JPH06125257A - レセプターを備えた検出装置及び検出装置の機能を確認するための装置の実施方法 - Google Patents
レセプターを備えた検出装置及び検出装置の機能を確認するための装置の実施方法Info
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- JPH06125257A JPH06125257A JP15080493A JP15080493A JPH06125257A JP H06125257 A JPH06125257 A JP H06125257A JP 15080493 A JP15080493 A JP 15080493A JP 15080493 A JP15080493 A JP 15080493A JP H06125257 A JPH06125257 A JP H06125257A
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- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/945—Proximity switches
- H03K17/95—Proximity switches using a magnetic detector
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- G—PHYSICS
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- G08B—SIGNALLING OR CALLING SYSTEMS; ORDER TELEGRAPHS; ALARM SYSTEMS
- G08B29/00—Checking or monitoring of signalling or alarm systems; Prevention or correction of operating errors, e.g. preventing unauthorised operation
- G08B29/12—Checking intermittently signalling or alarm systems
- G08B29/14—Checking intermittently signalling or alarm systems checking the detection circuits
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】電気装置の制御回路の監視システムの機能の信
頼できるものにする。 【構成】レセプター1 は、ホール効果セル、赤外線レセ
プターもしくは発振コイルであり得る。検出装置は、一
方では、レセプター1 に接続され、他方では中央制御装
置4 の他の端子Ｐｃに接続された付加的制御回路12を備
えると同時に制御センタ内にゼネレタ−プログラマを備
え、該ゼネレタ−プログラマが、レセプター1 を非導通
状態をとるように強制する付加的制御回路12の作動信号
の、前記端子Ｐｃの位置での放出を時間的間隔をおいて
監視し、かつゼネレタ−プログラマが、端子Ｐｉの瞬間
的状態が端子Ｐｃの状態の機能に対応するか否かをしら
べ、もしもその瞬間的状態が非作動状態と異なっている
とすれば、中央制御装置4 がセレクタ1 が損傷している
かどうか判定する。
頼できるものにする。 【構成】レセプター1 は、ホール効果セル、赤外線レセ
プターもしくは発振コイルであり得る。検出装置は、一
方では、レセプター1 に接続され、他方では中央制御装
置4 の他の端子Ｐｃに接続された付加的制御回路12を備
えると同時に制御センタ内にゼネレタ−プログラマを備
え、該ゼネレタ−プログラマが、レセプター1 を非導通
状態をとるように強制する付加的制御回路12の作動信号
の、前記端子Ｐｃの位置での放出を時間的間隔をおいて
監視し、かつゼネレタ−プログラマが、端子Ｐｉの瞬間
的状態が端子Ｐｃの状態の機能に対応するか否かをしら
べ、もしもその瞬間的状態が非作動状態と異なっている
とすれば、中央制御装置4 がセレクタ1 が損傷している
かどうか判定する。
Description
【０００１】本発明は、エミッタ(emitter) で制御され
るレセプターを備え、かつ、端子のいくつかが制御回路
を監視するようにされ、少なくとも一つの端子Ｐｉがレ
セプターに接続された中央制御装置を有し、前記レセプ
ターが、電源によって、エミッタによる影響を正確に受
け、端子Ｐｉが中央制御装置に制御回路を監視させる作
動状態にされた時に導通状態になるか、もしくは、エミ
ッタによる影響を不正確に受け、端子Ｐｉが中央制御装
置が前記制御回路を監視することを止めさせる時に非導
通状態になり得るようにされている検出装置に関する。
レセプターがホール効果セル、赤外線レセプターもしく
は発振コイルであり得る、そのような検出システムは、
通常安全装置の制御、即ちエミッタの存在あるいは不存
在によって電気装置の制御回路の監視するのに利用さ
れ、例えばホール効果レセプターは既に多機能の台所用
ロボットに利用されている。これらの用途のいずれにお
いても、検出装置の機能は完全にレセプターの信頼性に
依存している。
るレセプターを備え、かつ、端子のいくつかが制御回路
を監視するようにされ、少なくとも一つの端子Ｐｉがレ
セプターに接続された中央制御装置を有し、前記レセプ
ターが、電源によって、エミッタによる影響を正確に受
け、端子Ｐｉが中央制御装置に制御回路を監視させる作
動状態にされた時に導通状態になるか、もしくは、エミ
ッタによる影響を不正確に受け、端子Ｐｉが中央制御装
置が前記制御回路を監視することを止めさせる時に非導
通状態になり得るようにされている検出装置に関する。
レセプターがホール効果セル、赤外線レセプターもしく
は発振コイルであり得る、そのような検出システムは、
通常安全装置の制御、即ちエミッタの存在あるいは不存
在によって電気装置の制御回路の監視するのに利用さ
れ、例えばホール効果レセプターは既に多機能の台所用
ロボットに利用されている。これらの用途のいずれにお
いても、検出装置の機能は完全にレセプターの信頼性に
依存している。
【０００２】残念なことに、特定の場合に、これらの構
成要素にはホール効果セル、若しくは赤外線セル、及び
／又は出力トランジスタのレベルにおいて異常が存在
し、エミッタの影響を与えることなしでは、それらの永
久的な導通状態が考えられる。従って、恐れがある。従
って、本発明の目的は、これらの欠点を排除し、これら
検出システムの機能を信頼できるものにすることにあ
る。
成要素にはホール効果セル、若しくは赤外線セル、及び
／又は出力トランジスタのレベルにおいて異常が存在
し、エミッタの影響を与えることなしでは、それらの永
久的な導通状態が考えられる。従って、恐れがある。従
って、本発明の目的は、これらの欠点を排除し、これら
検出システムの機能を信頼できるものにすることにあ
る。
【０００３】本発明によれば、検出システムはレセプタ
−の正確な機能を確かめる装置を備え、この装置は、一
方では、レセプターに接続され、他方では中央制御装置
の他の端子Ｐｃに接続された付加的制御回路を備えると
同時に制御センタ内にゼネレタ−プログラマを備え、該
ゼネレタ−プログラマが、前記レセプターを非導通状態
をとるように強制する前記付加的制御回路の作動信号
の、前記端子Ｐｃの位置での放出を時間的間隔をおいて
監視し、かつ該ゼネレタ−プログラマが、端子Ｐｉの瞬
間的状態が端子Ｐｃの状態の機能に対応するか否かを、
もしもその瞬間的状態が非作動状態と異なっているとす
れば、中央制御装置が制御回路を監視しないような仕方
で分析する。
−の正確な機能を確かめる装置を備え、この装置は、一
方では、レセプターに接続され、他方では中央制御装置
の他の端子Ｐｃに接続された付加的制御回路を備えると
同時に制御センタ内にゼネレタ−プログラマを備え、該
ゼネレタ−プログラマが、前記レセプターを非導通状態
をとるように強制する前記付加的制御回路の作動信号
の、前記端子Ｐｃの位置での放出を時間的間隔をおいて
監視し、かつ該ゼネレタ−プログラマが、端子Ｐｉの瞬
間的状態が端子Ｐｃの状態の機能に対応するか否かを、
もしもその瞬間的状態が非作動状態と異なっているとす
れば、中央制御装置が制御回路を監視しないような仕方
で分析する。
【０００４】この確認装置のおかげで、損傷を受けてい
るか否かにかかわらず、レセプターの機能がどんな状態
であっても、時間的間隔をおいて比較して端子Ｐｃにお
ける作動信号と、この作動状態において非導通状態と仮
定しなければならないレセプターの下位にある端子Ｐｉ
の状態とが一致しないことが確定されれば、中央制御装
置の制御回路、エミッタ及び検出すべき対象の存在を監
視できないことを確かめられる。本発明の特徴及び利点
は、実施例によって添付図面を参照して以下に説明され
る。
るか否かにかかわらず、レセプターの機能がどんな状態
であっても、時間的間隔をおいて比較して端子Ｐｃにお
ける作動信号と、この作動状態において非導通状態と仮
定しなければならないレセプターの下位にある端子Ｐｉ
の状態とが一致しないことが確定されれば、中央制御装
置の制御回路、エミッタ及び検出すべき対象の存在を監
視できないことを確かめられる。本発明の特徴及び利点
は、実施例によって添付図面を参照して以下に説明され
る。
【０００５】
【実施例】図１および図２に表わすように、好ましい実
施例に関する検出システムは、例えば、磁石２のような
磁界を有するエミッタによって制御されるホール効果レ
セプター１(HALL effect receptor 1)に利用され、例え
ば、料理ロボット型の電気装置の制御回路を監視するの
に適応される。そのような料理ロボットは本出願人によ
って１９９０年１月２６日に出願された仏国特許出願第
９０，００，９３０号に詳述されている。公知の形式の
装置の回路は、端子５のうちのいくつかがロボットのモ
ータの制御インターフェイス６に接続され、入出力端子
の一つＰｉがレセプター１に接続されているマイクロコ
ントローラ４ような中央制御装置を備えている。破線で
模式的に表わされているように、この形式のマイクロコ
ントローラ４、例えば、インテル社の８０５１は、固定
記憶装置(ROM) Ｍと、ポートと呼ばれる入出力端子の内
部の差込み式プラグ回路におけるＮＰＮトランジスタを
有する等価回路とを備えている。このＮＰＮトランジス
タは、その一方の端子が接地され、他方の端子が前記端
子Ｐｉに加えて抵抗を介して電源Ｖｃｃに接続されてい
る。
施例に関する検出システムは、例えば、磁石２のような
磁界を有するエミッタによって制御されるホール効果レ
セプター１(HALL effect receptor 1)に利用され、例え
ば、料理ロボット型の電気装置の制御回路を監視するの
に適応される。そのような料理ロボットは本出願人によ
って１９９０年１月２６日に出願された仏国特許出願第
９０，００，９３０号に詳述されている。公知の形式の
装置の回路は、端子５のうちのいくつかがロボットのモ
ータの制御インターフェイス６に接続され、入出力端子
の一つＰｉがレセプター１に接続されているマイクロコ
ントローラ４ような中央制御装置を備えている。破線で
模式的に表わされているように、この形式のマイクロコ
ントローラ４、例えば、インテル社の８０５１は、固定
記憶装置(ROM) Ｍと、ポートと呼ばれる入出力端子の内
部の差込み式プラグ回路におけるＮＰＮトランジスタを
有する等価回路とを備えている。このＮＰＮトランジス
タは、その一方の端子が接地され、他方の端子が前記端
子Ｐｉに加えて抵抗を介して電源Ｖｃｃに接続されてい
る。
【０００６】このホール効果レセプター１はコレクタ８
がマイクロコントローラの端子Ｐｉに接続され、エミッ
タ９が接地、ベース１０がレセプター１の内部の電気回
路を介して、直流電源Ｖｃｃによって給電されるＮＰＮ
式の出力トランジスタ７を有する。出力トランジスタ７
はレセプター１が、アクセサリーが存在する場合、及び
／又はカバーによってボール(bowl)が適当に囲まれてい
る場合を意味する磁界による影響を正確に受けて、端子
Ｐｉが作動状態にされた時に、飽和状態と呼ばれる導通
状態、即ちマイクロコントローラ４に制御回路を監視さ
せる低電位状態(low state) となる。一方、レセプター
１が磁界による影響を正確に受けずに、ボール及び／又
はカバーが存在しないことを意味し、端子Ｐｉが非作動
状態にされると、出力トランジスタ７は非導通状態、即
ち、マイクロコントローラ４に前記制御回路を監視させ
ることを止めさせる高電位状態(high state)になる。使
用される直流電源は５ボルトのいわゆる高電圧と、回路
の接地に相当するいわゆる低電圧とを有する。
がマイクロコントローラの端子Ｐｉに接続され、エミッ
タ９が接地、ベース１０がレセプター１の内部の電気回
路を介して、直流電源Ｖｃｃによって給電されるＮＰＮ
式の出力トランジスタ７を有する。出力トランジスタ７
はレセプター１が、アクセサリーが存在する場合、及び
／又はカバーによってボール(bowl)が適当に囲まれてい
る場合を意味する磁界による影響を正確に受けて、端子
Ｐｉが作動状態にされた時に、飽和状態と呼ばれる導通
状態、即ちマイクロコントローラ４に制御回路を監視さ
せる低電位状態(low state) となる。一方、レセプター
１が磁界による影響を正確に受けずに、ボール及び／又
はカバーが存在しないことを意味し、端子Ｐｉが非作動
状態にされると、出力トランジスタ７は非導通状態、即
ち、マイクロコントローラ４に前記制御回路を監視させ
ることを止めさせる高電位状態(high state)になる。使
用される直流電源は５ボルトのいわゆる高電圧と、回路
の接地に相当するいわゆる低電圧とを有する。
【０００７】本発明によれば、検出システムは、一方の
端子がレセプター１に接続され、他方の端子がマイクロ
コントローラ４の固定記憶装置Ｍにインストールされた
テスト・プログラムに関するゼネレータ・プログラマー
(generator-programmer)に加えてマイクロコントローラ
４の入出力端子Ｐｃに接続される付加的回路１２を有す
るホール効果レセプター１の正確な機能を確かめる装置
を備え、前記テスト・プログラムが、レセプター１によ
って非飽和状態になるようにさせられている付加的回路
１２の作動信号(activation signal) の放出(emission)
を、前記端子Ｐｃの位置で間隔をあけた時間で制御し、
もし、瞬間状態が非作動状態(inactivestate)と異なる
場合に、マイクロコントローラに制御回路を監視させる
ことを止めさせるような方法で端子Ｐｉに対応する瞬間
状態を分析する。テスト・プログラムは、例えば２０ミ
リ秒の規則正しい間隔か、もしくは、ランダムな間隔の
時間で進行する。この確認装置のために、付加的回路１
２は、テスト・プログラムによって作動され、周期的な
間隔時間、もしくはランダムな間隔時間で、レセプター
１の正確な機能を確認し、マイクロコントローラ４によ
る電気装置の制御回路の全ての誤った制御を回避するよ
うな方法で、ホールセル(HALL cell) 及び／又は出力ト
ランジスタのような内部要素を予定する。
端子がレセプター１に接続され、他方の端子がマイクロ
コントローラ４の固定記憶装置Ｍにインストールされた
テスト・プログラムに関するゼネレータ・プログラマー
(generator-programmer)に加えてマイクロコントローラ
４の入出力端子Ｐｃに接続される付加的回路１２を有す
るホール効果レセプター１の正確な機能を確かめる装置
を備え、前記テスト・プログラムが、レセプター１によ
って非飽和状態になるようにさせられている付加的回路
１２の作動信号(activation signal) の放出(emission)
を、前記端子Ｐｃの位置で間隔をあけた時間で制御し、
もし、瞬間状態が非作動状態(inactivestate)と異なる
場合に、マイクロコントローラに制御回路を監視させる
ことを止めさせるような方法で端子Ｐｉに対応する瞬間
状態を分析する。テスト・プログラムは、例えば２０ミ
リ秒の規則正しい間隔か、もしくは、ランダムな間隔の
時間で進行する。この確認装置のために、付加的回路１
２は、テスト・プログラムによって作動され、周期的な
間隔時間、もしくはランダムな間隔時間で、レセプター
１の正確な機能を確認し、マイクロコントローラ４によ
る電気装置の制御回路の全ての誤った制御を回避するよ
うな方法で、ホールセル(HALL cell) 及び／又は出力ト
ランジスタのような内部要素を予定する。
【０００８】図１に示した本発明の好ましい実施例によ
れば、付加的回路１２はＰＮＰトランジスタのスイッチ
１３を備え、そのスイッチ１３の出力１４いわゆるコネ
クタが、レセプター１に接続され、従って、回路を介し
てレセプター１の内部の出力トランジスタ７のベース１
０に接続され、それに加えて、抵抗Ｒを介して接地さ
れ、かつ、出力１５、いわゆるエミッタが直流電源Ｖｃ
ｃに接続され、ベース１６が、分圧器によってマイクロ
コントローラ４の端子Ｐｃに接続されている。さらに、
マイクロコントローラ４の端子Ｐｃは抵抗１７によって
制限されている回路を介して電源Ｖｃｃに接続されてい
る。
れば、付加的回路１２はＰＮＰトランジスタのスイッチ
１３を備え、そのスイッチ１３の出力１４いわゆるコネ
クタが、レセプター１に接続され、従って、回路を介し
てレセプター１の内部の出力トランジスタ７のベース１
０に接続され、それに加えて、抵抗Ｒを介して接地さ
れ、かつ、出力１５、いわゆるエミッタが直流電源Ｖｃ
ｃに接続され、ベース１６が、分圧器によってマイクロ
コントローラ４の端子Ｐｃに接続されている。さらに、
マイクロコントローラ４の端子Ｐｃは抵抗１７によって
制限されている回路を介して電源Ｖｃｃに接続されてい
る。
【０００９】機能は、２つの状態によって詳述され、第
１の状態はレセプター１が損傷を受けない通常の機能に
相当し、第２の状態は、レセプター１が損傷を受ける異
常な機能に相当する。機能の第１状態によれば、カバー
３及び／又はボールはその場所で正確な状態にされ、か
つ、磁石２はホール効果レセプター１に直接影響を与え
るようにされる。出力トランジスタ７は飽和され、端子
Ｐｉは、作動即ち低電位状態において、接地電位にな
る。従って、マイクロコントローラ４は、インターフェ
イス６によって装置の機能を監視するために適合され、
そして従って、料理ロボットの場合は、モータのスイッ
チが入れられ、そのスピードが制御される。もし、ボー
ル及び／又はカバー３が移動されたら、レセプター１は
もはや磁石２の影響をうけず、出力トランジスタ７はそ
の非導通状態となり、端子Ｐｉは制限抵抗１７を介して
電源Ｖｃｃから電力供給され、非作動即ち高電位状態に
なる。この方法において、マイクロコントローラ４は装
置の制御回路を監視できず、従って、モータの機能を監
視できない。装置の機能中は、テスト・プログラムが、
例えば２０ミリ秒毎に端子Ｐｃを５ボルトの電圧に相当
する高電位状態に置く作動信号を発信する。トランジス
タ１３はそのベース１６に電力が供給されるので非導通
状態に移り、出力トランジスタ７を非導通状態にし、そ
して、端子Ｐｉを高電位状態にする。テスト・プログラ
ムは、端子Ｐｉの瞬間状態を分析し、非作動状態即ち端
子Ｐｉの高電位状態を書き込み、ホール効果レセプター
１が損傷を受けない端子Ｐｃの状態と比較して決定す
る。
１の状態はレセプター１が損傷を受けない通常の機能に
相当し、第２の状態は、レセプター１が損傷を受ける異
常な機能に相当する。機能の第１状態によれば、カバー
３及び／又はボールはその場所で正確な状態にされ、か
つ、磁石２はホール効果レセプター１に直接影響を与え
るようにされる。出力トランジスタ７は飽和され、端子
Ｐｉは、作動即ち低電位状態において、接地電位にな
る。従って、マイクロコントローラ４は、インターフェ
イス６によって装置の機能を監視するために適合され、
そして従って、料理ロボットの場合は、モータのスイッ
チが入れられ、そのスピードが制御される。もし、ボー
ル及び／又はカバー３が移動されたら、レセプター１は
もはや磁石２の影響をうけず、出力トランジスタ７はそ
の非導通状態となり、端子Ｐｉは制限抵抗１７を介して
電源Ｖｃｃから電力供給され、非作動即ち高電位状態に
なる。この方法において、マイクロコントローラ４は装
置の制御回路を監視できず、従って、モータの機能を監
視できない。装置の機能中は、テスト・プログラムが、
例えば２０ミリ秒毎に端子Ｐｃを５ボルトの電圧に相当
する高電位状態に置く作動信号を発信する。トランジス
タ１３はそのベース１６に電力が供給されるので非導通
状態に移り、出力トランジスタ７を非導通状態にし、そ
して、端子Ｐｉを高電位状態にする。テスト・プログラ
ムは、端子Ｐｉの瞬間状態を分析し、非作動状態即ち端
子Ｐｉの高電位状態を書き込み、ホール効果レセプター
１が損傷を受けない端子Ｐｃの状態と比較して決定す
る。
【００１０】機能の第２状態によれば、カバー３及び／
又はボールがその場所において不正確にされ、磁石２が
ホール効果レセプター１に直接影響を与えずに、ホール
セルもしくは出力トランジスタ７が損傷を受けて短絡す
る。これらの状態の下では、出力トランジスタ７は飽和
した状態であり、端子Ｐｉはその低電位状態となり、装
置の制御回路の方向を通常の方法にする。一方、テスト
・プログラムは２０ミリ秒毎に進行し、端子Ｐｃにそれ
を高電位状態に移行する作動信号を送るので、トランジ
スタ１３は非導通状態にさせられ、出力トランジスタ７
もまた、もはやそのベース１０に電流を受けないので、
非導通状態にさせられ、そして従って、端子Ｐｉは高電
位状態にさせられる。しかし、短絡に相当するホールセ
ル及び／又は出力トランジスタ７への損傷のせいで、端
子Ｐｉは接地され、低電位状態となる。結果として、テ
スト・プログラムは端子Ｐｃの状態と端子Ｐｉの状態と
の間の差異を書き込み、レセプター１が損傷を受けてい
ることを決定し、従って、同時にマイクロコントローラ
４に装置を監視することを止めさせることを決定する。
又はボールがその場所において不正確にされ、磁石２が
ホール効果レセプター１に直接影響を与えずに、ホール
セルもしくは出力トランジスタ７が損傷を受けて短絡す
る。これらの状態の下では、出力トランジスタ７は飽和
した状態であり、端子Ｐｉはその低電位状態となり、装
置の制御回路の方向を通常の方法にする。一方、テスト
・プログラムは２０ミリ秒毎に進行し、端子Ｐｃにそれ
を高電位状態に移行する作動信号を送るので、トランジ
スタ１３は非導通状態にさせられ、出力トランジスタ７
もまた、もはやそのベース１０に電流を受けないので、
非導通状態にさせられ、そして従って、端子Ｐｉは高電
位状態にさせられる。しかし、短絡に相当するホールセ
ル及び／又は出力トランジスタ７への損傷のせいで、端
子Ｐｉは接地され、低電位状態となる。結果として、テ
スト・プログラムは端子Ｐｃの状態と端子Ｐｉの状態と
の間の差異を書き込み、レセプター１が損傷を受けてい
ることを決定し、従って、同時にマイクロコントローラ
４に装置を監視することを止めさせることを決定する。
【００１１】図２に示された本発明の代わりの実施例に
よれば、付加的回路は、テスト・プログラムに加えて、
ホール効果レセプター１の後ろ側に配置され、少なくと
も磁石２の磁界と等しく、かつ、磁石２の磁界と対向し
た磁界を作るように適応された１８で示されるコイルを
有する。前記コイル１８は一方の端子が接地され、他方
の端子が、ＰＮＰトランジスタ形式の電子スイッチ２０
のコレクタ１９に接続される。ＰＮＰトランジスタ形式
の電子スイッチ２０のベース２１は分圧器によってマイ
クロコントローラ４の端子Ｐｃに接続されている。マイ
クロコントローラ４の端子Ｐｉは、レセプター１に加え
てトランジスタ２０のエミッタ２２に接続された直流電
源Ｖｃｃに抵抗１７’をによって接続されるのに加え
て、出力トランジスタ７のコレクタ端子８に接続され
る。この方法において、端子Ｐｉは電圧Ｖｃｃにほとん
ど相当する高電位状態にさせられるが、トランジスタ７
は非導通状態にある。この代わりの実施例の作用は、ホ
ール効果レセプター１が損傷を受けている場合のみにつ
いて詳述される。この実施例において、テスト・プログ
ラムは、例えば端子Ｐｃを低電位状態に移行する作動信
号を、端子Ｐｃに２０ミリ秒毎に送信して進行する。ト
ランジスタ２０は飽和され、コイル１８は、磁石２の磁
界を消滅させるような方法で、磁石２の磁界と少なくと
も等しく、かつ、対向している磁界を引き起こす電力が
供給される。この強制された状態において、レセプター
１は非導通状態であるべきで、端子Ｐｉを非作動状態即
ち高電位状態にするべきである。しかし、これに反し
て、出力トランジスタ７の短絡によって、端子Ｐｉはア
ースと直接接続される作動状態即ち低電位状態にある。
テスト・プログラムは、端子Ｐｃの状態を瞬時に比較す
ることによって、レセプター１が損傷を受けていること
を決定する。
よれば、付加的回路は、テスト・プログラムに加えて、
ホール効果レセプター１の後ろ側に配置され、少なくと
も磁石２の磁界と等しく、かつ、磁石２の磁界と対向し
た磁界を作るように適応された１８で示されるコイルを
有する。前記コイル１８は一方の端子が接地され、他方
の端子が、ＰＮＰトランジスタ形式の電子スイッチ２０
のコレクタ１９に接続される。ＰＮＰトランジスタ形式
の電子スイッチ２０のベース２１は分圧器によってマイ
クロコントローラ４の端子Ｐｃに接続されている。マイ
クロコントローラ４の端子Ｐｉは、レセプター１に加え
てトランジスタ２０のエミッタ２２に接続された直流電
源Ｖｃｃに抵抗１７’をによって接続されるのに加え
て、出力トランジスタ７のコレクタ端子８に接続され
る。この方法において、端子Ｐｉは電圧Ｖｃｃにほとん
ど相当する高電位状態にさせられるが、トランジスタ７
は非導通状態にある。この代わりの実施例の作用は、ホ
ール効果レセプター１が損傷を受けている場合のみにつ
いて詳述される。この実施例において、テスト・プログ
ラムは、例えば端子Ｐｃを低電位状態に移行する作動信
号を、端子Ｐｃに２０ミリ秒毎に送信して進行する。ト
ランジスタ２０は飽和され、コイル１８は、磁石２の磁
界を消滅させるような方法で、磁石２の磁界と少なくと
も等しく、かつ、対向している磁界を引き起こす電力が
供給される。この強制された状態において、レセプター
１は非導通状態であるべきで、端子Ｐｉを非作動状態即
ち高電位状態にするべきである。しかし、これに反し
て、出力トランジスタ７の短絡によって、端子Ｐｉはア
ースと直接接続される作動状態即ち低電位状態にある。
テスト・プログラムは、端子Ｐｃの状態を瞬時に比較す
ることによって、レセプター１が損傷を受けていること
を決定する。
【００１２】この方法において、レセプター１の正確な
機能を確かめる装置の遂行のプロセスには、テスト・プ
ログラムの補助をするマイクロコントローラ４の端子Ｐ
ｃに、一定の電位に相当する作動信号を送信するプロセ
スと、制御回路がレセプター１を監視することを可能に
するような方法で、付加的制御回路に作動信号を送信す
るプロセスと、前記レセプター１を非導通状態に強制す
るプロセスと、端子Ｐｉの瞬間作動状態もしくは瞬間非
作動状態を分析するプロセスと、その端子Ｐｉの電位を
予定するプロセスと、その端子Ｐｉの電位と、端子Ｐｃ
の電位を比較するプロセスと、もし、端子Ｐｉの状態が
端子Ｐｃの作動状態と合っていれば、レセプター１が正
確に機能していることを決定し、逆の場合にはレセプタ
ー１が損傷を受けたと決定するするプロセスとを含む。
理解されたように、レセプター１の正確な機能を確かめ
るこの装置は、例えば、赤外線レセプターもしくは振動
式コイルを備え、その目的が、レセプターに相当する作
動エミッタの存在もしくは不在を確かめることである全
ての安全システムに公平に応用できる。
機能を確かめる装置の遂行のプロセスには、テスト・プ
ログラムの補助をするマイクロコントローラ４の端子Ｐ
ｃに、一定の電位に相当する作動信号を送信するプロセ
スと、制御回路がレセプター１を監視することを可能に
するような方法で、付加的制御回路に作動信号を送信す
るプロセスと、前記レセプター１を非導通状態に強制す
るプロセスと、端子Ｐｉの瞬間作動状態もしくは瞬間非
作動状態を分析するプロセスと、その端子Ｐｉの電位を
予定するプロセスと、その端子Ｐｉの電位と、端子Ｐｃ
の電位を比較するプロセスと、もし、端子Ｐｉの状態が
端子Ｐｃの作動状態と合っていれば、レセプター１が正
確に機能していることを決定し、逆の場合にはレセプタ
ー１が損傷を受けたと決定するするプロセスとを含む。
理解されたように、レセプター１の正確な機能を確かめ
るこの装置は、例えば、赤外線レセプターもしくは振動
式コイルを備え、その目的が、レセプターに相当する作
動エミッタの存在もしくは不在を確かめることである全
ての安全システムに公平に応用できる。
【図１】本発明の第１実施例に関する検出システムの回
路図である。
路図である。
【図２】本発明に関する検出システムの第２実施例に関
する回路図である。
する回路図である。
１ レセプター ２ 磁石 ３ カバー ４ マイクロコントローラ ５ 端子 ６ 制御インターフェイス ７ 出力トランジスタ ８ コレクタ ９ エミッタ １０ ベース １２ 付加的回路 １３ スイッチ １４ コネクタ １５ エミッタ １６ ベース １７ 抵抗
Claims (10)
- 【請求項１】 エミッタによってに管理されるレセプタ
ー(1) を備え、かつ、端子のいくつかが制御回路を監視
するようにされ、少なくとも一つの端子Ｐｉがレセプタ
ー(1) に接続された電子中央制御装置(4) を有し、前記
レセプター(1) が、電源Ｖｃｃによって、エミッタによ
って正確に影響され、端子Ｐｉが中央制御装置(4) に制
御回路を監視させる作動状態にされた場合には導通状態
となり、エミッタによって不正確に影響され、端子Ｐｉ
が中央制御装置(4) に前記制御回路を制御させるのを止
めさせる非作動状態にされた場合には非導通状態になる
ようになっている検出装置において、 前記検出装置がレセプタ−(1) の正確な機能を確かめる
装置を備え、この装置が、一方では、レセプター(1) に
接続され、他方では中央制御装置(4) の他の端子Ｐｃに
接続された付加的制御回路(12)を備えると同時に制御セ
ンタ内にゼネレタ−プログラマを備え、該ゼネレタ−プ
ログラマが、前記レセプター(1) を非導通状態をとるよ
うに強制する前記付加的制御回路(12)の作動信号の、前
記端子Ｐｃの位置での放出を時間的間隔をおいて監視
し、かつ該ゼネレタ−プログラマが、端子Ｐｉの瞬間的
状態が端子Ｐｃの状態の機能に対応するか否かを、もし
もその瞬間的状態が非作動状態と異なっているとすれ
ば、中央制御装置(4) が制御回路を監視しないような仕
方で分析することを特徴とする検出装置。 - 【請求項２】 電子中央制御装置が固定記憶装置Ｍを有
するマイクロコントローラを備え、端子Ｐｉが二つの異
なった電位に接続されるようにされ、それらの電位の一
方がレセプター(1) の下位にあり、これに反して、これ
に反してゼネレタ−プログラマが前記固定記憶装置Ｍ内
に内臓されたテスト・プログラムと関連されることを特
徴とする請求項１に記載の検出装置。 - 【請求項３】 付加的制御回路(12)は端子Ｐｃによつて
制御される電子スィチ(13)を備えており、その出力部(1
4)はレセプター(1) に接続され、これに反して入力部(1
5)は直流電源Ｖccに接続され、その電源Ｖｃｃは同様に
制限抵抗(17−17')によつて、端子Ｐｉがレセプター(1)
が非導通状態にある時、電源Ｖccの電圧に殆ど対応す
る非作動状態にされるような仕方で端子Ｐｉに接続され
ることを特徴とする請求項１または請求項２のいずれか
一項に記載の検出装置。 - 【請求項４】 レセプター(1) がホ−ル効果レセプター
であり、エミッタが磁界によつて構成されていることを
特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の検出装
置。 - 【請求項５】 レセプター(1) がＮＰＮ型の出力トラン
ジスタ(7) を備え、そのエミッタ(9) が接地され、コレ
クタ(8) がＰｉ端子に接続され、これに反してベ−ス(1
0)はＰＮＰ型トランジスタ(15)である電子スイッチ(13)
を介して電源Ｖccに接続され、該トランジスタ(15)のエ
ミッタ、即ちいわゆる入力部およびコレクタ(14)、即ち
いわゆる出力部がそれぞれ電源Ｖccと前記ベ−ス(10)と
に接続され、該トランジスタ(15)のベ−ス(16)がマイク
ロコントロ−ラ(4) の端子Ｐｃに接続されていることを
特徴とする請求項２〜４のいずれか一項に記載の検出装
置。 - 【請求項６】 付加的制御回路(12)がホ−ル効果レセプ
ター(1) の背後に装置され、かつレセプター(1) に正し
く影響する磁界と対向し、少なくとも等しい磁界を生じ
させるコイル(18)を備え、前記コイルは、一方では接地
され、他方では、中央制御装置の端子Ｐｉによつて制御
され、その入力部(22)が電源Ｖccに接続されている電子
スイッチ(20)の出力部(19)に接続されており、また端子
Ｐｉが電源Ｖｃｃに接続され、かつ出力トランジスタ
(7) がその非導通状態にある場合に前記電源電圧Ｖｃｃ
に殆ど対応する非作動状態にされることを特徴とする請
求項４に記載の検出装置。 - 【請求項７】 レセプター(1) の出力トランジスタ(7)
がＮＰＮ型のものでそのエミッタ(9) が接地され、電子
スイッチ(20)がＰＮＰ型トランジスタでそのベ−ス(21)
がマイクロコントロ−ラの端子Ｐｃに接続され、またそ
の出力部(19)がコレクタによつて構成されていることを
特徴とする請求項６に記載の検出装置。 - 【請求項８】 作動信号が２０ミリ秒のサイクルに従っ
てゼネレータプログラマによつて端子Ｐｃの位置で放出
されることを特徴とする請求項１〜７のいずれか一項に
記載の検出装置。 - 【請求項９】 普通にレセプター(1) に影響する磁界が
磁石(2) によつて生じられることを特徴とする請求項１
〜８のいずれか一項に記載の検出装置。 - 【請求項１０】 ある電位に相当する作動信号をテスト
・プログラムによつてマイクロコントロ−ラ(4) の端子
Ｐｃに送ること；レセプター(1) を非導通状態に強制的
に保持するように該レセプター(1) を制御することを可
能にするような仕方で付加的制御回路(12)に信号を送る
こと；端子Ｐｉの電位を意味する瞬間的の作動または非
作動の状態を解析すること；テスト・プログラムの助け
によつて端子ＰｃとＰｉの状態を比較すること；および
端子Ｐｉの状態が端子Ｐｃの作動状態とが一致していれ
ばレセプター(1) が正しく作動していると、反対の場合
にはレセプター(1) が損傷を受けていると推断すること
を特徴とする請求項２〜７のいずれか一項に記載の検出
装置の実施方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9207595 | 1992-06-22 | ||
| FR9207595A FR2692677B1 (fr) | 1992-06-22 | 1992-06-22 | Systeme de detection a capteur et procede de mise en óoeuvre d'un dispositif de verification du fonctionnement de ce systeme de detection. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06125257A true JPH06125257A (ja) | 1994-05-06 |
Family
ID=9431022
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15080493A Pending JPH06125257A (ja) | 1992-06-22 | 1993-06-22 | レセプターを備えた検出装置及び検出装置の機能を確認するための装置の実施方法 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5450059A (ja) |
| EP (1) | EP0575912B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06125257A (ja) |
| CN (1) | CN1042062C (ja) |
| DE (1) | DE69326915T2 (ja) |
| ES (1) | ES2139614T3 (ja) |
| FR (1) | FR2692677B1 (ja) |
| MX (1) | MX9303757A (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| AT412636B (de) * | 2000-02-23 | 2005-05-25 | Vae Eisenbahnsysteme Gmbh | Einrichtung zur überwachung und prognose der ausfallwahrscheinlichkeit von induktiven näherungssensoren |
| US6609821B2 (en) | 2001-04-13 | 2003-08-26 | Sunbeam Products, Inc. | Blender base with food processor capabilities |
| DE10138342A1 (de) * | 2001-07-27 | 2003-02-20 | Pilz Gmbh & Co | Vorrichtung zum Überwachen einer Schließposition zweier relativ zueinander beweglicher Teile, insbesondere zur Verwendung als berührungsloser Türkontaktschalter |
| US7338400B2 (en) * | 2003-08-14 | 2008-03-04 | Johnson Controls Technology Company | Motor belt tensioning construction for an air handling unit |
| CN102547792B (zh) * | 2011-12-28 | 2015-05-13 | 北京必创科技有限公司 | 一种无线传感器网络节点协同工作的方法、装置及系统 |
| US9915925B2 (en) * | 2014-02-25 | 2018-03-13 | Honeywell International Inc. | Initiated test health management system and method |
| US10825334B2 (en) | 2016-07-19 | 2020-11-03 | Autronica Fire & Security As | Smoke detector operational integrity verification system and method |
| US10580288B2 (en) * | 2018-06-12 | 2020-03-03 | Blackberry Limited | Alert fault detection system and method |
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|---|---|---|---|---|
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| GB2110386B (en) * | 1981-11-26 | 1985-09-25 | Solartron Electronic Group | Apparatus for monitoring the state of a multi-state device |
| JPS5947694A (ja) * | 1982-09-10 | 1984-03-17 | ニツタン株式会社 | 警報装置のセンサ試験回路 |
| DE3327188A1 (de) * | 1983-07-28 | 1985-02-14 | Gebhard Balluff Fabrik feinmechanischer Erzeugnisse GmbH & Co, 7303 Neuhausen | Selbstpruefender naeherungsschalter |
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| US4870394A (en) * | 1988-01-29 | 1989-09-26 | Systron-Donner Corp. | Smoke detector with improved testing |
| DE3803284A1 (de) * | 1988-02-04 | 1989-08-17 | Diehl Gmbh & Co | Elektrischer schalter |
| US4990895A (en) * | 1988-07-21 | 1991-02-05 | Opcon, Inc. | Method and apparatus for testing photoelectric circuits |
| US4962368A (en) * | 1989-05-04 | 1990-10-09 | General Signal Corporation | Reliability and workability test apparatus for an environmental monitoring system |
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1992
- 1992-06-22 FR FR9207595A patent/FR2692677B1/fr not_active Expired - Fee Related
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1993
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- 1993-06-22 JP JP15080493A patent/JPH06125257A/ja active Pending
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