JPH061824B2 - 固体撮像装置の製造方法 - Google Patents

固体撮像装置の製造方法

Info

Publication number
JPH061824B2
JPH061824B2 JP59171889A JP17188984A JPH061824B2 JP H061824 B2 JPH061824 B2 JP H061824B2 JP 59171889 A JP59171889 A JP 59171889A JP 17188984 A JP17188984 A JP 17188984A JP H061824 B2 JPH061824 B2 JP H061824B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
solid
imaging device
glass substrate
state imaging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP59171889A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6149466A (ja
Inventor
政夫 平本
博之 水野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP59171889A priority Critical patent/JPH061824B2/ja
Publication of JPS6149466A publication Critical patent/JPS6149466A/ja
Publication of JPH061824B2 publication Critical patent/JPH061824B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0232Optical elements or arrangements associated with the device
    • H01L31/02327Optical elements or arrangements associated with the device the optical elements being integrated or being directly associated to the device, e.g. back reflectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は固体カメラに用いることができる固体撮像装置
の製造方法に関するものである。
従来例の構成とその問題点 近年、固体カメラは感度、解像度等の改善が図られてき
ている。とりわけ、固体撮像素子の前面に集光構造体を
取り付け、それらを改善する研究がさかんである(特開
昭58−114684号公報)。
以下、図面を参照しながら、上述したような従来の集光
構造体の取付け方法について説明する。
第1図は従来の集光構造体を取り付けた固体撮像素子の
断面構造図を示すものである。第1図において、1は透
光性ガラス基板(屈折率約1.5)である。2は遮光物質
層である。3はレンズ形状の集光構造体(屈折率約1.
5)、4は表面を保護するための保護膜(屈折率約1.5)
である。5は空気層で、6は固体撮像素子の光感知部で
あるホトダイオードである。なお、透光性ガラス基板1
は固体撮像素子のパッケージに固定されている。
以上のように構成された固体撮像素子について、以下そ
の動作を説明する。
まず、固体カメラのレンズを通過して来た入射光7は透
光性ガラス基板1、レンズ形状の集光構造体3、保護膜
4を通過するが、それらは全て屈折率が約1.5であるた
め、直進する。ところが次の空気層5との界面で屈折を
起し、撮像素子のホトダイオード6上で集光する。
しかしながら、上記のような構成では、カメラレンズの
絞りを大きく開いた場合、斜めに入射して来た光は、直
進して来た光よりも集光位置がずれることになる。その
ため、空気層5の厚さによってはホトダイオード6に入
らない斜め入射光が存在し、受光量が減少する。また、
撮像素子の中心と、周辺とでは斜め入射光の状況が異な
るため、同様に、空気層5の厚さによっては、ホトダイ
オード6の受光量が場所によって異なるという欠点を有
していた。
発明の目的 本発明は上記欠点に鑑み、各集光構造体を通過して来た
光が全て、対応するホトダイオードに入るようにするこ
とのできる固体撮像装置の製造方法を提供するものであ
る。
発明の構成 この目的を達成するために本発明の固体撮像装置の製造
方法は、一方の面に2次元的に配列された多数の集光構
造体と同集光構造体間に形成された遮光物質層とが形成
された透光性ガラス基板と、前記集光構造体に対応した
位置に画素を有する固体撮像素子とを光および熱反応性
樹脂を介して接合する第1の工程と、 前記透光性ガラス基板側から露光し、さらに加熱し、硬
化反応が完了する前に加熱をやめることにより、前記透
明ガラス基板と前記固体撮像素子とを接着させる第2の
工程とを含むとともに、 前記第2の工程において、前記光および熱反応性樹脂の
前記露光した時に光が通過する領域の屈折率を、光が通
過しない領域の屈折率よりも大きくすることを特徴とす
るものであり、これによって、各集光構造体を通過して
来た光を全て、対応するホトダイオードに入射させるこ
とのできる固体撮像装置を製造することができる。
実施例の説明 以下、本発明の一実施例について、図面を参照しながら
説明する。
第2図は本発明の実施例における固体撮像素子の作製方
法のプロセスを示すものである。
第2図aにおいて、11は透光性ガラス基板(屈折率1.
5)、12は遮光物質層、13はレンズ状の集光構造体
(屈折率1.5)、14は保護膜(屈折率1.5)、15は未
硬化の光及び熱反応性樹脂層(屈折率1.3)、16はホ
トダイオードである。ただし、光及び熱反応性樹脂層1
5の厚さを50μとした。この状態で、透光性ガラス基
板11側から垂直に入射光19を入れる。入射光19は
保護膜14までは直進するが、樹脂層15との界面で屈
折し、対応するホトダイオード16まで行き、一部反射
する。ここで、樹脂層15は光反応し硬化し始め、それ
と同時に屈折率も変化し始める(一般的に光及び熱反応
性樹脂では硬化とともに、屈折率が増大し始める)。そ
の後、光照射を止め、撮像素子全体を一時加熱する。た
だし、樹脂全体の硬化反応が完了する前に、加熱をやめ
る。この加熱によって、第2図bに示すように光及び、
熱反応性樹脂膜15において屈折率nの領域17と屈
折率nの領域18とが形成される。何故なら、領域1
7では光及び熱により光及び熱反応性樹脂の硬化が進
み、領域18では熱による硬化のみなので、硬化度及び
屈折率が異なる。本実施例ではn−n=0.5(n
>n)となるように硬化条件を決めた。
このように作製した固体撮像素子に対して、レンズの絞
りをF11〜F1.4まで変えて光を入射させたが、領域
17が光導波路となり、入射光を全て対応するホトダイ
オード16に入れることが出来た。
以上のように本実施例によれば、集光構造体と固体撮像
素子とを光及び熱反応性樹脂を介して、接合し、光照射
後さらに、熱を加えて前記光及び熱反応性樹脂を硬化す
ることにより、光導波路を作り、レンズ絞りがF11
1.4までの斜め入射光でも全て、対応するホトダイオ
ードに入れることが出来る。
発明の効果 以上のように本発明は、一方の面に2次元的に配列した
多数の集光構造体を形成した透光性ガラス基板と前記集
光構造体に対応した画素ピッチを有する固体撮像素子と
を、光及び熱反応性樹脂を介して接合し、前記透光性ガ
ラス基板側から露光し、さらに熱を加えて前記光及び熱
反応性樹脂を硬化させることにより、光導波路を作り、
入射光を全て対応するホトダイオードに入れることがで
き、その実用的効果は大なるものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の集光構造体を取付けた固体撮像素子の断
面図、第2図は本発明の実施例における固体撮像装置の
作製プロセスを示す図である。 11……透光性ガラス基板、12……遮光物質層、13
……レンズ状の集光構造体、14……保護膜、15……
光及び熱反応性樹脂層、16……ホトダイオード、17
……光及び熱で硬化した樹脂領域、18……熱で硬化し
た樹脂領域。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】一方の面に2次元的に配列された多数の集
    光構造体と同集光構造体間に形成された遮光物質層とが
    形成された透光性ガラス基板と、前記集光構造体に対応
    した位置に画素を有する固体撮像素子とを光および熱反
    応性樹脂を介して接合する第1の工程と、 前記透光性ガラス基板側から露光し、さらに加熱し、硬
    化反応が完了する前に加熱をやめることにより、前記透
    明ガラス基板と前記固体撮像素子とを接着させる第2の
    工程とを含むとともに、 前記第2の工程において、前記光および熱反応性樹脂の
    前記露光した時に光が通過する領域の屈折率を、光が通
    過しない領域の屈折率よりも大きくすることを特徴とす
    る固体撮像装置の製造方法。
JP59171889A 1984-08-17 1984-08-17 固体撮像装置の製造方法 Expired - Lifetime JPH061824B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59171889A JPH061824B2 (ja) 1984-08-17 1984-08-17 固体撮像装置の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP59171889A JPH061824B2 (ja) 1984-08-17 1984-08-17 固体撮像装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6149466A JPS6149466A (ja) 1986-03-11
JPH061824B2 true JPH061824B2 (ja) 1994-01-05

Family

ID=15931678

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59171889A Expired - Lifetime JPH061824B2 (ja) 1984-08-17 1984-08-17 固体撮像装置の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH061824B2 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6410665A (en) * 1987-07-03 1989-01-13 Sony Corp Solid-state image sensing device
JPH04103923U (ja) * 1991-02-13 1992-09-08 株式会社クボタ 屋根パネルを使用した屋根の隅棟構造
US6583438B1 (en) * 1999-04-12 2003-06-24 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Solid-state imaging device
FR2829876B1 (fr) 2001-09-18 2004-07-02 St Microelectronics Sa Cellule photosensible incorporant un guide de lumiere et matrice composee de telles cellules
US7126638B2 (en) * 2002-05-09 2006-10-24 Eastman Kodak Company Image sensor having multiple layers of dielectrics adjacent the photosensitive area for improved quantum efficiency
KR20050085579A (ko) 2002-12-13 2005-08-29 소니 가부시끼 가이샤 고체 촬상 소자 및 그 제조방법
JP2008103757A (ja) * 2002-12-25 2008-05-01 Sony Corp 固体撮像素子およびその製造方法
JP4556475B2 (ja) * 2004-04-05 2010-10-06 ソニー株式会社 固体撮像素子及びその製造方法
JP2010161180A (ja) 2009-01-07 2010-07-22 Sony Corp 固体撮像装置及びその製造方法、カメラ
JP5182390B2 (ja) * 2011-03-07 2013-04-17 ソニー株式会社 固体撮像装置、カメラ
JP5881925B1 (ja) * 2014-07-25 2016-03-09 三菱電機株式会社 磁気センサ装置およびその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6149466A (ja) 1986-03-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3128297B2 (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
US4667092A (en) Solid-state image device with resin lens and resin contact layer
JP4838501B2 (ja) 撮像装置及びその製造方法
JPH10303439A (ja) 光伝送性層、光電子デバイス及びその製造法
JP4469781B2 (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
KR970002120B1 (ko) 고체영상픽업장치
JP2744273B2 (ja) 光電変換装置の製造方法
US5583076A (en) Method for manufacturing a semiconductor photo-sensor
JPH061824B2 (ja) 固体撮像装置の製造方法
JP2776810B2 (ja) 固体撮像装置の製造方法
JP3044734B2 (ja) 固体撮像素子
US7781251B2 (en) Image sensor and method for fabricating the same
KR960000905B1 (ko) 고체촬상장치 및 그 제조방법
JP4528879B2 (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
EP0523825B1 (en) A solid-state imaging device provided with microlenses
JPH07105481B2 (ja) 固体撮像装置の製造方法
WO1991004504A1 (en) Converging filter and method of producing same
JP3954373B2 (ja) 撮像装置
JPH03190166A (ja) 固体撮像素子用マイクロレンズの製造方法
JPH0661462A (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
JPH04303801A (ja) 固体撮像装置およびその製造方法
JPH05328233A (ja) 固体撮像素子
JPH06112454A (ja) マイクロレンズの製造方法および半導体装置の製造方法
JPH0468570A (ja) 固体撮像装置の製造方法
KR20100068695A (ko) 마이크로 렌즈 어레이의 제조방법 및 이를 채용한 광학센서어레이의 제조방법