JPH01283654A - Error detecting device - Google Patents

Error detecting device

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JPH01283654A
JPH01283654A JP63112366A JP11236688A JPH01283654A JP H01283654 A JPH01283654 A JP H01283654A JP 63112366 A JP63112366 A JP 63112366A JP 11236688 A JP11236688 A JP 11236688A JP H01283654 A JPH01283654 A JP H01283654A
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JP
Japan
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error
bit
data
buffer
bit error
Prior art date
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Pending
Application number
JP63112366A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masatoshi Tominaga
富永 正敏
Hiroyuki Eguchi
江口 裕之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Corp
NEC Engineering Ltd
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Publication date
Application filed by NEC Corp, NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH01283654A publication Critical patent/JPH01283654A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To appropriately know the replacement time of a storage element by holding a generation address of a 1-bit error and 1-bit error generating bit instructing data in a generation address buffer of plural 1-bit errors and a 1-bit error generating bit instructing data buffer. CONSTITUTION:In an error address buffer 23, a 1-bit error is detected and corrected by an error check code checking circuit 20, plural write data which have been sent out are held, and a 1-bit error generating bit instructing data buffer holds plural 1-bit error generating bit instructing data for instructing a generating bit of a 1-bit error which has been generated. Also, a data fault value buffer holds a data fault value for showing whether the 1-bit error which has been generated has caused a fault by '0' or has caused a fault by '1'. Moreover, an output selecting circuit 22 selects the contents of an error address buffer 23, the contents of the 1-bit error instructing data buffer and the contents of the data fault value buffer. In such a way, the replacement time of a storage element can be known.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、情報処理装置に係わり、特にエラーチェック
コードを用いる記憶装置のエラー検出装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an information processing device, and particularly to an error detection device for a storage device using an error check code.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

この種の従来のエラー訂正方式においては、記憶装置か
らの読出情報にエラーが存在するか否かをエラーチェッ
クコード(ECC)を用いて判定し、エラーが1ビット
エラーの場合は、これを訂正すると共に1ビットエラー
を中央処理装置に報告するように構成されている。中央
処理装置は、この報告を受けると、1ビットエラーの位
置を調べるなどの処理を行う。そして、エラーが2ビッ
トエラーの場合は、これを訂正せず、中央処理装置にそ
の旨を報告し、システムダウンにしていた。
In this type of conventional error correction method, an error check code (ECC) is used to determine whether or not there is an error in the information read from the storage device, and if the error is a 1-bit error, it is corrected. and is configured to report one-bit errors to the central processing unit. When the central processing unit receives this report, it performs processing such as checking the position of the 1-bit error. If the error was a 2-bit error, the error was not corrected, but the error was reported to the central processing unit and the system was brought down.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

このように従来のエラー訂正方式は、1ビットエラーが
発生したときは読出情報を訂正し、処理を続行するが、
中央処理装置は、このような1ビットエラーの発生毎に
その発生位置を調べるなどの処理を行わなくてはならず
、中央処理装置の処理能力が低下するという問題があっ
た。
In this way, in the conventional error correction method, when a 1-bit error occurs, the read information is corrected and processing continues.
The central processing unit has to perform processing such as checking the position of occurrence each time such a one-bit error occurs, resulting in a problem that the processing capacity of the central processing unit is reduced.

また、記憶装置に1ビットエラーが内在する状態では、
2とットエラーの発生確率も高くなり、従って、システ
ムダウンの恐れが生じる。この場合、従来の方式では1
とットエラーが発生した記憶素子を解析する手段がない
ので、不良記憶素子の切り分けおよび交換が難しく、ま
た適切な交換時期が分からないという問題があった。
In addition, in a state where a 1-bit error exists in the storage device,
2, the probability of occurrence of a hit error also increases, and there is therefore a risk of system failure. In this case, in the conventional method, 1
Since there is no means to analyze a memory element in which a short error has occurred, there are problems in that it is difficult to isolate and replace a defective memory element, and it is difficult to know when to replace the defective memory element.

そこで本発明の目的は、1ビット誤りアドレスと1ビッ
トエラー発生ビット指示データを複数のバッファに順次
格納し、必要に応じてエラーアドレスと1ビットエラー
発生ビット指示データとデータ故障値を複数個読み出す
ことにより、1ビットエラーが多発する記憶素子の“0
”固定故障か、“1”固定故障かの切り分けを可能とし
、その交換時期を知ることを可能とするエラー検出装置
を提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to sequentially store a 1-bit error address and 1-bit error occurrence bit instruction data in a plurality of buffers, and read out a plurality of error addresses, 1-bit error occurrence bit instruction data, and data failure values as necessary. As a result, “0” in the memory element where 1-bit errors occur frequently
It is an object of the present invention to provide an error detection device that makes it possible to distinguish between a "fixed failure" and a "1" fixed failure, and to know when to replace it.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明のエラー検出装置は、書込データが書き込まれる
記憶素子と、この記憶素子への書き込み時に上言己書込
データに対しエラーチェックコードを発生してそれに付
与するエラーチェックコード発生回路と、メモリ読出に
際して上記記憶装置に書き込まれた書込データに付与さ
れたエラーチェックコードをチェックし、1ビットエラ
ーを検出したときはこれを訂正するエラーチェックコー
ドチェック回路とを備えた情報処理装置において、上記
エラーチェックコードチェック回路により1ビットエラ
ーを検出訂正され、送出された書込データのアドレス情
報を複数個保持するエラーアドレスバッファと、発生し
た1ビットエラーの発生ビットを指示する1ビットエラ
ー発生ビット指示データを複数個保持する1ビットエラ
ー発生ビット指示データバッファと、発生した1ビット
エラーが“0°で故障したか、“1”で故障したかを示
すデータ故障値を保持するデータ故障値バッファと、上
記エラーチェックコード回路により検出訂正された上記
書込データの訂正情報を送出され、エラーアドレスとエ
ラーピット位置の読出に際し、上記エラーアドレスバッ
ファの内容と、1ビットエラー指示データバッファの内
容と、データ故障値バッファの内容を選択し、送出する
出力選択回路とを具備している。
The error detection device of the present invention includes a memory element into which write data is written, an error check code generation circuit that generates and attaches an error check code to the written data when writing to the memory element. An information processing device comprising: an error check code check circuit that checks an error check code added to write data written to the storage device when reading the memory, and corrects a 1-bit error when it is detected; An error address buffer that holds multiple pieces of address information of write data that has been detected and corrected by the error check code check circuit and sent out, and a 1-bit error occurrence bit that indicates the bit where the 1-bit error occurred. A 1-bit error occurrence bit instruction data buffer that holds multiple pieces of instruction data, and a data failure value buffer that holds a data failure value that indicates whether the 1-bit error that occurred occurred at “0°” or “1”. Then, the correction information of the write data detected and corrected by the error check code circuit is sent, and when reading the error address and error pit position, the contents of the error address buffer and the contents of the 1-bit error instruction data buffer are , and an output selection circuit that selects and outputs the contents of the data failure value buffer.

従って、本発明によるエラー検出装置を用いると、エラ
ーアドレスバッファは、エラーチェックコードチェック
回路により1ビットエラーを検出訂正され、送出された
複数の書込データを保持し、1ピツト工ラー発生ビット
指示データバッファは、発生した1ビットエラーの発生
ビットを指示する複数の1ビットエラー発生ビット指示
データを保持する。そして、データ故障値バッファは、
発生した1ビットエラーが“0″で故障したか“1″で
故障したかを示すデータ故障値を保持する。さらに、出
力選択回路は、上記エラーアドレスバッファの内容と1
ビットエラー指示データバッファの内容、およびデータ
故障値バッファの内容を選択する。これにより、1ビッ
トエラーが多発する記憶装置のアドレスと、1ビットエ
ラーが多発するデータビット位置と、1ビットエラーが
多発するデータ故障値を知ることができる。
Therefore, when the error detection device according to the present invention is used, the error address buffer holds a plurality of pieces of write data that have been detected and corrected by the error check code check circuit and sent out, and the error address buffer is configured to hold a plurality of pieces of write data that have been sent out after the error check code check circuit detects and corrects them. The data buffer holds a plurality of 1-bit error occurrence bit instruction data indicating the occurrence bit of the 1-bit error that has occurred. And the data failure value buffer is
It holds a data failure value indicating whether the generated 1-bit error is "0" or "1". Furthermore, the output selection circuit selects the contents of the error address buffer and 1
Select the contents of the bit error indication data buffer and the contents of the data failure value buffer. This makes it possible to know the address of the storage device where 1-bit errors occur frequently, the data bit position where 1-bit errors occur frequently, and the data failure value where 1-bit errors occur frequently.

〔実施例〕〔Example〕

以上実施例につき本発明の詳細な説明する。 The present invention will be described in detail with reference to the embodiments above.

第1図は本実施例のエラー検出装置を表わしたものであ
る。
FIG. 1 shows the error detection device of this embodiment.

図において、記憶素子11は、アドレスバス12とデー
タバス13を介して図示しない中央処理装置に接続され
る。エラーチェックコード(ECC)発生回路15は、
データバス13に接続され、またエラーチェックコード
(ECC)チェック回路16に接続され、さらに記憶素
子入出力データバス18を介して記憶素子11に接続さ
れる。エラーチェックコード(ECC)チェック回路2
0は、タイミング発生回路21、出力選択回路22、エ
ラーバッファ23に接続される。
In the figure, a memory element 11 is connected to a central processing unit (not shown) via an address bus 12 and a data bus 13. The error check code (ECC) generation circuit 15 is
It is connected to a data bus 13 , an error check code (ECC) check circuit 16 , and further connected to a storage element 11 via a storage element input/output data bus 18 . Error check code (ECC) check circuit 2
0 is connected to the timing generation circuit 21, the output selection circuit 22, and the error buffer 23.

次に動作について説明する。Next, the operation will be explained.

図示しない中央処理装置からメモリ書込要求があると、
ECC発生回路15は、データバス13上の書込データ
に対しECCビットを発生する。
When a memory write request is received from a central processing unit (not shown),
ECC generation circuit 15 generates an ECC bit for write data on data bus 13.

そして、記憶素子入出力データバス18を介して記憶素
子11に書込データが書き込まれる。
Then, write data is written to the memory element 11 via the memory element input/output data bus 18.

図示しない中央処理装置からメモリ読出要求があると、
ECCチェック回路20は、記憶素子11から読み出さ
れた読出データに対し、FCCチェックを行う。そして
、1ビットエラーを検出したときはこれを訂正するが、
2ビットエラーを検出したときはデータ訂正は行わない
。そして、ECC訂正データ25を出力選択回路22を
介してデータバス13に出力し、図示しない中央処理装
置に送出する。
When a memory read request is received from a central processing unit (not shown),
The ECC check circuit 20 performs an FCC check on read data read from the storage element 11. Then, when a 1-bit error is detected, it is corrected.
No data correction is performed when a 2-bit error is detected. Then, the ECC correction data 25 is outputted to the data bus 13 via the output selection circuit 22, and sent to the central processing unit (not shown).

ここで、図示しない中央処理装置からメモリ読出要求が
あり、しかも1ビットエラーが発生したときは、1ビツ
ト工ラー検出信号28がタイミング発生回路21に送ら
れる。これを受けたタイミング発生回路21は、エラー
バッファ23に対して、エラーバッファ番号をインクリ
メントし、かつエラーバッファ番号指示信号30を用い
てエラーバッファ番号を通知する。さらに、このエラー
バッファ23に対してエラーバッファ書込ハルス31を
送出し、このエラーバッファ23に、1ビットエラー発
生時の記憶素子切替アドレス32と、1ビットエラー発
生ビット指示データ33と、ビット故障が“0”か“1
”かを示すデータ故障値34を格納する。
Here, when a memory read request is received from a central processing unit (not shown) and a 1-bit error occurs, a 1-bit error detection signal 28 is sent to the timing generation circuit 21. Upon receiving this, the timing generation circuit 21 increments the error buffer number and notifies the error buffer 23 of the error buffer number using the error buffer number instruction signal 30. Furthermore, an error buffer write Hals 31 is sent to this error buffer 23, and a storage element switching address 32 when a 1-bit error occurs, 1-bit error occurrence bit instruction data 33, and a bit failure is “0” or “1”
A data failure value 34 indicating "is stored."

さらに、タイミング発生回路21は、図示しない中央処
理装置から、アドレスバス12を介してエラーバッファ
読出指示36を受けると、エラーバッファ番号指示信号
30により示されたエラーバッファ23内のエラー記憶
素子番号38と、1ビットエラー発生ビット指示データ
バッファ出力39と、データ故障値バッファ出力40と
を、出力選択回路22を動作させて、図示しない中央処
理装置に対して順次送出する。このとき、エラーバッフ
ァ番号指示信号30がインクリメントされる。
Furthermore, upon receiving an error buffer read instruction 36 from a central processing unit (not shown) via the address bus 12, the timing generation circuit 21 receives an error storage element number 36 in the error buffer 23 indicated by the error buffer number instruction signal 30. , a 1-bit error occurrence bit designation data buffer output 39 , and a data failure value buffer output 40 are sequentially sent to a central processing unit (not shown) by operating the output selection circuit 22 . At this time, the error buffer number indication signal 30 is incremented.

このようにして、図示しない中央処理装置は、エラーバ
ッファ23に格納されたエラー記憶素子番号とデータエ
ラー位置とデータ故障値とを知ることにより、記憶素子
11の適切な交換時期を知ることができる。
In this way, the central processing unit (not shown) can know the appropriate time to replace the storage element 11 by knowing the error storage element number, data error position, and data failure value stored in the error buffer 23. .

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

このように、本発明のエラー検出装置は、1ビットエラ
ーの発生アドレスと1ビットエラー発生ビット指示デー
タを、複数の1ビットエラーの発生アドレスバッファと
1ビットエラー発生ビット指示データバッファに保持す
ることにより、(1)1ビットエラーが多発すると、ア
ドレスと、(2)1ビットエラーが多発するデータビッ
ト位置と、 (3)1ビットエラーが多発するデータ故障値とを知る
ことができ、従って記憶素子の交換時期を適切に知るこ
とができる効果がある。
As described above, the error detection device of the present invention stores the 1-bit error occurrence address and 1-bit error occurrence bit instruction data in a plurality of 1-bit error occurrence address buffers and 1-bit error occurrence bit instruction data buffer. As a result, it is possible to know (1) the address when 1-bit errors occur frequently, (2) the data bit position where 1-bit errors occur frequently, and (3) the data failure value where 1-bit errors occur frequently. This has the effect of allowing you to appropriately know when to replace the element.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明によるエラー検出装置の一実施例を示す
ブロック図である。 11・・・・・・記憶素子、 15・・・・・・ECC発生回路、 20・・・・・・ECCチェック回路、22・・・・・
・出力選択回路、 23・・・・・・エラーバッファ。 出 願 人 日本電気株式会社 日本電気エンジニアリング株式会社 代 理 人 弁理士 山内 梅雄
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of an error detection device according to the present invention. 11... Memory element, 15... ECC generation circuit, 20... ECC check circuit, 22...
- Output selection circuit, 23...Error buffer. Applicant NEC Corporation NEC Engineering Co., Ltd. Agent Patent attorney Umeo Yamauchi

Claims (1)

【特許請求の範囲】 書込データが書き込まれる記憶素子と、この記憶素子へ
の書き込み時に前記書込データに対しエラーチェックコ
ードを発生してそれに付与するエラーチェックコード発
生回路と、メモリ読出に際して前記記憶素子に書き込ま
れた前記書込データに付与されたエラーチェックコード
をチェックし、1ビットエラーを検出したときはこれを
訂正するエラーチェックコードチェック回路とを備えた
情報処理装置において、 前記エラーチェックコードチェック回路により1ビット
エラーを検出訂正され、送出された書込データのアドレ
ス情報を複数個保持するエラーアドレスバッファと、 発生した1ビットエラーの発生ビットを指示する1ビッ
トエラー発生ビット指示データを複数個保持する1ビッ
トエラー発生ビット指示データバッファと、 発生した1ビットエラーが“0”で故障したか、“1”
で故障したかを示すデータ故障値を保持するデータ故障
値バッファと、 前記エラーチェックコードチェック回路により検出訂正
された前記書込データの訂正情報を送出され、エラーア
ドレスとエラービット位置の読出しに際し、前記書込デ
ータの訂正情報に基づいて前記エラーアドレスバッファ
の内容と、1ビットエラー指示データバッファの内容と
、データ故障値バッファの内容を選択する出力選択回路 とを具備することを特徴とするエラー検出装置。
[Scope of Claims] A memory element into which write data is written, an error check code generating circuit that generates and attaches an error check code to the write data when writing to the memory element, and an error check code generation circuit that generates and attaches an error check code to the write data when writing to the memory element; and an error check code check circuit that checks an error check code added to the write data written in a storage element and corrects a 1-bit error when it is detected, the error check comprising: The code check circuit detects and corrects 1-bit errors and stores an error address buffer that holds multiple pieces of address information for the sent write data, and 1-bit error occurrence bit instruction data that indicates the bit where the 1-bit error occurred. The data buffer holds multiple 1-bit error occurrence bits and indicates whether the 1-bit error that occurred is "0" and a failure has occurred, or "1".
a data failure value buffer that holds a data failure value indicating whether a failure has occurred; and correction information of the write data detected and corrected by the error check code check circuit, and when reading the error address and error bit position, An output selection circuit that selects the contents of the error address buffer, the contents of the 1-bit error indication data buffer, and the contents of the data failure value buffer based on the correction information of the write data. Detection device.
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