JPH0619721B2 - 符号誤り訂正方法 - Google Patents

符号誤り訂正方法

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JPH0619721B2
JPH0619721B2 JP59150765A JP15076584A JPH0619721B2 JP H0619721 B2 JPH0619721 B2 JP H0619721B2 JP 59150765 A JP59150765 A JP 59150765A JP 15076584 A JP15076584 A JP 15076584A JP H0619721 B2 JPH0619721 B2 JP H0619721B2
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    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M13/00Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes
    • H03M13/29Coding, decoding or code conversion, for error detection or error correction; Coding theory basic assumptions; Coding bounds; Error probability evaluation methods; Channel models; Simulation or testing of codes combining two or more codes or code structures, e.g. product codes, generalised product codes, concatenated codes, inner and outer codes

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Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、複数のデータワードを誤り検出符号と2つの
誤り訂正符号とにより符号化して得られる符号ブロック
における符号誤りを訂正する方法に関する。
背景技術 1つの誤り検出符号と2つの誤り訂正符号とが付加され
て第1図に示す如き符号ブロックを形成する複数のデー
タワードの符号誤りを訂正する方式として本発明者によ
って発明されかつ訂正能力が高い符号誤り訂正方式が特
願昭59−14040号明細書に開示されている。この
特願昭59−14040号明細書(特公平5−1273
8号)に開示されている方式(以下、先願発明方式と称
す)について説明する。
第1図において、440ワードからなる1ブロックのデ
ータワードW〜W439がX方向に10ワード、Y方向
に4ワード、Z方向に11ワードの直方体状に配列され
ている。X,Y,Zの各方向で各データワード列がサブ
ブロックとして符号化され、リードソロモン符号によっ
て形成された検査ワードP及びQの2ワードが付加され
ている。P及びQの添字X,Y,Zはその検査ワードを
含むサブブロックの伸長方向を示しており、数字の添字
はその伸長方向におけるサブブロックの先頭ワードの番
号に対応している。PYOと表現されているワード
は、X方向の検査ワードPであると同時にY方向の検
査ワードPでもありかつ各方向の先頭のP,P
番号がOであることを示している。また、Q
と表現されているワードはX方向の検査ワードQであ
ると同時にY方向の検査ワードQでもありかつZ方向
の検査ワードQでもあることを示している。P或いは
Qの組み合わせと添字で表現された他のワードについて
も同様である。このように1つのワードが同時に複数の
方向の検査ワードとなり得るのは、リードソロモン符号
が線形符号であるためである。
ここで、データ及び検査の各ワードは8ビットからなり
かつリードソロモン符号はガロア体GF(2)上の符
号であるとする。また、データワードW〜W439の添
字は3次元配列する前の順序を表しており、これらW
〜W439を第1図に示す如く配列して検査ワードを付加
したのちX,Y,Zの順序で1ワードずつ取り出して記
録或いは伝送する。すなわち、このときのワードの並び
は、W,W11…W99,PXO,QXO,W110,…W
220,…W330,…W429,PX 330,QX 330,…
YO,…PY 99,PYO,QYO,QYO
…QY 99,PYO,QYO,W,…W,…
…W,……W,…W,…W,…W,…W
…W,…W10,…W10,…PX 10,QX 10,…Q
X 340,…QZ 330,…QY 10,PZO,…P
Z 99,PZO,QZO,…QZ 330,…Q
,…Q,…QZO,…QZ 99,P
ZO,QZO,…QZ 330,…Q
,…Qとなる。
再生或いは受信側ではワード系列を再び第1図に示す如
く配列し、記録或いは伝送時に発生した誤りの訂正処理
を行った後、データワードのみをZ,X,Yの順に取り
出し、元のW,W,……W439のデータワード系列
を得る。
以上の如く記録或いは伝送時にワードの並びの順序を変
えるのは再生或いは受信されたデータに訂正不能なバー
スト誤りが発生した場合に元のデータワード系列上で誤
ったワードを分散させるためである。
第1図の符号ブロックにおけるリードソロモン符号から
なる検査ワードP,Q(U=X,Y又はZ)は次式
を満たすように生成される。
但し、加算は2を法とするものとし、αはGF(2
上の原始元とする。また、VはU=X,Y,Zのそれぞ
れに対して10,14,11の値をとるものとし、Wの
添字kは、そのデータワードのサブブロック中の位置を
示し、先頭を1とする。
(1),(2)式より次式が得られる。
再生或いは受信側では、第1図の符号ブロックにおける
各方向のサブブロックについて誤り訂正位置が既知であ
れば2ワード以内のデータ及び検査ワードの誤りが訂正
可能であり、誤り位置が既知でなければ1ワードのデー
タ及び検査ワードの誤りが訂正可能である。これらの訂
正は以下の様にして行なわれる。すなわち、先ず誤りを
含んだデータ及び検査ワードに対して次式によって定義
されるシンドロームSPU,SQUを計算する。
但し、U,V,Kの各添字はP,Qの式の添字と同
一である。
今、2ワードの誤りがk=i,jの各位置に発生しかつ
誤りパターンをそれぞれei,ejとすると、シンドローム
PU,SQUはそれぞれ次式に示す如くなる。
PU=ei+ej……(7) SQU=αV+2−i ei+αV+2−j ej……(8) (7),(8)式よりei,ejは次式の如くなる。
(9),(10)式より位置i,jが既知であれば上式
よりei,ejが求まり誤り訂正が可能となることが判る。
次に、1ワードの誤りがk=iの位置に発生しかつ誤り
パターンをeiとすると、シンドロームSPU,SQU
それぞれ次式に示す如くなる。
PU=ei……(11) SQU=αV+2−i ei……(12) (11),(12)式より次式が得られる。
(13)式より位置iが既知でなくてもSPU,SQU
よりαiを求めることによりiが求められかつeiはS
PUそのものとなるので誤り訂正が可能となることが判
る。
第1図の符号ブロックにおいてX方向の各ワードが記録
或いは伝送系上で連続しているため、X方向では3ワー
ド以上の誤りが連続することが多く、Y,Zの方向より
も訂正不能となる確率が高い。従って、X方向ではリー
ド・ソロモン符号を誤り検出符号として用いざるを得
ず、SPX=SQX=0であれば誤りなし、それ以外の
場合は誤りありと判断して各ワードに付加されたエラー
の有無を示すエラーフラグの値の決定のみが行なえる。
以上の如き符号ブロックにおける符号誤りの訂正を従来
の方式においては第2図のフローチャートによって示さ
れている手順に従って行なう。すなわち、先ずX方向の
サブブロック毎に誤り検出を行ない、誤りの有無に対応
して“1”又は“0”のいずれかとなるエラーフラグを
サブブロック中の全ワードに付加する。次いで、Y方向
の誤り訂正を符号ブロック全体に亘って行なう。次い
で、再びX方向の誤り検出を行なったのちZ方向の誤り
訂正を符号ブロック全体に亘って行なう。以上の訂正処
理をJ回行なったのち再びX方向の誤り検出を行なって
訂正終了とする。
第2図のフローチャートにおけるY方向の誤り訂正は第
3図のフローチャートに示す手順に従って行なう。すな
わち、先ずY方向に伸長するサブブロックのうちエラー
フラグが全て“0”のサブブロックに対してはシンドロ
ームSPY,SQYが共に0であれば誤りが存在しない
ものとしてエラーフラグを全てリセットする。リセット
されたエラーフラグは、次のX方向の誤り検出で誤りが
検出された場合でも“0”とする。また、このときS
PY,SQYが共に“0”の場合以外はエラーフラグが
“0”でありながら誤ったワードすなわち検出されなか
った誤りが存在する。そこで、SPY,SQYにより求
めた誤り位置がサブブロック中のいずれかのワードに対
応したときそのワードが検出されなかった誤りワードで
あると判断して訂正する。この訂正後は誤りが存在しな
いものとしてエラーフラグを全て“0”にリセットす
る。SPY,SQYによって求めた誤り位置がサブブロ
ック中のどのワードにも対応しないときは2ワード以上
の検出もれの誤りが存在するので、SPY,SQYだけ
では訂正不能となる。従って、このときはエラーフラグ
を全て“1”にセットし、セットされたエラーフラグは
次のX方向の誤り検出で誤りが検出されなかった場合で
も“1”のままとする。
次に、エラーフラグが1つだけ“1”のサブブロックに
対してはSPY,SQYが共に“0”であれば正しいワ
ードであるにもかかわらずエラーフラグが“1”になっ
ているものと判断してエラーフラグを全て“0”にリセ
ットする。SPY,SQYが共に“0”の場合以外はS
PY,SQYにより誤り位置を求め、求めた誤り位置が
エラーフラグが“1”のワードに対応するとき、そのワ
ードが誤っているものと判断してこれを訂正しかつエラ
ーフラグを全てリセットする。求めた誤り位置がエラー
フラグが“1”のワードに対応しないときは他に検出も
れの誤りが存在しているはずであり、SPY,SQY
よって訂正を行なうと偽の訂正になることがあるので訂
正は行なわずエラーフラグを全てセットする。尚、この
ときSPY,SQYによって訂正を行なうこととし、訂
正後にエラーフラグを全てセットしてもよい。
また、エラーフラグが2つ“1”のサブブロックに対し
てはSPY,SQYが共に“0”でない場合はエラーフ
ラグが“1”の2つのワードを誤っているものとし、こ
れら2つのワードの位置を誤り位置としてSPY,S
QYにより訂正を行なう。このとき、エラーフラグはセ
ットもリセットもせず、全て次のX方向の誤り検出の結
果に従って設定するものとする。SPY,SQYが共に
“0”の場合はエラーフラグが“1”の2つのワードが
共に正しいにもかかわらずエラーフラグが“1”になっ
ているものと判断してエラーフラグを全てリセットす
る。
また、エラーフラグが3つ以上“1”のサブブロックに
対してはSPY,SQYが共に“0”であれば何もせ
ず、それ以外の場合はSPY,SQYにより誤り位置を
求める。この誤り位置がエラーフラグが“1”のワード
のいずれかと対応するとき、そのワードが誤りで、他の
ワードは正しいにもかかわらずエラーフラグが“1”に
なっているものと判断し、求められた誤り位置に対応す
る1つのワードを訂正する。誤り位置がエラーフラグが
“1”のいずれのワードにも対応しないときは2ワード
以上の誤りが存在し誤りが2ワードであったとしてもそ
の位置が不明確なため訂正は不能となる。そして、この
場合はSPY,SQYの値及び訂正可能か不可能かにか
かわらずエラーフラグのセットもリセットもせず、全て
次のX方向の誤り検出の結果に従うものとする。これ
は、エラーフラグが3つ以上“1”の場合は当然3ワー
ド以上の誤りが存在することがあり、その場合、
PY,SQYが偶然に両方共“0”になることや、求
めた誤り位置がエラーフラグが“1”のいずれかのワー
ドと偶然に対応することがあり得るからである。
以上の如き訂正処理において訂正後のエラーフラグの処
理を訂正前のエラーフラグの“1”の数と訂正の状況に
応じて変更しているが、これは、訂正後において誤りが
含まれている確率が非常に低いものと、検出もれの誤り
が必ず存在するものと、それら以外のものとを区別して
それぞれにエラーフラグリセット,エラーフラグセッ
ト,エラーフラグのセット及びリセットなしの処理を対
応させるためである。また、X方向に伸長しているサブ
ブロックとY方向に伸長しているサブブロックとは互い
に交錯しているので、符号ブロック全体に対してY方向
の訂正が終了した時点でX方向に伸長しているサブブロ
ック中の各ワードにそれぞれ独立に処理されたエラーフ
ラグが付加されることとなる。
また、第4図のフローチャートにおけるY方向の誤り訂
正の次のX方向の誤り検出では各ワードについてY方向
のエラーフラグ処理の結果とX方向の誤り検出の結果に
応じてエラーフラグの値を設定することとする。すなわ
ち、Y方向の誤り訂正においてリセットされたエラーフ
ラグ及びセットされたエラーフラグは、次のX方向の誤
り検出の結果にかかわらずそれぞれ“0”及び“1”と
なる。また、Y方向の誤り訂正においてセット及びリセ
ットのいずれもなされなかったエラーフラグは、次のX
方向の誤り検出時に誤りが検出された場合は“1”とな
りかつ誤りが検出されなかった場合は“0”となる。
かかるX方向の誤り検出がなされた後においては、正し
いにもかかわらずエラーフラグが“1”のワード及び誤
っているにもかかわらずエラーフラグが“0”のワード
が少なく、第2図のフローチャートにおけるZ方向の誤
り訂正においては正確なエラーフラグに基づいた効果的
な誤り訂正を行なうことができる。
Z方向の誤り訂正もY方向の誤り訂正と同様に行ないZ
方向の誤り訂正後に再びX方向の誤り検出を行なうこと
により次のY方向の誤り訂正も正確なエラーフラグを基
に行なうことができる。
以上の如くY方向とZ方向とでそれぞれJ回の誤り訂正
を行なったのち、最終的に訂正不能となった誤りを検出
するために、更にもう一度X方向の誤り検出を行なって
訂正を終了する。
以上説明した如く、先願発明方式は高い誤り訂正能力を
有し、第1図に示す如き符号ブロックに適した方式と言
えるが、第4図に示す如き誤りパターンは訂正できな
い。第4図において、第1図の符号ブロックに対する最
初のX方向の誤り検出の終了時における5つのY−Z面
〜Mの状態が示されており、、“o”は誤ってい
るにもかかわらずエラーフラグが“0”となっているワ
ードを示し、“・”は誤っていてエラーフラグも“1”
となっているワードを示し、“×”は正しいにもかかわ
らずエラーフラグが“1”となっているワードを示して
いる。検査ワード数が2のリードソロモン符号は最小距
離が3であるため、1つのサブブロック中に3ワード以
上の誤りが存在するときシンドロームが“0”となり誤
りが検出できないことがある。第4図に示した誤りパタ
ーンではX方向の1つのサブブロック中に3ワードの誤
りが発生して最初のX方向の誤り検出で検出されない誤
りになっており、かつその他の誤りも発生している。こ
の第4図の誤りパターンに対する訂正の様子を“o”を
含む1つのY−Z面Mについて示したのが第5図
(A)乃至同図(D)である。すなわち、第5図(A)
は、最初のX方向の誤り検出の終了時におけるY−Z面
の状態を示し、同図(B)は、最初のY方向の誤り
訂正に続く2回目のX方向の誤り検出の終了時における
Y−Z面Mの状態を示し、同図(C)は、最初のZ方
向の誤り訂正に続く3回目のX方向の誤り検出の終了時
におけるY−Z面Mの状態を示し、同図(D)は、2
回目のY方向の誤り訂正に続く4回目のX方向の誤り検
出の終了時におけるY−Z面Mの状態を示している。
第5図(A)乃至同図(D)において、最初のX方向の
誤り検出の次に行なわれる最初のY方向の誤り訂正時に
サブブロックYでは“1”のエラーフラグが2つ存在
するのでこのエラーフラグに対応した2つの“×”に対
して偽の訂正が行なわれることとなる。他“o”を含む
Y−Z面M,Mに対しても同様に偽の訂正が行なわ
れ、偽の訂正が行なわれたワードは、X方向で2つのサ
ブブロックにそれぞれ3ワードずつ含まれ、しかもこれ
らはX方向では検出されない誤りとなる。これは、偽の
訂正による誤りがX方向で検出されない誤りから派生
し、リードソロモン符号が線形符号であるためである。
サブブロックY,YではY方向のシンドロームが
“0となるが、他のY−Z面の“・・×”の誤りパター
ンに含まれる2ワードの“・”が訂正されないので、最
初のY方向の誤り訂正の次に行なわれる2回目のX方向
の誤り検出でエラーフラグが“1”となる。この2回目
のX方向の誤り検出に続く最初のZ方向の誤り訂正時に
は、サブブロックZではサブブロックYと同様に偽
の訂正が行なわれ、サブブロックZ,Zでは訂正不
能となってエラーフラグがセットされて“o”のワード
は“・”になりかつ他のワードは“×”になる。このと
き、サブブロックZ,Zでは訂正可能として訂正を
行なえば“o”が訂正されるがエラーフラグはセットさ
れる。こののち、3回目のX方向の誤り検出に続く2回
目のY方向の誤り訂正ではサブブロックY,Y,Y
の全てにおいて偽の訂正が行なわれ、その結果符号ブ
ロック全体で27ワードの検出されない誤りが発生する
こととなる。これらの誤りは、こののち訂正を何回繰り
返しても検出も訂正もされることがない。
先願発明方式では、第4図に示す誤りパターン以外にも
検出されない誤りを含みかつ発生確率が無視できない誤
りパターンであって訂正不能な誤りパターンが存在し、
これらがこの先願発明方式の訂正能力の限界を決定して
いる。
そこで、第3図のフローチャートにおいて“1”のエラ
ーフラグ数が2の場合に訂正を行なった後に全てのエラ
ーフラグをセット・リセットなしとする代りに全てのエ
ラーフラグをセットすることにすると、第4図に示す誤
りパターンに対する訂正は第6図(A)乃至同図(D)
に示す如く行なわれる。第6図(A)乃至同図(D)の
各々は、第5図(A)乃至同図(D)の各々にそれぞれ
対応している。第6図(A)乃至同図(D)において、
最初のY方向の訂正ではサブブロックYで偽の訂正が
行なわれて2ワードの誤りが新たに発生する。このと
き、エラーフラグは全て“1”にセットされ、“o”の
ワード及び偽の訂正により誤ったワードは“・”になり
かつ無印のワードは“×”になる。サブブロックY
においては第5図に示す先願発明方式による訂正と
同様の変化が生じる。こののち、2回目のX方向の誤り
検出に続いて行なわれる最初のZ方向の誤り訂正ではサ
ブブロックZにおいて“・”の誤りが訂正されエラー
フラグの値は次に行なわれる3回目のX方向の誤り検出
の結果によって定まる。また、サブブロックZ,Z
では“・×”の誤りパターンが2ワード誤りとして訂正
され、エラーフラグは全て“1”にセットされて全ての
ワードが“×”になる。ここまでの処理によってサブブ
ロックZ〜Z中の誤ったワードが全て訂正されてい
る。また、このときY−Z面M以外のY−Z面の“・
・×”の誤りパターンもZ方向で訂正されているので、
次に行なわれる3回目のX方向の誤り検出ではサブブロ
ックZのエラーフラグは全て“0”となり、またサブ
ブロックZ.Zでは誤りがないにもかかわらずエラ
ーフラグは全て“1”のままである。次の2回目のY方
向の誤り訂正では誤りが存在しないのでいずれのワード
も訂正されずエラーフラグのみが全て“0”にリセット
される。
以上の如くエラーフラグの処理方法を変えると第4図に
示す誤りパターンは訂正されるが、最初のX方向の検出
終了時に第7図(A)に示す如くなるY−Z面Mが存
在するような誤りパターンは訂正不能となる。このよう
な誤りパターンに対する訂正の様子をこの第7図(A)
及び同図(B)並びに同図(C)を参照して説明する。
第7図(B)は、最初のY方向の訂正に続く2回目のX
方向の誤り検出の終了時のY−Z面Mの状態を示し、
同図(C)は、最初のZ方向の誤り訂正に続く3回目の
X方向の誤り検出の終了時のY−Z面Mの状態を示し
ている。最初のY方向の訂正でサブブロックYの“・
×”の誤りパターンが訂正され、エラーフラグが全てセ
ットされて全ワードが“×”になる。サブブロック
,Yでは3ワードの誤りが存在するため訂正され
ずにそのまま残る。そうすると、この最初のY方向の訂
正に続く2回目のX方向の誤り検出の終了時にサブブロ
ックZ〜Zには“・・×”の誤りパターンが存在す
ることとなる。このとき、次に行なわれる最初のZ方向
の誤り訂正においてサブブロックZ〜ZのうちのZ
及びZにおいてのみSPZ,SQZより求めた誤り
位置が偶然“×”に対応するものとする。そうすると、
最初のZ方向の誤り訂正ではサブブロックZにおいて
“・・x”の誤りパターンが訂正不能となり2ワードの
“・”がそのまま残り、“×”のワードは次に行なわれ
る3回目のX方向の誤り検出で無印のワードすなわち誤
りがなくかつエラーフラグが“0”のワードになる。し
かしながらサブブロックZ,Zでは2ワードの
“・”により偽の訂正が行なわれて“×”のワードが誤
りとなって次に行なわれる3回目のX方向の誤り検出の
終了時に“・”が3ワードになる。こののち、2回目の
Y方向の訂正ではサブブロックYにおいて“・・”の
誤りパターンが訂正され、エラーフラグが全てセットさ
れて再び全ワードが“×”になる。サブブロックY
では3ワードの誤りが訂正されずにそのまま残る。
この時点でのY−Z面Mの状態は最初のY方向の誤り
訂正が終了したときと全く同一であり、以後何回訂正を
行なっても同じことを繰り返すのみで全ワードが訂正さ
れることはない。
尚、第7図(A)に示す如き誤りパターンは第3図に示
す手順によれば訂正可能となる。これは、第3図に示す
手順では最初のY方向の訂正でサブブロックYの訂正
後にエラーフラグをセットしないので、次に行なわれる
最初のZ方向の訂正でサブブロックZ〜Zの誤りパ
ターン全てが“・・”となって訂正されるからである。
第3図に示す手順に対してエラーフラグの処理方法を変
更すると検出されない誤りによって偽の訂正が行なわれ
るような誤りパターンに対する訂正能力が改善され、第
7図(A)に示す如き誤りパターンを考慮しても総合的
な訂正能力は向上する。しかし、まだ改善の余地はあ
り、第7図(A)に示す如き誤りパターンも訂正可能と
して訂正能力を更に向上させることが望ましい。
発明の概要 本発明は、先願発明方式で訂正可能な誤りパターンを訂
正不能とすることなくこの先願発明方式では訂正不能な
誤りパターンを訂正可能とし、訂正能力が、更に向上し
た符号誤り訂正方法を提供することを目的としている。
本発明による符号誤り訂正方法は、サブブロック毎に誤
り検出符号及び少なくとも1の誤り訂正符号により多重
符号化された符号データから誤りワードの有無に対応し
たエラーフラグを生成する行程と、前記エラーフラグを
参照して前記訂正符号による誤り訂正を行う訂正処理行
程と、前記エラーフラグの内容を変更するエラーフラグ
変更処理行程と、前記エラーフラグ変更処理行程にて得
られたエラーフラグを前記訂正処理行程に帰還して前記
訂正処理行程及び前記エラーフラグ変更処理行程を複数
回繰り返して実行する帰還行程とを有し、前記エラーフ
ラグ変更処理行程は、前記訂正処理行程における訂正処
理結果が前記サブブロック中の全ての誤りが訂正されて
いることを示す第1の状態である場合は、前記エラーフ
ラグの内容を誤り無しを示す内容に変更する第1のエラ
ーフラグ変更行程と、前記訂正処理結果が訂正不能を示
す第2の状態である場合は、前記エラーフラグの内容を
前記サブブロック中の全てが誤りであることを示す内容
に変更する第2のエラーフラグ変更行程と、前記訂正処
理結果が前記第1の状態及び前記第2の状態以外であり
かつ前記帰還行程による繰り返し実行回数が所定数以下
の時においては前記エラーフラグの内容を前記サブブロ
ック中の全てが誤りであることを示す内容に変更し、前
記訂正処理結果が前記第1の状態及び前記第2の状態以
外でありかつ前記実行回数が所定数以上の時においては
前記エラーフラグの内容変更を実行しない第3のエラー
フラグ変更行程とからなることを特徴とする。
実施例 以下、本発明の実施例につき第8図乃至第13図を参照
して詳細に説明する。
本発明による符号誤り訂正方法によって第1図に示す如
き符号ブロックにおける誤りを訂正する場合にも第2図
のフローチャートに示す手順に従う。但し、Y方向の誤
り訂正は第8図のフローチャートに示す手順に従って行
なう。また、Z方向の誤り訂正もY方向の誤り訂正と同
様の手順に従って行なう。
第8図のフローチャートに示す手順において、サブブロ
ック中の“1”のエラーフラグの数が2の場合において
2ワードの訂正を行なった後のエラーフラグの処理を除
く他の処理は第3図のフローチャートに示す手順と同様
である。サブブロック中の“1”のエラーフラグの数が
2の場合には第3図に示す手順においては2ワードの訂
正を行なった後のエラーフラグ処理は全てのエラーフラ
グをセットもリセットもしないとしている。このため、
第3図に示す手順によれば第4図に示す如く検出されな
い誤りが存在すると偽の訂正が行なわれる。この結果、
1つのサブブロック中に3ワードの検出されない誤りが
存在することになり、これらが誤りパターンを訂正不可
能なものにしている。これに対し、第8図に示す手順で
は、2ワードの訂正を行なった後のエラーフラグ処理を
当該訂正が2回目以下すなわち第2図のフローチャート
においてI≦1のときは全てのエラーフラグをセットす
るものとし、かつ当該訂正が3回目以上すなわち第2図
のフローチャートにおいてI≧2のときは全てのエラー
フラグをセットもリセットもしないとしている。従っ
て、第8図に示す手順によれば、1回目と2回目の訂正
では検出されない誤りが存在する第4図に示す如き誤り
パターンで偽の訂正が行なわれてもエラーフラグはセッ
トされるので、検出されない誤りは増加しない。このた
め、第4図に示す如き誤りパターンは訂正不可能となる
ことなく正しく訂正される。また、1回目と2回目の訂
正において検出されない誤りが存在しないときは正しい
訂正が行なわれたのちにエラーフラグがセットされるの
で、誤っていないにもかかわらずエラーフラグが“1”
のワードが増加する。このため、訂正不可能となる誤り
パターンが存在するが、3回目以降の訂正ではエラーフ
ラグはセットされないので、このような誤りパターンは
訂正可能なパターンに変えられて最終的に正しく訂正さ
れる。
尚、第8図に示す手順ではサブブロック中の“1”のエ
ラーフラグの数が2の場合の訂正のの後のエラーフラグ
処理を訂正回数に応じて全てのエラーフラグをセットす
るという処理か又は全てのエラーフラグをセットもリセ
ットもしないという処理のいずれかにしているが、更に
訂正した2つのワードのエラーフラグのみセットすると
いう処理も加えて、この場合のエラーフラグ処理を訂正
回数に応じて3つの処理のいずれかとしてもよいし、3
つの処理のうち2つを選択してそのいずれかとしてもよ
い。また、SPY,SQYより求めた誤りの位置がエラ
ーフラグが“1”の2ワードのいずれか一方に対応した
ときは、SPY,SQYより求めた誤りの位置に対応す
る一方のワードが誤っていて他方のワードは誤っていな
いような誤りパターンが生じている確率が高くかつ検出
されない誤りが同一サブブロック中に存在して偽の訂正
が行なわれる確率が低いので、訂正回数によらずに全て
のエラーフラグをリセット或いはセットもリセットもし
ないとしてよい。このようにしても、最終的な訂正結果
は第8図に示す手順と同等である。
以上の如く第8図に示す手順によれば、訂正回数が2回
目以下のとき先願発明方式の一部を変更した方式と同様
のエラーフラグ処理を行ないかつ訂正回数が3回目以上
のとき先願発明方式と同様のエラーフラグ処理を行なう
ので先願発明方式及びこの先願発明方式の一部を変更し
た方式のうちのいずれか一方だけでは訂正不可能な誤り
パターンが訂正可能となってこれら両方式のいずれより
も高い誤り訂正能力が得られることとなる。
本発明による符号誤り訂正方法において第4図に示す誤
りパターンの訂正は先願発明方式の一部を変更した方式
と同様に第6図(A)乃至同図(D)に示す如く行なわ
れる。また、第7図(A)に示す誤りパターンに対する
訂正は第9図(A)乃至同図(G)に示す如く行なわれ
る。第9図(A)乃至同図(C)の各々は、それぞれ第
7図(A)乃至同図(C)の各々に対応している。ま
た、第9図(D)は、2回目のY方向の誤り訂正に続く
4回目のX方向の誤り検出の終了時におけるY−Z面M
の状態を示し、同図(E)は、2回目のZ方向の誤り
訂正に続く5回目のX方向の誤り検出の終了時における
Y−面Mの状態を示し、同図(F)は、3回目のY方
向の誤り訂正に続く6回目のX方向の誤り検出の終了時
におけるY−Z面Mの状態を示し、同図(G)は、3
回目のZ方向の誤り訂正に続く7回目のX方向の誤り検
出の終了時におけるY−Z面Mの状態を示している。
2回目のZ方向の誤り訂正までは先願発明方式の一部を
変更した方式と同様の訂正がなされるが、3回目のY方
向の誤り訂正ではサブブロックYにおいて2ワードの
“・”が訂正され、エラーフラグはセットもリセットも
されない。また、このときサブブロックY,Yにお
いては訂正が不可能となり、エラーフラグはサブブロッ
クYと同様にセットもリセットもされない。従って、
この次に行なわれる6回目のX方向の誤り検出の終了時
にはサブブロックYにおけるエラーフラグは全て
“0”となり、サブブロックY,Yにおけるエラー
フラグは“・”のワードのみが“1”のままとなる。こ
の6回目のX方向の誤り検出に続く3回目のZ方向の誤
り訂正ではサブブロックZ,Z,Zにおいて2ワ
ードの“・”が訂正され、全ワードが全て正しく訂正さ
れる。この3回目のZ方向の誤り訂正ではエラーフラグ
は全てセットもリセットもされないが、この次に行なわ
れる7回目のX方向の誤り検出の終了時にはエラーフラ
グは全て“0”となる。
本発明による符号誤り訂正方法は、第4図に示す誤りパ
ターン及び第7図(A)に示す誤りパターンに限らず、
検出されない誤りにより偽の訂正が生じるような誤りパ
ターン或いはエラーフラグをセットすると訂正不能とな
るようにな誤りパターンであって発生確率が無視できな
い他の誤りパターンも同様に訂正可能である。
以上、第2図に示す手順に従って訂正が行なわれるとし
て説明したが、この手順は種々の変形が可能である。す
なわち、第2図のフローチャートに示す如き訂正処理手
順においてはY方向及びZ方向の誤り訂正の前に必ずX
方向の誤り検出が行なわれていたが、最初のX方向の誤
り検出を除く他のX方向の誤り検出を一部省略すること
が可能である。第10図(A)及び同図(B)はその一
例を示すフローチャートであり、同図(A)ではZ方向
の誤り訂正の前、同図(B)では2回目以降のY方向の
誤り訂正の前においてX方向の誤り検出が省略されてい
る。X方向の誤り検出が省略された場合は、エラーフラ
グの値はそれ以前の誤り訂正後に決定されなければなら
ない。従って、同図(A)のフローチャートに示す手順
におけるY方向の誤り訂正においては第8図のフローチ
ャートに示す訂正処理手順における「全てのエラーフラ
グ・セット・リセットなし」の処理を「訂正前のエラー
フラグの値保持」の処理に変更して得られる如き手順に
従って訂正処理を行なう必要がある。こうすることによ
り、Y方向の誤り訂正が終了した時点でエラーフラグの
値が全て決定される。また、第10図(B)のフローチ
ャートに示す手順におけるZ方向の誤り訂正においても
同様に第8図のフローチャートに示す手順におけるエラ
ーフラグの処理を変更して得られる如き手順に従って訂
正処理を行なう必要がある。尚、X方向の誤り検出が省
略された場合は、誤りが存在しないにもかかわらずエラ
ーフラグが“1”のワードが増えるので、その直後の誤
り訂正の効果が小となるが、訂正を繰返す回数が多けれ
ば実用上問題にならない。
尚、上記実施例においては最初のX方向の誤り検出の
後、直ちに最初の誤り訂正が行なわれているが、最初に
誤り検出を2方向で行なってから最初の誤り訂正を行な
うようにしてもよい。例えば、X方向の誤り検出の次に
Z方向の誤り検出を行なってY方向の誤り訂正を開始し
てもよい。このとき、Z方向の誤り検出後にエラーフラ
グの値が決定されるが、エラーフラグの処理は例えば第
8図のフローチャートにおけるシンドロームSPY,S
QYをそれぞれSPZ,SQZに変更しかつシンドロー
ムによる訂正処理ステップを除去しかつ「全てのエラー
フラグ・セット・リセットなし」の処理を「X方向の誤
り検出のエラーフラグの値保持」に変更し、更に“1”
のエラーフラグの個数が1以下の場合におけるシンドロ
ームによる1ワード訂正の処理ステップに移行していた
ときのエラーフラグ処理を「SPZ,SQZにより求め
られた誤り位置のエラーフラグのみセット、他はリセッ
ト」に変更して得られる如きフローチャートに従った手
順によって行なえばよい。また、上記実施例においては
誤り訂正は全てY方向から開始されているが、誤り訂正
をZ方向から開始してもよい。
また、第2図及び第10図のフローチャートにおける訂
正終了前のX方向の誤り検出は誤り検出後の残留誤りを
検出するためのものであり、検出の必要がない場合或い
は検出精度が要求されない場合は省略してもよい。
また、第8図のフローチャートに対しても種々の変形が
可能である。例えば、第8図のフローチャートでは
“1”のエラーフラグの数が1の場合に、SPY=S
QY=0すなわちSPY,SQYから求めた誤りの数が
0ならば全てのエラーフラグをリセットしそれ以外では
PY,SQYから求めた誤りの位置がエラーフラグが
“1”のワードに対応しているときはそのワードを訂正
して全てのエラーフラグをリセットし対応していなけれ
ば訂正せずに全てのエラーフラグをセットしているが、
PY,SQYから求めた誤りの位置がエラーフラグが
“1”のワードに対応していないときの処理を以下に示
す(I)或いは(II)の処理に置き変えてもよい、 (I)SPY,SQYから求めた誤りの位置がサブブロ
ック中のワードに対応していればこれを訂正し、訂正後
は全てのエラーフラグをセットする。
(II)SPY,SQYから求めた誤りの位置がサブブロ
ック中のワードに対応していればこれを訂正し、訂正後
は全てのエラーフラグをセットもリセットもしない。
また、上記実施例では3回目以降でエラーフラグの処理
を変更したが、Y方向の誤り訂正とZ方向の誤り訂正と
で処理の変更を行う訂正回数が異ってもよい。例えば、
Y方向の誤り訂正では3回目以降、Z方向の誤り訂正で
は2回目以降でエラーフラグの処理を変更する。エラー
フラグの処理は次の誤り訂正のために行うものであるか
ら、このようにZ方向から1回早くエラーフラグの処理
を変更すれば次のY方向の誤り訂正から変更後の処理が
行われたエラーフラグが利用されることとなる。
また、上記実施例においてはエラーフラグの処理を訂正
回数に応じて変更するとしたが、訂正処理を訂正回数に
応じて変更することにより同様の効果を得ることも可能
である。また、エラーフラグ及び訂正処理の双方とも訂
正回数に応じて変更するようにしてもよい。
また、上記実施例においては、誤り検出符号及び誤り訂
正符号として検査ワード数が2のリード・ソロモン符号
が用いられているが、これに限らず他のいかなる誤り検
出符号及び誤り訂正符号に対しても本発明の適用が可能
である。
以上、第1図に示す如き直方体状の符号ブロックにおけ
るデータワードの符号誤りの訂正について説明したが、
誤り検出符号と2つの誤り訂正符号とにより符号化され
て形成されているのであればいかなる符号ブロックにお
けるデータワードの符号誤り訂正にも本発明を適用する
ことができる。例えば、第11図に示す如く符号の交錯
した無限長(現実には有限であるが)の符号ブロック、
或いはこの第11図に示す如き符号ブロックから有限の
長さの符号ブロックを抜き出して両端を互いに接続して
符号を巡回させた形の第12図に示す如き符号ブロック
に対しても本発明が適用できることは明らかである。
尚、第11図に示す如き符号ブロックは第13図に示す
如き符号化回路によって得られる。第13図において、
Z方向に伸長するサブブロックを形成するa個のデータ
ワードがZ方向誤り訂正符号器30に供給される。Z方
向誤り訂正符号器30は、供給されたa個のデータワー
ドをそのまま出力すると同時にZ方向の誤り訂正符号の
検査ワードを生成して出力するように構成されている。
このZ方向誤り訂正符号器30より出力されたa個のデ
ータワード及びZ方向の検査ワードはそれぞれ互いに遅
延時間の異なる遅延回路D11〜Da,D(a+
〜Dbを経ることによってY方向に伸長するサブブロ
ックを形成してY方向誤り訂正符号器31に供給され
る。Y方向誤り訂正符号器31は、遅延回路D11〜D
bの出力をそのまま出力すると同時にY方向の誤り訂正
符号の検査ワードを生成して出力するように構成されて
いる。このY方向誤り訂正符号器31の出力は、互いに
遅延時間の異なる遅延回路D21〜Da,D(a
)〜Db,D(b+)〜Dcを経ることに
よってX方向に伸長するサブブロックを形成してX方向
誤り検出符号器32に供給される。X方向誤り検出符号
器32は、遅延回路D21〜Dcの出力をそのまま出力
すると同時にX方向誤り検出符号の検査ワードを生成し
て出力するように構成されている。このX方向誤り検出
符号器32の出力によって第11図の如き符号ブロック
が形成される。
効果 以上詳述した如く本発明による符号誤り訂正方法におい
ては、訂正の回数に応じてエラーフラグ処理及び訂正処
理のうちの少なくとも一方の処理方法を変更するように
したので、先願発明方式の如く処理方法を変更しない方
式で訂正可能な誤りパターンを訂正不能とすることなく
当該方式では訂正不能な誤りパターンを訂正可能とする
ことができ、訂正能力を改善することができるのであ
る。
従って、本発明による符号誤り訂正方法は、誤り検出符
号と2つの誤り訂正符号とで符号化して得られる符号ブ
ロックの符号誤り訂正を行なう際に好適な方法である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、複数のデータワードを誤り検出及び誤り訂正
符号によって符号化して得られる符号ブロックを示す
図、第2図は、先願発明方式における誤り訂正処理手順
の概略を示すフローチャート、第3図は、先願発明方式
における誤り訂正処理手順の一部を詳細に示すフローチ
ャート、第4図は、先願発明方式では訂正できない誤り
パターンを示す図、第5図は、先願発明方式による第4
図の誤りパターンの訂正過程を示す図、第6図は、先願
発明方式の一部を変更した方式による第4図の誤りパタ
ーンの訂正過程を示す図、第7図は、先願発明方式の一
部を変更した方式では訂正できない誤りパターンの当該
方式による訂正過程を示す図、第8図は、本発明の一実
施例を示す図、第9図は、本発明による先願発明方式の
一部を変更した方式では訂正できない誤りパターンの訂
正過程を示す図、第10図は、本発明の他の実施例にお
ける誤り訂正処理手順の概略を示すフローチャート、第
11図及び第12図は、本発明の適用が可能な符号ブロ
ックの一例を示す図、第13図は、第11図に示す符号
ブロックを形成するための符号化回路を示すブロック図
である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】サブブロック毎に誤り検出符号及び少なく
    とも1の誤り訂正符号により多重符号化された符号デー
    タから誤りワードの有無に対応したエラーフラグを生成
    する行程と、前記エラーフラグを参照して前記訂正符号
    による誤り訂正を行う訂正処理行程と、前記エラーフラ
    グの内容を変更するエラーフラグ変更処理行程と、前記
    エラーフラグ変更処理行程にて得られたエラーフラグを
    前記訂正処理行程に帰還して前記訂正処理行程及び前記
    エラーフラグ変更処理行程を複数回繰り返して実行する
    帰還行程とを有し、 前記エラーフラグ変更処理行程は、前記訂正処理行程に
    おける訂正処理結果が前記サブブロック中の全ての誤り
    が訂正されていることを示す第1の状態である場合は、
    前記エラーフラグの内容を誤り無しを示す内容に変更す
    る第1のエラーフラグ変更行程と、 前記訂正処理結果が訂正不能を示す第2の状態である場
    合は、前記エラーフラグの内容を前記サブブロック中の
    全てが誤りであることを示す内容に変更する第2のエラ
    ーフラグ変更行程と、 前記訂正処理結果が前記第1の状態及び前記第2の状態
    以外でありかつ前記帰還行程による繰り返し実行回数が
    所定数以下の時においては前記エラーフラグの内容を前
    記サブブロック中の全てが誤りであることを示す内容に
    変更し、前記訂正処理結果が前記第1の状態及び前記第
    2の状態以外でありかつ前記実行回数が所定数以上の時
    においては前記エラーフラグの内容変更を実行しない第
    3のエラーフラグ変更行程とからなることを特徴とする
    符号誤り訂正方法。
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