JPH06161796A - Information processor - Google Patents
Information processorInfo
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- JPH06161796A JPH06161796A JP4309897A JP30989792A JPH06161796A JP H06161796 A JPH06161796 A JP H06161796A JP 4309897 A JP4309897 A JP 4309897A JP 30989792 A JP30989792 A JP 30989792A JP H06161796 A JPH06161796 A JP H06161796A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、情報処理装置に関し、
特に、データ格納用メモリから読み出したデータビット
の障害を検出する手段を有する情報処理装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an information processing device,
In particular, the present invention relates to an information processing apparatus having means for detecting a failure of a data bit read from a data storage memory.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、データ格納用メモリと、このデー
タ格納用メモリにビット単位でデータ読出を指示し、読
み出されたデータの処理を行う回路と、読み出されたデ
ータビットのエラー検出及びその訂正が可能なECC
(Error Checking and Correction )回路とを有する情
報処理装置が知られている。2. Description of the Related Art Conventionally, a data storage memory, a circuit for instructing the data storage memory to read data bit by bit, and processing the read data, an error detection for the read data bit, and ECC that can be corrected
An information processing device having an (Error Checking and Correction) circuit is known.
【0003】この種の情報処理装置では、エラー検出時
にECC回路で当該エラービットの位置を表す情報のみ
を抽出し、これを障害情報として障害情報格納手段に格
納して障害箇所の探求や装置の評価等に利用していた。In this type of information processing apparatus, when an error is detected, the ECC circuit extracts only the information indicating the position of the error bit, and stores it as failure information in failure information storage means to search for the failure location and It was used for evaluation.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】このような従来の情報
処理装置では、エラービット位置及び障害発生回数を知
ることはできるが、各障害の発生間隔及び頻度について
は知ることができなかった。そのため、障害箇所の特定
や障害に対する早期対策が困難となり、改善が望まれて
いた。In such a conventional information processing apparatus, it is possible to know the error bit position and the failure occurrence frequency, but it is not possible to know the occurrence interval and frequency of each failure. Therefore, it becomes difficult to identify the location of the failure and take early measures against the failure, and improvement is desired.
【0005】本発明は、かかる背景下になされたもの
で、障害発生間隔及び頻度の検出をも可能とする障害検
出手段を有する情報処理装置を提供することを目的とす
る。The present invention has been made under such a background, and an object of the present invention is to provide an information processing apparatus having a failure detecting means capable of detecting a failure occurrence interval and a frequency.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、データ格納用メモリと、このデータ格
納用メモリにビット単位でデータ読出を指示するデータ
読出指示手段と、該指示により読み出されたデータビッ
トの状態監視を行いエラー検出時には当該エラービット
の位置情報を出力するエラービット位置検出手段とを有
する情報処理装置において、前記データ読出指示手段か
ら出力される読出指示回数を累積計数して現在の計数情
報を逐次出力するデータ読出回数計数手段と、前記エラ
ービット位置検出手段がエラーを検出したときに当該エ
ラービットの位置情報とこのときの前記計数情報とを順
次対応させて格納する障害情報格納手段と設けた。In order to achieve the above object, according to the present invention, a data storage memory, a data read instructing means for instructing the data storage memory to read data in bit units, and a reading operation based on the instruction. In an information processing device having an error bit position detection means for monitoring the status of the output data bit and outputting the position information of the error bit when an error is detected, the number of read instructions output from the data read instruction means is cumulatively counted. And the data read number counting means for sequentially outputting the current count information, and the position information of the error bit when the error bit position detecting means detects an error and the count information at this time are stored in association with each other. And means for storing failure information.
【0007】上記構成において、前記エラービット位置
検出手段は、前述のECC回路を有しており、前記デー
タ読出回数計数手段は、エラー検出毎に前記計数情報を
初期値に戻す初期化回路を有している。In the above structure, the error bit position detecting means has the ECC circuit described above, and the data read number counting means has an initialization circuit for returning the count information to an initial value each time an error is detected. is doing.
【0008】[0008]
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0009】図1は本発明の一実施例を示すブロック構
成図であり、1はデータ処理回路(データ読出指示手
段)、2はデータ格納用メモリ、3は検査ビット格納用
メモリ、4はECC回路、5は読出カウンタ(データ読
出回数計数手段)、6はエラー制御回路、7はエラー情
報格納用メモリ、8は計数情報格納用メモリを表す。ま
た、aは読出指示信号、bはエラービット表示信号、c
はエラー書込指示信号、dは読出計数信号を表す。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. 1 is a data processing circuit (data read instruction means), 2 is a data storage memory, 3 is a check bit storage memory, and 4 is an ECC. Reference numeral 5 denotes a read counter (data read number counting means), 6 denotes an error control circuit, 7 denotes an error information storage memory, and 8 denotes a count information storage memory. Further, a is a read instruction signal, b is an error bit display signal, and c
Indicates an error write instruction signal, and d indicates a read count signal.
【0010】データ処理回路1からデータ格納用メモリ
2のデータを読み出すときは、まず、データ処理回路1
がデータ格納用メモリ2及び検査ビット格納用メモリ3
に対して読出指示信号aを出力する。この指示によりデ
ータ格納用メモリ2及び検査ビット格納用メモリ3から
データがビット単位で読み出され、ECC回路4で逐次
検査され、ビットエラーが検出されれば訂正してデータ
処理回路1へ送る。When reading the data in the data storage memory 2 from the data processing circuit 1, first, the data processing circuit 1 is read.
Is a data storage memory 2 and a check bit storage memory 3
The read instruction signal a is output to. In response to this instruction, the data is read from the data storage memory 2 and the check bit storage memory 3 bit by bit, sequentially checked by the ECC circuit 4, and if a bit error is detected, it is corrected and sent to the data processing circuit 1.
【0011】読出カウンタ5では、読出指示信号aによ
りデータ格納用メモリ2からデータを読み出した回数を
累積計数し、その計数値を表す読出計数信号(計数情
報)aを計数情報格納用メモリ8へ送る。The read counter 5 cumulatively counts the number of times the data is read from the data storage memory 2 by the read instruction signal a, and outputs the read count signal (count information) a representing the count value to the count information storage memory 8. send.
【0012】更にECC回路4から1ビットエラー検出
の有無、及び検査されたデータのうちのエラー検出され
たビット位置を表すエラービット表示信号(エラービッ
トの位置情報)bを取り出し、エラー制御回路6とエラ
ー情報格納用メモリ7へ送る。Further, an error bit display signal (error bit position information) b representing the presence / absence of 1-bit error detection and the bit position in which error is detected in the inspected data is taken out from the ECC circuit 4, and the error control circuit 6 To the error information storage memory 7.
【0013】エラー制御回路6では、読出指示信号aと
エラービット表示信号bとを監視し、読出指示信号aが
駆動中にエラービット表示信号bにエラーが表示される
と、エラー書込指示信号cを駆動し、このエラー書込指
示信号cによりエラー情報格納用メモリ7及び計数情報
格納用メモリ8に、夫々エラービット表示信号b及び読
出計数信号d上の情報を書き込む(障害情報格納手
段)。The error control circuit 6 monitors the read instruction signal a and the error bit display signal b, and when an error is displayed on the error bit display signal b while the read instruction signal a is being driven, the error write instruction signal a is displayed. c is driven, and information on the error bit display signal b and the read count signal d is written in the error information storage memory 7 and the count information storage memory 8 by the error write instruction signal c (fault information storage means). .
【0014】次に、上記構成において、エラー情報格納
用メモリ7及び計数情報格納用メモリ8に障害情報が書
き込まれる様子について図2を参照して説明する。Next, the manner in which fault information is written in the error information storage memory 7 and the count information storage memory 8 in the above configuration will be described with reference to FIG.
【0015】1回目のデータ読み出しでは、読出カウン
タ5が”1”にカウントアップされる。このとき、図示
の例ではECC回路4による検査が正常であるため、エ
ラー情報格納用メモリ7及び計数情報格納用メモリ8へ
の書込は行われない。In the first data read, the read counter 5 is incremented to "1". At this time, in the illustrated example, since the inspection by the ECC circuit 4 is normal, writing to the error information storage memory 7 and the count information storage memory 8 is not performed.
【0016】2回目のデータ読み出しでは、読出計数回
路5が”2”にカウントアップされるが、ECC回路4
による検査でエラーが検出されたため(n1 ビット)、
エラー情報格納用メモリ7へはn1 ビットエラー、計数
情報格納用メモリ8へは計数値”2”が夫々図示のよう
に書き込まれる。In the second data read, the read counter circuit 5 counts up to "2", but the ECC circuit 4
Error was detected by the check by (n1 bit),
An n1 bit error is written in the error information storage memory 7, and a count value "2" is written in the count information storage memory 8, as shown in the figure.
【0017】3回目、4回目のデータ読み出しでは、読
出カウンタ5の計数値が”3”、”4”とカウントアッ
プされ、ECC回路4による検査が正常であるため、エ
ラー情報格納用メモリ7及び計数情報格納用メモリ8へ
の書込は行われない。In the third and fourth data reading, the count value of the read counter 5 is incremented to "3" and "4", and the inspection by the ECC circuit 4 is normal. Therefore, the error information storage memory 7 and Writing to the counting information storage memory 8 is not performed.
【0018】5回目、6回目のデータ読み出しでは、読
出カウンタ5の計数値が”5”、”6”とカウントアッ
プされるが、ECC回路4による検査でエラーが検出さ
れたため(n2 ビット、n3 ビット)、エラー情報格納
用メモリ7へはn2 ビットエラー、n3 ビットエラー、
計数情報格納用メモリ8へは計数値”5”、”6”が夫
々書き込まれる。At the fifth and sixth data reading, the count value of the read counter 5 is incremented to "5" and "6", but an error is detected by the inspection by the ECC circuit 4 (n2 bit, n3). (Bit), n2 bit error, n3 bit error,
Count values "5" and "6" are written in the count information storage memory 8, respectively.
【0019】このように、エラー検出時点のビット位置
情報とそのときの読出指示回数を表す計数値とが夫々対
応して保持されるので、どのビット位置で、どの程度の
読出指示間隔及び頻度でエラーが発生しているかを知る
ことができる。In this way, since the bit position information at the time of error detection and the count value representing the number of read instructions at that time are held in correspondence with each other, at which bit position, at what read instruction interval and frequency. You can know if an error has occurred.
【0020】図3は、上記実施例の変形に係る要部構成
図であり、読出カウンタ5に初期化回路30を付加した
例を示している。FIG. 3 is a block diagram of the essential parts according to a modification of the above embodiment, showing an example in which an initialization circuit 30 is added to the read counter 5.
【0021】図1及び図3を参照して説明すると、この
初期化回路30は、エラー書込指示信号cの駆動終了
後、即ちエラー情報格納用メモリ7及び計数情報格納用
メモリ8への書込終了後、初期化指示信号eを駆動して
読出カウンタ5の累積計数値を初期化する。その他の動
作については前述の場合と同様である。This will be described with reference to FIGS. 1 and 3. The initialization circuit 30 writes data to the error information storage memory 7 and the count information storage memory 8 after the driving of the error write instruction signal c is completed. After the completion of loading, the initialization instruction signal e is driven to initialize the cumulative count value of the read counter 5. Other operations are the same as those in the above case.
【0022】次に、初期化回路30を付加したときのエ
ラー情報格納用メモリ7及び計数情報格納用メモリ8に
障害情報が書き込まれる様子を図4を参照して説明す
る。Next, how the fault information is written in the error information storage memory 7 and the count information storage memory 8 when the initialization circuit 30 is added will be described with reference to FIG.
【0023】1回目のデータ読み出しでは、読出カウン
タ5の計数値が”1”にカウントアップされる。このと
き、図示の例ではECC回路4による検査が正常である
ため、エラー情報格納用メモリ7及び計数情報格納用メ
モリ8への書込は行われない。In the first data read, the count value of the read counter 5 is incremented to "1". At this time, in the illustrated example, since the inspection by the ECC circuit 4 is normal, writing to the error information storage memory 7 and the count information storage memory 8 is not performed.
【0024】2回目のデータ読み出しでは、読出カウン
タ5の計数値が”2”にカウントアップされるが、EC
C回路4による検査でエラーが検出されたため(n1 ビ
ット)、エラー情報格納用メモリ7へはn1 ビットエラ
ー、計数情報格納用メモリ8へは計数値”2”が夫々書
き込まれ、その後、初期化回路30により初期化指示信
号eが駆動されて読出計数回路5が初期化(計数値”
0”)される。In the second data read, the count value of the read counter 5 is counted up to "2".
Since an error was detected in the inspection by the C circuit 4 (n1 bit), an n1 bit error was written to the error information storage memory 7, and a count value “2” was written to the count information storage memory 8, and then initialization was performed. The circuit 30 drives the initialization instruction signal e to initialize the read counter circuit 5 (count value "
0 ").
【0025】3回目、4回目のデータ読み出しでは、読
出計数回路5の計数値が”1”、”2”とカウントアッ
プされるが、ECC回路4による検査が正常であるた
め、エラー情報格納用メモリ7及び計数情報格納用メモ
リ8への書込は行われない。At the third and fourth data reading, the count value of the read counting circuit 5 is incremented by "1" and "2", but since the inspection by the ECC circuit 4 is normal, it is for storing error information. Writing to the memory 7 and the counting information storage memory 8 is not performed.
【0026】5回目のデータ読み出しでは、読出計数回
路5が”3”にカウントアップされ、ECC回路4よる
検査でエラーが検出されたため(n2 ビット)、エラー
情報格納用メモリ7へはn2 ビットエラー、計数情報格
納用メモリ8へは計数値”3”が書き込まれ、その後、
初期化回路30により初期化指示信号eが駆動されて読
出計数回路5が初期化(計数値”0”)される。In the fifth data read, the read counter circuit 5 is counted up to "3" and an error is detected by the inspection by the ECC circuit 4 (n2 bit). Therefore, an n2 bit error is stored in the error information storage memory 7. , The count value “3” is written in the count information storage memory 8, and thereafter,
The initialization circuit 30 drives the initialization instruction signal e to initialize the read counting circuit 5 (count value "0").
【0027】6回目のデータ読み出しでは、読出カウン
タ5の計数値が”1”にカウントアップされ、ECC回
路4による検査でエラーが検出されたため(n3 ビッ
ト)、エラー情報格納用メモリ7へはn3 ビットエラ
ー、計数情報格納用メモリ8へは計数値”1”が夫々書
き込まれ、その後、初期化回路30により初期化指示信
号eが駆動されて読出計数回路5が初期化(計数値”
0”)される。In the sixth data read, the count value of the read counter 5 is incremented to "1" and an error is detected by the inspection by the ECC circuit 4 (n3 bit). The bit error and the count value "1" are written in the count information storage memory 8, respectively, and thereafter the initialization instruction signal e is driven by the initialization circuit 30 to initialize the read counter circuit 5 (count value "
0 ").
【0028】このように、エラー検出時点のビット位置
情報の外、前回のエラー検出時点との間の累積計数値が
対応して保持されるので、この計数値を確認することで
読出指示間隔及び頻度を直ちに知ることができる。これ
により保守性が向上する。また、読出カウンタ5がエラ
ー検出毎に初期化されるから少ない容量で上記動作を実
現することができる。As described above, since the accumulated count value between the previous error detection time and the bit position information at the time of error detection is held correspondingly, the read instruction interval and the read instruction interval can be confirmed by checking this count value. You can know the frequency immediately. This improves maintainability. Further, since the read counter 5 is initialized every time an error is detected, the above operation can be realized with a small capacity.
【0029】[0029]
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よれば、障害が発生した時点でのデータビット位置、障
害発生間隔及びその頻度を知ることができ、障害箇所の
特定とその早期対策が可能となる効果がある。本発明は
ECC回路を有する情報処理装置のように、障害発生後
に自動復帰するような場合に特に有効な障害検出手段と
なり得、その評価も容易となる。As described above in detail, according to the present invention, the data bit position at the time of occurrence of a failure, the failure occurrence interval and the frequency thereof can be known, and the failure location can be identified and its early stage. There is an effect that measures can be taken. INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be a particularly effective fault detecting means in the case of automatically recovering after a fault occurs, such as an information processing device having an ECC circuit, and the evaluation thereof becomes easy.
【0030】また、データ指示回数計数手段に初期化回
路を付加し、エラー検出毎に計数値を初期化するように
したので、障害発生間隔の認識が容易となって保守性が
向上するとともに計数値保持手段の容量が節約できると
いう効果がある。Further, since the initialization circuit is added to the data instructing number counting means so that the count value is initialized each time an error is detected, it becomes easy to recognize the failure occurrence interval, the maintainability is improved, and the total maintenance is improved. This has the effect of saving the capacity of the numerical value holding means.
【図1】本発明の一実施例に係る情報処理装置のブロッ
ク図。FIG. 1 is a block diagram of an information processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】図1の構成において、データ読出及び検査後に
障害情報が書き込まれるまでの様子を示す説明図。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a state until failure information is written after data reading and inspection in the configuration of FIG.
【図3】本発明の他の実施例で用いる初期化回路の説明
図。FIG. 3 is an explanatory diagram of an initialization circuit used in another embodiment of the present invention.
【図4】初期化回路を付加した場合の障害情報が書き込
まれるまでの様子を示す説明図。FIG. 4 is an explanatory diagram showing a state until failure information is written when an initialization circuit is added.
1・・・データ処理回路 2・・・データ格納用メモリ 3・・・検査ビット格納用メモリ 4・・・ECC回路 5・・・読出カウンタ 6・・・エラー制御回路 7・・・エラー情報格納用メモリ 8・・・計数情報格納用メモリ 30・・・初期化回路 a・・・読出指示信号 b・・・エラービット表示信号 c・・・エラー書込指示信号 d・・・読出計数信号 e・・・初期化指示信号 1 ... Data processing circuit 2 ... Data storage memory 3 ... Check bit storage memory 4 ... ECC circuit 5 ... Read counter 6 ... Error control circuit 7 ... Error information storage Memory 8 ... Count information storage memory 30 ... Initialization circuit a ... Read instruction signal b ... Error bit display signal c ... Error write instruction signal d ... Read count signal e ... Initialization instruction signal
Claims (3)
用メモリにビット単位でデータ読出を指示するデータ読
出指示手段と、該指示により読み出されたデータビット
の状態監視を行いエラー検出時には当該エラービットの
位置情報を出力するエラービット位置検出手段とを有す
る情報処理装置において、 前記データ読出指示手段から出力される読出指示回数を
累積計数して現在の計数情報を逐次出力するデータ読出
回数計数手段と、 前記エラービット位置検出手段がエラーを検出したとき
に当該エラービットの位置情報とこのときの前記計数情
報とを順次対応させて格納する障害情報格納手段とを有
することを特徴とする情報処理装置。1. A data storage memory, a data read instructing means for instructing the data storage memory to read out data in bit units, a state of a data bit read by the instruction is monitored, and when an error is detected, the error is detected. In an information processing device having an error bit position detecting means for outputting bit position information, a data read number counting means for accumulatively counting the number of read instructions output from the data read instructing means and sequentially outputting current count information. And an error information storage unit that stores the position information of the error bit and the count information at this time in association with each other when the error bit position detection unit detects an error. apparatus.
エラービットの位置情報出力後に当該データビットを訂
正するECC(Error Checking and Correction )回路
を有することを特徴とする請求項1記載の情報処理装
置。2. The information processing apparatus according to claim 1, wherein the error bit position detecting means has an ECC (Error Checking and Correction) circuit for correcting the data bit after the position information of the error bit is output. .
エラー検出毎に前記計数情報を初期値に戻す初期化回路
を有することを特徴とする請求項1記載の情報処理装
置。3. The data read number counting means further comprises:
The information processing apparatus according to claim 1, further comprising an initialization circuit that returns the count information to an initial value each time an error is detected.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4309897A JPH06161796A (en) | 1992-11-19 | 1992-11-19 | Information processor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4309897A JPH06161796A (en) | 1992-11-19 | 1992-11-19 | Information processor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06161796A true JPH06161796A (en) | 1994-06-10 |
Family
ID=17998644
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4309897A Withdrawn JPH06161796A (en) | 1992-11-19 | 1992-11-19 | Information processor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06161796A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016152011A (en) * | 2015-02-19 | 2016-08-22 | ファナック株式会社 | Failure prediction system of control device |
-
1992
- 1992-11-19 JP JP4309897A patent/JPH06161796A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016152011A (en) * | 2015-02-19 | 2016-08-22 | ファナック株式会社 | Failure prediction system of control device |
US9891975B2 (en) | 2015-02-19 | 2018-02-13 | Fanuc Corporation | Failure prediction system of controller |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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