JPH06102255A - 非破壊検査装置ならびに位相関係および振幅情報演算装置 - Google Patents

非破壊検査装置ならびに位相関係および振幅情報演算装置

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JPH06102255A
JPH06102255A JP4275311A JP27531192A JPH06102255A JP H06102255 A JPH06102255 A JP H06102255A JP 4275311 A JP4275311 A JP 4275311A JP 27531192 A JP27531192 A JP 27531192A JP H06102255 A JPH06102255 A JP H06102255A
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洋介 松本
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伸治 斎藤
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 この発明は、高精度化、小型化および低廉化
が図れる非破壊検査装置を提供することを目的とする。 【構成】 非破壊検査装置において、被検査体に渦電流
を発生させることにより被検査体の状態を検出する検知
部、検知部に駆動信号を供給する駆動手段、検知部の出
力を所定期間ごとに所定の複数のタイミングでデジタル
値として取り出すサンプリング手段、ならびにサンプリ
ング手段によってサンプリングされたデータに基づい
て、検知部の出力信号と駆動信号との位相関係および検
知部の出力信号の振幅に関する情報を算出する演算手段
を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、管、線、棒、板等の
被検査体の欠陥を検出するための非破壊検査装置ならび
に位相関係および振幅情報演算装置に関する。
【0002】
【従来の技術】管、線、棒、板等の被検査体の欠陥を検
出するための非破壊検査装置として、交流を流したコイ
ルを被検査体に近接させ、コイルの電圧又は電流変化を
検出して被検査体の欠陥を検出する非破壊検査装置がす
でに知られている。交流を流したコイルを被検査体に近
接させると、被検査体にうず電流が発生し、コイルのイ
ンピーダンスが変化する。被検査体に傷があると、うず
電流が傷の部分を遠回りするのでうず電流に変化が起こ
り、これによりコイルのインピーダンスが変化する。こ
の変化を検出することにより、被検査体の傷が検出され
る。
【0003】この種の非破壊検査装置の一例が図3に示
されている(「非破壊検査技術シリーズ 渦流探傷試験
B」 昭和59年10月15日 社団法人日本非破壊検
査協会発行 参照)。発振回路1により、所要周波数の
交流信号が発生される。この交流信号は、2つの検出コ
イル2が組み込まれたブリッジ回路3に送られる。ブリ
ッジ回路3からは2つの検出コイル2の発生電圧の差分
に応じた信号(被検査体状態信号)が出力される。ブリ
ッジ回路3の出力は、増幅回路4で増幅された後、第1
および第2同期検波回路6、7に送られる。
【0004】第1同期検波回路6には、さらに移相器5
からの第1基準信号Vxが送られる。移相器5としては
SIN ・COS ポテンショメータが用いられており、発振回
路1の出力の位相が任意の角度回転された信号であって
かつ互いに90°の位相差をもつ制御信号Vx、Vyが
出力される。同期検波回路6は、増幅回路4の出力に含
まれる不要信号成分と被検査体状態信号のうち、不要信
号成分の影響を減少させるため、ならびに位相情報のx
成分を得るために、増幅回路4の出力を第1基準信号V
xで検波する。
【0005】第2同期検波回路7には、第1基準信号V
xと位相が90°異なる第2制御信号Vyが移相器5か
ら送られる。同期検波回路7は、被検査体状態信号のう
ち、位相情報のy成分を得るために、増幅回路4の出力
を第2基準信号Vyで検波する。各同期検波回路6、7
は、たとえばアナログ乗算器およびローパスフィルタか
ら、またはスイッチング回路およびローパスフィルタか
ら構成される。各同期検波回路6、7の出力は、ブラウ
ン管等の表示器8に送られ、被検査体状態信号が振幅位
相平面上に2次元的に表示される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の非破壊検査
装置では、ブリッジ回路3からの信号を連続的に処理し
ており、またアナログ信号処理を行っているため、次の
ような欠点がある。
【0007】(1) 同期検波回路6、7を、アナログ
乗算器およびローパスフィルタで構成した場合には、ア
ナログ乗算器は能動素子の非直線性を利用せざるをえな
いため、2つの入力信号のスペクトラムを四則演算した
高調波を必然的に発生し、計測誤差が生じる。
【0008】(2) 同期検波回路6、7を、スイッチ
ング回路およびローパスフィルタで構成した場合には、
スイッチングノイズが発生し、計測誤差が生じる。
【0009】(3) 表皮効果がコイルに印加される信
号の周波数によって異なるため、ブリッジ回路3に複数
の周波数信号が重畳された多重周波数信号を入力する装
置も開発されているが、その場合には、多重する周波数
の数に応じて同期検波回路6、7を増加させなければな
らず、コストが高くなるととともに消費電力が多くな
る。
【0010】(4) 同期検波回路6、7では、カット
オフ周波数の低い(例えば、1KHz以下)のローパス
フィルタによって、センサー駆動信号(発振回路1の出
力)および乗算器またはスイッチング回路により発生す
るノイズ成分を除去している。しかしながら、このよう
なフィルタを実現するためには、物理的に大きなインダ
クタが必要となり、装置が大型化する。特に、多重周波
数信号を用いる場合には、多数のフィルタが必要とな
り、物理的に、またインダクタの相互影響等により、実
装が困難になる。そこで、通常は、ローパスフィルタと
してアクティブフィルタが使用されているが、アクティ
ブフィルタを用いた場合には、使用するアンプの速度以
上の周波数が素通りしてしまい、ノイズを十分に減衰さ
せることが困難である。
【0011】(5) 被検査体状態信号は、傷の種類
(DENT、OUTER DEFECT、INNER
DEFECT、貫通孔等)によって位相が異なるが、従
来からの慣習としてDENTに対応する被検査体状態信
号が水平となるように被検査体状態信号を2次元的に表
示している。アナログ処理のみによって、この位相回転
を行うには、センサー信号(増幅回路4の出力)と乗算
を行う制御信号Vx、Vyを90°の位相差に保持した
ままセンサー信号との位相を連続的に変化させる必要が
あり、そのためにSIN ・COS ポテンショメータという特
殊な可変抵抗器を使用している。しかし、この可変抵抗
器は、どの位置でも常に正確に90°の位相差を保持し
ているとは限らず、表示器8に表示される図形を回転さ
せると図形自体が変化することがある。また、この可変
抵抗器は高価であり、特殊な技術で作られているため、
入手しにくいとともに個々の特性のばらつきが大きいと
いう問題がある。
【0012】この発明は、高精度化、高速化、小型化お
よび低廉化が図れる非破壊検査装置を提供することを目
的とする。
【0013】また、この発明は、リアクタンスを含む回
路の入力信号と出力信号との位相関係および上記出力信
号の振幅に関する情報を非常に簡単に求めることができ
る位相関係および振幅情報演算装置を提供することを目
的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】この発明による第1の非
破壊検査装置は、被検査体に渦電流を発生させることに
より被検査体の状態を検出する検知部、上記検知部に駆
動信号を供給する駆動手段、上記検知部の出力を所定期
間ごとに所定の複数のタイミングでディジタル値として
取り出すサンプリング手段、ならびに、サンプリング手
段によってサンプリングされたデータに基づいて、上記
検知部の出力信号と上記駆動信号との位相関係および上
記検知部の出力信号の振幅に関する情報を算出する演算
手段を備えていることを特徴とする。
【0015】上記検知部としては、たとえば、2つのコ
イルと、これらのコイルの出力電圧の差電圧を検出する
回路とを備えたものが用いられる。上記駆動信号として
は、正弦波交流等の交流信号の他、脈流信号を用いるこ
とができる。上記駆動手段としては、たとえば、駆動信
号の波形データを記憶する記憶手段および記憶手段に記
憶されている波形データをD/A変換する手段を備えた
ものが用いられる。上記サンプリング手段としては、た
とえば、検知部の出力をA/D変換し、上記検知部の出
力の所定区間ごとに上記検知部の出力の互いに90°+
m×180°(但し、mは整数)の時間差をもった2点
でのA/D変換データをラッチするサンプリング回路が
用いられる。上記演算手段としては、ディジタルシグナ
ルプロセッサ( Digital Signal Processor )を用いるこ
とが好ましい。演算手段によって算出された情報、すな
わち検知部の出力信号と駆動信号との位相関係および検
知部の出力信号の振幅に関する情報を表示する表示装置
を設けることが好ましい。
【0016】この発明による第2の非破壊検査装置は、
被検査体に渦電流を発生させることにより被検査体の状
態を検出する検知部、上記検知部に複数の周波数の信号
が重畳された多重周波数駆動信号を供給する駆動手段、
上記検知部の出力を上記多重周波数駆動信号の各周波数
ごとに分離して抽出する複数のフィルタ、上記各フィル
タごとに設けられかつ対応する上記フィルタの出力信号
を所定区間ごとに所定の複数のタイミングでディジタル
値として取り出す複数のサンプリング手段、ならびに、
上記各サンプリング手段によってサンプリングされたデ
ータに基づいて、上記各フィルタの出力信号と上記多重
周波数駆動信号に含まれている複数の周波数の駆動信号
のうち上記各フィルタの出力信号に対応する周波数の駆
動信号との位相関係および上記各フィルタの出力信号の
振幅に関する情報を算出する演算手段を備えていること
を特徴とする。
【0017】上記検知部としては、たとえば、2つのコ
イルと、これらのコイルの出力電圧の差電圧を検出する
回路とを備えたものが用いられる。上記駆動手段として
は、たとえば、多重周波数駆動信号波形データを記憶す
る記憶手段および記憶手段に記憶されている波形データ
をD/A変換する手段を備えたものが用いられる。上記
各サンプリング手段としては、たとえば、対応するフィ
ルタの出力をA/D変換し、対応するフィルタの出力の
所定区間ごとに対応するフィルタの出力の互いに90°
+m×180°(但し、mは整数)の時間差をもった2
点でのA/D変換データをラッチするサンプリング回路
が用いられる。上記演算手段としては、ディジタルシグ
ナルプロセッサ( Digital Signal Processor )を用いる
ことが好ましい。
【0018】また、演算手段によって算出された情報、
すなわち各フィルタの出力信号と多重周波数駆動信号に
含まれている複数の周波数の信号のうち各フィルタの出
力信号に対応する周波数の信号との位相関係および各フ
ィルタの出力信号の振幅に関する情報を表示する表示装
置を設けることが好ましい。
【0019】この発明による第3の非破壊検査装置は、
被検査体に渦電流を発生させるためのコイルを含む検知
部、上記検知部に複数の周波数の信号が重畳された多重
周波数駆動信号を供給する駆動手段、上記検知部の出力
をサンプリングするA/D変換手段、上記A/D変換手
段の出力を上記多重周波数駆動信号の各周波数ごとに分
離して抽出するディジタルフィルタ、ならびに上記ディ
ジタルフィルタによって分離抽出された各周波数のデジ
タル信号における所定区間ごとの所定の複数のタイミン
グでの値に基づいて、上記ディジタルフィルタによって
分離抽出された各周波数のディジタル信号と、上記多重
周波数駆動信号に含まれている複数の周波数の駆動信号
のうち上記ディジタル信号に対応する周波数の駆動信号
との位相関係および上記各周波数のディジタル信号の振
幅に関する情報を算出する演算手段を備えていることを
特徴とする。
【0020】上記検知部としては、たとえば、2つのコ
イルと、これらのコイルの出力電圧の差電圧を検出する
回路とを備えたものが用いられる。上記駆動手段として
は、たとえば、多重周波数駆動信号波形データを記憶す
る記憶手段および記憶手段に記憶されている波形データ
をD/A変換する手段を備えたものが用いられる。上記
演算手段は、たとえば、ディジタルフィルタによって分
離抽出された各周波数のデジタル信号における所定区間
ごとの互いに90°+m×180°(但し、mは整数)
の時間差をもった2点での値に基づいて、位相関係およ
び振幅に関する情報を演算する。上記演算手段として
は、ディジタルシグナルプロセッサ( Digital Signal P
rocessor )を用いることが好ましい。
【0021】また、演算手段によって算出された情報、
すなわち上記ディジタルフィルタによって分離抽出され
た各周波数のディジタル信号と、上記多重周波数駆動信
号に含まれている複数の周波数の駆動信号のうち上記デ
ィジタル信号に対応する周波数の駆動信号との位相関係
および上記各周波数のディジタル信号の振幅に関する情
報を表示する表示装置を設けることが好ましい。上記第
1〜第3の非破壊検査装置により演算された傷信号の情
報は、不揮発性のディジタル信号記録装置に記録される
場合が多い。
【0022】この発明による位相関係および振幅情報演
算装置は、リアクタンスを含む回路の入力信号と出力信
号との位相関係および上記出力信号の振幅に関する情報
を求める装置であって、上記出力信号を所定区間ごとに
所定の複数点のタイミングでディジタル値として取り出
すサンプリング手段ならびに上記サンプリング手段によ
ってサンプリングされたデータに基づいて、上記出力信
号と上記入力信号との位相関係および上記出力信号の振
幅に関する情報を算出する演算手段を備えていることを
特徴とする。
【0023】
【作用】この発明による第1の非破壊検査装置では、検
知部に駆動信号が供給されることにより検知部が駆動さ
れ、検知部から被検査体の状態に応じた信号が出力され
る。検知部の出力は、所定の区間ごとに所定の複数のタ
イミングでディジタル値として取り出される。そして、
取り出されたデータに基づいて、検知部の出力信号と駆
動信号との位相関係および検知部の出力信号の振幅に関
する情報が算出される。
【0024】この発明による第2の非破壊検査装置で
は、複数の周波数の信号が重畳された多重周波数駆動信
号が検知部に供給されることにより検知部が駆動され、
検知部から被検査体の状態に応じた信号が出力される。
検知部の出力は、多重周波数駆動信号の各周波数ごとに
設けられたフィルタによって、多重周波数駆動信号の各
周波数ごとに分離されて抽出される。各フィルタの出力
信号は、所定区間ごとに所定の複数のタイミングでディ
ジタル値として取り出される。そして、取り出されたデ
ータに基づいて、各フィルタの出力信号と多重周波数駆
動信号に含まれている複数の周波数の駆動信号のうち各
フィルタの出力信号に対応する周波数の駆動信号との位
相関係および各フィルタの出力信号の振幅に関する情報
が算出される。
【0025】この発明による第3の非破壊検査装置で
は、複数の周波数の信号が重畳された多重周波数駆動信
号が検知部に供給されることにより検知部が駆動され、
検知部から被検査体の状態に応じた信号が出力される。
検知部の出力は、A/D変換手段によってディジタル信
号に変換される。A/D変換手段の出力は、ディジタル
フィルタによって多重周波数駆動信号の各周波数ごとに
分離して抽出される。そして、ディジタルフィルタによ
って分離抽出された各周波数のデジタル信号における所
定区間ごとの所定の複数のタイミングでの値に基づい
て、ディジタルフィルタによって分離抽出された各周波
数のディジタル信号と、多重周波数駆動信号に含まれて
いる複数の周波数の駆動信号のうちディジタル信号に対
応する周波数の駆動信号との位相関係および各周波数の
ディジタル信号の振幅に関する情報が算出される。
【0026】この発明による位相関係および振幅情報演
算装置では、リアクタンスを含む回路の入力信号と出力
信号との位相関係および上記出力信号の振幅に関する情
報が次のようにして求められる。すなわち、リアクタン
スを含む回路の出力信号が所定区間ごとに所定の複数点
のタイミングでディジタル値として取り出される。そし
て、取り出されたデータに基づいて、リアクタンスを含
む回路の出力信号と入力信号との位相関係および出力信
号の振幅に関する情報が算出される。
【0027】
【実施例】以下、図1を参照して、この発明の実施例に
ついて説明する。
【0028】図1は、非破壊検査装置の構成を示してい
る。
【0029】非破壊検査装置は、DSP( Digital Sig
nal Processor ) 20によって制御される。DSP20
は、パーソナルコンピュータ等のホスト制御装置10に
接続されている。ホスト制御装置10は必要なデータお
よびシステム制御プログラムを記憶するRAM11、被
検査体状態信号を2次元的に表示する表示装置12、必
要なデータを入力するための入力装置(図示略)等を備
えている。DSP20は、そのプログラムを記憶するプ
ログラムRAM21、コイル駆動信号の波形データ、サ
ンプルタイミングデータ等を記憶するためのRAM22
およびRAM22からのデータの読出を制御するための
カウンタ23を備えている。カウンタ23にはクロック
信号CKが入力しており、クロック信号CKが入力され
るごとにカウンタ23からデータ読出アドレス指定信号
Sadrが出力される。
【0030】DSP20には、信号処理ユニット30が
接続されている。信号処理ユニット30には、プローブ
(PROBE)40が接続されている。この例では、プ
ローブ40は、試験コイルと比較コイルとを有する自己
誘導自己比較型コイルを備えたものが使用されている。
信号処理ユニット30は、RAM22に記憶されたコイ
ル駆動信号の波形データ(通常は多重周波数信号波形デ
ータ)をD/A変換するD/A変換回路31、D/A変
換回路31の出力から折返し歪を除去するローパスフィ
ルタ32、ローパスフィルタ32を通過した信号を増幅
してプローブ40の駆動信号として出力する増幅回路3
3、プローブ40の2つのコイルの出力信号の差信号を
被検査体状態信号として抽出するための差動増幅回路3
4、差動増幅回路34の出力が入力され多重周波数信号
の周波数ごとに被検査体状態信号を抽出する複数のバン
ドパスフィルタ35、各バンドパスフィルタ35の出力
をA/D変換する複数のA/D変換回路36を備えてい
る。なお、アナログ電圧をサンプロホールドし、その出
力をマルチプレクスすることにより、A/D変換器の個
数を減らすこともできる。この例では、プローブ40の
駆動信号としてn個の周波数f1 、f2 …fn の信号が
重畳された多重信号が用いられる。
【0031】次に、上記回路による傷の検出原理につい
て説明する。傷の検出に必要な情報は、プローブ40に
供給される多重周波数信号の各周波数信号について、被
検査体状態信号の振幅と、被検査体状態信号のプローブ
駆動信号に対する位相差である。これらの情報は、被検
査体状態信号の所要周期範囲内において、2点の瞬時値
をサンプリングすることにより得られる。いま、あるフ
イルタ35から抽出された信号の周波数をf、2点のサ
ンプリング間隔をΔとして、2点のサンプリングデータ
をd1(t)およびd2(t)とすると、d1(t)お
よびd2(t)は、次の数式1および数式2で表され
る。
【0032】
【数1】 d1(t)=A(t)sin(2πft+ψ(t))
【0033】
【数2】d2(t)=A(t)sin(2πft+ψ
(t)+Δ)
【0034】上記数式1および数式2におけるψ(t)
は、プローブ40の駆動信号に対して被検査体状態信号
の位相が変化した位相角である。各サンプリングデータ
d1(t)およびd2(t)とサンプリング間隔Δと、
数式1および2とに基づいて、被検査体状態信号の振幅
A(t)と、被検査体状態信号のプローブ40の駆動信
号に対する位相差ψ(t)が求められる。
【0035】実際には、被検査体状態信号の振幅位相平
面でのX座標成分(A(t)cosψ(t))およびY
座標成分(A(t)sinψ(t))を得るために、サ
ンプリング間隔Δとしては(m×180°)(但し、m
は整数)以外の所定の角度が設定される。具体的には、
サンプリング間隔Δとしては、たとえば、(90°+m
×180°)(但し、mは整数)に近似した値が設定さ
れる。そして、次の数式3の行列により、被検査体状態
信号の振幅位相平面での(A(t)cosψ(t))お
よびY座標成分(A(t)sinψ(t))が求められ
る。
【0036】
【数3】
【0037】次に、図1の回路の動作について説明す
る。まず、ホスト制御装置10の入力装置、例えば、フ
ロッピーディスク、ハードディスク等に記憶されている
DSP20のプログラムが、プログラムRAM21に入
力される。この際、プローブ40の駆動信号として用い
るべき信号の周波数データ、各周波数ごとのサンプルタ
イミングに関するデータ(たとえば、所定周期間隔にお
ける位相が互いにΔ異なる2点の位相角)等が入力され
る。これらのデータは、プログラムRAM21に送られ
て記憶される。
【0038】そして、測定開始信号が入力されると、D
SP20による処理が開始される。この処理において
は、まず、プローブ40の駆動信号として用いるべき信
号の波形データDaが周波数データにより演算されてR
AM22に書き込まれる。また、各周波数ごとのサンプ
ルタイミングに関するデータDsが波形データと関連し
てRAM22に書き込まれる。
【0039】RAM22への波形データDaおよびサン
プルタイミングデータDsの書込みの具体例について説
明する。ここでは、説明の便宜上、プローブ40の駆動
信号として用いるべき信号が、単一周波数の正弦波交流
信号(Asinθ)であり、交流駆動信号のサンプルタ
イミングに対応する角度θが、(0°+n×360°)
(但し、nは整数)と(90°+n×360°)(但
し、nは整数)であるとする。駆動信号の交流波形の瞬
時値のデータDa(θ)が、所定角度、たとえば1°ご
とにRAM22内の記憶エリアのアドレスの低いものか
ら順に記憶される。また、サンプリングタイミングに対
応する瞬時値データDa(0°+n×360°)および
Da(90°+n×360°)がそれぞれ記憶されてい
るRAM22のエリアにサンプリングタイミングである
ことを示すデータDsが記憶される。
【0040】このように、瞬時値のデータDa(θ)と
サンプリングタイミングであることを示すデータDsと
をRAM22内の同一アドレスに書き込むには、たとえ
ば、RAM22の1つのアドレスエリアに記憶されうる
1語のビット数うちの上位数ビットをサンプリングタイ
ミングであることを示すデータDsに割当て、それより
も下位の数ビットを瞬時値のデータDa(θ)に割り当
てることが考えられる。このようにした場合のRAM2
2の内容を図2に示す。
【0041】プローブ40の駆動信号として用いるべき
信号が、複数の周波数の交流信号が重畳された多重信号
である場合には、多重信号の波形の瞬時値データがRA
M22に記憶されるとともに、多重信号に含まれる複数
の周波数ごとの交流信号についてのサンプルタイミング
に関するデータが多重信号の波形の瞬時値データに関連
して記憶される。
【0042】RAM22に書き込まれたプローブ40の
駆動信号波形データDa(θ)およびサンプリングタイ
ミングであることを示すデータDsは、カウンタ23か
ら出力される読出アドレス指定信号SadrがRAM2
2に入力されるごとにRAM22の記憶エリアのアドレ
スの低いものから順に読み出される。読み出された駆動
信号波形データDa(θ)は、D/A変換回路31に送
られてD/A変換される。読み出されたサンプリングタ
イミングであることを示すデータDsは、各A/D変換
回路36にデータラッチタイミング信号として送られ
る。
【0043】D/A変換回路31の出力はローパスフィ
ルタ32に送られ、折返し歪が除去される。ローパスフ
ィルタ32の出力は、増幅回路33によって増幅された
後、試験コイルと比較コイルとの2つのコイルを有する
プローブ40に送られる。
【0044】プローブ40からの信号は、差動増幅回路
34に送られ、2つのコイルの出力の差信号が被検査体
状態信号として抽出される。差動増幅回路34の出力
は、多重周波数信号の各周波数ごとに設けられたバンド
パスフィルタ35にそれぞれ送られ、多重周波数信号の
周波数ごとに被検査体状態信号が分離される。各バンド
パスフィルタ35から出力される周波数ごとの被検査体
状態信号は、各バンドパスフィルタ35ごとに設けられ
たA/D変換回路36に送られる。
【0045】各A/D変換回路36は、入力信号をA/
D変換し、RAM22からデータラッチタイミング信号
が送られてくるごとにA/D変換データをA/D変換回
路36内のラッチ回路に所定のタイミングでラッチさせ
る。これにより、各A/D変換回路36の入力信号の所
要区間ごとに位相がΔ離れた2つの時点でのA/D変換
データがサンプリングされる。
【0046】DSP20は、各A/D変換回路36ごと
に、ラッチされた位相が互いにΔ異なる2つのサンプリ
ングデータに基づいて、上記数式3を用いて、被検査体
状態信号の振幅位相平面でのX座標成分およびY座標成
分を演算し、その演算結果データをホスト制御装置10
に送る。ホスト制御装置10は、送られてきた被検査体
状態信号の振幅位相平面でのX座標成分およびY座標成
分のデータをRAM11に記憶させるとともにこれらの
データに基づいて表示装置12に被検査体状態信号を2
次元表示させる。
【0047】上記実施例によれば、多重信号に含まれる
各周波数ごとの各被検査体状態信号の所要区間ごとに位
相がΔ離れた2つの時点での被検査体状態信号の瞬時値
をディジタル値として取り出し、取り出したこれらのサ
ンプリングデータに基づいて被検査体状態信号の振幅位
相平面でのX座標成分およびY座標成分をディジタル的
に演算しているので、従来のような同期検波回路および
移相器が不要となる。このため、従来の同期検波回路で
用いられていた乗算器またはスイッチング回路において
発生していたノイズは原理的に発生しなくなる。また、
DENTに対応する被検査体状態信号が水平となるよう
に被検査体状態信号を表示するための位相回転もディジ
タル的に演算処理によって行えるので、従来の移相器と
して用いられていたSIN ・COS ポテンショメータという
特殊な可変抵抗器を用いずに済み、コストの低廉化およ
び測定精度の向上化が図れる。
【0048】また、従来の同期検波回路で用いられてい
たカットオフ周波数の低い(1KHz以下)ローパスフ
ィルタが不要となるので、装置が大型化したり、ノイズ
を十分に減衰できないといった問題も生じない。
【0049】上記実施例では、プローブ40の交流駆動
信号として複数の周波数の交流信号が重畳された多重周
波数信号が用いられているが、単一の周波数の交流信号
を用いてもよい。この場合には、A/D変換回路36を
一つ設ければよい。また、この場合には、バンドパスフ
ィルタ35は1つ設けてもよいし、設けなくてもよい。
さらに、複数の周波数の交流信号を時分割してプローブ
40に供給してもよい。この場合には、バンドパスフィ
ルタ35は不要となり、A/D変換回路36も1つで足
りる。
【0050】また、差動増幅回路34の出力を、まず、
折り返し誤差を防止するローパスフィルタを通した後、
直ちにA/D変換回路によってA/D変換し、A/D変
換回路の出力をディジタルフィルタによって多重周波数
駆動信号の各周波数ごとに分離して抽出し、ディジタル
フィルタによって分離抽出された各周波数のディジタル
信号を用いて交流信号の振幅と位相とを演算するように
してもよい。
【0051】上記実施例では、プローブ40の交流駆動
信号は、RAM22に書き込まれた交流駆動信号波形デ
ータをD/A変換することにより発生させているが、た
とえばPLL等の発振器によってプローブ40の交流駆
動信号を発生させるようにしてもよい。この場合には、
発振器の位相情報がDPS20により検知されていれば
よい。
【0052】また、上記実施例では、差動増幅回路34
によって2つのコイルの発生電圧の差信号を得ている
が、2つのコイルの発生電圧をA/D変換した後に、減
算を行って2つのコイルの発生電圧の差信号を得るよう
にしてもよい。
【0053】
【発明の効果】この発明による非破壊検査装置によれ
ば、高精度化、高速化、小型化および低廉化が図れる。
【0054】この発明による位相関係および振幅情報演
算装置によれば、リアクタンスを含む回路の入力信号と
出力信号との位相関係および上記出力信号の振幅に関す
る情報を非常に簡単に求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】非破壊検査装置の構成示す電気ブロック図であ
る。
【図2】RAM22の内容を示す模式図である。
【図3】非破壊検査装置の従来を示す電気ブロック図で
ある。
【符号の説明】
10 ホスト制御装置 11 RAM 12 表示装置 20 DSP 21 プログラムRAM 22 RAM 30 信号処理ユニット 31 D/A変換回路 36 A/D変換回路 40 プローブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斎藤 伸治 大阪府池田市石橋4丁目2番10号 (72)発明者 立花 直治 兵庫県神戸市北区北五葉5丁目14番7号

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被検査体に渦電流を発生させることによ
    り被検査体の状態を検出する検知部、 上記検知部に駆動信号を供給する駆動手段、 上記検知部の出力を所定期間ごとに所定の複数のタイミ
    ングでデジタル値として取り出すサンプリング手段、な
    らびに、 サンプリング手段によってサンプリングされたデータに
    基づいて、上記検知部の出力信号と上記駆動信号との位
    相関係および上記検知部の出力信号の振幅に関する情報
    を算出する演算手段、 を備えている非破壊検査装置。
  2. 【請求項2】 上記検知部が2つのコイルと、これらの
    コイルの出力電圧の差電圧を検出する回路とを備えてい
    ることを特徴とする請求項1記載の非破壊検査装置。
  3. 【請求項3】 上記駆動手段が上記駆動信号の波形デー
    タを記憶する記憶手段および上記記憶手段に記憶されて
    いる上記波形データを駆動信号に変換する手段を備えて
    いることを特徴とする請求項1記載の非破壊検査装置。
  4. 【請求項4】 上記サンプリング手段は、上記検知部の
    出力をA/D変換し、上記検知部の出力の所定区間ごと
    に上記検知部の出力の互いに90°+m×180°(但
    し、mは整数)の時間差をもった2点でのA/D変換デ
    ータをラッチするサンプリング回路であることを特徴と
    する請求項1記載の非破壊検査装置。
  5. 【請求項5】 上記演算手段が、ディジタルシグナルプ
    ロセッサであることを特徴とする請求項1記載の非破壊
    検査装置。
  6. 【請求項6】 上記演算手段によって算出された情報を
    表示する表示装置を備えている請求項1記載の非破壊検
    査装置。
  7. 【請求項7】 被検査体に渦電流を発生させることによ
    り被検査体の状態を検出する検知部、 上記検知部に複数の周波数の信号が重畳された多重周波
    数駆動信号を供給する駆動手段、 上記検知部の出力を上記多重周波数駆動信号の各周波数
    ごとに分離して抽出する複数のフィルタ、 上記各フィルタごとに設けられかつ対応する上記フィル
    タの出力信号を所定区間ごとに所定の複数のタイミング
    でデジタル値として取り出す複数のサンプリング手段、
    ならびに、 上記各サンプリング手段によってサンプリングされたデ
    ータに基づいて、上記各フィルタの出力信号と上記多重
    周波数駆動信号に含まれている複数の周波数の駆動信号
    のうち上記フィルタの出力信号に対応する周波数の駆動
    信号との位相関係および上記各フィルタの出力信号の振
    幅に関する情報を算出する演算手段、 を備えている非破壊検査装置。
  8. 【請求項8】 上記検知部が2つのコイルと、これらの
    コイルの出力電圧の差電圧を検出する回路とを備えてい
    ることを特徴とする請求項7記載の非破壊検査装置。
  9. 【請求項9】 上記駆動手段が上記多重周波数駆動信号
    の波形データを記憶する記憶手段および上記記憶手段に
    記憶されている上記波形データを駆動信号に変換する手
    段を備えていることを特徴とする請求項7記載の非破壊
    検査装置。
  10. 【請求項10】 上記各サンプリング手段は、対応する
    上記フィルタの出力をA/D変換し、上記フィルタの出
    力の所定区間ごとに上記フィルタの出力の互いに90°
    +m×180°(但し、mは整数)の時間差をもった2
    点でのA/D変換データをラッチするサンプリング回路
    であることを特徴とする請求項7記載の非破壊検査装
    置。
  11. 【請求項11】 上記演算手段が、ディジタルシグナル
    プロセッサであることを特徴とする請求項7記載の非破
    壊検査装置。
  12. 【請求項12】 上記演算手段によって算出された情報
    を表示する表示装置を備えている請求項7記載の非破壊
    検査装置。
  13. 【請求項13】 被検査体に渦電流を発生させるための
    コイルを含む検知部、 上記検知部に複数の周波数の信号が重畳された多重周波
    数駆動信号を供給する駆動手段、 上記検知部の出力をサンプリングするA/D変換手段、 上記A/D変換手段の出力を上記多重周波数駆動信号の
    各周波数ごとに分離して抽出するディジタルフィルタ、
    ならびに、 上記ディジタルフィルタによって分離抽出された各周波
    数のデジタル信号における所定区間ごとの所定の複数の
    タイミングでの値に基づいて、上記ディジタルフィルタ
    によって分離抽出された各周波数のディジタル信号と、
    上記多重周波数駆動信号に含まれている複数の周波数の
    駆動信号のうち上記ディジタル信号に対応する周波数の
    駆動信号との位相関係および上記各周波数のディジタル
    信号の振幅に関する情報を算出する演算手段、 を備えている非破壊検査装置。
  14. 【請求項14】 上記検知部が2つのコイルと、これら
    のコイルの出力電圧の差電圧を検出する回路とを備えて
    いることを特徴とする請求項13記載の非破壊検査装
    置。
  15. 【請求項15】 上記駆動手段が上記多重周波数駆動信
    号の波形データを記憶する記憶手段および上記記憶手段
    に記憶されている上記波形データを駆動信号に変換する
    手段を備えていることを特徴とする請求項13記載の非
    破壊検査装置。
  16. 【請求項16】 上記演算手段は、上記ディジタルフィ
    ルタによって分離抽出された各周波数のデジタル信号に
    おける所定区間ごとの互いに90°+m×180°(但
    し、mは整数)の時間差をもった2点での値に基づい
    て、上記位相関係および振幅に関する情報を演算するも
    のであることを特徴とする請求項13記載の非破壊検査
    装置。
  17. 【請求項17】 上記演算手段が、ディジタルシグナル
    プロセッサであることを特徴とする請求項13記載の非
    破壊検査装置。
  18. 【請求項18】 上記演算手段によって算出された情報
    を表示する表示装置を備えている請求項13記載の非破
    壊検査装置。
  19. 【請求項19】 リアクタンスを含む回路の入力信号と
    出力信号との位相関係および上記出力信号の振幅に関す
    る情報を求める装置であって、上記出力信号を所定区間
    ごとに所定の複数点のタイミングでディジタル値として
    取り出すサンプリング手段ならびに上記サンプリング手
    段によってサンプリングされたデータに基づいて、上記
    出力信号と上記入力信号との位相関係および上記出力信
    号の振幅に関する情報を算出する演算手段を備えている
    位相関係および振幅情報演算装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1767932A1 (de) * 2005-09-23 2007-03-28 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung von Bauteilen
JP2007511742A (ja) * 2003-09-19 2007-05-10 オートモーティブ システムズ ラボラトリー インコーポレーテッド 磁気式衝突センサ
JP2012189486A (ja) * 2011-03-11 2012-10-04 Hitachi Engineering & Services Co Ltd 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法

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JP2012189486A (ja) * 2011-03-11 2012-10-04 Hitachi Engineering & Services Co Ltd 渦電流探傷装置および渦電流探傷方法

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