JPH06140636A - Quantum fine line transistor and manufacture thereof - Google Patents

Quantum fine line transistor and manufacture thereof

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JPH06140636A
JPH06140636A JP29024492A JP29024492A JPH06140636A JP H06140636 A JPH06140636 A JP H06140636A JP 29024492 A JP29024492 A JP 29024492A JP 29024492 A JP29024492 A JP 29024492A JP H06140636 A JPH06140636 A JP H06140636A
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JP
Japan
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quantum
quantum wire
layer
gate
semiconductor layer
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Application number
JP29024492A
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Japanese (ja)
Inventor
Ryuichi Ugajin
隆一 宇賀神
Kazumasa Nomoto
和正 野本
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Publication of JPH06140636A publication Critical patent/JPH06140636A/en
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Abstract

PURPOSE:To evenly arrange gate electrodes relative to each quantum fine line by disposing gates relative to quantum fine wires, made of a semiconductor without a surface depletion layer, with a space between them. CONSTITUTION:Each external end of a source region 117, a drain region 118 and a gate region 113 is electrically connected to a double-layer semiconductor layer 16 at least at each region. A source electrode 17S, a drain electrode 18D and a gate electrode 13G, each serving as a terminal lead, are alloyed deep to reach the double-layer semiconductor layer 16 on each region. Thereby, two-channel type quantum fine wire 11, that is, two quantum fine wires 11 are formed between the source and the drain, whereby a quantum fine line transistor which is electrically parallel can be constituted. Hence, sufficient control can be effected by an electric field that is caused by the application of a voltage to the gates 13 arranged on definite locations via a space 12.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、量子細線トランジスタ
とその製法に係わる。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a quantum wire transistor and its manufacturing method.

【0002】[0002]

【従来の技術】昨今、高電子移動度が期待される量子細
線のトランジスタへの応用が注目されている。
2. Description of the Related Art Recently, application of quantum wires, which are expected to have high electron mobility, to transistors has been drawing attention.

【0003】量子細線は、その幅dが、例えばd〜10
nm程度で、2次元的に電子が閉じ込められた機構で、
残る1次元方向の伝導は散乱の影響が小さく、高移動度
が期待される。
The width of the quantum wire is, for example, d-10.
It is a mechanism that electrons are confined two-dimensionally at about nm.
The remaining one-dimensional conduction is less affected by scattering, and high mobility is expected.

【0004】これは、電子エネルギーの同一な状態は、
波動ベクトルが、|k>,|−k>のみであり、またk
から−kへ遷移する散乱も起きにくく、殆ど前方散乱し
かないことによる。
This is because the same state of electron energy is
The wave vectors are only | k> and | -k>, and k
This is because scattering from the transition to -k is unlikely to occur, and there is almost only forward scattering.

【0005】従ってこのような量子細線をトランジスタ
に応用すれば、相互コンダクタンスGmの良いトランジ
スタを構成することができる。
Therefore, if such a quantum wire is applied to a transistor, a transistor having a good mutual conductance Gm can be constructed.

【0006】しかしながら、実際上この量子細線では、
充分な電流量を扱うことができないことから、図7にそ
の一例の斜視図を示すように、ソース(エミッタ)Sと
ドレイン(コレクタ)Dとの間に並列に複数の量子細線
1が平行配列された構成を採ることの提案がなされてい
る。
However, in practice, in this quantum wire,
Since a sufficient amount of current cannot be handled, a plurality of quantum wires 1 are arranged in parallel between a source (emitter) S and a drain (collector) D as shown in the perspective view of FIG. Proposals have been made for adopting the configured configuration.

【0007】この場合、ソース及びドレイン間の電流制
御は、これら複数の量子細線1上に、絶縁層を介して跨
がるように、ゲート電極Gが配置されて、これに対する
印加電圧の制御によって行われる。
In this case, the current between the source and the drain is controlled by arranging the gate electrode G on the plurality of quantum wires 1 so as to extend across the insulating layer and controlling the voltage applied thereto. Done.

【0008】ところで、このように、複数の量子細線1
を並列に配置させる場合、全量子細線に関して、その形
状、寸法、特性が一致する必要があるが、このように平
面的に量子細線1を並置配置する場合、これが多数にな
るにつれ、占有面積が大きくなることと、これがため
に、よりその均一化に問題が生じてくる。
By the way, as described above, a plurality of quantum wires 1
When all the quantum wires are arranged in parallel, the shapes, dimensions, and characteristics of all the quantum wires must match. However, when the quantum wires 1 are arranged side by side in a plane as described above, the occupied area increases as the number increases. As a result of the increase in size, this causes more problems in homogenization.

【0009】更に、各量子細線1への、ゲート電極によ
る印加電界の均一化の問題もある。
Further, there is a problem that the electric field applied to each quantum wire 1 by the gate electrode is made uniform.

【0010】このような、占有面積等の問題の解決をは
かる為には、図8に示すように、複数の量子細線1を絶
縁層2を介して積層すれば良い。
In order to solve the problem of the occupied area and the like, a plurality of quantum wires 1 may be laminated with an insulating layer 2 interposed therebetween, as shown in FIG.

【0011】ところが、この場合、各量子細線1に対し
て、ゲート電極を均一に配置することの問題が生じてく
る。
However, in this case, a problem arises in that the gate electrodes are evenly arranged for each quantum wire 1.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、単数の量子
細線による単チャンネル型の量子細線トランジスタはも
とより、複数の量子細線を並列に設けた多チャンネル構
造のトランジスタにおいて、その構造及び製造の簡易
化、特にゲート部の形成の簡易化をはかることができ、
量子細線を積層配置した場合においても、各量子細線に
対して均一なゲート電極の配置ができる量子細線トラン
ジスタとその製法に係わる。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a single-channel type quantum wire transistor using a single quantum wire, as well as to a transistor having a multi-channel structure in which a plurality of quantum wires are provided in parallel. , Especially the formation of the gate part can be simplified,
The present invention relates to a quantum wire transistor capable of uniformly arranging a gate electrode for each quantum wire even when the quantum wires are stacked and the manufacturing method thereof.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】第1の本発明は、図1に
その一例の拡大斜視図を示し、図2にその量子細線部の
拡大断面図を示すように、表面空乏層のない半導体例え
ばInAsから成る量子細線11に、空間12を介し
て、ゲート13が設けられた構成とする。
According to the first aspect of the present invention, a semiconductor having no surface depletion layer is shown in FIG. 1 which is an enlarged perspective view of an example thereof, and FIG. 2 is an enlarged sectional view of a quantum wire portion thereof. For example, a quantum wire 11 made of InAs is provided with a gate 13 via a space 12.

【0014】第2の本発明は、同様に、図1及び図2に
示すように、それぞれ表面空乏層のない半導体から成る
量子細線11が、電子に対するバリア層14を介して積
層され、各量子細線11に空間を介して対向して、各量
子細線11と同一半導体層から成るゲート13が配置さ
れた構成とする。
Similarly, as shown in FIGS. 1 and 2, in the second invention, quantum wires 11 each made of a semiconductor having no surface depletion layer are stacked via a barrier layer 14 for electrons, and each quantum wire 11 is formed. A gate 13 made of the same semiconductor layer as each quantum wire 11 is arranged to face the wire 11 with a space.

【0015】第3の本発明は、図3にその斜視図を示す
ように、基板15上に、表面空乏層のない半導体層16
と、電子に対するバリア層14とが積層された積層半導
体層を形成し、これに対し、図4に斜視図を示すよう
に、ソース領域部117と、ドレイン領域部118と、
これらソース領域部117及びドレイン領域部118と
の間に差し渡る量子細線部111と、この量子細線部1
11と所要の距離を隔てたゲート部113とを残して同
時にパターン化して目的とする量子細線トランジスタを
構成する。
A third aspect of the present invention, as shown in the perspective view of FIG. 3, has a semiconductor layer 16 having no surface depletion layer on a substrate 15.
And a barrier layer 14 for electrons are laminated to form a laminated semiconductor layer. On the other hand, as shown in a perspective view of FIG. 4, a source region portion 117, a drain region portion 118,
A quantum wire portion 111 extending between the source region portion 117 and the drain region portion 118, and the quantum wire portion 1
11 and the gate portion 113 which is separated by a required distance are left at the same time to perform patterning at the same time to form a target quantum wire transistor.

【0016】[0016]

【作用】本発明では、量子細線11を、特に表面空乏層
のない半導体、すなわち空間(例えば真空)との界面に
おいて、図5にそのコンダクションバンドのモデル図を
示すように、少なくとも空乏層を形成することない半導
体の例えばInAsによって構成したことによって、こ
の量子細線11の空間12との界面すなわち量子細線1
1の表面にいわばチャンネルを形成するので、このチャ
ンネルに対して、所要の間隙による空間12を介して対
向させたゲート13への電圧印加による電界によってこ
れを制御できる。
In the present invention, at least the depletion layer is formed in the quantum wire 11 at the interface with a semiconductor having no surface depletion layer, that is, a space (for example, vacuum), as shown in the conduction band model diagram of FIG. By forming the semiconductor that is not formed, for example, InAs, the interface between the quantum wire 11 and the space 12, that is, the quantum wire 1
Since, so to speak, a channel is formed on the surface of No. 1, it can be controlled by an electric field by applying a voltage to the gate 13 opposed to this channel through the space 12 having a required gap.

【0017】したがって、複数の量子細線11を、積層
した構成とする場合において、これら量子細線11の端
面にこの各量子細線11の構成半導体層と同一の半導体
層をもって各ゲート13を構成することができるもので
あり、またこの構成を採ることができるようにしたこと
によって、本発明製法におけるように、複数の量子細線
11が積層された量子細線部111のパターンと、各ゲ
ート13を構成するゲート部113とを同時にパターン
化する手順を採ることができるものであり、またこの本
発明製法によって、複数の量子細線11に対して均一に
ゲート13を形成することができるのである。
Therefore, when a plurality of quantum wires 11 are laminated, the gates 13 may be formed on the end faces of the quantum wires 11 with the same semiconductor layers as the semiconductor layers of the quantum wires 11. As described in the manufacturing method of the present invention, the pattern of the quantum wire portion 111 in which a plurality of quantum wire 11 are stacked and the gates forming each gate 13 can be obtained. It is possible to adopt a procedure of patterning the portion 113 and the portion 113 at the same time, and the gate 13 can be uniformly formed for a plurality of quantum wires 11 by the manufacturing method of the present invention.

【0018】[0018]

【実施例】本発明による量子細線トランジスタの一例を
本発明製法の一例と共に説明する。この例では、2本の
量子細線を電気的に並列に形成する場合である。
EXAMPLE An example of the quantum wire transistor according to the present invention will be described together with an example of the manufacturing method of the present invention. In this example, two quantum wires are electrically formed in parallel.

【0019】まず、図3に示すように、例えばGaAs
単結晶より成る基板15を用意する。
First, as shown in FIG. 3, for example, GaAs
A substrate 15 made of a single crystal is prepared.

【0020】そして、この基板15上に、バリア層1
4、表面空乏層のない半導体層16、更に同様のバリア
層14、表面空乏層のない半導体層16を順次連続エピ
タキシャル成長して積層半導体層を形成する。
Then, the barrier layer 1 is formed on the substrate 15.
4. A semiconductor layer 16 having no surface depletion layer, a similar barrier layer 14, and a semiconductor layer 16 having no surface depletion layer are successively epitaxially grown to form a laminated semiconductor layer.

【0021】上下両半導体層16としては、表面空乏層
のない、すなわち真空ないしはこれに対応する空間との
界面において空乏層が生じることのないn型の例えばI
nAsによって構成することができ、その厚さは、例え
ば10nm程度に量子細線を形成し得る程度に薄い厚さ
とする。
The upper and lower semiconductor layers 16 have no surface depletion layer, that is, an n-type semiconductor layer 16 which does not have a depletion layer at the interface with the vacuum or the space corresponding thereto.
It can be made of nAs, and the thickness thereof is, for example, about 10 nm, which is thin enough to form a quantum wire.

【0022】一方、バリア層14は、基板15と半導体
層16と良く格子整合し、かつ半導体層16すなわち最
終的に構成される量子細線11に対して、電子に対する
バリアを形成することのできる半導体層によって構成さ
れ、このバリア層14と半導体層16との関係が、図6
のバンドモデル図で示すように、バリア層14の伝導帯
(コンダクションバンド)が、半導体層16の伝導帯よ
り高く、かつバリア層14の価電子帯(バレンスバン
ド)が半導体層16の伝導帯より低いタイプのヘテロ接
合を構成する半導体材料によって構成する。このような
バリア層14としては、例えば厚さ50nm程度のAl
GaSbによって構成する。
On the other hand, the barrier layer 14 is well lattice-matched with the substrate 15 and the semiconductor layer 16, and can form a barrier against electrons with respect to the semiconductor layer 16, that is, the quantum wire 11 to be finally formed. The relationship between the barrier layer 14 and the semiconductor layer 16 is shown in FIG.
As shown in the band model diagram of 1., the conduction band of the barrier layer 14 is higher than the conduction band of the semiconductor layer 16, and the valence band of the barrier layer 14 is the conduction band of the semiconductor layer 16. It is composed of a semiconductor material that constitutes a lower type heterojunction. As such a barrier layer 14, for example, Al having a thickness of about 50 nm is used.
It is composed of GaSb.

【0023】そして、このように、表面空乏層のない半
導体層16と、電子に対するバリア層14とが積層され
た積層半導体層に対し、図3中に鎖線で示すように、最
終的に得ようとるするソース領域部と、ドレイン領域部
と、これらソース領域部及びドレイン領域部との間に差
し渡る量子細線部と、この量子細線部と所要の距離を隔
てたゲート部上にフォトレジスト等のエッチングマスク
Mを形成する。
Then, for the laminated semiconductor layer in which the semiconductor layer 16 having no surface depletion layer and the barrier layer 14 for electrons are laminated in this way, finally obtain as shown by a chain line in FIG. A source region portion to be taken, a drain region portion, a quantum thin line portion extending between the source region portion and the drain region portion, and a photoresist or the like on the gate portion at a required distance from the quantum thin line portion. The etching mask M is formed.

【0024】これらマスクMの形成は、例えばフォトレ
ジストの全面的塗布、電子描画による露光、現像によっ
て形成する。
The masks M are formed by, for example, coating the entire surface of a photoresist, exposing by electronic drawing, and developing.

【0025】その後、このマスクMによって覆われてい
ない積層半導体層を、図4に示すように、少なくとも全
半導体層16の全厚さを横切る深さに、選択的にエッチ
ングして、ソース領域部117と、ドレイン領域部11
8と、これらソース領域部117及びドレイン領域部1
18との間に差し渡る量子細線部111と、この量子細
線部111を挟んでその両側に、それぞれこの量子細線
部111と所要の距離例えば10nm隔てて対のゲート
部113を形成する。
Thereafter, the laminated semiconductor layer not covered with the mask M is selectively etched to a depth that traverses at least the entire thickness of the entire semiconductor layer 16, as shown in FIG. 117 and the drain region 11
8 and these source region part 117 and drain region part 1
18 and a pair of gate portions 113 are formed on both sides of the quantum thin wire portion 111 with the quantum thin wire portion 111 interposed between the quantum thin wire portion 111 and the quantum thin wire portion 111 at a required distance, for example, 10 nm.

【0026】この場合のエッチングは、RIE(反応性
イオンエッチング)等の垂直の異方性エッチングによっ
て行って、エッチング後のパターンが、上下各層の半導
体層16に関して、同一寸法形状となるようにする。
The etching in this case is performed by vertical anisotropic etching such as RIE (reactive ion etching) so that the pattern after etching has the same size and shape with respect to the upper and lower semiconductor layers 16. .

【0027】このようにして、ソース領域部117とド
レイン領域部118において、それぞれ各半導体層16
による2層のソース領域17とドレイン領域18が構成
され、これら2層の各ソース領域17とドレイン領域1
8との間にそれぞれ差し渡って量子細線部111の同様
に各半導体層16による2層の量子細線11が形成さ
れ、更にこれら各量子細線11を挟んでその両側に、各
量子細線11の側端面と所要の間隔の例えば10nmに
よる空間12を保持して対のゲート部113の各半導体
層16による2層のゲート13が構成される。
Thus, in the source region 117 and the drain region 118, each semiconductor layer 16 is formed.
The two-layer source region 17 and the drain region 18 are formed by
8 and the quantum wire portion 111 is formed in the same manner as the quantum wire portion 111, and two layers of the quantum wire 11 are formed by the respective semiconductor layers 16. A two-layer gate 13 is formed by each semiconductor layer 16 of the pair of gate portions 113 while maintaining a space 12 of 10 nm between the end face and a required distance.

【0028】そして、図1に示すように、各ソース領域
部117と、ドレイン領域部118と、ゲート部113
の例えば各外端に、少なくとも各部における2層の半導
体層16を電気的に連結しかつ各端子導出をなすソース
電極17Sと、ドレイン電極18Dと、ゲート電極13
Gとを各部の2層の半導体層16に渡る深さにアロイし
て形成する。
Then, as shown in FIG. 1, each source region 117, drain region 118, and gate 113.
For example, the source electrode 17S, the drain electrode 18D, and the gate electrode 13 that electrically connect at least the two semiconductor layers 16 in each part to each terminal and lead to each terminal
G and G are formed by alloying to a depth across the two semiconductor layers 16 in each part.

【0029】このようにして、ソース及びドレイン間に
2チャンネル型すなわち2本の量子細線11が積層され
て電気的に並列に形成された量子細線トランジスタが構
成される。
In this way, a two-channel type quantum wire 11, that is, two quantum wires 11 are laminated between the source and the drain to form a quantum wire transistor electrically formed in parallel.

【0030】この構成による量子細線トランジスタによ
れば、その量子細線11として、表面空乏層がない半導
体層16によって構成してその表面すなわち空間12と
の界面近傍にチャンネルが形成されるようにしたので、
これに対する制御を、空間12を介して配置したゲート
13への電圧印加による電界によって充分に制御するこ
とができる。
According to the quantum wire transistor having this structure, the quantum wire 11 is composed of the semiconductor layer 16 having no surface depletion layer so that a channel is formed on the surface thereof, that is, near the interface with the space 12. ,
The control for this can be sufficiently controlled by the electric field due to the voltage application to the gate 13 arranged through the space 12.

【0031】そして、このような構成をとることができ
るようにしたことによって、各量子細線11に対するゲ
ート13の形成は、量子細線11を形成する半導体層1
6によって、しかも量子細線11の形成(量子細線部1
11の形成)と同時にゲート部113の形成すなわちパ
ターン化を行って形成するものであるので、各量子細線
11とこれらに対応する各ゲート13との位置関係は、
確実に所定の位置関係に正対し、かつ所定の間隔も正確
に設定される。
By making such a structure possible, the gate 13 is formed for each quantum wire 11 so that the semiconductor layer 1 forming the quantum wire 11 is formed.
6 to form the quantum wire 11 (quantum wire portion 1
11)) and the gate portion 113 is formed at the same time, that is, by patterning, the positional relationship between each quantum wire 11 and each corresponding gate 13 is as follows.
The predetermined positional relationship is surely faced, and the predetermined interval is also accurately set.

【0032】尚、上述した例では、基板15としてGa
As基板を用いた場合であるが、これ自体バリアを構成
できるAlGaSbによって構成するときは、これの上
に直接的に下層の半導体層16をエピタキシャル成長す
ることができる。
In the above example, the substrate 15 is made of Ga.
As for the case of using an As substrate, when it is composed of AlGaSb which itself can form a barrier, the lower semiconductor layer 16 can be directly epitaxially grown on it.

【0033】また、上述した例では、2チャンネル型の
量子細線トランジスタを構成した場合で、このため、半
導体層16を2層用いた場合であるが、3チャンネル以
上の量子細線トランジスタに適用することもでき、この
場合においては、3層以上の半導体層16をそれぞれバ
リア層14を介して積層した構成とすればよい。
Further, in the above-mentioned example, a two-channel type quantum thin line transistor is constructed, and therefore, although two semiconductor layers 16 are used, it is applicable to a quantum thin line transistor having three or more channels. Alternatively, in this case, three or more semiconductor layers 16 may be stacked with the barrier layer 14 interposed therebetween.

【0034】また、量子細線11とゲート13との間の
空間12は、真空ないしはこれと実質的に同等の不活性
ガスの封入、或いは、SiO2 の充填、または、AlG
aSbの充填を行うこともでき、更にこれと同時に量子
細線部111等を覆うようにAlGaSbを形成するこ
ともできる。
The space 12 between the quantum wire 11 and the gate 13 is filled with a vacuum or an inert gas which is substantially equivalent to this, filled with SiO 2 , or AlG.
It is also possible to fill aSb, and at the same time, it is also possible to form AlGaSb so as to cover the quantum wire portion 111 and the like.

【0035】また、図示した例では、基板15上に、一
個の量子細線トランジスタを形成しているが、複数個同
時に形成し、その後分断するとか、共通の基板15に複
数の量子細線トランジスタないしは複数の量子細線が並
置された構成とすることもできる。
Further, in the illustrated example, one quantum wire transistor is formed on the substrate 15, but a plurality of quantum wire transistors or a plurality of quantum wire transistors or a plurality of quantum wire transistors may be formed on the common substrate 15 after forming a plurality of quantum wire transistors at the same time. It is also possible to adopt a configuration in which the quantum wires of are arranged side by side.

【0036】また、上述の例では、量子細線部111の
両側にゲート部113を配置した場合であるが、これを
一方のみとすることもできるし、両側のゲート部113
を互いにその外端においてソース領域部或いはドレイン
領域部の外側をめぐって連結させた構造とすることもで
きるなど、上述した例或いは図示の例に限らず種々の変
更を行うことができる。
Further, in the above example, the gate portions 113 are arranged on both sides of the quantum wire portion 111, but it is possible to arrange only one of them, or the gate portions 113 on both sides.
It is also possible to make various changes without being limited to the above-mentioned example or the illustrated example, such as a structure in which the outside ends of the source region portion or the drain region portion are connected to each other.

【0037】[0037]

【発明の効果】本発明による量子細線トランジスタによ
れば、その量子細線11として、表面空乏層がない半導
体層16によって構成してその表面すなわち空間12と
の界面近傍にチャンネルが形成されるようにしたので、
これに対する制御を、空間12を介して配置したゲート
13への電圧印加による電界によって充分に制御するこ
とができる。
According to the quantum wire transistor of the present invention, the quantum wire 11 is constituted by the semiconductor layer 16 having no surface depletion layer, and a channel is formed on the surface thereof, that is, near the interface with the space 12. Because I did
The control for this can be sufficiently controlled by the electric field due to the voltage application to the gate 13 arranged through the space 12.

【0038】したがって、本発明によれば、各量子細線
11に対するゲート13の形成を、量子細線11を形成
する半導体層16と同一の半導体層によって、しかも量
子細線11の形成(量子細線部111の形成)と同時に
ゲート部113の形成すなわちパターン化を行って形成
することができ、これによって各量子細線11と対応す
る各ゲート13との位置関係は、確実に所定の位置関係
に正対させてしかもその間隔も正確に設定することがで
きるので、歩留りよく、能率的に多チャンネル型の量子
細線トランジスタを製造できるものである。
Therefore, according to the present invention, the formation of the gate 13 for each quantum wire 11 is performed by the same semiconductor layer as the semiconductor layer 16 forming the quantum wire 11, and the formation of the quantum wire 11 (of the quantum wire portion 111). At the same time, the gate portion 113 can be formed, that is, can be formed by patterning, so that the positional relationship between the quantum wires 11 and the corresponding gates 13 can be surely made to face a predetermined positional relationship. Moreover, since the interval can be accurately set, the yield can be increased and the multi-channel quantum wire transistor can be efficiently manufactured.

【0039】そして、その互いに並列に結合される複数
の量子細線11は縦型配置としたので、各量子細線11
間での特性のばらつき、したがって、一部のチャンネル
に電流が集中するなどの不都合を回避できるなど多くの
利点を有するものである。
Since the plurality of quantum wires 11 connected in parallel to each other are arranged vertically, each quantum wire 11 is
There are many advantages such as avoiding inconveniences such as variations in characteristics between the channels and therefore current concentration on some channels.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による量子細線トランジスタの一例の略
線的斜視図である。
FIG. 1 is a schematic perspective view of an example of a quantum wire transistor according to the present invention.

【図2】本発明による量子細線トランジスタの一例の要
部の略線的断面図である。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view of a main part of an example of a quantum wire transistor according to the present invention.

【図3】本発明による量子細線トランジスタの製法の一
例の工程図である。
FIG. 3 is a process drawing of an example of a method of manufacturing a quantum wire transistor according to the present invention.

【図4】本発明による量子細線トランジスタの製法の一
例の工程図である。
FIG. 4 is a process drawing of an example of a method of manufacturing a quantum wire transistor according to the present invention.

【図5】本発明の説明に供するエネルギーバンドモデル
図である。
FIG. 5 is an energy band model diagram for explaining the present invention.

【図6】本発明の説明に供するエネルギーバンドのコン
ダクションバンドのモデル図である。
FIG. 6 is a model diagram of a conduction band of an energy band used for explaining the present invention.

【図7】従来の量子細線トランジスタの斜視図である。FIG. 7 is a perspective view of a conventional quantum wire transistor.

【図8】従来の量子細線トランジスタの斜視図である。FIG. 8 is a perspective view of a conventional quantum wire transistor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 量子細線 111 量子細線部 12 空間 13 ゲート 113 ゲート部 16 半導体層 14 バリア層 11 quantum thin wire 111 quantum thin wire portion 12 space 13 gate 113 gate portion 16 semiconductor layer 14 barrier layer

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 表面空乏層のない半導体から成る量子細
線に、空間を介して、ゲートが設けられて成ることを特
徴とする量子細線トランジスタ。
1. A quantum wire transistor comprising a quantum wire made of a semiconductor having no surface depletion layer and a gate provided through a space.
【請求項2】 それぞれ表面空乏層のない半導体から成
る量子細線が、電子に対するバリア層を介して積層さ
れ、 各量子細線に空間を介して対向して、各量子細線と同一
半導体層から成るゲートがそれぞれ配置されて成ること
を特徴とする量子細線トランジスタ。
2. A quantum wire made of a semiconductor having no surface depletion layer is laminated via a barrier layer for electrons, and a gate made of the same semiconductor layer as each quantum wire faces each quantum wire with a space. A quantum wire transistor, characterized in that each is arranged.
【請求項3】 基板上に、表面空乏層のない半導体層
と、電子に対するバリア層とが積層された積層半導体層
を形成し、 該積層半導体層に対し、ソース領域部と、ドレイン領域
部と、これらソース領域部及びドレイン領域部との間に
差し渡る量子細線部と、該量子細線部と所要の距離を隔
てたゲート部とを残して同時にパターン化することを特
徴とする量子細線トランジスタの製法。
3. A laminated semiconductor layer in which a semiconductor layer having no surface depletion layer and a barrier layer for electrons are laminated on a substrate, and a source region portion and a drain region portion are formed on the laminated semiconductor layer. A quantum wire transistor which is characterized by simultaneously patterning a quantum wire part extending between the source region part and the drain region part and a gate part separated from the quantum wire part by a required distance. Manufacturing method.
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