JPH06129822A - 非接触式形状測定用基準原器及び非接触式形状測定装置 - Google Patents

非接触式形状測定用基準原器及び非接触式形状測定装置

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JPH06129822A
JPH06129822A JP28202992A JP28202992A JPH06129822A JP H06129822 A JPH06129822 A JP H06129822A JP 28202992 A JP28202992 A JP 28202992A JP 28202992 A JP28202992 A JP 28202992A JP H06129822 A JPH06129822 A JP H06129822A
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plane
measured
light
shape
prototype
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JP28202992A
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Koji Katsuragi
廣治 葛城
Touseki Kin
東石 金
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光学式の非接触式形状測定装置において実際
の測定を行う前の基準原点の設定を正確に行う。 【構成】 基準原器60の形状を測定することにより、
実際の形状測定動作を行う前の基準原点の設定を行う。
上記基準原器60は、光軸に対して互いに逆方向に傾斜
する第1の平面A及び第2の平面Bと、同じく光軸に対
して互いに逆方向に傾斜する第3の平面C及び第4の平
面Dとを有する。第1の平面A及び第2の平面Bの交線
Eと、第3の平面C及び第4の平面Dの交線Fは、点O
において直交する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光学式距離検出手段を
用いて被測定物の形状を非接触で測定する装置並びにこ
の非接触式形状測定を行う際にその基準原点を設定する
ために用いられる基準原器に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、各種成形品や樹脂金型等の被測定
物の形状を測定する手段として、その被測定面に直接計
測針等を接触させるのではなく、光学式の距離センサ等
を用いて上記被測定面に対して接触せずにその形状測定
を行う技術が知られている。例えば、特開平2−272
308号公報には、発光素子から被測定物の表面に対し
て所定方向に光を照射し、その反射光を受光素子で受光
するとともに、その受光位置に基づいて上記発光素子か
ら被測定面までの距離を三角測量法を利用して算出する
ようにしたものが開示されている。
【0003】さらに近年は、上記被測定物の複数面(例
えば正面、背面、平面、底面、左右側面の6つの面)を
順に上記光学式距離センサに向け、各面の形状を測定し
た後、これらの形状を合成することにより被測定物の全
表面の形状データを構築するといった装置の開発も進め
られている。図9は、カメラの5つの面の形状をそれぞ
れ個別に測定し、その後に各形状を座標変換しながら合
成する例を示している。このような形状データの合成を
正確に行うには、実際の測定を行う前に、各面の座標を
決めるための基準となる基準原点を設定しておく必要が
ある。
【0004】従来、このような基準原点を設定するに
は、図2(b)に示すような球形の基準原器90が用い
られている。この基準原器90を用いた形状測定手順は
次の通りである。
【0005】a)基準原器90を所定位置にセットす
る。
【0006】b)基準原器90に対して光学式距離セン
サ30を光軸と直交する方向にスキャンさせ、基準原器
90の球面を測定する。
【0007】c)測定した球面から基準原器90の中心
を演算し、これを基準原点として記憶する。
【0008】d)上記基準原器90を退け、その中心が
位置していた点(すなわち基準原点)に合せて被測定物
をセットする。
【0009】e)この被測定物に対して光学式距離セン
サ30をスキャンさせ、被測定面の形状を上記基準原点
を基準に演算する。
【0010】f)上記被測定物の各面について形状測定
を行った後、これらの形状を適宜座標変換しながら合成
して被測定物全表面の形状データを構築する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上記のような球形の基
準原器90を用いた場合、光の照射位置によって光軸に
対する基準原器90表面の傾斜角が大きく変化し(図2
(b)において傾斜角θ1≠θ2≠θ3)、これに伴って
測定精度が大きく変化する不都合がある。具体的には、
基準原器90中央付近での傾斜角θ3が約90°と非常
に大きく、良好な精度が得られるのに対し、基準原器9
0周辺部での傾斜角θ1は急激に小さくなるため、良好
な測定精度が得られず、場合によってはシャドウ効果に
より測定不能となる不都合がある。すなわち、この基準
原器90では、基準原点の設定精度の向上に限界があ
り、合成データのつなぎ目にずれが生じる等の不都合が
発生するおそれがある。
【0012】本発明は、このような事情に鑑み、実際の
測定を行う前の基準原点の設定を正確に行うことを可能
にし、これにより精度の高い形状測定を実現することが
できる装置並びに基準原器を提供することを目的とす
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、被測定物の表
面に光を照射する発光素子と上記被測定物表面から反射
された光を受けてその受光位置を検出する受光素子とを
備えた光学式距離検出手段を用いて上記被測定物の形状
を非接触で測定する前に、この測定の基準原点を設定す
るための基準原器であって、互いに隣接し、かつ相対的
に異なる向きに傾斜する第1の平面及び第2の平面と、
互いに隣接し、かつ相対的に異なる向きに傾斜する第3
の平面及び第4の平面とを有するとともに、上記第1の
平面と第2の平面との交線と、上記第3の平面と第4の
平面との交線とが交わるように各平面が配置されている
ものである。
【0014】また本発明は、被測定物の表面に光を照射
する発光素子と上記被測定物表面から反射された光を受
けてその受光位置を検出する受光素子とを備えた光学式
距離検出手段を用いて上記被測定物の形状を非接触で測
定する装置であって、被測定物に対して予め定められた
基準方向から光を照射するように上記光学式距離検出手
段を支持する支持手段と、上記被測定物を上記光学式距
離検出手段に対して相対移動させる移送手段と、請求項
1記載の基準原器に対して上記基準方向から光が照射さ
れた時の受光素子の受光位置に基づいてこの基準原器の
第1の平面と第2の平面との交線及び第3の平面と第4
の平面との交線を求め、かつ両交線の交点を求める基準
原器形状演算手段と、上記交点に基づいて基準原点を設
定し記憶する記憶手段と、被測定物に対して上記基準方
向から光が照射された時の受光素子の受光位置と上記記
憶手段で記憶された基準原点と上記光学式距離検出手段
に対する被測定物の相対移送位置とに基づき上記被測定
物の形状を演算する被測定物形状演算手段とを備えたも
のである。
【0015】
【作用】上記基準原器及びこれを用いた測定装置によれ
ば、基準原器の4つの平面に対して光を照射し、2本の
交線の交点により基準原点を設定するようにしているの
で、従来のように基準原器の球面に対して光を照射し、
その中心を基準原点とする場合と異なり、基準原器表面
に対する光軸の傾斜角が安定しており、その分測定精度
も安定する。
【0016】
【実施例】本発明の一実施例を図1〜図8に基づいて説
明する。
【0017】図3に示す非接触式形状測定装置は、べッ
ド10を備え、このべッド10上にX軸方向(図面奥行
き方向)に延びるX軸ガイド部材11が固定されてい
る。このX軸ガイド部材11上には、これに沿ってスラ
イド可能にX軸テーブル12が設置され、このX軸テー
ブル12はX軸駆動モータ14によりスライド駆動され
るようになっている。このX軸テーブル12上には、Y
軸方向(図3の左右方向)に延びるY軸ガイド部材16
が固定され、これに沿ってスライド可能にY軸テーブル
20が設置されており、このY軸テーブル20がY軸駆
動モータ18によりスライド駆動されるようになってい
る。このY軸テーブル20には、被測定物Wが載置され
るZ軸テーブル22が昇降可能(Z軸方向に移動可能)
に設置されるとともに、このZ軸テーブル22がZ軸駆
動モータ23により昇降駆動されるようになっている。
すなわち、各軸駆動モータ14,18,23の作動によ
り、上記Z軸テーブル22上に載置された被測定物Wが
X,Y,Zの各軸方向に移送されるようになっている。
【0018】また、この装置には、基準位置からのX軸
テーブル12の移動量を検出するX軸スケール24、基
準位置からのY軸テーブル16の移動量を検出するY軸
スケール26、基準位置からのZ軸テーブル22の移動
量を検出するZ軸スケール28がそれぞれ設けられてい
る。これらのスケール24,26,28は、各軸テーブ
ル12,20,22の移動量を検出できるものであれば
良く、各軸テーブル12,20,22の移動に伴ってガ
イドを転動するコロの回転量をポテンショメータで検出
するものや、感圧スケール押圧位置に応じた電圧を出力
するもの等が好適である。また、各軸駆動モータ14,
18,23がステッピングモータ等で構成されている場
合には、その駆動信号のパルス数から移動距離を求める
ようにしてもよい。
【0019】一方、これらの周囲を取り囲むようにして
門型のフレーム29が上記べッド10上に設置されてお
り、このフレーム29の上部中央に光学式距離センサ3
0が下方を向く状態で垂直軸回りに旋回可能に装着され
ている。
【0020】この光学式距離センサ30は、三角測量法
を用いて対象物表面までの距離を検出するものであっ
て、図4に示すように、半導体レーザ等からなる発光素
子32、投光レンズ34、受光レンズ36、及び光位置
検出素子(受光素子)38を備えている。発光素子32
は、鉛直下方に向かって光を照射する向きに配置されて
おり、光位置検出素子38は、水平面に対して傾斜する
方向に広がる受光可能領域を有している。そして、上記
発光素子32から投光レンズ34を通じて被測定物Wの
表面上の点Pに光が照射されるとともに、その反射光が
受光レンズ36を通じて光位置検出素子38に受光さ
れ、その受光位置(厳密には受光量のピーク位置)が検
出されるようになっている。ここで、上記点Pが図4の
点P1や点P2へ昇降すると、光位置検出素子38による
受光位置が変化することとなり、この受光位置に基づい
て三角測量法によりセンサから上記点Pまでの距離が演
算可能となる。
【0021】なお、本発明ではこの光学式距離センサ3
0の具体的な構成を問わず、反射光を利用して被測定面
との距離を非接触で測定する種々の装置を適用すること
ができる。
【0022】図1は、上記装置においてその実際の測定
の前に用いられる基準原器60の形状を示したものであ
る。図示のように、この基準原器60は、互いに略直交
する第1棒状部62及び第2棒状部64をもつ平面視L
字状に形成されている。第1棒状部62の上部には、あ
る基準方向(図例では鉛直方向)に対して傾斜しかつ互
いに隣接する第1の平面A及び第2の平面Bが形成さ
れ、第2棒状部64の上部にも、上記鉛直方向に対して
傾斜しかつ互いに隣接する第3の平面C及び第4の平面
Dが形成されている。ここで各平面A〜Dは次の表1に
示すような条件を満たすように配置されている。
【0023】
【表1】 (i)第1の平面Aと第2の平面Bは互いに逆方向に傾
斜し、かつ、鉛直方向に対する第1の平面Aの傾斜角と
鉛直方向に対する第2の平面Bの傾斜角とは互いに等し
い。
【0024】(ii)第3の平面Cと第4の平面Dは互い
に逆方向に傾斜し、かつ、鉛直方向に対する第3の平面
Cの傾斜角と鉛直方向に対する第4の平面Dの傾斜角と
は互いに等しい。
【0025】(iii)第1の平面Aと第2の平面Bとの交
線E、第3の平面Cと第4の平面Dとの交線Fはともに
同一水平面上にあり、両交線E,Fは上記平面上の点O
で交わる。
【0026】また、各平面A〜Dの表面性状は、その反
射光を良好に測定するために、白またはグレー等の色を
もつ光拡散面とすることが極めて望ましい。
【0027】上記図3に示した形状測定装置は、図5に
示すような演算制御装置40を備えている。この演算制
御装置40には、同図に示すように、上記光位置検出素
子38や各軸スケール24,26,28からの検出信号
の他、キーボード等の入力装置50を通じて外部からの
操作信号が入力されるようになっている。また、この演
算制御装置40からは、各軸駆動モータ14,18,2
3に駆動制御信号が出力されるとともに、形状測定結果
がプリンタ等の表示装置52に出力され、外部に表示さ
れるようになっている。
【0028】この装置の特徴として、演算制御装置40
は図6に示すような形状演算手段42、基準座標軸記憶
手段44、及び形状合成手段46を備えている。
【0029】形状演算手段(本発明における基準原器形
状演算手段及び被測定物形状演算手段を構成)42は、
各軸スケール24,26,28の検出結果から求められ
る上記基準原器60や被測定物Wの移送位置と、光位置
検出素子38の検出するその受光位置とに基づき、上記
基準原器60や被測定物Wの表面形状を演算するととも
に、基準原器60の形状演算時には、上記交線E,Fや
その交点Oに関する情報を基準座標軸記憶手段44に入
力する一方、被測定物Wの形状演算時には、基準座標軸
記憶手段44で記憶されている基準座標軸に基づいて被
測定面上の各点の位置座標を演算するものである。
【0030】基準座標軸記憶手段44は、上記形状演算
手段42で演算された上記交点Oを基準原点として記憶
するとともに、互いに直交する2本の交線E,Fを基準
座標軸(X軸及びY軸)として記憶するものである。
【0031】形状合成手段46は、形状演算手段42に
より演算される被測定物Wの各面の形状に関する情報
を、入力装置50を通じて入力される面識別情報すなわ
ち被測定物Wのどの面(例えば正面、側面等)が光学式
距離センサ30に向けられているかを識別する情報との
組合せで記憶し、各面での形状測定が終了した後に各形
状を合成するものである。
【0032】次に、この装置による形状測定手順を図7
のフローチャートを併せて参照しながら説明する。
【0033】まず、前記図3に示したZ軸テーブル22
上の所定位置に前記図1に示した基準原器60を設置す
る(ステップS1)。そして、適宜各軸駆動モータ1
4,18,23を作動させることにより、光学式距離セ
ンサ30に対して基準原器60を相対移動させ、これに
よって上記光学式距離センサ30で第1の平面A及び第
2の平面Bをスキャンすることにより、両平面A,B及
びその交線Eを検出する(ステップS2)。より具体的
には、各測定点での被測定面の三次元座標に基づいて、
平面A,Bの近似平面を最小二乗法でそれぞれ演算し、
両平面A,Bの交線Eの直線式を演算する。
【0034】同様にして、第3の平面C及び第4の平面
Dをスキャンすることにより両平面C,D及びその交線
Fを検出する(ステップS3)。さらに、両交線E,F
の交点Oを検出し(ステップS4)、この交点Oを基準
原点とし、かつ両交線E,Fを互いに直交する基準座標
軸(X軸及びY軸)として基準座標軸記憶手段44に記
憶させる(ステップS5)。
【0035】なお、Z軸についてはX,Y軸が決まれば
自動的に算出が可能である。
【0036】次に、上記基準原器60をZ軸テーブル2
2から取り去り、これに代え、記憶された上記基準座標
軸、すなわち、載置されていた基準原器60の交線E,
Fに合せてZ軸テーブル22上に被測定物Wを載置し
(ステップS6)、その各面について形状測定を行う
(ステップS7)。
【0037】この形状測定において、例えば被測定物W
の正面、背面、平面、底面、及び左右両側面の6面を測
定したい場合には、図8に示すような基準ブロック70
をZ軸テーブル22上の所定位置(上記基準座標軸に対
応した位置)に正確に固定しておく一方、保持ブロック
72の所定位置に被測定物Wを保持しておき、この保持
ブロック72を上記基準ブロック70に対して予め定め
られた6つの位置(図8(a)〜(f)に示す位置)に
取付ければ、上記被測定物Wの6面を正確に光学式距離
センサ30に向けることができ、各面形状を測定するこ
とができる。ここで、基準座標軸に対して基準ブロック
70は正確に位置決めされており、かつこの基準ブロッ
ク70に対する保持ブロック72及び被測定物Wの相対
位置も予め設定されたものであるので、被測定物W表面
の位置座標は正確に把握することが可能である。
【0038】なお、この形状測定の際、面識別情報、す
なわち現在の測定がどの面について行われているかとい
う情報を入力装置50の操作で演算制御装置40に入力
しておく。また、基準ブロック70に対する被測定物W
の移動は手動・自動のいずれで行ってもよい。
【0039】次に、各面形状を適宜座標変換(平行移動
や回転移動及びその組合せ)しながら合成することによ
り、被測定物全周面についての形状データを構築する
(ステップS8)。ここで、各面形状のデータは基準座
標軸に基づいて採取されているので、その座標変換は容
易に行うことができる。
【0040】以上のように、前記図1に示した基準原器
60によれば、スキャン面がすべて平面であり、このス
キャンデータに基づいて基準原点の割り出しを行うよう
にしているので、図2(b)に示すような球形の基準原
器90で基準原点を設定する場合に比べ、測定精度を大
幅に向上させることができる。すなわち、図2(b)に
示す基準原器90では、光学式距離センサ30から光を
照射する位置によってその光軸と基準原器90表面との
なす角度が大幅に変化し(図例ではθ1≠θ2≠θ3)、
この表面の測定精度が大きくばらつくことになるが、本
実施例における基準原器60によれば、例えば図2
(a)に示すように第1の平面A及び第2の平面Bをス
キャンする場合に光軸と両平面A,Bのなす角度は常に
一定である(図例ではθ1=θ2=θ3)ため、測定精度
は安定しており、基準原点を正確に設定することができ
る。
【0041】なお、本発明はこのような実施例に限定さ
れるものでなく、例として次のような態様をとることも
可能である。
【0042】(1) 上記実施例では、光軸に対する第1の
平面Aの傾斜角と光軸に対する第2の平面Bの傾斜角と
が互いに等しく、かつ光軸に対する第3の平面Cの傾斜
角と光軸に対する第4の平面Dの傾斜角とが互いに等し
いものを示したが、本実施例はこれに限らず、光軸に対
する各平面の傾斜角が測定可能な角度範囲内にあればよ
い。例えば、上記第1の平面A,Bが図1に示すような
凸型でなく凹型に交わるものであっても良く、いずれか
一方の平面が光軸に対して直交していてもよい。
【0043】ただし、上記実施例のように光軸に対する
平面A,Bの傾斜角を相互等しくし、かつ光軸に対する
平面C,Dの傾斜角を相互等しくすれば、全体の測定精
度をより安定化することができる利点がある。
【0044】(2) 上記実施例では、交線E,Fが直交し
ている例を示したが、本発明では少なくとも両交線E,
Fが特定の点で交わっていれば、これを基準原点に設定
して測定を行うことが可能である。ただし、上記実施例
のように両交線E,Fを直交させれば、これらの交線
E,Fをそのまま基準直交座標軸として設定することが
できる利点がある。
【0045】(3) 上記実施例では、各面の形状を測定し
た後に座標変換しながら合成する装置を示したが、本発
明はこれに限らず、規準化された座標系をもとに形状デ
ータを採取する必要がある場合に特に有効に適用するこ
とができる。
【0046】(4) 上記実施例では、被測定物Wを移動さ
せるものを示したが、被測定物Wを静止させたまま光学
式距離センサ30を移動させるようにしてもよい。
【0047】
【発明の効果】以上のように本発明は、第1の平面〜第
4の平面をもつ基準原器を用い、第1の平面及び第2の
平面の交線と、第3の平面及び第4の平面の交線との交
点に基づいて測定前の基準原点の設定を行うようにした
ものであるので、従来のように球形の基準原器で基準原
点を設定する場合に比べ、より正確に基準原点の設定を
行うことかでき、これにより形状測定精度を大幅に向上
させることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例における非接触式形状測定用
基準原器の斜視図である。
【図2】(a)は上記基準原器を光学式距離センサによ
りスキャンする状態を示す正面図、(b)は従来の基準
原器を光学式距離センサによりスキャンする状態を示す
正面図である。
【図3】上記基準原器を用いる非接触式形状測定装置の
正面図である。
【図4】上記非接触式形状測定装置に設けられる光学式
距離センサの構成図である。
【図5】上記非接触式形状測定装置に備えられる演算制
御装置の入出力信号を示すブロック図である。
【図6】上記演算制御装置の要部を示す機能ブロック図
である。
【図7】上記非接触式形状測定装置による測定手順を示
すフローチャートである。
【図8】(a)〜(f)は上記非接触式形状測定装置に
用いられる基準ブロックに対する保持ブロックの取付態
様を示す正面図である。
【図9】各面形状データの合成例を示す説明図である。
【符号の説明】
14 X軸駆動モータ(移送手段) 18 Y軸駆動モータ(移送手段) 23 Z軸駆動モータ(移送手段) 30 光学式距離センサ(光学式距離検出手段) 32 発光素子 38 光位置検出素子(受光素子) 40 演算制御装置 42 形状演算手段(基準原器形状演算手段及び被測定
物形状演算手段) 44 基準座標軸記憶手段(記憶手段) 60 基準原器 A 第1の平面 B 第2の平面 C 第3の平面 D 第4の平面 E 第1の平面と第2の平面との交線 F 第3の平面と第4の平面との交線 O 両交線の交点 W 被測定物

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定物の表面に光を照射する発光素子
    と上記被測定物表面から反射された光を受けてその受光
    位置を検出する受光素子とを備えた光学式距離検出手段
    を用いて上記被測定物の形状を非接触で測定する前に、
    この測定の基準原点を設定するための基準原器であっ
    て、互いに隣接し、かつ相対的に異なる向きに傾斜する
    第1の平面及び第2の平面と、互いに隣接し、かつ相対
    的に異なる向きに傾斜する第3の平面及び第4の平面と
    を有するとともに、上記第1の平面と第2の平面との交
    線と、上記第3の平面と第4の平面との交線とが交わる
    ように各平面が配置されていることを特徴とする非接触
    式形状測定用基準原器。
  2. 【請求項2】 被測定物の表面に光を照射する発光素子
    と上記被測定物表面から反射された光を受けてその受光
    位置を検出する受光素子とを備えた光学式距離検出手段
    を用いて上記被測定物の形状を非接触で測定する装置で
    あって、被測定物に対して予め定められた基準方向から
    光を照射するように上記光学式距離検出手段を支持する
    支持手段と、上記被測定物を上記光学式距離検出手段に
    対して相対移動させる移送手段と、請求項1記載の基準
    原器に対して上記基準方向から光が照射された時の受光
    素子の受光位置に基づいてこの基準原器の第1の平面と
    第2の平面との交線及び第3の平面と第4の平面との交
    線を求め、かつ両交線の交点を求める基準原器形状演算
    手段と、上記交点に基づいて基準原点を設定し記憶する
    記憶手段と、被測定物に対して上記基準方向から光が照
    射された時の受光素子の受光位置と上記記憶手段で記憶
    された基準原点と上記光学式距離検出手段に対する被測
    定物の相対移送位置とに基づき上記被測定物の形状を演
    算する被測定物形状演算手段とを備えたことを特徴とす
    る非接触式形状測定装置。
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JPH06129822A true JPH06129822A (ja) 1994-05-13

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JP28202992A Pending JPH06129822A (ja) 1992-10-20 1992-10-20 非接触式形状測定用基準原器及び非接触式形状測定装置

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JP (1) JPH06129822A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105910542A (zh) * 2016-06-08 2016-08-31 浙江工业大学 一种非接触式测量轴承球体几何参数的装置

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CN105910542A (zh) * 2016-06-08 2016-08-31 浙江工业大学 一种非接触式测量轴承球体几何参数的装置

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