JPH01116746A - Information processor - Google Patents

Information processor

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Publication number
JPH01116746A
JPH01116746A JP62273168A JP27316887A JPH01116746A JP H01116746 A JPH01116746 A JP H01116746A JP 62273168 A JP62273168 A JP 62273168A JP 27316887 A JP27316887 A JP 27316887A JP H01116746 A JPH01116746 A JP H01116746A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
error
data
bit
buffer
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62273168A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tsuneo Suzuki
鈴木 経男
Hiroyuki Eguchi
江口 裕之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Corp
NEC Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, NEC Engineering Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP62273168A priority Critical patent/JPH01116746A/en
Publication of JPH01116746A publication Critical patent/JPH01116746A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To decide a storage element in which 1-bit error occurs frequently and to know its exchange time by reading plural error addresses and the data positions of the 1-bit error calculated from a syndrome out of error buffer if necessary. CONSTITUTION:The title device has an error position detecting circuit 70 to calculate a bit position where the 1-bit error occurs from the error syndrome outputted from an error buffer 60 and an output selecting circuit 80 to receive the error address held in the error buffer 60 and output data from the error position detecting circuit 70 and to output these data in accordance with a reading-out request from a central processing unit. An error detecting/correcting circuit 50 corrects the 1-bit error occurring in read-out data from a storage device 30, sends it to the output selecting circuit 80 and sends the error address and the error syndrome of the data in which the detected 1-bit error occurs to the error buffer 60. Thus, the storage element in which the 1-bit error occurs frequently can be decided and the exchange time of the storage element can be known.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は情報処理装置に係わり、特にエラーチエツクコ
ードを使用する記憶装置の読出データ(読出情報)のエ
ラー検出に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an information processing device, and particularly to error detection in read data (read information) of a storage device using an error check code.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来のこの種の情報処理装置における記憶装置の読出情
報のエラー検出にあっては、記憶装置からの読出情報に
エラーが存在するか否かをエラーチエツクコード(EC
C)により判定し、エラーが1ビットエラーである場合
にはこれを訂正すると共に、1ビットエラーを検出した
ことを中央処理装置に報告する。
In conventional information processing apparatuses of this kind, error detection of information read from a storage device uses an error check code (EC) to determine whether there is an error in information read from the storage device.
C), and if the error is a 1-bit error, it is corrected, and the fact that a 1-bit error has been detected is reported to the central processing unit.

中央処理装置はこの報告を受けて1ビットエラーが発生
したビット位置を調べる等の処理を行う。
Upon receiving this report, the central processing unit performs processing such as checking the bit position where the 1-bit error has occurred.

読出情報に発生したエラーが2ビットエラーの場合には
エラーの訂正は行わずに中央処理装置に2ビットエラー
を検出した旨、報告し、中央処理装置はこの報告を受け
てシステムダウンに至らしめるように構成されていた。
If the error that occurs in the read information is a 2-bit error, the error is not corrected and the central processing unit is notified that a 2-bit error has been detected, and the central processing unit receives this report and causes the system to go down. It was structured like this.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述したように従来の情報処理装置では1ビットエラー
が発生しても記憶装置からの読出情報は訂正され、処理
は続行するが、読出情報に1ビットエラーが発生する毎
に中央処理装置は1ビットエラーのビット位置を調べる
等の処理を行う為に中央処理装置の本来の処理能力が低
下するという問題があった。
As mentioned above, in conventional information processing devices, even if a 1-bit error occurs, the read information from the storage device is corrected and processing continues, but each time a 1-bit error occurs in the read information, the central processing unit There is a problem in that the original processing capacity of the central processing unit is degraded due to processing such as checking the bit position of a bit error.

また記憶装置に1ビットエラーが内在する状態では2ビ
ットエラーの発生確率が高くなり、システムダウンに至
る恐れがあるが、従来の情報処理装置では1ビットエラ
ーが発生した記憶装置における記憶素子を解析する手段
がないために記憶素子の交換が難しく、また適切な交換
時期を判断することができないという問題があった。
Furthermore, when a 1-bit error exists in a storage device, the probability of a 2-bit error occurring increases, leading to a system failure, but conventional information processing devices analyze the storage elements in the storage device where a 1-bit error has occurred. There is a problem in that it is difficult to replace the memory element because there is no means to do so, and it is not possible to determine the appropriate time to replace the memory element.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
1ビットエラーが多発する記憶素子を判定することがで
き、その記憶素子の交換時期を知ることができる情報処
理装置を提供することを目的とするものである。
The present invention was made in view of these circumstances, and
It is an object of the present invention to provide an information processing device that can determine a storage element that frequently causes one-bit errors, and can know when to replace the storage element.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は上記目的を達成するために、記憶装置からの読
出データ中に発生した1ビットエラー検出時のデータの
エラーアドレスとエラーシンドロームを複数、保持する
エラーバッファと、このエラーバッファから出力される
エラーシンドロームから1ビットエラーが発生したビッ
ト位置を計算する誤り位置検出回路と、エラーバッファ
に保持したエラーアドレスおよび誤り位置検出回路から
の出力データを受けてこれらのデータを中央処理装置か
らの読出要求に応じて出力する出力選択回路とを有し、
エラー検出・訂正回路は記憶装置からの読出データ中に
発生した1ビットエラーを訂正した訂正読出データを出
力選択回路に送出すると共に、検出した1ビットエラー
の発生したデータのエラーアドレスとエラーシンドロー
ムをエラーバッファに送出することを特徴とするもので
ある。
In order to achieve the above object, the present invention includes an error buffer that holds a plurality of error addresses and error syndromes of data when a 1-bit error occurring in data read from a storage device is detected, and a plurality of error syndromes that are output from the error buffer. An error position detection circuit that calculates the bit position where a 1-bit error has occurred from the error syndrome, and a request to read these data from the central processing unit after receiving the error address held in the error buffer and the output data from the error position detection circuit. It has an output selection circuit that outputs according to the
The error detection/correction circuit sends corrected read data that corrects a 1-bit error that occurred in the read data from the storage device to the output selection circuit, and also outputs the error address and error syndrome of the data in which the detected 1-bit error has occurred. This is characterized by sending the data to an error buffer.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図には本発明に係わる情報処理装置の一実施例の構
成が示されている。同図において、アドレスバス10お
よびデータバス20を介して記憶装置30と図示しない
中央処理装置とが接続されている。
FIG. 1 shows the configuration of an embodiment of an information processing apparatus according to the present invention. In the figure, a storage device 30 and a central processing unit (not shown) are connected via an address bus 10 and a data bus 20.

中央処理装置から記憶装置30に対して書込要求がある
と、FCC発生回路40はデータバス20上に出力され
た書込データに対するECCビットを発生し、記憶装置
入出力データパス100を介して記憶装置30内の記憶
素子に対してメモリ書き込みを行う。
When there is a write request from the central processing unit to the storage device 30, the FCC generation circuit 40 generates an ECC bit for the write data output on the data bus 20, and sends the ECC bit to the storage device input/output data path 100. Memory writing is performed to the memory element in the memory device 30.

一方、中央処理装置から記憶装置30に対して読出要求
が出された場合にはECCチエツク回路50により読出
テ°−夕のエラーチエツクコード(FCC)のチエツク
が行われ、読出データに1ビットエラーが検出された場
合には読出データは訂正され、2ビットエラーが検出さ
れた場合には読出データの訂正は行われずにECC修正
データ110が出力選択回路80を介してデータバス2
0に出力され、中央処理装置に送出される。
On the other hand, when a read request is issued from the central processing unit to the storage device 30, the ECC check circuit 50 checks the error check code (FCC) of the read data, and detects a 1-bit error in the read data. If a 2-bit error is detected, the read data is corrected, and if a 2-bit error is detected, the read data is not corrected and the ECC corrected data 110 is sent to the data bus 2 via the output selection circuit 80.
0 and sent to the central processing unit.

本実施例では、中央処理装置の記憶装置30に対する読
出要求時に、1ビットエラーが発生した際にECCチエ
ツク回路50はタイミング発生回路90に1ビツト工ラ
ー検出信号112を出力する。タイミング発生回路90
はエラーバッファ60に対してエラーバッファ番号をイ
ンクリメントし、エラーバッファ番号指示信号114に
よりエラーバッファ番号を通知すると共に、エラーバッ
ファ書込パルス116を送り、1ビットエラー発生時の
記憶素子切替アドレス118およびECCシンドローム
120を格納する。
In this embodiment, when a 1-bit error occurs during a read request to the storage device 30 of the central processing unit, the ECC check circuit 50 outputs a 1-bit error detection signal 112 to the timing generation circuit 90. Timing generation circuit 90
increments the error buffer number for the error buffer 60, notifies the error buffer number by the error buffer number instruction signal 114, sends the error buffer write pulse 116, and sets the storage element switching address 118 and ECC syndrome 120 is stored.

一方、アドレスバスlOを介して中央処理装置よりタイ
ミング発生回路90に対してエラーバッファ読出指示1
30が出されると、タイミング発主回路90はエラーバ
ッファ番号指示信号114をエラーバッファ60に出力
する。この結果エラーバッファ60よりエラーバッファ
番号指示信号114により示されたエラー記憶素子番号
140が出力選択回路80に、またエラーシンドローム
142が誤り検出回路70にそれぞれ出力される。誤り
検出回路70では入力されたエラーシンドロームからエ
ラーピット位置を計算し、このエラーピット位置を示す
データ誤り位置信号150を出力選択回路80に出力す
る。
On the other hand, the central processing unit issues an error buffer read instruction 1 to the timing generation circuit 90 via the address bus lO.
30, timing generator circuit 90 outputs error buffer number designation signal 114 to error buffer 60. As a result, the error storage element number 140 indicated by the error buffer number indication signal 114 is outputted from the error buffer 60 to the output selection circuit 80, and the error syndrome 142 is outputted to the error detection circuit 70. The error detection circuit 70 calculates the error pit position from the input error syndrome, and outputs a data error position signal 150 indicating the error pit position to the output selection circuit 80.

出力選択回路80はアドレスバス10およびデータバス
20を介して接続される中央処理装置に対してエラーバ
ッファ番号をインクリメントしつつ、順次、エラー記憶
素子番号140およびデータ誤り位置信号150を送出
する。この結果、中央処理装置ではエラーバッファ内に
格納されたエラー記憶素子番号とデータ誤り位置を判定
することができ、1ビットエラーの多発する記憶素子の
交換時期を知ることができる。
Output selection circuit 80 sequentially sends error storage element number 140 and data error position signal 150 to the central processing unit connected via address bus 10 and data bus 20 while incrementing the error buffer number. As a result, the central processing unit can determine the error storage element number and data error position stored in the error buffer, and can know when to replace a storage element that frequently causes 1-bit errors.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上に説明したように本発明では1ビットエラーの発生
アドレスとシンドロームを複数個のバッファからなるエ
ラーバッファに順次格納し、必要に応じてエラーバッフ
ァよりエラーアドレスと、シンドロームから計算される
1ビットエラーのデータ位置を複数個読み出すことがで
きるように構成したので、1ビットエラーの多発する記
憶素子を判定することができ、それ故その交換時期を知
ることが可能となる。
As explained above, in the present invention, the address and syndrome of a 1-bit error are stored sequentially in an error buffer consisting of a plurality of buffers, and if necessary, the error address is stored from the error buffer and the 1-bit error is calculated from the syndrome. Since the structure is configured such that a plurality of data positions can be read out, it is possible to determine which storage element frequently causes 1-bit errors, and therefore it is possible to know when to replace it.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係わる情報処理装置の一実施例の構成
を示すブロック図である。 10・・・・・・アドレスバス、 20・・・・・・データバス、 30・・・・・・記憶装置、 40・・・・・・ECC発生回路、 50・・・・・・ECCチエツク回路、60・・・・・
・エラーバッファ、 70・・・・・・誤り位置検出回路、 80・・・・・・出力選択回路、 90・・・・・・タイミング発生回路。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of an information processing apparatus according to the present invention. 10...Address bus, 20...Data bus, 30...Storage device, 40...ECC generation circuit, 50...ECC check circuit, 60...
・Error buffer, 70...Error position detection circuit, 80...Output selection circuit, 90...Timing generation circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 中央処理装置と、記憶装置と、この記憶装置からの読出
データ中に発生した1ビットエラーを検出・訂正するエ
ラー検出・訂正回路を備えた情報処理装置において、 1ビットエラー検出時のデータのエラーアドレスとエラ
ーシンドロームを複数、保持するエラーバッファと、 このエラーバッファから出力されるエラーシンドローム
から1ビットエラーが発生したビット位置を計算する誤
り位置検出回路と、 前記エラーバッファに保持したエラーアドレスおよび誤
り位置検出回路からの出力データを受けてこれらのデー
タを中央処理装置からの読出要求に応じて出力する出力
選択回路とを有し、前記エラー検出・訂正回路は記憶装
置からの読出データ中に発生した1ビットエラーを訂正
した訂正読出データを出力選択回路に送出すると共に、
検出した1ビットエラーの発生したデータのエラーアド
レスとエラーシンドロームを前記エラーバッファに送出
することを特徴とする情報処理装置。
[Scope of Claim] An information processing device comprising a central processing unit, a storage device, and an error detection/correction circuit for detecting and correcting a 1-bit error occurring in data read from the storage device, comprising: an error buffer that holds a plurality of error addresses and error syndromes of data at the time of detection; an error position detection circuit that calculates a bit position where a 1-bit error has occurred from the error syndrome output from the error buffer; and an output selection circuit that receives output data from the held error address and error position detection circuit and outputs these data in response to a read request from the central processing unit, and the error detection/correction circuit receives output data from the storage device. Sends the corrected read data that corrects the 1-bit error that occurred in the read data to the output selection circuit,
An information processing device characterized in that an error address and an error syndrome of data in which a detected 1-bit error has occurred are sent to the error buffer.
JP62273168A 1987-10-30 1987-10-30 Information processor Pending JPH01116746A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015011385A (en) * 2013-06-26 2015-01-19 富士通セミコンダクター株式会社 Monitoring circuit, semiconductor device, and memory monitoring method

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53140940A (en) * 1977-05-16 1978-12-08 Hitachi Ltd Memory circuit

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