JPH0616050B2 - 自動化学分析装置 - Google Patents

自動化学分析装置

Info

Publication number
JPH0616050B2
JPH0616050B2 JP3504486A JP3504486A JPH0616050B2 JP H0616050 B2 JPH0616050 B2 JP H0616050B2 JP 3504486 A JP3504486 A JP 3504486A JP 3504486 A JP3504486 A JP 3504486A JP H0616050 B2 JPH0616050 B2 JP H0616050B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sampling
suction
data
suction pressure
automatic chemical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP3504486A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS62194465A (ja
Inventor
昇 横谷
亮 内田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP3504486A priority Critical patent/JPH0616050B2/ja
Publication of JPS62194465A publication Critical patent/JPS62194465A/ja
Publication of JPH0616050B2 publication Critical patent/JPH0616050B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は試料の吸引状態を監視するサンプリングモニタ
を備えた自動化学分析装置に関する。
(従来の技術 自動化学分析装置等ではサンプリング(吸引動作)の状
態をモニタするために圧力センサを応用したサンプリン
グモニタを標準装備している。このサンプリングモニタ
は試料(サンプル)の吸引時における吸引圧の変動を高
感度の圧力センサを応用して検知するものであり、吸引
されるサンプルの粘性が正常値範囲内であり、且つ適切
なサンプリングがなされていれば吸引時の圧力変化はあ
る一定の値を示し、ノズル先端がフィブリンなどで詰っ
た場合は、この一定範囲の圧力変化より大きな圧力変化
が検出されるのでこれにより「詰り」を検知し、逆にサ
ンプルが無く空気を吸引してしまった場合は、一定の圧
力変化よりも小さい圧力変化となるので、これにより
「空吸引」を検知するという機能を有している。
しかしながら従来のサンプリングモニタは、常に吸引ポ
ンプの動作開始点から一定時間経過後の吸引状態を検出
する方式を採用していたため、種々の問題が生じてい
た。即ち、常に一定量の吸引を行なう場合には上記検出
方式で十分ではあるが、通常の量より少な目の吸引量の
場合あるいは通常量の数倍の吸引量の場合には上記方法
では誤判定が生じたりして正確な判定が困難になるとい
う問題が生ずるわけである。
(発明が解決しようとする問題点) 上記した如く、従来の吸引開始から一定時間経過後に吸
引状態の判定を行なう方式にあっては判定精度の悪化を
招くという欠点がある。
そこで本発明は以上の欠点を除去するもので、判定精度
の向上を図ることのできる自動化学分析装置を提供する
ことを目的とするものである。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 上記目的を達成するため、本発明における自動化学分析
装置にあっては、サンプルリングポンプを用いて試料を
サンプリングし該試料の化学分析を行なう自動化学分析
装置において、前記サンプリングポンプ定常動作終了後
の所定範囲内における経時的な吸引圧を順次検出する検
出手段と、この検出手段による検出結果を記憶する記憶
手段と、該記憶手段に記憶された所定タイミングの複数
の検出結果から吸引圧変化の基準線を求めこの基準線と
前記各経時時な吸引圧とを比較しこの比較結果に基づい
て吸引状態を判別する判別手段とを有するサンプリング
モニタを備えることを特徴とするものである。
(作用) サンプリングポンプの定常動作終了後はポンプの動作速
度の低下に従って吸引圧も低下して行く筈であり、定常
動作終了後の所定期間内においては、吸引圧変化は動作
速度の低下同様直線上を移動することになる。ところ
が、「詰り」が生ずると途中のデータは直線を大きく上
回ることにより、逆に「空吸引」の場合は直線を大きく
下回ることになる。従って前記直線と各記憶データとを
逐次比較して行くことによって吸引状態を正確に検査す
ることができる。
(実施例) 以下実施例により本発明を具体的に説明する。
第1図は本発明の一実施例たる自動化学分析装置におけ
るサンプリング機構部のブロック図である。図中1はサ
ンプルカップ2内のサンプルを吸引するためのサンプリ
ングノズルであり、三方ジョイント3を介して圧力セン
サー4に連結されている。5は図示しないサンプリング
ポンプによって駆動されるシリンジであり、その先端は
電磁弁6を介して前記圧力センサー4に連結されてい
る。
第2図は本発明サンプリングモニタのブロック図であ
る。10は前記圧力センサー4からの出力をデイジタル
データに変換するA/D変換器(ADC)であり、書き
込み信号(INTR)と8ビットデータを出力する。1
1は前記ADC10からの出力により8ビットデータを
記憶するメモリである。このメモリ11はアドレスデコ
ーダ12及びアドレスセット回路13からの信号により
書き込み,読み出しの制御が行なわれる。アドレスデコ
ーダ12は、マルチバス14を介して得られるCPU1
5の指令に基づいて動作するものであり、コマンド発生
回路16及び前記アドレスセット回路13に制御信号を
送出する。コマンド発生回路16は、自動インクリメン
ト信号(AUTO INX),自動デクリメント信号
(AUTO DEX)等をアドレスセット回路13に送
出すると共に、ADCスタート信号及びADCストップ
信号を前記ADC10に送出する。17はデータバッフ
ァ回路であり、前記メモリ11から読み出される8ビッ
トデータを転送し、マルチバス14に送出するものであ
る。ここでCPU15は、前記各回路の動作シーケンス
を司ると共に、詳細を後述するような吸引圧データの基
準線を作成し、かつ、この基準線における各吸引圧デー
タとの比較を行ない、吸引状態の判別(検査)を行なう
ようになっている。
次に前記基準線の作成手法について第3図をも参照して
説明する。第3図(a)はサンプリングポンプの速度特
性を示すものであり、同図(b)はサンプリングポンプ
の動作に対応する前記圧力センサー4から得られるデー
タ(吸引圧を電圧として取り出したもの)特性を示して
いる。例えばポンプが定常動作(ここでは定速2000
PPSとする)で回転しているときの吸引圧データP
となっているとすれば、ポンプの定常動作終了から所定
時間(10mSec)後に吸引圧データが減少し始める
のでその変化点から更に所定時間(38msec)経過
後の吸引圧データPと、それから所定時間(100m
sec)経過後の吸引圧Pとの間(区間A)を結ぶ直
線の傾きαを算出する。そして、この直線を延長して区
間B含む直線L(基準線)を得る。この基準線データを
CPU内のメモリに記憶しておく。
以上構成のサンプリングモニタであれば、サンプリング
ポンプが定常動作を終了すると、この停止信号を受けて
CPU15から各種指令信号が送出され、マルチバス1
4を介してアドレスデコーダ12がセットされ、これに
よりメモリ11が動作可能状態になると共に、コマンド
発生回路16が動作を開始する。コマンド発生回路16
からはADCスタート信号がADC10に向けて送出さ
れ、かつ自動インクリメント信号がアドレスセット回路
13に送出される。これにより、メモリ11内には所定
期間(例えば1msec)毎に圧力センサー出力をディ
ジタル化したデータが書き込まれる。そして、ポンプの
定常動作終了から所定時間(例えば200msec)経
過すると、コマンド発生回路16からADCストップ信
号が出力され、メモリ11へのデータの書き込みが停止
する。その後、CPU15からの信号によりメモリ11
がデータ読み出し状態となり、前記記憶データが順次読
み出され、データバッファ回路17及びマルチバス14
を介してCPU15内のメモリに取り込まれる。CPU
15は全ての記憶データを取込むと、今度は前述の如き
基準線作成作業を開始する。即ち、第3図(b)におけ
る区間Aの2点間のデータに基づく直線を作り出し、こ
れを延長して区間Bを含む基準線Lを作る。その後、C
PU内のメモリに格納されている1msec毎のデータ
を順次チェックし、直線L上に位置するか、あるいは外
れているかを比較判別する。この判別の仕方は例えば第
3図(b)の区間Bにおける直線Lから±78mV外れ
るデータの個数nをチェックし、例えば基準線から下方
に位置するデータ個数がn≧16であれば「空吸引」と
判断しn=0〜 15であれば「正常」と判断する一
方、そのデータが基準線よりも上方に位置しており、か
つ個性n≧16の場合は「詰り」と判断する。
かかる判断結果は図示しない表示装置やプリンタに出力
することにより検査者が容易に知り得る。
[発明の効果] 以上詳述した通り、本発明によれば正確かつ精度の良い
吸引状態の監視を行うことがでるサンプリングモニタを
備えた自動化学分析装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例たる自動化学分析装置におけ
るサンプリング機構部のブロック図、第2図は本発明サ
ンプリングモニタの一実施例を示すブロック図、第3図
(a)はサンプリングポンプの速度特性図、同図(b)
は吸引圧の経時的変化特性図である。 1……サンプリングモニタ、2……サンプルカップ、 4……圧力センサー、10……AD変換器、 11……メモリ、15……CPU。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】サンプルリングポンプを用いて試料をサン
    プリングし該試料の化学分析を行なう自動化学分析装置
    において、前記サンプリングポンプ定常動作終了後の所
    定範囲内における経時的な吸引圧を順次検出する検出手
    段と、この検出手段による検出結果を記憶する記憶手段
    と、該記憶手段に記憶された所定タイミングの複数の検
    出結果から吸引圧変化の基準線を求めこの基準線と前記
    各経時的な吸引圧とを比較しこの比較結果に基づいて吸
    引状態を判別する判別手段とを有するサンプリングモニ
    タを備えることを特徴とする自動化学分析装置。
JP3504486A 1986-02-21 1986-02-21 自動化学分析装置 Expired - Fee Related JPH0616050B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3504486A JPH0616050B2 (ja) 1986-02-21 1986-02-21 自動化学分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3504486A JPH0616050B2 (ja) 1986-02-21 1986-02-21 自動化学分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS62194465A JPS62194465A (ja) 1987-08-26
JPH0616050B2 true JPH0616050B2 (ja) 1994-03-02

Family

ID=12431039

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3504486A Expired - Fee Related JPH0616050B2 (ja) 1986-02-21 1986-02-21 自動化学分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0616050B2 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2725940B2 (ja) * 1992-03-03 1998-03-11 アロカ株式会社 分注装置
JP2721620B2 (ja) * 1992-07-08 1998-03-04 アロカ株式会社 閉塞検出機能付分注装置
JP3180010B2 (ja) * 1995-10-13 2001-06-25 株式会社日立製作所 クロマトグラフ分析装置
US5723795A (en) * 1995-12-14 1998-03-03 Abbott Laboratories Fluid handler and method of handling a fluid
JP3425902B2 (ja) * 1999-08-31 2003-07-14 株式会社日立製作所 検体の前処理装置
WO2002073215A2 (de) * 2001-03-09 2002-09-19 Hamilton Bonaduz Ag Verfahren und vorrichtung zur beurteilung eines flüssigkeitsdosierungsvorgangs
JP2004177308A (ja) * 2002-11-28 2004-06-24 Toshiba Medical System Co Ltd 吸引状態判定方法及び自動化学分析装置
JP5192264B2 (ja) * 2008-03-07 2013-05-08 ベックマン コールター, インコーポレイテッド 気泡有無判定方法および分注装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPS62194465A (ja) 1987-08-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4893515A (en) Sample-sucking condition checking method and system
US5502651A (en) Potentiophotometric fibrinogen determination
JP2934557B2 (ja) 血液凝固時間測定方法とその装置
JPS63282669A (ja) 電気部品のキャパシタンスと抵抗を測定するための方法及び装置
JPH0616050B2 (ja) 自動化学分析装置
JPS61145457A (ja) クロマトグラフ用データ処理方法
CN104713614B (zh) 一种液面检测装置及检测方法
US20020064481A1 (en) Automatic analyzer
JP3691847B2 (ja) レーザージャイロマイクロプロセッサの起動制御方法及び装置
US3786352A (en) Rate analysis system with overrange signal detection circuit for identifying false signals
US4506309A (en) Tape drive calibration meter
EP0985915A2 (en) Automatic recognition of different types of liquid level sensor
US4646009A (en) Contacts for conductivity-type sensors
JP5069831B2 (ja) 界面検知装置及びこれを用いた自動分析装置
US11327089B2 (en) Automatic analysis device
JPH06109745A (ja) ノズルの詰まり検知装置
JP3183701B2 (ja) アコースティックエミッション計測処理装置
JPH01136011A (ja) 検査装置
JPH10281763A (ja) 傾斜計
JPS58151556A (ja) 超音波欠陥検出装置の信号分析装置
JP2565647Y2 (ja) 部品吸着装置における吸着完了検出装置
JP2693356B2 (ja) 分注装置
JP3176041B2 (ja) サンプリングモニタ
JP3234285B2 (ja) 分注装置
JPS60160305A (ja) カム軸停止位置検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees