JPH06166064A - Degassing mechanism for resin sealing mold - Google Patents

Degassing mechanism for resin sealing mold

Info

Publication number
JPH06166064A
JPH06166064A JP34991392A JP34991392A JPH06166064A JP H06166064 A JPH06166064 A JP H06166064A JP 34991392 A JP34991392 A JP 34991392A JP 34991392 A JP34991392 A JP 34991392A JP H06166064 A JPH06166064 A JP H06166064A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cavity
gas
resin
pin
semiconductor chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP34991392A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3339711B2 (en
Inventor
Tatsuyoshi Yamaguchi
龍善 山口
Fumio Miyajima
文夫 宮島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Apic Yamada Corp
Original Assignee
Apic Yamada Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Apic Yamada Corp filed Critical Apic Yamada Corp
Priority to JP34991392A priority Critical patent/JP3339711B2/en
Publication of JPH06166064A publication Critical patent/JPH06166064A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3339711B2 publication Critical patent/JP3339711B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To properly escape the residual gas in a cavity at resin sealing and make suitable resin sealing molding possible even when the thin packaging and the like of a semiconductor device is concerned. CONSTITUTION:When resin sealing is performed under the condition that a semiconductor chip 18 placed on a lead frame 16 is positioned in a cavity formed by an upper and a lower mold inserts 10 and 12, in the degassing mechanism of a resin sealing mold for escaping the gas in the cavity 14, degassing mechanisms 22 and 24, which communicate with open air, are provided at the sites of mold inserts opposite to the plane of the semiconductor chip 18 positioned in the cavity 14.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、樹脂封止金型のガス抜
き機構に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a gas releasing mechanism for a resin-sealed mold.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体チップを樹脂封止する樹脂
封止金型において、キャビティ内のガスを抜くための排
気口(エアベント)は、金型の上下の分割面(パーティ
ング面)に設けられていた。すなわち、このエアベント
は、樹脂封止金型において、半導体チップ平面に対して
水平方向で、パッケージ厚み方向の略中央でパッケージ
の側面に接する位置に設けられていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a resin-sealed mold for sealing a semiconductor chip with a resin, an exhaust port (air vent) for venting gas in a cavity is provided on upper and lower split surfaces (parting surfaces) of the mold. It was being done. That is, the air vent is provided in the resin-sealing mold in a position that is in contact with the side surface of the package in the horizontal direction with respect to the plane of the semiconductor chip and at substantially the center in the package thickness direction.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、最近の
ように、半導体装置等のパッケージが薄くなり、パッケ
ージの全厚みに対するチップ及び放熱板の厚みの占める
比率が高まると、従来のエアベントではキャビティ内の
ガスを好適に排気することが難しくなる。その状況を図
7及び図8と共に説明する。図7に示すように、キャビ
ティ60内の中央部にチップが位置され、ゲート61に
対向する位置にエアベント62が設けられている場合
は、先ず溶融樹脂の流動抵抗の小さい両側部から、図7
(A)、図7(B)に示すように樹脂が回り込んで、エ
アベント62を塞ぐ。これにより、図7(C)に示すよ
うに、半導体チップ平面の中央部63にガスが排気され
ずに残留し、次に図7(D)に示すようにその残留ガス
が樹脂封止の圧力(最終圧)によって圧縮された状態と
なる。
However, when the package of a semiconductor device or the like is thinned and the ratio of the thickness of the chip and the heat dissipation plate to the total thickness of the package is increased as in the recent years, the conventional air vent has It becomes difficult to evacuate the gas properly. The situation will be described with reference to FIGS. 7 and 8. As shown in FIG. 7, when the chip is located in the central portion of the cavity 60 and the air vent 62 is provided at a position facing the gate 61, first, from both side portions where the flow resistance of the molten resin is small, FIG.
As shown in FIGS. 7A and 7B, the resin wraps around and closes the air vent 62. As a result, as shown in FIG. 7C, the gas remains in the central portion 63 of the semiconductor chip plane without being exhausted. Then, as shown in FIG. It becomes a state of being compressed by (final pressure).

【0004】図8はQFP(クワッド・フラット・パッ
ケージ)型の半導体装置の樹脂モールドの状況を示す。
このキャビティ70では一つのゲート71に対して三方
向にエアベントが形成されているが、図7の場合と同様
に先ず溶融樹脂の流動抵抗の小さい外周部から、溶融樹
脂が回り込んでエアベント72を塞ぐ(図8(A)、図
9(B))。次に、半導体チップ平面の中央部73にガ
スが残留し、圧縮された状態となる(図8(C)、図8
(D))。このことは、最近の薄型パッケージにおい
て、半導体チップの上下面と金型キャビティ内面との間
隙が極めて狭くなり、その部分では溶融樹脂の流動抵抗
が極端に高くなることから顕著になってきており、成形
条件だけでは対処できない状況となっている。また、半
導体チップや放熱板等の挿入物の表面における樹脂の流
動抵抗が高い場合、半導体チップの平面が大型化した場
合にも、上記と同様にその挿入物の中央部付近にガスが
閉じ込められ易くなる。
FIG. 8 shows a state of resin molding of a QFP (Quad Flat Package) type semiconductor device.
In this cavity 70, air vents are formed in three directions with respect to one gate 71. First, as in the case of FIG. 7, the molten resin first wraps around the air vent 72 from the outer peripheral portion where the flow resistance of the molten resin is small. Block (FIG. 8 (A), FIG. 9 (B)). Next, the gas remains in the central portion 73 of the plane of the semiconductor chip and is in a compressed state (FIG. 8C, FIG.
(D)). This has become remarkable in recent thin packages because the gap between the upper and lower surfaces of the semiconductor chip and the inner surface of the mold cavity becomes extremely narrow, and the flow resistance of the molten resin becomes extremely high in that portion, It is a situation that cannot be dealt with only by molding conditions. Also, if the flow resistance of the resin on the surface of an insert such as a semiconductor chip or heat sink is high, or if the plane of the semiconductor chip becomes large, gas is trapped near the center of the insert in the same way as above. It will be easier.

【0005】上記のようにガスが閉じ込められ、キャビ
ティ内に残留するとパッケージに未充填部が残ったり、
ガスを包み込んだ状態となり、一括ハンダ実装時に破裂
する場合や、経時変化により破壊することがある。ま
た、気孔のある低密度パッケージが成形されたり、ボイ
ドの発生原因となるなどの欠陥が発生する。
When the gas is confined as described above and remains in the cavity, an unfilled portion remains in the package,
It becomes a state that it encloses the gas, and it may burst when soldering all at once, or it may break due to aging. In addition, defects such as forming a low-density package having pores and causing voids occur.

【0006】そこで、本発明の目的は、半導体装置の薄
型パッケージ等についても、樹脂封止の際にキャビティ
内に残留するガスを好適に逃がし、樹脂封止成形を好適
に行うことができる樹脂封止金型のガス抜き機構を提供
することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide a resin encapsulation, which can suitably escape the gas remaining in the cavity at the time of resin encapsulation and can suitably perform resin encapsulation molding, even for a thin package of a semiconductor device or the like. It is to provide a degassing mechanism for a stop die.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は次の構成を備える。すなわち、本発明の樹
脂封止金型のガス抜き機構にかかる第1の構成は、上下
金型インサートにより形成されるキャビティ内にリード
フレームに搭載された半導体チップを位置させて樹脂封
止をする際に、該キャビティ内のガスを抜く樹脂封止金
型のガス抜き機構において、前記キャビティ内に位置さ
れた前記半導体チップの平面に対向する前記金型インサ
ートの部位に大気と連通するようガス抜き機構が設けら
れたことを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention has the following constitution. That is, in the first structure of the gas releasing mechanism of the resin-sealed mold of the present invention, the semiconductor chip mounted on the lead frame is positioned in the cavity formed by the upper and lower mold inserts for resin sealing. At this time, in the degassing mechanism of the resin-sealed mold for degassing the gas in the cavity, degassing is performed so as to communicate with the atmosphere at the part of the mold insert facing the plane of the semiconductor chip located in the cavity. It is characterized in that a mechanism is provided.

【0008】請求項2に対応する第2の構成は、上下金
型インサートにより形成されるキャビティ内にリードフ
レームに搭載された半導体チップを位置させて樹脂封止
をする際に、該キャビティ内のガスを抜く樹脂封止金型
のガス抜き機構において、前記キャビティ内に位置され
た前記半導体チップの平面に対向する前記金型インサー
トの部位に大気と連通するよう設けられた貫通孔に、該
貫通孔との間に微小な隙間を形成するよう貫通孔よりも
外形の小さいガス抜きピンが嵌入されていることを特徴
とする。
According to a second structure corresponding to claim 2, when a semiconductor chip mounted on a lead frame is positioned in a cavity formed by upper and lower mold inserts for resin sealing, In a degassing mechanism of a resin-sealed mold for degassing, a through hole provided so as to communicate with the atmosphere is provided at a portion of the mold insert facing the plane of the semiconductor chip located in the cavity. It is characterized in that a degassing pin having an outer shape smaller than that of the through hole is fitted so as to form a minute gap with the hole.

【0009】上記第2の構成にかかる樹脂封止金型のガ
ス抜き機構において、樹脂封止された半導体装置をキャ
ビティから離型するエジェクタピンの動作に伴って、前
記ガス抜きピンが、該エジェクタピンの動作よりも僅か
に遅れてキャビティ内に突き出すよう往復動自在に設け
られることによって、半導体チップを損傷することな
く、ガス抜き機構を好適に復帰させることができる。さ
らに、前記ガス抜きピンに鍔部を設け、該ガス抜きピン
の鍔部が金型インサートを保持するチェイスに設けられ
た貫通孔内に位置され、前記鍔部に当接してガス抜きピ
ンが抜け出ることを規制するカバープレートが前記チェ
イスの外面に固定されることにより、該ガス抜きピンの
先端面をキャビティ内面と好適に一致させることができ
る。また、上記樹脂封止金型のガス抜き機構において、
樹脂封止された半導体装置をキャビティから離型するエ
ジェクタピンが、キャビティ内に位置された前記半導体
チップの平面に対向しない金型インサートの部位に設け
られた貫通孔に嵌入されていることにより、半導体チッ
プに損傷を与えないと共にキャビティ内からガスを好適
に排出することができる。
In the degassing mechanism of the resin-sealed mold according to the above-mentioned second structure, the gas-releasing pin causes the ejector pin to move along with the operation of the ejector pin for releasing the resin-sealed semiconductor device from the cavity. The degassing mechanism can be suitably restored without damaging the semiconductor chip by being provided so as to reciprocate so as to project into the cavity slightly later than the operation of the pin. Further, a flange portion is provided on the gas vent pin, and the flange portion of the gas vent pin is located in a through hole provided in a chase holding the mold insert, and comes into contact with the flange portion to come out of the gas vent pin. By fixing the cover plate for restricting the above to the outer surface of the chase, the tip end surface of the gas vent pin can be made to preferably coincide with the inner surface of the cavity. Further, in the degassing mechanism of the resin sealing mold,
The ejector pin for releasing the resin-sealed semiconductor device from the cavity is fitted in the through hole provided in the portion of the mold insert that does not face the plane of the semiconductor chip located in the cavity, The gas can be suitably discharged from the cavity without damaging the semiconductor chip.

【0010】請求項6に対応する第3の構成は、上下金
型インサートにより形成されるキャビティ内にリードフ
レームに搭載された半導体チップを位置させて樹脂封止
をする際に、該キャビティ内のガスを抜く樹脂封止金型
のガス抜き機構において、前記キャビティ内に位置され
た前記半導体チップの平面に対向する前記金型インサー
トの部位に大気と連通するよう設けられた貫通孔に、気
孔性金属により成形されたピン状部材を嵌入したこと特
徴とする。
According to a third structure corresponding to claim 6, when a semiconductor chip mounted on a lead frame is positioned in a cavity formed by upper and lower mold inserts for resin sealing, In a gas release mechanism of a resin-sealed mold for removing gas, a porosity is provided in a through hole provided so as to communicate with the atmosphere at a portion of the mold insert facing the plane of the semiconductor chip located in the cavity. It is characterized in that a pin-shaped member formed of metal is fitted.

【0011】請求項7に対応する第4の構成は、上下金
型インサートにより形成されるキャビティ内にリードフ
レームに搭載された半導体チップを位置させて樹脂封止
をする際に、該キャビティ内のガスを抜く樹脂封止金型
のガス抜き機構において、前記キャビティ内に位置され
た前記半導体チップの平面に対向する前記金型インサー
トの部位に大気と連通するよう設けられた貫通孔に、先
端部にガス溜め部が形成されたピン状部材を嵌入したこ
と特徴とする。
According to a fourth structure corresponding to claim 7, when a semiconductor chip mounted on a lead frame is positioned in a cavity formed by upper and lower mold inserts for resin sealing, In a gas release mechanism of a resin-sealed die for releasing gas, a tip portion is provided in a through hole provided so as to communicate with the atmosphere at a portion of the die insert facing a plane of the semiconductor chip located in the cavity. It is characterized in that a pin-shaped member having a gas reservoir portion is fitted in.

【0012】[0012]

【作用】本発明の樹脂封止金型のガス抜き機構の第1の
構成によれば、半導体装置の薄型パッケージ等について
も、樹脂封止の際にキャビティ内の中央部付近に残留す
るガスを好適に逃がし、樹脂封止成形を好適に行うこと
ができる。第2の構成によれば、金型インサートの貫通
孔に、該貫通孔との間に微小な隙間を形成するよう貫通
孔よりも外形の小さいガス抜きピンが嵌入されるため、
半導体チップの平面部に対向するキャビティ内に溜まる
ガスは、該貫通孔とガス抜きピンとの隙間を通って好適
に排出される。
According to the first structure of the gas releasing mechanism for the resin-sealing die of the present invention, even in a thin package of a semiconductor device, the gas remaining in the vicinity of the center of the cavity during resin sealing is eliminated. It is possible to suitably escape, and it is possible to suitably perform resin sealing molding. According to the second configuration, a gas vent pin having a smaller outer shape than the through hole is fitted into the through hole of the mold insert so as to form a minute gap between the through hole and the through hole.
The gas accumulated in the cavity facing the flat portion of the semiconductor chip is suitably discharged through the gap between the through hole and the gas vent pin.

【0013】また、気孔性のある金属により形成された
ピン状部材によれば、キャビティ内のガスを積極的に排
出できる。さらに、ピン状部材にガスが溜まる部分を積
極的に設けることによっても、樹脂封止成形に悪影響が
ないように、キャビティ内に残留するガスを好適に逃が
すことができる。
Further, the pin-shaped member formed of a porous metal can positively discharge the gas in the cavity. Further, even if the pin-shaped member is positively provided with a portion for collecting gas, the gas remaining in the cavity can be suitably released so as not to adversely affect the resin molding.

【0014】[0014]

【実施例】以下、本発明の好適な実施例を添付図面に基
づいて詳細に説明する。図1は本発明にかかる樹脂封止
金型のガス抜き機構の一実施例を示す断面図、図2はガ
ス抜きピンの設置状態を示す断面図、図3は金型のイン
サートの表面においてガス抜きピンとエジャクタピンと
の位置関係を示す平面図である。図1の実施例はトラン
スファモールド金型の要部を示しており、10は上型イ
ンサートであり、12は下型インサートである。この上
下の金型インサートによってキャビティ14が形成され
ており、このキャビティ14内にリードフレーム16に
搭載された半導体チップ18が位置される。そして、ポ
ット内の溶融樹脂が、プランジャによってゲート20を
介してキャビティ16内に押し込まれて、樹脂封止半導
体装置が成形されるのである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A preferred embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view showing an embodiment of a gas release mechanism for a resin-sealed mold according to the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view showing the installation state of a gas release pin, and FIG. 3 is a view showing gas on the surface of a mold insert. It is a top view which shows the positional relationship between a removal pin and an ejector pin. The embodiment of FIG. 1 shows a main part of a transfer mold, where 10 is an upper mold insert and 12 is a lower mold insert. A cavity 14 is formed by the upper and lower mold inserts, and the semiconductor chip 18 mounted on the lead frame 16 is located in the cavity 14. Then, the molten resin in the pot is pushed into the cavity 16 via the gate 20 by the plunger, and the resin-sealed semiconductor device is molded.

【0015】22は貫通孔であり、上記キャビティ16
内に位置された半導体チップ18の平面の表裏両面に対
向する上下各々の金型インサート10、12の部位に大
気と連通するよう設けられている。そして、この貫通孔
22との間に微小な隙間を形成するよう該貫通孔22よ
りも外形の小さいガス抜きピン24が嵌入されている。
なお、この貫通孔22とガス抜きピン24とのクリアラ
ンスは、高圧空気が流通するのであるから、該貫通孔を
ガス抜きピンが自由に摺動できる程度に僅かなもので十
分である。また、上記ガス抜きピン24が嵌入された貫
通孔22は、図3に示すように、ガスが残留し易いキャ
ビティ面の略中央部に対応する金型インサートの部位に
設けられており、これにより、貫通孔22とガス抜きピ
ン24との僅かなクリアランスを通過して残留空気が好
適に排出されるのである。
Reference numeral 22 denotes a through hole, which is the cavity 16
It is provided so as to communicate with the atmosphere at the upper and lower mold inserts 10, 12 facing the front and back surfaces of the plane of the semiconductor chip 18 located therein. Then, a gas vent pin 24 having an outer shape smaller than that of the through hole 22 is fitted so as to form a minute gap with the through hole 22.
It should be noted that the clearance between the through hole 22 and the gas vent pin 24 is small enough to allow the gas vent pin to slide freely through the through hole because the high pressure air flows therethrough. Further, as shown in FIG. 3, the through hole 22 into which the gas release pin 24 is fitted is provided at a portion of the mold insert corresponding to the substantially central portion of the cavity surface where the gas is likely to remain. The residual air is suitably discharged through the slight clearance between the through hole 22 and the gas vent pin 24.

【0016】このガス抜きピン24の中途部には鍔部2
6が設けられており、この鍔部26が上下の金型インサ
ート10、12を保持する各チェイス28、29に設け
られたチェイスの貫通孔30内に位置されている。そし
て、ガス抜きピン24の先端面が、キャビティ16の内
面と同一面となり、該ガス抜きピン24がチェイス2
8、29から抜け出ることを規制するように、カバープ
レート32がガス抜きピンの鍔部26に当接するべく各
チェイス28、29の外面に固定されている。図2に、
カバープレート32がボルト35によってチェイス28
に好適に固定された状態を示す。なお、図2は、図1の
実施例のA−A断面の一部を示す断面図である。また、
このカバープレート32に貫通されたカバープレートの
貫通孔33にガス抜きピン24の後部が挿嵌された状態
となっており、常時は、スプリング40の付勢力によっ
てガス抜きピン24の後端部が該カバープレート32の
外面から突出している。
A collar portion 2 is provided in the middle of the gas vent pin 24.
6 is provided, and this collar portion 26 is located in a through hole 30 of a chase provided in each chase 28, 29 holding the upper and lower mold inserts 10, 12. Then, the tip end surface of the gas vent pin 24 becomes flush with the inner surface of the cavity 16, and the gas vent pin 24 makes the chase 2
A cover plate 32 is fixed to the outer surface of each chase 28, 29 so as to come into contact with the flange portion 26 of the gas vent pin so as to prevent the chase 28, 29 from coming off. In Figure 2,
The cover plate 32 is chase 28 by bolts 35.
Shows a state in which it is suitably fixed. 2 is a cross-sectional view showing a part of the AA cross section of the embodiment shown in FIG. Also,
The rear portion of the gas vent pin 24 is inserted into the through hole 33 of the cover plate which is penetrated by the cover plate 32, and the rear end portion of the gas vent pin 24 is normally urged by the spring 40. It projects from the outer surface of the cover plate 32.

【0017】このため、上下の金型が相対的に開いた
際、樹脂封止された半導体装置をキャビティ16から離
型するエジェクタピン34の動作に伴って、ガス抜きピ
ン24が、該エジェクタピン34の動作よりも僅かに遅
れてキャビティ16内に突き出す。つまり、エジェクタ
ピン34をリテーナプレート38と共に保持・押圧する
エジェクタピンプレート36が、ガス抜きピン24の後
端面に当接され、その押圧力によって、該ガス抜きピン
24がスプリング40の付勢力に抗して押圧され、その
先端部がキャビティ16内に突出される。このとき、ガ
ス抜きピン24の後端面とエジェクタピンプレート36
との間に隙間があるため、ガス抜きピン24は、エジェ
クタピン34よりも、僅かに遅れて作動する。これによ
り、ガス抜きピン24の動作によりパッケージに対して
衝撃的な押圧力を与えることがなく、半導体チップ18
を損傷する恐れもない。なお、上記エジェクタピン34
は、半導体チップ18を損傷しないように、キャビティ
内に位置された半導体チップ18の平面に対向しない金
型インサート10、12の部位に設けられた貫通孔に嵌
入されている。
Therefore, when the upper and lower molds are relatively opened, the gas vent pin 24 is moved by the operation of the ejector pin 34 for releasing the resin-sealed semiconductor device from the cavity 16. It projects into the cavity 16 slightly later than the operation of 34. That is, the ejector pin plate 36 that holds and presses the ejector pin 34 together with the retainer plate 38 is brought into contact with the rear end surface of the gas vent pin 24, and the pressing force of the ejector pin plate 36 resists the urging force of the spring 40. And is pressed, and the tip end portion is projected into the cavity 16. At this time, the rear end surface of the gas vent pin 24 and the ejector pin plate 36
The degassing pin 24 operates slightly later than the ejector pin 34 because there is a gap between and. As a result, the semiconductor chip 18 is prevented from exerting a shocking pressing force on the package by the operation of the gas vent pin 24.
There is no fear of damaging. The ejector pin 34 is
Is fitted into a through hole provided in a portion of the mold inserts 10 and 12 that does not face the plane of the semiconductor chip 18 located in the cavity so as not to damage the semiconductor chip 18.

【0018】また、エジェクタピン34が金型内に引き
込む際には、その動作に伴ってガス抜きピン24も金型
内に引き込むように作動する。このガス抜きピン24の
往復動によって、ガス抜きピン24の周囲と貫通孔22
との隙間に流れ込んだ樹脂を排除して、次の樹脂封止の
ためにガス抜き機構を、もとの状態へ好適に復帰させる
ことができる。なお、このガス抜きピン24は、樹脂成
形されたパッケージが金型から離型される際に、その中
央で管理範囲以上に撓んだ時だけ、エジェクト力を作用
させ、パッケージの異常な撓みを防止させるという機能
も合わせ持っている。
When the ejector pin 34 is pulled into the die, the gas vent pin 24 is also pulled into the die along with its operation. By the reciprocating movement of the gas vent pin 24, the periphery of the gas vent pin 24 and the through hole 22
It is possible to remove the resin that has flowed into the gap between and, and to suitably return the gas venting mechanism to the original state for the next resin sealing. It should be noted that the gas vent pin 24 exerts an ejecting force only when the resin-molded package is released from the mold and is deflected beyond the control range at the center thereof to prevent abnormal deflection of the package. It also has a function to prevent it.

【0019】さらに、パッケージの表面に、ごく僅かな
痕跡のみしか残さないように、該ガス抜きピン24の先
端面が、キャビティ内面と同一面になるように位置させ
ている。ところで、上記のガス抜きピン24と同様に、
金型インサートの貫通孔に摺動可能に嵌入されたエジェ
クタピン34は、図1に示すように、樹脂モールド時に
その先端を僅かに(0.1mm程度)キャビティ内面か
ら突出させているため、パッケージ表面には、その痕跡
が段差状になって残る。その理由は、エジェクタピン3
4の先端面をキャビティ内面と同一面になるように精度
良くすることが困難であり、パッケージの外表面に凸部
を発生させることは、実装時等において望ましくないた
めである。すなわち、エジェクタピン34では、嵌合取
り付け穴の深さ及びエジェクタピンプレート36とチェ
イス28との間隔を正確に規定することは難しい。ま
た、エジェクタピン34がリテーナプレート38及びエ
ジェクタピンプレート36からなるエジェクタピン34
の保持部と、該保持部とは温度設定の異なるチェイス2
8及び金型インサート10とに亘って配設されている。
これにより、エジェクタピン34に温度分布の偏りがで
き、該エジェクタピン34に歪みが発生する。さらに、
エジェクタピン34はエジェクト用ロッド(不図示)に
よる撓みの影響を受け変形する。このため、エジェクタ
ピン34の先端面をキャビティ内面と同一とすることが
困難であり、キャビティ内側に突出させざるを得なかっ
たのである。
Further, the tip end surface of the gas vent pin 24 is positioned so as to be flush with the inner surface of the cavity so that only a very slight trace is left on the surface of the package. By the way, like the gas vent pin 24,
As shown in FIG. 1, the ejector pin 34 slidably fitted in the through hole of the mold insert has its tip slightly (about 0.1 mm) projected from the inner surface of the cavity during resin molding. On the surface, the traces remain in the form of steps. The reason is ejector pin 3
This is because it is difficult to make the front end surface of No. 4 the same as the inner surface of the cavity with high precision, and it is not desirable to form a convex portion on the outer surface of the package during mounting or the like. That is, it is difficult for the ejector pin 34 to accurately define the depth of the fitting mounting hole and the distance between the ejector pin plate 36 and the chase 28. Further, the ejector pin 34 includes the retainer plate 38 and the ejector pin plate 36.
Holding section and chase 2 having different temperature settings from the holding section
8 and the mold insert 10.
As a result, the temperature distribution of the ejector pin 34 is biased, and the ejector pin 34 is distorted. further,
The ejector pin 34 is deformed under the influence of bending by an ejecting rod (not shown). For this reason, it is difficult to make the tip end surface of the ejector pin 34 the same as the inner surface of the cavity, and there is no choice but to project it inside the cavity.

【0020】これに対して、本発明にかかるガス抜きピ
ン24は、チェイス28、30に貫通した貫通孔22に
ガス抜きピン24の鍔部26が嵌入され、カバープレー
ト32によりその位置が規制される。このため、ガス抜
きピン24の先端面がキャビティ内面と同一面になるよ
うにするには、金型インサート10、12とチェイス2
8、29の厚さと、ガス抜きピン24の寸法を合致させ
れば良く、ガス抜きピン24の先端面と、キャビティ内
面とを精度良く容易に同一面に位置させることができ
る。これにより、かかるガス抜きピン24構造によれ
ば、5ミクロン以内の精度でピン先端面をキャビティ内
面と一致させることができ、パッケージの表面上にごく
僅かなスジが付く程度ですみ、しかもその精度が低劣化
することがない。
On the other hand, in the gas vent pin 24 according to the present invention, the flange portion 26 of the gas vent pin 24 is fitted in the through hole 22 penetrating the chase 28, 30 and the position thereof is regulated by the cover plate 32. It Therefore, in order for the tip surface of the gas vent pin 24 to be flush with the inner surface of the cavity, the mold inserts 10, 12 and the chase 2 are
It suffices that the thicknesses of 8 and 29 and the dimensions of the gas vent pin 24 are matched, and the tip end surface of the gas vent pin 24 and the inner surface of the cavity can be accurately and easily positioned on the same plane. As a result, according to the structure of the gas vent pin 24, the pin tip surface can be aligned with the inner surface of the cavity with an accuracy of 5 microns or less, and only a slight streak is formed on the surface of the package. Is not deteriorated.

【0021】図4は本発明の他の実施例を示す説明図で
あり、キャビティ16内に位置された半導体チップ18
の平面に対向する金型インサート10の部位に大気と連
通するよう設けられた貫通孔22に、気孔性金属により
成形されたピン状部材42が嵌入されている。これによ
り、半導体チップ18の中央部に対応する位置に追いつ
められ残留したガスを好適に排出することができる。ま
た、排出装置45を設け積極的に排出することも可能で
ある。なお、気孔性金属に進入、付着した樹脂はエアの
逆噴射、或いはブラッシング等によってクリーニングす
ることが可能である。
FIG. 4 is an explanatory view showing another embodiment of the present invention, in which the semiconductor chip 18 located in the cavity 16 is shown.
A pin-shaped member 42 formed of a porous metal is fitted into a through hole 22 provided so as to communicate with the atmosphere at a portion of the mold insert 10 that faces the plane. As a result, the gas remaining after being caught up at the position corresponding to the center of the semiconductor chip 18 can be suitably discharged. Further, it is possible to provide a discharging device 45 and positively discharge. The resin that has entered and adhered to the porous metal can be cleaned by back-injecting air, brushing, or the like.

【0022】また、図5(A)に示すように、積極的に
ガス溜部52を設けたピン状部材50を上型のキャビテ
ィ16中央に対応する金型インサートの貫通孔に往復動
可能に嵌入し、図5(B)に示すように該ピン状部材5
0を樹脂充填の最終工程で引き上げるようにしてもよ
い。これにより、残留ガスはピン状部材50の先端部に
凹状に形成されたガス溜部52の中に確実に封じ込めら
れ、パッケージ形状としてもパッケージ表面よりは突出
することがなく、樹脂封止された半導体チップ18に押
圧力を負荷して損傷を与えることもない。
Further, as shown in FIG. 5A, the pin-shaped member 50 positively provided with the gas reservoir 52 can be reciprocated in the through hole of the mold insert corresponding to the center of the cavity 16 of the upper mold. Then, as shown in FIG. 5B, the pin-shaped member 5 is inserted.
0 may be pulled up in the final step of resin filling. As a result, the residual gas is reliably contained in the gas reservoir 52 formed in a concave shape at the tip of the pin-shaped member 50, and the package shape does not protrude beyond the package surface and is resin-sealed. There is no possibility of damaging the semiconductor chip 18 by applying a pressing force.

【0023】さらに、図6(A)に示すように、従来、
エジェクトピンによる縦バリは厳禁とされているが、こ
れを利用しても良い。すなわち、ピン状部材54の先端
部を貫通孔22よりも小径に設定した段付き部56と
し、該段付き部56と貫通孔22との間にガスを積極的
に誘導することで、樹脂成形を好適に行う。この際に、
チップ平面と垂直方向に縦バリが発生するが、これは、
成形物を金型取り出し後、別の工程のおいて不要部とし
て容易に除去できる。また、ピン状部材54を上下動可
能に設け、図6(B)に示すように成形物を離型する際
に、該ピン状部材54を突き出すようにすれば、貫通孔
22に残った残留樹脂を好適に掻きだすことができ、金
型インサート10の貫通孔22にレジンが残留し、ピン
状部材54が作動不良となる恐れもない。
Further, as shown in FIG.
Vertical burrs with eject pins are strictly prohibited, but this may be used. That is, the tip end of the pin-shaped member 54 is a stepped portion 56 having a diameter smaller than that of the through hole 22, and the gas is positively guided between the stepped portion 56 and the through hole 22 to perform resin molding. Is preferably performed. At this time,
Vertical burrs occur in the direction perpendicular to the chip plane.
The molded product can be easily removed as an unnecessary portion in another step after taking out the mold. Further, if the pin-shaped member 54 is provided so as to be movable up and down, and the pin-shaped member 54 is projected when the molded product is released from the mold as shown in FIG. The resin can be suitably scraped out, and there is no possibility that the resin remains in the through holes 22 of the mold insert 10 and the pin-shaped member 54 malfunctions.

【0024】なお、以上の実施例のガス抜き機構は、必
要に応じて上下の金型の両方、或いは一方のみに設定す
れば良いのは勿論である。例えば、上記図1に示した実
施例の場合はチップ全体を封止するため、上下の金型の
両側にガス抜き機構を設けたが、図4〜6に示した実施
例においては、チップの片面が露出されるタイプである
ので、上型のみにガス抜き機構が配設されているのであ
る。また、以上の実施例のガス抜き機構において、特に
図1に示すような実施例の場合、貫通孔22とガス抜き
ピン24とのクリアランスは、ガスは排出されるが樹脂
は進入しない程度に設定されているため、ガスの排出量
は限定される。このため、本発明によるガス抜き機構
は、図7または図8に記載したような従来のサイドベン
トと併用して使用してもよいのは勿論である。以上、本
発明の好適な実施例について種々述べてきたが、本発明
はこの実施例に限定されるものではなく、発明の精神を
逸脱しない範囲内でさらに多くの改変を施し得るのは勿
論のことである。
It is needless to say that the gas venting mechanism of the above embodiments may be set in both upper and lower dies, or only in one of them, if necessary. For example, in the case of the embodiment shown in FIG. 1 above, a gas venting mechanism is provided on both sides of the upper and lower molds in order to seal the entire chip. However, in the embodiment shown in FIGS. Since the one side is exposed, the degassing mechanism is provided only in the upper die. Further, in the gas venting mechanism of the above embodiment, especially in the embodiment as shown in FIG. 1, the clearance between the through hole 22 and the gas vent pin 24 is set to such an extent that gas is discharged but resin does not enter. Therefore, the amount of gas discharged is limited. Therefore, it goes without saying that the degassing mechanism according to the present invention may be used in combination with the conventional side vent as shown in FIG. 7 or 8. Although various preferred embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to these embodiments, and many modifications can be made without departing from the spirit of the invention. That is.

【0025】[0025]

【発明の効果】本発明の樹脂封止金型のガス抜き機構に
よれば、半導体装置の薄型パッケージ等についても、樹
脂封止の際にキャビティ内に残留するガスを好適に逃が
し、樹脂封止成形を好適に行うことができるという著効
を奏する。これにより、半導体チップ面積の占有率が高
いパッケージ、テープキャリア式等の超薄型パッケー
ジ、放熱板を有するパッケージ等にかかる樹脂封止成形
の可能範囲を飛躍的に拡大することができるという著効
を奏する。
According to the degassing mechanism of the resin encapsulating mold of the present invention, even in a thin package of a semiconductor device, the gas remaining in the cavity during resin encapsulation can be suitably escaped, and resin encapsulation can be performed. It has a remarkable effect that molding can be suitably performed. As a result, it is possible to dramatically expand the range of possible resin encapsulation molding for packages with a high semiconductor chip area occupancy, ultra-thin packages such as tape carrier types, and packages with heat sinks. Play.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明にかかる樹脂封止金型のガス抜き機構の
一実施例を示す断面図。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing an embodiment of a gas release mechanism for a resin-sealed mold according to the present invention.

【図2】図1のガス抜きピンの設置状態を示す断面図。FIG. 2 is a cross-sectional view showing an installed state of the gas vent pin of FIG.

【図3】図1の金型インサートの表面を示す平面図。3 is a plan view showing the surface of the mold insert of FIG. 1. FIG.

【図4】本発明の他の実施例を示す断面図。FIG. 4 is a sectional view showing another embodiment of the present invention.

【図5】本発明の他の実施例を説明する説明図。FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating another embodiment of the present invention.

【図6】本発明の他の実施例を説明する説明図。FIG. 6 is an explanatory diagram illustrating another embodiment of the present invention.

【図7】従来の半導体チップの樹脂封止状況を説明する
説明図。
FIG. 7 is an explanatory diagram illustrating a resin sealing state of a conventional semiconductor chip.

【図8】従来のQFPにかかる半導体チップの樹脂封止
状況を説明する説明図。
FIG. 8 is an explanatory diagram illustrating a resin sealing state of a semiconductor chip according to a conventional QFP.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 上型インサート 12 下型インサート 14 キャビティ 16 リードフレーム 18 半導体チップ 20 ゲート 22 貫通孔 24 ガス抜きピン 26 鍔部 28 上型チェイス 29 下型チェイス 30 チェイスの貫通孔 32 カバープレート 34 エジェクタピン 36 エジェクタピンプレート 38 リテーナプレート 40 スプリング 42 ピン状部材 50 ピン状部材 52 ガス溜部 54 ピン状部材 56 段付き部 10 Upper Mold Insert 12 Lower Mold Insert 14 Cavity 16 Lead Frame 18 Semiconductor Chip 20 Gate 22 Through Hole 24 Gas Release Pin 26 Collar 28 Upper Mold Chase 29 Lower Mold Chase 30 Chase Through Hole 32 Cover Plate 34 Ejector Pin 36 Ejector Pin Plate 38 Retainer plate 40 Spring 42 Pin-shaped member 50 Pin-shaped member 52 Gas reservoir 54 Pin-shaped member 56 Stepped portion

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // B29K 105:20 B29L 31:34 4F ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Office reference number FI technical display location // B29K 105: 20 B29L 31:34 4F

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 上下金型インサートにより形成されるキ
ャビティ内にリードフレームに搭載された半導体チップ
を位置させて樹脂封止をする際に、該キャビティ内のガ
スを抜く樹脂封止金型のガス抜き機構において、 前記キャビティ内に位置された前記半導体チップの平面
に対向する前記金型インサートの部位に大気と連通する
ようガス抜き機構が設けられたことを特徴とする樹脂封
止金型のガス抜き機構。
1. A gas of a resin-sealed mold for removing a gas from the cavity when a semiconductor chip mounted on a lead frame is positioned in a cavity formed by upper and lower mold inserts for resin sealing. In the venting mechanism, a gas venting mechanism is provided at a portion of the die insert facing the plane of the semiconductor chip located in the cavity so as to communicate with the atmosphere. Removal mechanism.
【請求項2】 上下金型インサートにより形成されるキ
ャビティ内にリードフレームに搭載された半導体チップ
を位置させて樹脂封止をする際に、該キャビティ内のガ
スを抜く樹脂封止金型のガス抜き機構において、 前記キャビティ内に位置された前記半導体チップの平面
に対向する前記金型インサートの部位に大気と連通する
よう設けられた貫通孔に、該貫通孔との間に微小な隙間
を形成するよう貫通孔よりも外形の小さいガス抜きピン
が嵌入されていることを特徴とする樹脂封止金型のガス
抜き機構。
2. A gas of a resin-sealed mold for removing a gas in the cavity when a semiconductor chip mounted on a lead frame is positioned in a cavity formed by upper and lower mold inserts for resin sealing. In the punching mechanism, a minute gap is formed between the through hole provided in the cavity of the die insert facing the plane of the semiconductor chip located in the cavity so as to communicate with the atmosphere. As described above, the degassing mechanism of the resin-sealed mold is characterized in that a degassing pin having an outer shape smaller than that of the through hole is fitted therein.
【請求項3】 樹脂封止された半導体装置をキャビティ
から離型するエジェクタピンの動作に伴って、前記ガス
抜きピンが、該エジェクタピンの動作よりも僅かに遅れ
てキャビティ内に突き出すよう往復動自在に設けられた
請求項2記載の樹脂封止金型のガス抜き機構。
3. The reciprocating motion of the gas releasing pin, so that the gas releasing pin projects into the cavity slightly later than the operation of the ejector pin, as the ejector pin releases the resin-sealed semiconductor device from the cavity. The degassing mechanism for a resin-sealed mold according to claim 2, which is provided freely.
【請求項4】 前記ガス抜きピンに鍔部を設け、該ガス
抜きピンの鍔部が金型インサートを保持するチェイスに
設けられた貫通孔内に位置され、前記鍔部に当接してガ
ス抜きピンが抜け出ることを規制するカバープレートが
前記チェイスの外面に固定された請求孔2または請求項
3記載の樹脂封止金型のガス抜き機構。
4. A degassing pin is provided with a flange, and the degassing pin has a flanged portion located in a through hole provided in a chase for holding a mold insert, and comes into contact with the flanged portion to release the gas. The degassing mechanism for a resin-sealed mold according to claim 2 or 3, wherein a cover plate that restricts the pin from coming out is fixed to the outer surface of the chase.
【請求項5】 樹脂封止された半導体装置をキャビティ
から離型するエジェクタピンが、キャビティ内に位置さ
れた前記半導体チップの平面に対向しない金型インサー
トの部位に設けられた貫通孔に嵌入されていることを特
徴とする請求項1、2、3または4の記載の樹脂封止金
型のガス抜き機構。
5. An ejector pin for releasing a resin-sealed semiconductor device from a cavity is fitted in a through hole provided in a portion of a mold insert that does not face the plane of the semiconductor chip located in the cavity. The degassing mechanism for a resin-sealed mold according to claim 1, 2, 3, or 4.
【請求項6】 上下金型インサートにより形成されるキ
ャビティ内にリードフレームに搭載された半導体チップ
を位置させて樹脂封止をする際に、該キャビティ内のガ
スを抜く樹脂封止金型のガス抜き機構において、 前記キャビティ内に位置された前記半導体チップの平面
に対向する前記金型インサートの部位に大気と連通する
よう設けられた貫通孔に、気孔性金属により成形された
ピン状部材を嵌入したこと特徴とする樹脂封止金型のガ
ス抜き機構。
6. A gas of a resin-sealed mold for removing a gas from the cavity when a semiconductor chip mounted on a lead frame is positioned in a cavity formed by upper and lower mold inserts for resin sealing. In the extraction mechanism, a pin-shaped member formed of a porous metal is inserted into a through hole provided at a portion of the mold insert facing the plane of the semiconductor chip located in the cavity so as to communicate with the atmosphere. What has been done is a gas release mechanism for a resin-sealed mold.
【請求項7】 上下金型インサートにより形成されるキ
ャビティ内にリードフレームに搭載された半導体チップ
を位置させて樹脂封止をする際に、該キャビティ内のガ
スを抜く樹脂封止金型のガス抜き機構において、 前記キャビティ内に位置された前記半導体チップの平面
に対向する前記金型インサートの部位に大気と連通する
よう設けられた貫通孔に、先端部にガス溜部が形成され
たピン状部材を嵌入したこと特徴とする樹脂封止金型の
ガス抜き機構。
7. A gas of a resin-sealed mold for removing a gas in the cavity when a semiconductor chip mounted on a lead frame is positioned in a cavity formed by upper and lower mold inserts for resin sealing. In the extraction mechanism, a pin-like shape having a gas reservoir formed at its tip end in a through-hole provided at a portion of the mold insert facing the plane of the semiconductor chip located in the cavity so as to communicate with the atmosphere. A degassing mechanism for a resin-sealed mold, characterized in that a member is fitted therein.
JP34991392A 1992-12-01 1992-12-01 Degassing mechanism of resin mold Expired - Lifetime JP3339711B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34991392A JP3339711B2 (en) 1992-12-01 1992-12-01 Degassing mechanism of resin mold

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34991392A JP3339711B2 (en) 1992-12-01 1992-12-01 Degassing mechanism of resin mold

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06166064A true JPH06166064A (en) 1994-06-14
JP3339711B2 JP3339711B2 (en) 2002-10-28

Family

ID=18406957

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34991392A Expired - Lifetime JP3339711B2 (en) 1992-12-01 1992-12-01 Degassing mechanism of resin mold

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3339711B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008044161A (en) * 2006-08-11 2008-02-28 Matsushita Electric Works Ltd Multi-cavity insert molding apparatus
JP2018001492A (en) * 2016-06-29 2018-01-11 スタンレー電気株式会社 Molding die and molded article
WO2020235151A1 (en) * 2019-05-20 2020-11-26 中西金属工業株式会社 Protective cover having sensor holder part, bearing device equipped with said protective cover, and production method for protective cover having sensor holder part

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008044161A (en) * 2006-08-11 2008-02-28 Matsushita Electric Works Ltd Multi-cavity insert molding apparatus
JP2018001492A (en) * 2016-06-29 2018-01-11 スタンレー電気株式会社 Molding die and molded article
WO2020235151A1 (en) * 2019-05-20 2020-11-26 中西金属工業株式会社 Protective cover having sensor holder part, bearing device equipped with said protective cover, and production method for protective cover having sensor holder part
JP2020190265A (en) * 2019-05-20 2020-11-26 中西金属工業株式会社 Protection cover having sensor holder, bearing device having protection cover, and manufacturing method of protection cover having sensor holder
CN113727825A (en) * 2019-05-20 2021-11-30 中西金属工业株式会社 Protective cover for sensor holder portion, bearing device provided with protective cover, and method for manufacturing protective cover having sensor holder portion
CN113727825B (en) * 2019-05-20 2024-02-20 中西金属工业株式会社 Protective cover for sensor holder, bearing device provided with protective cover, and method for manufacturing protective cover provided with sensor holder

Also Published As

Publication number Publication date
JP3339711B2 (en) 2002-10-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100342325B1 (en) Casting method using exhaust pin
JP3660861B2 (en) Manufacturing method of semiconductor device
US6746895B2 (en) Method for encapsulating a multi-chip substrate array
EP0711647A1 (en) Improvements in or relating to encapsulating devices
US6341549B2 (en) Trimming apparatus having punches with air flow routes for removal of gate scraps
JPH06166064A (en) Degassing mechanism for resin sealing mold
JPH06275764A (en) Lead frame and manufacture of semiconductor device using same
US5447888A (en) Process of ejecting an encapsulated semiconductor device from a mold by directly contacting exterior leads with ejector pins
JP2019181872A (en) Mold tool, resin molding device and resin molding method
JP3125295U (en) Light emitting diode casing mold structure
JP2000311908A (en) Resin-sealing apparatus, resin-sealing method and substrate holding apparatus
JP3315255B2 (en) Resin molding method for semiconductor device, carrier frame used therefor, and resin molding device
JPH1056120A (en) Press die used for manufacturing lead frame
JP3005552B1 (en) Resin sealing method for work
KR100622173B1 (en) Mould, encapsulating device and method of encapsulation
JPH0510361Y2 (en)
JP2957565B1 (en) Resin sealing mold for semiconductor element
JP7331571B2 (en) Resin encapsulation mold and resin encapsulation method
KR102071561B1 (en) Molding apparatus for semiconductor package
JPH058253A (en) Resin sealing molding device of electronic parts
JP2693911B2 (en) Resin flash removal method and removal mold
KR100230520B1 (en) Method of manufacturing element package base
JP2001024016A (en) Resin-sealing device for semiconductor package
JP2001145924A (en) Mold device for molding resin using release film
KR0132216Y1 (en) Forming products ejecting apparatus of semiconductor mold

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080816

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110816

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130816

Year of fee payment: 11

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Year of fee payment: 11

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130816