JPH11121192A - Ｘ線発生装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡易な構成で、開閉シャッタを駆動する電動
アクチュエータへの通電状態と開閉スイッチの状態とに
基づき、開閉シャッタの動作異常を的確に検出できるよ
うにして、安全面での信頼性を向上させる。 【解決手段】 開閉シャッタ駆動用のソレノイド４を作
動させる通電回路１０にダイオード素子１２を直列に挿
入するとともに、このダイオード素子１２の両端にフォ
トカプラ１３を接続する。通電回路１０に電流が流れる
と、ダイオード素子１２には順電流−順電圧特性に応じ
た順電圧Ｖｆが生じ、この順電圧Ｖｆによってフォトカ
プラ１３がＯＮとなり、検出信号を出力する。この検出
信号をもって、ソレノイド４を作動させる通電回路１０
を監視する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、装置本体に設け
られたＸ線取出窓を開閉する開閉シャッタを備えたＸ線
発生装置に関し、特に開閉シャッタの動作を監視して安
全性を高めるための保安システムに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】Ｘ線回折装置等の分析機器に利用される
Ｘ線発生装置は、装置本体の内部で発生したＸ線を所定
の方向へ取り出すために、Ｘ線取出窓を備えている。一
般に、このＸ線取出窓には開閉シャッタが設けてあり、
同シャッタの開閉により、必要なときのみＸ線を透過さ
せ、それ以外はＸ線を遮蔽している。開閉シャッタは、
ソレノイド等の電動アクチュエータによって駆動され、
Ｘ線取出窓を開閉する構成となっているが、その開閉動
作が適正に行なわれない場合、Ｘ線の漏れ出しによる不
測の弊害を引き起こしてしまう危険がある。このため、
Ｘ線発生装置には、開閉シャッタの状態を監視するため
の保安システムが併設されている。

【０００３】従来のこの種の保安システムは、開閉シャ
ッタの開放位置および閉塞位置のそれぞれにマイクロス
イッチ等の検出スイッチを設置しておき、該検出スイッ
チからの検出信号により開閉シャッタの状態を判別する
構成となっていた。例えば、開放位置に設けてある検出
スイッチから検出信号が送られているときは、開閉シャ
ッタが開放していると判断され、一方、閉塞位置に設け
てある検出スイッチから検出信号が送られているとき
は、開閉シャッタが閉塞状態にあると判断される。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、開閉シ
ャッタの故障等に起因して、電動アクチュエータが通電
状態にもかかわらず、開閉シャッタが閉塞状態のままで
あったり、逆に電動アクチュエータへの通電を停止した
にもかかわらず、開閉シャッタが開放状態のままであっ
たりした場合、Ｘ線分析を適正に行なえなかったり、あ
るいはＸ線の放出による不測の事故が生じたりするおそ
れがある。

【０００５】そこで、このような不測の事故や弊害をも
未然に防止できる信頼性の高い保安システムを実現すべ
く、本発明者は鋭意検討を重ね、本発明を完成するに至
った。すなわち、この発明は、開閉シャッタを駆動する
電動アクチュエータへの通電状態と開閉スイッチの状態
とに基づき、開閉シャッタの動作異常を的確に検出でき
るようにして、安全面での信頼性を向上させることを目
的としている。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
にこの発明は、装置本体に設けられたＸ線取出窓を開閉
する開閉シャッタを備えたＸ線発生装置において、開閉
シャッタを駆動する電動アクチュエータと、電動アクチ
ュエータの通電回路へ直列に挿入したダイオード素子
と、このダイオード素子に生じた順電圧を検出する通電
検出手段と、を備えている。

【０００７】ダイオード素子は、微弱な順電流が流れた
だけで高出力の順電圧を生じさせる特性（順電流−順電
圧特性）を有している。したがって、電動アクチュエー
タに流れる電流が微弱であっても高出力の電圧に変換さ
せることができる。その結果、通電検出手段は、該ダイ
オード素子に生じた順電圧を、増幅させることなく検出
することができ、それにより電動アクチュエータへの通
電の有無を確実に検出することができる。

【０００８】この構成によれば、ダイオード素子に生じ
た順電圧を増幅させること無く検出が可能であるため、
高価格な増幅器を挿入する必要がなく、簡易かつ低コス
トに製作できるという利点もある

【０００９】また、ダイオード素子の順電流−順電圧特
性は、順電流の広範囲にわたり、順電圧があまり変化す
ることなく高い値を示すことが知られている。本発明
は、このようなダイオード素子の順電流−順電圧特性を
利用しているので、電動アクチュエータの通電回路に流
れる電流値が異なる各種定格のＸ線発生装置に、共通の
仕様で適用することができ、汎用性が高い。

【００１０】また通電検出手段を、ダイオード素子に生
じた順電圧の印加により発光するフォトカプラとするこ
とにより、通電回路と通電検出手段とを電気的に絶縁す
ることができる。これにより、通電回路の異常から通電
検出手段を保護し、一層信頼性を高めることが可能とな
る。

【００１１】また、上記の構成に加え、開閉シャッタの
開閉状態を検出する開閉検出手段と、この開閉検出手段
からの検出信号と通電検出手段からの検出信号とに基づ
き、各検出信号が正常を示しているときに正常と判別
し、いずれか一方の検出信号が異常を示しているとき異
常と判別する判別手段と、を備えるようにしてもよい。
この構成により、電動アクチュエータへの通電回路の異
常をも含め、開閉シャッタの動作異常を自動的に検出で
きるようになる。

【００１２】なお、電動アクチュエータの通電状態が切
り替わる時間と、電動アクチュエータによる開閉シャッ
タの動作が完了する時間と、の間にはタイムラグがある
ため、通電検出手段からの検出信号が先に切り替わり、
その後、一定の時間遅れをもって開閉検出手段からの検
出信号が切り替わることになる。ゆえに、開閉検出手段
からの検出信号が切り替わる間は、判別手段による判別
結果が、常に異常となるおそれがある。

【００１３】そこで、上記判別手段を備えた構成とする
場合は、通電検出手段と判別手段との間に、通電検出手
段から送出された検出信号を一定の時間遅延させて判別
手段に送る遅延手段を設けることが好ましい。

【００１４】

【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態につ
いて図面を参照して詳細に説明する。まず、図５を参照
して、Ｘ線発生装置のＸ線取出窓に設けられた開閉シャ
ッタと、その開閉状態を検出する検出スイッチについて
説明する。なお、同図（ａ）はＸ線取出窓の開放状態、
同図（ｂ）は開閉シャッタの動作途中の状態、同図
（ｃ）はＸ線取出窓の閉塞状態を示している。

【００１５】同図に示すようにＸ線発生装置本体１に
は、内部で発生したＸ線を所定方向に取り出すためのＸ
線取出窓２が設けてある。開閉シャッタ３は、電動アク
チュエータであるソレノイド４の駆動ロッド４ａに取り
付けてあり、ソレノイド４によって図示左右方向に駆動
され、Ｘ線取出窓２を開閉する。この実施形態では、ソ
レノイド４は通電により駆動ロッド４ａを吸引して開閉
シャッタ３を図示右方向に駆動する構成となっている。
この駆動により、Ｘ線取出窓２は開放される。つまり、
開閉シャッタ３はソレノイド４の通電により、Ｘ線取出
窓２の開放動作を行なう。

【００１６】また、ソレノイド４の通電を停止すると、
駆動ロッド４ａの吸引状態が解除される。このとき、駆
動ロッド４ａはコイルばね等の付勢手段５により図示左
方向に移動する。この移動に伴い開閉シャッタ３も図示
左方向に移動して、Ｘ線取出窓２を閉塞する。つまり、
開閉シャッタ３はソレノイド４の通電停止により、Ｘ線
取出窓２の開放動作を行なう。

【００１７】開閉シャッタ３のＸ線取出窓２に対する開
放位置には、開放状態検出スイッチ６が設けてあり、ま
た閉塞位置には閉塞状態検出スイッチ７が設けてある。
これら各検出スイッチ６，７としては、各種の物体検出
センサを用いることができる。なお、この実施形態では
マイクロスイッチを用いている。

【００１８】開閉シャッタ３は開放位置まで移動する
と、開放状態検出スイッチ６の検出子に接触する（図５
（ａ）参照）。このとき、同検出スイッチ６からは、Ｘ
線取出窓２の開放を示す検出信号が出力される。一方、
開閉シャッタ３は閉塞位置まで移動すると、閉塞状態検
出スイッチ７の検出子に接触する（図５（ｃ）参照）。
このとき、同検出スイッチ７からは、Ｘ線取出窓２の閉
塞を示す検出信号が出力される。

【００１９】図１は、この発明を適用したＸ線発生装置
の保安システムに係る実施形態を示す回路図である。ソ
レノイド４は、通電回路１０に直列に接続してある。通
電回路１０には通電スイッチ１１が挿入してあり、同ス
イッチ１１をＯＮしたとき通電回路１０に直流電流（ソ
レノイド４電流Ｖｆ）が流れ、ソレノイド４は開閉シャ
ッタ３を開放位置へ移動させる（図５（ａ）参照）。一
方、通電スイッチ１１をＯＦＦにしたときソレノイド４
への通電が停止し、ソレノイド４は開閉シャッタ３を閉
塞位置へ移動させる（図５（ｃ）参照）。

【００２０】通電回路１０には、ダイオード素子１２が
直列に挿入してある。ダイオード素子１２は、図２に示
すような順電流−順電圧特性を有している。すなわち、
ダイオード素子１２に順電流Ｉｆ（図１の通電回路１０
では、ソレノイド４電流）が流れると、大きな順電圧Ｖ
ｆが生じる。この順電圧Ｖｆは、順電流Ｉｆが微弱であ
っても大きな値を示す。しかも、順電圧Ｖｆは順電流Ｉ
ｆが変化しても大きな変化を示さないという特性があ
る。この発明は、ダイオード素子１２のこのような順電
流−順電圧特性を利用し、ソレノイド４の通電状態を簡
易な構成で検出するようにしてある。

【００２１】ダイオード素子１２の両端には、フォトカ
プラ１３が接続してある。フォトカプラ１３は、ダイオ
ード素子１２に発生した順電圧Ｖｆの印加により入力側
の発光ダイオード１３ａが発光し、その光を受光して出
力側に設けたフォトトランジスタ１３ｂがＯＮとなり、
出力側の電圧Ｖｏが変化する構成となっている。このフ
ォトカプラ１３の入力側と出力側とは、電気的に絶縁さ
れているため、入力側に接続された通電回路１０に異常
が生じても、その影響を出力側に伝えることはない。

【００２２】また、単一のダイオード素子１２に生じる
順電圧Ｖｆだけでは、フォトカプラ１３が作動しない
（発光ダイオード１３ａが発光しない）ような場合は、
図３に示すように複数個のダイオード素子１２を直列に
つなげたダイオード直列回路１２０を、通電回路１０へ
直列に挿入することもできる。このダイオード直列回路
１２０の両端には、各ダイオード素子１２に生じた順電
圧Ｖｆが加算された大きな順電圧が生じるため、フォト
カプラ１３を確実に作動させることが可能となる。

【００２３】なお、既述したように、順電圧Ｖｆは順電
流Ｉｆが変化しても大きな変化を示さないので、定格電
流の異なるソレノイド４の通電回路１０にも、同じ構成
でそのまま適用することができる。

【００２４】通電回路１０にソレノイド電流（順電流Ｉ
ｆ）が流れると、ダイオード素子１２に順電圧Ｖｆが生
じ、その順電圧Ｖｆによりフォトカプラ１３がＯＮとな
り、その出力側の電圧Ｖｏが変化する。この電圧変化を
検出することにより、ソレノイド４への通電状態を検出
することができる。一方、通電回路１０が遮断される
と、ダイオード素子１２にソレノイド電流（順電流Ｉ
ｆ）が流れなくなるので、ダイオード素子１２の順電圧
Ｖｆが零となり、その結果、フォトカプラ１３がＯＦＦ
となり、その出力側の電圧Ｖｏも変化する。この電圧変
化を検出することにより、ソレノイド４への通電停止を
検出することができる。

【００２５】図４は、この発明を適用したＸ線発生装置
の保安システムに係る実施形態を、更に具体的に示す回
路図である。なお、図４において、先に示した図３およ
び図１と同一部分には同一符号を付してある。この実施
形態では、フォトカプラ１３の出力と、Ｘ線発生装置本
体１に設けた閉塞状態検出スイッチ７および開放状態検
出スイッチ６の出力と、に基づき開閉シャッタ３の動作
異常を自動的に検出する判別回路２０が設けてある。こ
の判別回路２０は、第１のＡＮＤ回路２１、第２のＡＮ
Ｄ回路２２、ＮＯＴ回路２３、およびＯＲ回路２４によ
って構成してある。

【００２６】第１のＡＮＤ回路２１の入力ａには、フォ
トカプラ１３からの検出信号が送られてくる。この実施
形態では、フォトカプラ１３の出力側に常時プラスの電
圧＋Ｖｃが印加してあり、フォトカプラ１３がＯＦＦの
とき、第１のＡＮＤ回路２１の入力ａにはハイレベルの
検出信号（出力電圧）Ｈが送られてくる。一方、フォト
カプラ１３がＯＮのときは、第１のＡＮＤ回路２１の入
力ａにはローレベルの検出信号（出力電圧）Ｌが送られ
てくる。

【００２７】第２のＡＮＤ回路２２の入力ａには、ＮＯ
Ｔ回路２３を介してフォトカプラ１３からの検出信号が
送られてくる。すなわち、フォトカプラ１３がＯＦＦの
とき、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａにはＮＯＴ回路２
３で反転されたローレベルの検出信号（出力電圧）Ｌが
送られてくる。一方、フォトカプラ１３がＯＮのとき
は、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａにはＮＯＴ回路２３
で反転されたハイレベルの検出信号（出力電圧）Ｈが送
られてくる。

【００２８】また、第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂに
は、閉塞状態検出スイッチ７からの検出信号が送られて
くる。この実施形態では、閉塞状態検出スイッチ７の出
力側に常時プラスの電圧＋Ｖｃが印加してあり、閉塞状
態検出スイッチ７がＯＦＦのとき、第１のＡＮＤ回路の
入力ｂにはハイレベルの検出信号Ｈが送られてくる。一
方、閉塞状態検出スイッチ７がＯＮのときは、第１のＡ
ＮＤ回路２１の入力ａにはローレベルの検出信号Ｌが送
られてくる。

【００２９】第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂには、開放
状態検出スイッチ６からの検出信号が送られてくる。こ
の実施形態では、開放状態検出スイッチ６の出力側に常
時プラスの電圧＋Ｖｃが印加してあり、開放状態検出ス
イッチ６がＯＦＦのとき、第２のＡＮＤ回路２２の入力
ｂにはハイレベルの検出信号Ｈが送られてくる。一方、
開放状態検出スイッチ６がＯＮのときは、第２のＡＮＤ
回路２２の入力ａにはローレベルの検出信号Ｌが送られ
てくる。

【００３０】ＯＲ回路２４は、各ＡＮＤ回路からの出力
をそれぞれ入力し、それらの論理和を出力する。本実施
形態では、このＯＲ回路２４の出力により、開閉シャッ
タ３の動作異常を自動的に検出する。

【００３１】ところで、通電回路１０に挿入してある通
電スイッチ１１が切り替わると、それに伴いフォトカプ
ラ１３からの検出信号は速やかに切り替わるが、開放状
態検出スイッチ６または閉塞状態検出スイッチ７から検
出信号は、開閉シャッタ３の動作時間だけ切り替わりが
遅延する。このため、開放状態検出スイッチ６または閉
塞状態検出スイッチ７からの検出信号が切り替わるまで
の間、判別手段による判別結果が、常に異常を示すおそ
れがある。

【００３２】そこでこの実施形態では、第１，第２のＡ
ＮＤ回路２１，２２とフォトカプラ１３との間に、遅延
回路２６を挿入し、フォトカプラ１３からの検出信号を
一定の時間遅延させて各ＡＮＤ回路２１，２２に送出す
るようにしてある。この遅延回路２６によって、フォト
カプラ１３からの検出信号の出力タイミングを、開放状
態検出スイッチ６または閉塞状態検出スイッチ７からの
検出信号の出力タイミングに合わせることで、上記のよ
うな切り替わり時点における判別結果の混乱を回避する
ことができる。

【００３３】次に、図４に示したＸ線発生装置の保安シ
ステムによる開閉シャッタ３の動作検出例を具体的に説
明する。

【００３４】開閉シャッタが正常に開放動作する場合 通電スイッチ１１をＯＮにすると通電回路１０が閉じ、
ダイオード素子１２に順電流Ｉｆが流れて順電圧Ｖｆが
生じる。この順電圧Ｖｆによりフォトカプラ１３がＯＮ
となり、ローレベルの検出信号Ｌが遅延回路２６を介し
て第１のＡＮＤ回路２１の入力ａおよびＮＯＴ回路２３
に出力される。ＮＯＴ回路２３は、入力したローレベル
の検出信号Ｌをハイレベルの検出信号Ｈに反転して、第
２のＡＮＤ回路２２の入力ａに出力する。

【００３５】また、通電スイッチ１１をＯＮすることに
より、ソレノイド４が通電し開閉シャッタ３を開放位置
の方向へ駆動する。そして、開閉シャッタ３が閉塞位置
を離間すると、閉塞状態検出スイッチ７がＯＦＦとな
り、同スイッチ７からハイレベル検出信号Ｈが、第１の
ＡＮＤ回路２１の入力ｂに出力される。続いて、開閉シ
ャッタ３が開放位置に到達すると、開放状態検出スイッ
チ６がＯＮとなり、同スイッチ６からローレベルの検出
信号Ｌが、第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂに出力され
る。

【００３６】入力ａにローレベルの検出信号Ｌを入力す
るとともに、入力ｂにハイレベルの検出信号Ｈを入力し
た第１のＡＮＤ回路２１は、ローレベルの信号ＬをＯＲ
回路２４の入力ａに出力する。一方、第２のＡＮＤ回路
２２は、入力ａにハイレベルの検出信号Ｈを入力すると
ともに、入力ｂにローレベルの検出信号Ｌを入力するた
め、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ｂに出力
する。

【００３７】その結果、ＯＲ回路２４はローレベルの信
号Ｌを出力する。この実施形態では、ＯＲ回路２４から
ローレベルの信号Ｌが出力されたときを「正常」、ハイ
レベルの信号Ｈが出力されたときを「異常」として判定
している。すなわち、上記の動作では、ＯＲ回路２４か
らローレベルの信号Ｌが出力されたので、開閉シャッタ
３の開放動作が正常に行なわれたと判定される。

【００３８】開閉シャッタの開放動作に異常が生じた場
合 通電スイッチ１１をＯＮにして通電回路１０が正常に閉
じた場合は、上記開閉シャッタ３が正常に開放動作する
場合と同様に、フォトカプラ１３から第１のＡＮＤ回路
２１の入力ａにローレベルの検出信号Ｌが出力されると
ともに、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａには、ＮＯＴ回
路２３を介してハイレベルの検出信号Ｈが出力される。
一方、開閉シャッタ３の開放動作に異常が生じ、同シャ
ッタ３が開かなかった場合は、閉塞状態検出スイッチ７
がＯＮのままとなり、同スイッチ７からローレベルの検
出信号Ｌが、第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂに出力され
る。

【００３９】また、開放状態検出スイッチ６はＯＦＦの
ままとなり、同スイッチ６からハイレベルの検出信号Ｈ
が、第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂに出力される。入力
ａにローレベルの検出信号Ｌを入力するとともに、入力
ｂにローレベルの検出信号Ｌを入力した第１のＡＮＤ回
路２１は、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ａ
に出力する。一方、第２のＡＮＤ回路２２は、入力ａに
ハイレベルの検出信号Ｈを入力するとともに、入力ｂに
もハイレベルの検出信号Ｈを入力するため、ハイレベル
の信号ＨをＯＲ回路２４の入力ｂに出力する。その結
果、ＯＲ回路２４は、異常を示すハイレベルの信号Ｈを
出力する。

【００４０】開閉シャッタが正常に閉塞動作する場合 通電スイッチ１１をＯＦＦにすると通電回路１０が開
き、ダイオード素子１２に順電流Ｉｆが流れなくなり、
順電圧Ｖｆも消滅する。したがって、フォトカプラ１３
がＯＦＦとなり、ハイレベルの検出信号Ｈが遅延回路２
６を介して第１のＡＮＤ回路２１の入力ａおよびＮＯＴ
回路２３に出力される。ＮＯＴ回路２３は、入力したハ
イレベルの検出信号Ｈをローレベルの検出信号Ｌに反転
して、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａに出力する。

【００４１】また、通電スイッチ１１をＯＦＦすること
により、ソレノイド４への通電が停止し、開閉シャッタ
３を閉塞位置の方向へ駆動する。そして、開閉シャッタ
３が開放位置を離間すると、開放状態検出スイッチ６が
ＯＦＦとなり、同スイッチ６からハイレベル検出信号Ｈ
が、第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂに出力される。続い
て、開閉シャッタ３が閉塞位置に到達すると、閉塞状態
検出スイッチ７がＯＮとなり、同スイッチ７からローレ
ベルの検出信号Ｌが、第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂに
出力される。

【００４２】入力ａにハイレベルの検出信号Ｈを入力す
るとともに、入力ｂにローレベルの検出信号Ｌを入力し
た第１のＡＮＤ回路２１は、ローレベルの信号ＬをＯＲ
回路２４の入力ａに出力する。一方、第２のＡＮＤ回路
２２は、入力ａにローレベルの検出信号Ｌを入力すると
ともに、入力ｂにハイレベルの検出信号Ｈを入力するた
め、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ｂに出力
する。その結果、ＯＲ回路２４は正常を示すローレベル
の信号Ｌを出力する。

【００４３】開閉シャッタの閉塞動作に異常が生じた場
合 通電スイッチ１１をＯＦＦにして通電回路１０が正常に
開いた場合は、上記開閉シャッタ３が正常に閉塞動作す
る場合と同様に、フォトカプラ１３から第１のＡＮＤ回
路２１の入力ａにハイレベルの検出信号Ｈが出力される
とともに、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａには、ＮＯＴ
回路２３を介してローレベルの検出信号Ｌが出力され
る。一方、開閉シャッタ３の開放動作に異常が生じ、同
シャッタが閉じなかった場合は、開放状態検出スイッチ
６がＯＮのままとなり、同スイッチ６からローレベルの
検出信号Ｌが、第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂに出力さ
れる。

【００４４】また、閉塞状態検出スイッチ７はＯＦＦの
ままとなり、同スイッチ７からハイレベルの検出信号Ｈ
が、第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂに出力される。入力
ａにハイレベルの検出信号Ｈを入力するとともに、入力
ｂにもハイレベルの検出信号Ｈを入力した第１のＡＮＤ
回路２１は、ハイレベルの信号ＨをＯＲ回路２４の入力
ａに出力する。一方、第２のＡＮＤ回路２２は、入力ａ
にローレベルの検出信号Ｌを入力するとともに、入力ｂ
にもローレベルの検出信号Ｌを入力するため、ローレベ
ルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ｂに出力する。その結
果、ＯＲ回路２４は、異常を示すハイレベルの信号Ｈを
出力する。

【００４５】開閉シャッタが開放位置にあるとき通電異
常が生じた場合 開閉シャッタ３が開放位置にあるときは、閉塞状態検出
スイッチ７から第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂへハイレ
ベルの検出信号Ｈが出力されるとともに、開放状態検出
スイッチ６から第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂへローレ
ベルの検出信号Ｌが出力されている。このとき、通電回
路１０に異常が生じ、通電回路１０に電流が流れなくな
った場合は、ダイオード素子１２にも順電流Ｉｆが流れ
ず順電圧Ｖｆが消滅する。したがって、フォトカプラ１
３がＯＦＦとなり、ハイレベルの検出信号Ｈが遅延回路
２６を介して第１のＡＮＤ回路２１の入力ａおよびＮＯ
Ｔ回路２３に出力されることになる。ＮＯＴ回路２３
は、入力したハイレベルの検出信号Ｈをローレベルの検
出信号Ｌに反転して、第２のＡＮＤ回路２２の入力ａに
出力する。

【００４６】入力ａにハイレベルの検出信号Ｈを入力す
るとともに、入力ｂにハイレベルの検出信号Ｈを入力し
た第１のＡＮＤ回路２１は、ハイレベルの信号ＨをＯＲ
回路２４の入力ａに出力する。一方、第２のＡＮＤ回路
２２は、入力ａにローレベルの検出信号Ｌを入力すると
ともに、入力ｂにローレベルの検出信号Ｌを入力するた
め、ローレベルの信号ＬをＯＲ回路２４の入力ｂに出力
する。その結果、ＯＲ回路２４は異常を示すハイレベル
の信号Ｈを出力する。

【００４７】開閉シャッタが閉塞位置にあるとき通電異
常が生じた場合 開閉シャッタ３が閉塞位置にあるときは、閉塞状態検出
スイッチ７から第１のＡＮＤ回路２１の入力ｂへローレ
ベルの検出信号Ｌが出力されるとともに、開放状態検出
スイッチ６から第２のＡＮＤ回路２２の入力ｂへハイレ
ベルの検出信号Ｈが出力されている。このとき、通電回
路１０に異常が生じ、通電回路１０が閉じた場合は、ダ
イオード素子１２に順電流Ｉｆが流れ、順電圧Ｖｆが生
じる。したがって、フォトカプラ１３がＯＮとなり、ロ
ーレベルの検出信号Ｌが遅延回路２６を介して第１のＡ
ＮＤ回路２１の入力ａおよびＮＯＴ回路２３に出力され
ることになる。ＮＯＴ回路２３は、入力したローレベル
の検出信号Ｌをハイレベルの検出信号Ｈに反転して、第
２のＡＮＤ回路２２の入力ａに出力する。

【００４８】入力ａにローレベルの検出信号Ｌを入力す
るとともに、入力ｂにローレベルの検出信号Ｌを入力し
た第１のＡＮＤ回路２１は、ローレベルの信号ＬをＯＲ
回路２４の入力ａに出力する。一方、第２のＡＮＤ回路
２２は、入力ａにハイレベルの検出信号Ｈを入力すると
ともに、入力ｂにもハイレベルの検出信号Ｈを入力する
ため、ハイレベルの信号ＨをＯＲ回路２４の入力ｂに出
力する。その結果、ＯＲ回路２４は異常を示すハイレベ
ルの信号Ｈを出力する。このように、本実施形態では、
通電回路１０の異常に関しても的確に検出することがで
きる。

【００４９】なお、この発明は上述した実施形態に限定
されるものではない。例えば、上述した実施形態では、
ソレノイドが通電したとき開閉シャッタが開放動作をす
る構造となっていたが、逆にソレノイドが通電したとき
開閉シャッタが閉塞動作をする構造のＸ線発生装置であ
っても、この発明を適用することができる。

【００５０】

【実施例】図６はロータリー式の開閉シャッタを備えた
Ｘ線発生装置に図１に示した回路を組み込んだ場合の実
施例を示している。同図（ａ）はダイオード素子１２に
流れる順電流Ｉｆの検出データ、同図（ｂ）はダイオー
ド素子１２に生じた順電圧Ｖｆの検出データ、同図
（ｃ）はフォトカプラ１３の出力電圧Ｖｏの検出データ
である。通電回路１０をＯＦＦからＯＮに切り替えたと
き、ダイオード素子１２に同図（ａ）に示すようなほぼ
一定の順電流Ｉｆが流れた。このときダイオード素子１
２には、同図（ｂ）に示すようなほぼ一定の順電圧Ｖａ
が生じ、フォトカプラ１３の出力電圧Ｖｏが同図（ｃ）
に示すように低下した。

【００５１】また、図７は直動式の開閉シャッタを備え
たＸ線発生装置に図１に示した回路を組み込んだ場合の
実施例を示している。同図おいても、（ａ）はダイオー
ド素子１２に流れる順電流Ｉｆの検出データ、（ｂ）は
ダイオード素子１２に生じた順電圧Ｖｆの検出データ、
（ｃ）はフォトカプラ１３の出力電圧Ｖｏの検出データ
をそれぞれ示している。通電回路１０をＯＦＦからＯＮ
に切り替えたとき、同図（ａ）に示すように開閉シャッ
タ３の駆動が続く間、ダイオード素子１２には大きな順
電流Ｉｆが流れ、その後、開閉シャッタ３が開放位置で
停止すると、順電流Ｉｆの値は低下した。

【００５２】しかし、このような順電流Ｉｆの変化があ
っても、ダイオード素子１２には、同図（ｂ）に示すよ
うなほぼ一定の順電圧Ｖａが生じ、フォトカプラ１３の
出力電圧Ｖｏが同図（ｃ）に示すように低下した。これ
により、通電回路１０の状態をフォトカプラ１３の出力
電圧Ｖｏによって的確に検出できることがわかる。

【００５３】

【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、簡易な構成で、開閉シャッタを駆動する電動アクチ
ュエータへの通電状態と開閉スイッチの状態とに基づ
き、開閉シャッタの動作異常を的確に検出できるように
して、安全面での信頼性を向上させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明を適用したＸ線発生装置の保安システ
ムに係る実施形態を示す回路図である。

【図２】ダイオード素子の順電流−順電圧特性の例を示
す図である。

【図３】ダイオード直列回路を示す図である。

【図４】この発明を適用したＸ線発生装置の保安システ
ムに係る実施形態を更に具体的に示す回路図である。

【図５】開閉シャッタとその開閉状態を検出する検出ス
イッチを示す構成図である。

【図６】ロータリー式の開閉シャッタを備えたＸ線発生
装置に図１に示した回路を組み込んだ場合の実施例を示
す図である。

【図７】直動式の開閉シャッタを備えたＸ線発生装置に
図１に示した回路を組み込んだ場合の実施例を示す図で
ある。

【符号の説明】

１：Ｘ線発生装置本体 ２：Ｘ線取出窓 ３：開閉シャッタ ４：ソレノイド ６：開放状態検出スイッチ ７：閉塞状態検出スイッチ １０：通電回路 １１：通電スイッチ １２：ダイオード素子 １３：フォトカプラ ２０：判別回路 ２１：第１のＡＮＤ回路 ２２：第２のＡＮＤ回路 ２３：ＮＯＴ回路 ２４：ＯＲ回路 ２６：遅延回路

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 装置本体に設けられたＸ線取出窓を開閉
   する開閉シャッタを備えたＸ線発生装置において、 前記開閉シャッタを駆動する電動アクチュエータと、 前記電動アクチュエータの通電回路へ直列に挿入したダ
   イオード素子と、 このダイオード素子に生じた順電圧を検出する通電検出
   手段と、 を備えたことを特徴とするＸ線発生装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載のＸ線発生装置において、 前記通電検出手段は、前記ダイオード素子によって生じ
   た順電圧の印加により発光するフォトカプラであること
   を特徴とするＸ線発生装置。
3. 【請求項３】 請求項１または２記載のＸ線発生装置に
   おいて、 前記開閉シャッタの開閉状態を検出する開閉検出手段
   と、 この開閉検出手段からの検出信号と前記通電検出手段か
   らの検出信号とに基づき、各検出信号が正常を示してい
   るときに正常と判別し、いずれか一方の検出信号が異常
   を示しているとき異常と判別する判別手段と、 を備えたことを特徴とするＸ線発生装置。
4. 【請求項４】 請求項３記載のＸ線発生装置において、 前記通電検出手段と前記判別手段との間に、通電検出手
   段から送出された検出信号を一定の時間遅延させて前記
   判別手段に送る遅延手段を設けたことを特徴とするＸ線
   発生装置。