JPH0611609A - 露光装置 - Google Patents
露光装置Info
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- JPH0611609A JPH0611609A JP4168787A JP16878792A JPH0611609A JP H0611609 A JPH0611609 A JP H0611609A JP 4168787 A JP4168787 A JP 4168787A JP 16878792 A JP16878792 A JP 16878792A JP H0611609 A JPH0611609 A JP H0611609A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/04—Processes or apparatus for producing holograms
- G03H1/0476—Holographic printer
- G03H2001/0482—Interference based printer
Landscapes
- Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 低廉なうえ簡単で、グレーティングの周期精
度とその均一性が良好であり、広い面積の露光やグレー
ティングピッチの調節も可能な露光装置を提供する。 【構成】 レーザー光源1からのレーザー光はシャッタ
ー2で制御され、アッテネータ3で光量を調整され、ビ
ーム拡大レンズ5、空間フィルター6、コリメーション
レンズ7によりビーム径の拡大された平面波に変換され
る。この平面波はNDフィルター4a、パターニングマ
スク4bを経てその一部が減衰、遮光され、干渉プリズ
ム9の入射面9Pに垂直入射し、出射面9S1、9S2か
ら光線12A、12Bおよび12a、12bのごとく屈
折して感光膜11上に入射する。感光膜11上では、光
線12aは光線12Bと、光線12Aは光線12bと干
渉し、境界線9Rと平行な直線の干渉縞を形成する。こ
の干渉縞を用いて所定のグレーティングパターンを得
る。
度とその均一性が良好であり、広い面積の露光やグレー
ティングピッチの調節も可能な露光装置を提供する。 【構成】 レーザー光源1からのレーザー光はシャッタ
ー2で制御され、アッテネータ3で光量を調整され、ビ
ーム拡大レンズ5、空間フィルター6、コリメーション
レンズ7によりビーム径の拡大された平面波に変換され
る。この平面波はNDフィルター4a、パターニングマ
スク4bを経てその一部が減衰、遮光され、干渉プリズ
ム9の入射面9Pに垂直入射し、出射面9S1、9S2か
ら光線12A、12Bおよび12a、12bのごとく屈
折して感光膜11上に入射する。感光膜11上では、光
線12aは光線12Bと、光線12Aは光線12bと干
渉し、境界線9Rと平行な直線の干渉縞を形成する。こ
の干渉縞を用いて所定のグレーティングパターンを得
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は周期的グレーティングパ
ターンを露光する露光装置に関するものである。
ターンを露光する露光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、グレーティングカプラ等を用いた
薄膜構成の光学素子の研究開発が盛んであり、これらの
素子を作成するための微細な周期的グレーティングパタ
ーンの露光法、露光装置の研究開発が活発になってい
る。
薄膜構成の光学素子の研究開発が盛んであり、これらの
素子を作成するための微細な周期的グレーティングパタ
ーンの露光法、露光装置の研究開発が活発になってい
る。
【0003】従来、グレーティング形成手段としてg線
(波長436nm)やi線(波長365nm)の紫外光源を用いた縮小
露光法や電子線描画法等があった。しかしながら縮小露
光法では、グレーティングの周期が非常に微細になる
と、光の回折効果により基板上の光強度分布の境界が不
明確になるため、レジスト膜を十分に解像することがで
きず、ハーフミクロンピッチのグレーティングを形成す
るのが困難であった。
(波長436nm)やi線(波長365nm)の紫外光源を用いた縮小
露光法や電子線描画法等があった。しかしながら縮小露
光法では、グレーティングの周期が非常に微細になる
と、光の回折効果により基板上の光強度分布の境界が不
明確になるため、レジスト膜を十分に解像することがで
きず、ハーフミクロンピッチのグレーティングを形成す
るのが困難であった。
【0004】また、光源の短波長化やレンズの高NA化
により解像度を向上するにしても、光源の安定性、レン
ズ材料、焦点深度等の制約による限界がある。
により解像度を向上するにしても、光源の安定性、レン
ズ材料、焦点深度等の制約による限界がある。
【0005】また、電子線描画法は高い解像度を有し
(0.2μmピッチ程度)、小面積(1mm角程度)ではグレ
ーティング形状の自由度もあるが、電子線の偏向や焦点
位置の制御精度に限界があるため良好な周期精度と均一
性が得られず、かつ大面積化が困難であり、生産性も低
いという問題があった。
(0.2μmピッチ程度)、小面積(1mm角程度)ではグレ
ーティング形状の自由度もあるが、電子線の偏向や焦点
位置の制御精度に限界があるため良好な周期精度と均一
性が得られず、かつ大面積化が困難であり、生産性も低
いという問題があった。
【0006】一方、2光束干渉法(ホログラフィック干
渉法)による露光では、解像度および周期精度の高いグ
レーティングが広い面積にわたって得られるとともに生
産性もよいという特徴がある。
渉法)による露光では、解像度および周期精度の高いグ
レーティングが広い面積にわたって得られるとともに生
産性もよいという特徴がある。
【0007】以下、図面を参照しながら、従来の2光束
干渉法による露光装置について説明する。図5はこの従
来の2光束干渉法による露光装置の構成図を示す。図5
において、1はArまたはHe-Cdなどのレーザー光源、
2はシャッター、50、51、52、53、54は反射
ミラー、3は可変アッテネータ、5はビーム拡大レン
ズ、6は空間フィルター、7はコリメーションレンズ、
8はハーフミラー、10は試料基板、11は試料基板上
に形成された感光膜である。
干渉法による露光装置について説明する。図5はこの従
来の2光束干渉法による露光装置の構成図を示す。図5
において、1はArまたはHe-Cdなどのレーザー光源、
2はシャッター、50、51、52、53、54は反射
ミラー、3は可変アッテネータ、5はビーム拡大レン
ズ、6は空間フィルター、7はコリメーションレンズ、
8はハーフミラー、10は試料基板、11は試料基板上
に形成された感光膜である。
【0008】レーザー光源1を出射するレーザー光は、
シャッター2により光の通過を制御され、可変アッテネ
ータ3により光量を段階的に調整され、ビーム拡大レン
ズ5により集束光に変換されて空間フィルター6の円形
スリット内に集光し、これを通過してコリメーションレ
ンズ7によりビーム径の拡大された平面波に変換される
(空間フィルター6はレンズ、ミラーの欠陥、汚れによ
り発生する高次の回折光をカットする)。この平面波
は、ハーフミラー8により2つの平面波に分割され、こ
の2つの平面波はそれぞれ反射ミラー53、54により
反射され、これらの2光束が試料基板10上に予め塗布
された感光膜11に入射する。
シャッター2により光の通過を制御され、可変アッテネ
ータ3により光量を段階的に調整され、ビーム拡大レン
ズ5により集束光に変換されて空間フィルター6の円形
スリット内に集光し、これを通過してコリメーションレ
ンズ7によりビーム径の拡大された平面波に変換される
(空間フィルター6はレンズ、ミラーの欠陥、汚れによ
り発生する高次の回折光をカットする)。この平面波
は、ハーフミラー8により2つの平面波に分割され、こ
の2つの平面波はそれぞれ反射ミラー53、54により
反射され、これらの2光束が試料基板10上に予め塗布
された感光膜11に入射する。
【0009】2光束の光路長、強度を等しくすれば、そ
れぞれの光束の入射角に応じたピッチの直線状干渉パタ
ーンがコントラストよく形成され、感光膜11を感光し
て周期的パターンを露光できる。
れぞれの光束の入射角に応じたピッチの直線状干渉パタ
ーンがコントラストよく形成され、感光膜11を感光し
て周期的パターンを露光できる。
【0010】図6(a)は、従来例における露光装置の
周期的パターン形成原理を示す説明図であり、図6
(b)は現像後のグレーティングを示す断面説明図であ
る。図6(a)に示すように基板面にθA、θBの角で入
射する波長λの2つの光束55a、55bにより生ずる
干渉縞は、この面上で入射面を含む方向(動径方向)に
(式1)の周期Λを持つ。
周期的パターン形成原理を示す説明図であり、図6
(b)は現像後のグレーティングを示す断面説明図であ
る。図6(a)に示すように基板面にθA、θBの角で入
射する波長λの2つの光束55a、55bにより生ずる
干渉縞は、この面上で入射面を含む方向(動径方向)に
(式1)の周期Λを持つ。
【0011】 Λ/λ=1/(sinθA+sinθB) … (式1) 感光膜11の現像後には図6(b)に示すような直線状
のグレーティング56が得られる。
のグレーティング56が得られる。
【0012】この従来例の手法は、(a)グレーティン
グパターンを比較的容易に作成できる。(b)広面積の
グレーティングが形成できる、などの長所を持つことが
知られている。
グパターンを比較的容易に作成できる。(b)広面積の
グレーティングが形成できる、などの長所を持つことが
知られている。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらこのよう
な従来の露光装置に於て以下の問題点があった。
な従来の露光装置に於て以下の問題点があった。
【0014】すなわち、(a)反射ミラー53、54の
位置調整(3次元的位置関係と傾きなどの調整)が難し
く、とくにグレーティングパターンが狭ピッチで高精度
であった場合、位置調整の許容度はより狭くなる。ま
た、装置の周囲の環境条件(温度変化等)による反射ミラ
ーの相対位置ずれ等によりグレーティングパターンに誤
差も発生し、高い周期精度と優れた周期均一性が得にく
い。
位置調整(3次元的位置関係と傾きなどの調整)が難し
く、とくにグレーティングパターンが狭ピッチで高精度
であった場合、位置調整の許容度はより狭くなる。ま
た、装置の周囲の環境条件(温度変化等)による反射ミラ
ーの相対位置ずれ等によりグレーティングパターンに誤
差も発生し、高い周期精度と優れた周期均一性が得にく
い。
【0015】(b)特定の変調特性に従う周期的グレー
ティングパターンを露光することが困難である。
ティングパターンを露光することが困難である。
【0016】本発明はかかる課題に鑑み、装置が低廉な
うえ簡単で、パターンの周期精度とその均一性が良好で
あり、広面積の露光が容易で、かつピッチ変調も可能な
周期パターンを露光する露光装置を提供することを目的
とする。
うえ簡単で、パターンの周期精度とその均一性が良好で
あり、広面積の露光が容易で、かつピッチ変調も可能な
周期パターンを露光する露光装置を提供することを目的
とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本願発明の露光装置は、レーザー光源と、レーザー
光の光束面積を拡大する拡大手段と、拡大されたレーザ
ー光を透過、屈折させるプリズムと、レーザー光の光軸
にほぼ直交する平板上に形成された感光膜とからなり、
プリズムが少なくとも一つの綾線をもち、稜線を境界と
してレーザー光の波面分割を行なうとともに、稜線を挟
む各屈折面での屈折光が互いに交差、干渉して空間上で
形成される直線または曲線の周期的明暗縞により前記感
光膜を露光することを特徴とする。
に、本願発明の露光装置は、レーザー光源と、レーザー
光の光束面積を拡大する拡大手段と、拡大されたレーザ
ー光を透過、屈折させるプリズムと、レーザー光の光軸
にほぼ直交する平板上に形成された感光膜とからなり、
プリズムが少なくとも一つの綾線をもち、稜線を境界と
してレーザー光の波面分割を行なうとともに、稜線を挟
む各屈折面での屈折光が互いに交差、干渉して空間上で
形成される直線または曲線の周期的明暗縞により前記感
光膜を露光することを特徴とする。
【0018】特に、プリズムの稜線を挟む2対の屈折面
が、直線の平行運動の軌跡で表わされる線織面であっ
て、稜線と平行な面について互いに対称であることを特
徴とする。
が、直線の平行運動の軌跡で表わされる線織面であっ
て、稜線と平行な面について互いに対称であることを特
徴とする。
【0019】また、レーザー光源とプリズムの間、また
はプリズムと感光平板との間に、シリンドリカルレンズ
などの波面変換手段を挟んでもよい。
はプリズムと感光平板との間に、シリンドリカルレンズ
などの波面変換手段を挟んでもよい。
【0020】あるいは、レーザー光源とプリズムの間、
またはプリズムと感光平板との間に、レーザー光の光束
断面内の光強度を部分的に減衰させるフィルターを挟む
ことを特徴とする露光装置である。
またはプリズムと感光平板との間に、レーザー光の光束
断面内の光強度を部分的に減衰させるフィルターを挟む
ことを特徴とする露光装置である。
【0021】または、レーザー光源とプリズムの間、ま
たはプリズムと感光平板との間、あるいはその両方に、
レーザー光の一部を遮光する遮光体を挟むことを特徴と
する露光装置である。また、露光装置がプリズムまたは
感光平板をプリズムの稜線に直交する方向に移動する摺
動手段や、プリズムまたは感光平板を光軸に対して傾け
る傾斜手段を有していてもよい。
たはプリズムと感光平板との間、あるいはその両方に、
レーザー光の一部を遮光する遮光体を挟むことを特徴と
する露光装置である。また、露光装置がプリズムまたは
感光平板をプリズムの稜線に直交する方向に移動する摺
動手段や、プリズムまたは感光平板を光軸に対して傾け
る傾斜手段を有していてもよい。
【0022】
【作用】本発明は前記した構成により、互いに干渉して
周期的明暗を発生させる2つの光束が一つのプリズムに
より形成されるために、プリズムの形状を精度良く加工
しておけば、高い周期精度と優れた周期均一性を有する
狭ピッチのグレーティングパターンが形成でき、位置調
整も不要となる。また、装置の周囲の環境変化等による
グレーティングパターンの誤差もない。そして、プリズ
ムの屈折面の形状を最適化することで、特定の変調特性
に従う周期的グレーティングパターンを露光することが
できる。
周期的明暗を発生させる2つの光束が一つのプリズムに
より形成されるために、プリズムの形状を精度良く加工
しておけば、高い周期精度と優れた周期均一性を有する
狭ピッチのグレーティングパターンが形成でき、位置調
整も不要となる。また、装置の周囲の環境変化等による
グレーティングパターンの誤差もない。そして、プリズ
ムの屈折面の形状を最適化することで、特定の変調特性
に従う周期的グレーティングパターンを露光することが
できる。
【0023】
【実施例】以下本発明の一実施例の露光装置について、
図面を参照しながら説明する。なお、従来例と同一の機
能を有する部材には同一番号を付して説明する。
図面を参照しながら説明する。なお、従来例と同一の機
能を有する部材には同一番号を付して説明する。
【0024】図1は本発明の実施例における露光装置の
断面構成を示すものである。図1において、1はレーザ
ー光源、2はシャッター、3は可変アッテネータ、5は
ビーム拡大レンズ、6は空間フィルター、7はコリメー
ションレンズ、4aはNDフィルター、4bはパターニ
ングマスク、9は干渉プリズム、10は試料基板、11
は試料基板上に形成された感光膜である。
断面構成を示すものである。図1において、1はレーザ
ー光源、2はシャッター、3は可変アッテネータ、5は
ビーム拡大レンズ、6は空間フィルター、7はコリメー
ションレンズ、4aはNDフィルター、4bはパターニ
ングマスク、9は干渉プリズム、10は試料基板、11
は試料基板上に形成された感光膜である。
【0025】干渉プリズム9は稜線9Rを挟む2対の屈
折面が、稜線9Rと平行な平面9Lについて互いに対称
な形状をなし(稜線9Rは図1の紙面に垂直な線であ
る。)、入射面9Pは入射光の光軸に対して直交する平
面、出射面9S1、9S2はともに入射光の光軸に対して
特定の傾きを有する平面である。
折面が、稜線9Rと平行な平面9Lについて互いに対称
な形状をなし(稜線9Rは図1の紙面に垂直な線であ
る。)、入射面9Pは入射光の光軸に対して直交する平
面、出射面9S1、9S2はともに入射光の光軸に対して
特定の傾きを有する平面である。
【0026】NDフィルター4aは稜線9Rと平行な線
について対称な線を境に透過率の異なるフィルターであ
り、パターニングマスク4bは稜線9Rと平行な図形の
遮光膜を形成したもので、それらの対称軸はXY軸ステ
ージにより平面9Lと一致するよう調整されている。
について対称な線を境に透過率の異なるフィルターであ
り、パターニングマスク4bは稜線9Rと平行な図形の
遮光膜を形成したもので、それらの対称軸はXY軸ステ
ージにより平面9Lと一致するよう調整されている。
【0027】干渉プリズム9はXY軸ステージ、XY軸
傾斜ステージ、および回転ステージ上に構成され、これ
らのステージにより干渉プリズム9の、入射光光軸に対
する位置が調整される。
傾斜ステージ、および回転ステージ上に構成され、これ
らのステージにより干渉プリズム9の、入射光光軸に対
する位置が調整される。
【0028】試料基板10はXYZ軸ステージ、XY軸
傾斜ステージ、および回転ステージ上に構成され、基板
表面が光軸と直交ないしは特定の角度になるように配置
されるとともに試料基板10を動かすことで、干渉プリ
ズム9との相対位置を調整することができる。
傾斜ステージ、および回転ステージ上に構成され、基板
表面が光軸と直交ないしは特定の角度になるように配置
されるとともに試料基板10を動かすことで、干渉プリ
ズム9との相対位置を調整することができる。
【0029】以上のように構成された露光装置につい
て、その動作を説明する。図1においてレーザー光源1
を出射するレーザー光はシャッター2により光の通過を
制御され、可変アッテネータ3により光量を段階的に調
整される。また、ビーム拡大レンズ5により集束光に変
換されて空間フィルター6の円形スリット内に集光し、
これを通過してコリメーションレンズ7によりビーム径
の拡大された平面波に変換される。
て、その動作を説明する。図1においてレーザー光源1
を出射するレーザー光はシャッター2により光の通過を
制御され、可変アッテネータ3により光量を段階的に調
整される。また、ビーム拡大レンズ5により集束光に変
換されて空間フィルター6の円形スリット内に集光し、
これを通過してコリメーションレンズ7によりビーム径
の拡大された平面波に変換される。
【0030】この平面波はNDフィルター4a、パター
ニングマスク4bを経てその一部が減衰、遮光され、干
渉プリズム9の入射面9Pに垂直入射し、出射面9
S1、9S2によりそれぞれ光線12A、12Bおよび1
2a、12bのごとく屈折して感光膜11上に入射す
る。光線12aと12Aおよび12bと12Bはそれぞ
れ平面9Lについて等距離の対称位置にあり、感光膜1
1上で光線12aはこれよりやや内側の光線12Bと、
光線12Aはこれよりやや内側の光線12bと干渉し、
全体として出射面9S1、9S2のプリズムの稜線9Rと
平行する直線の干渉縞を形成する。
ニングマスク4bを経てその一部が減衰、遮光され、干
渉プリズム9の入射面9Pに垂直入射し、出射面9
S1、9S2によりそれぞれ光線12A、12Bおよび1
2a、12bのごとく屈折して感光膜11上に入射す
る。光線12aと12Aおよび12bと12Bはそれぞ
れ平面9Lについて等距離の対称位置にあり、感光膜1
1上で光線12aはこれよりやや内側の光線12Bと、
光線12Aはこれよりやや内側の光線12bと干渉し、
全体として出射面9S1、9S2のプリズムの稜線9Rと
平行する直線の干渉縞を形成する。
【0031】この干渉縞により感光膜11を感光させ、
現像、エッチングすることで、特定の領域に直線の周期
的グレーティングパターンがコントラストよく得られ
る。また、感光膜11に入射する光線の交差角が大きく
なるように屈折面の光軸に対する角度を設定すること
で、光線の波長λ以下の値も取り得る。
現像、エッチングすることで、特定の領域に直線の周期
的グレーティングパターンがコントラストよく得られ
る。また、感光膜11に入射する光線の交差角が大きく
なるように屈折面の光軸に対する角度を設定すること
で、光線の波長λ以下の値も取り得る。
【0032】以上は、干渉プリズム9の屈折面が平面9
Lについて対称な2つの平面である場合について説明し
たが、干渉プリズム9の屈折面は2つ以上の平面、曲面
であってもよく、平面9Lについて非対称な形状であっ
てもよい。例えば屈折面が、3次元的な曲面であれば、
曲面の波面の光の干渉により干渉縞が形成されるため、
周期変調を有する曲線状のグレーティングパターンが露
光面上に形成できる。
Lについて対称な2つの平面である場合について説明し
たが、干渉プリズム9の屈折面は2つ以上の平面、曲面
であってもよく、平面9Lについて非対称な形状であっ
てもよい。例えば屈折面が、3次元的な曲面であれば、
曲面の波面の光の干渉により干渉縞が形成されるため、
周期変調を有する曲線状のグレーティングパターンが露
光面上に形成できる。
【0033】図2(a)は本発明の第2実施例における
干渉プリズム9の屈折面が平面9Lについて対称な曲面
である干渉プリズムとその干渉プリズムによる屈折光線
とを示す図である。この場合、干渉プリズム9の屈折面
が曲面になっていることで、屈折光線12C、12cの
角度が連続的に異なるので(式2)、および(式2)を
プロットした図2(b)のように、屈折光線の干渉によ
る干渉縞の明暗ピッチΛは露光面上の位置rの関数とな
る。
干渉プリズム9の屈折面が平面9Lについて対称な曲面
である干渉プリズムとその干渉プリズムによる屈折光線
とを示す図である。この場合、干渉プリズム9の屈折面
が曲面になっていることで、屈折光線12C、12cの
角度が連続的に異なるので(式2)、および(式2)を
プロットした図2(b)のように、屈折光線の干渉によ
る干渉縞の明暗ピッチΛは露光面上の位置rの関数とな
る。
【0034】 Λ(r)/λ=1/(sinθA(r)+sinθB(r)) … (式2) すなわち、屈折面の曲面形状を適当に設定することで、
所定のピッチ変調を有する直線グレーティングが形成で
きる。
所定のピッチ変調を有する直線グレーティングが形成で
きる。
【0035】なお、以上の実施例において、感光膜11
上には、干渉プリズムの稜線9Rと平行な線について対
称な2対のグレーティングパターンが形成されるが、そ
の一方についてのみパターニングしたい場合には露光面
に密着して片側のグレーティングパターン形成領域を覆
うマスクを設ければよい。
上には、干渉プリズムの稜線9Rと平行な線について対
称な2対のグレーティングパターンが形成されるが、そ
の一方についてのみパターニングしたい場合には露光面
に密着して片側のグレーティングパターン形成領域を覆
うマスクを設ければよい。
【0036】さらに、屈折面を曲面の代わりに複数の平
面で構成した場合も、干渉プリズムと露光面との相対位
置を変えることで、一つの干渉プリズムで異なるピッチ
の直線グレーティングが同一露光面に形成できるという
効果がある。
面で構成した場合も、干渉プリズムと露光面との相対位
置を変えることで、一つの干渉プリズムで異なるピッチ
の直線グレーティングが同一露光面に形成できるという
効果がある。
【0037】以上のような、干渉プリズム9の屈折面を
曲面にする場合において、干渉プリズム9または露光面
を光軸方向へ移動したり、あるいは干渉プリズム9また
は露光面を紙面に平行な面内で回転することにより、露
光面上の所定位置でのグレーティングピッチが変化する
ので、グレーティングパターンの周期変調を微調整する
こともでき、干渉プリズムの加工誤差やその他の加工、
調整誤差を露光面の位置調整で補うことが可能である。
曲面にする場合において、干渉プリズム9または露光面
を光軸方向へ移動したり、あるいは干渉プリズム9また
は露光面を紙面に平行な面内で回転することにより、露
光面上の所定位置でのグレーティングピッチが変化する
ので、グレーティングパターンの周期変調を微調整する
こともでき、干渉プリズムの加工誤差やその他の加工、
調整誤差を露光面の位置調整で補うことが可能である。
【0038】また実施例において、コリメーションレン
ズ7と干渉プリズム9の間、または干渉プリズム9と試
料基板10の間にシリンドリカルな凸レンズや凹レンズ
などのレンズ系を挿入してもよい。この場合、レンズ、
プリズムの設計における自由度が増す効果があり、レン
ズ系の光軸に沿った位置調整でグレーティングパターン
の周期変調を微調整することもできる。
ズ7と干渉プリズム9の間、または干渉プリズム9と試
料基板10の間にシリンドリカルな凸レンズや凹レンズ
などのレンズ系を挿入してもよい。この場合、レンズ、
プリズムの設計における自由度が増す効果があり、レン
ズ系の光軸に沿った位置調整でグレーティングパターン
の周期変調を微調整することもできる。
【0039】図3は本発明の実施例における露光装置の
パターニングマスクの断面形状と光の干渉領域断面の関
係を示すものである。
パターニングマスクの断面形状と光の干渉領域断面の関
係を示すものである。
【0040】図3(a)のごとくパターニングマスク4
bが干渉プリズム9の稜線9Rと平行な線について対称
な帯状領域18以外での遮光を行うものであれば、干渉
領域の光軸に沿った断面はほぼひし形の図形19とな
る。
bが干渉プリズム9の稜線9Rと平行な線について対称
な帯状領域18以外での遮光を行うものであれば、干渉
領域の光軸に沿った断面はほぼひし形の図形19とな
る。
【0041】図3(b)のごとくマスク4bが稜線9R
と平行な線について対称な直線の帯状領域20以外での
遮光を行う場合も、干渉領域の断面はほぼひし形の図形
21となる。
と平行な線について対称な直線の帯状領域20以外での
遮光を行う場合も、干渉領域の断面はほぼひし形の図形
21となる。
【0042】図3(c)のごとくマスク4bが稜線9R
と平行な線について対称な帯状領域22および直線の帯
状領域23以外での遮光を行う場合は、干渉領域の断面
はほぼひし形の図形24、25、26、27となる。
と平行な線について対称な帯状領域22および直線の帯
状領域23以外での遮光を行う場合は、干渉領域の断面
はほぼひし形の図形24、25、26、27となる。
【0043】なおこれらの図形に接する28a、28
b、28c、28dおよび29a、29b、29c、2
9d、29e、29f、29g、29hの領域は、光は
通るが干渉しない(2光束でない)領域であり、その他の
領域30a、30b、30c、30d、30e、30
f、30g、30hおよび31は光が全く通らない領域
である。
b、28c、28dおよび29a、29b、29c、2
9d、29e、29f、29g、29hの領域は、光は
通るが干渉しない(2光束でない)領域であり、その他の
領域30a、30b、30c、30d、30e、30
f、30g、30hおよび31は光が全く通らない領域
である。
【0044】従って図3(b)や(c)のマスクを使い
分けることにより、図3(b)のマスクで内側21の領
域の露光を(このとき外側は光が全く通らない領域で露
光されない)、図3(c)のマスクで外側26、27の
領域の露光(このとき内側は領域31に相当し露光され
ない)を行えば、それぞれの露光を独立して行うことが
できる。
分けることにより、図3(b)のマスクで内側21の領
域の露光を(このとき外側は光が全く通らない領域で露
光されない)、図3(c)のマスクで外側26、27の
領域の露光(このとき内側は領域31に相当し露光され
ない)を行えば、それぞれの露光を独立して行うことが
できる。
【0045】さらに、干渉プリズムの屈折面を曲面にす
ることで、感光膜への入射光線光束が2本より多くなっ
てしまう場合(すなわち、干渉縞が形成されない場合)
も生ずるが、この場合、不要な光束領域をマスクにより
遮光することで、干渉縞が形成できる。すなわち、パタ
ーニングマスクを用いることで干渉領域を効果的に広げ
ることもできる。
ることで、感光膜への入射光線光束が2本より多くなっ
てしまう場合(すなわち、干渉縞が形成されない場合)
も生ずるが、この場合、不要な光束領域をマスクにより
遮光することで、干渉縞が形成できる。すなわち、パタ
ーニングマスクを用いることで干渉領域を効果的に広げ
ることもできる。
【0046】また、感光面に密着してさらに遮光マスク
を設ける構成にしてもよい。この場合、上記パターニン
グマスク4bの光透過面積を拡大することができ、パタ
ーニングマスク4bにより光透過領域と遮光領域の境界
で発生する回折の影響が低減され、パターンの外形精度
を高めることができる。
を設ける構成にしてもよい。この場合、上記パターニン
グマスク4bの光透過面積を拡大することができ、パタ
ーニングマスク4bにより光透過領域と遮光領域の境界
で発生する回折の影響が低減され、パターンの外形精度
を高めることができる。
【0047】図4は本発明の実施例における露光装置の
屈折光の光線追跡図である。本実施例において、干渉プ
リズムの屈折面の断面は変曲点Pを有する曲線であり、
Pの外側で干渉プリズムからみて凸面、内側で凹面をな
す。この場合、点Pの外側を屈折する光17aは集束性
の光となり、内側を屈折する光17bは発散性の光とな
る。すなわち屈折前での光強度が一様(NDフィルター
4aがない、またはその透過率分布Tが一様)であれ
ば、露光位置11Sでは2光束(17a、17b)間の
光強度が大きく異なり、コントラストの低下を引き起こ
す。
屈折光の光線追跡図である。本実施例において、干渉プ
リズムの屈折面の断面は変曲点Pを有する曲線であり、
Pの外側で干渉プリズムからみて凸面、内側で凹面をな
す。この場合、点Pの外側を屈折する光17aは集束性
の光となり、内側を屈折する光17bは発散性の光とな
る。すなわち屈折前での光強度が一様(NDフィルター
4aがない、またはその透過率分布Tが一様)であれ
ば、露光位置11Sでは2光束(17a、17b)間の
光強度が大きく異なり、コントラストの低下を引き起こ
す。
【0048】したがって、図4に示すように、|h/h
0|≦1での透過率が100%であり、|h/h0|≧1
での透過率がT0の分布を持つNDフィルター4aを干
渉プリズム9の手前に配置すれば、透過率T0の最適化
により2光束間の光強度を揃えることができ、コントラ
ストは改善される。
0|≦1での透過率が100%であり、|h/h0|≧1
での透過率がT0の分布を持つNDフィルター4aを干
渉プリズム9の手前に配置すれば、透過率T0の最適化
により2光束間の光強度を揃えることができ、コントラ
ストは改善される。
【0049】なお、NDフィルター4aを挟んでも2光
束間の光路長差は少なく、この観点からも良好な露光コ
ントラストを得やすい。一方、屈折面の母線曲線16が
複数の変曲点を持つ場合には、NDフィルター4aを各
変曲点の位置に対応した直線帯群を境に透過率の異なる
フィルターとすることで、各領域の透過率の最適化によ
り、コントラストを改善できる。
束間の光路長差は少なく、この観点からも良好な露光コ
ントラストを得やすい。一方、屈折面の母線曲線16が
複数の変曲点を持つ場合には、NDフィルター4aを各
変曲点の位置に対応した直線帯群を境に透過率の異なる
フィルターとすることで、各領域の透過率の最適化によ
り、コントラストを改善できる。
【0050】このように本発明の実施例は(1)干渉光
束を発生さす光学系が1個の干渉プリズムで構成できる
ので、光学系の調整は光軸と干渉プリズムの平行度にの
み注意を払えばよく、干渉プリズムの精度が十分であれ
ば、狭ピッチのグレーティングパターンであっても高い
周期精度と優れた周期均一性を得やすいこと、(2)波
長以下のグレーティングピッチも可能なこと、(3)グ
レーティングパターンの周期を変調できること、(4)
露光面と干渉プリズムとの配置調整でグレーティングパ
ターンの周期変調を微調整できること、(5)パターニ
ングマスクとの組合せで露光領域を特定できること、
(6)NDフィルターの最適化により良好な露光コント
ラストが得られること、(7)干渉プリズムの大きさに
より広面積のグレーティングが容易に形成できること、
などの特徴を持つ。
束を発生さす光学系が1個の干渉プリズムで構成できる
ので、光学系の調整は光軸と干渉プリズムの平行度にの
み注意を払えばよく、干渉プリズムの精度が十分であれ
ば、狭ピッチのグレーティングパターンであっても高い
周期精度と優れた周期均一性を得やすいこと、(2)波
長以下のグレーティングピッチも可能なこと、(3)グ
レーティングパターンの周期を変調できること、(4)
露光面と干渉プリズムとの配置調整でグレーティングパ
ターンの周期変調を微調整できること、(5)パターニ
ングマスクとの組合せで露光領域を特定できること、
(6)NDフィルターの最適化により良好な露光コント
ラストが得られること、(7)干渉プリズムの大きさに
より広面積のグレーティングが容易に形成できること、
などの特徴を持つ。
【0051】
【発明の効果】以上、本発明の露光装置によれば、ピッ
チが一定または特定の変調度を有する周期的グレーティ
ングパターンをコントラストよく露光でき、露光面およ
び屈折体対の位置調整や光軸に対する傾き調整で周期変
調の微調整も可能である。またパターニングマスクとの
組合せで露光領域を特定でき、同一露光面上に露光条件
を変えたグレーティングパターンを組み合わせることが
できる。
チが一定または特定の変調度を有する周期的グレーティ
ングパターンをコントラストよく露光でき、露光面およ
び屈折体対の位置調整や光軸に対する傾き調整で周期変
調の微調整も可能である。またパターニングマスクとの
組合せで露光領域を特定でき、同一露光面上に露光条件
を変えたグレーティングパターンを組み合わせることが
できる。
【0052】さらに、装置がレーザー光源や廉価な光学
素子の簡単な組合せで構成でき、周期パターンの精度が
既に高精度の加工体として実績のある光学レンズの精度
により決まるとともに、互いに干渉し合う2つの光束が
一つの屈折体により形成できるため環境(温度)変化等の
影響も少なく、良好な周期精度と均一性を有するグレー
ティングが安定して形成でき、その露光範囲も干渉プリ
ズムの大きさ次第で広面積化も可能である。
素子の簡単な組合せで構成でき、周期パターンの精度が
既に高精度の加工体として実績のある光学レンズの精度
により決まるとともに、互いに干渉し合う2つの光束が
一つの屈折体により形成できるため環境(温度)変化等の
影響も少なく、良好な周期精度と均一性を有するグレー
ティングが安定して形成でき、その露光範囲も干渉プリ
ズムの大きさ次第で広面積化も可能である。
【図1】本発明の第1の実施例における露光装置の構成
を示す断面図
を示す断面図
【図2】(a)は、本発明の実施例における干渉レンズ
出射面の断面形状と屈折光線との関係を示す説明図 (b)は、本発明の実施例におけるパターニングピッチ
Λと露光面上の位置rとの関係を示す説明図
出射面の断面形状と屈折光線との関係を示す説明図 (b)は、本発明の実施例におけるパターニングピッチ
Λと露光面上の位置rとの関係を示す説明図
【図3】本発明の第1の実施例における露光装置のパタ
ーニングマスクの断面形状と光の干渉領域断面の関係図
であり、 (a)は、光が1つの特定な帯状領域を透過する場合の
関係図 (b)は、光が2つの特定な帯状領域を透過する場合の
関係図 (c)は、光が3つの特定な帯状領域を透過する場合の
関係図
ーニングマスクの断面形状と光の干渉領域断面の関係図
であり、 (a)は、光が1つの特定な帯状領域を透過する場合の
関係図 (b)は、光が2つの特定な帯状領域を透過する場合の
関係図 (c)は、光が3つの特定な帯状領域を透過する場合の
関係図
【図4】本発明の実施例における露光装置の屈折光の光
線追跡図
線追跡図
【図5】従来例における露光装置の構成を示す断面図
【図6】(a)は、従来例の露光装置の周期的パターン
形成原理を示す説明図 (b)は、従来例の露光装置の現像後のグレーティング
を示す断面図
形成原理を示す説明図 (b)は、従来例の露光装置の現像後のグレーティング
を示す断面図
1 レーザー光源 2 シャッター 3 可変アッテネータ 4a NDフィルター 4b パターニングマスク 5 ビーム拡大レンズ 6 空間フィルター 7 コリメーションレンズ 9 干渉プリズム 10 試料基板 11 感光膜
Claims (9)
- 【請求項1】レーザー光源と、前記レーザー光の光束面
積を拡大する拡大手段と、拡大されたレーザー光を透
過、屈折させるプリズムと、前記レーザー光の光軸にほ
ぼ直交する平板上に形成された感光膜とからなり、前記
プリズムは少なくとも一つの綾線をもち、前記稜線を境
界としてレーザー光の波面分割を行なうとともに、前記
稜線を挟む各屈折面での屈折光が互いに交差、干渉して
空間上で形成される直線または曲線の周期的明暗縞によ
り前記感光膜を露光することを特徴とする露光装置。 - 【請求項2】プリズムの稜線を挟む2対の屈折面が、直
線の平行運動の軌跡で表わされる線織面であって、前記
稜線と平行な面に関して互いに対称であることを特徴と
する請求項1記載の露光装置。 - 【請求項3】レーザー光源とプリズムの間、またはプリ
ズムと感光平板との間に、シリンドリカルレンズ等の波
面変換手段を挟むことを特徴とする請求項1記載の露光
装置。 - 【請求項4】レーザー光源とプリズムの間、またはプリ
ズムと感光平板との間に、レーザー光の光束断面内の光
強度を部分的に減衰させるフィルターを挟むことを特徴
とする請求項1記載の露光装置。 - 【請求項5】フィルターの透過率が、プリズムの稜線と
平行な線を境に異なることを特徴とする請求項4記載の
露光装置。 - 【請求項6】レーザー光源とプリズムの間、またはプリ
ズムと感光平板との間、あるいはその両方に、レーザー
光の一部を遮光する遮光体を挟むことを特徴とする請求
項1記載の露光装置。 - 【請求項7】遮光体が、プリズムの稜線と平行な帯状領
域内の透過光を遮光することを特徴とする請求項6記載
の露光装置。 - 【請求項8】プリズムまたは感光平板をプリズムの稜線
と直交する方向に移動する摺動手段を有することを特徴
とする請求項2記載の露光装置。 - 【請求項9】プリズムまたは感光平板を光軸に対して傾
ける傾斜手段を有することを特徴とする請求項1記載の
露光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4168787A JPH0611609A (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | 露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4168787A JPH0611609A (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | 露光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0611609A true JPH0611609A (ja) | 1994-01-21 |
Family
ID=15874466
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4168787A Pending JPH0611609A (ja) | 1992-06-26 | 1992-06-26 | 露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0611609A (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH095746A (ja) * | 1995-06-21 | 1997-01-10 | Nec Corp | 液晶表示素子の配向処理方法および装置 |
KR19990004127A (ko) * | 1997-06-27 | 1999-01-15 | 윤종용 | 광섬유 브래그 격자 제작장치 |
KR100296386B1 (ko) * | 1994-07-28 | 2001-10-22 | 윤종용 | 레이저빔프로파일변형방법및장치그리고광섬유그레이팅가공방법 |
KR20020049493A (ko) * | 2000-12-19 | 2002-06-26 | 박호군 | 대면적 홀로그래픽 회절격자 생성방법 및 장치 |
KR100350489B1 (ko) * | 2000-07-14 | 2002-08-28 | 삼성전자 주식회사 | 광감쇠기를 이용한 이득 평탄화 필터의 제작 장치 |
CN102495536A (zh) * | 2011-12-30 | 2012-06-13 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 光刻机 |
KR101329745B1 (ko) * | 2008-10-27 | 2013-11-14 | 삼성전자주식회사 | 컬러 레지스트레이션이 보정된 화상 형성 장치 및 방법 |
US9298098B2 (en) | 2012-02-21 | 2016-03-29 | Samsung Display Co., Ltd. | Exposure apparatus and method of configuring exposure apparatus |
CN108549124A (zh) * | 2018-04-12 | 2018-09-18 | 中北大学 | 一种采用脉冲激光加工全息金光栅的装置及方法 |
KR20200023058A (ko) * | 2018-08-24 | 2020-03-04 | 부산대학교 산학협력단 | 광 간섭을 활용한 노광시스템 |
CN112198576A (zh) * | 2020-10-12 | 2021-01-08 | 中国计量大学 | 一种体全息布拉格反射镜的紫外曝光方法 |
-
1992
- 1992-06-26 JP JP4168787A patent/JPH0611609A/ja active Pending
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100296386B1 (ko) * | 1994-07-28 | 2001-10-22 | 윤종용 | 레이저빔프로파일변형방법및장치그리고광섬유그레이팅가공방법 |
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KR20200023058A (ko) * | 2018-08-24 | 2020-03-04 | 부산대학교 산학협력단 | 광 간섭을 활용한 노광시스템 |
CN112198576A (zh) * | 2020-10-12 | 2021-01-08 | 中国计量大学 | 一种体全息布拉格反射镜的紫外曝光方法 |
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