JPH06169247A - Analog switch - Google Patents

Analog switch

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JPH06169247A
JPH06169247A JP4340956A JP34095692A JPH06169247A JP H06169247 A JPH06169247 A JP H06169247A JP 4340956 A JP4340956 A JP 4340956A JP 34095692 A JP34095692 A JP 34095692A JP H06169247 A JPH06169247 A JP H06169247A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mos transistor
threshold voltage
type
voltage
gamma
Prior art date
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Pending
Application number
JP4340956A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuo Kobayashi
和男 小林
Nobuo Inami
信夫 稲見
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
New Japan Radio Co Ltd
Original Assignee
New Japan Radio Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by New Japan Radio Co Ltd filed Critical New Japan Radio Co Ltd
Priority to JP4340956A priority Critical patent/JPH06169247A/en
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  • Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

PURPOSE:To attain the normal operation of the analog switch even at a low power supply voltage by selecting a threshold voltage of MOS transistors(TRs) to be 0.1-0.4V in absolute value or adopting a depletion TR for the MOS TR to specify a parameter gamma of a base bias effect to be 0.8<gamma<1.5. CONSTITUTION:A threshold voltage of PMOS TRs 3, 7-9 is set smaller than a usual threshold voltage as -0.1 to -0.4V and a threshold voltage of NMOS TRs 4, 10-12 is set smaller than a usual threshold voltage as 0.1 to 0.4V. As a result, since a gate-source voltage to conduct the MOSTRs is enough to be the low threshold voltage, the MOSTRs are sufficiently conducted even when the power supply voltage is decreased and the internal resistance for the case is much decreased. Furthermore, the concentration of the base of the MOSTRs (impurity concentration of epitaxial layer for PMOSTRs and impurity concentration of well for NMOSTRs) is set higher than the usual impurity concentration. Then a parameter gamma of a base bias effect is selected larger as 0.8<gamma<1.5 (usually gamma<0.6).

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、低電源電圧でも正常動
作するようにしたアナログスイッチに関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an analog switch which operates normally even at a low power supply voltage.

【0002】[0002]

【従来の技術】アナログスイッチは、単独のMOSトラ
ンジスタでは導通抵抗/入力電圧の特性が非線形となる
ので、これを解消するために、図1に示すように、一方
の入出力端子1と他方の入出力端子2との間に、P形の
MOSトランジスタ3とN形のMOSトランジスタ4を
並列接続して構成したものである。このアナログスイッ
チでは、制御端子5に印加する制御信号を、一方のMO
Sトランジスタ4のゲートにはそのまま印加し、他方の
MOSトランジスタ3にはインバータ6で反転して印加
することにより、その制御信号が「H」のとき両MOS
トランジスタ3、4が同時に導通、「L」のとき同時に
遮断する。
2. Description of the Related Art In a single MOS transistor, an analog switch has a non-linear characteristic of conduction resistance / input voltage. To solve this, as shown in FIG. A P-type MOS transistor 3 and an N-type MOS transistor 4 are connected in parallel between the input / output terminal 2 and the input / output terminal 2. In this analog switch, the control signal applied to the control terminal 5 is supplied to one MO
When the control signal is "H", both MOS transistors are applied by directly applying to the gate of the S transistor 4 and inverting and applying to the other MOS transistor 3 by the inverter 6.
Transistors 3 and 4 are turned on at the same time and turned off at the same time when they are "L".

【0003】このアナログスイッチでは、MOSトラン
ジスタ3、4の閾値VTHは絶体値で0.6〜0.8Vで
あり、これ以上の電圧をそれらのMOSトランジスタ
3、4のゲート・ソース間に印加することより、ドレイ
ン・ソース間が導通する。このときの、導通抵抗は数十
Ω〜数百Ωである。ゲート・ソース間の電圧が上記電圧
未満のときは遮断して、その間の抵抗が数百〜数千Ωオ
ーダになる。
In this analog switch, the threshold value V TH of the MOS transistors 3 and 4 is an absolute value of 0.6 to 0.8 V, and a voltage higher than this value is applied between the gate and source of the MOS transistors 3 and 4. By applying, conduction is established between the drain and the source. The conduction resistance at this time is several tens Ω to several hundreds Ω. When the voltage between the gate and the source is less than the above voltage, the gate is cut off, and the resistance between them is in the order of hundreds to thousands of Ω.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記動作は
電源電圧VddとVss間の電圧差が約1.5v以上のとき
に保障されるものであり、それ以下に低下すると、導通
時のソース・ドレイン間の内部抵抗が大きくなって、そ
こを通過させる信号の損失が大きくなるという問題があ
る。そこで、閾値VTHを低下させることが考えられた
が、これを行うと遮断抵抗が低下して、ソース・ドレイ
ン間に比較的大きなリーク電流が流れるようになる。
However, the above operation is guaranteed when the voltage difference between the power supply voltages V dd and V ss is about 1.5 V or more. There is a problem that the internal resistance between the source and the drain becomes large and the loss of the signal passing therethrough becomes large. Therefore, it was considered to reduce the threshold value V TH , but if this is done, the cut-off resistance will decrease and a relatively large leak current will flow between the source and drain.

【0005】本発明の目的は、低い電源電圧であっても
導通時の内部抵抗が小さく、且つ遮断時にはリーク電流
が少なくなるアナログスイッチを提供することである。
An object of the present invention is to provide an analog switch which has a small internal resistance when conducting even at a low power supply voltage and has a small leak current when shutting off.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】このために本発明は、P
形MOSトランジスタとN形MOSトランジスタを並列
接続してなり、上記P形MOSトランジスタの導通時の
基板バイアスを零とすると共に遮断時の基板バイアスを
電源電圧Vddとし、上記N形MOSトランジスタの導通
時の基板バイアスを零とすると共に遮断時の基板バイア
スを電源電圧Vssとするアナログスイッチにおいて、上
記両MOSトランジスタをその閾値を絶体値で0.1〜
0.4vとし又はデプレッション形にすると共に、基板
バイアス効果を表すパラメータγを0.8<γ<1.5
に設定した。
To this end, the present invention provides P
Type N-type MOS transistor and N-type MOS transistor are connected in parallel, the substrate bias when the P-type MOS transistor is conductive is set to zero, and the substrate bias when cut off is set to the power supply voltage V dd , and the N-type MOS transistor is made conductive. In the analog switch in which the substrate bias at the time is set to zero and the substrate bias at the time of interruption is set to the power supply voltage V ss , the thresholds of both MOS transistors are 0.1 to 100 in absolute value.
0.4v or a depletion type, and a parameter γ representing the substrate bias effect is 0.8 <γ <1.5
Set to.

【0007】[0007]

【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。図
2は本発明を適用したアナログスイッチの回路図であ
る。図1と同一のものには同一の符号を付した。7〜9
はP形MOSトランジスタ、10〜12はN形MOSト
ランジスタであって、いずれもアナログスイッチ本体を
構成するMOSトランジスタ3、4の基板バイアス制御
用である。
EXAMPLES Examples of the present invention will be described below. FIG. 2 is a circuit diagram of an analog switch to which the present invention is applied. The same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. 7-9
Is a P-type MOS transistor, and 10 to 12 are N-type MOS transistors, all of which are for controlling the substrate bias of the MOS transistors 3 and 4 constituting the analog switch body.

【0008】このアナログスイッチでは、制御端子5の
電圧が「H」のときは、スイッチ本体を構成するMOS
トランジスタ3、4が導通し、基板バイアス制御用のM
OSトランジスタ8、9、11、12も導通し、MOS
トランジスタ7、10は遮断する。
In this analog switch, when the voltage of the control terminal 5 is "H", the MOS constituting the switch body is formed.
Transistors 3 and 4 become conductive, and M for substrate bias control
The OS transistors 8, 9, 11, 12 are also conductive, and the MOS
The transistors 7 and 10 are turned off.

【0009】従って、MOSトランジスタ8の導通によ
り入出力端子1の電圧(MOSトランジスタ3のソース
電圧)がMOSトランジスタ3の基板にバイアスとして
印加し、またMOSトランジスタ12の導通により入出
力端子2の電圧(MOSトランジスタ4のソース電圧)
がMOSトランジスタ4の基板にバイアスとして印加す
る。つまり、このときの両MOSトランジスタ3、4の
基板バイアスは零となる。
Therefore, the voltage of the input / output terminal 1 (the source voltage of the MOS transistor 3) is applied as a bias to the substrate of the MOS transistor 3 by the conduction of the MOS transistor 8, and the voltage of the input / output terminal 2 by the conduction of the MOS transistor 12. (Source voltage of MOS transistor 4)
Is applied as a bias to the substrate of the MOS transistor 4. That is, the substrate bias of both MOS transistors 3 and 4 at this time becomes zero.

【0010】逆に、制御端子5の電圧が「L」のとき
は、スイッチ本体を構成するMOSトランジスタ3、4
が遮断し、基板バイアス制御用のMOSトランジスタ
8、9、11、12も遮断し、MOSトランジスタ7、
10は導通する。
On the contrary, when the voltage of the control terminal 5 is "L", the MOS transistors 3 and 4 constituting the switch body are formed.
Is cut off, and the MOS transistors 8, 9, 11, 12 for controlling the substrate bias are also cut off, and the MOS transistor 7,
10 conducts.

【0011】従って、MOSトランジスタ7の導通によ
り電源電圧VddがMOSトランジスタ3の基板にバイア
スとして印加し、またMOSトランジスタ10の導通に
より電源電圧Vss(=接地電位)がMOSトランジスタ
4の基板にバイアスとして印加する。よって、このとき
MOSトランジスタ3、4は基板バイアス効果によって
その閾値VTHが大きくなる方向にシフトして、遮断効果
が高くなる。
Therefore, the power source voltage V dd is applied as a bias to the substrate of the MOS transistor 3 by the conduction of the MOS transistor 7, and the power source voltage V ss (= ground potential) is applied to the substrate of the MOS transistor 4 by the conduction of the MOS transistor 10. Applied as a bias. Therefore, at this time, the MOS transistors 3 and 4 shift in the direction in which the threshold value V TH thereof increases due to the substrate bias effect, and the cutoff effect is enhanced.

【0012】このように回路構成されるアナログスイッ
チにおいて、本実施例では、その回路のMOSトランジ
スタ3、4、7〜12の各々の基板を他から独立させた
構造とする。これは、図3に示すように、例えばP形の
MOSトランジスタ3、7〜9については、P形のサブ
ストレート20の上面にN形のエピタキシャル層21を
形成し、そのエピタキシャル層21内にそのMOSトラ
ンジスタ3、7〜9を直接形成して、その部分を他から
アイソレーション領域22により分離する。また、N形
のMOSトランジスタ4、10〜12については、エピ
タキシャル層21のなかにP形のウエル23を形成し
て、このウエル23の中にそのMOSトランジスタ4、
10〜12を形成しこれもアイソレーション領域22に
より他から分離するような構造で実現できる。このよう
な構造は、バイポーラトランジスタとMOSトランジス
タの両者を同一サブスレート上に作り込む半導体装置に
おいて知られている。
In the analog switch having such a circuit structure, in this embodiment, the substrate of each of the MOS transistors 3, 4, 7 to 12 of the circuit is made independent from the other. As shown in FIG. 3, for P-type MOS transistors 3 and 7 to 9, for example, an N-type epitaxial layer 21 is formed on the upper surface of a P-type substrate 20, and the N-type epitaxial layer 21 is formed in the epitaxial layer 21. The MOS transistors 3 and 7 to 9 are directly formed, and the portion is separated from others by the isolation region 22. For the N-type MOS transistors 4, 10 to 12, a P-type well 23 is formed in the epitaxial layer 21, and the MOS transistor 4,
10 to 12 can be formed, and this can also be realized by a structure in which the isolation region 22 separates it from the others. Such a structure is known in a semiconductor device in which both a bipolar transistor and a MOS transistor are formed on the same substrate.

【0013】このように、各MOSトランジスタを独立
させることにより、その基板(P形MOSトランジスタ
ではアイソレーション領域22で囲まれた領域、N形M
OSトランジスタではウエル23)に、他から独立して
バイアスを印加することができる。
In this way, by making each MOS transistor independent, its substrate (in the P-type MOS transistor, the region surrounded by the isolation region 22, the N-type M) is formed.
In the OS transistor, a bias can be applied to the well 23) independently of others.

【0014】また本実施例ではP形MOSトランジスタ
3、7〜9の閾値VTHを、−0.1〜−0.4vのよう
に通常よりも小さく設定し、N形MOSトランジスタ
4、10〜12の閾値VTHも、0.1〜0.4vのよう
に同様に小さく設定する。
Further, in this embodiment, the threshold value V TH of the P-type MOS transistors 3 and 7 to 9 is set smaller than usual, such as -0.1 to -0.4v, and the N-type MOS transistors 4 and 10 are set. The threshold value V TH of 12 is also set small like 0.1 to 0.4 v.

【0015】これによって、これらMOSトランジスタ
を導通させるためのゲート・ソース間電圧VGSがその低
い閾値VTHの電圧だけあれば足りるので、電源電圧が低
下(例えば0.6v程度)しても、それらMOSトラン
ジスタを十分に導通さて、その時の内部抵抗を極めて小
さくできる。
As a result, the gate-source voltage V GS for making these MOS transistors conductive only needs to be the voltage of the low threshold value V TH , so that even if the power supply voltage drops (for example, about 0.6 V), The MOS transistors can be made sufficiently conductive and the internal resistance at that time can be made extremely small.

【0016】また、本実施例ではこれらMOSトランジ
スタを構成する基板の濃度(P形MOSトランジスタで
はエピタキシャル層21の不純物濃度、N形MOSトラ
ンジスタではウエル23の不純物濃度)を通常よりも高
くして、基板バイアス効果を示すパラメータγ値を、通
常ではγ<0.6であるところを、0.8<γ<1.5
程度に大きく設定する。
Further, in this embodiment, the concentration of the substrate forming these MOS transistors (the impurity concentration of the epitaxial layer 21 in the P-type MOS transistor, the impurity concentration of the well 23 in the N-type MOS transistor) is set higher than usual, The parameter γ value indicating the substrate bias effect is 0.8 <γ <1.5 when normally γ <0.6.
Set it to a large value.

【0017】これによって、MOSトランジスタ7、1
0が導通して電源電圧Vdd、Vssが印加する基板バイア
ス時には、各MOSトランジスタの閾値VTHがその絶体
値が大きくなる方向に従来(γ<0.6のとき)よりも
大きくシフトするので、閾値VTHが実質的に大幅に大き
くなり、導通しにくくなる。つまり、遮断時の内部抵抗
が大きくなり、リーク電流が小さくなる。γの下限の値
「0.8」は基板バイアス効果が顕著となり始める値で
あり、上限の「1.5」はプロセス上及び導通時の抵抗
の許容値から決定した。
As a result, the MOS transistors 7, 1
When 0 is conducted and the power supply voltages V dd and V ss are applied to the substrate bias, the threshold value V TH of each MOS transistor is shifted to a larger value than before (when γ <0.6). As a result, the threshold value V TH becomes substantially large and it becomes difficult to conduct electricity. That is, the internal resistance at the time of interruption becomes large, and the leak current becomes small. The lower limit value of γ, “0.8”, is a value at which the substrate bias effect begins to become remarkable, and the upper limit, “1.5”, was determined from the allowable value of resistance in the process and during conduction.

【0018】ここで、上記したVTHとγの関係について
述べる。P型MOSトランジスタ3については、次の式
1の関係を、またN型MOSトランジスタ4については
次の式2の関係を持たせる。 VTP<VTP(SW)≦VTP+γP ([Vdd/2]+2φfP1/ 2 ・・・(1) VTN−γN ([Vdd/2]+2φfN1/ 2 ≦VTN(SW)<VTN ・・・(2)
Now, the relationship between V TH and γ described above will be described. The P-type MOS transistor 3 has the relationship of the following expression 1, and the N-type MOS transistor 4 has the relationship of the following expression 2. V TP <V TP (SW) ≦ V TP + γ P ([V dd / 2] + 2φ fP) 1/2 ··· (1) V TN -γ N ([V dd / 2] + 2φ fN) 1/2 ≤ V TN (SW) <V TN (2)

【0019】 VTP :P型MOSトランジスタ7〜9のVTHTP(SW):P型MOSトランジスタ3のVTH γP :P型MOSトランジスタ3のγ φfP :P型MOSトランジスタ3のフェルミレベル VTN :N型MOSトランジスタ10〜12のVTHTN(SW):N型MOSトランジスタ4のVTH γN :N型MOSトランジスタ4のγ φfN :N型MOSトランジスタ4のフェルミレベル Vdd :電源電圧V TP : V TH of the P-type MOS transistors 7 to 9 V TP (SW) : V TH of the P-type MOS transistor 3 γ P : γ φ fP of the P-type MOS transistor 3 Fermi of the P-type MOS transistor 3 level V TN: N-type MOS transistor 10~12 V TH V TN (SW) : V TH of the N-type MOS transistor 4 gamma N: gamma of N-type MOS transistor 4 phi fN: Fermi level of the N-type MOS transistor 4 V dd : Power supply voltage

【0020】式(1)における「γP ([Vdd/2]+
2φfP1/ 2 」は、基板バイアス効果によるVTHのシフ
ト量を示す。よって、VTP(SW)を式1の範囲になるよう
に予め設定しておけば基板バイアス効果が働いている時
のVTP(SW)の見掛け上のVTHはVTP以上になることはな
く良好に動作する。γP とVTP(SW)はこの範囲に設定す
る。以上は式(2)についても同様である。
In equation (1), "γ P ([V dd / 2] +
fP) 1/2 "indicates a shift amount of V TH due to the substrate bias effect. Therefore, if V TP (SW) is set in advance so as to fall within the range of Equation 1, the apparent V TH of V TP (SW) when the substrate bias effect is working will be more than V TP. Works well without. γ P and V TP (SW) are set in this range. The above also applies to the equation (2).

【0021】アナログスイッチが導通のときは、基板バ
イアス効果がほとんど働かないので、VTP(SW)>VTP
TN(SW)<VTNとなり、内部抵抗を小さくできる。ま
た、アナログスイッチが遮断のときは、基板バイアス効
果が働き、VTP(SW)〜VTP、VTN(SW)〜VTNとなり、リ
ーク電流を小さく抑えることができる。
When the analog switch is conducting, the substrate bias effect hardly acts, so V TP (SW) > V TP ,
Since V TN (SW) <V TN , the internal resistance can be reduced. Further, when the analog switch is cut off, the substrate bias effect works, resulting in V TP (SW) to V TP and V TN (SW) to V TN , and the leak current can be suppressed small.

【0022】なお、図3ではサブストレート20にP形
を使用したが、N形のものを使用することもでき、この
ときはN形のMOSトランジスタをP形エピタキシャル
層内に形成し、P形のMOSトランジスタをN形ウエル
内に形成することになる。
Although the P type is used for the substrate 20 in FIG. 3, it is also possible to use the N type, and in this case, an N type MOS transistor is formed in the P type epitaxial layer to form the P type. Will be formed in the N-type well.

【0023】また、上記では各MOSトランジスタをエ
ンハンスメント形とした説明したが、本発明は導通時の
閾値VTHが低いことが重要であるので、デプレッション
形のものとすることもできる。このデプレッション形に
おいても、遮断時は基板バイアス効果によって閾値VTH
が大きくなる方向にシフト(エンハンスメント形にな
る)して、リーク電流が増大することを阻止できる。
In the above description, each MOS transistor has been described as an enhancement type, but in the present invention, it is important that the threshold value V TH at the time of conduction is low, so it may be a depletion type. Even in this depletion type, the threshold V TH is caused by the substrate bias effect at the time of interruption.
It is possible to prevent the leakage current from increasing by shifting (increasing the enhancement type) in the direction of increasing.

【0024】[0024]

【発明の効果】以上から本発明のアナログスイッチによ
れば、導通時には各MOSトランジスタの閾値VTHが小
さくなってデプレッション形又はそれに近い特性になる
ので内部抵抗が小さくなり、逆に遮断時には基板バイア
ス効果によって閾値VTHが実質的に大きくなって内部抵
抗が十分に大きくなるので、電源電圧が低くても、その
スイッチ機能が十分に発揮できるようになる。
As described above, according to the analog switch of the present invention, the threshold voltage V TH of each MOS transistor becomes small at the time of conduction, and the characteristics become a depletion type or a characteristic close to it, so that the internal resistance becomes small. Due to the effect, the threshold value V TH is substantially increased and the internal resistance is sufficiently increased, so that even if the power supply voltage is low, the switch function thereof can be sufficiently exerted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 アナログスイッチの原理的回路図である。FIG. 1 is a principle circuit diagram of an analog switch.

【図2】 本発明を適用したアナログスイッチの回路図
である。
FIG. 2 is a circuit diagram of an analog switch to which the present invention is applied.

【図3】 P形MOSトランジスタとN形MOSトラン
ジスタの基板分離の構造図である。
FIG. 3 is a structural diagram of substrate separation of a P-type MOS transistor and an N-type MOS transistor.

【符号の説明】 1、2:入出力端子、3:P形MOSトランジスタ、
4:N形MOSトランジスタ、5:制御端子、6:イン
バータ、7〜9:P形MOSトランジスタ、10〜1
2:N形MOSトランジスタ。
[Explanation of symbols] 1, 2: Input / output terminals, 3: P-type MOS transistor,
4: N-type MOS transistor, 5: Control terminal, 6: Inverter, 7-9: P-type MOS transistor, 10-1
2: N-type MOS transistor.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 P形MOSトランジスタとN形MOSト
ランジスタを並列接続してなり、上記P形MOSトラン
ジスタの導通時の基板バイアスを零とすると共に遮断時
の基板バイアスを電源電圧Vddとし、上記N形MOSト
ランジスタの導通時の基板バイアスを零とすると共に遮
断時の基板バイアスを電源電圧Vssとするアナログスイ
ッチにおいて、 上記両MOSトランジスタをその閾値を絶体値で0.1
〜0.4vとし又はデプレッション形にすると共に、基
板バイアス効果を表すパラメータγを0.8<γ<1.
5に設定したことを特徴とするアナログスイッチ。
1. A P-type MOS transistor and an N-type MOS transistor are connected in parallel, the substrate bias when the P-type MOS transistor is conductive is set to zero, and the substrate bias when cut off is set to a power supply voltage V dd. In an analog switch in which the substrate bias when the N-type MOS transistor is conductive is set to zero and the substrate bias when cut off is set to the power supply voltage V ss , the threshold values of both the MOS transistors are 0.1 in absolute value.
.About.0.4 v or a depletion type, and a parameter γ representing the substrate bias effect is 0.8 <γ <1.
An analog switch characterized by being set to 5.
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