JPH06177248A - Automatic method for block layout of semiconductor integrated circuit - Google Patents

Automatic method for block layout of semiconductor integrated circuit

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JPH06177248A
JPH06177248A JP4326361A JP32636192A JPH06177248A JP H06177248 A JPH06177248 A JP H06177248A JP 4326361 A JP4326361 A JP 4326361A JP 32636192 A JP32636192 A JP 32636192A JP H06177248 A JPH06177248 A JP H06177248A
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flip
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semiconductor integrated
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Abstract

PURPOSE:To hold a delay from an external clock terminal to a clock terminal of an internal flip-flop at a minimum limit and prevent a skew of a clock signal to be applied to the clock terminal of each flip-flop. CONSTITUTION:A clock generator 104 having a plurality of different clock output signals to a clock input terminal 101 is provided. The clock output signal having a large skew delay of the generator 104 is connected to a flip-flop 101 disposed near the generator 104. The clock output signals (b), (c) having small skew delay of the generator 104 are connected to the flip-flops 102, 103 disposed at a long distance from the generator 104.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は自動レイアウト手法によ
り設計された半導体集積回路に関し、特に同一クロック
信号で複数のフリップフロップ回路を駆動する半導体集
積回路のブロック配置方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor integrated circuit designed by an automatic layout method, and more particularly to a method of arranging blocks of a semiconductor integrated circuit for driving a plurality of flip-flop circuits with the same clock signal.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体集積回路の自動レイアウト
手法の1つとして、クロック信号の等長配線手法という
手法が知られている。これは、メタル配線の配線遅延に
よる回路の誤動作を防ぐためのものである。図3にメタ
ル配線の配線遅延により誤動作する回路の例を示す。ク
ロック信号31と,配線抵抗35及び配線容量36によ
って遅延されたクロック信号32は、図3(b)の波形
図に示すように配線抵抗35,配線容量36の影響でク
ロックの立上りと立下りのタイミングにそれぞれ時間差
が生じる(以下このタイミングのことをスキューと称
す)。そのため、フリップフロップ38に入力されるク
ロック信号は、フリップフロップ37に入力されるクロ
ック信号よりも遅れる。
2. Description of the Related Art Conventionally, a method called an equal-length wiring method for clock signals is known as one of automatic layout methods for semiconductor integrated circuits. This is to prevent malfunction of the circuit due to the wiring delay of the metal wiring. FIG. 3 shows an example of a circuit that malfunctions due to the wiring delay of the metal wiring. As shown in the waveform diagram of FIG. 3B, the clock signal 31 and the clock signal 32 delayed by the wiring resistance 35 and the wiring capacitance 36 rise and fall of the clock due to the influence of the wiring resistance 35 and the wiring capacitance 36. There is a time difference between the timings (hereinafter, this timing is referred to as skew). Therefore, the clock signal input to the flip-flop 38 lags behind the clock signal input to the flip-flop 37.

【0003】図3(a)に示す回路において、シフトレ
ジスタの動作をさせようとした場合に誤動作をする。即
ち、フリップフロップ38はフリップフロップ37のク
ロック信号によって変化する以前のデータ(図3(b)
のDATA1)を読み込まなければならないが、クロッ
ク信号が遅延するため、クロック信号によって変化した
後のデータ(図3(b)のDATA2)を読み込むとい
う問題があった。
In the circuit shown in FIG. 3A, a malfunction occurs when the shift register is operated. That is, the flip-flop 38 stores the data (FIG. 3B) before it is changed by the clock signal of the flip-flop 37.
However, since the clock signal is delayed, there is a problem in that the data (DATA2 in FIG. 3B) after being changed by the clock signal is read.

【0004】このような誤動作を防止するため、従来は
図4で示すような等長配線によるレイアウト手法を用い
ていた。
In order to prevent such an erroneous operation, conventionally, a layout method using equal-length wiring as shown in FIG. 4 has been used.

【0005】図4において、自動レイアウト手法による
半導体集積回路300において、外部クロック入力端子
111から入力バッファ302を介して半導体集積回路
の中にクロック信号を伝達する。
In FIG. 4, in a semiconductor integrated circuit 300 according to the automatic layout method, a clock signal is transmitted from the external clock input terminal 111 to the semiconductor integrated circuit via the input buffer 302.

【0006】クロック信号のバッファ回路303〜32
3は、図4で示すようにバッファ303を中心にして左
右対象的に配置され、さらに左半分の部分に配置される
バッファは、バッファ304とバッファ305が上下方
向に対象で、且つ配線長がそれぞれ等しくなるように配
置される。
Clock signal buffer circuits 303 to 32
3, the buffers 303 are arranged symmetrically with respect to the buffer 303 as shown in FIG. 4. Further, in the buffer arranged in the left half portion, the buffers 304 and 305 are symmetrical in the vertical direction and the wiring length is They are arranged so that they are equal.

【0007】次に、バッファ304を中心に左右に対象
で、且つ配線長がそれぞれ等しくなるようにバッファ3
12とバッファ314,バッファ313とバッファ31
5を配置し、バッファ312とバッファ314,バッフ
ァ313とバッファ315はそれぞれ上下方向に対象
で、且つ配線長が等しくなるように配置される。さら
に、バッファ314の出力端にフリップフロップ326
を、バッファ312,313,315の出力端にも必要
に応じて他のフリップフロップが接続される。
Next, the buffer 3 is symmetrical with respect to the left and right with respect to the buffer 304 and has the same wiring length.
12 and buffer 314, buffer 313 and buffer 31
5 are arranged, and the buffer 312, the buffer 314, the buffer 313, and the buffer 315 are arranged vertically symmetrically and have the same wiring length. Further, a flip-flop 326 is provided at the output end of the buffer 314.
If necessary, other flip-flops are connected to the output terminals of the buffers 312, 313, 315.

【0008】また、バッファ305を中心にして左右対
象に、且つ配線長がそれぞれ等しくなるようにバッファ
308とバッファ310,バッファ309とバッファ3
11をそれぞれ配置し、バッファ308とバッファ31
0,バッファ309とバッファ311はそれぞれ上下方
向で対象で、且つ配線長が等しくなるように配置され
る。さらにバッファ308〜311の出力端に必要に応
じてフリップフロップが接続される。
Further, the buffer 308 and the buffer 310 and the buffer 309 and the buffer 3 are symmetrically arranged with respect to the buffer 305 so that the wiring lengths are equal to each other.
11 are arranged respectively, and the buffer 308 and the buffer 31 are arranged.
0, the buffer 309 and the buffer 311 are symmetrical in the vertical direction and are arranged so that the wiring lengths are equal. Further, flip-flops are connected to the output terminals of the buffers 308 to 311 as needed.

【0009】バッファ303の右半分の配線も、上述の
左半分の配置と同様に行われ、これらの配置は最初に強
制的に配置、配線される。フリップフロップ324,3
25,326は前述したように、バッファ314,32
0,321の未端部からのみ接続される。
The wiring of the right half of the buffer 303 is performed in the same manner as the arrangement of the left half described above, and these arrangements are first forcibly arranged and wired. Flip-flops 324, 3
25 and 326 are buffers 314 and 32 as described above.
It is connected only from the unend portion of 0,321.

【0010】このような従来の自動レイアウト法の等長
配線手法で作られた半導体集積回路においては、半導体
集積回路内部のいづれの場所においても、入力バッファ
302から未端のバッファ308〜311,312〜3
15,316〜319,322〜325までの遅延時間
は同じとなる。
In the semiconductor integrated circuit manufactured by the conventional equal layout wiring method such as the automatic layout method, the buffers 308 to 311 and 312 from the input buffer 302 to the unfinished buffers irrespective of the location inside the semiconductor integrated circuit. ~ 3
The delay times from 15,316 to 319 and 322 to 325 are the same.

【0011】従って、フリップフロップ324,32
5,326のクロック入力端子においても、クロック信
号の位相差は発生せず、誤動作もなくなる。
Therefore, the flip-flops 324, 32
Also at the clock input terminals of 5,326, no phase difference between the clock signals occurs, and malfunction does not occur.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の等長配線手法では、各フリップフロップに接続され
るクロック信号のスキューの発生を防ぐことはできる
が、初段の入力バッファとフリップフロップのクロック
入力端子間に複数のバッファが入るため、初段の入力バ
ッファからフリップフロップのクロック入力端子までの
遅延が非常に大きくなってしまうという問題点があっ
た。
However, although this conventional equal-length wiring method can prevent the skew of the clock signal connected to each flip-flop, the clock input of the input buffer of the first stage and the clock input of the flip-flop are prevented. Since a plurality of buffers are inserted between the terminals, there is a problem that the delay from the input buffer at the first stage to the clock input terminal of the flip-flop becomes very large.

【0013】特に、この外部クロック信号が複数の半導
体集積回路に供給されており、このクロック信号に同期
して、フリップフロップのデータを複数の半導体集積回
路間で転送する場合等においては、前述した遅延時間が
長いと、タイミング的に誤動作がおこり易くなるという
欠点を有している。
In particular, when the external clock signal is supplied to a plurality of semiconductor integrated circuits and the data of the flip-flop is transferred between the plurality of semiconductor integrated circuits in synchronization with the clock signals, the above-mentioned operation is performed. If the delay time is long, there is a drawback that a malfunction is likely to occur in timing.

【0014】本発明の目的は、上述した従来の欠点を除
去することにより、外部クロック端子から内部のフリッ
プフロップのクロック端子までの遅延時間を最小限に保
持しつつ、フリップフロップのクロック端子に印加され
るクロック信号のスキューの発生を防止する半導体集積
回路のブロック配置方法を提供することにある。
An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned conventional drawbacks and to apply it to the clock terminal of the flip-flop while keeping the delay time from the external clock terminal to the clock terminal of the internal flip-flop to a minimum. It is an object of the present invention to provide a method for arranging blocks in a semiconductor integrated circuit, which prevents generation of skew of a clock signal to be generated.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、複数の
フリップフロップ回路とそのフリップフロップ回路を駆
動するクロック発生回路とを有する自動レイアウト手法
による半導体集積回路のブロック配置方法において、ク
ロック入力信号に対し、クロックの立上りおよび立下り
タイミングの異る複数のクロック出力信号を発生するク
ロック発生回路を有し、前記クロック発生回路に近接し
て配置されたフリップフロップ回路には、前記クロック
発生回路の前記タイミングの遅れが大きいクロック出力
信号が接続され、前記クロック発生回路から配線長が長
い位置に配線されたフリップフロップ回路には、前記ク
ロック発生回路の前記タイミングの遅れの小さいクロッ
ク出力信号が接続されてるように配置されたことにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a block input method for a semiconductor integrated circuit by an automatic layout method having a plurality of flip-flop circuits and a clock generation circuit for driving the flip-flop circuits. On the other hand, a flip-flop circuit having a clock generating circuit for generating a plurality of clock output signals having different rising and falling timings of the clock is provided in the flip-flop circuit arranged close to the clock generating circuit. A clock output signal with a large timing delay is connected, and a clock output signal with a small timing delay of the clock generation circuit is connected to a flip-flop circuit wired at a position where the wiring length is long from the clock generation circuit. It was arranged as follows.

【0016】また、前記クロック発生回路を前記半導体
集積回路の中心部に配置することができる。
Further, the clock generation circuit can be arranged at the center of the semiconductor integrated circuit.

【0017】[0017]

【実施例】本発明の第1の実施例について図面を参照し
て説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0018】図1は本発明の第1の実施例のレイアウト
ブロックの配置を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing the layout of layout blocks according to the first embodiment of the present invention.

【0019】図1によれば、自動配線による半導体集積
回路100の外部クロック端子111が、クロック発生
回路104の入力端に接続され、発振回路104入力端
からインバータ105を介して遅延回路109とインバ
ータ106に接続される。
According to FIG. 1, the external clock terminal 111 of the semiconductor integrated circuit 100 with automatic wiring is connected to the input end of the clock generation circuit 104, and the delay circuit 109 and the inverter are connected from the input end of the oscillator circuit 104 through the inverter 105. Connected to 106.

【0020】また、遅延回路109の出力端は、遅延回
路110とインバータ107に接続され、遅延回路11
0の出力端は、インバータ108に接続される。更に、
インバータ108の出力端は、配線長aでフリップフロ
ップ102に、インバータ107の出力端は、配線長b
でフリップフロップ103に、インバータ106の出力
端は、配線長cでフリップフロップ101にそれぞれ接
続されて構成する。ここで、配線長の関係はa<b<c
である。
The output terminal of the delay circuit 109 is connected to the delay circuit 110 and the inverter 107, and the delay circuit 11
The output terminal of 0 is connected to the inverter 108. Furthermore,
The output end of the inverter 108 has a wiring length a and is connected to the flip-flop 102, and the output end of the inverter 107 has a wiring length b.
The flip-flop 103 and the output terminal of the inverter 106 are connected to the flip-flop 101 with the wiring length c. Here, the relationship of wiring length is a <b <c
Is.

【0021】次に、本発明の自動レイアウト手法による
半導体集積回路のブロック配置方法について、そのクロ
ック信号線とブロック配置の設計手順について説明す
る。
Next, a description will be given of a clock signal line and a block layout design procedure for the block layout method of the semiconductor integrated circuit according to the automatic layout method of the present invention.

【0022】まず、回路図から作成した、各機能ブロッ
ク間の接続データである回路接続情報を基に、基本ファ
ンクションブロックの配置を行う。この基本ファンクシ
ョンブロックとは、フリップフロップの他にNANDゲ
ート,NORゲート,インバータ等の基本的な論理素子
単位のブロックのことであり、これらの基本ファンクシ
ョンブロックを用いてレイアウトを行うものである。
First, the basic function blocks are arranged based on the circuit connection information, which is the connection data between the respective functional blocks, created from the circuit diagram. The basic function block is a block in a basic logic element unit such as a NAND gate, a NOR gate, an inverter in addition to a flip-flop, and the layout is performed using these basic function blocks.

【0023】次に、クロック発生回路104の配置を行
う。このクロック発生回路104は、複数のクロック出
力端子をもち、各クロック出力端子の信号はクロック発
生回路104の入力信号に対してスキューが少しづつ異
なる。
Next, the clock generation circuit 104 is arranged. The clock generating circuit 104 has a plurality of clock output terminals, and the signal at each clock output terminal has a skew slightly different from that of the input signal of the clock generating circuit 104.

【0024】例えば、インバータ107の出力は、クロ
ック信号に対して遅延回路109の遅延時間だけ位相が
遅れており、また、インバータ108の出力信号は遅延
回路109,110の遅延時間だけスキューが異なる。
For example, the output of the inverter 107 is delayed in phase with respect to the clock signal by the delay time of the delay circuit 109, and the output signal of the inverter 108 is different in skew by the delay time of the delay circuits 109 and 110.

【0025】次に、配置されたフリップフロップ101
〜103とクロック発生回路104との距離を計算し、
その距離に応じて、クロック発生回路104とフリップ
フロップ101〜103のクロック端子との回路接続情
報の変更を行う。
Next, the arranged flip-flops 101
-10 to calculate the distance between the clock generation circuit 104,
The circuit connection information between the clock generation circuit 104 and the clock terminals of the flip-flops 101 to 103 is changed according to the distance.

【0026】すなわち、距離が短い場所に位置している
フリップフロップ102に対しては、クロック発生回路
104のスキュー遅れの大きなクロック出力端子を接続
する(配線a)。
That is, to the flip-flop 102 located at a short distance, the clock output terminal of the clock generation circuit 104 having a large skew delay is connected (wiring a).

【0027】また、距離の長い場所に位置しているフリ
ップフロップ101,103に対しては、スキュー遅れ
の少ないクロック出力端子を接続する(配線b,c)。
Further, clock output terminals with a small skew delay are connected to the flip-flops 101 and 103 located at long distances (wirings b and c).

【0028】このような回路接続情報を基に、自動レイ
アウトツールを用いて自動配線を行う。
Based on such circuit connection information, automatic wiring is performed using an automatic layout tool.

【0029】以上説明したような手法で設計された半導
体集積回路100においては、クロック発生回路内部で
クロック信号のスキューを調節している。そのため、フ
リップフロップ101〜103のクロック端子側でみる
と、入力されたクロック信号にはスキューが発生しな
い。
In the semiconductor integrated circuit 100 designed by the method described above, the skew of the clock signal is adjusted inside the clock generation circuit. Therefore, when viewed from the clock terminal side of the flip-flops 101 to 103, no skew occurs in the input clock signal.

【0030】また、外部クロック入力端子111から、
フリップフロップ101〜103のクロック端子までの
信号遅延も最小限に抑制できる。
From the external clock input terminal 111,
The signal delay to the clock terminals of the flip-flops 101 to 103 can be suppressed to the minimum.

【0031】次に、本発明の第2の実施例について図面
を参照して説明する。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0032】図2は第2の実施例のレイアウト自動配線
ブロックの配置を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing the layout of layout automatic wiring blocks according to the second embodiment.

【0033】第2の実施例が図1に示した第1の実施例
と異なるところは、クロック発振回路202を半導体集
積回路200の中央部に配置している点である。
The second embodiment differs from the first embodiment shown in FIG. 1 in that the clock oscillator circuit 202 is arranged in the central portion of the semiconductor integrated circuit 200.

【0034】図2によれば、クロック発振回路202の
出力端にフリップフロップ203が配線長dで、フリッ
プフロップ204が配線長eで、フリップフロップ20
5が配線長f+gで、フリップフロップ206が配線長
f+hでそれぞれ接続されている。ここで配線長の関係
はd<e<(f+g)<(f+h)である。
According to FIG. 2, the flip-flop 203 has a wiring length d, the flip-flop 204 has a wiring length e, and the flip-flop 20 has an output terminal of the clock oscillation circuit 202.
5 is a wiring length f + g, and the flip-flop 206 is a wiring length f + h. Here, the relationship of the wiring length is d <e <(f + g) <(f + h).

【0035】そのため、クロック発生回路202が半導
体集積回路200の未端部に配置された場合の、配線長
の最大値が図1に示した第1の実施例の場合よりも小さ
くなる。すなわち、c>(f+h)の関係にある。
Therefore, the maximum value of the wiring length when the clock generating circuit 202 is arranged at the non-end portion of the semiconductor integrated circuit 200 is smaller than that of the first embodiment shown in FIG. That is, the relationship is c> (f + h).

【0036】その結果、これらのフリップフロップ間を
接続するメタル配線による遅延時間を補正するために、
クロック発生回路202に内蔵している遅延回路の個数
を減らすことができる。
As a result, in order to correct the delay time due to the metal wiring connecting these flip-flops,
The number of delay circuits built in the clock generation circuit 202 can be reduced.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、半
導体集積回路の自動レイアウト配線において、外部から
入力したクロックを内部に配置するフリップフロップの
クロック端子に分配するためのクロック発生回路を有
し、クロック発生回路に近接して配置されたフリップフ
ロップには、クロック発生回路のスキュー遅れの大きな
クロック出力信号を接続し、クロック発生回路から配置
が長く配置されたフリップフロップにはクロック発生回
路のスキュー遅れの小さいクロック出力信号b,cを接
続することにより、外部から入力されるクロック信号と
フリップフロップのクロック端子間に接続されるバッフ
ァの個数を減らすことができる。
As described above, according to the present invention, in the automatic layout wiring of the semiconductor integrated circuit, there is provided the clock generation circuit for distributing the clock input from the outside to the clock terminal of the flip-flop arranged inside. However, a clock output signal with a large skew delay of the clock generation circuit is connected to the flip-flop arranged close to the clock generation circuit, and a flip-flop arranged long from the clock generation circuit is connected to the clock generation circuit. By connecting the clock output signals b and c having a small skew delay, the number of buffers connected between the clock signal input from the outside and the clock terminal of the flip-flop can be reduced.

【0038】従って、外部クロック端子からフリップフ
ロップ端子までの遅延を最小限に保ちつつ、クロック発
生回路から各フリップフロップとの配線長に起因するク
ロック信号のスキューの発生を防止することができると
いう効果を有する。
Therefore, it is possible to prevent the skew of the clock signal due to the wiring length from the clock generation circuit to each flip-flop while keeping the delay from the external clock terminal to the flip-flop terminal to a minimum. Have.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施例の自動レイアウトのブロ
ック配置を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a block layout of an automatic layout according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2の実施例の自動レイアウトのブロ
ック配置を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a block layout of an automatic layout according to a second embodiment of the present invention.

【図3】従来例のメタル配線の遅延による誤動作を説明
するための、(a)回路図の一例,(b)動作波形図で
ある。
3A and 3B are an example of a circuit diagram (a) and an operation waveform diagram (b) for explaining a malfunction due to a delay of a metal wiring in a conventional example.

【図4】従来例の自動レイアウトのブロック配置を示す
図である。
FIG. 4 is a diagram showing a block layout of an automatic layout of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100,200,300 半導体集積回路 111 外部クロック端子 101,102,103,203,204,205,2
06 フリップフロップ 104,202 クロック発振回路 105〜108 インバータ 109,110 遅延回路 a,b,c,d,e,f,g,h 配線長
100, 200, 300 Semiconductor integrated circuit 111 External clock terminal 101, 102, 103, 203, 204, 205, 2
06 flip-flop 104,202 clock oscillation circuit 105-108 inverter 109,110 delay circuit a, b, c, d, e, f, g, h wiring length

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数のフリップフロップ回路とそのフリ
ップフロップ回路を駆動するクロック発生回路とを有す
る自動レイアウト手法による半導体集積回路のブロック
配置方法において、クロック入力信号に対し、クロック
の立上りおよび立下りタイミングの異る複数のクロック
出力信号を発生するクロック発生回路を有し、前記クロ
ック発生回路に近接して配置されたフリップフロップ回
路には、前記クロック発生回路の前記タイミングの遅れ
が大きいクロック出力信号が接続され、前記クロック発
生回路から配線長が長い位置に配線されたフリップフロ
ップ回路には、前記クロック発生回路の前記タイミング
の遅れの小さいクロック出力信号が接続されてるように
配置されたことを特徴とする自動レイアウト手法による
半導体集積回路のブロック配置方法。
1. A method for arranging blocks in a semiconductor integrated circuit according to an automatic layout method comprising a plurality of flip-flop circuits and a clock generation circuit for driving the flip-flop circuits, wherein clock rising and falling timings with respect to a clock input signal. Of the clock generation circuit for generating a plurality of different clock output signals, and the flip-flop circuit arranged close to the clock generation circuit is provided with a clock output signal having a large timing delay of the clock generation circuit. The flip-flop circuit connected to the flip-flop circuit having a long wiring length from the clock generation circuit is arranged so that the clock output signal with the small timing delay of the clock generation circuit is connected. Automatic layout method for semiconductor integrated circuit Lock placement method.
【請求項2】 前記クロック発生回路を前記半導体集積
回路の中心部に配置したことを特徴とする請求項1に記
載の自動レイアウト手法による半導体集積回路のブロッ
ク配置方法。
2. The method for arranging blocks in a semiconductor integrated circuit according to claim 1, wherein the clock generation circuit is arranged in a central portion of the semiconductor integrated circuit.
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KR20180051708A (en) * 2016-11-07 2018-05-17 삼성전자주식회사 Layout method for semiconductor device based on swiching activity and manufacturing

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