JPH0610347B2 - 三極スパツタリングソ−ス - Google Patents

三極スパツタリングソ−ス

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JPH0610347B2
JPH0610347B2 JP11075085A JP11075085A JPH0610347B2 JP H0610347 B2 JPH0610347 B2 JP H0610347B2 JP 11075085 A JP11075085 A JP 11075085A JP 11075085 A JP11075085 A JP 11075085A JP H0610347 B2 JPH0610347 B2 JP H0610347B2
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sputtering
film
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薫 土岐
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Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、薄膜作製に用いられるスパッタリング装置の
スパッタソースに関するものである。
(従来技術とその問題点) スパッタリングによる成膜は、金属、合金、絶縁物等種
々の物質の薄膜化が容易であることから電子部品工業界
では、真空蒸着と並んで、汎用薄膜作製技術として広く
用いられている。当初、スパッタリング装置としては、
RF2極スパッタリング装置が用いられた。近年生産性
の向上と、基板損傷を防ぎ膜質の向上を図るために、低
温高速成膜装置への要求が高まり、かかる観点から、マ
グネトロンスパッタリング装置が主流となっている。し
かし、この装置ではターゲットの損傷が著しく局在して
いるため、ターゲット使用効率が低く、又、磁性体ター
ゲットを用いる場合、その厚みを相当小さくしなければ
ならない等の欠点を有している。この様な欠点を解決で
きるものとして三極スパッタリングソースを用いたスパ
ッタリング装置が注目され、各方面への応用が検討され
ている。
第4図(a)は、真空チャンバ1内に、三極スパッタリン
グソース2と基板3が配されて、スパッタリング装置が
構成された様子を模式的に示したものである。三極スパ
ッタリングソース2は、ターゲット5とその両側に、等
しい距離を隔てて配された熱電子を発生するフィラメン
ト6と、フィラメント6に対して正電位に、バイアスさ
れ、熱電子を誘導するアノード電極7及びアノード近傍
に設けたガス導入部12とから成り、さらにこれらは、
ターゲット5の開口部を残して、Alなどの導電体から
成るカバー8でおおわれたガンタイプのソースを形成し
ている。この図では繁雑さを避けるため、ターゲット冷
却機構は省略してある。スパッタリングは、前記ソース
2内に導入されたアルゴン等のガスが熱電子によってプ
ラズマ化されこれがターゲット5に印加される負の直流
電圧もしくは負にバイアスされた高周波電力によりター
ゲット5をボンバードする過程で、行われる。この方式
では、プラズマがソース2内に殆ど閉じ込められるの
で、高いスパッタイールドが効率良く得られる。さら
に、第4図(b)に示す様に、アノード7とフィラメント
間6に発生する電界と直交する磁界を発生する様に、永
久磁石14を、ターゲット5近傍に配すると、プラズマ
とソース2内への閉じ込めがより完全なものとなり、マ
グネトロンスパッタリングと同様の原理によって、極め
て優れた低温高速スパッタリングが実現できる。
近年、光磁気記録媒体や磁気記録材料の分野において、
合金ターゲット化が困難な材料への要求から、ターゲッ
トとして、母材の上に、チップ状の別材料を分散配置し
た、複合ターゲットがしばしば用いられる。この場合、
膜組成は主にチップの数及び配置の仕方に依存するた
め、細かい組成の調整は困難であり、膜特性の再現性に
も問題があった。
又、この様な複合ターゲット方式の欠点をなくすため
に、第5図(a),(b)に示す様に、複数の単体ターゲット
33,34から同時にスパッタする方法が提案されてい
る。しかし、従来のスパッタリングソースを、この方式
に採用した場合、ターゲット間隔がはなれているため
に、基板に対して間欠的な成膜が成され、基板ホルダー
35上に基板36の回転数が小さいと膜厚方向に組成むら
を生じるという欠点があった。
(発明の目的) 本発明は、かかる観点から成されたものでありターゲッ
ト部を、各々別電源に接続された複数のターゲットで構
成し、各ターゲットへ印加する電力を制御することによ
って、膜組成の調整を、容易に、しかも再現性良く行う
ことができる三極スパッタリングソースを提供すること
にある。
(発明の構成) 本発明の構成は、ターゲット部と、その近傍に配置され
た熱電子を発生するフィラメントと、ターゲット部を介
してフィラメントと対向する位置に設置されフィラメン
トに対して正電位にバイアスされたアノード電極と、ガ
ス導入部と、アノードとフィラメント間に発生する電界
と直交する磁界を発生する永久磁石とを備えた三極スパ
ッタリングソースにおいて、前記ターゲット部が各々別
電源に接続された複数のターゲットから成ることを特徴
とする。
(実施例) 次に本発明の実施例について、図面を用いて詳細に説明
する。
第1図は、本発明の実施例を示したものであり永久磁石
17と、アノード20とフィラメント19との間に、各々
別電源24,25に接続された2つのターゲット15,
16が一列に並んで配されている。18はカバー、21
はガス導入管である。
第2図は、第1図のX-X′断面の模式図である。
例えば、光磁気記録媒体として知られるTb-Fe合金膜を
作製する場合、ターゲットAとして厚さ5mmのFe板、タ
ーゲットBとして厚さ5mmのTb板を用いる。膜組成は、
各ターゲットに印加する高周波電力によって調整でき
る。
ガラス基板に対して、次の様な条件でスパッタを行っ
た。
背 圧 5×10-7Torr以下 Arガス圧 7×10-3Torr スパッタパワー ターゲットA(Fe)…16W/cm2 ターゲットB(Tb)…4.8W/cm2 電極間距離 15cm プラズマ電圧 70V プラズマ電流 5A 基板回転数 10RPM この様にして作製された膜厚1500Åの膜は組成Tb26at%
で膜面に垂直方向に磁化容易軸を有し、又、X線的に非
晶質であった。又、カーヒステリシスループより得られ
る抗磁力Hcは3KOe,カー回転角OKは0.23゜であり、光磁
気媒体として良好なる特性を有する。
この様に、各ターゲットへ印加するスパッタパワーを選
択することによって所望の組成の膜を、容易に得ること
ができる。
又、ターゲット間隔が小さいために、基板回転数が、比
較的小さい10RPM前後においても膜厚方向に組成むらを
生じることはなかった。
第3図は、本発明の他の実施例を示したものであり、各
々別電源に接続された2つのターゲット26,27が、
永久磁石28の間に、一列に並んで配されている。29
はフィラメント、30はアノード、32はカバー、31
はガス導入管である。
この場合も、各ターゲットへ印加するスパッタパワーを
選択することによって所望の組成の膜を容易に得ること
ができる。
以上述べた実施例では、ターゲット形状が円板状のもの
について述べたが、方形状のターゲットについても同様
に、本発明の効果が適用される。
又、ターゲット個数は、2個以上でも良い。
(発明の効果) 以上述べた様に、本発明によれば、ターゲット部を各々
別電源に接続された複数のターゲットで構成し、各ター
ゲットへ印加する電力を制御することによって、膜組成
の調整を、容易に、しかも再現性良く行うことができる
三極スパッタリングソースを提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は本発明の実施例を示す図、第4図
(a),(b),第5図(a),(b)は従来例を説明するための図
である。 図において、1は真空チャンバ、2は三極スパッタリン
グソース、3,36は基板、4,35は基板ホルダ、
5,15,16,26,27,33,34はターゲッ
ト、6,19,29はフィラメント、7,20,30は
アノード、8,18,32はカバー、9はフィラメント
電源、10はアノードバイアス電源、11,24,25
はターゲット電源、12,21,31はガス導入部、1
3はガスボンベ、14,17,28は永久磁石。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ターゲット部と、その近傍に配置された熱
    電子を発生するフィラメントと、ターゲット部を介して
    フィラメントと対向する位置に設置されフィラメントに
    対して正電位にバイアスされたアノード電極と、ガス導
    入部と、アノードとフィラメント間に発生する電界と直
    交する磁界を発生する永久磁石とを備えた三極スパッタ
    リングソースにおいて、前記ターゲット部が、各々別電
    源に接続された複数のターゲットから成ることを特徴と
    する三極スパッタリングソース。
JP11075085A 1985-05-23 1985-05-23 三極スパツタリングソ−ス Expired - Lifetime JPH0610347B2 (ja)

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JPS61270366A JPS61270366A (ja) 1986-11-29
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DE4413655A1 (de) * 1994-04-20 1995-10-26 Leybold Ag Beschichtungsanlage
JP4780972B2 (ja) * 2004-03-11 2011-09-28 株式会社アルバック スパッタリング装置

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JPS61270366A (ja) 1986-11-29

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