JPS6383929A - デイスク変動状態検出装置 - Google Patents
デイスク変動状態検出装置Info
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- JPS6383929A JPS6383929A JP61227880A JP22788086A JPS6383929A JP S6383929 A JPS6383929 A JP S6383929A JP 61227880 A JP61227880 A JP 61227880A JP 22788086 A JP22788086 A JP 22788086A JP S6383929 A JPS6383929 A JP S6383929A
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 102100027340 Slit homolog 2 protein Human genes 0.000 description 1
- 101710133576 Slit homolog 2 protein Proteins 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 description 1
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- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
fL業上の利用分野
本発明は、ディスク変動状態検出装置に係り、光学読取
方式のディスクを再生する装置でディスクの傾斜又は高
さの変動状態を検出する装置に関する。
方式のディスクを再生する装置でディスクの傾斜又は高
さの変動状態を検出する装置に関する。
従来の技術
従来より光学読取方式のディスクがある。このディスク
が恒久的に平面性を保つことは難かしく、一般には中心
部と外周縁部との高さが変わり略椀形状に変形すること
が多いが、エアサンドイッチ構造のディスクなどではス
ペーサのある内周縁部及び外周縁部のディスク面で傾斜
が起こることがある。
が恒久的に平面性を保つことは難かしく、一般には中心
部と外周縁部との高さが変わり略椀形状に変形すること
が多いが、エアサンドイッチ構造のディスクなどではス
ペーサのある内周縁部及び外周縁部のディスク面で傾斜
が起こることがある。
上記の変形を生じたディスクに情報を記録する場合には
、ディスク面に垂直に光ビームが照射されないので、ビ
ームスポットが歪み、歪んだビットが形成されたり、と
きにはビットが形成されなイコトもある。ピットが歪む
と再生時の周波数特性が劣化し、ディスクの内周縁部で
上記傾斜があるとCAV方式では特に問題となる。また
、ディスクを再生する場合には、ディスクで反射された
ビームが正確にピックアップに戻らないため情報を正確
に検出できなくなる。
、ディスク面に垂直に光ビームが照射されないので、ビ
ームスポットが歪み、歪んだビットが形成されたり、と
きにはビットが形成されなイコトもある。ピットが歪む
と再生時の周波数特性が劣化し、ディスクの内周縁部で
上記傾斜があるとCAV方式では特に問題となる。また
、ディスクを再生する場合には、ディスクで反射された
ビームが正確にピックアップに戻らないため情報を正確
に検出できなくなる。
このため、従来より例えば特開昭60−236130号
の如き傾斜度検出装置を用いてディスクの傾斜を検出し
、これによってピックアップの姿勢制御を行なうものが
あった。
の如き傾斜度検出装置を用いてディスクの傾斜を検出し
、これによってピックアップの姿勢制御を行なうものが
あった。
上記の傾斜度検出装置は、第7図(A)に示す如く、発
光素子10と受光素子11とがディスク120半径方向
に沿って位置されている。このため、ディスク12の変
形による傾斜に応じて、受光素子11における反射ビー
ムの受光位置が上下に変位する。
光素子10と受光素子11とがディスク120半径方向
に沿って位置されている。このため、ディスク12の変
形による傾斜に応じて、受光素子11における反射ビー
ムの受光位置が上下に変位する。
また、この他に第7図(B)に示す如く、発光素子14
と受光素子15.16とをディスク12の半径方向に沿
って配直し、受光素子15.16夫々の出力信号を差動
増幅する装置がある。この場合ディスク12の傾斜に応
じ差動増幅器17の出力レベルが変化する。
と受光素子15.16とをディスク12の半径方向に沿
って配直し、受光素子15.16夫々の出力信号を差動
増幅する装置がある。この場合ディスク12の傾斜に応
じ差動増幅器17の出力レベルが変化する。
発明が解決しようとする問題点
しかし、第7図(A)の装置では、ディスク12全体の
発光素子10及び受光素子11に対する高さが面ずれ等
により変化した場合にも上記反射ビームの受光位置が上
下に変位してしまい、ディスク12の傾斜として検出さ
れてしまうという問題点があった。
発光素子10及び受光素子11に対する高さが面ずれ等
により変化した場合にも上記反射ビームの受光位置が上
下に変位してしまい、ディスク12の傾斜として検出さ
れてしまうという問題点があった。
また、第7図(B)に示す装置ではディスク全体の高さ
が多少変化しても、これを傾斜として検出することはな
い。しかし°、ディスク12が例えばライトワンス型デ
ィスクの如く情報の記録部と未記録部とで光反射率が異
なるものであるとき、例えばディスク12の発光素子1
4に対応する位置より外周側が情報の記録部で内周側が
未記録部である場合に差動増幅器17の出力レベルは変
化して、ディスク12の傾斜を示す誤りの信号を出力し
てしまうという問題点があった。
が多少変化しても、これを傾斜として検出することはな
い。しかし°、ディスク12が例えばライトワンス型デ
ィスクの如く情報の記録部と未記録部とで光反射率が異
なるものであるとき、例えばディスク12の発光素子1
4に対応する位置より外周側が情報の記録部で内周側が
未記録部である場合に差動増幅器17の出力レベルは変
化して、ディスク12の傾斜を示す誤りの信号を出力し
てしまうという問題点があった。
本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり・ディス
クの傾斜又は高さの変動状態を誤りなく正確に検出する
ディスク変動状態検出装置を提供することを目的とする
。
クの傾斜又は高さの変動状態を誤りなく正確に検出する
ディスク変動状態検出装置を提供することを目的とする
。
問題点を解決するための手段
本発明においては、ディスクの接線方向に発光素子及び
受光素子を配設しており、 該受光素子上の光ビームスポットの変位方向の幅をdと
し、 受光素子の受光部の変位方向の長さ”+Lとし、長さL
に対応するディスクの変動♀をαとし、ピックアップの
姿勢制御における許容誤差範囲をβとして、 d/L≦β/α を満足するよう該幅d、長さり、変動量α、許容誤差範
囲β夫々の値を定めている。
受光素子を配設しており、 該受光素子上の光ビームスポットの変位方向の幅をdと
し、 受光素子の受光部の変位方向の長さ”+Lとし、長さL
に対応するディスクの変動♀をαとし、ピックアップの
姿勢制御における許容誤差範囲をβとして、 d/L≦β/α を満足するよう該幅d、長さり、変動量α、許容誤差範
囲β夫々の値を定めている。
作用
本発明においては、ディスクの傾斜及び高さ夫々の変動
に応じて受光素子上の光ビームスポットは互いに垂直方
向に偏移する。また、光ビームスポットの幅dはd/L
≦β/αを満足するような小さな値とされている。
に応じて受光素子上の光ビームスポットは互いに垂直方
向に偏移する。また、光ビームスポットの幅dはd/L
≦β/αを満足するような小さな値とされている。
実施例
第1図(A)、(B)は本発明装置の一実施例の構成を
説明するための平面図及び正面図を示す。
説明するための平面図及び正面図を示す。
同図中、20はディスクであり、回転軸21によって定
速回転せしめられる。モータ22は回転@21を駆動す
る。ディスク20はその下面が情報記録路面20aであ
り、この情報記録面20aからピックアップ23により
情報が読み取られる。
速回転せしめられる。モータ22は回転@21を駆動す
る。ディスク20はその下面が情報記録路面20aであ
り、この情報記録面20aからピックアップ23により
情報が読み取られる。
発光素子24と受光素子25とはディスク20の接線方
向に沿って配置されて基板26上に固定されている。発
光素子24とディスク20との間にはスリット板27が
配設されている。このスリット板27は第2図に示す如
くディスク20の接線方向に沿うスリット28を有し、
略り字状に形成されている。
向に沿って配置されて基板26上に固定されている。発
光素子24とディスク20との間にはスリット板27が
配設されている。このスリット板27は第2図に示す如
くディスク20の接線方向に沿うスリット28を有し、
略り字状に形成されている。
発光素子24としては発光ダイオードが用いられ、これ
より発射された光ビームはスリット28を通ってディス
ク20の接線方向に延びる細い光ビームとされてディス
ク20に照射される。ディスク20で反射された光ビー
ムは受光素子25に入射する。
より発射された光ビームはスリット28を通ってディス
ク20の接線方向に延びる細い光ビームとされてディス
ク20に照射される。ディスク20で反射された光ビー
ムは受光素子25に入射する。
受光素子25は細長い形状の受光部25aを有する一次
元CODセンサが用いられ、受光部25aがスリット2
8と垂直となるよう配置されている。
元CODセンサが用いられ、受光部25aがスリット2
8と垂直となるよう配置されている。
このため、第3図(A>に示す如く受光部25aに入射
する光ビームは斜線部Aの如く細長いスポットとなり、
この光ビームスポットの長手方向は受光部25aの長手
方向に対して垂直となる。
する光ビームは斜線部Aの如く細長いスポットとなり、
この光ビームスポットの長手方向は受光部25aの長手
方向に対して垂直となる。
ここで、ディスク20の外周縁部が水平面に対して傾斜
していれば、受光部25aに入射する光ビームスポット
は受光部25aの長手方向つまり第3図(A)の矢印X
方向に変位する。また、ディスク20の発光素子24及
び受光素子25に対する高さが変化した場合には1.受
光部25aに入射する光ビームスボッ1−は受光部25
aの長手方向と垂直の幅方向つまり第3図(A)の矢印
Y方向に変位するが、光ビーム自体がスリット28を通
して矢印Y方向に細く延びているため、受光部25aに
おいて入射する光ビームに何ら変化がない。
していれば、受光部25aに入射する光ビームスポット
は受光部25aの長手方向つまり第3図(A)の矢印X
方向に変位する。また、ディスク20の発光素子24及
び受光素子25に対する高さが変化した場合には1.受
光部25aに入射する光ビームスボッ1−は受光部25
aの長手方向と垂直の幅方向つまり第3図(A)の矢印
Y方向に変位するが、光ビーム自体がスリット28を通
して矢印Y方向に細く延びているため、受光部25aに
おいて入射する光ビームに何ら変化がない。
また、第3図(A)に示す如く、受光部25aの矢印X
方向の良さをLとし、これに対して光ビーム(斜線部A
)の矢印X方向の幅をdとする。
方向の良さをLとし、これに対して光ビーム(斜線部A
)の矢印X方向の幅をdとする。
更に、第3図(B)に示す如く、受光部25aの長さし
に対応するだけのディスク20による反射角の変fJJ
道をαとし、またピックアップ23の姿勢制御サーボ
系におけるピックアップ23の許容角度誤差範囲をβと
する。
に対応するだけのディスク20による反射角の変fJJ
道をαとし、またピックアップ23の姿勢制御サーボ
系におけるピックアップ23の許容角度誤差範囲をβと
する。
この場合、上記光ビームスポットの幅dは次式を満足す
るよう設定されている。
るよう設定されている。
d/L≦β/α ・・・(1)従って
、ディスク20の互いに光反射率が異なる情報の記録部
と未記録部の境界で光ビームが反射された場合に、第3
図(A)に示す受光部25a上の受光位置が幅dの範囲
内で変動したとしても、この変動誤差はピックアップ2
3の姿勢制御サーボ系では許容角度誤差範囲内であり、
上記姿勢制御に何ら問題はない。
、ディスク20の互いに光反射率が異なる情報の記録部
と未記録部の境界で光ビームが反射された場合に、第3
図(A)に示す受光部25a上の受光位置が幅dの範囲
内で変動したとしても、この変動誤差はピックアップ2
3の姿勢制御サーボ系では許容角度誤差範囲内であり、
上記姿勢制御に何ら問題はない。
第4図は本発明装置の検出回路部の第1実施例のブロッ
ク系統図を示す。同図中、受光素子25にはクロック発
生器30で発生さ机た第5図(A)に示す基準パルスと
、第5図(B)に示す転送パルスとが供給される。受光
素子25は基準パルスの立下がり後受光部25aで光電
変換された信号を例えば図中受光部25aの上端より順
に転送パルスを用いて転送し第5図(C)に示す如き信
号を出力する。なお、受光部25上の斜線部26は光ビ
ームの照射された部分を示している。
ク系統図を示す。同図中、受光素子25にはクロック発
生器30で発生さ机た第5図(A)に示す基準パルスと
、第5図(B)に示す転送パルスとが供給される。受光
素子25は基準パルスの立下がり後受光部25aで光電
変換された信号を例えば図中受光部25aの上端より順
に転送パルスを用いて転送し第5図(C)に示す如き信
号を出力する。なお、受光部25上の斜線部26は光ビ
ームの照射された部分を示している。
受光素子25の出力信号は増幅器31で増幅されてコン
パレータ32に供給され、ここで端子33よりの基準レ
ベルVRE Fと比較され、第5図(D)に示す如きサ
ンプリングパルスが11られてサンプルホールド回路3
4に供給される。また、鋸歯状波発生器35はクロック
発生器30より、第5図(A)に示す基準パルスを供給
されて第5図(E)に示す鋸歯状波を発生しサンプルホ
ールド回路34に供給する。サンプルホールド回路34
は鋸歯状波をサンプリングパルスによりザンプリングし
てホールドし第5図(F)示す如きTラー電圧VERを
得て端子36より出力する。このエラー電圧VERに応
じてピックアップ23が傾けられピックアップ23の姿
勢制御が行なわれる。
パレータ32に供給され、ここで端子33よりの基準レ
ベルVRE Fと比較され、第5図(D)に示す如きサ
ンプリングパルスが11られてサンプルホールド回路3
4に供給される。また、鋸歯状波発生器35はクロック
発生器30より、第5図(A)に示す基準パルスを供給
されて第5図(E)に示す鋸歯状波を発生しサンプルホ
ールド回路34に供給する。サンプルホールド回路34
は鋸歯状波をサンプリングパルスによりザンプリングし
てホールドし第5図(F)示す如きTラー電圧VERを
得て端子36より出力する。このエラー電圧VERに応
じてピックアップ23が傾けられピックアップ23の姿
勢制御が行なわれる。
なお、受光素子25としては一次元CODセンサの代り
に一次元位置検出用の半導体装置検出素子(PSD)を
用いても良い。この場合、第6図に示す如く、PSD4
0のボジショニング抵抗の両端に設けられた端子41a
、41b夫々の出ツノは差動増幅型42で差動増幅され
、ここで17られたエラー電圧は端子43より出力され
る。この場合は第4図に示す回路に比して回路構成が簡
単である。
に一次元位置検出用の半導体装置検出素子(PSD)を
用いても良い。この場合、第6図に示す如く、PSD4
0のボジショニング抵抗の両端に設けられた端子41a
、41b夫々の出ツノは差動増幅型42で差動増幅され
、ここで17られたエラー電圧は端子43より出力され
る。この場合は第4図に示す回路に比して回路構成が簡
単である。
第8図、第9図夫々は本発明装置の第2実施例の平面図
、配置図を示す。同図中、50はレーザダイオードであ
り、第9図の実線51に示す如くディスク20の接線方
向を長手方向とし、かつ半、径方向を短手方向とする断
面楕円状にレーザの光ビームを放射する。
、配置図を示す。同図中、50はレーザダイオードであ
り、第9図の実線51に示す如くディスク20の接線方
向を長手方向とし、かつ半、径方向を短手方向とする断
面楕円状にレーザの光ビームを放射する。
シリンドリカルレンズ52は第10図に示す如く略カマ
ボコ状であり、その短手方向断面でみると第11図(A
)に示す如くレーザの光ビームをディスク20を介して
PSD40の受光部40cに集光し、かつ長手方向断面
でみると第11図(B)に示す如く、光ビームを集光す
ることなく透過する非点収差レンズである。なお、この
シリンドリカルレンズの代りにトーリックレンズを用い
ても良い。シリンドリカルレンズ52はレーザダイオー
ド50よりの楕円状の光ビームの長手方向がシリンプリ
カルレンズ52の短手方向と一致するよう配置されてお
り、これによって第12図に示すシリンドリカルレンズ
52の光入射面の梨地部分52aに入射する光ビームだ
けが透過され、ディスク20の接線方向に延びる細長い
光ビームがディスク20に照射される。
ボコ状であり、その短手方向断面でみると第11図(A
)に示す如くレーザの光ビームをディスク20を介して
PSD40の受光部40cに集光し、かつ長手方向断面
でみると第11図(B)に示す如く、光ビームを集光す
ることなく透過する非点収差レンズである。なお、この
シリンドリカルレンズの代りにトーリックレンズを用い
ても良い。シリンドリカルレンズ52はレーザダイオー
ド50よりの楕円状の光ビームの長手方向がシリンプリ
カルレンズ52の短手方向と一致するよう配置されてお
り、これによって第12図に示すシリンドリカルレンズ
52の光入射面の梨地部分52aに入射する光ビームだ
けが透過され、ディスク20の接線方向に延びる細長い
光ビームがディスク20に照射される。
ディスク20で反射された光ビームはPSD40の受光
部40cに入射する。この場合も受光部40Cに入射す
る光ビームは受光部40Cの端子41a、41b方向の
長手方向に対して垂直の細長いスポットとなり、ディス
ク20の傾斜に応じて受光位置が受光部40cの長手方
向に変位し、かつ第3図(A)とまったく同様にして(
1)式を満足している。
部40cに入射する。この場合も受光部40Cに入射す
る光ビームは受光部40Cの端子41a、41b方向の
長手方向に対して垂直の細長いスポットとなり、ディス
ク20の傾斜に応じて受光位置が受光部40cの長手方
向に変位し、かつ第3図(A)とまったく同様にして(
1)式を満足している。
なお、スリット28をディスク20の接線方向とは!!
!直方内方向、かつ受光部25aをディスク20の接線
方向に沿うものとすることにより、ディスク20の傾斜
の影響を受けることなく、ディスク20の発光素子24
及び受光素〒25に対する高さの変動を検出することが
可能であり、上記実施例に限定されない。
!直方内方向、かつ受光部25aをディスク20の接線
方向に沿うものとすることにより、ディスク20の傾斜
の影響を受けることなく、ディスク20の発光素子24
及び受光素〒25に対する高さの変動を検出することが
可能であり、上記実施例に限定されない。
発明の効果
上述の如く、本発明になるディスク変動状態検出装置に
よれば、ディスクの傾斜による受光位置の変位とディス
クの高さによる受光位置の変位とが互いに垂直となり、
ディスクの傾斜又は高さ夫々の変動を誤りなく正確に検
出でき、またディスクの情報の記録部と未記録部とで光
反射率が異なってもピックアップの姿勢制御が何ら影響
をうけることがない。
よれば、ディスクの傾斜による受光位置の変位とディス
クの高さによる受光位置の変位とが互いに垂直となり、
ディスクの傾斜又は高さ夫々の変動を誤りなく正確に検
出でき、またディスクの情報の記録部と未記録部とで光
反射率が異なってもピックアップの姿勢制御が何ら影響
をうけることがない。
第1図Gま本発明装置の第1実施例の構成を説明するた
めの平面図及び正面図、第2図は第1図示のスリット板
の一実施例の斜視図、第3図は本発明装置の光ビームの
幅dの設定条件を説明するための図、第4図、第6図夫
々は本発明装置の検出回路部の各実施例のブロック系統
図、第5図は第3図示の回路各部の信号タイムチャート
、第7図は従来装置の各個の構成を説明するための平面
図、第8図、第9図夫々は本発明装置の第2実施例の平
面図、配置図、第10図はシリンドリカルレンズの一実
施例の斜視図、第11図、第12図夫々はシリンドリカ
ルレンズを説明するための図である。 20・・・ディスク、23・・・ピックアップ、24・
・・発光素子、25・・・受光素子、27・・・スリッ
ト板、40・・・半導体装置検出素子(PSD)、50
・・・レーザダイオード、52・・・シリンドリカルレ
ンズ。 第3図 第5図 (A)−ローーーーーー「− 第6図 第8図 19図 第12図
めの平面図及び正面図、第2図は第1図示のスリット板
の一実施例の斜視図、第3図は本発明装置の光ビームの
幅dの設定条件を説明するための図、第4図、第6図夫
々は本発明装置の検出回路部の各実施例のブロック系統
図、第5図は第3図示の回路各部の信号タイムチャート
、第7図は従来装置の各個の構成を説明するための平面
図、第8図、第9図夫々は本発明装置の第2実施例の平
面図、配置図、第10図はシリンドリカルレンズの一実
施例の斜視図、第11図、第12図夫々はシリンドリカ
ルレンズを説明するための図である。 20・・・ディスク、23・・・ピックアップ、24・
・・発光素子、25・・・受光素子、27・・・スリッ
ト板、40・・・半導体装置検出素子(PSD)、50
・・・レーザダイオード、52・・・シリンドリカルレ
ンズ。 第3図 第5図 (A)−ローーーーーー「− 第6図 第8図 19図 第12図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ディスクの接線方向に発光素子及び受光素子を配設して
、該ディスクで反射された該発光素子よりの光ビームの
該受光素子上における受光位置の変位により該ディスク
の高さ又は傾斜の変動に応じたエラー信号を生成し、該
エラー信号を該ディスクの読取再生を行なうピックアッ
プの姿勢制御に用いるディスク変動状態検出装置であっ
て、該受光素子上の光ビームスポットの該変位方向の幅
をdとし、 該受光素子の受光部の該変位方向の長さをLとし、 該長さLに対応する該ディスクの変動量をαとし、 該ピックアップの姿勢制御における許容誤差範囲をβと
して、 d/L≦β/α を満足するよう該幅d、長さL、変動量α、許容誤差範
囲β夫々の値を定めたことを特徴とするディスク変動状
態検出装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61227880A JPH0619845B2 (ja) | 1986-09-26 | 1986-09-26 | デイスク変動状態検出装置 |
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