JPH06118320A

JPH06118320A - 画像記録装置

Info

Publication number: JPH06118320A
Application number: JP4268454A
Authority: JP
Inventors: Atsushi Uejima; 島敦上
Original assignee: Fuji Photo Film Co Ltd
Current assignee: Fujifilm Holdings Corp
Priority date: 1992-10-07
Filing date: 1992-10-07
Publication date: 1994-04-28

Abstract

(57)【要約】【目的】常に感光材料の所定の位置に正確に光ビームを
入射することができ、色ムラや濃度ムラ等のない高画質
なカラー画像を安定して記録することができる画像記録
装置を提供する。【構成】複数の光ビームによってカラー感光材料を２次
元的に走査露光する画像記録装置であって、各光ビーム
の感光材料への主走査方向および／または副走査方向の
入射位置を検出する検出手段と、この検出手段による光
ビームの入射位置の検出結果に応じて、光ビームの進行
方向を調整する調整手段とを有することにより前記目的
を達成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、感光材料の分光感度分
布に応じた波長の複数の光ビームによって、カラー感光
材料を走査露光してカラー画像を得る画像記録装置に関
する。詳しくは、各光ビームを感光材料上の所定の位置
に正確に入射して、色ムラや濃度ムラのない高画質な画
像記録を行うことができる画像記録装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、プリント、印刷、複写等において
は、カラー画像を記録再生するために分光感度に波長依
存性を有するカラー感光材料を、ラスタースキャンによ
って走査露光する画像記録装置が用いられている。この
ような画像記録装置では、感光材料に形成される３原色
の各感光層、例えばシアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イ
エロー（Ｙ）の各発色に対応する相異なる狭帯域波長を
有し、記録画像に応じて変調された３つまたは４つの光
ビームによって、感光材料を２次元的に走査露光するこ
とによって感光材料に画像記録を行う。

【０００３】より具体的には、感光材料の各色に応じた
狭帯域波長の光ビームを射出する３個または４個の光源
を用い、この光源の駆動のパルス幅を記録画像に応じて
変調することにより、あるいは各光源より射出された光
ビームの強度を記録画像に応じて変調することにより、
記録画像に応じて変調された光ビームを得る。この光ビ
ームをポリゴンミラー等の光偏向器によって主走査方向
に偏向して、ｆθレンズによって感光材料上の所定の位
置に所定のビーム径で結像するように調整して、感光材
料の所定の走査位置に入射する。

【０００４】ここで、感光材料は露光ドラムとニップロ
ーラ、２組のニップローラ対等の搬送装置によって、前
記主走査方向と略直交する副走査方向に搬送されている
ので、感光材料は記録画像に応じて変調され、主走査方
向に偏向された光ビームによって２次元的に走査露光さ
れ、画像記録が行われる。

【０００５】このようなカラー画像の画像記録装置にお
いて、色ムラや濃度ムラ等のない高画質画像を記録する
ためには、各光ビームを走査線上の所定の位置に正確に
入射する必要がある。例えば、主走査方向８５μｍ、副
走査方向５５μｍの楕円形の光ビームによって感光材料
を走査露光する際には、１つ光ビームの入射位置が副走
査方向に５５μｍ狂うと、この光ビームは他の光ビーム
とは全く異なる位置を走査することになるので、大きな
色ムラや濃度ムラを生じてしまう。また、１つの光ビー
ムの入射位置が狂って、他の光ビームと入射位置が若干
ズレた場合でも色味の変化が生じてしまい、色ムラが目
視できる画像となってしまう。そのため、色ムラや濃度
ムラのない高画質な画像記録を実現するためには、感光
材料上の各光ビームの入射位置には、サブミクロンオー
ダの極めて高い精度が要求される。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】このような画像記録装
置は、多数の光学部材、例えば、光ビームの光源、光ビ
ームを整形するコリメータレンズ、光量調整用のフィル
タ、面倒れ補正光学系を構成するシリンドリカルレンズ
およびシリンドリカルミラー、ポリゴンミラー等の光偏
向器、光路調整用のミラー等の各種の光学部材が配備さ
れて構成されている。

【０００７】光学部材の取り付け位置や角度が若干でも
狂うと、感光材料への光ビームの入射位置に誤差が生じ
てしまう。そのため、画像記録装置ではこれらの光学部
材の取り付け位置や角度には、非常に厳しい精度での調
整および確認がなされ、各光ビームが感光材料上の所定
の位置に正確に入射するように調整される。

【０００８】ところが、画像記録装置の製造時に光学部
材の取り付け位置や角度を高精度に組み立てを行い、さ
らに出荷時に高精度な調整を行って、感光材料への光ビ
ームの入射を正確な位置に調整しても、装置の設置地域
や季節によっては、輸送および保管時、さらには使用環
境において氷点下から室温以上までの広い範囲にわたる
環境温度変化を受けることがあり、この熱履歴によって
光学部材の取り付け位置や角度が変化して、感光材料へ
の光ビームの入射位置が狂ってしまう。また、装置の搬
送や使用中に衝撃や振動を加えられることによって、感
光材料への光ビームの入射位置が狂ってしまうこともあ
る。

【０００９】そのため、カラー画像の画像記録装置で
は、輸送や保管、また使用環境によって、容易に光ビー
ムの入射位置が狂ってしまい、色ムラや濃度ムラ等が発
生して高画質画像の記録を行うことができなくなってし
まう。また、その度にサービスマンによる調整を行う必
要があり、非常に手間がかかる。

【００１０】さらに、サービスマンによる光ビーム入射
位置調整のためには画像記録装置の光学系を開放する必
要がある。ここで、画質劣化を招くために光学系へのゴ
ミやホコリ等の異物混入は極力避ける必要があるが、調
整のための開放時には、光学系へのこれらの異物の混入
を避けることが非常に困難であり、これに起因する記録
画像の画質劣化を招いてしまう可能性もある。

【００１１】本発明の目的は、前記従来技術の問題点を
解決することにあり、常に感光材料の所定の位置に正確
に光ビームを入射することができ、色ムラや濃度ムラ等
のない高画質なカラー画像を安定して記録することがで
きる画像記録装置を提供することにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、画像情報に応じて変調した複数の光ビー
ムを主走査方向に偏向して感光材料に入射することによ
り、前記主走査方向と略直交する副走査方向に相対的に
移動する前記感光材料を２次元的に走査露光する画像記
録装置であって、各光ビームの前記感光材料への主走査
方向および／または副走査方向の入射位置を検出する検
出手段と、前記検出手段による光ビームの入射位置の検
出結果に応じて、前記光ビームの進行方向を調整する調
整手段とを有することを特徴とする画像記録装置を提供
する。

【００１３】また、前記本発明の画像記録装置におい
て、前記調整手段が、各光ビームの光路中に配備される
光学部材と、その光学部材の角度あるいは位置を調節す
る手段とより構成されるのが好ましい。

【００１４】

【発明の作用】本発明の画像記録装置は、カラー感光材
料の３原色の各色の発色に対応する狭帯域波長の複数の
光ビームを、記録画像に応じて変調して主走査方向に偏
向し、副走査方向に相対的に移動するカラー感光材料を
２次元的に走査露光する、いわゆるラスタースキャンに
よる画像記録装置であって、光ビームの感光材料への入
射位置の誤差が生じても、検出手段によって副走査方向
あるいは主走査方向、さらには両方向の感光材料への光
ビームの入射位置を検出し、その検出結果に応じて調整
手段によって光ビームの進行方向を調整、好ましくは光
学部材の角度あるいは配置位置を調整することにより、
この光学部材を通過する光ビームの角度を調整して、各
光ビームの感光材料への入射位置を正確に調整する。

【００１５】そのため、本発明の画像記録装置によれ
ば、輸送や保管、また使用環境によって光ビームの入射
位置が狂ってしまった際においても、例えばメイン電源
をオンした際に光ビームの検出および調整を行うことに
より、感光材料への光ビームの入射位置が正確な状態で
画像記録を行うことができるので、色ムラや濃度ムラ等
のない高画質な画像記録を安定して行うことができる。

【００１６】

【実施例】以下、本発明の画像記録装置について、添付
の図面に示される好適実施例をもとに詳細に説明する。

【００１７】図１に、本発明の画像記録装置の一例の概
略斜視図が示される。図１に示される画像記録装置１０
は、それぞれＣ（シアン）、Ｙ（イエロー）、Ｍ（マゼ
ンタ）を発色させるための狭帯域波長および光出力を有
する光ビームＬＣ、ＬＭおよびＬＹを主走査方向（図中
矢印ａ方向）に偏向して、副走査方向（図中矢印ｂ方
向）に搬送される感光材料Ａを２次元的に走査露光して
画像記録を行うものである。

【００１８】このような画像記録装置は、３種の光ビー
ムをポリゴンミラー１２の反射面の略同一点に少しずつ
異なる角度で入射して、主走査方向に偏向し、銀塩写真
感光材料等の感光材料Ａ上の同一の主走査線上に異なる
位置に結像し、時間的に間隔をあけて同一主走査線上を
順次走査する異角入射光学系（非合波方式の光学系）
と、感光材料Ａを副走査搬送する搬送手段と、図示しな
い異角入射光学系の制御手段と、さらに、本発明の特徴
的な部材である、光ビームの検出手段である光ビーム検
出センサ５０と、光ビームの進行方向の調整手段を構成
する処理装置５２および各光ビームＬのシリンドリカル
凹レンズ２０のそれぞれに対応して配置される移動手段
５４（５４Ｃ，５４Ｍ，５４Ｙ）とより構成される。

【００１９】このような画像記録装置１０は、光ビーム
の光源とポリゴンミラー１２との間に光路折返し用の折
返しミラー２４が配置され、３本の光ビームＬ（ＬＣ、
ＬＭ、ＬＹ）はこの折返しミラー２４によって所定の方
向に反射されて（折返されて）ポリゴンミラー１２に入
射する。また、画像記録装置１０においては、光源から
折返しミラー２４までの光ビームＬの光路と、ポリゴン
ミラー１２によって主走査方向に偏向された光ビームＬ
の光路とが同一平面で交差するように、光源、折返しミ
ラー２４、ポリゴンミラー１２等の各光学部材が配置さ
れて光ビームの光路を構成することにより、装置の小型
化を計っている。

【００２０】さらに、光ビーム検出センサ５０によっ
て、各光ビームの感光材料への入射位置の副走査方向の
誤差を検出し、処理装置５２および移動手段５４によっ
てこれを補正することにより、各光ビームＬを感光材料
上の所定の位置に正確に入射して、色ムラや濃度ムラの
ない高画質画像を安定して記録できる。

【００２１】画像記録装置１０は、光ビームの光源とし
て所定の狭帯域波長の光を射出す光ビーム光源として、
３つの半導体レーザ（以下、ＬＤとする）１４Ｃ、１４
Ｙ、および１４Ｍを有する。例えば、感光材料Ａ上のＣ
色素を発色させるためのＬＤ１４Ｃは波長７５０ｎｍの
光ビームＬＣを射出するものを、感光材料ＡのＹ色素を
発色させるためのＬＤ１４Ｙは波長８１０ｎｍの光ビー
ムＬＹを射出するものを、感光材料ＡのＭ色素を発色さ
せるためのＬＤ１４Ｍは波長６７０ｎｍのビームＬＭを
射出するものを使用している。これらのＬＤ１４（１４
Ｃ、１４Ｍ、１４Ｙ）は、図示しない電気制御系によっ
て制御される。

【００２２】前述のように、本発明の画像記録装置１０
は異角入射光学系によるものであるので、各光ビームＬ
Ｃ、ＬＭ、およびＬＹは互いに少しずつ異なる角度でポ
リゴンミラー２２の反射面の略同一点に入射する。その
ため、ＬＤ１４Ｃ、１４Ｙ、および１４Ｍは自らが射出
した各光ビームＬが所定の角度でポリゴンミラー１２に
入射し、感光材料Ａ上の同一の主走査線上に異なる角度
で結像し、時間的に間隔をあけて同一主走査線上を順次
走査するように、互いに若干異なる角度で配置される。

【００２３】ＬＤ１４より射出された各光ビームは、そ
れぞれに対応して配置されるコリメータレンズ１６（１
６Ｃ、１６Ｍ、１６Ｙ）に入射する。コリメータレンズ
１６は、ＬＤ１４から射出された各光ビームＬをそれぞ
れ整形して平行光とする。

【００２４】平行光とされた各光ビームは、次いで、そ
れぞれに対応して配置されるシリンドリカルレンズに入
射する。シリンドリカルレンズは、後述するシリンドリ
カルミラー１８と共に、ポリゴンミラー１２の面倒れを
補正する面倒れ補正光学系を構成する。

【００２５】図示例の画像記録装置１０において、シリ
ンドリカルレンズは副走査方向（図１矢印ｂ方向）に対
応する方向（図１では各ＬＤ１４の配列方向と垂直方
向）にレンズパワーを有する２つレンズによって構成さ
れる。また図示例においては、２つのレンズは、ポリゴ
ンミラー１２によって偏向された光ビームを挟んで配置
されている。具体的には、光ビームの進行方向に対して
上流側（以下、上流あるいは下流とする）に配置される
シリンドリカル凹レンズ（以下、凹レンズとする）２０
と下流側のシリンドリカル凸レンズ（以下、凸レンズと
する）２２とを組み合わせて構成される。つまり、光ビ
ームＬＣに対応して凹レンズ２０Ｃおよび凸レンズ２２
Ｃが、光ビームＬＭに対応して凹レンズ２０Ｍおよび凸
レンズ２２Ｍが、光ビームＬＹに対応して凹レンズ２０
Ｙおよび凸レンズ２２Ｙが配置されて、それぞれシリン
ドリカルレンズが構成される。

【００２６】このように、シリンドリカルレンズを凹レ
ンズ２０および凸レンズ２２等、複数に分離された組レ
ンズによって構成することにより、凹レンズ２０と凸レ
ンズ２２との間隔を調整して、両者で構成されるシリン
ドリカルレンズの焦点距離やレンズパワーを任意に調整
することができる。しかも、凹レンズ２０と凸レンズ２
２との間隔を調整して、個々の光ビームＬに応じた最適
なレンズパワーや焦点距離を得ることができるので、２
種のレンズしか用いない安価な構成で、各光ビームＬに
応じて最適な面倒れ補正を行って高画質画像の記録が可
能である。

【００２７】また、各凹レンズ２０は、それぞれ対応す
る光ビームＬの進行方向を調整する調整手段を構成する
移動手段５４Ｃ，５４Ｍ，および５４Ｙ上に保持されて
おり、各凹レンズ２０は後述する光ビームの位置検出結
果に応じて、副走査方向に対応する方向（凹レンズ２０
の配列方向に対して垂直方向）に移動され、凹レンズ２
０を通過する光ビームの角度を調整して進行方向を調整
し、感光材料Ａ上における副走査方向の光ビームＬの入
射位置を調整する。この移動手段５４については後に詳
述する。

【００２８】なお、本発明の画像記録装置においては、
シリンドリカルレンズは分離して配置される凹レンズ２
０および凸レンズ２２より構成するものには限定はされ
ず、一体的な組レンズあるいは１枚のレンズによってシ
リンドリカルレンズを構成してもよいのはもちろんであ
る。

【００２９】凹レンズ２０Ｍの光ビームＬ進行方向の下
流側（以下、下流側とする）には光ビームＬＭの光量を
調整するＮＤフィルタ２６Ｍが、凹レンズ２０Ｙの下流
側には光ビームＬＹの光量を調整するＮＤフィルタ２６
Ｙが配置されている。また、凸レンズ２２Ｃ（折返しミ
ラー２４）の下流側には光ビームＬＣの光量を調整する
ＮＤフィルタ２６Ｃが配置される。

【００３０】図示例のＮＤフィルタ２６は、好ましい態
様として、クサビ型の形状を有するものであり、フィル
タ層はＮＤフィルタ２６の本体に対して１°の角度を有
して形成されている。通常の平行平板のＮＤフィルタで
は、ＮＤフィルタに入射した光ビームがＮＤフィルタ内
部で多重反射してしまい、この多重反射に起因する光ビ
ームへの干渉によって、記録画像に悪影響が生じてしま
う、これに対し、クサビ状のＮＤフィルタ２６を用いる
ことにより、ＮＤフィルタ２６における多重反射を防止
することができ、これに起因する悪影響を好適に排除す
ることができる。

【００３１】各ＮＤフィルタ２６の配置位置は図示例に
は限定はされず、装置のサイズや構成、設計上の都合に
応じて、すべてのＮＤフィルタ２６を凹レンズ２０の下
流に配置してもよく、あるいはすべてのＮＤフィルタ２
６を凸レンズ２２の下流に配置してもよい。また、ＮＤ
フィルタ２６Ｙのみや、ＮＤフィルタ２６Ｍのみを凸レ
ンズ２２の下流に配置したものであってもよく、２つの
ＮＤフィルタ２６を凸レンズ２２の下流に配置したもの
であってもよい。なお、シリンドリカルレンズが一体的
に配置されるものである場合には、ＮＤフィルタ２６は
シリンドリカルレンズの上流側あるいは下流側のいずれ
に配置されるものであってもよい。

【００３２】シリンドリカルレンズ（凹レンズ２０およ
び凸レンズ２２）、およびＮＤフィルタ２６を通過した
各光ビームＬは、次いで、折返しミラー２４の互いに異
なる位置に入射し、次いで互いに少しずつ異なる角度で
光偏向器であるポリゴンミラー１２の反射面の略同一点
に入射して反射され、主走査方向に偏向される。なお、
光ビームＬＣは折返しミラー２４によって所定の方向に
反射された後に、ＮＤフィルタ２６Ｃを通過してポリゴ
ンミラー１２に入射する。

【００３３】本発明に用いられる光偏向器は、図示例の
ポリゴンミラー１２に限定はされず、ガルバノメータミ
ラー、レゾナントスキャナー等、公知の光偏向器がいず
れも適用可能である。

【００３４】ｆθレンズ３６は、各光ビームＬを主走査
線上のいずれの位置においても正しく結像させるための
ものであり、レンズ３６ａ、３６ｂ（組みレンズ）およ
び３６ｃの複数のレンズが組み合わされることにより構
成される。ｆθレンズ３６を通過した光ビームＬは、次
いで、長尺のシリンドリカル１８によって所定の方向に
反射される。シリンドリカルミラー１８は前述のシリン
ドリカルレンズ（凹レンズ２０および凸レンズ２２）と
共に面倒れ補正光学系を構成する他、各光ビームＬを上
方に反射して、長尺の立ち下げミラー３８に入射させ
る。

【００３５】ここで、画像記録装置１０は、ＬＤ１４か
ら折返しミラー２４に至るまでの光ビームＬの光路と、
ポリゴンミラー１２によって主走査方向に偏向された光
ビームＬの光路が交差するように構成され、図示例にお
いては、ｆθレンズ３６とシリンドリカルミラー１８と
の間で光ビームＬが交差する。従って、この光学系に配
備される光学部材、特にＬＤ１４Ｃ、１４Ｙ、１４Ｍ、
折返しミラー２４、およびポリゴンミラー１２はこれを
満たすように画像記録装置１０に配備される。

【００３６】前述のように、異角入射光学系による画像
記録装置において、ＬＤ１４からポリゴンミラー１２ま
での光ビームＬの光路中に折返しミラー２４を配置し、
この間の光ビーム光路を直線的ではなく折返した状態と
することにより、従来の装置に比べ大幅に装置を小型化
することができるが、さらに、図示例の画像記録装置１
０のように、ＬＤ１４から折返しミラー２４までの光ビ
ームＬと、ポリゴンミラー１２によって偏向された光ビ
ームＬとが交差するように光ビームＬの光路を設定する
ことにより、画像記録装置１０（その光学系）の空間を
無駄なく使用することができ、より小型化された画像記
録装置を実現することができる。

【００３７】シリンドリカルミラー１８によって斜め上
方に反射された光ビームＬは、立ち下げミラー３８によ
って下方に反射され、ｆθレンズ３６の下流側を光ビー
ムＬを横切って進行し、感光材料Ａ上の所定の位置に入
射して走査線ＳＬを画成する。感光材料Ａは光ビームＬ
の走査線ＳＬを挟んで配置される１対のニップローラ
対、露光ドラムと走査線ＳＬを挟んでこの露光ドラムに
押圧されるニップローラ等の副走査搬送手段によって副
走査方向（矢印ｂ方向）に搬送されているので、主走査
方向（矢印ａ方向）に偏向された光ビームＬは、結果的
に２次元的に感光材料Ａを走査露光し、画像記録を行
う。

【００３８】また、各光ビームＬは、感光材料Ａの走査
と共に、走査線ＳＬに対応して配置された光ビーム検出
センサ５０（以下、センサ５０とする）を走査する。図
示例の画像記録装置１０においては、このセンサ５０で
光ビームＬの副走査方向の位置を検出し、処理装置５２
によってこの検出結果を処理して、光ビームの位置に誤
差が生じている場合には、処理装置５２が移動手段５４
を駆動して凹レンズ２０の位置を副走査方向に対応する
方向（ＬＤ１４の配列方向と直交する方向、図３矢印ｃ
方向）に移動することにより、凹レンズ２０を通過する
光ビームＬの角度を調整して光ビームＬの進行方向を調
整し、光ビームＬの感光材料Ａへの入射位置を正規の位
置とする。

【００３９】図２にセンサ５０を概念的に示す。図示例
のセンサ５０は、フォトセンサ、フォトダイオード等の
光検出器の光ビームの検出口に、三角形の開口５６を有
する遮光部材を装填したもの、すなわち三角形の検出口
を有する光検出器である。

【００４０】センサ５０において、光ビームＬ（一点鎖
線）が正規の位置を走査した際のセンサ５０からの出力
は、光ビームＬがセンサ５０の開口５６に達した位置で
出力が立ち上がり、開口５６から外れた際に出力が立ち
下がる。つまり、グラフａに示されるように、規定時間
ｔの間だけ検出信号Ｒが発せられる。これに対して、光
ビームの入射位置が副走査方向（矢印ｂ方向）に距離ｘ
だけ狂って、図２の光ビームＬｘ（２点鎖線）で示され
る位置となってしまった場合には、センサ５０からの検
出信号Ｒは、グラフｂに示されるように、その走査位置
における開口５６の主走査方向の幅に応じた時間、すな
わち時間ｔ_x だけ発せられる。

【００４１】つまり、開口５６は三角形であるので、セ
ンサ５０から検出信号Ｒが発生する時間ｔ_x は副走査方
向（矢印ｂ方向）の位置に応じたものとなり、例えば、
光ビームＬの走査位置が副走査方向の下流側に移動した
場合には時間ｔ_x は規定時間ｔより長くなり、逆に同上
流側に移動した場合においては時間ｔ_x は規定時間ｔよ
り短くなる。従って、光ビームＬによってセンサ５０を
走査して検出信号Ｒが発生する時間ｔ_x を計測すること
により、現状における光ビームＬの副走査方向の位置を
検出することができる。

【００４２】図示例の画像記録装置１０においては、セ
ンサ５０からの検出信号Ｒより処理装置５２が時間ｔ_x
を検出し、図３に示されるように、この時間ｔ_x に応じ
て処理装置５２が移動手段５４を駆動して凹レンズ２０
を副走査方向に対応する矢印ｃ方向に移動することによ
り、凹レンズ２０への光ビームＬの入射位置を調整し、
凹レンズ２０を通過する光ビームＬの角度を調節して、
感光材料Ａへの光ビームの入射位置を所定の走査線ＳＬ
上とする。

【００４３】なお、センサ５０に形成される開口は、図
示例のような三角形の開口５６に限定されるものではな
く、台形等の副走査方向に向かって主走査方向の開口幅
が連続的に変化する各種の形状が利用可能である。

【００４４】センサ５０による光ビームＬの検出からの
検出信号Ｒは、処理手段５２に送られる。センサ５０か
らの検出信号Ｒを受けた処理装置５２は、例えばパルス
数のカウント等によって検出信号Ｒが発生した時間ｔ_x
を検出する。ここで、処理装置５２には、検出した時間
ｔ_x に応じた移動手段５４の駆動量、すなわち光ビーム
Ｌを屈折させて、感光材料Ａ上の光ビームＬの副走査方
向の入射位置を所定位置とするように凹レンズ２０を移
動する移動手段５４の駆動量が、検出した時間ｔ_x に応
じて設定されている。

【００４５】つまり、処理装置５２は、センサ５０から
の検出信号Ｒより検出した時間ｔ_xおよび設定された駆
動量に応じて、移動手段５４を駆動して凹レンズ２０を
移動して、光ビームＬの進行方向、図示例においては凹
レンズ２０を通過する光ビームＬの角度を調節して、感
光材料Ａ上における光ビームＬの副走査方向の入射位置
を所定の位置とする。具体的には、検出した時間ｔ_x が
規定時間ｔよりも短い場合（光ビームＬが副走査方向の
上流側にズレた場合）には光ビームＬが下流側に移動す
るように凹レンズ２０を上方に移動して、逆に、時間ｔ
_x が規定時間ｔよりも長い場合には凹レンズ２０を下方
に移動して、凹レンズ２０への光ビームＬの入射位置を
調整して、凹レンズ２０を通過する光ビームＬの角度を
調節することにより、感光材料Ａへの光ビームの入射位
置を所定の走査線ＳＬ上とする。図示例の画像記録装置
１０においては、このような光ビームＬの（副走査方向
の）位置検出および感光材料への位置調整を、光ビーム
ＬＣ、ＬＭおよびＬＹのそれぞれに付いて行うことによ
り、感光材料Ａ上における光ビームの入射位置を正確な
ものとし、色ムラおよび濃度ムラのない高画質な画像記
録を行うことができる。

【００４６】移動手段５４には特に限定はなく、ピエゾ
素子等の電歪あるいは磁歪素子を用いたアクチュエータ
であってもよく、あるいはカム機構、リンク機構等の機
械的な手段によって凹レンズ２０の位置を調節するもの
であってもよい。

【００４７】また、あらかじめ時間ｔ_x に応じた移動手
段５４の駆動量を設定しないで、規定時間ｔに対する検
出した時間ｔ_x のプラスあるいはマイナスより、それ
（すなわち副走査方向の上下流）に応じた方向に凹レン
ズ２０を移動して、再度光ビームの検出を行い、時間ｔ
_x が所定の時間ｔと等しくなるまで光ビームＬの検出を
繰り返す構成であってもよい。

【００４８】光ビームＬの位置を検出するセンサは、上
述のような三角形の開口５６を有するものには限定はさ
れず、例えば、図４に示されるような２分割センサ６０
を利用するものであってもよい。図４に示される例にお
いて、２分割センサ６０は図１のセンサ５０と同位置に
配置されるものであり、副走査方向に所定の間隔をもっ
て配置されるプラス側センサ６０ａとマイナス側センサ
６０ｂとより構成され、それぞれ処理装置５２に接続さ
れている。

【００４９】感光材料Ａ上における光ビームＬの副走査
方向の径が５５μｍであったとすれば、プラス側センサ
６０ａとマイナス側センサ６０ｂとは５５μｍの間隔を
もって、光ビームＬが感光材料Ａの副走査方向の所定位
置を走査した際に両センサの間を通過するように配置さ
れる。そのため、光ビームが正確に所定位置を走査した
際には、２分割センサ６０には光ビームが検出されるこ
とはない。しかしながら、図示例においては、感光材料
Ａへの光ビームの入射位置が副走査方向の下流側に移動
した際にはプラス側センサ６０ａに光ビームＬが検出さ
れ、逆に同上流側に移動した際にはマイナス側センサ６
０ｂに光ビームＬが検出される。

【００５０】従って、処理装置５２は、いずれのセンサ
にどれだけの光量が検出されたかより、感光材料Ａ上に
おける副走査方向の位置を検出することができ、処理装
置５２は前述例に応じて、この検出結果に応じて移動手
段５４を駆動して、感光材料Ａ上における光ビームＬの
位置を調節して、光ビームが所定の走査線ＳＬ上を走査
するようにする。

【００５１】光ビームの進行方向（角度）を調節する方
法も、前述の凹レンズを移動する方法に限定はされず、
例えば、図５に示されるようなクサビ型の光路調整部材
６２を用い、これを矢印ｄ方向に回転することによっ
て、この光路調整部材６２を通過する光ビームの角度を
調整し、光ビームＬの感光材料Ａへの入射位置を調整す
るものであってもよい。なお、図示例の画像記録装置１
０においては、好ましい態様として光量調整用にくさび
型のＮＤフィルタ２６を用いているので、これを回動し
て光ビームＬの感光材料Ａへの入射位置を調整してもよ
い。また光路調整用のミラー等を設けてもよい。

【００５２】以上説明した例は、感光材料Ａ上における
光ビームＬの副走査方向の入射位置を検出および調整す
るものであったが、本発明の画像記録装置１０はこれに
は限定はされず、光ビームＬの主走査方向（矢印ａ方
向）の入射位置誤差の調整を行ってもよい。

【００５３】主走査方向の調整を行う際には、例えば、
図６に示されるように長方形の（副走査方向に平行な）
開口６４を有する光検出器であるセンサ６６を光ビーム
Ｌの走査線ＳＬに対応した位置に配置し、光ビームＬに
よってこのセンサ６６を走査して光ビームＬの検出を行
い、ポリゴンミラー１２の回転と光ビームＬが開口６４
を通過したタイミングを検出することにより、各光ビー
ムＬの主走査方向の入射位置の誤差を検出することがで
きる。

【００５４】また、光ビームＬの入射位置の主走査方向
の調整は、光ビームＬの変調タイミングを調整すること
によって電気的に行ってもよく、あるいは光路を主走査
方向に調整するクサビ状の調整部材やミラー等を設け、
その角度の調整等によって行えばよい。

【００５５】なお、このような光ビームの入射位置の調
整は、主走査方向あるいは副走査方向のみを行うもので
あっても良く、また両方を行うものであっても良い。

【００５６】本発明の画像記録装置において、光ビーム
の入射位置の調整を行う時期（タイミング）には特に限
定はないが、例えば、記録画像に色ムラや濃度ムラが発
生した際にオペレータの入力によって、メインの電源を
入れた際に自動的に、設置場所の移動等の際に、所定枚
数の画像記録あるいは所定期間毎に定期的に行うように
構成したものであってもよい。

【００５７】以上、本発明の画像記録装置について詳細
に説明したが、本発明はこれに限定されるものではな
く、本発明の要旨を逸脱しない範囲において、各種の変
更および改良等を行ってもよいのはもちろんである。

【００５８】

【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の画
像記録装置によれば、装置の使用環境や熱履歴等によら
ず、カラー画像記録を行うための複数の光ビームを安定
して感光材料上の所定位置に正確に入射することができ
るので、色ムラや濃度ムラ等のない高画質な画像記録を
安定して行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の画像記録装置の一実施例の概略斜視
図である。

【図２】本発明の画像記録装置に用いられる光ビーム
の検出手段の一例およびその作用を模式的に示す図であ
る。

【図３】本発明の画像記録装置に用いられる光ビーム
の調整手段の一例を模式的に示す図である。

【図４】本発明の画像記録装置に用いられる光ビーム
の検出手段の別の例をを模式的に示す図である。

【図５】本発明の画像記録装置に用いられる光ビーム
の調整手段の別の例を模式的に示す図である。

【図６】本発明の画像記録装置に用いられる光ビーム
の検出手段の別の例をを模式的に示す図である。

【符号の説明】

１０画像記録装置１２ポリゴンミラー１４（１４Ｃ，１４Ｙ，１４Ｍ）半導体レーザ（Ｌ
Ｄ）１６（１６Ｃ，１６Ｍ，１６Ｙ）コリメータレンズ１８シリンドリカルミラー２０（２０Ｃ，２０Ｍ，２０Ｙ）シリンドリカル凹レ
ンズ２２（２２Ｃ，２２Ｍ，２２Ｙ）シリンドリカル凸レ
ンズ２４折返しミラー２６（２６Ｃ，２６Ｍ，２６Ｙ）ＮＤフィルタ３６ｆθレンズ３８立ち下げミラー４０，４２ニップローラ５０，６６センサ５２処理装置５４移動手段５６，６４開口６０２分割センサ６０ａプラス側センサ６０ｂマイナス側センサ６２調節部材Ｌ（ＬＣ，ＬＭ，ＬＹ）光ビームＡ感光材料

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｈ０４Ｎ 1/04 １０４Ａ 7251−5Ｃ 1/23 １０３Ａ 9186−5Ｃ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】画像情報に応じて変調した複数の光ビーム
を主走査方向に偏向して感光材料に入射することによ
り、前記主走査方向と略直交する副走査方向に相対的に
移動する前記感光材料を２次元的に走査露光する画像記
録装置であって、各光ビームの前記感光材料への主走査方向および／また
は副走査方向の入射位置を検出する検出手段と、前記検出手段による光ビームの入射位置の検出結果に応
じて、前記光ビームの進行方向を調整する調整手段とを
有することを特徴とする画像記録装置。
【請求項２】前記調整手段が、各光ビームの光路中に配
備される光学部材と、その光学部材の角度あるいは位置
を調節する手段とより構成される請求項１に記載の画像
記録装置。