成を
説明するための平面図及び正面図を示す。同図中、２０
はディスクであり、回転軸２１によって定速回転せしめ
られる。モータ２２は回転軸２１を駆動する。ディスク
２０はその下面が情報記録路面２０ａであり、この情報
記録面２０ａからピックアップ２３により情報が読み取
られる。
説明するための平面図及び正面図を示す。同図中、２０
はディスクであり、回転軸２１によって定速回転せしめ
られる。モータ２２は回転軸２１を駆動する。ディスク
２０はその下面が情報記録路面２０ａであり、この情報
記録面２０ａからピックアップ２３により情報が読み取
られる。
発光素子２４と受光素子２５とはディスク２０の接線方
向に沿って配置されて基板２６上に固定されている。発
光素子２４とディスク２０との間にはスリット板２７が
配設されている。このスリット板２７は第２図に示す如
くディスク２０の接線方向に沿うスリット２８を有し、
略Ｌ字状に形成されている。
向に沿って配置されて基板２６上に固定されている。発
光素子２４とディスク２０との間にはスリット板２７が
配設されている。このスリット板２７は第２図に示す如
くディスク２０の接線方向に沿うスリット２８を有し、
略Ｌ字状に形成されている。
発光素子２４としては発光ダイオードが用いられ、これ
より発射された光ビームはスリット２８を通ってディス
ク２０の接線方向に延びる細い光ビームとされてディス
ク２０に照射される。ディスク２０で反射された光ビー
ムは受光素子２５に入射する。
より発射された光ビームはスリット２８を通ってディス
ク２０の接線方向に延びる細い光ビームとされてディス
ク２０に照射される。ディスク２０で反射された光ビー
ムは受光素子２５に入射する。
受光素子２５は細長い形状の受光部２５ａを有する一次
元ＣＣＤセンサが用いられ、受光部25ａがスリット２８
と垂直となるよう配置されている。
元ＣＣＤセンサが用いられ、受光部25ａがスリット２８
と垂直となるよう配置されている。
このため、第３図（Ａ）に示す如く受光部25ａに入射す
る光ビームは斜線部Ａの如く細長いスポットとなり、こ
の光ビームスポットの長手方向は受光部２５ａの長手方
向に対して垂直となる。
る光ビームは斜線部Ａの如く細長いスポットとなり、こ
の光ビームスポットの長手方向は受光部２５ａの長手方
向に対して垂直となる。
ここで、ディスク２０の外周縁部が水平面に対して傾斜
していれば、受光部２５ａに入射する光ビームスポット
は受光部２５ａの長手方向つまり第３図（Ａ）の矢印Ｘ
方向に変位する。また、ディスク２０の発光素子２４及
び受光素子２５に対する高さが変化した場合には、受光
部２５ａに入射する光ビームスポットは受光部２５ａの
長手方向と垂直の幅方向つまり第３図（Ａ）の矢印Ｙ方
向に変位するが、光ビーム自体がスリット２８を通して
矢印Ｙ方向に細く延びているため、受光部２５ａにおい
て入射する光ビームに何ら変化がない。
していれば、受光部２５ａに入射する光ビームスポット
は受光部２５ａの長手方向つまり第３図（Ａ）の矢印Ｘ
方向に変位する。また、ディスク２０の発光素子２４及
び受光素子２５に対する高さが変化した場合には、受光
部２５ａに入射する光ビームスポットは受光部２５ａの
長手方向と垂直の幅方向つまり第３図（Ａ）の矢印Ｙ方
向に変位するが、光ビーム自体がスリット２８を通して
矢印Ｙ方向に細く延びているため、受光部２５ａにおい
て入射する光ビームに何ら変化がない。
また、第３図（Ａ）に示す如く、受光部２５ａの矢印Ｘ
方向の長さをＬとし、これに対して光ビーム（斜線部
Ａ）の矢印Ｘ方向の幅をｄとする。更に、第３図（Ｂ）
に示す如く、受光部２５ａの長さＬに対応するだけのデ
ィスク２０による反射角の変動量をαとし、またピック
アップ２３の姿勢制御サーボ系におけるピックアップ２
３の許容角度誤差範囲をβとする。
方向の長さをＬとし、これに対して光ビーム（斜線部
Ａ）の矢印Ｘ方向の幅をｄとする。更に、第３図（Ｂ）
に示す如く、受光部２５ａの長さＬに対応するだけのデ
ィスク２０による反射角の変動量をαとし、またピック
アップ２３の姿勢制御サーボ系におけるピックアップ２
３の許容角度誤差範囲をβとする。
この場合、上記光ビームスポットの幅ｄは次式を満足す
るよう設定されている。
るよう設定されている。
ｄ／Ｌ≦β／α …(1) 従って、ディスク２０の互いに光反射率が異なる情報の
記録部と未記録部の境界で光ビームが反射された場合
に、第３図（Ａ）に示す受光部25ａ上の受光位置が幅ｄ
の範囲内で変動したとしても、この変動誤差はピックア
ップ２３の姿勢制御サーボ系では許容角度誤差範囲内で
あり、上記姿勢制御に何ら問題はない。
記録部と未記録部の境界で光ビームが反射された場合
に、第３図（Ａ）に示す受光部25ａ上の受光位置が幅ｄ
の範囲内で変動したとしても、この変動誤差はピックア
ップ２３の姿勢制御サーボ系では許容角度誤差範囲内で
あり、上記姿勢制御に何ら問題はない。
第４図は本発明装置の検出回路部の第１実施例のブロッ
ク系統図を示す。同図中、受光素子２５にはクロック発
生器３０で発生された第５図（Ａ）に示す基準パルス
と、第５図（Ｂ）に示す転送パルスとが供給される。受
光素子２５は基準パルスの立下がり後受光部２５ａで光
電変換された信号を例えば図中受光部２５ａの上端より
順に転送パルスを用いて転送し第５図（Ｃ）に示す如き
信号を出力する。なお、受光部２５上の斜線部２６は光
ビームの照射された部分を示している。
ク系統図を示す。同図中、受光素子２５にはクロック発
生器３０で発生された第５図（Ａ）に示す基準パルス
と、第５図（Ｂ）に示す転送パルスとが供給される。受
光素子２５は基準パルスの立下がり後受光部２５ａで光
電変換された信号を例えば図中受光部２５ａの上端より
順に転送パルスを用いて転送し第５図（Ｃ）に示す如き
信号を出力する。なお、受光部２５上の斜線部２６は光
ビームの照射された部分を示している。
受光素子２５の出力信号は増幅器３１で増幅されてコン
パレータ３２に供給され、ここで端子３３よりの基準レ
ベルＶＲＥＦと比較され、第５図（Ｄ）に示す如きサン
プリングパルスが得られてサンプルホールド回路３４に
供給される。また、鋸歯状波発生器３５はクロック発生
器３０より、第５図（Ａ）に示す基準パルスを供給され
て第５図（Ｅ）に示す鋸歯状波を発生しサンプルホール
ド回路３４に供給する。サンプルホールド回路３４は鋸
歯状波をサンプリングパルスによりサンプリングしてホ
ールドし第５図（Ｆ）示す如きエラー電圧ＶＥＲを得て
端子３６より出力する。このエラー電圧ＶＥＲに応じて
ピックアップ２３が傾けられピックアップ２３の姿勢制
御が行なわれる。
パレータ３２に供給され、ここで端子３３よりの基準レ
ベルＶＲＥＦと比較され、第５図（Ｄ）に示す如きサン
プリングパルスが得られてサンプルホールド回路３４に
供給される。また、鋸歯状波発生器３５はクロック発生
器３０より、第５図（Ａ）に示す基準パルスを供給され
て第５図（Ｅ）に示す鋸歯状波を発生しサンプルホール
ド回路３４に供給する。サンプルホールド回路３４は鋸
歯状波をサンプリングパルスによりサンプリングしてホ
ールドし第５図（Ｆ）示す如きエラー電圧ＶＥＲを得て
端子３６より出力する。このエラー電圧ＶＥＲに応じて
ピックアップ２３が傾けられピックアップ２３の姿勢制
御が行なわれる。
なお、受光素子２５としては一次元ＣＣＤセンサの代り
に一次元位置検出用の半導体位置検出素子（ＰＳＤ）を
用いても良い。この場合、第６図に示す如く、ＰＳＤ４
０のポジショニング抵抗の両端に設けられた端子４１
ａ，４１ｂ夫々の出力は差動増幅器４２で差動増幅さ
れ、ここで得られたエラー電圧は端子４３より出力され
る。この場合は第４図に示す回路に比して回路構成が簡
単である。
に一次元位置検出用の半導体位置検出素子（ＰＳＤ）を
用いても良い。この場合、第６図に示す如く、ＰＳＤ４
０のポジショニング抵抗の両端に設けられた端子４１
ａ，４１ｂ夫々の出力は差動増幅器４２で差動増幅さ
れ、ここで得られたエラー電圧は端子４３より出力され
る。この場合は第４図に示す回路に比して回路構成が簡
単である。
第８図、第９図夫々は本発明装置の第２実施例の平面
図，配置図を示す。同図中、５０はレーザダイオードで
あり、第９図の実線５１に示す如くディスク２０の接線
方向を長手方向とし、かつ半径方向を短手方向とする断
面楕円状にレーザの光ビームを放射する。
図，配置図を示す。同図中、５０はレーザダイオードで
あり、第９図の実線５１に示す如くディスク２０の接線
方向を長手方向とし、かつ半径方向を短手方向とする断
面楕円状にレーザの光ビームを放射する。
シリンドリカルレンズ５２は第１０図に示す如く略カマ
ボコ状であり、その短手方向断面でみると第１１図
（Ａ）に示す如くレーザの光ビームをディスク２０を介
してＰＳＤ４０の受光部４０ｃに集光し、かつ長手方向
断面でみると第１１図（Ｂ）に示す如く、光ビームを集
光することなく透過する非点収差レンズである。なお、
このシリンドリカルレンズの代りにトーリックレンズを
用いても良い。シリンドリカルレンズ５２はレーザダイ
オード５０よりの楕円状の光ビームの長手方向がシリン
ドリカルレンズ５２の短手方向と一致するよう配置され
ており、これによって第１２図に示すシリンドリカルレ
ンズ５２の光入射面の梨地部分５２ａに入射する光ビー
ムだけが透過され、ディスク２０の接線方向に延びる細
長い光ビームがディスク２０に照射される。
ボコ状であり、その短手方向断面でみると第１１図
（Ａ）に示す如くレーザの光ビームをディスク２０を介
してＰＳＤ４０の受光部４０ｃに集光し、かつ長手方向
断面でみると第１１図（Ｂ）に示す如く、光ビームを集
光することなく透過する非点収差レンズである。なお、
このシリンドリカルレンズの代りにトーリックレンズを
用いても良い。シリンドリカルレンズ５２はレーザダイ
オード５０よりの楕円状の光ビームの長手方向がシリン
ドリカルレンズ５２の短手方向と一致するよう配置され
ており、これによって第１２図に示すシリンドリカルレ
ンズ５２の光入射面の梨地部分５２ａに入射する光ビー
ムだけが透過され、ディスク２０の接線方向に延びる細
長い光ビームがディスク２０に照射される。
ディスク２０で反射された光ビームはＰＳＤ４０の受光
部４０ｃに入射する。この場合も受光部４０ｃに入射す
る光ビームは受光部４０ｃの端子４１ａ，４１ｂ方向の
長手方向に対して垂直の細長いスポットとなり、ディス
ク２０の傾斜に応じて受光位置が受光部４０ｃの長手方
向に変位し、かつ第３図（Ａ）とまったく同様にして
（１）式を満足している。
部４０ｃに入射する。この場合も受光部４０ｃに入射す
る光ビームは受光部４０ｃの端子４１ａ，４１ｂ方向の
長手方向に対して垂直の細長いスポットとなり、ディス
ク２０の傾斜に応じて受光位置が受光部４０ｃの長手方
向に変位し、かつ第３図（Ａ）とまったく同様にして
（１）式を満足している。
なお、スリット２８をディスク２０の接線方向とは垂直
方向とし、かつ受光部２５ａをディスク２０の接線方向
に沿うものとすることにより、ディスク２０の傾斜の影
響を受けることなく、ディスク２０の発光素子２４及び
受光素子２５に対する高さの変動を検出することが可能
であり、上記実施例に限定されない。
方向とし、かつ受光部２５ａをディスク２０の接線方向
に沿うものとすることにより、ディスク２０の傾斜の影
響を受けることなく、ディスク２０の発光素子２４及び
受光素子２５に対する高さの変動を検出することが可能
であり、上記実施例に限定されない。
発明の効果 上述の如く、本発明になるディスク変動状態検出装置に
よれば、ディスクの傾斜による受光位置の変位とディス
クの高さによる受光位置の変位とが互いに垂直となり、
ディスクの傾斜又は高さ夫々の変動を誤りなく正確に検
出でき、またディスクの情報の記録部と未記録部とで光
反射率が異なってもピックアップの姿勢制御が何ら影響
をうけることがない。
よれば、ディスクの傾斜による受光位置の変位とディス
クの高さによる受光位置の変位とが互いに垂直となり、
ディスクの傾斜又は高さ夫々の変動を誤りなく正確に検
出でき、またディスクの情報の記録部と未記録部とで光
反射率が異なってもピックアップの姿勢制御が何ら影響
をうけることがない。
第１図は本発明装置の第１実施例の構成を説明するため
の平面図及び正面図、第２図は第１図示のスリット板の
一実施例の斜視図、第３図は本発明装置の光ビームの幅
ｄの設定条件を説明するための図、第４図，第６図夫々
は本発明装置の検出回路部の各実施例のブロック系統
図、第５図は第３図示の回路各部の信号タイムチャー
ト、第７図は従来装置の各例の構成を説明するための平
面図、第８図，第９図夫々は本発明装置の第２実施例の
平面図，配置図、第１０図はシリンドリカルレンズの一
実施例の斜視図、第１１図，第１２図夫々はシリンドリ
カルレンズを説明するための図である。 ２０……ディスク、２３……ピックアップ、２４……発
光素子、２５……受光素子、２７……スリット板、４０
……半導体位置検出素子（ＰＳＤ）、５０……レーザダ
イオード、５２……シリンドリカルレンズ。
の平面図及び正面図、第２図は第１図示のスリット板の
一実施例の斜視図、第３図は本発明装置の光ビームの幅
ｄの設定条件を説明するための図、第４図，第６図夫々
は本発明装置の検出回路部の各実施例のブロック系統
図、第５図は第３図示の回路各部の信号タイムチャー
ト、第７図は従来装置の各例の構成を説明するための平
面図、第８図，第９図夫々は本発明装置の第２実施例の
平面図，配置図、第１０図はシリンドリカルレンズの一
実施例の斜視図、第１１図，第１２図夫々はシリンドリ
カルレンズを説明するための図である。 ２０……ディスク、２３……ピックアップ、２４……発
光素子、２５……受光素子、２７……スリット板、４０
……半導体位置検出素子（ＰＳＤ）、５０……レーザダ
イオード、５２……シリンドリカルレンズ。
Claims (1)
- 【請求項１】ディスクの接線方向に発光素子及び受光素
子を配設して、該発光素子より発射された光ビームを該
ディスクの接線方向又は接線方向と垂直方向に沿った細
長い形状のスリットを通して該ディスクに照射し、該デ
ィスクで反射された光ビームを該受光素子で受光し、該
受光素子上での受光位置の該ディスクの接線方向と垂直
方向又は該接線方向の変位により該ディスクの傾斜又は
高さの変動に応じたエラー信号を生成し、該エラー信号
を該ディスクの読取再生を行なうピックアップの姿勢制
御に用いるディスク変動状態検出装置であって、 該受光素子上の光ビームスポットの該変位方向の幅をｄ
とし、 該受光素子の受光部の該変位方向の長さをＬとし、 該長さＬに対応する該ディスクの変動量をαとし、 該ピックアップの姿勢制御における許容誤差範囲をβと
して、 ｄ／Ｌ≦β／α を満足するよう該幅ｄ，長さＬ，変動量α，許容誤差範
囲β夫々の値を定めたことを特徴とするディスク変動状
態検出装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61227880A JPH0619845B2 (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | デイスク変動状態検出装置 |
| US07/101,145 US4849954A (en) | 1986-09-26 | 1987-09-25 | Disc attitude variation detecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61227880A JPH0619845B2 (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | デイスク変動状態検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6383929A JPS6383929A (ja) | 1988-04-14 |
| JPH0619845B2 true JPH0619845B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=16867788
Family Applications (1)
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| JP61227880A Expired - Lifetime JPH0619845B2 (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | デイスク変動状態検出装置 |
Country Status (2)
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| JP (1) | JPH0619845B2 (ja) |
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| CN104655097B (zh) * | 2013-11-21 | 2017-04-19 | 科沃斯机器人股份有限公司 | 激光测距传感器及其测距方法 |
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| JPS61246938A (ja) * | 1985-04-23 | 1986-11-04 | Ricoh Co Ltd | トラツキング制御装置 |
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- 1986-09-26 JP JP61227880A patent/JPH0619845B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-09-25 US US07/101,145 patent/US4849954A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4849954A (en) | 1989-07-18 |
| JPS6383929A (ja) | 1988-04-14 |
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