JPH06164199A

JPH06164199A - 電子部品の観察装置

Info

Publication number: JPH06164199A
Application number: JP4318188A
Authority: JP
Inventors: Takayuki Hatase; 貴之畑瀬
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1992-11-27
Filing date: 1992-11-27
Publication date: 1994-06-10
Anticipated expiration: 2014-08-09
Also published as: JP2932870B2

Abstract

(57)【要約】【目的】移載ヘッドのノズルに真空吸着されたチップ
に上方から光を照射して下方のカメラによりチップのシ
ルエットを観察するにあたり、チップの下面への光の回
り込みを解消してチップの正しいシルエットを観察でき
る観察装置を提供する。【構成】移載ヘッド１のノズル２に真空吸着された電
子部品Ｐの上方に位置する光透過板３と、この光透過板
３に光を照射する光源２５とを備え、この光透過板３か
ら光を下方へ漏光させて電子部品Ｐのシルエットをカメ
ラ８で観察する観察装置において、光透過板３の下部に
カメラ８の光軸とほぼ平行な光イのみを下方へ透過させ
るフィルター２６を設けることにより、光透過板３から
漏光した一部の光が電子部品Ｐの下面へ回り込まないよ
うにした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電子部品の観察装置に
係り、詳しくは、移載ヘッドのノズルに真空吸着された
電子部品に上方から光を照射し、そのシルエットを下方
のカメラで観察する電子部品の観察装置に関するもので
ある。

【０００２】

【従来の技術】抵抗チップ、コンデンサチップ、リード
付チップなどのチップタイプの電子部品（以下、「チッ
プ」という）を基板に自動搭載する電子部品実装装置
は、パーツフィーダに備えられたチップを移載ヘッドの
ノズルに真空吸着してピックアップし、この移載ヘッド
を基板の上方へ移動させてこの基板に搭載するようにな
っている。

【０００３】このような電子部品実装装置は、移載ヘッ
ドをロータリーヘッドの円周方向に沿って円移動させる
ものや、移載ヘッドをＸＹテーブルによりＸＹ方向に直
線移動させるものなどがあるが、何れのものも、チップ
を基板に搭載する前に、ノズルに真空吸着されたチップ
をカメラにより観察してその位置を精密に検出し、この
検出結果に基づいてチップの位置補正をしたうえで、基
板に搭載するようになっている。以下、図６を参照しな
がら、電子部品実装装置に備えられた従来の電子部品の
観察装置を説明する。

【０００４】図６において、移載ヘッド１のノズル２に
はチップＰが真空吸着されている。移載ヘッド１の移動
路には左右一対の光透過板３が配設されている。光透過
板３の後端部はブロック４に結合されており、このブロ
ック４はシリンダ（図示せず）のロッド６に保持されて
いる。このロッド６が突出すると、光透過板３はノズル
２に真空吸着されたチップＰの上方へ進出し、またロッ
ド６が引き込むと側方へ退避する（矢印参照）。図６
は、ロッド６が突出して光透過板３がチップＰの上方へ
進出した状態を示している。９は移載ヘッド１の下部に
設けられた白色の光拡散板である。この光拡散板９は、
光透過板３を側方に退避させた場合に、ノズル２に真空
吸着されたチップＰのバックプレートとしてチップＰの
シルエットを観察する。

【０００５】ブロック４の内部には光ファイバ７が埋込
まれている。光源（図示せず）から照射された光はこの
光ファイバ７を通り、この光ファイバ７の先端部から光
透過板３の内部へ光が照射される。図中、破線矢印は光
路を示している。図示するように、光は光透過板３の内
部を透過しながらその下面から漏光する。そこで、移載
ヘッド１の下方に設けられたカメラ８により、このチッ
プＰのシルエットを観察する。上述したように、このシ
ルエットに基づいてチップＰの位置を精密に検出し、こ
の検出結果に基づいてチップの位置補正をしたうえで、
基板に搭載するようになっている。図７は、カメラ８で
観察されたチップＰの黒いシルエットを示している。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】図６に示すように、光
ファイバ７から照射された光は光透過板３の内部を下方
へ屈曲しながら進み、その下面から斜め下方へ漏光す
る。このため、漏光した一部の光ａはチップＰの下面へ
回り込み、このため図７に示すようにチップＰの胴部の
両側部アはカメラ８に明るく観察されてしまい、チップ
Ｐの正しい形状を認識できず、ひいてはチップＰの位置
の計測結果にも狂いを生じるという問題点があった。こ
のような問題点は、例えば抵抗チップ、コンデンサチッ
プ、Ｊリードチップなどの小形のチップ、殊に白色セラ
ミックから成る小形のチップに顕著に生じやすい傾向に
あった。

【０００７】そこで本発明は、上記のようなチップ下面
への光の回り込みを解消し、チップの正しいシルエット
をカメラで観察することができる電子部品の観察装置を
提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】このために本発明は、光
透過板の下部に、カメラの光軸とほぼ平行な光のみを下
方へ透過させるフィルターを設けることにより、ノズル
に真空吸着されたチップに光を垂直に照射するようにし
た。

【０００９】

【作用】上記構成によれば、カメラの光軸とほぼ平行な
光のみがチップに照射されるので、光がチップの下面へ
回り込むことはなく、チップの正しいシルエットをカメ
ラで観察することができる。

【００１０】

【実施例】以下に、ロータリーヘッド式の電子部品実装
装置を例にとり、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。

【００１１】図１は上記電子部品実装装置の平面図であ
る。１１はロータリーヘッドであり、円周方向に沿っ
て，多数個の移載ヘッド１が設けられている。１２はロ
ータリーヘッド１１を回転させるモータである。

【００１２】１３はチップの供給装置であって、テーブ
ル１４と、このテーブル１４上をＸ方向に往復移動する
パーツフィーダ１５から成っている。２０はパーツフィ
ーダ１５をＸ方向に移動させるための送りねじ１６を回
転させるモータである。１７はＸＹ方向に移動可能なＸ
Ｙテーブルであり、その上に基板１８が位置決めされて
いる。１０は移載ヘッド１の移動路に設けられた観察装
置である。

【００１３】ロータリーヘッド１１が矢印Ｎ方向にイン
デックス回転することにより、移載ヘッド１はパーツフ
ィーダ１５のチップＰを移載ヘッド１のノズル２に真空
吸着してピックアップする。移載ヘッドにピックアップ
されて基板１８に移送搭載されるチップＰは、移載ヘッ
ド１の移動路の途中に設けられた観察装置１０により観
察されて、ＸＹθ方向の位置ずれが検出され、この位置
ずれを補正したうえで、基板１８に搭載される。

【００１４】図２、図３、図４は、上記観察装置１０の
詳細な構造を示すものである。なお図６に示す従来例と
同一のものには同一符号を付すことにより、その説明は
省略する。

【００１５】図２において、ブロック４はシリンダ５の
ロッド６に保持されており、ロッド６が突出し、あるい
は引き込むことにより、光透過板３は矢印方向に進退す
る。１９はシリンダ５を支持するブラケットである。観
察装置１０は、ケース２１と、ケース２１の内部に斜設
されたミラー２２と、ケース２１の側部に配置されたカ
メラ８から成っている。したがって光透過板３の下面か
ら漏光した光は、ミラー２２に反射されてカメラ８に入
射する。ＯＡはカメラ８の光軸である。

【００１６】図３において、ブロック４にはケーブル２
３が接続されている。このケーブル２３の内部には光フ
ァイバ７が収納されている。このケーブル２３はランプ
ケース２４に接続されており、ランプケース２４内のラ
ンプ２５から照射された光は、ケーブル２３内の光ファ
イバ７を通り、光透過板３へ照射される。図４におい
て、光透過板３の下部にはフィルター２６が装着されて
いる。このフィルター２６は垂直なルーバ２６ａを有し
ており、光透過板３の下面から漏光した光のうち、斜め
方向の光は吸収し、カメラ８の光軸ＯＡと平行な垂直光
イのみを下方へ透過させる。したがって図６に示す従来
例のように一部の光がチップＰの下面へ回り込むことは
なく、図５に示すようにチップＰの正しいシルエットを
カメラ８で観察することができる。

【００１７】本装置は上記のような構成より成り、次に
動作を説明する。図１，２及び３においてロータリーヘ
ッド１１が矢印Ｎ方向に回転し、移載ヘッド１が観察装
置１０へ移動してくると、光源２５の光は光ファイバ７
を通って光透過板３、フィルター２６を透過し、垂直光
イのみがチップＰへ向って照射される。そこでカメラ８
によりチップＰのシルエットを観察し、チップＰの位置
ずれが算出される。この算出は図示しないコンピュータ
により行われる。次いでこのチップＰは基板１８に搭載
されるが、チップＰの位置ずれのうち、ＸＹ方向の位置
ずれはＸＹテーブル１７の移動ストロークを補正するこ
とにより補正し、また回転方向の位置ずれは、ロータリ
ーヘッド１１に備えられたモータ（図示せず）によりノ
ズル２をその軸心を中心に回転させることにより補正し
たうえで、チップＰは基板１８に搭載される。

【００１８】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、光透過板
の下部にカメラの光軸とほぼ平行な光のみを下方へ透過
させるフィルターを設けたので、フィルターを透過した
光がチップの下面へ回り込むことはなく、チップの正し
いシルエットをカメラで観察し、その結果にしたがって
チップを位置精度よく基板に搭載できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例に係る電子部品実装装置の平
面図

【図２】本発明の一実施例に係る電子部品実装装置の部
分側面図

【図３】本発明の一実施例に係る電子部品の観察装置の
斜視図

【図４】本発明の一実施例に係る電子部品の観察装置の
側面図

【図５】本発明の一実施例に係る電子部品のシルエット
図

【図６】従来の電子部品の観察装置の側面図

【図７】従来の電子部品のシルエット図

【符号の説明】

１移載ヘッド２ノズル３光透過板８カメラ２５光源２６フィルターＰ電子部品

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】電子部品を真空吸着するノズルを備え、電
子部品を前記ノズルに真空吸着して基板に移送搭載する
移載ヘッドと、前記ノズルに真空吸着された電子部品の
上方から電子部品へ向って漏光する光透過板と、光透過
板へ光を照射する光源と、前記電子部品のシルエットを
下方から観察するカメラと、前記光透過板の下部に配設
されて前記カメラの光軸とほぼ平行な光のみを下方へ透
過させるフィルターとを備えたことを特徴とする電子部
品の観察装置。