JPH06113136A - 画像読取装置及びその画像読取方法 - Google Patents
画像読取装置及びその画像読取方法Info
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- JPH06113136A JPH06113136A JP4283513A JP28351392A JPH06113136A JP H06113136 A JPH06113136 A JP H06113136A JP 4283513 A JP4283513 A JP 4283513A JP 28351392 A JP28351392 A JP 28351392A JP H06113136 A JPH06113136 A JP H06113136A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/63—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current
- H04N25/633—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current by using optical black pixels
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Signal Processing (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
- Facsimile Image Signal Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 TFT駆動型イメ−ジセンサを用いた画像読
取装置において、1ブロック分のダミ−画素を設けるこ
とにより、少ないメモリ容量で高精度のダ−ク補正を容
易に行うことができ、低コストで小型化できる画像読取
装置及びその画像読取方法を提供する。 【構成】 受光素子11″の他に遮光した1ブロック分
のダミ−画素21″と、その電荷転送を行う薄膜トラン
ジスタT0,j (j=1〜n)を設けて、共通信号線14に接続
し、ダミ−画素21″に発生した電荷に対応する画像情
報を記憶するメモリ手段と、受光素子11″に発生した
電荷に対応する画像情報からメモリ手段に記憶された画
像情報を減算する減算回路とを備えた画像読取装置であ
り、及びその画像読取方法である。
取装置において、1ブロック分のダミ−画素を設けるこ
とにより、少ないメモリ容量で高精度のダ−ク補正を容
易に行うことができ、低コストで小型化できる画像読取
装置及びその画像読取方法を提供する。 【構成】 受光素子11″の他に遮光した1ブロック分
のダミ−画素21″と、その電荷転送を行う薄膜トラン
ジスタT0,j (j=1〜n)を設けて、共通信号線14に接続
し、ダミ−画素21″に発生した電荷に対応する画像情
報を記憶するメモリ手段と、受光素子11″に発生した
電荷に対応する画像情報からメモリ手段に記憶された画
像情報を減算する減算回路とを備えた画像読取装置であ
り、及びその画像読取方法である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、イメ−ジスキャナやフ
ァクシミリ等の画像の読取りを行う画像読取装置に係
り、特に画素毎のダ−ク補正を容易に行い、正確な画像
を出力できる画像読取装置及びその画像読取方法に関す
る。
ァクシミリ等の画像の読取りを行う画像読取装置に係
り、特に画素毎のダ−ク補正を容易に行い、正確な画像
を出力できる画像読取装置及びその画像読取方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、画像読取装置の読取部分には、例
えば、原稿等の画像情報を1対1に投影し、電気信号に
変換する密着型イメ−ジセンサが使われていた。密着型
イメ−ジセンサには、投影した画像を多数の画素(受光
素子)に分割し、各受光素子で発生した電荷を薄膜トラ
ンジスタスイッチ素子(TFT)を使って特定のブロッ
ク単位で配線間の容量に一時蓄積して、電気信号として
数百KHzから数百MHzまでの速度で時系列的に順次
読み出すTFT駆動型イメ−ジセンサがある(特開昭6
2−67864号公報参照)。このTFT駆動型イメ−
ジセンサは、TFTの動作により単一の駆動用ICで読
取りが可能となるので、イメ−ジセンサを駆動する駆動
用ICの個数を少なくするものである。
えば、原稿等の画像情報を1対1に投影し、電気信号に
変換する密着型イメ−ジセンサが使われていた。密着型
イメ−ジセンサには、投影した画像を多数の画素(受光
素子)に分割し、各受光素子で発生した電荷を薄膜トラ
ンジスタスイッチ素子(TFT)を使って特定のブロッ
ク単位で配線間の容量に一時蓄積して、電気信号として
数百KHzから数百MHzまでの速度で時系列的に順次
読み出すTFT駆動型イメ−ジセンサがある(特開昭6
2−67864号公報参照)。このTFT駆動型イメ−
ジセンサは、TFTの動作により単一の駆動用ICで読
取りが可能となるので、イメ−ジセンサを駆動する駆動
用ICの個数を少なくするものである。
【0003】従来のTFT駆動型イメ−ジセンサは、例
えば、その等価回路図を図5に示すように、原稿幅と略
同じ長さのライン状の受光素子アレイ11と、各受光素
子11″に1対1に対応する複数個の薄膜トランジスタ
Ti,j (i=1〜N, j=1〜n)から成る電荷転送部12と、マ
トリクス状の多層配線13と、共通の信号線となる共通
信号線14と、信号線の電圧値を読み取る駆動用IC1
5とから構成されている。
えば、その等価回路図を図5に示すように、原稿幅と略
同じ長さのライン状の受光素子アレイ11と、各受光素
子11″に1対1に対応する複数個の薄膜トランジスタ
Ti,j (i=1〜N, j=1〜n)から成る電荷転送部12と、マ
トリクス状の多層配線13と、共通の信号線となる共通
信号線14と、信号線の電圧値を読み取る駆動用IC1
5とから構成されている。
【0004】受光素子アレイ11は、N個のブロックの
受光素子群11′に分割され、一つの受光素子群を形成
するn個の受光素子11″は、フォトダイオ−ドPi,j
(i=1〜N, j=1〜n)により等価的に表すことができる。各
受光素子11″は、各薄膜トランジスタ素子Ti,j のド
レイン電極にそれぞれ接続され、そして、薄膜トランジ
スタ素子Ti,j のソ−ス電極は、マトリックス状に形成
された多層配線13を介して受光素子群毎にn本の共通
信号線14にそれぞれ接続され、更に共通信号線14は
駆動用IC15に接続されている。また、各薄膜トラン
ジスタ素子Ti,j のゲ−ト電極は、ブロック単位に共通
のゲ−ト線Gi (i=1〜N)によりゲ−トパルス発生回路1
6に接続されている。
受光素子群11′に分割され、一つの受光素子群を形成
するn個の受光素子11″は、フォトダイオ−ドPi,j
(i=1〜N, j=1〜n)により等価的に表すことができる。各
受光素子11″は、各薄膜トランジスタ素子Ti,j のド
レイン電極にそれぞれ接続され、そして、薄膜トランジ
スタ素子Ti,j のソ−ス電極は、マトリックス状に形成
された多層配線13を介して受光素子群毎にn本の共通
信号線14にそれぞれ接続され、更に共通信号線14は
駆動用IC15に接続されている。また、各薄膜トラン
ジスタ素子Ti,j のゲ−ト電極は、ブロック単位に共通
のゲ−ト線Gi (i=1〜N)によりゲ−トパルス発生回路1
6に接続されている。
【0005】そして、TFT駆動型イメ−ジセンサの電
荷転送について、図6を使って説明する。図6は、TF
T駆動型イメ−ジセンサの1画素の等価回路図である。
図6に示すように、各受光素子11″で発生する光電荷
は一定時間受光素子の寄生容量CPDと薄膜トランジスタ
のドレイン・ゲ−ト間のオ−バ−ラップ容量CGDに蓄積
された後、薄膜トランジスタ素子Ti,j を電荷転送用の
スイッチとして用いてブロック毎に順次共通信号線14
の配線容量CLj(j=1〜n)に転送蓄積される。尚、薄膜ト
ランジスタ素子Ti,j により転送される電荷は、正確に
はソ−ス・ゲ−ト間のオ−バ−ラップ容量CGSにも転送
されるが、配線容量CLjに転送された電荷の量と比べて
十分小さいので、簡略化のため配線容量CLjに転送され
た電荷に特に注目して説明する。
荷転送について、図6を使って説明する。図6は、TF
T駆動型イメ−ジセンサの1画素の等価回路図である。
図6に示すように、各受光素子11″で発生する光電荷
は一定時間受光素子の寄生容量CPDと薄膜トランジスタ
のドレイン・ゲ−ト間のオ−バ−ラップ容量CGDに蓄積
された後、薄膜トランジスタ素子Ti,j を電荷転送用の
スイッチとして用いてブロック毎に順次共通信号線14
の配線容量CLj(j=1〜n)に転送蓄積される。尚、薄膜ト
ランジスタ素子Ti,j により転送される電荷は、正確に
はソ−ス・ゲ−ト間のオ−バ−ラップ容量CGSにも転送
されるが、配線容量CLjに転送された電荷の量と比べて
十分小さいので、簡略化のため配線容量CLjに転送され
た電荷に特に注目して説明する。
【0006】即ち、図5に示すように、ゲ−ト線Gi を
介してゲ−トパルス発生回路16からゲ−トパルスφG
1 が出力され、第1のブロックの薄膜トランジスタ素子
T1,1 〜T1,n がオンとなり、第1のブロックの各受光
素子11″で発生して蓄積された電荷が各配線容量CLj
に転送蓄積される。そして、各配線容量CLjに転送蓄積
された電荷により各共通信号線14の電位が変化し、こ
の電圧値を駆動用IC15内のアナログスイッチSWj
(j=1〜n)(図示せず)を順次オンして出力端子(Co
m)17に時系列的に抽出するものである。尚、イメ−
ジセンサの感度Ps は、1ライン分の読取り時間内にフ
ォトダイオ−ドで発生する電荷Qと配線容量CL と駆動
用IC15のゲインAによりPs =A・Q/CL と表わ
すことができる。
介してゲ−トパルス発生回路16からゲ−トパルスφG
1 が出力され、第1のブロックの薄膜トランジスタ素子
T1,1 〜T1,n がオンとなり、第1のブロックの各受光
素子11″で発生して蓄積された電荷が各配線容量CLj
に転送蓄積される。そして、各配線容量CLjに転送蓄積
された電荷により各共通信号線14の電位が変化し、こ
の電圧値を駆動用IC15内のアナログスイッチSWj
(j=1〜n)(図示せず)を順次オンして出力端子(Co
m)17に時系列的に抽出するものである。尚、イメ−
ジセンサの感度Ps は、1ライン分の読取り時間内にフ
ォトダイオ−ドで発生する電荷Qと配線容量CL と駆動
用IC15のゲインAによりPs =A・Q/CL と表わ
すことができる。
【0007】そして、次にゲ−トパルスφG2 〜φGn
により第2〜第Nのブロックの薄膜トランジスタT2,1
〜T2,n からTN,1 〜TN,n までがそれぞれオンするこ
とによりブロック毎に受光素子側の電荷が転送され、順
次読み出すことにより原稿の主走査方向の1ラインの画
像信号を得、ロ−ラ等の原稿送り手段(図示せず)によ
り原稿を移動させて原稿全体の画像信号を得るものであ
る。
により第2〜第Nのブロックの薄膜トランジスタT2,1
〜T2,n からTN,1 〜TN,n までがそれぞれオンするこ
とによりブロック毎に受光素子側の電荷が転送され、順
次読み出すことにより原稿の主走査方向の1ラインの画
像信号を得、ロ−ラ等の原稿送り手段(図示せず)によ
り原稿を移動させて原稿全体の画像信号を得るものであ
る。
【0008】更に、上記従来の画像読取装置及びその画
像読取方法では原稿全体の画像信号を忠実に再現するに
は、光源の持つ分布と、イメ−ジセンサ自体の持つオフ
セット分布とを補正する、つまり、シェ−ディング補正
と、ダ−ク補正とが行われている。
像読取方法では原稿全体の画像信号を忠実に再現するに
は、光源の持つ分布と、イメ−ジセンサ自体の持つオフ
セット分布とを補正する、つまり、シェ−ディング補正
と、ダ−ク補正とが行われている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の画像読取装置及びその画像読取方法では、駆動用I
Cに接続される各共通信号線の持つ配線容量のバラツキ
及び駆動用ICの各増幅器の入力チャンネルに対するオ
フセット電圧のバラツキがあるために、イメ−ジセンサ
固有の問題であるダーク補正に関して、単に温度係数を
付加した一定値では全画素についてダーク補正を適性に
行うことができず、全受光素子の画素数分のメモリを用
意して全画素についてダーク補正を行わなければなら
ず、ダーク補正が容易にできないという問題点があっ
た。
来の画像読取装置及びその画像読取方法では、駆動用I
Cに接続される各共通信号線の持つ配線容量のバラツキ
及び駆動用ICの各増幅器の入力チャンネルに対するオ
フセット電圧のバラツキがあるために、イメ−ジセンサ
固有の問題であるダーク補正に関して、単に温度係数を
付加した一定値では全画素についてダーク補正を適性に
行うことができず、全受光素子の画素数分のメモリを用
意して全画素についてダーク補正を行わなければなら
ず、ダーク補正が容易にできないという問題点があっ
た。
【0010】また、シェ−ディング補正を行う場合に
も、受光素子アレイの各画素において入射光量のバラツ
キがあるため、その補正にも全受光素子の画素数分のメ
モリが必要となり、ダ−ク補正とシェ−ディング補正と
でそれぞれにつき全画素数分のメモリが必要となるの
で、コストが高くなり、画像読取装置の大型化を招くと
いう問題点があった。
も、受光素子アレイの各画素において入射光量のバラツ
キがあるため、その補正にも全受光素子の画素数分のメ
モリが必要となり、ダ−ク補正とシェ−ディング補正と
でそれぞれにつき全画素数分のメモリが必要となるの
で、コストが高くなり、画像読取装置の大型化を招くと
いう問題点があった。
【0011】本発明は上記実情に鑑みて為されたもの
で、TFT駆動型イメ−ジセンサを用いた画像読取装置
において、1ブロック分のダミ−画素を設けることによ
り、少ないメモリ容量で高精度のダ−ク補正を容易に行
うことができ、低コストで小型化できる画像読取装置及
びその画像読取方法を提供することを目的とする。
で、TFT駆動型イメ−ジセンサを用いた画像読取装置
において、1ブロック分のダミ−画素を設けることによ
り、少ないメモリ容量で高精度のダ−ク補正を容易に行
うことができ、低コストで小型化できる画像読取装置及
びその画像読取方法を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記従来例の問題点を解
決するための請求項1記載の発明は、複数の受光素子を
1ブロックとして複数ブロックを主走査方向にライン状
に配列した受光素子アレイと、前記受光素子にそれぞれ
接続し、前記受光素子で発生した電荷を前記ブロック単
位に転送するスイッチング素子と、前記スイッチング素
子に接続し、前記電荷を保持する容量を備えた共通信号
線と、前記共通信号線が接続し、前記電荷を画像情報と
して出力する駆動用ICとを具備する画像読取装置にお
いて、前記受光素子の1ブロックと同数の遮光された別
の受光素子と、前記別の受光素子にそれぞれ接続し、前
記別の受光素子で発生した電荷を転送する別のスイッチ
ング素子とを有し、前記別のスイッチング素子が前記共
通信号線に接続し、前記別の受光素子の電荷を画像情報
として記憶するメモリ手段と、前記受光素子の電荷に対
応する画像情報から前記メモリ手段に記憶された前記別
の受光素子の電荷に対応する画像情報を減算する減算回
路とを設けたことを特徴としている。
決するための請求項1記載の発明は、複数の受光素子を
1ブロックとして複数ブロックを主走査方向にライン状
に配列した受光素子アレイと、前記受光素子にそれぞれ
接続し、前記受光素子で発生した電荷を前記ブロック単
位に転送するスイッチング素子と、前記スイッチング素
子に接続し、前記電荷を保持する容量を備えた共通信号
線と、前記共通信号線が接続し、前記電荷を画像情報と
して出力する駆動用ICとを具備する画像読取装置にお
いて、前記受光素子の1ブロックと同数の遮光された別
の受光素子と、前記別の受光素子にそれぞれ接続し、前
記別の受光素子で発生した電荷を転送する別のスイッチ
ング素子とを有し、前記別のスイッチング素子が前記共
通信号線に接続し、前記別の受光素子の電荷を画像情報
として記憶するメモリ手段と、前記受光素子の電荷に対
応する画像情報から前記メモリ手段に記憶された前記別
の受光素子の電荷に対応する画像情報を減算する減算回
路とを設けたことを特徴としている。
【0013】上記従来例の問題点を解決するための請求
項2記載の発明は、請求項1記載の画像読取装置の画像
読取方法において、前記別の受光素子で発生する電荷を
前記別のスイッチング素子で前記共通信号線の容量に転
送し、前記駆動用ICで前記別の受光素子の電荷を時系
列に画像情報として出力し、該画像情報を前記メモリ手
段に記憶し、前記受光素子で発生する電荷を前記ブロッ
ク単位に前記共通信号線の容量に転送し、前記駆動用I
Cで前記受光素子の電荷を時系列に画像情報として出力
し、該画像情報から前記メモリ手段に記憶された前記画
像情報を前記減算回路で減算して出力することを特徴と
している。
項2記載の発明は、請求項1記載の画像読取装置の画像
読取方法において、前記別の受光素子で発生する電荷を
前記別のスイッチング素子で前記共通信号線の容量に転
送し、前記駆動用ICで前記別の受光素子の電荷を時系
列に画像情報として出力し、該画像情報を前記メモリ手
段に記憶し、前記受光素子で発生する電荷を前記ブロッ
ク単位に前記共通信号線の容量に転送し、前記駆動用I
Cで前記受光素子の電荷を時系列に画像情報として出力
し、該画像情報から前記メモリ手段に記憶された前記画
像情報を前記減算回路で減算して出力することを特徴と
している。
【0014】上記従来例の問題点を解決するための請求
項3記載の発明は、複数の受光素子を1ブロックとして
複数ブロックを主走査方向にライン状に配列した受光素
子アレイと、前記受光素子にそれぞれ接続し、前記受光
素子で発生した電荷を前記ブロック単位に転送するスイ
ッチング素子と、前記スイッチング素子に接続し、前記
電荷を保持する容量を備えた共通信号線と、前記共通信
号線が接続し、前記電荷をアナログ情報として出力する
駆動用ICとを具備する画像読取装置において、前記受
光素子の1ブロックと同数の遮光された別の受光素子
と、前記別の受光素子にそれぞれ接続し、前記別の受光
素子で発生した電荷を転送する別のスイッチング素子と
を有し、前記別のスイッチング素子が前記共通信号線に
接続し、前記別の受光素子の電荷に対応するアナログ情
報と前記受光素子の電荷に対応するアナログ情報とを分
離して別々に出力するスイッチ手段と、前記スイッチ手
段から出力された前記別の受光素子の電荷に対応するア
ナログ情報をディジタル情報に変換する第1のA/D変
換器と、前記第1のA/D変換器で変換されたディジタ
ル情報を記憶するメモリ手段と、前記メモリ手段に記憶
されたディジタル情報をアナログ情報に変換するD/A
変換器と、前記スイッチ手段から出力された前記受光素
子の電荷に対応するアナログ情報から前記D/A変換器
から出力された前記別の受光素子の電荷に対応するアナ
ログ情報を減算する減算回路と、前記減算回路からの出
力をディジタル情報に変換して画像情報として出力する
第2のA/D変換器とを設けたことを特徴としている。
項3記載の発明は、複数の受光素子を1ブロックとして
複数ブロックを主走査方向にライン状に配列した受光素
子アレイと、前記受光素子にそれぞれ接続し、前記受光
素子で発生した電荷を前記ブロック単位に転送するスイ
ッチング素子と、前記スイッチング素子に接続し、前記
電荷を保持する容量を備えた共通信号線と、前記共通信
号線が接続し、前記電荷をアナログ情報として出力する
駆動用ICとを具備する画像読取装置において、前記受
光素子の1ブロックと同数の遮光された別の受光素子
と、前記別の受光素子にそれぞれ接続し、前記別の受光
素子で発生した電荷を転送する別のスイッチング素子と
を有し、前記別のスイッチング素子が前記共通信号線に
接続し、前記別の受光素子の電荷に対応するアナログ情
報と前記受光素子の電荷に対応するアナログ情報とを分
離して別々に出力するスイッチ手段と、前記スイッチ手
段から出力された前記別の受光素子の電荷に対応するア
ナログ情報をディジタル情報に変換する第1のA/D変
換器と、前記第1のA/D変換器で変換されたディジタ
ル情報を記憶するメモリ手段と、前記メモリ手段に記憶
されたディジタル情報をアナログ情報に変換するD/A
変換器と、前記スイッチ手段から出力された前記受光素
子の電荷に対応するアナログ情報から前記D/A変換器
から出力された前記別の受光素子の電荷に対応するアナ
ログ情報を減算する減算回路と、前記減算回路からの出
力をディジタル情報に変換して画像情報として出力する
第2のA/D変換器とを設けたことを特徴としている。
【0015】上記従来例の問題点を解決するための請求
項4記載の発明は、請求項3記載の画像読取装置の画像
読取方法において、前記別の受光素子で発生する電荷を
前記別のスイッチング素子で前記共通信号線の容量に転
送し、前記駆動用ICで前記別の受光素子の電荷を時系
列にアナログ情報として出力し、該アナログ情報を前記
スイッチ手段を介して前記第1のA/D変換器へ出力
し、前記第1のA/D変換器で該アナログ情報をディジ
タル情報へ変換して前記メモリ手段に出力し、該ディジ
タル情報を前記メモリ手段に記憶し、前記受光素子で発
生する電荷を前記ブロック単位に前記共通信号線の容量
に転送し、前記駆動用ICで前記受光素子の電荷を時系
列にアナログ情報として出力し、該アナログ情報を前記
スイッチ手段を介して前記減算回路に出力し、該アナロ
グ情報が前記減算回路へ出力されるのに同期して前記メ
モリ手段に記憶されたディジタル情報が前記D/A変換
器でアナログ情報に変換されて前記減算回路へ出力さ
れ、前記スイッチ手段から出力された前記受光素子の電
荷に対応するアナログ情報から前記D/A変換器から出
力されたアナログ情報を前記減算回路で減算して前記第
2のA/D変換器へ出力し、前記第2のA/D変換器で
前記減算回路からの出力をディジタル情報に変換して画
像情報として出力することを特徴としている。
項4記載の発明は、請求項3記載の画像読取装置の画像
読取方法において、前記別の受光素子で発生する電荷を
前記別のスイッチング素子で前記共通信号線の容量に転
送し、前記駆動用ICで前記別の受光素子の電荷を時系
列にアナログ情報として出力し、該アナログ情報を前記
スイッチ手段を介して前記第1のA/D変換器へ出力
し、前記第1のA/D変換器で該アナログ情報をディジ
タル情報へ変換して前記メモリ手段に出力し、該ディジ
タル情報を前記メモリ手段に記憶し、前記受光素子で発
生する電荷を前記ブロック単位に前記共通信号線の容量
に転送し、前記駆動用ICで前記受光素子の電荷を時系
列にアナログ情報として出力し、該アナログ情報を前記
スイッチ手段を介して前記減算回路に出力し、該アナロ
グ情報が前記減算回路へ出力されるのに同期して前記メ
モリ手段に記憶されたディジタル情報が前記D/A変換
器でアナログ情報に変換されて前記減算回路へ出力さ
れ、前記スイッチ手段から出力された前記受光素子の電
荷に対応するアナログ情報から前記D/A変換器から出
力されたアナログ情報を前記減算回路で減算して前記第
2のA/D変換器へ出力し、前記第2のA/D変換器で
前記減算回路からの出力をディジタル情報に変換して画
像情報として出力することを特徴としている。
【0016】
【作用】請求項1記載の発明によれば、受光素子の他に
遮光した1ブロック分の別の受光素子を設け、スイッチ
ング素子の他に別の受光素子の電荷転送を行う別のスイ
ッチング素子を設け、共通信号線に両方のスイッチング
素子を接続し、別の受光素子に発生した電荷に対応する
画像情報を記憶するメモリ手段を備え、受光素子に発生
した電荷に対応する画像情報からメモリ手段に記憶され
た画像情報を減算する減算回路を備えた画像読取装置と
しているので、各共通信号線の持つ配線容量のバラツキ
と駆動用ICの持つ入力チャンネル毎のオフセット電圧
のバラツキを無くした上でダーク補正を行うことがで
き、またメモリ手段が1ブロック分の画像情報を記憶す
るだけなのでメモリ容量を小さくできる。
遮光した1ブロック分の別の受光素子を設け、スイッチ
ング素子の他に別の受光素子の電荷転送を行う別のスイ
ッチング素子を設け、共通信号線に両方のスイッチング
素子を接続し、別の受光素子に発生した電荷に対応する
画像情報を記憶するメモリ手段を備え、受光素子に発生
した電荷に対応する画像情報からメモリ手段に記憶され
た画像情報を減算する減算回路を備えた画像読取装置と
しているので、各共通信号線の持つ配線容量のバラツキ
と駆動用ICの持つ入力チャンネル毎のオフセット電圧
のバラツキを無くした上でダーク補正を行うことがで
き、またメモリ手段が1ブロック分の画像情報を記憶す
るだけなのでメモリ容量を小さくできる。
【0017】請求項2記載の発明によれば、1ブロック
分の別の受光素子に発生した電荷に対応する画像情報を
メモリ手段に記憶し、受光素子に発生した電荷に対応す
る画像情報からメモリ手段に記憶された画像情報を減算
回路で減算して出力する請求項1記載の画像読取装置の
画像読取方法としているので、各共通信号線の持つ配線
容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャンネル毎の
オフセット電圧のバラツキを無くした上でダーク補正を
行うことができ、またメモリ手段が1ブロック分の画像
情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さくできる。
分の別の受光素子に発生した電荷に対応する画像情報を
メモリ手段に記憶し、受光素子に発生した電荷に対応す
る画像情報からメモリ手段に記憶された画像情報を減算
回路で減算して出力する請求項1記載の画像読取装置の
画像読取方法としているので、各共通信号線の持つ配線
容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャンネル毎の
オフセット電圧のバラツキを無くした上でダーク補正を
行うことができ、またメモリ手段が1ブロック分の画像
情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さくできる。
【0018】請求項3記載の発明によれば、受光素子の
他に遮光した1ブロック分の別の受光素子を設け、スイ
ッチング素子の他に別の受光素子の電荷転送を行う別の
スイッチング素子を設け、共通信号線に両方のスイッチ
ング素子を接続して、別の受光素子に発生した電荷に対
応するアナログ情報を第1のA/D変換器に又受光素子
に発生した電荷に対応するアナログ情報を減算回路に各
々出力するスイッチ手段と、第1のA/D変換器で変換
されたディジタル情報を記憶するメモリ手段と、メモリ
手段内のディジタル情報をアナログ情報に変換するD/
A変換器と、スイッチ手段から出力された受光素子の電
荷に対応するアナログ情報からD/A変換器から出力さ
れた別の受光素子の電荷に対応するアナログ情報を減算
する減算回路と、減算回路からの出力をディジタル情報
に変換して画像情報として出力する第2のA/D変換器
とを備えた画像読取装置としているので、各共通信号線
の持つ配線容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャ
ンネル毎のオフセット電圧のバラツキを無くした上でダ
ーク補正を行うことができ、またメモリ手段が1ブロッ
ク分の画像情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さ
くでき、更に減算回路でアナログ情報のままダーク補正
を行えるため、第2のA/D変換器のダイナミックレン
ジを損うことがなく、分解能の高い画像情報を得ること
ができる。
他に遮光した1ブロック分の別の受光素子を設け、スイ
ッチング素子の他に別の受光素子の電荷転送を行う別の
スイッチング素子を設け、共通信号線に両方のスイッチ
ング素子を接続して、別の受光素子に発生した電荷に対
応するアナログ情報を第1のA/D変換器に又受光素子
に発生した電荷に対応するアナログ情報を減算回路に各
々出力するスイッチ手段と、第1のA/D変換器で変換
されたディジタル情報を記憶するメモリ手段と、メモリ
手段内のディジタル情報をアナログ情報に変換するD/
A変換器と、スイッチ手段から出力された受光素子の電
荷に対応するアナログ情報からD/A変換器から出力さ
れた別の受光素子の電荷に対応するアナログ情報を減算
する減算回路と、減算回路からの出力をディジタル情報
に変換して画像情報として出力する第2のA/D変換器
とを備えた画像読取装置としているので、各共通信号線
の持つ配線容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャ
ンネル毎のオフセット電圧のバラツキを無くした上でダ
ーク補正を行うことができ、またメモリ手段が1ブロッ
ク分の画像情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さ
くでき、更に減算回路でアナログ情報のままダーク補正
を行えるため、第2のA/D変換器のダイナミックレン
ジを損うことがなく、分解能の高い画像情報を得ること
ができる。
【0019】請求項4記載の発明によれば、1ブロック
分の別の受光素子に発生した電荷に対応するアナログ情
報をスイッチ手段を介して第1のA/D変換器でディジ
タル情報に変換してメモリ手段に記憶し、受光素子に発
生した電荷に対応するアナログ情報がスイッチ手段を介
して減算回路に入力されるのに同期してメモリ手段に記
憶されたディジタル情報がD/A変換器でアナログ情報
に変換されて減算回路に入力され、スイッチ手段を介し
て出力された受光素子の電荷に対応するアナログ情報か
らD/A変換器より出力された別の受光素子の電荷に対
応するアナログ情報を減算回路で減算し、第2のA/D
変換器で減算回路からの出力をディジタル情報に変換し
て画像情報として出力する請求項3記載の画像読取装置
の画像読取方法としているので、各共通信号線の持つ配
線容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャンネル毎
のオフセット電圧のバラツキを無くした上でダーク補正
を行うことができ、またメモリ手段が1ブロック分の画
像情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さくでき、
更に減算回路でアナログ情報のままダーク補正を行える
ため、第2のA/D変換器のダイナミックレンジを損う
ことがなく、分解能の高い画像情報を得ることができ
る。
分の別の受光素子に発生した電荷に対応するアナログ情
報をスイッチ手段を介して第1のA/D変換器でディジ
タル情報に変換してメモリ手段に記憶し、受光素子に発
生した電荷に対応するアナログ情報がスイッチ手段を介
して減算回路に入力されるのに同期してメモリ手段に記
憶されたディジタル情報がD/A変換器でアナログ情報
に変換されて減算回路に入力され、スイッチ手段を介し
て出力された受光素子の電荷に対応するアナログ情報か
らD/A変換器より出力された別の受光素子の電荷に対
応するアナログ情報を減算回路で減算し、第2のA/D
変換器で減算回路からの出力をディジタル情報に変換し
て画像情報として出力する請求項3記載の画像読取装置
の画像読取方法としているので、各共通信号線の持つ配
線容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャンネル毎
のオフセット電圧のバラツキを無くした上でダーク補正
を行うことができ、またメモリ手段が1ブロック分の画
像情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さくでき、
更に減算回路でアナログ情報のままダーク補正を行える
ため、第2のA/D変換器のダイナミックレンジを損う
ことがなく、分解能の高い画像情報を得ることができ
る。
【0020】
【実施例】本発明の一実施例について図面を参照しなが
ら説明する。図1は、本発明の一実施例に係る画像読取
装置の読取部分の等価回路図である。尚、図5と同様の
構成をとる部分について同一の符号を付して説明する。
図1に示すように、本実施例の画像読取装置の読取部分
は、受光素子11″であるフォトダイオ−ドPi,j (i=1
〜N, j=1〜n)が主走査方向にライン状に配列されて受光
素子アレイ11を構成しており、そして各受光素子1
1″にそれぞれ直列に電荷転送部12の薄膜トランジス
タTi,j (i=1〜N, j=1〜n)のドレイン電極が接続されて
いる。これらの受光素子11″は複数ビット(n)を1
ブロックとし、複数ブロック(N)配列されている。こ
こで、1ブロックを構成する受光素子を受光素子群1
1′とする。
ら説明する。図1は、本発明の一実施例に係る画像読取
装置の読取部分の等価回路図である。尚、図5と同様の
構成をとる部分について同一の符号を付して説明する。
図1に示すように、本実施例の画像読取装置の読取部分
は、受光素子11″であるフォトダイオ−ドPi,j (i=1
〜N, j=1〜n)が主走査方向にライン状に配列されて受光
素子アレイ11を構成しており、そして各受光素子1
1″にそれぞれ直列に電荷転送部12の薄膜トランジス
タTi,j (i=1〜N, j=1〜n)のドレイン電極が接続されて
いる。これらの受光素子11″は複数ビット(n)を1
ブロックとし、複数ブロック(N)配列されている。こ
こで、1ブロックを構成する受光素子を受光素子群1
1′とする。
【0021】電荷転送用のスイッチとして働く電荷転送
部12の薄膜トランジスタTi,j (i=1〜N ,j=1〜n)のゲ
ート電極は、ブロック単位に共通のゲ−ト線Gi (i=1〜
N)を介してゲートパルス発生回路16に接続され、ゲー
トパルス発生回路16が出力するゲ−トパルスφGi (i
=1〜N)によりブロック単位にトランジスタのON/OF
Fが制御されるようになっている。薄膜トランジスタT
i,j のソ−ス電極は、マトリックス状に形成された多層
配線13を介して受光素子群11′毎にn本の共通信号
線14にそれぞれ接続され、更に共通信号線14は駆動
用IC15に接続されている。
部12の薄膜トランジスタTi,j (i=1〜N ,j=1〜n)のゲ
ート電極は、ブロック単位に共通のゲ−ト線Gi (i=1〜
N)を介してゲートパルス発生回路16に接続され、ゲー
トパルス発生回路16が出力するゲ−トパルスφGi (i
=1〜N)によりブロック単位にトランジスタのON/OF
Fが制御されるようになっている。薄膜トランジスタT
i,j のソ−ス電極は、マトリックス状に形成された多層
配線13を介して受光素子群11′毎にn本の共通信号
線14にそれぞれ接続され、更に共通信号線14は駆動
用IC15に接続されている。
【0022】更に、ダーク補正を行うためのダミ−画素
21″が受光素子アレイ11とは別に1ブロック内の画
素数n個分の受光素子のフォトダイオードP0,j (j=1〜
n)で形成され、ダミ−画素列21′を構成している。こ
こで、ダミ−画素21″はダーク補正を行うものである
ため、画素上面から光が入射しないように遮光してお
く。
21″が受光素子アレイ11とは別に1ブロック内の画
素数n個分の受光素子のフォトダイオードP0,j (j=1〜
n)で形成され、ダミ−画素列21′を構成している。こ
こで、ダミ−画素21″はダーク補正を行うものである
ため、画素上面から光が入射しないように遮光してお
く。
【0023】そして、各ダミ−画素21″のフォトダイ
オードP0,j は、そのスイッチング素子となるダミ−画
素電荷転送部22の薄膜トランジスタT0,j (j=1〜n)の
ドレイン電極側が接続されている。また、薄膜トランジ
スタT0,j (j=1〜n)のゲ−ト電極は共通のゲ−ト線G0
を介してゲ−トパルス発生回路16に接続され、ゲ−ト
パルス発生回路16からのゲ−トパルスφG0 により薄
膜トランジスタT0,jのオン/オフの制御が為されるも
のである。更に、ダミ−画素21″に接続する各薄膜ト
ランジスタT0,j のソース電極は、図1に示すように、
薄膜トランジスタTi,j のソ−ス電極と同様に多層配線
13を介して共通信号線14に接続されている。
オードP0,j は、そのスイッチング素子となるダミ−画
素電荷転送部22の薄膜トランジスタT0,j (j=1〜n)の
ドレイン電極側が接続されている。また、薄膜トランジ
スタT0,j (j=1〜n)のゲ−ト電極は共通のゲ−ト線G0
を介してゲ−トパルス発生回路16に接続され、ゲ−ト
パルス発生回路16からのゲ−トパルスφG0 により薄
膜トランジスタT0,jのオン/オフの制御が為されるも
のである。更に、ダミ−画素21″に接続する各薄膜ト
ランジスタT0,j のソース電極は、図1に示すように、
薄膜トランジスタTi,j のソ−ス電極と同様に多層配線
13を介して共通信号線14に接続されている。
【0024】そして、共通信号線14には配線容量CLj
(j=1〜n)が形成されており、受光素子11″又はダミ−
画素21″が出力する電荷が転送蓄積される。また、駆
動用IC15は、この転送蓄積された電荷によって上昇
した共通信号線14の電位を読み取り、時系列的に出力
端子17から画像情報を出力するようになっている。
(j=1〜n)が形成されており、受光素子11″又はダミ−
画素21″が出力する電荷が転送蓄積される。また、駆
動用IC15は、この転送蓄積された電荷によって上昇
した共通信号線14の電位を読み取り、時系列的に出力
端子17から画像情報を出力するようになっている。
【0025】ここで、ダミ−画素21″が遮光されてい
るため、薄膜トランジスタT0,j のオン動作によりダー
ク状態におけるダミ−画素21″で発生した電荷が共通
信号線14の配線容量CLjに転送蓄積され、駆動用IC
15の動作により配線容量CLjに蓄積された電荷が電圧
値として読み取られ、配線容量CLjを含む各共通信号線
14でのダーク状態の画像情報として出力される。
るため、薄膜トランジスタT0,j のオン動作によりダー
ク状態におけるダミ−画素21″で発生した電荷が共通
信号線14の配線容量CLjに転送蓄積され、駆動用IC
15の動作により配線容量CLjに蓄積された電荷が電圧
値として読み取られ、配線容量CLjを含む各共通信号線
14でのダーク状態の画像情報として出力される。
【0026】ところで、感度に影響を及ぼす容量は、共
通信号線14の配線部で持つ容量と受光素子アレイ11
に接続する薄膜トランジスタTi,j のソ−ス・ゲ−ト間
の容量とダミ−画素列22′に接続する薄膜トランジス
タT0,j のソ−ス・ゲ−ト間の容量との合成容量であ
る。この容量は、プロセスの変動等により各共通信号線
14間で異なった値となり、従って、各共通信号線14
での電位の上昇にバラツキが生じ、感度のバラツキとな
る。また、駆動用IC15の入力チャンネルでも増幅器
に対してオフセット電圧のバラツキを持っている。
通信号線14の配線部で持つ容量と受光素子アレイ11
に接続する薄膜トランジスタTi,j のソ−ス・ゲ−ト間
の容量とダミ−画素列22′に接続する薄膜トランジス
タT0,j のソ−ス・ゲ−ト間の容量との合成容量であ
る。この容量は、プロセスの変動等により各共通信号線
14間で異なった値となり、従って、各共通信号線14
での電位の上昇にバラツキが生じ、感度のバラツキとな
る。また、駆動用IC15の入力チャンネルでも増幅器
に対してオフセット電圧のバラツキを持っている。
【0027】従って、駆動用IC15の出力端子17か
らの各ダミー画素21″の出力には暗状態の出力(ダー
ク)を含み、更に感度のバラツキとオフセット電圧のバ
ラツキを含むものであるから、後述する本実施例の画像
読取方法を用いて各受光素子11″の出力から対応する
ダミー画素21″の出力を減算して画像情報とすれば、
この画像情報は受光素子11″の暗状態の出力(ダ−
ク)の補正がされているばかりでなく、各共通信号線1
4における感度のバラツキ及び駆動用IC15のオフセ
ット電圧のバラツキをも補正された値となっている。
らの各ダミー画素21″の出力には暗状態の出力(ダー
ク)を含み、更に感度のバラツキとオフセット電圧のバ
ラツキを含むものであるから、後述する本実施例の画像
読取方法を用いて各受光素子11″の出力から対応する
ダミー画素21″の出力を減算して画像情報とすれば、
この画像情報は受光素子11″の暗状態の出力(ダ−
ク)の補正がされているばかりでなく、各共通信号線1
4における感度のバラツキ及び駆動用IC15のオフセ
ット電圧のバラツキをも補正された値となっている。
【0028】次に、本実施例の画像読取装置のダミ−画
素列21′の配置例について説明すると、例えば、ダミ
−画素列21′の配置を受光素子アレイ11の主走査方
向の延長線上に設けるようにすれば、イメージセンサの
アレイ幅を変える必要がなく受光部の構成が従来の画像
読取装置と略同様にできるので、製造が容易となる効果
がある。
素列21′の配置例について説明すると、例えば、ダミ
−画素列21′の配置を受光素子アレイ11の主走査方
向の延長線上に設けるようにすれば、イメージセンサの
アレイ幅を変える必要がなく受光部の構成が従来の画像
読取装置と略同様にできるので、製造が容易となる効果
がある。
【0029】また、ダミ−画素列21′の配置を主走査
方向の延長線上に設けず、受光素子アレイ11の副走査
方向に設けるようにすれば、アレイ長が変わらないため
画像読取装置全体の大きさを変えることなくダミ−画素
列21′を配置することができ、画像読取装置を小型に
することができる効果がある。
方向の延長線上に設けず、受光素子アレイ11の副走査
方向に設けるようにすれば、アレイ長が変わらないため
画像読取装置全体の大きさを変えることなくダミ−画素
列21′を配置することができ、画像読取装置を小型に
することができる効果がある。
【0030】更に、ダミ−画素列21′を受光素子アレ
イ11に平行に近接して配置し、かつ受光素子11″が
電荷転送部12の薄膜トランジスタTi,j に接続する方
向とは反対方向にダミー画素電荷転送部22の薄膜トラ
ンジスタT0,j を接続配置すれば、ダミ−画素21″と
受光素子11″とが近くに形成されるため、プロセスの
バラツキが少なく、また同様の温度状態となるため受光
素子の特性を精度よく補正することができる効果があ
る。
イ11に平行に近接して配置し、かつ受光素子11″が
電荷転送部12の薄膜トランジスタTi,j に接続する方
向とは反対方向にダミー画素電荷転送部22の薄膜トラ
ンジスタT0,j を接続配置すれば、ダミ−画素21″と
受光素子11″とが近くに形成されるため、プロセスの
バラツキが少なく、また同様の温度状態となるため受光
素子の特性を精度よく補正することができる効果があ
る。
【0031】更に、上記具体例のダミー画素列21′及
びダミー画素電荷転送部22を、イメージセンサの受光
素子アレイ11及び電荷転送部12を製造する同じ製造
工程で製造するようにすれば、新たな製造工程を設ける
必要がない。
びダミー画素電荷転送部22を、イメージセンサの受光
素子アレイ11及び電荷転送部12を製造する同じ製造
工程で製造するようにすれば、新たな製造工程を設ける
必要がない。
【0032】次に、本実施例の画像読取装置での画像読
取方法について図1及び図2を使って説明する。図2
は、本実施例の画像読取装置における画像読取のタイミ
ングチャート図である。図1及び図2に示すように、1
ライン分の読取り時間を決めるスタートパルスSTがゲ
ートパルス発生回路16へ入力されると内部のロジック
回路により、先ず、ダミー画素列21′に接続する各薄
膜トランジスタT0,j のゲート電極へゲートパルスφG
0 が与えられる。
取方法について図1及び図2を使って説明する。図2
は、本実施例の画像読取装置における画像読取のタイミ
ングチャート図である。図1及び図2に示すように、1
ライン分の読取り時間を決めるスタートパルスSTがゲ
ートパルス発生回路16へ入力されると内部のロジック
回路により、先ず、ダミー画素列21′に接続する各薄
膜トランジスタT0,j のゲート電極へゲートパルスφG
0 が与えられる。
【0033】そして、薄膜トランジスタT0,j のオン動
作によりダミ−画素21″で発生した暗状態の電荷が多
層配線13を介して共通信号線14の配線容量CLj(j=1
〜n)に転送蓄積され、配線容量CLjの電位がわずかに上
昇する。つまり、各受光素子11″における暗状態にお
ける暗電流分の電荷が配線容量CLjに蓄積されたのと同
じことになる。
作によりダミ−画素21″で発生した暗状態の電荷が多
層配線13を介して共通信号線14の配線容量CLj(j=1
〜n)に転送蓄積され、配線容量CLjの電位がわずかに上
昇する。つまり、各受光素子11″における暗状態にお
ける暗電流分の電荷が配線容量CLjに蓄積されたのと同
じことになる。
【0034】次に、配線容量CLj(j=1〜n)の電位が駆動
用IC15によって読み取られ、駆動用IC15から時
系列にダミ−画素21″の信号が出力される。そして、
ダミー画素21″毎の出力信号とは、具体的には、受光
素子11″が出力する場合の駆動用IC15の入力チャ
ネルのオフセット電圧のバラツキ分及び共通信号線14
の配線容量CLjのバラツキによる感度のバラツキを含ん
だ受光素子11″の暗出力の電圧である。
用IC15によって読み取られ、駆動用IC15から時
系列にダミ−画素21″の信号が出力される。そして、
ダミー画素21″毎の出力信号とは、具体的には、受光
素子11″が出力する場合の駆動用IC15の入力チャ
ネルのオフセット電圧のバラツキ分及び共通信号線14
の配線容量CLjのバラツキによる感度のバラツキを含ん
だ受光素子11″の暗出力の電圧である。
【0035】ダミー画素21″の出力が終了すると、次
にゲートパルスφG1 がゲート線G1 に伝達され、薄膜
トランジスタT1,1 〜T1,n のオン動作により、受光素
子アレイ11の第1のブロックの受光素子11″から光
電荷が配線容量CLj(j=1〜n)に転送蓄積されて共通信号
線14の電位が上昇し、駆動用IC15が該電位を読取
るので、駆動用IC15からは時系列に第1のブロック
の1〜nの受光素子11″の信号が出力される。
にゲートパルスφG1 がゲート線G1 に伝達され、薄膜
トランジスタT1,1 〜T1,n のオン動作により、受光素
子アレイ11の第1のブロックの受光素子11″から光
電荷が配線容量CLj(j=1〜n)に転送蓄積されて共通信号
線14の電位が上昇し、駆動用IC15が該電位を読取
るので、駆動用IC15からは時系列に第1のブロック
の1〜nの受光素子11″の信号が出力される。
【0036】以下、同様にしてゲ−トパルスφG2 〜φ
GN までがゲ−ト線G2 〜GN に伝達され、共通信号線
14に受光素子アレイ11の第2のブロックから第Nの
ブロックの出力が共通信号線14の配線容量CLj(j=1〜
n)に転送蓄積されて電位が上昇し、駆動用IC15がこ
の電位を読み取り、駆動用IC15の出力端子17から
は時系列に第2のブロックから第Nのブロックの1〜n
の受光素子11″の信号が出力される。
GN までがゲ−ト線G2 〜GN に伝達され、共通信号線
14に受光素子アレイ11の第2のブロックから第Nの
ブロックの出力が共通信号線14の配線容量CLj(j=1〜
n)に転送蓄積されて電位が上昇し、駆動用IC15がこ
の電位を読み取り、駆動用IC15の出力端子17から
は時系列に第2のブロックから第Nのブロックの1〜n
の受光素子11″の信号が出力される。
【0037】よって、共通信号線14との接続順に従
い、ダミ−画素21″からn個、続いて、各受光素子1
1″からn×N個の出力が駆動用IC15の出力端子
(Com)17に時系列に出力されることになる。
い、ダミ−画素21″からn個、続いて、各受光素子1
1″からn×N個の出力が駆動用IC15の出力端子
(Com)17に時系列に出力されることになる。
【0038】次に、本実施例の画像読取装置における画
像読取方法、特にダーク補正について図3を使って説明
する。図3は、本実施例の画像読取装置の構成ブロック
図である。本実施例の画像読取装置においてダ−ク補正
を行う部分は、図3に示すように、駆動用IC15から
のアナログ出力をディジタル信号に変換するA/D変換
器18と、ダミ−画素21″からの出力のみが記憶され
るメモリ手段19と、受光素子11″の画像信号からメ
モリ手段19に記憶されている対応のダミ−画素21″
の出力デ−タを減算して出力する減算回路20とから構
成されている。
像読取方法、特にダーク補正について図3を使って説明
する。図3は、本実施例の画像読取装置の構成ブロック
図である。本実施例の画像読取装置においてダ−ク補正
を行う部分は、図3に示すように、駆動用IC15から
のアナログ出力をディジタル信号に変換するA/D変換
器18と、ダミ−画素21″からの出力のみが記憶され
るメモリ手段19と、受光素子11″の画像信号からメ
モリ手段19に記憶されている対応のダミ−画素21″
の出力デ−タを減算して出力する減算回路20とから構
成されている。
【0039】ダ−ク補正処理については、各部を同期さ
せるクロックパルスCKがゲ−トパルス発生回路16、
駆動用IC15、A/D変換器18、メモリ手段19の
それぞれに入力され、また1ライン分の読取時間を決め
るスタ−トパルスSTがゲ−トパルス発生回路16、駆
動用IC15、メモリ手段19に入力されるようになっ
ている。
せるクロックパルスCKがゲ−トパルス発生回路16、
駆動用IC15、A/D変換器18、メモリ手段19の
それぞれに入力され、また1ライン分の読取時間を決め
るスタ−トパルスSTがゲ−トパルス発生回路16、駆
動用IC15、メモリ手段19に入力されるようになっ
ている。
【0040】まず、スタ−トパルスSTがゲ−トパルス
発生回路16に入力されると、ゲ−トパルス発生回路1
6はゲート線G0 を介してゲートパルスφG0 をダミー
画素電荷転送部22の薄膜トランジスタT0,j のゲ−ト
電極に出力して薄膜トランジスタT0,j をオンし、ダミ
ー画素21″からの出力が前記スタートパルスSTに対
応して駆動用IC15から時系列にA/D変換器18へ
出力され、またクロックCKを基準としてA/D変換器
18によりディジタル信号に変換される。
発生回路16に入力されると、ゲ−トパルス発生回路1
6はゲート線G0 を介してゲートパルスφG0 をダミー
画素電荷転送部22の薄膜トランジスタT0,j のゲ−ト
電極に出力して薄膜トランジスタT0,j をオンし、ダミ
ー画素21″からの出力が前記スタートパルスSTに対
応して駆動用IC15から時系列にA/D変換器18へ
出力され、またクロックCKを基準としてA/D変換器
18によりディジタル信号に変換される。
【0041】一方、スタ−トパルスSTが入力されたメ
モリ手段19は、スタ−トパルスSTの入力後一定時間
経過するとメモリ手段19に入力されるダミ−画素2
1″の出力のみを書き込む。つまり、一定時間経過後に
は、A/D変換器18からのダミー画素の出力タイミン
グに同期してメモリ手段19は書き込み状態となり、全
ダミー画素21″の出力が書き込まれるとメモリとして
の書き込みを終了するものである。従って、スタ−トパ
ルスSTがメモリ手段19への書き込み開始と終了を決
定するようになっている。そして、メモリ手段19は、
ダミ−画素21″の出力が書き込まれた後は、受光素子
アレイ11の1ライン分の出力がA/D変換器18から
出力される間、読み出し専用のメモリとなる。
モリ手段19は、スタ−トパルスSTの入力後一定時間
経過するとメモリ手段19に入力されるダミ−画素2
1″の出力のみを書き込む。つまり、一定時間経過後に
は、A/D変換器18からのダミー画素の出力タイミン
グに同期してメモリ手段19は書き込み状態となり、全
ダミー画素21″の出力が書き込まれるとメモリとして
の書き込みを終了するものである。従って、スタ−トパ
ルスSTがメモリ手段19への書き込み開始と終了を決
定するようになっている。そして、メモリ手段19は、
ダミ−画素21″の出力が書き込まれた後は、受光素子
アレイ11の1ライン分の出力がA/D変換器18から
出力される間、読み出し専用のメモリとなる。
【0042】次に、ゲ−トパルス発生回路16は、ゲ−
トパルスφG1 〜φGN を各受光素子群11′のブロッ
ク単位に薄膜トランジスタTi,j のゲ−ト電極へ出力す
るので、各ブロックの受光素子11″の出力がA/D変
換器18によりディジタル信号に変換され、減算回路2
0へ出力される。
トパルスφG1 〜φGN を各受光素子群11′のブロッ
ク単位に薄膜トランジスタTi,j のゲ−ト電極へ出力す
るので、各ブロックの受光素子11″の出力がA/D変
換器18によりディジタル信号に変換され、減算回路2
0へ出力される。
【0043】また、メモリ手段19内には、データの書
き込み及び読み出しを行う入出力制御部と、アクセスす
るアドレスをカウントするアドレスカウンタとが設けら
れている。そして、入出力制御部でクロックCKに同期
した動作とスタートパルスSTに対応した動作を行うこ
とができ、またアドレスカウンタでデータの入出力時に
n個のダミー画素のデータのアドレスをn回カウントし
て初期のアドレスを示すカウンタ値に戻すようになって
いる。
き込み及び読み出しを行う入出力制御部と、アクセスす
るアドレスをカウントするアドレスカウンタとが設けら
れている。そして、入出力制御部でクロックCKに同期
した動作とスタートパルスSTに対応した動作を行うこ
とができ、またアドレスカウンタでデータの入出力時に
n個のダミー画素のデータのアドレスをn回カウントし
て初期のアドレスを示すカウンタ値に戻すようになって
いる。
【0044】そして、アドレスカウンタが、A/D変換
器18から出力される受光素子11″の出力に対応する
ダミ−画素21″のデ−タのアドレスをカウントしてn
回(1ブロックの受光素子11″の画素数)でリセット
し、また入出力制御部がアドレスカウンタによりカウン
トされたアドレスを参照して受光素子11″の1番目〜
n番目の出力に対応するダミー画素21″の1番目〜n
番目のデ−タにアクセスして、該当するダミ−画素2
1″のデ−タを減算回路20へ読み出し、減算回路20
が受光素子11″の出力からダミ−画素21″の出力を
減算するものである。これにより、配線容量CLjによる
感度のバラツキ及び駆動用IC15の入力チャンネルで
のオフセット電圧のバラツキを考慮したダ−ク補正が為
されて、補正後の出力が本実施例の画像読取装置の減算
回路20から出力されるようになっている。
器18から出力される受光素子11″の出力に対応する
ダミ−画素21″のデ−タのアドレスをカウントしてn
回(1ブロックの受光素子11″の画素数)でリセット
し、また入出力制御部がアドレスカウンタによりカウン
トされたアドレスを参照して受光素子11″の1番目〜
n番目の出力に対応するダミー画素21″の1番目〜n
番目のデ−タにアクセスして、該当するダミ−画素2
1″のデ−タを減算回路20へ読み出し、減算回路20
が受光素子11″の出力からダミ−画素21″の出力を
減算するものである。これにより、配線容量CLjによる
感度のバラツキ及び駆動用IC15の入力チャンネルで
のオフセット電圧のバラツキを考慮したダ−ク補正が為
されて、補正後の出力が本実施例の画像読取装置の減算
回路20から出力されるようになっている。
【0045】本実施例の画像読取装置及びその画像読取
方法によれば、TFT駆動型イメ−ジセンサに、各共通
信号線14毎にダ−ク補正及びその他バラツキの補正を
行うダミ−画素21″を設け、ダミ−画素21″の出力
を受光素子11″からの出力より先に出力させてメモリ
手段19に記憶しておき、ブロック毎に受光素子11″
の出力からメモリ手段19のデ−タを減算するようにし
ているため、少ないメモリ容量でダ−ク補正等を正確に
行うことができる効果がある。また、ダミ−画素21″
の配置により、コストの低減、装置の小型化、或いは精
度の良い補正が行える効果がある。
方法によれば、TFT駆動型イメ−ジセンサに、各共通
信号線14毎にダ−ク補正及びその他バラツキの補正を
行うダミ−画素21″を設け、ダミ−画素21″の出力
を受光素子11″からの出力より先に出力させてメモリ
手段19に記憶しておき、ブロック毎に受光素子11″
の出力からメモリ手段19のデ−タを減算するようにし
ているため、少ないメモリ容量でダ−ク補正等を正確に
行うことができる効果がある。また、ダミ−画素21″
の配置により、コストの低減、装置の小型化、或いは精
度の良い補正が行える効果がある。
【0046】また、本実施例の画像読取方法によれば、
図2に示したように、1ライン毎にダミー画素の出力と
受光素子の出力とを繰り返してその差を取るようにして
いるので、ダミー画素と受光素子とが温度等の環境が同
じであるため、ダーク補正の精度を上げることができる
効果がある。
図2に示したように、1ライン毎にダミー画素の出力と
受光素子の出力とを繰り返してその差を取るようにして
いるので、ダミー画素と受光素子とが温度等の環境が同
じであるため、ダーク補正の精度を上げることができる
効果がある。
【0047】次に、本発明の別の実施例の画像読取装置
について図4を使って説明する。図4は、別の実施例の
画像読取装置の構成ブロック図である。尚、図3に示す
本実施例の画像読取装置と同様の構成をとる部分につい
て同一の符号を付して説明する。別の実施例の画像読取
装置は、図4に示すように、イメ−ジセンサ部分及びダ
ミ−画素、ダミ−画素電荷転送部の部分は本実施例と同
様の構成となっており、ダ−ク補正を行う部分が、駆動
用IC15からのアナログ出力の内でダミ−画素21″
からの出力と受光素子11″からの出力とを分離するス
イッチ手段23と、ダミ−画素21″からの出力のみを
ディジタル信号に変換するA/D変換器18′と、A/
D変換器18′からの出力が画像情報として記憶される
メモリ手段19と、メモリ手段19からの出力をアナロ
グ信号に変換するD/A変換器24と、受光素子11″
からの出力よりD/A変換器24からの出力を減算する
減算回路20′と、減算回路20′から出力されるアナ
ログ信号をディジタル信号に変換するA/D変換器25
とから構成されている。
について図4を使って説明する。図4は、別の実施例の
画像読取装置の構成ブロック図である。尚、図3に示す
本実施例の画像読取装置と同様の構成をとる部分につい
て同一の符号を付して説明する。別の実施例の画像読取
装置は、図4に示すように、イメ−ジセンサ部分及びダ
ミ−画素、ダミ−画素電荷転送部の部分は本実施例と同
様の構成となっており、ダ−ク補正を行う部分が、駆動
用IC15からのアナログ出力の内でダミ−画素21″
からの出力と受光素子11″からの出力とを分離するス
イッチ手段23と、ダミ−画素21″からの出力のみを
ディジタル信号に変換するA/D変換器18′と、A/
D変換器18′からの出力が画像情報として記憶される
メモリ手段19と、メモリ手段19からの出力をアナロ
グ信号に変換するD/A変換器24と、受光素子11″
からの出力よりD/A変換器24からの出力を減算する
減算回路20′と、減算回路20′から出力されるアナ
ログ信号をディジタル信号に変換するA/D変換器25
とから構成されている。
【0048】ダ−ク補正処理については、各部を同期さ
せるクロックパルスCKがゲ−トパルス発生回路16、
駆動用IC15、A/D変換器18′、メモリ手段1
9、スイッチ手段23、D/A変換器24、A/D変換
器25にそれぞれ入力され、また1ライン分の読取時間
を決めるスタ−トパルスSTがゲ−トパルス発生回路1
6、駆動用IC15、スイッチ手段23、メモリ手段1
9に入力されるようになっている。
せるクロックパルスCKがゲ−トパルス発生回路16、
駆動用IC15、A/D変換器18′、メモリ手段1
9、スイッチ手段23、D/A変換器24、A/D変換
器25にそれぞれ入力され、また1ライン分の読取時間
を決めるスタ−トパルスSTがゲ−トパルス発生回路1
6、駆動用IC15、スイッチ手段23、メモリ手段1
9に入力されるようになっている。
【0049】尚、スイッチ手段23は、ダミー画素2
1″からの出力のみをA/D変換器18′へ出力し、受
光素子11″からの出力を減算回路20′へ出力するよ
うに、スタ−トパルスSTに対応して駆動用IC15の
出力端子をA/D変換器18′又は減算回路20′に接
続するようになっている。
1″からの出力のみをA/D変換器18′へ出力し、受
光素子11″からの出力を減算回路20′へ出力するよ
うに、スタ−トパルスSTに対応して駆動用IC15の
出力端子をA/D変換器18′又は減算回路20′に接
続するようになっている。
【0050】次に、別の実施例の画像読取装置における
画像読取方法について説明する。まず、スタ−トパルス
STがゲ−トパルス発生回路16に入力されると、ゲ−
トパルス発生回路16はゲート線G0 を介してゲートパ
ルスφG0 をダミー画素電荷転送部22の薄膜トランジ
スタT0,j のゲ−ト電極に出力して薄膜トランジスタT
0,j をオンし、ダミー画素21″からの出力がスタート
パルスSTに対応して駆動用IC15から時系列に出力
され、スイッチ手段23を介してA/D変換器18′に
入力され、ディジタル信号に変換されてメモリ手段19
へ出力される。
画像読取方法について説明する。まず、スタ−トパルス
STがゲ−トパルス発生回路16に入力されると、ゲ−
トパルス発生回路16はゲート線G0 を介してゲートパ
ルスφG0 をダミー画素電荷転送部22の薄膜トランジ
スタT0,j のゲ−ト電極に出力して薄膜トランジスタT
0,j をオンし、ダミー画素21″からの出力がスタート
パルスSTに対応して駆動用IC15から時系列に出力
され、スイッチ手段23を介してA/D変換器18′に
入力され、ディジタル信号に変換されてメモリ手段19
へ出力される。
【0051】ここで、スタートパルスSTを基準として
ダミー画素21″からの出力を駆動用IC15がスイッ
チ手段23へ出力するタイミングと、スイッチ手段23
がA/D変換器18′へ接続させるタイミングと、更に
メモリ手段19にダミー画素21″の出力が書き込まれ
るタイミングとは同期がとられている。そして、ダミー
画素21″からの出力がA/D変換器18′を介してメ
モリ手段19へ出力されて書き込まれ、メモリ手段19
へのダミー画素21″の出力の書き込みが終了すると、
スイッチ手段23は減算回路20′へ接続させるように
なっている。
ダミー画素21″からの出力を駆動用IC15がスイッ
チ手段23へ出力するタイミングと、スイッチ手段23
がA/D変換器18′へ接続させるタイミングと、更に
メモリ手段19にダミー画素21″の出力が書き込まれ
るタイミングとは同期がとられている。そして、ダミー
画素21″からの出力がA/D変換器18′を介してメ
モリ手段19へ出力されて書き込まれ、メモリ手段19
へのダミー画素21″の出力の書き込みが終了すると、
スイッチ手段23は減算回路20′へ接続させるように
なっている。
【0052】従って、スタ−トパルスSTが入力された
メモリ手段19は、スタ−トパルスSTの入力後一定時
間経過するとメモリ手段19にダミ−画素21″の出力
のみを書き込む。そして、ダミ−画素21″の出力が書
き込まれた後は、受光素子アレイ11の1ライン分の出
力がスイッチ手段23を介して減算回路20′へ出力さ
れる間、読み出し専用のメモリとなる。
メモリ手段19は、スタ−トパルスSTの入力後一定時
間経過するとメモリ手段19にダミ−画素21″の出力
のみを書き込む。そして、ダミ−画素21″の出力が書
き込まれた後は、受光素子アレイ11の1ライン分の出
力がスイッチ手段23を介して減算回路20′へ出力さ
れる間、読み出し専用のメモリとなる。
【0053】次に、ゲ−トパルス発生回路16は、ゲ−
トパルスφG1 〜φGN を各受光素子群11′のブロッ
ク単位に薄膜トランジスタTi,j のゲ−ト電極へ出力す
るので、各ブロックの受光素子11″の出力が駆動用I
C15よりスイッチ手段23を介して減算回路20′へ
出力される。
トパルスφG1 〜φGN を各受光素子群11′のブロッ
ク単位に薄膜トランジスタTi,j のゲ−ト電極へ出力す
るので、各ブロックの受光素子11″の出力が駆動用I
C15よりスイッチ手段23を介して減算回路20′へ
出力される。
【0054】また、メモリ手段19内には、データの書
き込み及び読み出しを行う入出力制御部と、アクセスす
るアドレスをカウントするアドレスカウンタとが設けら
れており、入出力制御部でクロックCKに同期した動作
とスタートパルスSTに対応した動作を行うことがで
き、またアドレスカウンタでデータの入出力時にn個の
ダミー画素のデータのアドレスをn回カウントして初期
のアドレスを示すカウンタ値に戻すようになっている。
き込み及び読み出しを行う入出力制御部と、アクセスす
るアドレスをカウントするアドレスカウンタとが設けら
れており、入出力制御部でクロックCKに同期した動作
とスタートパルスSTに対応した動作を行うことがで
き、またアドレスカウンタでデータの入出力時にn個の
ダミー画素のデータのアドレスをn回カウントして初期
のアドレスを示すカウンタ値に戻すようになっている。
【0055】そして、アドレスカウンタが、駆動用IC
15からスイッチ手段23を介して出力される受光素子
11″の出力に対応するダミ−画素21″のデ−タのア
ドレスをカウントしてn回(1ブロックの受光素子1
1″の画素数)でリセットし、また入出力制御部がアド
レスカウンタによりカウントされたアドレスを参照して
受光素子11″の1番目〜n番目の出力に対応するダミ
ー画素21″の1番目〜n番目のデ−タにアクセスし
て、該当するダミ−画素21″のデ−タをD/A変換器
24に出力する。
15からスイッチ手段23を介して出力される受光素子
11″の出力に対応するダミ−画素21″のデ−タのア
ドレスをカウントしてn回(1ブロックの受光素子1
1″の画素数)でリセットし、また入出力制御部がアド
レスカウンタによりカウントされたアドレスを参照して
受光素子11″の1番目〜n番目の出力に対応するダミ
ー画素21″の1番目〜n番目のデ−タにアクセスし
て、該当するダミ−画素21″のデ−タをD/A変換器
24に出力する。
【0056】D/A変換器24でのアナログ信号への変
換は、A/D変換器18′に入力されるアナログ信号と
同じ信号となるよう変換が為され、また、スタ−トパル
スSTにより、ダミー画素21″のデ−タがメモリ手段
19からD/A変換器24を介して減算回路20′へ出
力されるタイミングは、ブロック毎の受光素子11″か
らの出力が駆動用IC15からスイッチ手段23を介し
て減算回路20′へ出力されるタイミングと同期するよ
うになっている。
換は、A/D変換器18′に入力されるアナログ信号と
同じ信号となるよう変換が為され、また、スタ−トパル
スSTにより、ダミー画素21″のデ−タがメモリ手段
19からD/A変換器24を介して減算回路20′へ出
力されるタイミングは、ブロック毎の受光素子11″か
らの出力が駆動用IC15からスイッチ手段23を介し
て減算回路20′へ出力されるタイミングと同期するよ
うになっている。
【0057】従って、減算回路20′では受光素子1
1″の出力の各々に対応するダミー画素21″の出力が
同期して減算されるようになり、配線容量CLjによる感
度のバラツキ及び駆動用IC15の入力チャンネルでの
オフセット電圧のバラツキを考慮したダ−ク補正が為さ
れて、補正後の出力が減算回路20′から画像信号とし
て出力され、更にA/D変換器25でディジタル信号へ
変換されて画像情報として出力されるようになってい
る。
1″の出力の各々に対応するダミー画素21″の出力が
同期して減算されるようになり、配線容量CLjによる感
度のバラツキ及び駆動用IC15の入力チャンネルでの
オフセット電圧のバラツキを考慮したダ−ク補正が為さ
れて、補正後の出力が減算回路20′から画像信号とし
て出力され、更にA/D変換器25でディジタル信号へ
変換されて画像情報として出力されるようになってい
る。
【0058】別の実施例の画像読取装置及びその画像読
取方法によれば、1ライン毎にダミ−画素21″の出力
をA/D変換器18′によりA/D変換してメモリ手段
19に一時記憶し、受光素子11″からのアナログ出力
に合わせて、メモリ手段19に一時記憶されているダミ
−画素21″の出力をD/A変換器24によりD/A変
換し、アナログ状態において減算回路20′を使ってダ
−ク補正を行い、更にA/D変換器25でディジタル変
換して画像情報を出力するので、減算回路20′からの
画像情報の出力をA/D変換器25でディジタル変換す
るときに、A/D変換器25のダイナミックレンジを損
なうことがなく、分解能の高い画像情報を得ることがで
きる効果がある。
取方法によれば、1ライン毎にダミ−画素21″の出力
をA/D変換器18′によりA/D変換してメモリ手段
19に一時記憶し、受光素子11″からのアナログ出力
に合わせて、メモリ手段19に一時記憶されているダミ
−画素21″の出力をD/A変換器24によりD/A変
換し、アナログ状態において減算回路20′を使ってダ
−ク補正を行い、更にA/D変換器25でディジタル変
換して画像情報を出力するので、減算回路20′からの
画像情報の出力をA/D変換器25でディジタル変換す
るときに、A/D変換器25のダイナミックレンジを損
なうことがなく、分解能の高い画像情報を得ることがで
きる効果がある。
【0059】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、受光素子
の他に遮光した1ブロック分の別の受光素子を設け、ス
イッチング素子の他に別の受光素子の電荷転送を行う別
のスイッチング素子を設け、共通信号線に両方のスイッ
チング素子を接続し、別の受光素子に発生した電荷に対
応する画像情報を記憶するメモリ手段を備え、受光素子
に発生した電荷に対応する画像情報からメモリ手段に記
憶された画像情報を減算する減算回路を備えた画像読取
装置としているので、各共通信号線の持つ配線容量のバ
ラツキと駆動用ICの持つ入力チャンネル毎のオフセッ
ト電圧のバラツキを無くした上でダーク補正を行うこと
ができ、またメモリ手段が1ブロック分の画像情報を記
憶するだけなのでメモリ容量を小さくできる効果があ
る。
の他に遮光した1ブロック分の別の受光素子を設け、ス
イッチング素子の他に別の受光素子の電荷転送を行う別
のスイッチング素子を設け、共通信号線に両方のスイッ
チング素子を接続し、別の受光素子に発生した電荷に対
応する画像情報を記憶するメモリ手段を備え、受光素子
に発生した電荷に対応する画像情報からメモリ手段に記
憶された画像情報を減算する減算回路を備えた画像読取
装置としているので、各共通信号線の持つ配線容量のバ
ラツキと駆動用ICの持つ入力チャンネル毎のオフセッ
ト電圧のバラツキを無くした上でダーク補正を行うこと
ができ、またメモリ手段が1ブロック分の画像情報を記
憶するだけなのでメモリ容量を小さくできる効果があ
る。
【0060】請求項2記載の発明によれば、1ブロック
分の別の受光素子に発生した電荷に対応する画像情報を
メモリ手段に記憶し、受光素子に発生した電荷に対応す
る画像情報からメモリ手段に記憶された画像情報を減算
回路で減算して出力する請求項1記載の画像読取装置の
画像読取方法としているので、各共通信号線の持つ配線
容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャンネル毎の
オフセット電圧のバラツキを無くした上でダーク補正を
行うことができ、またメモリ手段が1ブロック分の画像
情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さくできる効
果がある。
分の別の受光素子に発生した電荷に対応する画像情報を
メモリ手段に記憶し、受光素子に発生した電荷に対応す
る画像情報からメモリ手段に記憶された画像情報を減算
回路で減算して出力する請求項1記載の画像読取装置の
画像読取方法としているので、各共通信号線の持つ配線
容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャンネル毎の
オフセット電圧のバラツキを無くした上でダーク補正を
行うことができ、またメモリ手段が1ブロック分の画像
情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さくできる効
果がある。
【0061】請求項3記載の発明によれば、受光素子の
他に遮光した1ブロック分の別の受光素子を設け、スイ
ッチング素子の他に別の受光素子の電荷転送を行う別の
スイッチング素子を設け、共通信号線に両方のスイッチ
ング素子を接続して、別の受光素子に発生した電荷に対
応するアナログ情報を第1のA/D変換器に又受光素子
に発生した電荷に対応するアナログ情報を減算回路に各
々出力するスイッチ手段と、第1のA/D変換器で変換
されたディジタル情報を記憶するメモリ手段と、メモリ
手段内のディジタル情報をアナログ情報に変換するD/
A変換器と、スイッチ手段から出力された受光素子の電
荷に対応するアナログ情報からD/A変換器から出力さ
れた別の受光素子の電荷に対応するアナログ情報を減算
する減算回路と、減算回路からの出力をディジタル情報
に変換して画像情報として出力する第2のA/D変換器
とを備えた画像読取装置としているので、各共通信号線
の持つ配線容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャ
ンネル毎のオフセット電圧のバラツキを無くした上でダ
ーク補正を行うことができ、またメモリ手段が1ブロッ
ク分の画像情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さ
くでき、更に減算回路でアナログ情報のままダーク補正
を行えるため、第2のA/D変換器のダイナミックレン
ジを損うことがなく、分解能の高い画像情報を得ること
ができる効果がある。
他に遮光した1ブロック分の別の受光素子を設け、スイ
ッチング素子の他に別の受光素子の電荷転送を行う別の
スイッチング素子を設け、共通信号線に両方のスイッチ
ング素子を接続して、別の受光素子に発生した電荷に対
応するアナログ情報を第1のA/D変換器に又受光素子
に発生した電荷に対応するアナログ情報を減算回路に各
々出力するスイッチ手段と、第1のA/D変換器で変換
されたディジタル情報を記憶するメモリ手段と、メモリ
手段内のディジタル情報をアナログ情報に変換するD/
A変換器と、スイッチ手段から出力された受光素子の電
荷に対応するアナログ情報からD/A変換器から出力さ
れた別の受光素子の電荷に対応するアナログ情報を減算
する減算回路と、減算回路からの出力をディジタル情報
に変換して画像情報として出力する第2のA/D変換器
とを備えた画像読取装置としているので、各共通信号線
の持つ配線容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャ
ンネル毎のオフセット電圧のバラツキを無くした上でダ
ーク補正を行うことができ、またメモリ手段が1ブロッ
ク分の画像情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さ
くでき、更に減算回路でアナログ情報のままダーク補正
を行えるため、第2のA/D変換器のダイナミックレン
ジを損うことがなく、分解能の高い画像情報を得ること
ができる効果がある。
【0062】請求項4記載の発明によれば、1ブロック
分の別の受光素子に発生した電荷に対応するアナログ情
報をスイッチ手段を介して第1のA/D変換器でディジ
タル情報に変換してメモリ手段に記憶し、受光素子に発
生した電荷に対応するアナログ情報がスイッチ手段を介
して減算回路に入力されるのに同期してメモリ手段に記
憶されたディジタル情報がD/A変換器でアナログ情報
に変換されて減算回路に入力され、スイッチ手段を介し
て出力された受光素子の電荷に対応するアナログ情報か
らD/A変換器より出力された別の受光素子の電荷に対
応するアナログ情報を減算回路で減算し、第2のA/D
変換器で減算回路からの出力をディジタル情報に変換し
て画像情報として出力する請求項3記載の画像読取装置
の画像読取方法としているので、各共通信号線の持つ配
線容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャンネル毎
のオフセット電圧のバラツキを無くした上でダーク補正
を行うことができ、またメモリ手段が1ブロック分の画
像情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さくでき、
更に減算回路でアナログ情報のままダーク補正を行える
ため、第2のA/D変換器のダイナミックレンジを損う
ことがなく、分解能の高い画像情報を得ることができる
効果がある。
分の別の受光素子に発生した電荷に対応するアナログ情
報をスイッチ手段を介して第1のA/D変換器でディジ
タル情報に変換してメモリ手段に記憶し、受光素子に発
生した電荷に対応するアナログ情報がスイッチ手段を介
して減算回路に入力されるのに同期してメモリ手段に記
憶されたディジタル情報がD/A変換器でアナログ情報
に変換されて減算回路に入力され、スイッチ手段を介し
て出力された受光素子の電荷に対応するアナログ情報か
らD/A変換器より出力された別の受光素子の電荷に対
応するアナログ情報を減算回路で減算し、第2のA/D
変換器で減算回路からの出力をディジタル情報に変換し
て画像情報として出力する請求項3記載の画像読取装置
の画像読取方法としているので、各共通信号線の持つ配
線容量のバラツキと駆動用ICの持つ入力チャンネル毎
のオフセット電圧のバラツキを無くした上でダーク補正
を行うことができ、またメモリ手段が1ブロック分の画
像情報を記憶するだけなのでメモリ容量を小さくでき、
更に減算回路でアナログ情報のままダーク補正を行える
ため、第2のA/D変換器のダイナミックレンジを損う
ことがなく、分解能の高い画像情報を得ることができる
効果がある。
【図1】 本発明の一実施例に係る画像読取装置のイメ
−ジセンサの等価回路図である。
−ジセンサの等価回路図である。
【図2】 本実施例の画像読取装置における画像読取タ
イミングチャ−ト図である。
イミングチャ−ト図である。
【図3】 本実施例の画像読取装置の構成ブロック図で
ある。
ある。
【図4】 別の実施例の画像読取装置の構成ブロック図
である。
である。
【図5】 従来のTFT駆動型イメ−ジセンサの等価回
路図である。
路図である。
【図6】 従来のTFT駆動型イメ−ジセンサの1画素
の等価回路図である。
の等価回路図である。
11…受光素子アレイ、 11′…受光素子群、 1
1″…受光素子、 12…電荷転送部、 13…多層配
線、 14…共通信号線、 15…駆動用IC、16…
ゲートパルス発生回路、 17…出力端子、 18,1
8′…A/D変換器、 19…メモリ手段、 20,2
0′…減算回路、 21′…ダミ−画素列、 21″…
ダミ−画素、 22…ダミ−画素電荷転送部、 23…
スイッチ手段、 24…D/A変換器、 25…A/D
変換器、 T…薄膜トランジスタ、 P…フォトダイオ
ード、 G…ゲート線、 φG…ゲートパルス
1″…受光素子、 12…電荷転送部、 13…多層配
線、 14…共通信号線、 15…駆動用IC、16…
ゲートパルス発生回路、 17…出力端子、 18,1
8′…A/D変換器、 19…メモリ手段、 20,2
0′…減算回路、 21′…ダミ−画素列、 21″…
ダミ−画素、 22…ダミ−画素電荷転送部、 23…
スイッチ手段、 24…D/A変換器、 25…A/D
変換器、 T…薄膜トランジスタ、 P…フォトダイオ
ード、 G…ゲート線、 φG…ゲートパルス
Claims (4)
- 【請求項1】 複数の受光素子を1ブロックとして複数
ブロックを主走査方向にライン状に配列した受光素子ア
レイと、前記受光素子にそれぞれ接続し、前記受光素子
で発生した電荷を前記ブロック単位に転送するスイッチ
ング素子と、前記スイッチング素子に接続し、前記電荷
を保持する容量を備えた共通信号線と、前記共通信号線
が接続し、前記電荷を画像情報として出力する駆動用I
Cとを具備する画像読取装置において、前記受光素子の
1ブロックと同数の遮光された別の受光素子と、前記別
の受光素子にそれぞれ接続し、前記別の受光素子で発生
した電荷を転送する別のスイッチング素子とを有し、前
記別のスイッチング素子が前記共通信号線に接続し、前
記別の受光素子の電荷を画像情報として記憶するメモリ
手段と、前記受光素子の電荷に対応する画像情報から前
記メモリ手段に記憶された前記別の受光素子の電荷に対
応する画像情報を減算する減算回路とを設けたことを特
徴とする画像読取装置。 - 【請求項2】 前記別の受光素子で発生する電荷を前記
別のスイッチング素子で前記共通信号線の容量に転送
し、前記駆動用ICで前記別の受光素子の電荷を時系列
に画像情報として出力し、該画像情報を前記メモリ手段
に記憶し、前記受光素子で発生する電荷を前記ブロック
単位に前記共通信号線の容量に転送し、前記駆動用IC
で前記受光素子の電荷を時系列に画像情報として出力
し、該画像情報から前記メモリ手段に記憶された前記画
像情報を前記減算回路で減算して出力することを特徴と
する請求項1記載の画像読取装置の画像読取方法。 - 【請求項3】 複数の受光素子を1ブロックとして複数
ブロックを主走査方向にライン状に配列した受光素子ア
レイと、前記受光素子にそれぞれ接続し、前記受光素子
で発生した電荷を前記ブロック単位に転送するスイッチ
ング素子と、前記スイッチング素子に接続し、前記電荷
を保持する容量を備えた共通信号線と、前記共通信号線
が接続し、前記電荷をアナログ情報として出力する駆動
用ICとを具備する画像読取装置において、前記受光素
子の1ブロックと同数の遮光された別の受光素子と、前
記別の受光素子にそれぞれ接続し、前記別の受光素子で
発生した電荷を転送する別のスイッチング素子とを有
し、前記別のスイッチング素子が前記共通信号線に接続
し、前記別の受光素子の電荷に対応するアナログ情報と
前記受光素子の電荷に対応するアナログ情報とを分離し
て別々に出力するスイッチ手段と、前記スイッチ手段か
ら出力された前記別の受光素子の電荷に対応するアナロ
グ情報をディジタル情報に変換する第1のA/D変換器
と、前記第1のA/D変換器で変換されたディジタル情
報を記憶するメモリ手段と、前記メモリ手段に記憶され
たディジタル情報をアナログ情報に変換するD/A変換
器と、前記スイッチ手段から出力された前記受光素子の
電荷に対応するアナログ情報から前記D/A変換器から
出力された前記別の受光素子の電荷に対応するアナログ
情報を減算する減算回路と、前記減算回路からの出力を
ディジタル情報に変換して画像情報として出力する第2
のA/D変換器とを設けたことを特徴とする画像読取装
置。 - 【請求項4】 前記別の受光素子で発生する電荷を前記
別のスイッチング素子で前記共通信号線の容量に転送
し、前記駆動用ICで前記別の受光素子の電荷を時系列
にアナログ情報として出力し、該アナログ情報を前記ス
イッチ手段を介して前記第1のA/D変換器へ出力し、
前記第1のA/D変換器で該アナログ情報をディジタル
情報へ変換して前記メモリ手段に出力し、該ディジタル
情報を前記メモリ手段に記憶し、前記受光素子で発生す
る電荷を前記ブロック単位に前記共通信号線の容量に転
送し、前記駆動用ICで前記受光素子の電荷を時系列に
アナログ情報として出力し、該アナログ情報を前記スイ
ッチ手段を介して前記減算回路に出力し、該アナログ情
報が前記減算回路へ出力されるのに同期して前記メモリ
手段に記憶されたディジタル情報が前記D/A変換器で
アナログ情報に変換されて前記減算回路へ出力され、前
記スイッチ手段から出力された前記受光素子の電荷に対
応するアナログ情報から前記D/A変換器から出力され
たアナログ情報を前記減算回路で減算して前記第2のA
/D変換器へ出力し、前記第2のA/D変換器で前記減
算回路からの出力をディジタル情報に変換して画像情報
として出力することを特徴とする請求項3記載の画像読
取装置の画像読取方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4283513A JPH06113136A (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 画像読取装置及びその画像読取方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4283513A JPH06113136A (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 画像読取装置及びその画像読取方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06113136A true JPH06113136A (ja) | 1994-04-22 |
Family
ID=17666515
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4283513A Pending JPH06113136A (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 画像読取装置及びその画像読取方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06113136A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1067606A2 (en) * | 1999-06-07 | 2001-01-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector |
KR100358146B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2002-10-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 씨모스 이미지 센서 |
-
1992
- 1992-09-30 JP JP4283513A patent/JPH06113136A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1067606A2 (en) * | 1999-06-07 | 2001-01-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector |
EP1067606A3 (en) * | 1999-06-07 | 2002-06-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector |
US6696687B1 (en) | 1999-06-07 | 2004-02-24 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector |
KR100358146B1 (ko) * | 2000-12-30 | 2002-10-25 | 주식회사 하이닉스반도체 | 씨모스 이미지 센서 |
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