JPH06175768A - 座標入力装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は座標入力装置に関し、オペレータを
介さず自動的にキャリブレーションを行うことを目的と
する。 【構成】 二次元平面の入力検出領域を有する入力部２
に対し、選択的に加圧して加圧位置の座標情報を検出す
る座標入力装置において、入力部２における入力検出領
域を決定する所定数の基準点Ｐ１，Ｐ２を入力するマイ
クロソレノイド１２と、マイクロソレノイド１２により
入力される基準点Ｐ１，Ｐ２の座標情報を検出し、座標
情報に基づいて該入力検出領域における検出座標を校正
する校正手段とを具備するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、座標入力装置に係り、
詳細には、表示画面上に重ねることにより表示位置と入
力位置とを対応させるアナログタッチパネルの分野に用
いて好適な、特性変化を自動的に校正する座標入力装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、座標入力装置として、例えば、ペ
ン入力パソコン、ペン入力ワープロ等における入力部に
用いられるアナログタッチパネルがある。

【０００３】アナログタッチパネルは、操作性がよく、
省スペース化に有利なポインティングデバイスの一つで
あり、液晶表示装置等における表示画面上に座標入力部
を配し、座標入力部を加圧することにより位置情報を入
力するものである。

【０００４】図５に従来のアナログタッチパネルの構成
を示す。

【０００５】従来のアナログタッチパネル１は、入力部
２と検出部３とから構成され、入力部２は、Ｘ方向電極
４を形成した均一な透明導電膜（以下、ＩＴＯ膜とい
う）５と、Ｙ方向電極６を形成したＩＴＯ膜７の二枚の
基板から構成されている。なお、各基板は、ガラス基板
（図示せず）上に公知の手法によりＩＴＯ膜５，７を形
成したものであり、例えば、スクリーン印刷法や、感光
性樹脂材料を用いたフォトリソグラフによって絶縁膜及
びスペーサを形成することにより、２枚の電極が加圧時
にのみ接触するようになっている。

【０００６】検出部３は、Ｘ−Ｙ切換回路８、Ａ／Ｄコ
ンバータ９、入力ポイント演算部１０、処理装置１１か
ら構成されている。

【０００７】Ｘ−Ｙ切換回路８は、入力部２におけるＸ
Ｙ座標の読み取り座標を切り換えるものであり、Ｘ方向
電極４とＹ方向電極６との読み取り電極を切り換えるこ
とで、Ｘ座標の検出電圧とＹ座標の検出電圧とを交互に
Ａ／Ｄコンバータ９に出力するものである。

【０００８】すなわち、例えば、Ｖ_CC＝５Ｖ、ＧＮＤ＝
０Ｖのとき、Ｘ方向の座標を検出する場合は、まず、Ｘ
方向電極４に検出用電圧として、Ｖ_CC−ＧＮＤ＝５Ｖの
電圧を印加し、Ｙ方向電極６によって、この電圧を検出
する。このとき検出される電圧Ｖ_out は、入力点でのＸ
方向電極抵抗の分割比によって印加電圧を分割した電圧
値となっており、電極膜が均一に形成されていることを
条件として、Ｘ座標の検出電圧はＶ_out ／Ｖ_CC＝Ｖ_out
／５Ｖとなる。一方、Ｙ方向の座標を検出する場合は、
Ｘ−Ｙ切換回路８によって検出用電圧を印加する電極が
Ｘ電極からＹ電極に切り換えられ、以下、Ｘ方向の座標
を検出する場合と同様の手順でＹ座標の検出電圧を検出
する。

【０００９】Ａ／Ｄコンバータ９は、Ｘ−Ｙ切換回路８
から出力されるＸ座標またはＹ座標の検出電圧（アナロ
グ信号）を０〜２５５段階の８ビット情報（デジタル信
号）に変換するものであり、これによってＸ座標の検出
レベル及びＹ座標の検出レベルを決定する。

【００１０】入力ポイント演算部１０は、Ａ／Ｄコンバ
ータ９から出力されるＸ座標の検出レベルとＹ座標の検
出レベルとに基づいて入力部２において実際に押圧され
た点の座標値を演算により求め、この座標値を入力ポイ
ントとして処理装置１１に出力するものである。

【００１１】処理装置１１は、入力ポイント演算部１０
から出力される入力ポイントの値に基づいて種々の処理
を行うものである。

【００１２】以上の構成によるアナログタッチパネルで
は、温度等の環境の変化や、経年変化によって特性にズ
レが生じ、同じ入力に対して異なる座標値が出力される
といったことが起こるので、特性のズレを補正するため
に時々校正（以下、キャリブレーションという）を行う
必要がある。

【００１３】従来例におけるキャリブレーション処理を
図６に示すフローチャートに基づいて説明する。

【００１４】まず、Ｘ座標上の基準点間のドット数
（Ｘ）及びＹ座標上の基準点間のドット数（Ｙ）を指定
し、読み取り範囲を設定する（ステップＳ１）。

【００１５】次いで、入力部２における入力操作範囲
（矩形領域）を設定するために、例えば、矩形領域であ
る入力操作範囲の左上隅の点を基準点Ｐ１、同様に、右
下隅の点を基準点Ｐ２とし、オペレータの操作により基
準点Ｐ１を入力し（ステップＳ２）、基準点Ｐ１におけ
るＸ方向検出レベル及びＹ方向検出レベルを決定して確
保するとともに（ステップＳ３）、オペレータの操作に
より基準点Ｐ２を入力し（ステップＳ４）、基準点Ｐ２
におけるＸ方向検出レベル及びＹ方向検出レベルを決定
して確保する（ステップＳ５）。

【００１６】最後に、基準点Ｐ１，Ｐ２におけるＸ方向
及びＹ方向の検出レベルからオフセット係数及びゲイン
係数を計算し、このオフセット係数及びゲイン係数に基
づいて特性のズレを補正してキャリブレーションを行う
（ステップＳ６）。

【００１７】ここで、Ｘ方向のゲイン係数をＫｘ、Ｙ方
向のゲイン係数をＫｙとした場合のゲイン係数を求める
ための計算式を〈数１〉に示し、Ｘ方向のオフセット係
数をＯｘ、Ｙ方向のオフセット係数をＯｙとした場合の
オフセット係数を求めるための計算式を〈数２〉に示
す。なお、ＸはＸ座標上の基準点間のドット数、ＹはＹ
座標上の基準点間のドット数、ｘ１は基準点Ｐ１のＸ方
向検出レベル、ｙ１は基準点Ｐ１のＹ方向検出レベル、
ｘ２は基準点Ｐ２のＸ方向検出レベル、ｙ２は基準点Ｐ
２のＹ方向検出レベルである。

【００１８】

【数１】

【００１９】

【数２】 ゲイン係数Ｋｘ，Ｋｙとは、１ドット当たりのレベル数
を示し、タッチパネルの１ドットがＡ／Ｄコンバータ９
における出力の何レベルに相当するかを意味するもので
あり、オフセット係数Ｏｘ，Ｏｙとは、基準点Ｐ１（Ｐ
２）における入力電圧と基準点電圧との電位差をＡ／Ｄ
コンバータ９のレベルに直したものである。

【００２０】つまり、Ｘ方向の出力レベルをＸｖ、Ｙ方
向の出力レベルをＹｖとしたとき、任意点Ｘｎ，Ｙｎの
レベルは、〈数３〉となる。

【００２１】

【数３】 したがって、従来のキャリブレーションは、タッチパネ
ル１の入力操作範囲の基準点Ｐ１，Ｐ２をオペレータが
指示することにより、基準点Ｐ１，Ｐ２でのオフセット
とタッチパネルの特性を示すゲイン係数とを取り込み、
環境等に対する特性のズレを補正するものであった。

【００２２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の座標入力装置にあっては、タッチパネル１の
入力操作範囲の基準点Ｐ１，Ｐ２をオペレータが指示す
ることにより、基準点Ｐ１，Ｐ２でのオフセットとタッ
チパネルの特性を示すゲイン係数とを取り込み、環境等
に対する特性のズレを補正するという構成となっていた
ため、従来のアナログタッチパネルでキャリブレーショ
ンを行うためには、オペレータによってキャリブレーシ
ョンを行う度に毎回基準点Ｐ１，Ｐ２を押圧するという
繁雑な作業が必要であるという問題点があった。

【００２３】本発明の課題は、オペレータが意識するこ
となく、自動的にキャリブレーションを行うことであ
る。

【００２４】

【課題を解決するための手段】本発明の手段は次の通り
である。

【００２５】請求項１記載の発明は、二次元平面の入力
検出領域を有する入力部に対し、選択的に加圧して加圧
位置の座標情報を検出する座標入力装置において、前記
入力部における入力検出領域を決定する所定数の基準点
を入力する基準点入力手段と、該基準点入力手段により
入力される該基準点の座標情報を検出し、該座標情報に
基づいて該入力検出領域における検出座標を校正する校
正手段と、を具備したことを特徴としている。

【００２６】また、この場合、請求項２記載の発明のよ
うに、予め設定されたタイミングまたは時間に応じて前
記基準点入力手段を作動させる校正タイミング設定手段
を追加して設けることが望ましく、さらに、請求項３記
載の発明のように、前記基準点入力手段は、前記入力部
に対し、基準点となる点を機械的に加圧するマイクロソ
レノイドにより構成し、機械的に入力部をオン状態とす
ることで、この値を基準値として取り込むことが有効で
ある。

【００２７】

【作用】本発明の手段の作用は次の通りである。

【００２８】請求項１記載の発明によれば、基準点入力
手段により入力部に対して基準点が入力され、この基準
点の座標情報に基づいて校正手段により入力検出領域に
おける検出座標が校正される。

【００２９】すなわち、オペレータの操作を必要とせず
に自動的にキャリブレーションが行われる。

【００３０】また、請求項２記載の発明によれば、請求
項１記載の発明の作用に追加して、校正タイミング設定
手段により、例えば、起動時や、一定時間毎等のように
予め決められたタイミングまたは時間に応じて基準点入
力手段が作動されることにより、定期的にキャリブレー
ションが行われる。

【００３１】さらに、請求項３記載の発明のように、基
準点入力手段としてマイクロソレノイドを用いることに
より、電気信号に応じて入力部の押圧が可能となる。

【００３２】

【実施例】以下、図１，図２を参照して実施例を説明す
る。

【００３３】図１，図２は本発明に係る座標入力装置の
一実施例を示す図である。

【００３４】まず、構成を説明する。図１は本実施例に
おける座標入力装置の要部構成を示す概略ブロック図で
ある。図１において、座標入力装置である本実施例のア
ナログタッチパネル１は、上記図５に示した従来例と同
様に、入力部２と検出部３とから構成されており、従来
の構成に加えて基準点入力手段であるマイクロソレノイ
ド１２ａ，１２ｂを設け、入力部２を機械的に押圧する
機能を追加するとともに、入力ポイント演算部１０に校
正手段としての機能を持たせ、さらに、処理装置１１に
マイクロソレノイド１２ａ，１２ｂの動作タイミングを
制御し、予め設定されたタイミングまたは時間に応じて
作動させる校正タイミング設定手段１３の機能を持たせ
たものとなっている。

【００３５】Ｘ−Ｙ切換回路８は、入力部２におけるＸ
Ｙ座標の読み取り座標を切り換えるものであり、Ｘ方向
電極４とＹ方向電極６との読み取り電極を交互に切り換
えることでＸ座標の検出電圧とＹ座標の検出電圧とをＡ
／Ｄコンバータ９に出力するものである。

【００３６】すなわち、Ｘ方向の座標を検出する場合に
は、Ｘ方向電極４に検出用電圧としてＶ_CC−ＧＮＤの電
圧を印加し、Ｙ方向電極６によって、この電圧を検出す
る。このとき検出される電圧Ｖ_out は、入力点でのＸ方
向電極抵抗の分割比によって印加電圧を分割した電圧値
となっており、Ｘ座標の検出電圧はＶ_out ／Ｖ_CCとな
る。一方、Ｙ方向の座標を検出する場合は、Ｘ−Ｙ切換
回路８によって検出用電圧を印加する電極がＸ電極から
Ｙ電極に切り換えられ、以下、Ｘ方向の座標を検出する
場合と同様の手順でＹ座標の検出電圧を検出する。

【００３７】Ａ／Ｄコンバータ９は、Ｘ−Ｙ切換回路８
から出力されるＸ座標またはＹ座標の検出電圧（アナロ
グ信号）を０〜２５５段階の８ビット情報（デジタル信
号）に変換するものであり、これによってＸ座標の検出
レベル及びＹ座標の検出レベルを決定する。

【００３８】入力ポイント演算部１０は、Ａ／Ｄコンバ
ータ９から出力されるＸ座標の検出レベル及びＹ座標の
検出レベルに基づいて入力部２において実際に押圧され
た点の座標値を演算により求めるものであり、入力部２
における入力操作範囲（矩形領域）を設定するために、
例えば、矩形領域である入力操作範囲の左上隅の点を基
準点Ｐ１、同様に、右下隅の点を基準点Ｐ２としたと
き、マイクロソレノイド１２ａ，１２ｂにより押圧され
た基準点Ｐ１，Ｐ２の座標値を演算するとともに、キャ
リブレーションのための基準座標値として設定し、以
後、入力部２に対する押圧入力点の座標はこの基準座標
値により校正され、入力ポイント情報として処理装置１
１に出力される。

【００３９】処理装置１１は、Ｘ−Ｙ切換回路８、Ａ／
Ｄコンバータ９、入力ポイント演算部１０、及びマイク
ロソレノイド１２ａ，１２ｂにおける各種動作を制御す
るための制御信号を出力するとともに、入力ポイント演
算部１０から出力される入力ポイント情報の値に基づい
て種々の処理を行うものであり、後述する校正タイミン
グ設定手段１３の機能も含んでいる。

【００４０】マイクロソレノイド１２ａ，１２ｂは、入
力検出領域である入力操作範囲の左上隅の点を基準点Ｐ
１、同様に、右下隅の点を基準点Ｐ２としたとき、処理
装置１１から入力される所定の電気信号に応じて入力部
２における各基準点Ｐ１，Ｐ２を押圧するものであり、
従来、オペレータによって入力されていた各基準点Ｐ
１，Ｐ２の入力を、オペレータに代わって行うものであ
る。

【００４１】校正タイミング設定手段１３は、処理装置
１１内に含まれ、例えば、起動時や、一定時間毎等のよ
うに、予め設定されたタイミングまたは時間に応じてマ
イクロソレノイド１２ａ，１２ｂを作動させるものであ
り、この設定タイミングによって入力ポイント演算部１
０により自動的にキャリブレーション処理を行わせるも
のである。

【００４２】以下、図１に示すアナログタッチパネル１
におけるキャリブレーション処理について図２に示すフ
ローチャートを参照して説明する。

【００４３】まず、Ｘ座標上の基準点間のドット数及び
Ｙ座標上の基準点間のドット数を指定し、読み取り範囲
を設定する（ステップＰ１）。

【００４４】次いで、入力部２における入力操作範囲
（矩形領域）を設定するために、例えば、矩形領域であ
る入力操作範囲の左上隅の点を基準点Ｐ１、同様に、右
下隅の点を基準点Ｐ２としたとき、校正タイミング設定
手段１３によって設定されたタイミングに基づいて処理
装置１１からマイクロソレノイド１２ａ，１２ｂに対し
て制御信号を出力し、マイクロソレノイド１２ａ，１２
ｂをそれぞれ駆動することにより、マイクロソレノイド
１２ａによって基準点Ｐ１を入力し（ステップＰ２）、
基準点Ｐ１におけるＸ方向検出レベル及びＹ方向検出レ
ベルを決定して確保するとともに（ステップＰ３）、マ
イクロソレノイド１２ｂによって基準点Ｐ２を入力し
（ステップＰ４）、基準点Ｐ２におけるＸ方向検出レベ
ル及びＹ方向検出レベルを決定して確保する（ステップ
Ｐ５）。

【００４５】最後に、基準点Ｐ１，Ｐ２におけるＸ方向
及びＹ方向の検出レベルからオフセット係数及びゲイン
係数を計算し、このオフセット係数及びゲイン係数に基
づいて特性のズレを補正してキャリブレーションを行う
（ステップＰ６）。なお、得られたオフセット係数とゲ
イン係数とによるキャリブレーションは前述した従来例
と同様の処理により行う。

【００４６】すなわち、本実施例では、基準点Ｐ１，Ｐ
２の入力をマイクロソレノイド１２ａ，１２ｂによって
行うことで、オペレータはキャリブレーション作業から
開放され、さらに、オペレータが意識することなく、自
動的にキャリブレーションが行われる。

【００４７】図３，図４は本発明に係る座標入力装置の
他の実施例を示す図であり、図３は本実施例における座
標入力装置の要部構成を示す概略ブロック図である。

【００４８】本実施例の座標入力装置であるアナログタ
ッチパネル１では、アナログタッチパネル１と他のデバ
イスとの機構的な配置上の関係から、入力部２の後方に
マイクロソレノイド１２ａ，１２ｂを設置できない場合
に対処するものであり、図３に示すように、上記図１に
示した実施例と比較して、入力部２における実際の入力
操作範囲よりも入力可能領域を大きく取り、入力操作範
囲外の部分にマイクロソレノイド１２ａ，１２ｂを設置
し、キャリブレーションを行うものである。

【００４９】すなわち、本実施例では、上記図１に示し
たように、通常のキャリブレーションと同様にオフセッ
ト係数とゲイン係数とを決定するため、入力操作範囲外
にあるマイクロソレノイド１２ａ，１２ｂが押圧する補
正位置での点Ｑ１，Ｑ２と、入力操作範囲内にある基準
点Ｐ１，Ｐ２との距離の差分からオフセット係数を決定
する必要があり、マイクロソレノイド１２ａ，１２ｂが
押圧する点Ｑ１，Ｑ２と、基準点Ｐ１，Ｐ２との物理的
距離の差分、つまり、マイクロソレノイドオフセット
を、物理的距離（ｍｍ）／分解能（ドット／ｍｍ）×ゲ
イン係数で算出するものである。

【００５０】これにより本実施例では、前述した一実施
例と同様にキャリブレーション処理を行うことができ
る。

【００５１】以下、図３に示すアナログタッチパネル１
におけるキャリブレーション処理について図４に示すフ
ローチャートを参照して説明する。

【００５２】まず、Ｘ座標上の基準点間のドット数及び
Ｙ座標上の基準点間のドット数を指定し、読み取り範囲
を設定する（ステップＴ１）。

【００５３】次いで、入力部２における入力操作範囲
（矩形領域）を設定するために、例えば、矩形領域であ
る入力操作範囲の左上隅の点を基準点Ｐ１、同様に、右
下隅の点を基準点Ｐ２とし、基準点Ｐ１に対する補正位
置の点をＱ１、基準点Ｐ２に対する補正位置の点をＱ２
としたとき、前述のマイクロソレノイドオフセットを求
める式から、Ｘ方向の基準点Ｐ１と点Ｑ１とのドット差
Ｈｘ１、Ｙ方向の基準点Ｐ１と点Ｑ１とのドット差Ｈｙ
１、Ｘ方向の基準点Ｐ２と点Ｑ２とのドット差Ｈｘ２、
Ｙ方向の基準点Ｐ２と点Ｑ２とのドット差Ｈｙ２を計算
する（ステップＴ２）。

【００５４】そして、校正タイミング設定手段１３によ
って設定されたタイミングに基づいて処理装置１１から
マイクロソレノイド１２ａ，１２ｂに対して制御信号を
出力し、マイクロソレノイド１２ａ，１２ｂをそれぞれ
駆動することによりマイクロソレノイド１２ａにより点
Ｑ１を入力し（ステップＴ３）、点Ｑ１から基準点Ｐ１
におけるＸ方向検出レベル及びＹ方向検出レベルを決定
して確保するとともに（ステップＴ４）、マイクロソレ
ノイド１２ｂにより点Ｑ２を入力し（ステップＴ５）、
点Ｑ２から基準点Ｐ２におけるＸ方向検出レベル及びＹ
方向検出レベルを決定して確保する（ステップＴ６）。

【００５５】最後に、前述の実施例と同様に、基準点Ｐ
１，Ｐ２におけるＸ方向及びＹ方向の検出レベルからオ
フセット係数及びゲイン係数を計算し、このオフセット
係数及びゲイン係数に基づいて特性のズレを補正してキ
ャリブレーションを行う（ステップＴ７）。

【００５６】ここで、Ｘ方向のゲイン係数をＫｘ、Ｙ方
向のゲイン係数をＫｙとした場合のゲイン係数を求める
ための計算式を〈数４〉に示し、Ｘ方向のオフセット係
数をＯｘ、Ｙ方向のオフセット係数をＯｙとした場合の
オフセット係数を求めるための計算式を〈数５〉に示
す。なお、ＸはＸ座標上の基準点間のドット数、ＹはＹ
座標上の基準点間のドット数、ｘ１は点Ｑ１のＸ方向検
出レベル、ｙ１は点Ｑ１のＹ方向検出レベル、ｘ２は点
Ｑ２のＸ方向検出レベル、ｙ２は点Ｑ２のＹ方向検出レ
ベルを示し、Ｈｘ１はＸ方向の基準点Ｐ１と点Ｑ１との
ドット差、Ｈｙ１はＹ方向の基準点Ｐ１と点Ｑ１とのド
ット差、Ｈｘ２はＸ方向の基準点Ｐ２と点Ｑ２とのドッ
ト差、Ｈｙ２はＹ方向の基準点Ｐ２と点Ｑ２とのドット
差を示す。

【００５７】

【数４】

【００５８】

【数５】 以上説明したように、本実施例では、電気信号により機
械的な動作を行うマイクロソレノイド１２ａ，１２ｂを
設けることにより、オペレータが操作することなく、キ
ャリブレーション処理を行うことができ、例えば、アナ
ログタッチパネル１により文字認識を行っているときに
認識率が下がったような場合に自動的にキャリブレーシ
ョン処理を行うことができる。

【００５９】なお、校正タイミング設定手段１３による
特性校正の指示は、例えば、工場出荷時、エラー発生頻
度が高くなった時、あらかじめ設けられた特殊キー（例
えば、「特性校正」キー等）の操作時、定期的（例え
ば、２４時間毎）等が考えられ、または、電源オンに応
答して起動時に毎回キャリブレーションを行うものであ
ってもよい。

【００６０】また、基準点入力手段は、マイクロソレノ
イド１２ａ，１２ｂに限らず、電気信号に応じてアナロ
グタッチパネルの入力部を押圧するものであれば他の構
成によるものでもよく、さらに、入力操作範囲を設定す
るための基準点の数や位置は任意に変更可能であること
は勿論である。

【００６１】

【発明の効果】本発明によれば、請求項１記載の発明で
は、基準点入力手段により入力する基準点の座標情報に
基づいて校正手段によって入力検出領域における検出座
標のキャリブレーションができ、オペレータの操作を必
要とせずに自動的にキャリブレーションを行うことがで
きる。

【００６２】また、請求項２記載の発明では、請求項１
記載の発明の効果に追加して、校正タイミング設定手段
により、例えば、起動時や、一定時間毎等のように予め
決められたタイミングまたは時間に応じて基準点入力手
段を作動することで、所定時にキャリブレーションを行
うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施例における座標入力装置の要部構成を示
す概略ブロック図。

【図２】本実施例の座標入力装置のキャリブレーション
処理のフローチャート。

【図３】他の実施例における座標入力装置の要部構成を
示す概略ブロック図。

【図４】他の実施例の座標入力装置のキャリブレーショ
ン処理のフローチャート。

【図５】従来例における座標入力装置の要部構成を示す
概略でブロック図。

【図６】従来例の座標入力装置のキャリブレーション処
理のフローチャート。

【符号の説明】

１ アナログタッチパネル ２ 入力部 ３ 検出部 ４ Ｘ方向電極 ５ 透明導電膜 ６ Ｙ方向電極 ７ 透明導電膜 ８ Ｘ−Ｙ切換回路 ９ Ａ／Ｄコンバータ １０ 入力ポイント演算部 １１ 処理装置 １２ マイクロソレノイド １３ 校正タイミング設定手段

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】二次元平面の入力検出領域を有する入力部
   に対し、選択的に加圧して加圧位置の座標情報を検出す
   る座標入力装置において、 前記入力部における入力検出領域を決定する所定数の基
   準点を入力する基準点入力手段と、 該基準点入力手段により入力される該基準点の座標情報
   を検出し、該座標情報に基づいて該入力検出領域におけ
   る検出座標を校正する校正手段と、 を具備したことを特徴とする座標入力装置。
2. 【請求項２】予め設定されたタイミングまたは時間に応
   じて前記基準点入力手段を作動させる校正タイミング設
   定手段を具備したことを特徴とする請求項１記載の座標
   入力装置。
3. 【請求項３】前記基準点入力手段は、前記入力部に対
   し、基準点となる点を機械的に加圧するマイクロソレノ
   イドにより構成することを特徴とする請求項１、または
   ２記載の座標入力装置。