JPH06121162A - シェーディング補正方法および白色基準部材の欠陥位置特定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 白基準部材にゴミ等の欠陥があっても、正確
な補正を行うことのできるシェーディング補正方法を提
供する。 【構成】 Ａに示すようなゴミ１２が白基準板１０に付
着していたとする。これをラインセンサにより読み取っ
て、Ｂのような暫定補正用データＷＴを得る（第１領域
の読み取り）。次に、白基準板１０を主走査方向１８に
移動し、（図Ｄ）、白基準板１０を読み取る。つまり、
第１領域から主走査方向に移動した第２領域において読
み取りを行う。次に、図Ｅのデータに対して図Ｂの暫定
補正用データＷＴを用いてシェーディング補正を行う。
つまり、図Ｅのデータに、図Ｃのデータを乗算する。こ
うして得られた暫定補正済データを図Ｆに示す。ここ
で、過剰補正されて突出した部分δが、移動前の白基準
板１０のゴミ１２の位置であると特定できる。これに基
づき、図Ｂの暫定補正用データＷＴを、図Ｇのように修
正し、補正用データＷを得る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明はシェーディング補正方
法に関し、特にその白基準部材の欠陥による補正誤差の
排除に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図１３に、一般的な画像読取装置の概略
構成図を示す。原稿台２の上に、原稿４を保持した原稿
カバー６が置かれる。原稿台２の原稿が載置される部分
および原稿カバー６は、透明部材により形成されてい
る。原稿４の上部からは、光源２６によって光が照射さ
れる。原稿４を透過した光は、反射鏡８およびレンズ１
４を介してラインセンサ１６に与えられる。ラインセン
サ１６は、主走査方向に沿って１次元配列された光電変
換素子であるＣＣＤを有しており、各ＣＣＤは受けた光
を電気信号に変換する。これにより、読取位置αにある
原稿４の画像（１走査線分）に対応する電気信号が得ら
れる。

【０００３】１走査線分の読み取りを終えると、モータ
３８によって原稿台２を矢印Ａの方向（副走査方向）に
移動し、同様にして次の１走査線分を読み取る。これを
繰り返し、原稿４全体の読み取りを行う。

【０００４】ところで、ラインセンサ１６によって読み
取られた画像信号は、各ＣＣＤの感度バラツキや、暗電
流変動、光学系による光量ムラの影響を受ける。つま
り、ラインセンサを構成するｘ個のＣＣＤについて、光
源２６の光量と出力との関係をグラフに表わすと、図１
４Ａのように、バラツキが生じる。そこで、これらの影
響を排除して、ｘ個全てのＣＣＤの出力特性を図１４Ｂ
のように一致させるために、ＣＣＤの出力補正（シェー
ディング補正と呼ばれる）が行われている。

【０００５】このシェーディング補正は、以下のように
して行われる。モータ３８により原稿台２を移動し、原
稿台２の端部に設けられた白基準部材である白基準板１
０が読取位置αにくるようにする。白基準板１０は、原
稿カバー６と同等の透過特性を示す透明平板である。こ
の状態において、光源２６から光を照射した時に得られ
たラインセンサ１６の各ＣＣＤの出力を補正用データＷ
（白）として記憶する。また、光源２６を消灯（もしく
は、光を遮断）した時に得られたラインセンサ１６の各
ＣＣＤの出力を補正用データＢ（黒）として記憶する。

【０００６】次に、原稿４の画像を読み取る時には、こ
の補正用データを読み出して、各ＣＣＤ毎に下式に示す
ような出力データの補正を行う。

【０００７】ＳＤ＝ｋ・（Ｓ−Ｂ）／（Ｗ−Ｂ） ここで、ＳはＣＣＤの出力データ、Ｂは補正用データＢ
（黒）、Ｗは補正用データＷ（白）、ｋは係数、ＳＤは
シェーディング補正済データである。

【０００８】このようにして、各ＣＣＤ間の出力ムラが
補正され、原稿４のより忠実な読み取りが実現される。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来のシェーディング補正方法においては、次の
ような問題点があった。

【００１０】白基準板１０にゴミやホコリが付着してい
ると、補正用データＷとして誤ったデータが取り込まれ
ることとなる。すなわち、ゴミやホコリ等の欠陥がある
部分では、これらの欠陥によってＣＣＤの出力が低下す
る。したがって、この補正用データＷに基づいてシェー
ディング補正を行うと、ゴミやホコリのあった部分に対
応するＣＣＤの出力が過剰に補正され、読取画像のスジ
状のムラとなって現れてしまう。

【００１１】例えば、図１５Ａに示すようなゴミ１２が
白基準板１０に付着していたとする。この白基準板１０
を読み取って得られた補正用データＷは、図１５Ｂに示
すようにゴミ１２の影響によって、βにおいて出力が低
下している。シェーディング補正においては、この補正
用データＷを用いて、補正済のデータが図１５Ｄのよう
に全てのＣＣＤについて平坦になるように補正を行う。
つまり、概念的には、図１５Ｂのようなデータを読み込
んだ場合に、これに図１５Ｃのようなデータを乗算し
て、図１５Ｄの平坦なデータを得るようにしていると言
える。

【００１２】ここで、濃度の一様な原稿４を読み込んだ
とすると、各ＣＣＤからは図１６Ａのような出力データ
が得られる。これに、シェーディング補正を施すという
ことは、図１６Ｂ（図１５Ｃと同じ）のデータを乗算す
ることであるから、図１６Ｃのような補正済データが得
られる。つまり、ゴミ１２による過剰補正部分（図１６
Ｂのγ）の影響によって、補正済データにムラ部分δが
生じてしまう。これが、読取画像のスジ状のムラとなっ
て現れるという問題があった。

【００１３】この発明は、上記の様な問題点を解決する
ために、白基準部材にゴミ等の欠陥があっても、正確な
補正を行うことのできるシェーディング補正方法を提供
することを目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】請求項１のシェーディン
グ補正方法は、主走査方向に沿って１次元配列された複
数の光電変換素子を有するラインセンサによって、白基
準部材の白基準画像を読み取り、各光電変換素子の出力
に基づいて補正用データを記憶し、原稿の画像を読み取
る際に、各光電変換素子の出力を前記補正用データに基
づいて補正するシェーディング補正方法において、前記
白基準部材の第１領域における白基準画像を前記ライン
センサで読み取り、各光電変換素子の出力に基づいて暫
定補正用データを記憶し、前記第１領域に対して前記主
走査方向にずれた前記白基準部材の第２領域における白
基準画像を前記ラインセンサで読み取り、各光電変換素
子の出力を前記暫定補正用データに基づいて補正して暫
定補正済データとして記憶し、前記暫定補正済データに
基づいて前記白基準部材の欠陥を特定し、特定された前
記欠陥に基づいて前記暫定補正用データを修正すること
によって前記補正用データを作成することを特徴として
いる。

【００１５】請求項２のシェーディング補正方法は、暫
定補正済データの内、予め定められた基準値より大きい
データに対応する前記白基準部材の領域が欠陥であると
特定することを特徴としている。

【００１６】請求項３の白基準部材の欠陥位置特定方法
は、主走査方向に沿って１次元配列された複数の光電変
換素子を有するラインセンサによって、白基準部材の白
基準画像を読み取り、各光電変換素子の出力に基づいて
補正用データを記憶し、原稿の画像を読み取る際に、各
光電変換素子の出力を前記補正用データに基づいて補正
するシェーディング補正方法において、前記白基準部材
の第１領域における白基準画像を前記ラインセンサで読
み取り、各光電変換素子の出力に基づいて暫定補正用デ
ータを記憶し、前記第１領域に対して前記主走査方向に
ずれた前記白基準部材の第２領域における白基準画像を
前記ラインセンサで読み取り、各光電変換素子の出力を
前記暫定補正用データに基づいて補正して暫定補正済デ
ータとして記憶し、前記暫定補正済データに基づいて前
記白基準部材の欠陥を特定することを特徴としている。

【００１７】

【作用】請求項１のシェーディング補正方法において
は、白基準部材の第１領域をラインセンサで読み取って
暫定補正用データを得た後、第１領域に対して主走査方
向にずれた白基準部材の第２領域をラインセンサで読み
取って、暫定補正用データに基づいて補正し、この暫定
補正済データに基づいて白基準部材の欠陥を特定し、さ
らに特定した欠陥によって暫定補正用データを修正して
補正用データを得るようにしている。したがって、最終
的に得られた補正用データから、白基準部材の欠陥によ
る影響を取り除くことができ、正確なシェーディング補
正を行うことができる。

【００１８】請求項２のシェーディング補正方法は、暫
定補正済データの内、予め定められた基準値より大きい
データに対応する白基準部材の領域が欠陥であると特定
することを特徴としている。したがって、確実かつ迅速
に白基準部材の欠陥を特定することができる。

【００１９】請求項３の欠陥特定方法においては、白基
準部材の第１領域をラインセンサで読み取って暫定補正
用データを得た後、第１領域に対して主走査方向にずれ
た白基準部材の第２領域をラインセンサで読み取って、
暫定補正用データに基づいて補正し、この暫定補正済デ
ータに基づいて白基準部材の欠陥を特定するようにして
いる。したがって、確実に白基準部材の欠陥を特定する
ことができる。

【００２０】

【実施例】この発明の一実施例によるシェーディング補
正方法を、図１を用いて説明する。例えば、図１Ａに示
すようなゴミ１２が白基準部材である白基準板１０に付
着していたとする。このようにゴミ１２による欠陥があ
る白基準板１０を白基準画像としてラインセンサにより
読み取って、図１Ｂのような暫定補正用データＷＴを得
る（第１領域の読み取り）。この暫定補正用データＷＴ
は、図に示すように、ゴミ１２の影響によって、βにお
いて出力が低下している。仮に、この暫定補正用データ
ＷＴを用いてシェーディング補正を行ったならば、光電
変換素子である各ＣＣＤの出力に対して、図１Ｃのよう
なデータを乗算することになる。つまり、γの部分にお
いて過剰補正が行われ、ムラが発生する。したがって、
この発明では、図１Ｂの暫定補正用データＷＴを用いて
読取画像のシェーディング補正を行わず、β部分を除去
した白基準データＷを下記のようにして得た後、読取画
像のシェーディング補正を行うようにしている。

【００２１】上記のようにして暫定補正用データＷＴを
得た後、白基準板１０を主走査方向１８に移動する（図
１Ｄ）。この状態において、白基準板１０を白基準画像
としてラインセンサにより読み取る。つまり、前記第１
領域から主走査方向に移動した第２領域において読み取
りを行う。読み取ったデータは、図１Ｅに示すように、
移動したゴミ１２に対応するεの部分において、出力が
低下している。

【００２２】次に、図１Ｅのデータに対して、図１Ｂの
暫定補正用データＷＴを用いてシェーディング補正を行
う。つまり、図１Ｅのデータに、図１Ｃのデータを乗算
する。このようにして得られた暫定補正済データを、図
１Ｆに示す。δの部分がゴミ１２の影響によって過剰補
正された部分であり、ζの部分がゴミ１２の影響によっ
て出力が低下した部分である。ここで、過剰補正されて
突出した部分δが、移動前の白基準板１０のゴミ１２の
位置であると特定できる。これに基づき、図１Ｂの暫定
補正用データＷＴを、図１Ｇのように修正し、補正用デ
ータＷを得る。原稿を読み取ってシェーディング補正を
行う際には、このようにして得られた補正用データＷを
用いる。これにより、白基準板１０にゴミ１２があって
も、これに影響されず正確なシェーディング補正を行う
ことができる。

【００２３】図２に、本発明の一実施例によるシェーデ
ィング補正方法を適用した画像読取装置を示す。原稿台
２の上に、原稿４を保持した原稿カバー６が置かれる。
原稿台２の原稿が載置される部分および原稿カバー６
は、透明部材により形成されている。原稿４の上部から
は、光源２６によって光が照射される。原稿４を透過し
た光は、反射鏡８およびレンズ１４を介してラインセン
サ１６に与えられる。ラインセンサ１６は、主走査方向
に沿って１次元配列された光電変換素子であるＣＣＤを
有しており、各ＣＣＤは受けた光を電気信号に変換す
る。これにより、読取位置αにある原稿４の画像（１走
査線分）に対応する電気信号が得られる。

【００２４】１走査線分の読み取りを終えると、モータ
３８によって原稿台２を矢印Ａの方向（副走査方向）に
移動し、同様にして次の１走査線分を読み取る。これを
繰り返し、原稿４全体の読み取りを行う。

【００２５】図３に、この画像読取装置の平面図を示
す。原稿台２の端部には、白基準部材と黒基準部材が一
体となった基準板１１が設けられている。この実施例に
おいては、基準板１１に、透明部分１３と非透明部分１
５が設けられており、透明部分を白基準部材として、非
透明部分を黒基準部材として用いる。基準板１１の一端
部は、板バネ２０によって押圧されている。一方、他端
部近傍には、操作棒２２の一端が回動可能に固定されて
いる。操作棒２２は、軸２４によって回転可能に固定さ
れている。さらに、操作棒２２の他端部は、ピエゾ素子
２８に当接している。この状態において、ピエゾ素子２
８に電圧を印加して矢印１９方向に伸張させれば、基準
板１１を主走査方向１８に移動させることができる。

【００２６】図４に、この実施例によるシェーディング
補正方法を行うための回路を示す。ラインセンサ１６か
らの出力は、アンプ４０を介して、Ａ／Ｄ変換回路４２
に与えられ、ディジタル信号に変換される。ディジタル
化された出力は、シェーディング補正回路４４によって
補正された後、補正済データとして出力される。

【００２７】シェーディング補正回路４４の詳細を、図
５に示す。入力端子６０から、Ａ／Ｄ変換回路４２の出
力が与えられる。また、補正済データは、出力端子６２
から出力される。メモリ４６、４８、５０は、１ライン
分のデータを記憶するラインメモリであり、ＣＰＵ５２
によって書き込み、読み出しのアドレスが制御される。
加減算器５４は、ＣＰＵ５２の制御によって、加算器、
減算器として切換えられて動作する。演算器５６は、与
えられたデータに定数ｋを乗じて出力するものである。
乗算器５８は、入力されたデータを乗算して出力するも
のである。なお、セレクタ６４〜７１は、データの流れ
を切換えるものであり、ＣＰＵ５２によって制御され
る。

【００２８】次に、図６〜図１１を参照して、この実施
例によるシェーディング補正方法を説明する。この実施
例においては、白基準データＷＴから黒基準データＢを
減算したデータを暫定補正用データとしている。まず、
メモリ４６、４８、５０に「０」を書き込んでクリアす
る（図６Ａ参照）。次に、モータ３８を駆動して、基準
板１１の透明部分１３を読取位置αに持ってくる。ここ
で、白基準画像の読み取りを行い、ラインセンサ１６の
出力をメモリ４６に記憶する。１ライン分の読み取りが
終了すると、モータ３８を駆動して、基準板１１を副走
査方向に移動して、他の透明部分１３を白基準画像とし
て読み取る。読み取ったデータは、加減算器５４によっ
て、前回記憶したデータと加算した後、再びメモリ４６
に記憶する（図６Ｂ参照）。このような操作を１０数回
繰り返す。これにより、読み取りデータが平均化され
て、基準板１１における小さなゴミ等の影響を少なくす
ることができる。このデータを、白基準データＷＴとす
る。

【００２９】ただし、図１Ａに示すような副走査方向Ａ
に延びるゴミ１２があった場合には、上記のような平均
化を行っても、白基準データＷＴは図１Ｂのようにゴミ
１２の影響を受ける（β参照）。

【００３０】上記のようにして白基準データＷＴが得ら
れると、モータ３８を駆動して、読取位置α上に基準板
１１の非透明部分１５に持ってくる。この状態におい
て、読み取りを行い、ラインセンサ１６の出力をメモリ
４８に記憶する（黒基準画像の読み取り）。黒基準画像
は、光を透過しない状態で読み取るので、ゴミ等の影響
を受けない。黒基準画像の読み取りにおいても、白基準
画像の読み取りの場合と同じようにして、副走査方向Ａ
にわずかずつ読み取り位置を移動しながら、データの平
均化を行う（図７Ａ参照）。このようにして、メモリ４
８に、黒基準データＢが得られる。

【００３１】次に、ＣＰＵ５２は、加減算器５４を減算
器に切換える。その後、メモリ４６から白基準データＷ
Ｔを読み出し、メモリ４８から黒基準データＢを読み出
して、加減算器５４に与える。加減算器５４は、各白基
準データＷＴから対応する各黒基準データＢを減算し、
暫定補正用データ「ＷＴ−Ｂ」を得て、メモリ４６に書
き戻す（図７Ｂ参照）。

【００３２】次に、モータ３８を駆動して、読取位置α
上に基準板１１の透明部分１３を戻す。この状態で、白
基準画像を読み取って、暫定補正用データ「ＷＴ−Ｂ」
に基づいて、シェーディング補正を行い確認用補正済デ
ータを得る。以下順を追って説明すると、まず、白基準
画像を読み取り、データＷＶとして加減算器５４に与え
る。このデータＷＶは、最初に読み込んだデータＷＴと
同じデータとなるはずである（図１Ｂ参照）。一方、メ
モリ４８からは、黒基準データＢを順次読み出して、加
減算器５４に与える。したがって、加減算器５４から
は、「ＷＶ−Ｂ」のデータが出力される。この出力は、
乗算器５８に与えられる。

【００３３】また、メモリ４６からは、暫定補正用デー
タ「ＷＴ−Ｂ」が読み出され、演算器５６によってｋ／
（ＷＴ−Ｂ）に変換された後、乗算器５８に与えられ
る。したがって、乗算器５８からは、ｋ・（ＷＶ−Ｂ）
／（ＷＴ−Ｂ）が出力される（図８Ａ参照）。つまり、
暫定補正用データＷＴに基づいて、データＷＶに対して
シェーディング補正が施され、確認用補正済データＳＶ
が得られる。この確認用補正済データＳＶは、平坦なデ
ータ、具体的には全て基準値ｋ（＝一定）となっている
はずである。

【００３４】ＣＰＵ５２は、この確認用補正済データＳ
Ｖをメモリ５０に記憶した後、これを読み出して、全て
基準値ｋとなっているか否かを判断する（図８Ｂ参
照）。平坦なデータとなっていなければ、エラーとして
以後の処理を中止する。平坦なデータ（つまり基準値
ｋ）となっていることを確認すると、次の処理に進む。

【００３５】次に、ＣＰＵ５２は、ピエゾ素子２８に電
圧を印加して、基準板１１を主走査方向１８に移動させ
る。この状態で、白基準画像を読み取って、暫定補正用
データ「ＷＴ−Ｂ」に基づいて、シェーディング補正を
行い暫定補正済データＳＴを得る。以下順を追って説明
すると、まず、白基準画像を読み取り、データＷＳとし
て加減算器５４に与える。このデータＷＳは、移動した
ゴミ１２の影響を受けている（図１Ｅのε参照）。一
方、メモリ４８からは、黒基準データＢを順次読み出し
て、加減算器５４に与える。したがって、加減算器５４
からは、「ＷＳ−Ｂ」のデータが出力される。この出力
は、乗算器５８に与えられる。

【００３６】また、メモリ４６からは、暫定補正用デー
タ「ＷＴ−Ｂ」が読み出され、演算器５６によってｋ／
（ＷＴ−Ｂ）に変換された後、乗算器５８に与えられ
る。したがって、乗算器５８からは、ｋ・（ＷＳ−Ｂ）
／（ＷＴ−Ｂ）が出力される（図９Ａ参照）。つまり、
暫定補正用データＷＴに基づいて、データＷＳに対して
シェーディング補正が施され、暫定補正済データＳＴが
得られる。この暫定補正済データＳＴは、図１Ｆに示す
ように、図１Ａの状態におけるゴミ１２に対応する位置
においてデータが突出し（δ参照）、図１Ｄの状態にお
けるゴミ１２に対応する位置においてデータが減少して
いる（ζ参照）。この暫定補正済データＳＴは、メモリ
５０に記憶される。

【００３７】次に、ＣＰＵ５２は、基準値ｋと暫定補正
済データＳＴとを比較して、暫定補正済データＳＴが基
準値ｋを上回っている部分（図１Ｆのδ）が、ゴミ１２
の位置であると特定する。さらに、この特定した部分に
ついて、メモリ４６に記憶されている暫定補正用データ
「ＷＴ−Ｂ」を修正し、補正用データ「Ｗ−Ｂ」。つま
り、当該部分の「ＷＴ−Ｂ」の値に、ｋ／ＳＴを乗じ、
再び書き戻す。これにより、メモリ４６には、ゴミ１２
の影響を受けない補正用データ「Ｗ−Ｂ」が記憶される
（図９Ｂ参照）。

【００３８】次に、上記の修正が正しく行われた否かを
確認する。このために、基準板１１の位置はそのまま
で、白基準画像を読み取る。これを、修正された補正用
データ「Ｗ−Ｂ」によってシェーディング補正して、確
認用補正済データＳＣを得る（図１０Ａ参照）。この確
認用補正済データＳＣは、図１Ｆのδ部分が消失してい
るはずであるから、ＣＰＵ５２は、これを確認する（図
１０Ｂ参照）。δ部分が消失していなければ、エラーで
あるから、以後の処理を中止する。δ部分が消失してい
れば、次の処理に進む。

【００３９】次に、ＣＰＵ５２は、ピエゾ素子２８への
電圧印加を中止して、基準板１１を元の位置に戻し、原
稿読み取りの準備を完了する。この時、メモリ４６には
修正された補正用データ「Ｗ−Ｂ」が記憶され、メモリ
４８には黒基準データＢが記憶されている（図１１Ａ参
照）。

【００４０】実際に原稿４を読み取る際には、補正用デ
ータ「Ｗ−Ｂ」に基づいて、シェーディング補正を行う
（図１１Ｂ参照）。これにより、基準板１１のゴミ１２
等の影響を受けずに、正確なシェーディング補正を行う
ことができる。

【００４１】なお、上記実施例では、黒基準データを読
み取る際に基準板１１の非透明部分１５を用いたが、光
源２６を消すことによって黒基準データを得るようにし
てもよい。

【００４２】また、上記実施例では、白基準データもし
くは白基準データから黒基準データを減算したデータを
暫定補正用データとして、最終的な補正用データを得て
いる。しかし、シェーディング補正を行うための基礎と
なるデータであれば、どのようなデータを暫定補正用デ
ータ、補正用データとしてもよい。

【００４３】なお、上記実施例においては、暫定補正済
データＳＴを得るために、基準板１１を移動させたが、
図１２に示すように、ラインセンサ１６をピエゾ素子２
９によって移動するようにしてもよい。図において、筐
体９０に収納されたラインセンサ１６の一端側にはバネ
９２が設けられ、他端側にはピエゾ素子９２が設けられ
ている。ピエゾ素子９２に電圧を印加することにより、
ラインセンサ１６を主走査方向１８に移動して、読取位
置αを移動することができる。

【００４４】なお、上記実施例においては、透過型の画
像読取装置に適用した場合について説明したが、本発明
は、反射型の画像読取装置にも適用することができる。

【００４５】

【発明の効果】請求項１及び２のシェーディング補正方
法においては、最終的に得られる補正用データから、白
基準部材の欠陥による影響を取り除き、正確なシェーデ
ィング補正を行うことができるので、読取画像にスジ状
のムラが生じるのを防止することができる。

【００４６】請求項３の欠陥特定方法においては、確実
に白基準部材の欠陥を特定することができるので、読取
画像にスジ状のムラ発生防止に役立てることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例によるシェーディング補正
を説明するための図である。

【図２】この発明の一実施例によるシェーディング補正
方法を適用した画像読取装置を示す図である。

【図３】図２の画像読取装置の平面図である。

【図４】シェーディング補正を行うための回路を示すブ
ロック図である。

【図５】図４のシェーディング補正回路４４の詳細を示
す図である。

【図６】一実施例によるシェーディング補正を説明する
ための図である。

【図７】一実施例によるシェーディング補正を説明する
ための図である。

【図８】一実施例によるシェーディング補正を説明する
ための図である。

【図９】一実施例によるシェーディング補正を説明する
ための図である。

【図１０】一実施例によるシェーディング補正を説明す
るための図である。

【図１１】一実施例によるシェーディング補正を説明す
るための図である。

【図１２】他の実施例によるラインセンサ１６の部分を
示す図である。

【図１３】一般的な画像読取装置の構造を示す図であ
る。

【図１４】シェーディング補正の原理を示すための図で
ある。

【図１５】従来のシェーディング補正を示すための図で
ある。

【図１６】従来のシェーディング補正の問題点を示すた
めの図である。

【符号の説明】

Ａ・・・副走査方向 １０・・・白基準板 １１・・・基準板 １２・・・ゴミ １６・・・ラインセンサ １８・・・主走査方向

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】主走査方向に沿って１次元配列された複数
   の光電変換素子を有するラインセンサによって、白基準
   部材の白基準画像を読み取り、各光電変換素子の出力に
   基づいて補正用データを記憶し、原稿の画像を読み取る
   際に、各光電変換素子の出力を前記補正用データに基づ
   いて補正するシェーディング補正方法において、 前記白基準部材の第１領域における白基準画像を前記ラ
   インセンサで読み取り、各光電変換素子の出力に基づい
   て暫定補正用データを記憶し、 前記第１領域に対して前記主走査方向にずれた前記白基
   準部材の第２領域における白基準画像を前記ラインセン
   サで読み取り、各光電変換素子の出力を前記暫定補正用
   データに基づいて補正して暫定補正済データとして記憶
   し、 前記暫定補正済データに基づいて前記白基準部材の欠陥
   を特定し、 特定された前記欠陥に基づいて前記暫定補正用データを
   修正することによって前記補正用データを作成すること
   を特徴とするシェーディング補正方法。
2. 【請求項２】請求項１のシェーディング補正方法におい
   て、暫定補正済データの内、予め定められた基準値より
   大きいデータに対応する前記白基準部材の領域が欠陥で
   あると特定することを特徴とするシェーディング補正方
   法。
3. 【請求項３】主走査方向に沿って１次元配列された複数
   の光電変換素子を有するラインセンサによって、白基準
   部材の白基準画像を読み取り、各光電変換素子の出力に
   基づいて補正用データを記憶し、原稿の画像を読み取る
   際に、各光電変換素子の出力を前記補正用データに基づ
   いて補正するシェーディング補正方法において、 前記白基準部材の第１領域における白基準画像を前記ラ
   インセンサで読み取り、各光電変換素子の出力に基づい
   て暫定補正用データを記憶し、 前記第１領域に対して前記主走査方向にずれた前記白基
   準部材の第２領域における白基準画像を前記ラインセン
   サで読み取り、各光電変換素子の出力を前記暫定補正用
   データに基づいて補正して暫定補正済データとして記憶
   し、 前記暫定補正済データに基づいて前記白基準部材の欠陥
   を特定することを特徴とする白基準部材の欠陥位置特定
   方法。