JPH06105537A - 半導体集積回路 - Google Patents

半導体集積回路

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Publication number
JPH06105537A
JPH06105537A JP4247720A JP24772092A JPH06105537A JP H06105537 A JPH06105537 A JP H06105537A JP 4247720 A JP4247720 A JP 4247720A JP 24772092 A JP24772092 A JP 24772092A JP H06105537 A JPH06105537 A JP H06105537A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit
potential
level
node
semiconductor integrated
Prior art date
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Pending
Application number
JP4247720A
Other languages
English (en)
Inventor
Kentaro Nakai
健太郎 中井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd, Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd
Priority to JP4247720A priority Critical patent/JPH06105537A/ja
Publication of JPH06105537A publication Critical patent/JPH06105537A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 従来の昇圧回路の制御方法では、昇圧ノード
を電源にクランプしているため昇圧レベルが常にVcc以
上になり、高電源電圧は長時間使用するとデバイスの信
頼性上問題になることがあった。本発明はこの問題を解
決する。 【構成】 昇圧ノード4に昇圧レベルコントロールトラ
ンジスタ5を接続し、トランジスタ5の接続段数で決ま
る所定値以上の昇圧電位が検出された時には、昇圧回路
制御回路を駆動して昇圧回路1の動作を停止させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は半導体集積回路に関
し、特に昇圧回路による昇圧レベルをコントロールする
機能を具備したものに関するものである。
【0002】
【従来の技術】図4は従来の半導体集積回路の昇圧回路
周辺の回路図であり、図において、1は昇圧回路、4は
昇圧回路1の出力と接続する昇圧レベルのノードであ
る。また、2は電源電圧(Vcc)であり、上記ノード4
と間に昇圧レベルコントロールトランジスタ3が接続さ
れている。上記昇圧回路1は、電源接地間に直列接続さ
れた2つのN型MOSトランジスタ10a,10bと、
N型MOSトランジスタ10aの入力段とドレイン間に
遅延用のインバータ群11を介して接続されたコンデン
サ12と、該回路の信号入力段に接続された論理合わせ
用のインバータ13とから構成されている。また13は
上記ノード4の他端に接続された負荷回路である。
【0003】次に動作について説明する。インバータ1
3に入力信号としてLレベルが入力されているとき、N
型MOSトランジスタ10aがオンして、ノード4がV
ccレベルまで上昇するとともに、コンデンサ12の片側
電極にこれに相当する電荷が蓄積される。
【0004】次いでインバータ群11による所定時間遅
延後、コンデンサ12の他方側電極が遅れてHレベルと
なると、コンデンサ12のカップリング効果によってノ
ード4がVccレベル以上に上昇する。このときの電圧は
ノード4後段に接続される内部回路等の負荷回路13の
寄生容量の大きさやコンデンサ12の大きさ等に依存
し、例えば寄生容量が小さい時には最大2Vcc程度まで
上昇する可能性がある。
【0005】ノード4と電源間に接続された昇圧レベル
コントロールトランジスタ3は、上記昇圧回路1によっ
てノード4の電位が所定値以上に上昇するのを防止して
いる。即ち所定以上の電位になるとトランジスタ3がオ
ンして電源2とノード4とが導通されノード4の電位は
最大で(Vcc+トランジスタ3の閾値)Vになり、電源
に対してクランプされる。このようにして規制された昇
圧電位が負荷回路13に印加されるようになっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従来の昇圧回路を有す
る半導体集積回路は以上のように構成されており、出力
ノードが電源に対してクランプされているため、電源電
圧自体が高い時、昇圧レベルが高くなりすぎて後段に接
続される負荷回路のトランジスタ等の素子の耐圧を越え
てしまい、高電源電圧で長時間使用すると製品の信頼性
が悪化する等の問題点があった。
【0007】この発明は上記問題点を解消するためにな
されたもので、電源電圧が変動して高くなっても一定の
昇圧電位を供給することができる半導体集積回路を得る
ことを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明に係る半導体集
積回路は、昇圧電位の大きさを検出して検出信号を出力
する昇圧電位検出手段と、該検出手段出力を受けた時に
上記昇圧回路の動作を停止させる昇圧回路制御手段とを
備えたものである。
【0009】また、昇圧電位の大きさを検出し、その値
が所定値以上の時に過剰分の昇圧電位を放電する過剰昇
圧電位放電手段を備えたものである。
【0010】
【作用】この発明においては、昇圧レベルが所定値以上
となったときに昇圧回路の動作を停止させるようにす
る、あるいは過剰な昇圧電位を放電するようにしたか
ら、高電源電圧時に所定値以上の昇圧電位が生じること
がない。
【0011】
【実施例】実施例1.以下この発明の実施例を図につい
て説明する。図1は本発明の第1の実施例による昇圧回
路を備えた半導体集積回路の構成図であり、図4と同一
符号は同一または相当部分を示し、5は昇圧回路1後段
に接続された複数のN型MOSトランジスタからなる昇
圧レベルコントロールトランジスタであり、抵抗6を介
して接地8に接続されている。また9は昇圧回路1の動
作を制御する昇圧回路制御回路であり、上記昇圧レベル
コントロールトランジスタ5の出力をノード7を介して
受けるインバータ90と、該インバータ90の出力をゲ
ート入力とし、上記昇圧回路の入力段に接続されたN型
MOSトランジスタ91とから構成されている。
【0012】次に動作について説明する。昇圧回路動作
時には、直列接続されたトランジスタ5の個数分の閾値
の和に相当する電位までノード4の電位が上昇し、電源
電圧Vccが上昇してノード4の電位が上記閾値の和を越
える所定の昇圧レベル以上になると、昇圧レベルコント
ロールトランジスタ5が通電してノード7に“H”が出
力される。このノード7が“H”になると昇圧回路制御
回路9により昇圧回路1への信号入力が停止され昇圧回
路1がストップする。
【0013】その後、昇圧レベルが抵抗6を介してリー
クする、あるいは電源電圧Vccが低下したときには、昇
圧レベルコントロールトランジスタ5を通過してノード
7から“L”が出力される。ノード7が“L”になると
昇圧回路制御回路9によって再度昇圧回路1に信号が入
力されるようになり、昇圧回路1が動作する。
【0014】このように本実施例によれば、昇圧レベル
コントロールトランジスタ5によって昇圧レベルを検知
し、所定値以上に昇圧されたことが検出された時には昇
圧回路制御回路9によって昇圧回路1の動作を停止させ
るようにしたから、電源電圧Vccが上昇した場合にも所
定値以上の昇圧電位が後段の負荷回路13に印加される
ことがなく、該回路を構成する素子の破壊等の問題がな
くなり、デバイスの信頼性を向上させることができる。
【0015】実施例2.次に本発明の第2の実施例によ
る半導体集積回路を図2に基づいて説明する。この実施
例では、接地に対して昇圧レベルをクランプするように
したものである。すなわち図2に示すように、ノード4
と接地8との間に複数のN型MOSトランジスタの直列
接続体からなる昇圧レベルコントロールトランジスタ1
4が設けられており、昇圧動作時には直列接続されたト
ランジスタ14の個数分の閾値の和に相当する電位まで
ノード4の電位が上昇し、上記閾値の和を越える昇圧電
位がノード4に現れた場合に、トランジスタ14が導通
してノード4と接地8とが接続されて過剰な昇圧レベル
分の電位が放電されるようになっている。
【0016】このようにすることで昇圧回路の動作を停
止することなく、昇圧電位を規制することができる。
【0017】実施例3.次に本発明の第3の実施例によ
る半導体集積回路を図3に基づいて説明する。上記第2
の実施例ではN型MOSトランジスタを用いて昇圧レベ
ルコントロールトランジスタを構成したが、この実施例
ではP型MOSトランジスタを用いて昇圧レベルコント
ロールトランジスタ15を構成するようにしたものであ
る。
【0018】このようにすることで上記第2の実施例と
同様の効果を奏することができる。
【0019】なお上記各実施例では昇圧レベルコントロ
ールトランジスタ5(14,15)を構成するトランジ
スタの接続段数については特に明示しなかったが、これ
は許容とする昇圧電位の大きさに応じて適宜設定すれば
よい。
【0020】
【発明の効果】以上のように、この発明にかかる半導体
集積回路によれば、昇圧レベルが所定値以上となったと
きに昇圧回路の動作を停止させる、あるいは過剰な昇圧
電位を放電させるようにしたので、高電源電圧時に昇圧
レベルが高くなりすぎることなく製品の信頼性を高める
ことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1の実施例による半導体集積回路
を示す図。
【図2】この発明の第2の実施例による半導体集積回路
を示す図。
【図3】この発明の第3の実施例による半導体集積回路
を示す図。
【図4】従来の昇圧レベルを有する半導体集積回路を示
す図。
【符号の説明】
1 昇圧回路 5,14,15 昇圧レベルコントロールトランジスタ 9 昇圧回路制御回路(手段) 13 負荷回路

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号を受けて電源電位を昇圧して後
    段の負荷回路に昇圧電位を供給する昇圧回路を備えた半
    導体集積回路において、 上記昇圧電位の大きさを検出して検出信号を出力する昇
    圧電位検出手段と、 上記検出信号を受けた時に上記昇圧回路の動作を停止さ
    せる昇圧回路制御手段とを備えたことを特徴とする半導
    体集積回路。
  2. 【請求項2】 入力信号を受けて電源電位を昇圧して後
    段の負荷回路に昇圧電位を供給する昇圧回路を備えた半
    導体集積回路において、 上記昇圧電位の大きさを検出し、その値が所定値以上の
    時に過剰分の昇圧電位を放電する過剰昇圧電位放電手段
    を備えたことを特徴とする半導体集積回路。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の半導体集積回路におい
    て、 上記過剰昇圧電位放電手段は、 上記昇圧回路出力段と接地間にダイオード接続されたM
    OSトランジスタであるあることを特徴とする半導体集
    積回路。
JP4247720A 1992-09-17 1992-09-17 半導体集積回路 Pending JPH06105537A (ja)

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JP4247720A JPH06105537A (ja) 1992-09-17 1992-09-17 半導体集積回路

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JP4247720A Pending JPH06105537A (ja) 1992-09-17 1992-09-17 半導体集積回路

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006014581A (ja) * 2004-05-21 2006-01-12 Rohm Co Ltd 電源装置およびそれを用いた電子機器
JP2008107548A (ja) * 2006-10-25 2008-05-08 Hitachi Displays Ltd 表示装置
JP2009044948A (ja) * 2007-08-08 2009-02-26 Hynix Semiconductor Inc レギュレータ及び高電圧発生器

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