JPH06167314A - Measuring method of flatness of lead - Google Patents

Measuring method of flatness of lead

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JPH06167314A
JPH06167314A JP196892A JP196892A JPH06167314A JP H06167314 A JPH06167314 A JP H06167314A JP 196892 A JP196892 A JP 196892A JP 196892 A JP196892 A JP 196892A JP H06167314 A JPH06167314 A JP H06167314A
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lead
flatness
screen
image
ccd camera
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智晴 山口
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Abstract

PURPOSE:To prevent the generation of measuring errors to the actual levitating amount of a lead when the lead includes an extreme deformation, e.g. when the lead is inclined or short at the processing time of the binary image of the photographed image of the lead. CONSTITUTION:In order to process a binary image, a binary screen photographed by a CCD camera 20 is divided per line and per pixel in the horizontal direction and vertical direction of a reference surface, respectively, and a [0, 1] evaluation of the screen is carried out (0; a bright point, 1; a dark point). All the bright points (0 evaluation) to an end of the lead, that is, all the bright points at a part of the screen where the lead is present are counted, which is multiplied by the resolution of the CCD camera 20 thereby to calculate the levitating amount of the lead. Moreover, a binary search algorithm with a back track function added is used for an operating means at this time, and therefore, errors when the levitating amount, the flatness of the lead are measured are prevented. At the same time, output data of the levitating amount of each lead corresponding to the lead No. can be obtained.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、表面実装型集積回路パ
ッケージ(以下、S・M・Dと称す)のリード平坦度測
定法に関し、特に画像処理技術とバックトラック機能を
有するバイナリサーチアルゴリズムでの演算手段とを用
いたリード平坦度測定法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead flatness measuring method for a surface mount type integrated circuit package (hereinafter referred to as SMD), and more particularly to a binary search algorithm having an image processing technique and a backtrack function. The present invention relates to a lead flatness measuring method using the above-mentioned calculating means.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、S・M・D4のリード平坦度を測
定する際、S・M・D4の側面を二次元CCDカメラ5
で撮像して得られた画像は図7に示すように水平スキャ
ン部13,垂直プロファイルカウンタ21,平坦度算出
部22より構成されたシステムCPU11bで、図8に
示すアルゴリズムによって処理され出力される。
2. Description of the Related Art Conventionally, when measuring the lead flatness of S / M / D4, the side surface of S / M / D4 is measured by a two-dimensional CCD camera 5.
The image obtained by capturing the image is processed by the system CPU 11b including the horizontal scanning unit 13, the vertical profile counter 21 and the flatness calculating unit 22 as shown in FIG.

【0003】先ず、水平スキャン部13が二値化メモリ
9中にS・M・D4底面付近を想定して、CPU14に
より予め設けられたリードスキャンライン23に従って
左から右へ同ライン上の各画素の明暗を識別しながら水
平スキャニングを進める。明点から暗点に変化した画素
より、暗点が再び明点に変化するまでの連続区間をリー
ドと認識する。ここで、水平スキャン部13がリードと
認識した区間で、垂直プロファイルカウンタ部21が、
リードスキャンライン23より下方向にある同列の全画
素を垂直スキャンして、図9に示すようにスキャン過程
(点線)の全明点数をカウントし、その計数結果と垂直
スキャンの出発点であるリードスキャンライン23上の
画素を二値化メモリ9中の座標に変換し、メモリ部12
中のデータセルに記憶させ、平坦度算出部22がデータ
セルに記憶された数値データより、連続する全明点数の
最小値即ちリードの浮き量が確定する。平坦度算出部2
2はメモリ部12内に記憶された全データの中から最大
値を検索し、該S・M・D4のリード平坦度とする。こ
の結果をCPU14に転送し、CPU14は平坦度算出
部22から転送された全データに於て、予め記憶された
二次元CCDカメラ5の分解能を乗じ実数変換すると共
に、変換された実数値を予め記憶されたリード平坦度の
規格に対して合否判定(規格以内を合格)を行い、結果
をI/O10を介してCRT15に表示していた。
First, assuming that the horizontal scanning section 13 is near the bottom of the S, M, and D4 in the binarized memory 9, each pixel on the same line is read from left to right in accordance with a read scan line 23 previously provided by the CPU 14. Progress the horizontal scanning while distinguishing the light and darkness of. From the pixels that have changed from the bright point to the dark point, the continuous section until the dark point changes to the bright point again is recognized as a lead. Here, in the section that the horizontal scanning unit 13 recognizes as read, the vertical profile counter unit 21
All pixels in the same column below the read scan line 23 are vertically scanned, and the total number of bright points in the scanning process (dotted line) is counted as shown in FIG. 9, and the counting result and the read start point of vertical scanning are read. The pixels on the scan line 23 are converted into coordinates in the binarization memory 9, and the memory unit 12
The flatness calculation unit 22 determines the minimum value of all the number of continuous bright points, that is, the floating amount of the lead, based on the numerical data stored in the data cell. Flatness calculation unit 2
Reference numeral 2 retrieves the maximum value from all the data stored in the memory unit 12 and sets it as the read flatness of the S, M, D4. The result is transferred to the CPU 14, and the CPU 14 multiplies all the data transferred from the flatness calculation unit 22 by the resolution of the two-dimensional CCD camera 5 stored in advance, and converts the converted real value in advance. A pass / fail judgment (passing within the standard) was made with respect to the stored standard of the lead flatness, and the result was displayed on the CRT 15 via the I / O 10.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来の画像処理手段だ
と、二値化画像でリード平坦度を求める際図9A,B,
Cに示すようにリードが極端に変形している(傾いてい
る図9A,C、又は短い図9B)場合、傾いたリード
A,Cは、水平方向のリードスキャンライン23でリー
ドの存在が認識されると垂直プロファイルカウンタ21
は、水平リードスキャンライン23によりリードが存在
すると認識された区間で、リードの有無を検索し、該リ
ード側面から基準面26までの全明点数をカウントする
ため、実際のリード浮き量に対し大きいという問題があ
る。(図9 25部参照)また短いリードBは、水平方
向のリードスキャンライン23でリードを認識できな
い。
With the conventional image processing means, when the lead flatness is obtained from the binarized image, as shown in FIGS.
When the lead is extremely deformed as shown in C (inclined FIG. 9A, C, or short in FIG. 9B), the inclined lead A, C recognizes the presence of the lead in the horizontal read scan line 23. Vertical profile counter 21
Is larger than the actual lead floating amount because the presence or absence of the lead is searched for in the section where the lead is recognized by the horizontal lead scan line 23 and the total number of bright points from the side surface of the lead to the reference plane 26 is counted. There is a problem. Further, the short lead B cannot be recognized by the horizontal read scan line 23.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、画像処理手段
としてS・M・D4側面をCCDカメラ5、又は20に
より撮像した画面の基準面26水平方向に行単位、垂直
方向に1画素単位で分割(図2 16の水平並列線)し
てリードを認識する手段と、該認識されたリード部分を
数値データ化する手段と、データ演算処理手段にバック
トラック機能を持つバイナリサーチアルゴリズムを有し
ている。
According to the present invention, as an image processing means, the side surface of the S, M, and D4 is picked up by the CCD camera 5 or 20, and the reference plane 26 of the screen is horizontally line by row and vertically by pixel unit. And a means for recognizing leads by dividing (horizontal parallel lines in FIG. 216) with each other, a means for converting the recognized lead portions into numerical data, and a binary search algorithm having a backtrack function in the data operation processing means. ing.

【0006】[0006]

【実施例】次に、本発明を図面を参照して説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

【0007】図1は、本発明のリード平坦測定法を具体
化したS・M・Dリード平坦度測定装置のシステム構成
図、図2及び図3は、S・M・D4の側面を一次元CC
Dカメラ20で撮像し、二値化メモリ9及びシステムC
PU11aで二値化処理された二値化画像のCRT15
画面表示図、図4は、該バックトラック機能によって処
理された測定データ処理過程のツリー表示図、図5は、
図4の処理過程を説明したフローチャートである。
FIG. 1 is a system configuration diagram of an S / M / D lead flatness measuring apparatus which embodies the lead flatness measuring method of the present invention, and FIGS. 2 and 3 show one-dimensional side views of S / M / D4. CC
The image is captured by the D camera 20, and the binarization memory 9 and the system C are used.
CRT 15 of binarized image binarized by PU 11a
A screen display diagram, FIG. 4 is a tree display diagram of a measurement data processing process processed by the backtrack function, and FIG.
5 is a flowchart illustrating a process of FIG. 4.

【0008】被測定S・M・D4は測定ステージ2上に
設けた乳白色樹脂突起部3にモールド部側面とリード内
面に沿わせて位置決めされ、該測定ステージ2下方から
光源1より発せられる光を乳白色樹脂突起部3にて拡散
させた後照射することで、一次元CCDカメラ20に該
S・M・D4のリード影像を投影する。一次元CCDカ
メラ20は投影された影像を取り込んで映像信号に変換
する。該映像信号は、AMP6で増幅され、A/D7で
デジタル化された後一旦フレームメモリ8に記憶され、
CPU14内に記憶された二値化レベルと比較して
[0,1]に二値化され(0;明点,1;暗点)、二値
化メモリ9に記憶される。一次元CCDカメラ20a,
20b,20c,20d,20e,20f,20g,2
0hの計8台を、パルスモータコントローラ24a,2
4b,24c,24d,24e,24f,24g,24
hによりリードの存在範囲分だけステップアップしなが
ら逐次二値化メモリ9にリード影像を蓄積していく。該
蓄積されたリード影像の二値化データに対し、水平スキ
ャン部13は基準面26と垂直に1画素単位ずつステッ
プアップさせて水平スキャン部13で[0,1]判定に
よりリードの有無を確認し、0判定即ち明点部から1判
定即ちリードが存在する(リード先端)までの全明点数
即ち浮き量をカウントする。CPU14は水平スキャン
部13のカウント結果に予め記憶された一次元CCDカ
メラ20の分解能を乗じてリード浮きの値を算出する。
The S, M, and D4 to be measured are positioned on the milky-white resin protrusion 3 provided on the measuring stage 2 along the side surface of the mold and the inner surface of the lead, and the light emitted from the light source 1 from below the measuring stage 2 is measured. By irradiating after diffusing at the milky-white resin protrusion portion 3, the lead image of the S, M, and D4 is projected on the one-dimensional CCD camera 20. The one-dimensional CCD camera 20 takes in the projected image and converts it into a video signal. The video signal is amplified by AMP6, digitized by A / D7, and then temporarily stored in the frame memory 8,
The binarization level stored in the CPU 14 is compared to be binarized to [0, 1] (0; bright point, 1; dark point) and stored in the binarization memory 9. One-dimensional CCD camera 20a,
20b, 20c, 20d, 20e, 20f, 20g, 2
A total of 8 units of 0h are used as pulse motor controllers 24a, 2
4b, 24c, 24d, 24e, 24f, 24g, 24
The lead image is successively accumulated in the binarization memory 9 while stepping up by the range of existence of the lead by h. For the binarized data of the stored lead image, the horizontal scanning unit 13 steps up vertically by one pixel unit with respect to the reference plane 26, and the horizontal scanning unit 13 confirms whether or not there is a lead by [0, 1] determination. Then, the total number of bright points, that is, the floating amount from the 0 determination, that is, the bright point portion to the 1 determination, that is, the presence of the lead (lead tip) is counted. The CPU 14 multiplies the count result of the horizontal scanning unit 13 by the resolution of the one-dimensional CCD camera 20 stored in advance to calculate the lead floating value.

【0009】図3は該バックトラック機能を説明するた
めの図で、図4は該バックトラック機能の処理による結
果を示したツリー図である。図5は図4結果を求める際
のバックトラック機能のフローチャートである。
FIG. 3 is a diagram for explaining the backtrack function, and FIG. 4 is a tree diagram showing the result of the processing of the backtrack function. FIG. 5 is a flow chart of the backtrack function when obtaining the result of FIG.

【0010】前述のリード影像の画像処理方法に従い、
最初に二値化画面中最小のリード浮き量であるl5が検
出される。CPU14はメモリ部12のセンターアドレ
スに、l5を検出した時の基準面26からの水平ステッ
プ数を記憶する該最小浮き量であるリードl5を基準
に、リードが処理された同画面左側をサーチする。その
サーチした中で最小のリード浮き量l1を検出し、この
時の水平ステップ数をメモリ部12内、l5のデータの
左アドレスに記憶する。次にここで検出された該リード
l1の左側をサーチする。基準とした最小の浮き量リー
ドl1の同画面左側にはリードは無いので、同画面右側
のリードを検索する。するとサーチ中で最も小さいl3
のリードが検出される。l3のリードの浮き量はl1の
右アドレスに記憶される。次に該l3を基準として左側
をサーチするとl2が検出され、l3の左アドレスに記
憶される。l2リードの左右側をサーチしてもリードは
なく、l3を基準とした左側には未測定リードはなくな
り、次に右側をサーチするとl4が検出され、l3リー
ド右アドレスに記憶される。l4からは右も左もリード
が無いので最初に基準のリードとしたl5に戻る。ここ
でl5を基準に右側をサーチする。以後同様に、サーチ
中最小の浮き量と判定されたリードを基準にS・M・D
4の二値化画面、左側をサーチする。該サーチ中最小の
浮き量のリードを検出すると、リードを基準に同画面左
側をサーチし、未測定リードがなくなれば右側をサーチ
する。以下、この繰り返しで処理され、この処理結果を
示した図が図4である。この画像処理は、どのリードが
どのような浮き量であっても前述の処理手段により、S
・M・D4のリードNoは取り込んだリード影像の左側
から数えた順番と一致する。規格に対するデバイスの合
否判定(規格以内を合格)はリード平坦度で判断され
る。リード平坦度は上記処理によりリードNoの昇べき
の順に配列し、記憶されたメモリ部12内のデータの中
からCPU14によって最大値が検索され、これを被測
定S・M・D4のリード平坦度として、予め記憶された
合否判定規格と比較することで合否の結果をCRT15
に表示する。
According to the image processing method for the lead image described above,
First, 15 which is the minimum lead floating amount in the binarized screen is detected. The CPU 14 searches the left side of the same screen where the lead is processed based on the lead l5, which is the minimum floating amount that stores the number of horizontal steps from the reference surface 26 when the l5 is detected, in the center address of the memory unit 12. . The minimum lead floating amount l1 in the search is detected, and the horizontal step number at this time is stored in the memory unit 12 at the left address of the data of l5. Next, the left side of the lead l1 detected here is searched. Since there is no lead on the left side of the same screen of the minimum floating amount lead 11 as the reference, the lead on the right side of the same screen is searched. Then the smallest l3 in the search
Lead is detected. The floating amount of the lead of l3 is stored in the right address of l1. Then, when the left side is searched with the l3 as a reference, l2 is detected and stored at the left address of l3. There is no lead even if the left and right sides of the l2 lead are searched, and there is no unmeasured lead on the left side based on l3. When the right side is searched next, l4 is detected and stored at the l3 read right address. Since there is no right or left lead from l4, the process first returns to l5 which is the reference lead. Here, the right side is searched based on l5. After that, similarly, S, M, D based on the lead determined to have the smallest floating amount during the search
Search the left side of the binarization screen of 4. When the lead with the smallest floating amount is detected during the search, the left side of the screen is searched based on the lead, and the right side is searched when there are no unmeasured leads. Hereinafter, FIG. 4 is a diagram showing the processing result obtained by repeating this processing. This image processing is performed by the processing means described above regardless of which lead has any floating amount.
-The lead numbers of M and D4 match the order counted from the left side of the captured lead image. The pass / fail judgment of the device with respect to the standard (passing within the standard) is judged by the lead flatness. The read flatness is arranged in the ascending order of the read numbers by the above process, and the maximum value is retrieved by the CPU 14 from the stored data in the memory section 12, and the read flatness of the measured S, M, D4 is measured. As a result, the pass / fail result is compared with the pass / fail judgment standard stored in advance, and
To display.

【0011】図6では、本発明を具現化するシステムで
前述の実施例の光学系である一次元CCDカメラを二次
元CCDカメラ5a,5b,5c,5d,5e,5f,
5g,5h計8台を用いた例である。該二次元CCDカ
メラ5により撮像したS・M・D4のリードの二値化画
像はCPU14内に記憶された二値化レベルで処理し、
合否判定と共にCRT15に表示される。
In FIG. 6, in the system embodying the present invention, the one-dimensional CCD camera which is the optical system of the above-mentioned embodiment is replaced with the two-dimensional CCD cameras 5a, 5b, 5c, 5d, 5e, 5f,
This is an example in which a total of 8 units of 5g and 5h are used. The binarized image of the S, M, and D4 leads captured by the two-dimensional CCD camera 5 is processed at the binarized level stored in the CPU 14,
It is displayed on the CRT 15 together with the pass / fail judgment.

【0012】これ以前の測定位置決めの工程、及び二値
化された画像の処理方法といった装置システムの全工程
は前述の実施例と同様であるため割愛する。この結果、
撮像過程で二次元カメラを用いたことによりパルスモー
タコントローラを使わずに済み、該パルスモータのステ
ップ誤差を含まず、更に判定結果の出力時間が短縮され
る。
The steps of measuring and positioning before this and all steps of the apparatus system, such as the method of processing the binarized image, are the same as those in the above-described embodiment, and therefore will be omitted. As a result,
Since the two-dimensional camera is used in the imaging process, the pulse motor controller is not used, the step error of the pulse motor is not included, and the output time of the determination result is further shortened.

【0013】[0013]

【発明の効果】本発明は、このように水平方向に行単
位、垂直方向に1画素単位のスキャンを行う画像処理手
段とバックトラック機能を付加したバイナリサーチアル
ゴリズムを用いることによりリード浮き量を測定する
際、従来の画像処理手段において誤認識されていた極端
なリード変形(図2A,B,C)の浮き量に於ける誤認
識を解決できる。
As described above, according to the present invention, the lead floating amount is measured by using the image processing means for scanning in the horizontal direction in the unit of row and in the vertical direction in the unit of one pixel and the binary search algorithm added with the backtrack function. In doing so, it is possible to solve the erroneous recognition in the floating amount of the extreme lead deformation (FIGS. 2A, 2B and 2C) which was erroneously recognized in the conventional image processing means.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】リード平坦度測定装置の構成図。FIG. 1 is a configuration diagram of a lead flatness measuring device.

【図2】二次元CCDカメラより得られた2値化画像及
び画素分割図。
FIG. 2 is a binarized image and pixel division diagram obtained by a two-dimensional CCD camera.

【図3】データ処理手段としてのバイナリサーチアルゴ
リズムの説明に用いた二値化画像図。
FIG. 3 is a binarized image diagram used for explaining a binary search algorithm as a data processing unit.

【図4】バイナリサーチアルゴリズムであるバックトラ
ック機能より得られた処理結果図。
FIG. 4 is a processing result diagram obtained by a backtrack function which is a binary search algorithm.

【図5】バックトラック機能のフローチャート図。FIG. 5 is a flowchart of a backtrack function.

【図6】実施例2のリード平坦度測定装置の構成図。FIG. 6 is a configuration diagram of a lead flatness measuring device according to a second embodiment.

【図7】従来のリード平坦度測定装置の構成図。FIG. 7 is a configuration diagram of a conventional lead flatness measuring device.

【図8】従来のリード浮き量フローチャート図。FIG. 8 is a flowchart of a conventional lead floating amount.

【図9】従来の課題となっていた状態を示した図であ
る。
FIG. 9 is a diagram showing a state that has been a conventional problem.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源 2 測定ステージ 3 測定ステージ突起部 4 SMD 5a,b,c,d 二次元CCDカメラ 6 AMP 7 アナログデジタルコンバータ 8 フレームメモリ 9 二値化メモリ 10 I/O 11a,b システムCPU 12 メモリ 13 水平リードスキャンライン 14 CPU 15 CRT 16 画素処理の水平並列線 17 反射鏡 18 レンズ 19 位置決めブロック 20a,b,c,d 一次元CCDカメラ 21 垂直プロファイルカウンタ 22 最大値算出部 23 水平ライン 24a,b,c,d パルスモータコントローラ 25 以前の画像処理手段における誤認識部分 26 基準面 1 light source 2 measurement stage 3 measurement stage protrusion 4 SMD 5a, b, c, d two-dimensional CCD camera 6 AMP 7 analog-digital converter 8 frame memory 9 binary memory 10 I / O 11a, b system CPU 12 memory 13 horizontal Read scan line 14 CPU 15 CRT 16 Horizontal parallel line for pixel processing 17 Reflector 18 Lens 19 Positioning block 20a, b, c, d One-dimensional CCD camera 21 Vertical profile counter 22 Maximum value calculator 23 Horizontal line 24a, b, c , D Pulse motor controller 25 False recognition part in image processing means before 26 26 Reference plane

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【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成4年6月22日[Submission date] June 22, 1992

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0010[Correction target item name] 0010

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0010】前述のリード影像の画像処理方法に従い、
最初に二値化画面中最小のリード浮き量である15が検
出される。CPU14はメモリ部12のセンターアドレ
スに、15を検出した時の基準面26からの水平ステッ
プ数を記憶する該最小浮き量であるリード15を基準
に、リードが処理された同画面左側をサーチする。その
サーチした中で最小の浮き量リード11を検出し、この
時の水平ステップ数をメモリ部12内、15のデータの
左アドレスに記憶する。次にここで検出された該リード
11の左側をサーチする。基準とした最小の浮き量リー
ド11の同画面左側にはリードは無いので、同画面右側
のリードを検索する。するとサーチ中で最も小さい13
のリードが検出される。13のリードの浮き量は11の
右アドレスに記憶される。次に該13を基準として左側
をサーチすると12が検出され、13の左アドレスに記
憶される。12リードの左右側をサーチしてもリードは
なく、13を基準とした左側には未測定リードはなくな
り、次に右側をサーチすると14が検出され、13リー
ド右アドレスに記憶される。14からは右も左もリード
が無いので最初に基準のリードとした15に戻る。ここ
で15を基準に右側をサーチする。以後同様に、サーチ
中最小の浮き量と判定されたリードを基準にS・M・D
4の二値化画面、左側をサーチする。該サーチ中最小の
浮き量のリードを検出すると、リードを基準に同画面左
側をサーチし、未測定リードがなくなれば右側をサーチ
する。以下、この繰り返しで処理され、この処理結果を
示した図が図4である。この画像処理は、どのリードが
どのような浮き量であっても前述の処理手段により、S
・M・D4のリードNoは取り込んだリード影像の左側
から数えた順番と一致する。規格に対するデバイスの合
否判定(規格以内を合格)はリード平坦度で判断され
る。リード平坦度は上記処理によりリードNoの昇べき
の順に配列し、記憶されたメモリ部12内のデータの中
からCPU14によって最大値が検索され、これを被測
定S・M・D4のリード平坦度として、予め記憶された
合否判定規格と比較することで合否の結果をCRT15
に表示する。
According to the image processing method for the lead image described above,
First, the minimum lead floating amount of 15 in the binarized screen is detected. The CPU 14 searches the left side of the same screen where the lead is processed based on the lead 15 which is the minimum floating amount that stores the number of horizontal steps from the reference surface 26 when 15 is detected in the center address of the memory unit 12. . The smallest floating amount lead 11 is detected in the search, and the horizontal step number at this time is stored in the left address of the data of 15 in the memory unit 12. Next, the left side of the lead 11 detected here is searched. Since there is no lead on the left side of the same screen of the minimum floating amount lead 11 as a reference, the lead on the right side of the same screen is searched. Then the smallest 13 in the search
Lead is detected. The floating amount of the lead of 13 is stored in the right address of 11. Next, when the left side is searched with the 13 as a reference, 12 is detected and stored at the left address of 13. There is no lead even if the left and right sides of 12 leads are searched, and there are no unmeasured leads on the left side with reference to 13, and when the right side is searched next, 14 is detected and stored at the 13 lead right address. Since there is no lead on either the right or the left from 14, the procedure first returns to 15, which is the reference lead. Here, the right side is searched based on 15. After that, similarly, S, M, D based on the lead determined to have the smallest floating amount during the search
Search the left side of the binarization screen of 4. When the lead with the smallest floating amount is detected during the search, the left side of the screen is searched based on the lead, and the right side is searched when there are no unmeasured leads. Hereinafter, FIG. 4 is a diagram showing the processing result obtained by repeating this processing. This image processing is performed by the processing means described above regardless of which lead has any floating amount.
-The lead numbers of M and D4 match the order counted from the left side of the captured lead image. The pass / fail judgment of the device with respect to the standard (passing within the standard) is judged by the lead flatness. The read flatness is arranged in the order of increasing the read No by the above processing, and the maximum value is retrieved by the CPU 14 from the stored data in the memory section 12, and this is determined as the read flatness of the measured S / M / D4. As a result, the pass / fail result is compared with the pass / fail judgment standard stored in advance, and
To display.

【手続補正2】[Procedure Amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0013[Correction target item name] 0013

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【0013】[0013]

【発明の効果】本発明は、このように水平方向に行単
位,垂直方向に1画素単位のスキャンを行う画像処理手
段と、バックトラック機能を付加したバイナリサーチア
ルゴリズムを用いることにより、従来の画像処理手段に
おいて、誤認識されていた極端なリード変形(図2A,
B,C)の浮き量に於ける誤認識を解決でき、これによ
り得たデータは、バックトラックを行いながら、表面実
装型集積回路パッケージのリード浮き量を算出し、リー
ド番号の昇べきの順に配列することができる。
As described above, according to the present invention, by using the image processing means for scanning the row unit in the horizontal direction and the pixel unit in the vertical direction and the binary search algorithm with the backtrack function, the conventional image can be obtained. In the processing means, the extreme lead deformation that was erroneously recognized (FIG. 2A,
(B, C) The erroneous recognition of the floating amount can be solved, and the obtained data is used to calculate the lead floating amount of the surface mount type integrated circuit package while backtracking and to increase the lead number in order. Can be arranged.

【手続補正3】[Procedure 3]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図1[Name of item to be corrected] Figure 1

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図1】 [Figure 1]

【手続補正4】[Procedure amendment 4]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】図6[Name of item to be corrected] Figure 6

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図6】 [Figure 6]

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 表面実装型集積回路パッケージのリード
平坦度測定において、該表面実装型集積回路パッケージ
側面を撮像し、得られた画像データを二値化する手段
と、該二値化データを観察してリード部分を認識する手
段と、認識した該リード部分を数値データに置換する手
段と、該数値データの処理手段として、バックトラック
を行いながら前記表面実装型集積回路パッケージの各リ
ードの浮き量及びリード平坦度を算出し、該リードを番
号の昇べき順に配列するバイナリサーチアルゴリズムを
用いることを特徴とするリード平坦度測定方法。
1. In the lead flatness measurement of a surface mounting type integrated circuit package, a means for imaging the side surface of the surface mounting type integrated circuit package and binarizing the obtained image data, and observing the binarized data. Means for recognizing the lead portion, means for replacing the recognized lead portion with numerical data, and means for processing the numerical data, the floating amount of each lead of the surface-mounted integrated circuit package while backtracking. And a lead flatness measuring method which calculates a lead flatness and uses a binary search algorithm for arranging the leads in ascending order of numbers.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104807406A (en) * 2014-01-27 2015-07-29 康耐视公司 System and method for determining 3d surface features and irregularities on an object

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CN104807406A (en) * 2014-01-27 2015-07-29 康耐视公司 System and method for determining 3d surface features and irregularities on an object

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