JPH0619253U - 試料ホルダー - Google Patents
試料ホルダーInfo
- Publication number
- JPH0619253U JPH0619253U JP5818292U JP5818292U JPH0619253U JP H0619253 U JPH0619253 U JP H0619253U JP 5818292 U JP5818292 U JP 5818292U JP 5818292 U JP5818292 U JP 5818292U JP H0619253 U JPH0619253 U JP H0619253U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- sample holder
- locking projection
- shape
- holder
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 試料固定時間が短時間で済み、しかも試料観
察後に試料を他の目的に転用することを可能にする。 【構成】 係止突起2を設けたことを特徴とする試料ホ
ルダー1。
察後に試料を他の目的に転用することを可能にする。 【構成】 係止突起2を設けたことを特徴とする試料ホ
ルダー1。
Description
【0001】
本考案は、電子顕微鏡やX線分析装置等において、観察対象の試料を固定する ための試料ホルダーに関する。
【0002】
図3は、電子顕微鏡、X線分析装置、光学顕微鏡、高温顕微鏡、レーザー顕微 鏡、STM(走査型トンネル顕微鏡)、AFM(原子間力顕微鏡)等に用いられ る従来の試料ホルダーの一例を示す斜視図である。図3において試料ホルダー21 は、外形が円柱状に形成され、その上面21aに観察対象の試料(図示せず)が銀 ペーストや導電性テープ等により固定される。
【0003】
この様な従来の試料ホルダーでは、試料が銀ペーストや導電性テープにより試 料ホルダーの上面に固定されて使用されるが、銀ペーストや導電性テープで固定 できない試料(例えば、含水試料、含油試料、ポリアセタール、ふっ素樹脂等) や固定時に変形する試料(軟組織試料等)では使用できなかった。また、試料が 銀ペーストや導電性テープで固定できる場合でも、これら銀ペーストや導電性テ ープの接着剤が試料に付着し、電子顕微鏡等による観察後に他の目的への転用が 困難であった。しかも、銀ペーストが完全に乾燥するまでに、長時間(半日)を 要していた。
【0004】 本考案の目的は、銀ペーストや導電性テープ等の接着剤を使用しないで試料を 固定でき、試料固定時間が短時間ですみ、しかも観察後に試料を他の目的に転用 できる試料ホルダーを提供することにある。
【0005】
そのため、本考案は、「係止突起2を設けたことを特徴とする試料ホルダー1 」を提供する。
【0006】
係止突起2を有する試料ホルダー1の係止突起2に試料3を差し込んで固定す る。この係止突起2は、試料ホルダー1と同様に導電性で非磁性の材料を使用す る。非導電性材料では電荷のチャージアップにより、また磁性材料では電子線の 曲折により、正常な観察像が得られないからである。
【0007】 係止突起2の数は、最低1本から、試料の形状や材質に応じて何本にしても良 い。係止突起2の形状も試料の形状や材質に応じて決めると良い。例えば、固く て変形しにくい試料の場合には、試料は差し込みにくく抜けにくいので、係止突 起2の形状は非常に細い針状にして、本数は少なくすることが好ましい。また、 係止突起2の方向は、係止突起2を有する面1aに対して垂直であることが好ま しい。一方、柔らかくて変形しやすい試料の場合には、試料は差し込みやすく抜 けやすいので、係止突起2は試料が抜けにくい形状にし、本数は多くすることが 好ましい。試料が抜けにくい形状として、例えば先太のテーパー形状(先太でも 極先端だけは、細くしても良い)を使用することができるが、特にこれに限定さ れるものではない。また、係止突起2の方向は、係止突起2を有する面1aに対 して垂直より、やや傾斜させることが、好ましい。
【0008】 尚、試料ホルダー1の形状には、例えば円柱状(図1)や円柱の端を60度の 角度でカットした形状(図2)等があるが、特にこれらに限定されるものではな い。 以下、実施例により本考案を具体的に説明する。
【0009】
図1は、本考案による試料ホルダー1の一実施例を示す斜視図である。図1に おいて、外形が円柱状に形成された試料ホルダー1の上面1aには、試料3を固 定する為の係止突起2が4本設けられている。この係止突起2は、先太のテーパ ー形状(極先端だけは細い)を有している。
【0010】 この係止突起2に、生体組織の軟組織試料3を差し込んで固定し、(株)ニコ ン製環境制御型電子顕微鏡ESEM−20により2次電子像観察を行った。この 時、軟組織試料3は含水状態のまま、観察可能であった。 2次電子像観察終了後、同じ軟組織試料3及び試料ホルダー1は、X線分析に も使用可能であった。
【0011】 尚、円柱の端を60度の角度でカットした形状の試料ホルダー11(図2)を使 用した場合にも同様の2次電子像観察が可能であり、またX線分析にも使用可能 であった。 実施例においては、円柱状試料ホルダー1の寸法は下記範囲のものを使用した が、本考案の試料ホルダーの寸法は、この範囲に限定されるものではない。
【0012】 〔試料ホルダー1〕 直径:5〜50mm 高さ:3〜15mm 係止突起2の太さ:0.05〜0.5mm 係止突起2の長さ:0.5 〜5mm
【0013】
以上詳細に説明した様に、本考案によれば、係止突起2を有する試料ホルダー 1の係止突起2に試料3を差し込んで固定するので、銀ペーストや導電性テープ 等の接着剤で固定できない試料も固定できる。しかも試料表面を汚すことなく試 料3を試料ホルダー1に固定できるので従来の試料ホルダーと異なり、電子顕微 鏡等による試料の観察後にこの試料を他の目的に転用することが可能となる。ま た、従来の様に、銀ペーストや導電性テープ等の接着剤を用いて試料を固定する 場合と比較して、試料固定に要する時間を大幅に短縮することができる。
【図1】は、本考案の一実施例である試料ホルダー及び
試料を示す斜視図である。
試料を示す斜視図である。
【図2】は、本考案の別の実施例である試料ホルダーの
概略側面図である。
概略側面図である。
【図3】は、従来の試料ホルダーの一例を示す斜視図で
ある。
ある。
1・・・試料ホルダー(本考案の例) 1a・・係止突起を有する面 2・・・係止突起 3・・・試料 11・・・試料ホルダー(本考案の別の例) 12・・・係止突起 21・・・試料ホルダー(従来の例) 21a・・試料ホルダー(従来の例)の上面
Claims (1)
- 【請求項1】 係止突起を設けたことを特徴とする試料
ホルダー。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5818292U JPH0619253U (ja) | 1992-08-19 | 1992-08-19 | 試料ホルダー |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5818292U JPH0619253U (ja) | 1992-08-19 | 1992-08-19 | 試料ホルダー |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0619253U true JPH0619253U (ja) | 1994-03-11 |
Family
ID=13076874
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5818292U Pending JPH0619253U (ja) | 1992-08-19 | 1992-08-19 | 試料ホルダー |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0619253U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013104780A (ja) * | 2011-11-14 | 2013-05-30 | Shimadzu Corp | 試料支持治具 |
WO2016063952A1 (ja) * | 2014-10-24 | 2016-04-28 | 京都府公立大学法人 | 検体用ホルダ |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62292293A (ja) * | 1986-06-11 | 1987-12-18 | Mitsubishi Electric Corp | レ−ザ加工機 |
JPS6363596A (ja) * | 1986-09-03 | 1988-03-19 | Amada Co Ltd | 高エネルギ−ビ−ム加工装置 |
JPH0230047A (ja) * | 1988-07-18 | 1990-01-31 | Nec Corp | 電子ビーム露光装置用試料ホルダー |
JPH02100322A (ja) * | 1988-10-06 | 1990-04-12 | Nec Corp | プラズマcvd装置 |
JPH0360142A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-03-15 | Nec Corp | 半導体測定装置 |
-
1992
- 1992-08-19 JP JP5818292U patent/JPH0619253U/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62292293A (ja) * | 1986-06-11 | 1987-12-18 | Mitsubishi Electric Corp | レ−ザ加工機 |
JPS6363596A (ja) * | 1986-09-03 | 1988-03-19 | Amada Co Ltd | 高エネルギ−ビ−ム加工装置 |
JPH0230047A (ja) * | 1988-07-18 | 1990-01-31 | Nec Corp | 電子ビーム露光装置用試料ホルダー |
JPH02100322A (ja) * | 1988-10-06 | 1990-04-12 | Nec Corp | プラズマcvd装置 |
JPH0360142A (ja) * | 1989-07-28 | 1991-03-15 | Nec Corp | 半導体測定装置 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013104780A (ja) * | 2011-11-14 | 2013-05-30 | Shimadzu Corp | 試料支持治具 |
WO2016063952A1 (ja) * | 2014-10-24 | 2016-04-28 | 京都府公立大学法人 | 検体用ホルダ |
JP2016085110A (ja) * | 2014-10-24 | 2016-05-19 | 京都府公立大学法人 | 検体用ホルダ |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Hermann et al. | Immunogold labeling in scanning electron microscopy | |
EP1278056A4 (en) | PROBE FOR A SCANNING MICROSCOPE MADE BY MACHINING WITH FOCUSED ION BEAM | |
EP1797568B1 (de) | Nanomanipulator zum analysieren oder bearbeiten von objekten | |
ATE517420T1 (de) | Vorrichtung zur bündelung von röntgenstrahlen und röntgendiagnostikanlage | |
Montelius et al. | Direct observation of the atomic force microscopy tip using inverse atomic force microscopy imaging | |
JPH0619253U (ja) | 試料ホルダー | |
Nagao et al. | The cell biological application of carbon nanotube probes for atomic force microscopy: comparative studies of malaria-infected erythrocytes | |
JPH0628705U (ja) | 試料ホルダー | |
Bok | Mirror electron microscopy theory and applications | |
JPH062543U (ja) | サンプルホルダ | |
JPH01159954A (ja) | 透過型電子顕微鏡用走査トンネル顕微鏡 | |
JPS613660U (ja) | 走査型電子顕微鏡の対物レンズ | |
JPH0660050U (ja) | 電子顕微鏡用試料ホルダ | |
JPH04250332A (ja) | 生体関連物質の捕捉装置とそれを用いた生体関連物質の観察方法 | |
STEWART | Scanned probe microscopies: STM and beyond(Final Report, 1 Dec. 1990- 28 Feb. 1991) | |
HANSMA et al. | A new, optical-lever based atomic force microscope(Technical Report No. 11, 1 Jan.- 31 Dec. 1994) | |
Stephenson et al. | Use of fishing weight putty for quickly mounting SEM specimens | |
Vale | Drift corrected X-ray mapping in the analytical electron microscope | |
JPS6328519Y2 (ja) | ||
Bovey et al. | High Spatial Resolution Microanalysis With the HB 501 | |
Shang et al. | A new scanning tunneling microscope with large field of view and atomic resolution | |
Ren et al. | The Field Ion Microscope and the Observation of Surface Structure of Tungsten Crystal.(Retroactive Coverage) | |
JPH01156604A (ja) | 走査トンネル顕微鏡を備えた透過型電子顕微鏡 | |
Reiss | Investigation of intracellular organelles in the human organ of Corti using backscattered electrons (BSE) | |
JPS60166968U (ja) | 走査電子顕微鏡の試料台 |