JPH0614435B2 - 半導体メモリ - Google Patents

半導体メモリ

Info

Publication number
JPH0614435B2
JPH0614435B2 JP29548387A JP29548387A JPH0614435B2 JP H0614435 B2 JPH0614435 B2 JP H0614435B2 JP 29548387 A JP29548387 A JP 29548387A JP 29548387 A JP29548387 A JP 29548387A JP H0614435 B2 JPH0614435 B2 JP H0614435B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
address
memory
input
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP29548387A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH01137489A (ja
Inventor
直哉 大野
直樹 西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP29548387A priority Critical patent/JPH0614435B2/ja
Publication of JPH01137489A publication Critical patent/JPH01137489A/ja
Publication of JPH0614435B2 publication Critical patent/JPH0614435B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は半導体メモリに関し、特にメモリチップ内に多
段のレジスタもしくはラッチを設けることによりメモリ
サイクルタイムを短くし、複数のメモリ読み出し/書き
込みを同時に処理するパイプラインメモリに関する。
(従来の技術) メモリチップにパイプラインレジスタ(もしくはラッ
チ)を設け、チップ内において処理中のリクエストとは
別に、相前後して発せられたリクエストのアドレス/書
き込みデータ/読み出しデータ等を保持する半導体メモ
リが開発され、レジスタ付SRAMあるいはパイプラインSR
AMと呼ばれている。
ここで半導体メモリにおけるパイプライン動作とは、読
み出し/書き込みリクエストの処理の過程を複数の独立
動作可能な小さな処理(以降ステージと呼ぶ)に分割
し、流れ作業的に複数のメモリリクエストを処理してい
くことを意味する。他方、パイプライン化されていない
半導体メモリとは、読み出し/書き込みリクエストを一
つ処理完了するごとに、次のリクエストを受理可能な状
態になることを基本とする半導体メモリである。すなわ
ちパイプライン化されていない半導体メモリでは、メモ
リに読み出し/書き込みリクエストを投入してから処理
が完了するまでの時間(以降メモリアクセスタイムと呼
ぶ)と、メモリに読み出し/書き込みリクエストを投入
することが出来る時間間隔(以降メモリサイクルタイム
と呼ぶ)がほぼ等しい。パイプラインメモリはメモリサ
イクルタイムがメモリアクセスタイムよりも短く、スル
ープットがパイプライン化されていないメモリよりも大
きいことを特徴とする。
例えばAMD社のAm9151はメモリからの読み出しデータの
出力段にラッチを設け、あるメモリ読み出しリクエスト
の処理結果であるデータをチップ外に出力中に、後読す
る読み出し/書き込みリクエストを同時処理する。ま
た、GigaBitLogic社の12G014は入力レジスタと出力レジ
スタを持ち、パイプライン動作が可能である。また、こ
の考え方をより発展させたものとしては特開昭61−1486
92号に、アドレスデコーダ・ドライバとメモリセルアレ
イの間にも一時記憶をもち、アドレスデコーダ・ドライ
バとメモリセルアレイでの処理をそれぞれ独立に動作可
能なステージとしたものが示されている。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、かかるパイプラインメモリはパイプライ
ン化した各ステージを同期させて動作させることを特徴
とし、同期をとることはアクセスタイム増加の問題を招
く。また、この同期信号は半導体メモリの外部から供給
する必要があり(通常クロックが用いられる)、システ
ムに組み込まれる全メモリチップに同期信号を供給する
ことは装置全体のコスト、消費電力を増加させる。さら
に、従来の非同期にメモリアクセス・サイクルを開始で
きるパイプライン化されていないメモリとの互換性の問
題も残る。以下、アクセスタイム増加の問題点について
具体的に説明する。
パイプライン化と同期が招くアクセスタイム増加の問題
は、パイプラインを構成する各ステージの処理時間を、
互いに全く等しい時間にすることが困難であることに起
因する。例えば処理時間20nsecを要する第1のステージ
と、処理時間10nsecを要する第2のステージによってパ
イプラインが構成される場合、最小サイクル・タイムは
20nsec(最大処理時間を要する第1のステージの処理時
間)、同期信号も20nsec毎に与えることになる。ここで
アクセス・タイムはパイプラインが2段なので40nsec
(20nsec×2)となり、パイプライン化しなければ30ns
ecですむアクセス・タイムが、パイプライン化して同期
信号を与えることにより、10nsec遅くなることになる。
(問題点を解決するための手段) 前述の問題点を解決するために本発明が提供する手段
は、アドレス信号を入力する入力回路と、この入力回路
から受けた前記アドレス信号を解読するアドレスデコー
ダ・ドライバと、このアドレスデコーダ・ドライバの出
力で示されるアドレスのメモリセルにデータの書き込み
をし又はそのアドレスからデータの読み出しをするメモ
リセルアレイと、このメモリセルアレイの出力信号を増
幅するセンスアンプと、このセンスアンプの出力をメモ
リ読み出し結果として出力する出力回路と、前記メモリ
セルアレイの読み出しと書き込みのタイミングを制御す
る読み出し/書き込み制御回路とを備える半導体メモリ
において、 前記アドレス入力回路の出力を記憶して前記アドレスデ
コーダ・ドライバに入力する第1の一時記憶回路と、 前記アドレスデコーダ・ドライバの出力であるデコード
されたアドレスを記憶して前記メモリセルアレイに入力
する第2の一時記憶回路と、 前記センスアンプの出力であるメモリ読み出し結果を記
憶して前記出力回路に入力する第3の一時記憶回路と、 先行するメモリ読み出し処理開始信号とは非同期に入力
される処理開始信号を入力される度、まず前記第1の一
時記憶回路に前記アドレス入力回路の出力をラッチし、
次に前記アドレスデコーダ・ドライバでの処理が確定す
るのと等しい遅延時間Dを経過した後に前記第2の一
時記憶回路にデコードされたアドレスをラッチし、次に
前記メモリセルアレイからの読み出し処理と前記センス
アンプでの処理が確定するのと等しい遅延時間D+D
を経過した後に前記第3の一時記憶回路に前記センス
アンプの出力をラッチし、最後に前記出力回路を経てメ
モリ読み出し結果を出力することにより、複数のメモリ
読み出しを非同期に開始、かつ同時に処理する第1の機
能と、前記第1、第2及び第3の一時記憶回路を同期さ
せて動作させることによりメモリ読み出しを同期して複
数処理する第2の機能とを任意に切り換えて行う手段と
を備え、 前記複数メモリ読み出し非同期開始同時処理手段は、先
行するメモリ読み出し処理開始信号とは非同期に入力さ
れる前記処理開始信号に時間遅延D及びD+D
与える遅延手段を備え、該遅延手段の出力により遅延時
間D及びD+Dの経過の時を知り、これらの時に
前記デコードされたアドレス及び前記センスアンプの出
力をそれぞれラッチする ことを特徴とする。
(実施例) 以下、図面を参照しながら本発明の実施例について説明
する。
第1図は本発明の一実施例を示す半導体メモリのブロッ
ク図である。図において、1〜4,7〜10,15はパイプ
ラインレジスタでありラッチで代用してもよい。入力レ
ジスタ1〜4はチップ外からの入力を受け取る。行アド
レス入力レジスタ1は行アドレス入力端子信号CAo〜CAi
を、列アドレス入力レジスタ2は列アドレス入力端子信
号RAo〜RAjを、書き込みデータ入力レジスタ3は書き込
みデータ入力端子信号DINo〜DINkを、制御信号入力レジ
スタ4は“書き込み可”入力端子信号▲▼を、それ
ぞれ受け取る。1〜4のパイプラインレジスタは18のセ
レクタ出力信号入力時に、各々入力データを取り込む。
行アドレスデコーダ5は行アドレス入力レジスタ1に接
続される。また、列アドレスデコーダ6は列アドレス入
力レジスタ2に接続される。
レジスタ7〜10はメモリチップ内の処理途中に設置した
パイプラインレジスタである。本実施例ではアドレスデ
コーダとメモリセルアレイ間に設置しているが、行アド
レスデコーダ及び列アドレスデコーダを2段階にわけて
その間に設置してもかまわない。また、複数段のパイプ
ラインレジスタを設けてもかまわない。7〜10の各パイ
プラインレジスタには、セレクタ19を経てデータ取り込
み信号が印加される。
メモリセルアレイ13は多数のスタティク型メモリセルを
アレイ上に構成したものである。
書き込み回路11はメモリセルアレイ13への書き込みを行
う。
読み出し/書き込み制御回路12は制御信号入力レジスタ
4と制御信号レジスタ10を介して受け取った“書き込み
可信号(▲▼)”に従い、読み出し可信号(RE)を
作成してセンスアンプ14に、また書き込み可信号(WE)
を作成して書き込み回路11に送出する。
センスアンプ14はメモリセルアレイ13から読み出された
微弱な信号を検知してメモリ読み出し結果を確定させ
る。
出力データレジスタ15はセンスアンプ14からメモリ読み
出し結果を受け取り、これを出力端子DOUTo〜DOUTkに送
出する。この出力レジスタ15には、セレクタ20を経てデ
ータ取り込み信号が印加される。
遅延回路16は、アドレスデコードに要する遅延時間+パ
イプラインレジスタのセットアップタイムに等しい時間
D1だけStart信号に遅延を与え、Start信号の入力をして
から遅延時間D1後に、セレクタ19に取り込み信号を供給
し、また、その取り込み信号を遅延回路17の入力信号と
しても供給する。遅延回路17は、メモリセルアクセスと
センスに要する遅延時間+パイプラインレジスタのセッ
トアップタイムに等しい時間D2だけ取り込み信号に時間
遅延を与える。したがって、遅延回路17は、遅延回路16
の出力の取り込み信号が入力されると、遅延時間D2後に
セレクタ20に取り込み信号を供給する。
セレクタ18〜20はStart信号による非同期動作/CLK信号
による同期動作を切り換えるものである。
第1図,第2図を参照して非同期動作時の読み出し操作
を説明する。
データの読み出し操作において、先ず、アドレス入力端
子CAo〜CAiに印加された行アドレスは、Start信号の立
ち上がりで行アドレス入力レジスタに取り込まれてその
出力となる。他方これと平行してアドレス入力端子RAo
〜RAiに印加された列アドレスもStart信号の立ち上がり
で列アドレス入力レジスタに取り込まれてその出力とな
る。
次にアドレス入力レジスタの出力は、遅延時間D1一次段
のパイプラインレジスタのセットアップタイムを要して
アドレスデコードされ、遅延時間D1後に行/列選択レジ
スタ7,8に取り込まれて出力となる。行アドレスは行
アドレスデコーダ5において、列アドレスは列アドレス
デコーダ6においてそれぞれデコードされる。
さらに、行/列選択レジスタの出力は、遅延時間D2−次
段のパイプラインレジスタのセットアップタイムを要し
てメモリセルアクセスを行い、センスされる。遅延時間
D2後に出力データレジスタ15に取り込まれてその出力と
なる。最後に、出力データレジスタ15の出力はチップ外
に送出される。
ここで第2図を用いて、データの読み出し操作における
非同期パイプライン動作を説明する。アドレス入力端子
CAo〜CAi,RAo〜RAjへのアドレス印加とStart信号によ
るメモリアクセスの起動間隔(メモリサイクルタイム)
の最低値は、チップ内の各パイプラインステージでの処
理遅延時間の最大値により定まる。本実施例において
は、パイプラインステージであるアドレスデコード処理
遅延よりも、メモリセルアレイとセンスによる処理遅延
が長い。従って、メモリセルアクセスとセンスによる遅
延時間にパイプラインレジスタのセットアップタイムを
加えた遅延時間D2がメモリサイクルタイムの最低値保証
となる。第2図においては、アドレスAlを入力した次サ
イクルでアドレスAmが印加されている。アドレスAlの入
力が先行するアドレス入力Alのデコードと衝突すること
はアドレス入力レジスタにより抑止される。同様にアド
レス入力レジスタの出力がAmとなった時点では、すでに
アドレスAlに対するデコード結果は行/列選択レジスタ
により保持され、メモリセルアクセスが開始されてい
る。パイプラインレジスタを境にした第1ステージ(チ
ップ外→アドレス入力レジスタ)、第2ステージ(アド
レス入力レジスタ→アドレスデコーダ→行/列選択レジ
スタ)、第3ステージ(行/列選択レジスタ→メモリセ
ルアレイ→センスアンプ→出力レジスタ)、第4ステー
ジ(出力レジスタ→チップ外)は独立に異なるメモリ読
み出しリクエストに対するサービスを行うことが可能で
ある。
以上により、メモリアクセスタイムよりも短いメモリサ
イクルタイムで次々とメモリ読み出しを行うことが可能
であり、かつ、メモリアクセスサイクルを先行するリク
エストとは非同期に開始することが可能であることを示
した。本発明では、直列に接続された各パイプラインス
テージでの処理遅延時間とパイプラインレジスタのセッ
トアップタイムの総和によってのみメモリアクセスタイ
ムは定まる。他方、同期型のパイプラインメモリでは、
(直列に接続されたパイプラインステージ中の最大遅延
時間+パイプラインレジスタのセットアップタイム)×
チップ内にステージ段数によってメモリアクセスタイム
が定まる。このことは同期型パイプラインメモリで各パ
イプラインステージの処理時間を互いに等しく出来ない
場合、パイプライン化することによる分割損を生じるこ
とを意味する。本発明による非同期動作時のパイプライ
ンメモリではこのような欠点を有しない。
以上に第1図,第2図を参照して非同期動作時のメモリ
の読み出し操作を説明した。
次に、第1図,第3図を参照して非同期動作時の書き込
み操作を説明する。
データの書き込み操作において、先ず、アドレス入力端
子CAo〜CAiに印加された行アドレスは、Start信号の立
ち上がりで行アドレス入力レジスタ1に取り込まれて出
力となる。他方これと平行してアドレス入力端子RAo〜R
Ajに印加された列アドレスもStart信号の立ち上がりで
列アドレス入力レジスタ2に取り込まれて出力となる。
次にアドレス入力レジスタの出力は遅延時間D1−次段の
パイプラインレジスタのセットアップタイムの時間を要
してアドレスデコードされ、遅延時間D2後に行/列選択
レジスタ7,8に取り込まれて出力となる。
一方、メモリに書き込まれるデータ自身であるが、本実
施例ではアドレス入力時刻と同じタイミングで書き込み
データ入力端子DINo〜DINkに印加している。書き込みデ
ータはアドレスと同様にStart信号の立ち上がりで書き
込みデータ入力レジスタの出力となる。また、遅延時間
D1−次段のパイプラインレジスタのセットアップタイム
経過した時点で書き込みデータレジスタに取り込まれ
る。パイプラインレジスタである書き込みデータ入力レ
ジスタ3と書き込みデータレジスタ9の間には特に大き
な遅延を要するような処理は含まれないので、レジスタ
を1段にして、書き込みデータの入力タイミングをD1時
間だけ遅らせてもかまわない。
最後に、行/列選択レジスタの出力により選択されたメ
モリセルは、遅延時間D2内に書き込みデータレジスタ値
を書き込まれ、書き込み操作を終了する。
以上に第1図,第3図を参照して非同期動作時のメモリ
の書き込み操作を説明した。
最後にメモリへの読み出し操作と書き込み操作を混在さ
せて非同期にメモリへの処理を行った場合を第4図に示
す。第4図はアドレスAlへの読み出し、アドレスAmへの
書き込み、アドレスAnへの読み出し、をパイプライン処
理で連続的に行った場合のタイミングであり、連続動作
が可能であることを示している。また、CLK信号による
同期動作は18〜20のセレクタでCLKからの信号を選択す
ることで動作し、同期動作時に与えられるCLK信号の周
波数(メモリサイクルタイム)は、直列に接続されたパ
イプラインステージ中の最大遅延時間+パイプラインレ
ジスタのセットアップタイムにより定められる。同期動
作時の、メモリ読み出し/書き込み、さらに連続動作さ
せた時のタイミングを各々第5図,第6図,第7図に示
す。
(発明の効果) 以上の通り、本発明による半導体メモリは、メモリ読み
出しを非同期に開始、かつ同時に複数処理することが可
能である。また上記第1〜第4のパイプラインレジスタ
にCLKからの同期信号を与えることで同期動作させるこ
とも可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
データ読み出し動作時における各部信号のタイミングチ
ャート、第3図はデータ書き込み時における各部信号の
タイミングチャート、第4図はデータ読み出しと書き込
みを交互に連続的に行う場合における各部信号のタイミ
ングチャート、第5図は同期動作時のメモリ読み出しに
おける各部信号のタイミングチャート、第6図は同期動
作時のメモリ書き込みにおける各部信号のタイミングチ
ャート、第7図は同期動作時の連続動作における各部信
号のタイミングチャートである。 第1図において、1〜4,7〜10,15はパイプラインレ
ジスタ、1は行アドレス入力レジスタ、2は列アドレス
入力レジスタ、3は書き込みデータ入力レジスタ、4は
制御信号入力レジスタ、5は行アドレスデコーダ、6は
列アドレスデコーダ、7は行選択レジスタ、8は列選択
レジスタ、9は書き込みデータレジスタ、10は制御信号
レジスタ、11は書き込み回路、12は読み出し/書き込み
制御回路、13はメモリセルアレイ、14はセンスアンプ、
15は出力データレジスタ、16はアドレスデコーダの処理
遅延時間+パイプラインレジスタのセットアップタイム
に等しい遅延時間D1を生成する遅延回路、17はメモリセ
ルアクセスとセンスに要する遅延時間+パイプラインレ
ジスタのセットアップタイムに等しい遅延時間D2を生成
する遅延回路、18〜20は同期/非同期動作モードを切り
換えるためのセレクタである。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】アドレス信号を入力する入力回路と、この
    入力回路から受けた前記アドレス信号を解読するアドレ
    スデコーダ・ドライバと、このアドレスデコーダ・ドラ
    イバの出力で示されるアドレスのメモリセルにデータの
    書き込みをし又はそのアドレスからデータの読み出しを
    するメモリセルアレイと、このメモリセルアレイの出力
    信号を増幅するセンスアンプと、このセンスアンプの出
    力をメモリ読み出し結果として出力する出力回路と、前
    記メモリセルアレイの読み出しと書き込みのタイミング
    を制御する読み出し/書き込み制御回路とを備える半導
    体メモリにおいて、 前記アドレス入力回路の出力を記憶して前記アドレスデ
    コーダ・ドライバに入力する第1の一時記憶回路と、 前記アドレスデコーダ・ドライバの出力であるデコード
    されたアドレスを記憶して前記メモリセルアレイに入力
    する第2の一時記憶回路と、 前記センスアンプの出力であるメモリ読み出し結果を記
    憶して前記出力回路に入力する第3の一時記憶回路と、 先行するメモリ読み出し処理開始信号とは非同期に入力
    される処理開始信号を入力される度、まず前記第1の一
    時記憶回路に前記アドレス入力回路の出力をラッチし、
    次に前記アドレスデコーダ・ドライバでの処理が確定す
    るのと等しい遅延時間Dを経過した後に前記第2の一
    時記憶回路にデコードされたアドレスをラッチし、次に
    前記メモリセルアレイからの読み出し処理と前記センス
    アンプでの処理が確定するのと等しい遅延時間D+D
    を経過した後に前記第3の一時記憶回路に前記センス
    アンプの出力をラッチし、最後に前記出力回路を経てメ
    モリ読み出し結果を出力することにより、複数のメモリ
    読み出しを非同期に開始、かつ同時に処理する第1の機
    能と、前記第1、第2及び第3の一時記憶回路を同期さ
    せて動作させることによりメモリ読み出しを同期して複
    数処理する第2の機能とを任意に切り換えて行う手段と
    を備え、 前記複数メモリ読み出し非同期開始同時処理手段は、先
    行するメモリ読み出し処理開始信号とは非同期に入力さ
    れる前記処理開始信号に時間遅延D及びD+D
    与える遅延手段を備え、該遅延手段の出力により遅延時
    間D及びD+Dの経過の時を知り、これらの時に
    前記デコードされたアドレス及び前記センスアンプの出
    力をそれぞれラッチする ことを特徴とする半導体メモリ。
  2. 【請求項2】前記第1〜第3の各一時記憶回路は、制御
    信号に応じて入力信号を一時記憶して出力するか、又は
    入力信号を記憶することなくそのまま通過させることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載の半導体メモリ。
JP29548387A 1987-11-24 1987-11-24 半導体メモリ Expired - Lifetime JPH0614435B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29548387A JPH0614435B2 (ja) 1987-11-24 1987-11-24 半導体メモリ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29548387A JPH0614435B2 (ja) 1987-11-24 1987-11-24 半導体メモリ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH01137489A JPH01137489A (ja) 1989-05-30
JPH0614435B2 true JPH0614435B2 (ja) 1994-02-23

Family

ID=17821191

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29548387A Expired - Lifetime JPH0614435B2 (ja) 1987-11-24 1987-11-24 半導体メモリ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0614435B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04105297A (ja) * 1990-08-27 1992-04-07 Hitachi Ltd 同期式スタティックram
JP3504104B2 (ja) * 1997-04-03 2004-03-08 富士通株式会社 シンクロナスdram

Also Published As

Publication number Publication date
JPH01137489A (ja) 1989-05-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3013714B2 (ja) 半導体記憶装置
US6674686B2 (en) Method and apparatus for read operation and write operation in semiconductor memory device
KR100945968B1 (ko) 반도체기억장치
JPH0676566A (ja) 半導体メモリ装置
JP2001167580A (ja) 半導体記憶装置
JPH09265777A (ja) 同期型dram
US6360307B1 (en) Circuit architecture and method of writing data to a memory
JP2999869B2 (ja) メモリアクセス方式
KR100317542B1 (ko) 반도체메모리장치
EP0660328B1 (en) Method of controlling semiconductor storage circuit
KR19990088402A (ko) 반도체메모리장치및번인테스트방법
JPH1145567A (ja) 半導体記憶装置
JPH0614435B2 (ja) 半導体メモリ
US6191974B1 (en) Nonvolatile semiconductor memory
KR100389038B1 (ko) 레이트 라이트 기능을 갖는 동기형 에스램 장치
JPH0614436B2 (ja) 半導体メモリ
US6240028B1 (en) Simplified peripheral logic for memory device
JP2615050B2 (ja) 半導体メモリ
JPH02172097A (ja) メモリ
JP3746811B2 (ja) 半導体集積回路
JP3654013B2 (ja) 半導体装置及びそのテスト方法
JP3057728B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH0556598B2 (ja)
JPH05266652A (ja) パイプライン動作型メモリシステム
JPH07307090A (ja) 半導体記憶装置