JPH06151594A - Automatic wiring design method of semiconductor integrated circuit chip - Google Patents

Automatic wiring design method of semiconductor integrated circuit chip

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JPH06151594A
JPH06151594A JP4295191A JP29519192A JPH06151594A JP H06151594 A JPH06151594 A JP H06151594A JP 4295191 A JP4295191 A JP 4295191A JP 29519192 A JP29519192 A JP 29519192A JP H06151594 A JPH06151594 A JP H06151594A
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JP
Japan
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circuit block
wiring
circuit
clock signal
wiring design
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Withdrawn
Application number
JP4295191A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Izumi Sakai
泉 酒井
Osamu Umeda
修 梅田
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Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
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Publication date
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  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To briefly perform an automatic wiring design by a method wherein an alteration of a macro-cell library and a sub-wiring path using wiring data at a general wiring design are added in a clock signal line having a plurality of paths realized by a manual wiring design. CONSTITUTION:A first circuit block 11 is selected from a macro-cell library to determine a location in a peripheral region 31 of a LSI chip 30. Simultaneously, a second circuit block 12 is selected to determine a plurality of locations in a chip inside region 32. In order to transmit clock signals from the first circuit block 11 to the second circuit blocks 12 in the plurality of locations, a main wiring path 131 of a clock signal line is automatically determined as usual. Also, based on a predetermined reference considering a reduction in clock skew for this main wiring path 131, a loop part is added to automatically determine a sub-wiring path 132.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路チップ
の自動配線設計方法に係り、特にコンピュータの支援に
より大規模集積回路(LSI)チップ上の回路ブロック
の配置および回路ブロック間の配線を自動設計する装置
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for automatically designing a wiring of a semiconductor integrated circuit chip, and more particularly to automatically arranging circuit blocks on a large scale integrated circuit (LSI) chip and wiring between circuit blocks with the aid of a computer. Regarding the device to be designed.

【0002】[0002]

【従来の技術】LSIの自動配線設計に際しては、例え
ば順序回路に供給されるクロック信号のように多くの負
荷を持つ信号の配線設計を行う場合が多い。図2は、L
SIに設けられた順序回路の一例を示す回路図である。
2. Description of the Related Art In the automatic wiring design of an LSI, the wiring design of a signal having a large load such as a clock signal supplied to a sequential circuit is often performed. 2 is L
It is a circuit diagram which shows an example of the sequential circuit provided in SI.

【0003】ここで、11はクロック入力バッファ回
路、12はクロック入力端子CKを持つフリップフロッ
プ回路であり、順序回路を形成している。13は上記ク
ロック入力バッファ回路11の出力端から上記順序回路
の各クロック入力端子CKに共通に接続されたクロック
信号線、Rは上記各回路間に存在するクロック信号線抵
抗分である。図6は、図2に示した回路を従来の自動配
線設計方法により設計した場合の回路配置および回路間
配線の一例を示している。
Here, 11 is a clock input buffer circuit, and 12 is a flip-flop circuit having a clock input terminal CK, forming a sequential circuit. Reference numeral 13 denotes a clock signal line commonly connected from the output end of the clock input buffer circuit 11 to each clock input terminal CK of the sequential circuit, and R denotes a resistance of the clock signal line existing between the circuits. FIG. 6 shows an example of circuit layout and inter-circuit wiring when the circuit shown in FIG. 2 is designed by a conventional automatic wiring design method.

【0004】クロック入力バッファ回路11は、LSI
チップ30の周辺領域(端子列・入/出力回路の領域)
31に配置され、順序回路を形成するフリップフロップ
回路12群は、チップ中央領域(内部回路領域)32に
配置され、クロック信号線13は、配線抵抗が低い金属
配線(例えばアルミニウム)として設計されるのが通常
である。ここで、従来の自動配線設計の流れを簡単に説
明しておく。
The clock input buffer circuit 11 is an LSI
Peripheral area of chip 30 (terminal row / input / output circuit area)
The group of flip-flop circuits 12 arranged in 31 and forming a sequential circuit are arranged in the chip central region (internal circuit region) 32, and the clock signal line 13 is designed as a metal wiring (for example, aluminum) having a low wiring resistance. Is normal. Here, the flow of the conventional automatic wiring design will be briefly described.

【0005】まず、クロック入力バッファ回路11、フ
リップフロップ回路12の回路ブロック(マクロセル)
のデータをマクロセルライブラリーに予め登録してお
く。次に、各回路ブロックの登録データを参照しなが
ら、各回路ブロックの配置を自動的に決定する。次に、
各回路ブロック間の配線経路について一系統を自動的に
決定する。この後、回路ブロックの配置および回路ブロ
ック間の配線に応じて実際の配線パターンを自動的に設
計する。
First, a circuit block (macro cell) of the clock input buffer circuit 11 and the flip-flop circuit 12
The data of is registered in the macrocell library in advance. Next, the placement of each circuit block is automatically determined with reference to the registration data of each circuit block. next,
One system is automatically determined for the wiring route between each circuit block. After that, an actual wiring pattern is automatically designed according to the layout of the circuit blocks and the wiring between the circuit blocks.

【0006】ところで、図2中に示したクロック信号線
13には配線抵抗Rが存在するので、順序回路の各回路
の段間には、信号伝搬時間の差(クロックスキュー)が
発生し、特に、初段回路と終段回路との間のクロックス
キューは配線抵抗Rの累積に応じて大くなる。このクロ
ックスキューが大きいと、順序回路の動作不良を引き起
こす原因となる。
By the way, since the wiring resistance R exists in the clock signal line 13 shown in FIG. 2, a difference in signal propagation time (clock skew) occurs between the stages of each circuit of the sequential circuit. The clock skew between the first-stage circuit and the last-stage circuit increases as the wiring resistance R accumulates. If this clock skew is large, it may cause a malfunction of the sequential circuit.

【0007】しかし、従来の自動配線設計方法は、クロ
ックスキューの低減を考慮した自動配線設計機能を備え
ていないので、クロックスキュー対策としてクロック信
号経路の配線抵抗を減らすために、LSIチップの自動
配線設計の途中でマニュアル配線設計を行っている。図
7および図8は、それぞれマニュアル配線設計の例を示
している。
However, since the conventional automatic wiring design method does not have an automatic wiring design function in consideration of reduction of clock skew, in order to reduce the wiring resistance of the clock signal path as a measure against clock skew, the automatic wiring of the LSI chip is reduced. Manual wiring design is performed in the middle of design. 7 and 8 each show an example of manual wiring design.

【0008】図7は、図6に示したような自動配線設計
の後に、クロック入力バッファ回路11から各フリップ
フロップ回路12までの距離を短縮することによりクロ
ックスキューを低減させるために、点線で示すようなバ
イパス用の配線71を追加するようにマニュアル配線設
計を施した様子を示す。
FIG. 7 is shown by a dotted line in order to reduce clock skew by shortening the distance from the clock input buffer circuit 11 to each flip-flop circuit 12 after the automatic wiring design as shown in FIG. A state where a manual wiring design is performed so as to add such bypass wiring 71 is shown.

【0009】図8は、図6に示したような自動配線設計
の前に、負荷が大きなクロック信号線13を格子状に配
線しておくことにより、各フリップフロップ回路12が
どの位置に配置されても、クロック信号経路の配線抵抗
が最小になるようにマニュアル配線設計を施した様子を
示す。
In FIG. 8, the flip-flop circuits 12 are arranged at the positions by arranging the clock signal lines 13 having a large load in a grid pattern before the automatic wiring design as shown in FIG. Even so, the manual wiring design is shown to minimize the wiring resistance of the clock signal path.

【0010】しかし、図7および図8に示したようにマ
ニュアル配線設計を施すことは、LSIチップの自動配
線設計の途中で処理を一旦中断させ、マニュアル作業に
よって特殊な配線設計を行う必要があることを意味す
る。
However, when performing the manual wiring design as shown in FIGS. 7 and 8, it is necessary to temporarily suspend the process in the middle of the automatic wiring design of the LSI chip and perform the special wiring design by the manual work. Means that.

【0011】従って、LSIチップの自動配線設計装置
にマニュアル配線設計機能を必ず持たせる必要があり、
かつ、上記マニュアル配線設計を施すための環境とし
て、非常に高価なグラフィック処理装置などの設備を整
備する必要があった。
Therefore, it is necessary to provide the automatic wiring design device for the LSI chip with the manual wiring design function.
In addition, as an environment for performing the above-mentioned manual wiring design, it is necessary to prepare equipment such as a very expensive graphic processing device.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】上記したように従来の
LSIチップの自動配線設計方法は、クロックスキュー
の低減を考慮した自動配線設計機能を備えていないの
で、クロックスキュー対策としてLSIチップの自動配
線設計の途中で処理を一旦中断させ、マニュアル作業に
よって特殊な配線設計を行う必要があるという問題があ
った。
As described above, the conventional LSI chip automatic wiring design method does not have an automatic wiring design function in consideration of the reduction of clock skew. There is a problem in that it is necessary to temporarily interrupt the process in the middle of design and perform special wiring design by manual work.

【0013】本発明は上記の問題点を解決すべくなされ
たもので、LSIチップの自動配線設計の途中で処理を
一旦中断させることなく、かつ、既存の自動配線設計の
メインプログラムの配線設計アルゴリズムを変更するこ
となく、クロックスキュー対策を考慮した自動配線設計
が可能な半導体集積回路チップの自動配線設計方法を提
供することを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and does not interrupt the processing temporarily during the automatic wiring design of the LSI chip, and the wiring design algorithm of the existing main program of the automatic wiring design. An object of the present invention is to provide an automatic wiring design method for a semiconductor integrated circuit chip, which enables automatic wiring design in consideration of measures against clock skew without changing the above.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明は、クロック信号
が外部から入力する第1の回路ブロックおよびクロック
信号により動作が制御される第2の回路ブロックのデー
タを自動配線設計装置で使用されるマクロセルライブラ
リーに予め登録しておく第1のステップと、上記マクロ
セルライブラリーから第1の回路ブロックを選択してL
SIチップ周辺領域における配置を自動的に決定すると
共に、前記第2の回路ブロックを選択してLSIチップ
内部領域における複数箇所の配置を自動的に決定する第
2のステップと、前記第1の回路ブロックから上記複数
箇所の第2の回路ブロックにクロック信号を伝達するた
めのクロック信号線の主配線経路を自動的に決定すると
共に、この主配線経路に対してクロックスキューの低減
を考慮した所定の基準に基づいてループ部を追加するよ
うに副配線経路を自動的に決定する第3のステップと、
上記各ステップにより決定された回路ブロックの配置お
よびクロック信号線の配線経路に基づいて配線パターン
を自動的に設計する第4のステップとを具備することを
特徴とする。
According to the present invention, data of a first circuit block to which a clock signal is input from the outside and data of a second circuit block whose operation is controlled by the clock signal is used in an automatic wiring design apparatus. The first step of pre-registering in the macrocell library, and selecting the first circuit block from the macrocell library
A second step of automatically determining the arrangement in the peripheral area of the SI chip and automatically determining the arrangement of a plurality of locations in the LSI chip internal area by selecting the second circuit block; and the first circuit. The main wiring path of the clock signal line for transmitting the clock signal from the block to the second circuit blocks at the plurality of locations is automatically determined, and the main wiring path is provided with a predetermined wiring wiring in consideration of reduction of clock skew. A third step of automatically determining a sub-wiring path so as to add a loop portion based on a standard,
A fourth step of automatically designing a wiring pattern based on the layout of the circuit blocks and the wiring path of the clock signal line determined by the above steps.

【0015】[0015]

【作用】クロックスキューの低減を考慮した所定の基準
に基づいて、クロック信号線の配線経路がループ部を持
つように決定する自動配線設計を行うので、LSIチッ
プの自動配線設計の途中で処理を一旦中断させることな
く、かつ、既存の自動配線設計のメインプログラムの配
線設計アルゴリズムを変更することなく、そのまま利用
することが可能である。
The automatic wiring design for determining the wiring route of the clock signal line so as to have the loop portion is performed based on the predetermined standard considering the reduction of the clock skew. Therefore, the processing is performed during the automatic wiring design of the LSI chip. It can be used as it is without any interruption and without changing the wiring design algorithm of the existing main program of the automatic wiring design.

【0016】[0016]

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図1は、本発明のLSIチップの自動配線
設計方法の一例を示すフローチャートである。図2は、
LSIに設けられた順序回路の一例を示す回路図であ
る。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a flowchart showing an example of an LSI chip automatic wiring design method of the present invention. Figure 2
FIG. 3 is a circuit diagram showing an example of a sequential circuit provided in an LSI.

【0017】ここで、11はクロック入力バッファ回
路、12はクロック入力端子CKを持つフリップフロッ
プ回路であり、順序回路を形成している。13は上記ク
ロック入力バッファ回路11の出力端から上記順序回路
の各クロック入力端子CKに共通に接続されたクロック
信号線、Rは上記各回路間に存在するクロック信号線抵
抗分である。図3は、図2中のクロック入力バッファ回
路11のマクロセルデータとして登録されたイメージの
一例を示す図である。このクロック入力バッファ回路1
1は、例えば3個の出力端子111〜113を有し、各
出力端子は電気的には互いに接続されている。図4は、
図2中のフリップフロップ回路12のマクロセルデータ
として登録されたイメージの一例を示す図である。この
フリップフロップ回路12は、例えば3個の入力端子1
21〜123を有し、各入力端子は電気的には互いに接
続されている。図5は、図1の方法により実現されたL
SIパターンの一例を示す。
Here, 11 is a clock input buffer circuit, and 12 is a flip-flop circuit having a clock input terminal CK, forming a sequential circuit. Reference numeral 13 denotes a clock signal line commonly connected from the output end of the clock input buffer circuit 11 to each clock input terminal CK of the sequential circuit, and R denotes a resistance of the clock signal line existing between the circuits. FIG. 3 is a diagram showing an example of an image registered as macrocell data of the clock input buffer circuit 11 in FIG. This clock input buffer circuit 1
1 has, for example, three output terminals 111 to 113, and the output terminals are electrically connected to each other. Figure 4
FIG. 3 is a diagram showing an example of an image registered as macrocell data of a flip-flop circuit 12 in FIG. 2. This flip-flop circuit 12 has, for example, three input terminals 1
21 to 123, and the input terminals are electrically connected to each other. FIG. 5 shows L realized by the method of FIG.
An example of SI pattern is shown.

【0018】ここで、30はLSIチップ領域、31は
チップ周辺領域、32はチップ内部領域、11はチップ
周辺領域に配置されたクロック入力バッファ回路、12
はチップ内部領域に配置されたフリップフロップ回路、
131は主配線経路、132は副配線経路である。次
に、図1乃至図5を参照しながら、図2に示した順序回
路に関する自動配線設計方法の一例を説明する。
Here, 30 is an LSI chip area, 31 is a chip peripheral area, 32 is a chip internal area, 11 is a clock input buffer circuit arranged in the chip peripheral area, and 12
Is a flip-flop circuit arranged in the chip internal area,
Reference numeral 131 is a main wiring path, and 132 is a sub wiring path. Next, an example of an automatic wiring design method for the sequential circuit shown in FIG. 2 will be described with reference to FIGS. 1 to 5.

【0019】本発明のLSIチップの自動配線設計方法
は、LSIチップ領域のパターンを作成するためのレイ
アウト領域上に、機能回路を収納した複数個の回路ブロ
ックのパターンを配置し、上記複数個の回路ブロック間
に配線パターンを形成して所望のLSIパターンを実現
するセルベースのレイアウト方式に適用される。
In the LSI chip automatic wiring design method of the present invention, a pattern of a plurality of circuit blocks accommodating functional circuits is arranged on a layout area for creating a pattern of the LSI chip area, and the plurality of the plurality of circuit blocks are arranged. It is applied to a cell-based layout method for forming a wiring pattern between circuit blocks to realize a desired LSI pattern.

【0020】ステップS1では、クロック信号が外部か
ら入力するクロック入力バッファ回路(第1の回路ブロ
ック)11およびクロック信号により動作が制御される
フリップフロップ回路(第2の回路ブロック)12のデ
ータ(マクロセルデータ)を自動配線設計装置で使用さ
れるマクロセルライブラリーに予め登録しておく。
In step S1, data (macro cell) of a clock input buffer circuit (first circuit block) 11 to which a clock signal is input from the outside and a flip-flop circuit (second circuit block) 12 whose operation is controlled by the clock signal. Data) is registered in advance in the macrocell library used in the automatic wiring design device.

【0021】この場合、第1の回路ブロック11には、
図3に示したように互いに電気的に接続されている3個
の出力端子111〜113に互いに異なる属性を持たせ
て登録する。
In this case, the first circuit block 11 has
As shown in FIG. 3, the three output terminals 111 to 113 electrically connected to each other are registered with different attributes.

【0022】同様に、前記第2の回路ブロックには、図
4に示したように互いに電気的に接続されている3個の
入力端子121〜123に互いに異なる属性を持たせて
登録する。
Similarly, as shown in FIG. 4, the three input terminals 121 to 123 electrically connected to each other are registered in the second circuit block with different attributes.

【0023】換言すれば、上記第1の回路ブロック11
の出力端子111〜113および第2の回路ブロック1
2の入力端子121〜123をそれぞれ点座標で複数箇
所登録できる形状にパターン設計しておけばよい。
In other words, the first circuit block 11 described above
Output terminals 111 to 113 and the second circuit block 1
The two input terminals 121 to 123 may be designed in patterns so that they can be registered at a plurality of points by point coordinates.

【0024】ステップS2では、前記マクロセルライブ
ラリーの各回路ブロックの登録データや自動配線設計装
置で使用されるデータベースに登録されている各回路ブ
ロックの結線情報を参照しながら、各回路ブロックの配
置を自動的に決定する。即ち、マクロセルライブラリー
から第1の回路ブロック11を選択してLSIチップ3
0の周辺領域31における配置を決定すると共に、前記
第2の回路ブロック12を選択してチップ内部領域32
における複数箇所の配置を決定する。
In step S2, the layout of each circuit block is determined with reference to the registration data of each circuit block of the macrocell library and the wiring information of each circuit block registered in the database used in the automatic wiring design apparatus. Determined automatically. That is, the first circuit block 11 is selected from the macrocell library and the LSI chip 3 is selected.
0 in the peripheral region 31 is determined, and the second circuit block 12 is selected to select the chip internal region 32.
Determine the placement of multiple locations in.

【0025】ステップS3では、前記第1の回路ブロッ
ク11から上記複数箇所の第2の回路ブロック12にク
ロック信号を伝達するためのクロック信号線の主配線経
路131を通常通り自動的に決定する(従来の概略配線
設計に相当する。)と共に、この主配線経路131に対
してクロックスキューの低減を考慮した所定の基準に基
づいてループ部を追加するように副配線経路132を自
動的に決定する。
In step S3, the main wiring path 131 of the clock signal line for transmitting the clock signal from the first circuit block 11 to the plurality of second circuit blocks 12 is automatically determined as usual ( (This corresponds to the conventional schematic wiring design.) And the sub wiring path 132 is automatically determined so that a loop portion is added to the main wiring path 131 based on a predetermined standard in which reduction of clock skew is taken into consideration. .

【0026】この場合、まず、前記第1の回路ブロック
11の第1の出力端子111と前記複数個の第2の回路
ブロック12…の第1の入力端子121とを接続する主
配線経路131を決定する。そして、上記主配線経路1
31の少なくとも一部と共にループを形成するように、
前記第1の回路ブロック11の第1の出力端子以外の出
力端子(112あるいは113)と任意数の前記第2の
回路ブロック12の第1の入力端子以外の入力端子(1
22あるいは123)とを接続する副配線経路132を
決定する。
In this case, first, the main wiring path 131 for connecting the first output terminal 111 of the first circuit block 11 and the first input terminal 121 of the plurality of second circuit blocks 12 ... decide. Then, the main wiring path 1
To form a loop with at least a portion of 31
An output terminal (112 or 113) other than the first output terminal of the first circuit block 11 and an arbitrary number of input terminals (1 other than the first input terminal of the second circuit block 12).
22 or 123) to determine the sub wiring path 132.

【0027】本例では、上記クロック信号線の副配線経
路132を決定する基準として、第1の回路ブロック1
1の第2の出力端子112と順序回路の中間段(2n段
の順序回路の場合にはn段目)に相当する第2の回路ブ
ロック12の第2の入力端子122とを接続し、第1の
回路ブロック11の第3の出力端子113と順序回路の
終段に相当する第2の回路ブロック12の第3の入力端
子123とを接続するものとした。
In this example, the first circuit block 1 is used as a reference for determining the sub wiring path 132 of the clock signal line.
The second output terminal 112 of No. 1 and the second input terminal 122 of the second circuit block 12 corresponding to the intermediate stage of the sequential circuit (nth stage in the case of 2n sequential circuits) are connected, The third output terminal 113 of the first circuit block 11 is connected to the third input terminal 123 of the second circuit block 12 corresponding to the final stage of the sequential circuit.

【0028】ステップS4では、上記各ステップにより
決定された回路ブロックの配置およびクロック信号線の
配線経路131、132に基づいて配線パターンを自動
的に設計する。
In step S4, a wiring pattern is automatically designed based on the layout of the circuit blocks and the wiring paths 131 and 132 of the clock signal line determined in the above steps.

【0029】上記したような本実施例の自動配線設計方
法によれば、LSIチップの自動配線設計の途中で処理
を一旦中断させることなく、クロックスキューの低減を
考慮した所定の基準に基づいて、クロック信号線の配線
経路がループ部を持つ(換言すれば、1つの信号に対し
て複数の配線経路が形成される)ように決定する自動配
線設計を行う。
According to the automatic wiring design method of the present embodiment as described above, the processing is not temporarily interrupted during the automatic wiring design of the LSI chip, and based on the predetermined standard considering the reduction of the clock skew, Automatic wiring design is performed so that the wiring path of the clock signal line has a loop portion (in other words, a plurality of wiring paths are formed for one signal).

【0030】しかも、上記したような配線設計処理に際
して、実際は同一の信号に対して、自動配線設計システ
ム上では別々の信号として取り扱うので、既存の自動配
線設計のメインプログラムの配線設計アルゴリズムを変
更することなく、そのまま利用することが可能である。
Moreover, in the wiring design process as described above, since the same signal is actually handled as a different signal in the automatic wiring design system, the wiring design algorithm of the existing main program of the automatic wiring design is changed. It is possible to use it as it is.

【0031】なお、前記実施例におけるステップS3に
おいてクロック信号線の副配線経路132を決定する基
準の他の例としては、LSIチップ内部領域32におけ
る第1の領域(例えば左半分の領域)では、第1の回路
ブロック11の第2の出力端子112と第2の回路ブロ
ック12の第2の入力端子122とを接続し、上記LS
Iチップ内部領域32における第2の領域(例えば右半
分の領域)では、第1の回路ブロック11の第3の出力
端子113と第2の回路ブロック12の第3の入力端子
123とを接続するようにしてもよい。
As another example of the criterion for determining the sub-wiring path 132 of the clock signal line in step S3 in the above-mentioned embodiment, in the first area (for example, the left half area) in the LSI chip internal area 32, By connecting the second output terminal 112 of the first circuit block 11 and the second input terminal 122 of the second circuit block 12,
In the second region (for example, the right half region) in the I-chip internal region 32, the third output terminal 113 of the first circuit block 11 and the third input terminal 123 of the second circuit block 12 are connected. You may do it.

【0032】[0032]

【発明の効果】上述したように本発明のLSIチップの
自動配線設計方法によれば、従来はマニュアル配線設計
により実現していた複数経路を有するクロック信号線に
ついて、マクロセルライブラリーの変更と概略配線設計
時の配線情報を利用した副配線経路を追加するだけによ
り、簡単に自動配線設計を行うことができる。
As described above, according to the LSI chip automatic wiring design method of the present invention, the macro cell library is changed and the rough wiring is performed for the clock signal line having a plurality of paths, which is conventionally realized by the manual wiring design. Automatic wiring design can be easily performed only by adding a sub-wiring route using wiring information at the time of design.

【0033】従って、LSIチップの自動配線設計の途
中で処理を一旦中断させることなく、かつ、既存の自動
配線設計のメインプログラムの配線設計アルゴリズムを
変更することなく、クロックスキュー対策を考慮した自
動配線設計が可能になる。
Therefore, the automatic wiring in consideration of the clock skew countermeasure is performed without interrupting the process during the automatic wiring design of the LSI chip and without changing the wiring design algorithm of the main program of the existing automatic wiring design. Design becomes possible.

【0034】また、LSIチップの自動配線設計装置に
マニュアル配線設計機能を持たせる必要がなく、マニュ
アル配線設計を施すための環境として非常に高価なグラ
フィック処理装置などの設備を整備する必要もなくな
る。
Further, it is not necessary to provide the automatic wiring designing device of the LSI chip with the manual wiring designing function, and it is not necessary to prepare equipment such as a very expensive graphic processing device as an environment for performing the manual wiring designing.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の半導体集積回路チップの自動配線設計
方法の一例を示すフローチャート。
FIG. 1 is a flowchart showing an example of an automatic wiring design method for a semiconductor integrated circuit chip according to the present invention.

【図2】LSIに設けられた順序回路の一例を示す回路
図。
FIG. 2 is a circuit diagram showing an example of a sequential circuit provided in an LSI.

【図3】図2中のクロック入力バッファ回路のマクロセ
ルデータとして登録されたイメージの一例を示す図。
FIG. 3 is a diagram showing an example of an image registered as macrocell data of the clock input buffer circuit in FIG.

【図4】図2中のフリップフロップ回路のマクロセルデ
ータとして登録されたイメージの一例を示す図。
4 is a diagram showing an example of an image registered as macrocell data of the flip-flop circuit in FIG.

【図5】図1の方法により実現されたLSIパターンの
一例を示す図。
5 is a diagram showing an example of an LSI pattern realized by the method of FIG.

【図6】図2に示した回路を従来の自動配線設計方法に
より設計した回路配置および回路間配線の一例を示す
図。
FIG. 6 is a diagram showing an example of circuit layout and inter-circuit wiring designed by the conventional automatic wiring design method for the circuit shown in FIG. 2;

【図7】図6に示した従来の自動配線設計方法による自
動配線設計の途中でマニュアル配線設計を行った一例を
示す図。
7 is a diagram showing an example of manual wiring design performed during the automatic wiring design by the conventional automatic wiring design method shown in FIG.

【図8】図6に示した従来の自動配線設計方法による自
動配線設計の途中でマニュアル配線設計を行った他の例
を示す図。
FIG. 8 is a diagram showing another example of performing manual wiring design during the automatic wiring design by the conventional automatic wiring design method shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11…クロック入力バッファ回路、111〜113…ク
ロック入力バッファ回路の出力端子、12…フリップフ
ロップ回路、121〜123…フリップフロップ回路の
入力端子、131…主配線経路、132…副配線経路、
30…LSIチップ領域、31…チップ周辺領域、32
…チップ内部領域。
11 ... Clock input buffer circuit, 111-113 ... Output terminal of clock input buffer circuit, 12 ... Flip-flop circuit, 121-123 ... Input terminal of flip-flop circuit, 131 ... Main wiring path, 132 ... Sub wiring path,
30 ... LSI chip area, 31 ... Chip peripheral area, 32
… Inside chip area.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 クロック信号が外部から入力する第1の
回路ブロックおよびクロック信号により動作が制御され
る第2の回路ブロックのデータを自動配線設計装置で使
用されるマクロセルライブラリーに予め登録しておく第
1のステップと、 上記マクロセルライブラリーから第1の回路ブロックを
選択してLSIチップ周辺領域における配置を自動的に
決定すると共に、前記第2の回路ブロックを選択してL
SIチップ内部領域における複数箇所の配置を自動的に
決定する第2のステップと、 前記第1の回路ブロックから上記複数箇所の第2の回路
ブロックにクロック信号を伝達するためのクロック信号
線の主配線経路を自動的に決定し、この主配線経路に対
してクロックスキューの低減を考慮した所定の基準に基
づいてループ部を追加するように副配線経路を自動的に
決定する第3のステップと、 上記各ステップにより決定された回路ブロックの配置お
よびクロック信号線の配線経路に基づいて配線パターン
を自動的に設計する第4のステップとを具備することを
特徴とする半導体集積回路チップの自動配線設計方法。
1. Data of a first circuit block to which a clock signal is input from the outside and data of a second circuit block whose operation is controlled by the clock signal are registered in advance in a macrocell library used in an automatic wiring design apparatus. The first step is to select the first circuit block from the macrocell library to automatically determine the layout in the peripheral area of the LSI chip, and select the second circuit block to select L.
A second step of automatically determining the arrangement of a plurality of locations in the SI chip internal region; and a main step of a clock signal line for transmitting a clock signal from the first circuit block to the second circuit blocks of the plurality of locations. A third step of automatically determining the wiring route and automatically determining the sub-wiring route so that the loop portion is added to the main wiring route based on a predetermined criterion considering the reduction of the clock skew. A fourth step of automatically designing a wiring pattern based on the layout of the circuit blocks and the wiring path of the clock signal line determined by the above steps. Design method.
【請求項2】 請求項1記載の半導体集積回路チップの
自動配線設計方法において、 前記第1のステップにおいて各回路ブロックのデータを
マクロセルライブラリーに登録する際、第1の回路ブロ
ックには複数の出力端子を持たせ、前記第2の回路ブロ
ックには複数の入力端子を持たせることを特徴とする半
導体集積回路チップの自動配線設計方法。
2. The automatic wiring design method for a semiconductor integrated circuit chip according to claim 1, wherein when the data of each circuit block is registered in the macrocell library in the first step, a plurality of first circuit blocks are included in the first circuit block. An automatic wiring design method for a semiconductor integrated circuit chip, comprising: providing an output terminal, and providing the second circuit block with a plurality of input terminals.
【請求項3】 請求項1または2記載の半導体集積回路
チップの自動配線設計方法において、 前記第3のステップにおいては、前記第1の回路ブロッ
クの第1の出力端子と前記複数個の第2の回路ブロック
の第1の入力端子とを接続するクロック信号線の主配線
経路を決定し、この主配線経路の少なくとも一部と共に
ループを形成するように、前記第1の回路ブロックの第
1の出力端子以外の出力端子と任意数の前記第2の回路
ブロックの第1の入力端子以外の入力端子とを接続する
クロック信号線の副配線経路を決定することを特徴とす
る半導体集積回路チップの自動配線設計方法。
3. The automatic wiring design method for a semiconductor integrated circuit chip according to claim 1, wherein in the third step, the first output terminal of the first circuit block and the plurality of second output terminals are provided. Of the first circuit block so as to form a loop together with at least a part of the main wiring path of the clock signal line which is connected to the first input terminal of the first circuit block. A sub wiring path of a clock signal line connecting an output terminal other than the output terminal and an arbitrary number of input terminals other than the first input terminal of the second circuit block is determined. Automatic wiring design method.
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