JPH06188329A - Package for semiconductor device - Google Patents
Package for semiconductor deviceInfo
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- JPH06188329A JPH06188329A JP4355032A JP35503292A JPH06188329A JP H06188329 A JPH06188329 A JP H06188329A JP 4355032 A JP4355032 A JP 4355032A JP 35503292 A JP35503292 A JP 35503292A JP H06188329 A JPH06188329 A JP H06188329A
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- package
- heat sink
- ceramic body
- semiconductor chip
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- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
Landscapes
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、半導体チップが発する
熱を放散させるヒートシンクを備えた半導体装置用パッ
ケージに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device package provided with a heat sink for dissipating heat generated by a semiconductor chip.
【0002】[0002]
【従来の技術】セラミック等からなるパッケージにおい
ては、例えば図6に示したように、そのパッケージ本体
10底部に高熱伝導性の銅―タングステン合金又は銅層
とモリブデン層と銅層とを順次積層して形成したクラッ
ド材等からなるヒートシンク30を備えている。そし
て、そのヒートシンク30にパッケージ本体のキャビテ
ィ20内に収容した半導体チップ60を搭載して、半導
体チップ60が発する熱をヒートシンク30を通してパ
ッケージ外部に効率良く放散させることができるように
している。2. Description of the Related Art In a package made of ceramic or the like, for example, as shown in FIG. 6, a highly heat conductive copper-tungsten alloy or a copper layer, a molybdenum layer and a copper layer are sequentially laminated on the bottom of the package body 10. A heat sink 30 made of a clad material or the like formed as described above is provided. Then, the semiconductor chip 60 housed in the cavity 20 of the package body is mounted on the heat sink 30 so that the heat generated by the semiconductor chip 60 can be efficiently dissipated to the outside of the package through the heat sink 30.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記銅
―タングステン合金又はクラッド材等は、その比重が極
めて大きく、その銅―タングステン合金又はクラッド材
等からなるヒートシンク30をパッケージ本体10底部
に接合した場合には、パッケージの重量が大きくなっ
て、近時の軽量化が要求される電子機器用パッケージに
は適用できなかった。この傾向は、近時の高集積化した
大型の半導体チップ60を収容する大型化したパッケー
ジにおいて顕著であった。However, the specific gravity of the copper-tungsten alloy or the clad material is extremely large, and when the heat sink 30 made of the copper-tungsten alloy or the clad material is joined to the bottom of the package body 10. However, the weight of the package becomes large, and it cannot be applied to a package for electronic equipment which is required to be lightweight recently. This tendency was remarkable in the recent large-sized package that accommodates the highly integrated large-sized semiconductor chip 60.
【0004】なお、従来より、図7に示したような、パ
ッケージ本体10底部に、比重の軽いセラミック体32
にメタライズからなるビア36を多数本格子状に備え
て、それらのビア36の上下端をセラミック体32の上
下面に備えたメタライズ層50にそれぞれ接続してなる
擬似導体壁化された軽量のヒートシンク30を備えたパ
ッケージが知られている。Conventionally, as shown in FIG. 7, a ceramic body 32 having a low specific gravity is provided on the bottom of the package body 10.
A plurality of vias 36 made of metallized metal are provided in a lattice shape, and the upper and lower ends of the vias 36 are connected to the metallized layers 50 provided on the upper and lower surfaces of the ceramic body 32, respectively. A package with 30 is known.
【0005】このパッケージでは、そのパッケージ本体
のキャビティ20内に収容した半導体チップ60をセラ
ミック体32からなるヒートシンク30に搭載して、半
導体チップ60が発する熱をセラミック体32に備えた
ビア36を通してセラミック体32からなるヒートシン
ク30外方に放散させることができる。In this package, the semiconductor chip 60 housed in the cavity 20 of the package body is mounted on a heat sink 30 composed of a ceramic body 32, and the heat generated by the semiconductor chip 60 is passed through a via 36 provided in the ceramic body 32 to form a ceramic. It can be dissipated to the outside of the heat sink 30 consisting of the body 32.
【0006】しかしながら、このパッケージにおいて
は、そのメタライズからなるビア36の熱伝導性がさほ
ど良くなく、半導体チップ60が発する熱をビア36を
通してセラミック体32からなるヒートシンク30外方
に効率良く放散させることができずに、パッケージに収
容した半導体チップ60が高温となって、半導体チップ
60が誤動作したり動作不良に陥ったりした。この傾向
は、高集積化した高熱を発する半導体チップ60を収容
する大型化したパッケージにおいて顕著であった。However, in this package, the thermal conductivity of the via 36 made of metallization is not so good, and the heat generated by the semiconductor chip 60 can be efficiently dissipated to the outside of the heat sink 30 made of the ceramic body 32 through the via 36. However, the temperature of the semiconductor chip 60 housed in the package becomes high and the semiconductor chip 60 malfunctions or malfunctions. This tendency was remarkable in a large package that accommodates a highly integrated semiconductor chip 60 that emits high heat.
【0007】本発明は、このような課題を解消した、半
導体チップが発する熱を効率良く放散させることのでき
る軽量のヒートシンクを備えた半導体装置用パッケージ
(以下、パッケージという)を提供することを目的とし
ている。It is an object of the present invention to provide a semiconductor device package (hereinafter referred to as a package) having a lightweight heat sink capable of efficiently dissipating heat generated by a semiconductor chip, which solves the above problems. I am trying.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のパッケージは、半導体チップが発する熱を
放散させるヒートシンクを備えた半導体装置用パッケー
ジにおいて、前記ヒートシンクがセラミック体にスルー
ホールを開口してそのスルーホールにろう材を充填した
ものからなることを特徴としている。In order to achieve the above object, the package of the present invention is a semiconductor device package including a heat sink for radiating heat generated by a semiconductor chip, wherein the heat sink has a through hole in a ceramic body. It is characterized in that it is made by opening and filling the through hole with a brazing material.
【0009】[0009]
【作用】メタライズの例えばタングステンメタライズの
熱伝導率は163W/m・Kであり、ろう材の例えば銀
ろうの熱伝導率は366W/m・Kである。即ち、ろう
材の熱伝導率はメタライズの熱伝導率に比べて約2.2
〜2.3倍高い。The thermal conductivity of metallization such as tungsten metallization is 163 W / mK, and the thermal conductivity of brazing material such as silver solder is 366 W / mK. That is, the thermal conductivity of the brazing material is about 2.2 compared to the thermal conductivity of the metallization.
~ 2.3 times higher.
【0010】上記構成のパッケージにおいては、ヒート
シンクにセラミック体にスルーホールを開口してそのス
ルーホールにろう材を充填したものを用いている。その
ため、半導体チップが発する熱を、セラミック体のスル
ーホールに充填した高熱伝導性のろう材を介して、セラ
ミック体からなるヒートシンク外方に効率良く放散させ
ることができる。In the package having the above-mentioned structure, a heat sink in which a through hole is opened in a ceramic body and the through hole is filled with a brazing material is used. Therefore, the heat generated by the semiconductor chip can be efficiently dissipated to the outside of the heat sink made of the ceramic body through the brazing material having high thermal conductivity filled in the through holes of the ceramic body.
【0011】銅を10重量%含み残りがタングステンの
組成の銅―タングステン合金の比重は17.0であり、
銅層とモリブデン層と銅層とを順次積層して形成したク
ラッド材の比重は9.3であり、セラミックの比重は
3.6である。即ち、セラミックの比重は、銅―タング
ステン合金又は銅層とモリブデン層と銅層とを順次積層
して形成したクラッド材の比重より小さい。The specific gravity of a copper-tungsten alloy having a composition of 10% by weight of copper and the balance of tungsten is 17.0,
The specific gravity of the clad material formed by sequentially stacking the copper layer, the molybdenum layer, and the copper layer is 9.3, and the specific gravity of the ceramic is 3.6. That is, the specific gravity of the ceramic is smaller than the specific gravity of the clad material formed by sequentially stacking the copper-tungsten alloy or the copper layer, the molybdenum layer, and the copper layer.
【0012】上記構成のパッケージにおいては、ヒート
シンクを比重の軽いセラミック体で形成している。その
ため、ヒートシンクの軽量化が図れる。In the package having the above structure, the heat sink is formed of a ceramic body having a low specific gravity. Therefore, the weight of the heat sink can be reduced.
【0013】[0013]
【実施例】次に、本発明の実施例を図面に従い説明す
る。図1ないし図3は本発明のパッケージの好適な実施
例を示し、図1又は図2はその正面断面図、図3はその
一部拡大断面図を示している。以下に、このパッケージ
を説明する。Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings. 1 to 3 show a preferred embodiment of the package of the present invention, FIG. 1 or 2 is a front sectional view thereof, and FIG. 3 is a partially enlarged sectional view thereof. The package is described below.
【0014】図1又は図2のパッケージでは、セラミッ
クからなるパッケージ本体10に開口したキャビティ2
0底部にヒートシンク30を備えて、そのヒートシンク
30でキャビティ20底面を封じている。In the package of FIG. 1 or 2, the cavity 2 opened in the package body 10 made of ceramics.
A heat sink 30 is provided at the bottom of the cavity 20, and the bottom surface of the cavity 20 is sealed by the heat sink 30.
【0015】ヒートシンク30には、セラミック体32
に小径のスルーホール34を多数個格子状に開口してそ
のスルーホール34に銀ろう、銅ろう等のろう材40を
充填したものを用いている。ヒートシンク30は、図3
に示したように構成している。即ち、セラミック体32
に開口したスルーホール34内周面とそれに連なるセラ
ミック体32の上下面とにメタライズ層50を連続して
隙間なく備えている。メタライズ層50には、ろう材に
濡れやすいニッケルめっき等のめっきを施している。ス
ルーホール34には、銀ろう、銅ろう等のろう材40を
隙間なく充填して、そのろう材40周囲をスルーホール
34内周面に備えためっきを施したメタライズ層50に
気密に接合している。そして、スルーホール34を備え
たセラミック体32の気密性を保持している。The heat sink 30 has a ceramic body 32.
In addition, a large number of small-sized through holes 34 are opened in a grid pattern, and the through holes 34 are filled with a brazing material 40 such as silver braze or copper braze. The heat sink 30 is shown in FIG.
It is configured as shown in. That is, the ceramic body 32
A metallized layer 50 is continuously provided without gaps on the inner peripheral surface of the through hole 34 opened to the upper surface and the upper and lower surfaces of the ceramic body 32 continuous with the through hole 34. The metallized layer 50 is plated with nickel such as nickel that easily wets the brazing material. The through hole 34 is filled with a brazing material 40 such as silver brazing material or copper brazing material without any gap, and the periphery of the brazing material 40 is hermetically bonded to the plated metallized layer 50 provided on the inner peripheral surface of the through hole 34. ing. The airtightness of the ceramic body 32 having the through holes 34 is maintained.
【0016】加えて、図1のパッケージでは、セラミッ
ク体32からなるヒートシンク30をパッケージ本体1
0と同時に一体焼成して、そのヒートシンク30をパッ
ケージ本体10底面に接合している。具体的には、セラ
ミック体32焼成用のセラミックグリーンシートにスル
ーホール34を開口している。次いで、そのスルーホー
ル34内周面とそれに連なるセラミックグリーンシート
の上下面とにメタライズ層50焼成用のメタライズペー
ストを層状に塗布している。次いで、そのセラミックグ
リーンシート上面にパッケージ本体10焼成用のセラミ
ックグリーンシートを積層して、それらを約1500℃
の高温炉内等に入れて一体焼成し、セラミック体32を
パッケージ本体10底面に接合している。次いで、セラ
ミック体32に形成したメタライズ層50にニッケルめ
っき等のめっきを施している。次いで、セラミック体の
スルーホール34にろう材40を充填した状態で、セラ
ミック体32及びパッケージ本体10を800〜900
℃の高温炉内等に入れて、スルーホール34に充填した
ろう材40周囲をスルーホール34内周面に形成したメ
タライズ層50に気密に接合している。そして、パッケ
ージ本体10に開口したキャビティ20底面をヒートシ
ンク30で封じている。In addition, in the package of FIG. 1, a heat sink 30 made of a ceramic body 32 is used as the package body 1.
The heat sink 30 is integrally fired at the same time as 0, and the heat sink 30 is joined to the bottom surface of the package body 10. Specifically, the through hole 34 is opened in the ceramic green sheet for firing the ceramic body 32. Next, a metallization paste for firing the metallization layer 50 is applied in layers on the inner peripheral surface of the through hole 34 and the upper and lower surfaces of the ceramic green sheet continuous with the inner peripheral surface. Next, a ceramic green sheet for firing the package body 10 is laminated on the upper surface of the ceramic green sheet, and they are placed at about 1500 ° C.
The ceramic body 32 is bonded to the bottom surface of the package body 10 by placing it in a high temperature furnace etc. Next, the metallized layer 50 formed on the ceramic body 32 is plated with nickel or the like. Next, with the through hole 34 of the ceramic body filled with the brazing material 40, the ceramic body 32 and the package body 10 are set to 800 to 900.
The brazing filler metal 40 filled in the through hole 34 is hermetically bonded to the metallized layer 50 formed on the inner peripheral surface of the through hole 34 by placing the brazing filler metal 40 in a high temperature furnace at a temperature of ℃. Then, the bottom surface of the cavity 20 opened in the package body 10 is sealed with a heat sink 30.
【0017】他方、図2のパッケージでは、セラミック
体32からなるヒートシンク30をパッケージ本体10
と別個に焼成して、そのヒートシンク30をパッケージ
本体10底面にろう付け接合している。具体的には、セ
ラミック体32焼成用のセラミックグリーンシートにス
ルーホール34を開口している。次いで、そのスルーホ
ール34内周面とそれに連なるセラミックグリーンシー
トの上下面とにメタライズ層50焼成用のメタライズペ
ーストを層状に塗布している。次いで、そのセラミック
グリーンシートを約1500℃の高温炉内等に入れて焼
成し、セラミック体32を形成している。次いで、その
セラミック体32に形成したメタライズ層50にニッケ
ルめっき等のめっきを施している。次いで、セラミック
体のスルーホール34にろう材40を充填した状態で、
セラミック体32及びパッケージ本体10を共に800
〜900℃の高温炉内等に入れて、スルーホール34に
充填したろう材40周囲をスルーホール34内周面に形
成したメタライズ層50に気密に接合すると共に、セラ
ミック体32上面に形成したメタライズ層50をパッケ
ージ本体10底面に形成したメタライズ層12にろう付
け接合している。そして、パッケージ本体10に開口し
たキャビティ20底面をセラミック体32からなるヒー
トシンク30で封じている。On the other hand, in the package of FIG. 2, the heat sink 30 made of the ceramic body 32 is used as the package body 10.
And the heat sink 30 is brazed to the bottom surface of the package body 10. Specifically, the through hole 34 is opened in the ceramic green sheet for firing the ceramic body 32. Next, a metallization paste for firing the metallization layer 50 is applied in layers on the inner peripheral surface of the through hole 34 and the upper and lower surfaces of the ceramic green sheet continuous with the inner peripheral surface. Then, the ceramic green sheet is put in a high temperature furnace or the like at about 1500 ° C. and fired to form a ceramic body 32. Next, the metallized layer 50 formed on the ceramic body 32 is plated with nickel or the like. Next, with the through hole 34 of the ceramic body filled with the brazing material 40,
800 for both the ceramic body 32 and the package body 10
The metallization layer 50 formed in the upper surface of the ceramic body 32 is hermetically bonded to the metallization layer 50 formed on the inner peripheral surface of the through hole 34 by being placed in a high temperature furnace of up to 900 ° C. The layer 50 is brazed to the metallized layer 12 formed on the bottom surface of the package body 10. Then, the bottom surface of the cavity 20 opened in the package body 10 is sealed with a heat sink 30 made of a ceramic body 32.
【0018】図1又は図2と図3に示したパッケージ
は、以上のように構成していて、このパッケージでは、
パッケージ本体のキャビティ20内に収容してヒートシ
ンク30に搭載した半導体チップ60が発する熱を、セ
ラミック体32のスルーホール34に充填したろう材4
0を介してセラミック体32からなるヒートシンク30
外方に効率良く放散させることができるようにしてい
る。The package shown in FIG. 1 or FIG. 2 and FIG. 3 is configured as described above, and in this package,
The brazing material 4 that fills the through holes 34 of the ceramic body 32 with the heat generated by the semiconductor chip 60 mounted in the cavity 20 of the package body and mounted on the heat sink 30.
Heatsink 30 consisting of ceramic body 32 through
It is designed so that it can be efficiently diffused to the outside.
【0019】図4又は図5は本発明のパッケージの他の
好適な実施例を示し、詳しくはその正面断面図を示して
いる。以下に、このパッケージを説明する。FIG. 4 or 5 shows another preferred embodiment of the package of the present invention, more specifically, a front sectional view thereof. The package is described below.
【0020】図のパッケージでは、ヒートシンク30
に、半導体チップ60を搭載する箇所に当たるセラミッ
ク体32中央に一個ないし複数個(図では複数個として
いる)の大径のスルーホール340を開口してそのスル
ーホール340に銀ろう、銅ろう等のろう材40を隙間
なく充填したものを用いている。そして、ヒートシンク
30に搭載した半導体チップ60が発する熱をセラミッ
ク体32中央のスルーホール340に充填したろう材4
0を介してセラミック体32からなるヒートシンク30
外方に効率良く放散させることができるようにしてい
る。In the illustrated package, the heat sink 30
In addition, one or a plurality (a plurality of in the figure) of large-diameter through holes 340 are opened in the center of the ceramic body 32 corresponding to the position where the semiconductor chip 60 is mounted, and silver through, copper braze, etc. are formed in the through holes 340. A brazing material 40 filled without any gap is used. The heat generated by the semiconductor chip 60 mounted on the heat sink 30 is filled in the through hole 340 in the center of the ceramic body 32, which is the brazing material 4
Heatsink 30 consisting of ceramic body 32 through
It is designed so that it can be efficiently diffused to the outside.
【0021】その他の構成並びにその作用は、前述図1
又は図2と図3に示したパッケージと同様であり、その
同一部材には同一符号を付し、その説明を省略する。The other structure and the operation thereof are the same as those shown in FIG.
Alternatively, the package is the same as that shown in FIGS. 2 and 3, and the same members are denoted by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.
【0022】なお、図4又は図5に示したパッケージに
おいては、半導体チップ60を搭載する箇所以外のセラ
ミック体32部分にも小径等のスルーホール(図示せ
ず)を開口してそのスルーホールにろう材を充填し、セ
ラミック体32からなるヒートシンク30の熱伝導性を
高めても良い。そして、その熱伝導性を高めたヒートシ
ンク30を通して半導体チップ60が発する熱をセラミ
ック体32からなるヒートシンク30外方により効率良
く放散させることができるようにしても良い。In the package shown in FIG. 4 or 5, a through hole (not shown) having a small diameter or the like is opened in the ceramic body 32 portion other than the place where the semiconductor chip 60 is mounted, and the through hole is formed. The heat conductivity of the heat sink 30 made of the ceramic body 32 may be enhanced by filling it with a brazing material. The heat generated by the semiconductor chip 60 may be efficiently dissipated to the outside of the heat sink 30 made of the ceramic body 32 through the heat sink 30 having the improved thermal conductivity.
【0023】[0023]
【発明の効果】以上説明したように、本発明のパッケー
ジによれば、半導体チップが発する熱を、セラミック体
のスルーホールに充填した高熱伝導性のろう材を介して
セラミック体からなるヒートシンク外方に効率良く放散
させることができる。As described above, according to the package of the present invention, the heat generated by the semiconductor chip is transferred to the outside of the heat sink composed of the ceramic body through the brazing material having high thermal conductivity filled in the through holes of the ceramic body. Can be efficiently dissipated.
【0024】それと共に、ヒートシンクを比重の軽いセ
ラミック体で形成して、ヒートシンクを軽量化し、パッ
ケージの軽量化が図れる。At the same time, by forming the heat sink with a ceramic body having a low specific gravity, the weight of the heat sink can be reduced, and the weight of the package can be reduced.
【図1】本発明のパッケージの正面断面図である。FIG. 1 is a front sectional view of a package of the present invention.
【図2】本発明のパッケージの正面断面図である。FIG. 2 is a front sectional view of a package of the present invention.
【図3】本発明のパッケージの一部拡大断面図である。FIG. 3 is a partially enlarged cross-sectional view of the package of the present invention.
【図4】本発明のパッケージの正面断面図である。FIG. 4 is a front sectional view of the package of the present invention.
【図5】本発明のパッケージの正面断面図である。FIG. 5 is a front sectional view of the package of the present invention.
【図6】従来のパッケージの正面断面図である。FIG. 6 is a front sectional view of a conventional package.
【図7】従来のパッケージの正面断面図である。FIG. 7 is a front sectional view of a conventional package.
【符号の説明】 10 パッケージ本体 12 メタライズ層 20 キャビティ 30 ヒートシンク 32 セラミック体 34、340 スルーホール 36 ビア 40 ろう材 50 メタライズ層 60 半導体チップ[Description of Reference Signs] 10 Package Body 12 Metallization Layer 20 Cavity 30 Heat Sink 32 Ceramic Body 34, 340 Through Hole 36 Via 40 Brazing Material 50 Metallization Layer 60 Semiconductor Chip
【手続補正書】[Procedure amendment]
【提出日】平成5年3月22日[Submission date] March 22, 1993
【手続補正1】[Procedure Amendment 1]
【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing
【補正対象項目名】図2[Name of item to be corrected] Figure 2
【補正方法】変更[Correction method] Change
【補正内容】[Correction content]
【図2】 [Fig. 2]
Claims (1)
ートシンクを備えた半導体装置用パッケージにおいて、
前記ヒートシンクがセラミック体にスルーホールを開口
してそのスルーホールにろう材を充填したものからなる
ことを特徴とする半導体装置用パッケージ。1. A semiconductor device package comprising a heat sink for dissipating heat generated by a semiconductor chip,
A package for a semiconductor device, wherein the heat sink is formed by forming a through hole in a ceramic body and filling the through hole with a brazing material.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4355032A JPH06188329A (en) | 1992-12-17 | 1992-12-17 | Package for semiconductor device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4355032A JPH06188329A (en) | 1992-12-17 | 1992-12-17 | Package for semiconductor device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06188329A true JPH06188329A (en) | 1994-07-08 |
Family
ID=18441520
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4355032A Pending JPH06188329A (en) | 1992-12-17 | 1992-12-17 | Package for semiconductor device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06188329A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001196501A (en) * | 2000-11-07 | 2001-07-19 | Mitsubishi Electric Corp | Microwave circuit board |
JP2003068954A (en) * | 2001-08-28 | 2003-03-07 | Kyocera Corp | Package for housing semiconductor element |
KR100424611B1 (en) * | 2001-04-20 | 2004-03-27 | 울트라테라 코포레이션 | Low profile optically-sensitive semiconductor package |
-
1992
- 1992-12-17 JP JP4355032A patent/JPH06188329A/en active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001196501A (en) * | 2000-11-07 | 2001-07-19 | Mitsubishi Electric Corp | Microwave circuit board |
KR100424611B1 (en) * | 2001-04-20 | 2004-03-27 | 울트라테라 코포레이션 | Low profile optically-sensitive semiconductor package |
JP2003068954A (en) * | 2001-08-28 | 2003-03-07 | Kyocera Corp | Package for housing semiconductor element |
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