JPH06100553B2 - Defect detection device - Google Patents

Defect detection device

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JPH06100553B2
JPH06100553B2 JP2328490A JP2328490A JPH06100553B2 JP H06100553 B2 JPH06100553 B2 JP H06100553B2 JP 2328490 A JP2328490 A JP 2328490A JP 2328490 A JP2328490 A JP 2328490A JP H06100553 B2 JPH06100553 B2 JP H06100553B2
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defect
light
light beam
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test sheet
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直生 森
昌夫 猿山
潤 鳥飼
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Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> この発明は、走行している合成樹脂フィルム等の被検シ
ートの表面や内部に存在している欠陥を検出する装置に
関する。
The present invention relates to an apparatus for detecting defects existing on the surface or inside a test sheet such as a running synthetic resin film.

<従来の技術> 合成樹脂フィルム等の表面や内部に存在している欠陥を
検出する装置としては、従来、投光部を用いて被検シー
トの一面に光ビームを走査し、欠陥によって散乱、拡散
された光ビームを受光部で受光して欠陥の有無、大きさ
等を判別するようにした装置が数多く提案されている。
そうして、そのような装置のなかで、被検シートの走行
方向と一致して延びる細長い欠陥、たとえば、製造工程
で使用される各種のロールによるすり傷でも検出できる
ようにしたものとして、特開昭64−66548号公報や特開
昭64−84139号公報に記載された装置がある。
<Prior Art> As a device for detecting a defect existing on the surface or inside of a synthetic resin film or the like, conventionally, a light beam is used to scan one surface of a sheet to be inspected and scattered by the defect. Many devices have been proposed in which a diffused light beam is received by a light receiving section to determine the presence / absence, size, etc. of a defect.
Then, in such an apparatus, it is possible to detect even an elongated defect extending in the running direction of the test sheet, for example, scratches caused by various rolls used in the manufacturing process. There are devices described in Japanese Laid-Open Patent Publication No. 64-66548 and Japanese Laid-Open Patent Publication No. 64-84139.

特開昭64−66548号公報に記載された装置は、1個の凹
面鏡と平面鏡との組み合せによって、また、特開昭64−
84139号公報に記載された装置は、2個の凹面鏡の組み
合せによって、それぞれ、被検シートの欠陥で散乱、拡
散されることなくその被検シートを透過した光ビームが
常にある一定を通るようにし、その一点の周りに分布す
る、被検シートの欠陥による散乱、拡散光を受光して解
析することによって、欠陥の有無や大きさ等を知ること
ができるようにしたものである。ところが、これら従来
の装置には、実用上、非常に困難な問題が存在する。
The apparatus described in Japanese Patent Laid-Open No. 64-66548 is a combination of a concave mirror and a plane mirror, and is also known in Japanese Patent Laid-Open No. 64-6484.
The device described in Japanese Patent No. 84139 uses a combination of two concave mirrors so that the light beam transmitted through the test sheet always passes through a certain level without being scattered or diffused by the defects of the test sheet. The presence / absence and size of a defect can be known by receiving and analyzing light scattered and diffused by the defect of the test sheet distributed around the one point. However, these conventional devices have a very difficult problem in practical use.

その一つは、これらの装置は、いずれも、凹面鏡や平面
鏡、すなわち反射鏡を用いるものであるため、検出中、
投光部から受光部に至る光学系の位置関係を極めて高精
度に保っておかなければならないということである。光
学系がわずかにずれても、光路のずれは大きくなり、場
合によっては、走査された光ビームそのものが受光部に
入射して、被検シートに欠陥があるものと誤判断してし
まうからである。したがって、使用時には外部からの振
動を遮断する必要があり、オン・ラインで使用する装置
としては実用的でない。また、歪が極めて少ない高精度
の光学部品を使用する必要があるが、そのような光学部
品は製作が困難であるか、製作できても極めて高価なも
のになる。たとえば、凹面鏡は、少なくとも検出幅より
も長いものを高精度で製作する必要があるが、被検シー
トの幅は数メートルにも及ぶものがあり、そのような被
検シート幅に対応し得る大型の凹面鏡を高精度で製作す
ることは、極めて難しい。
One of them is that these devices all use a concave mirror or a plane mirror, that is, a reflecting mirror, so during detection,
This means that the positional relationship of the optical system from the light projecting section to the light receiving section must be maintained with extremely high accuracy. Even if the optical system slightly shifts, the shift of the optical path becomes large, and in some cases, the scanned light beam itself enters the light receiving part, and it is mistakenly determined that the inspection sheet has a defect. is there. Therefore, it is necessary to block external vibration during use, which is not practical as an apparatus used on-line. Further, it is necessary to use a highly accurate optical component with extremely small distortion, but such an optical component is difficult to manufacture, or even if it can be manufactured, it is extremely expensive. For example, a concave mirror needs to be manufactured with high precision at least longer than the detection width, but the width of a test sheet can be several meters, and a large size that can accommodate such a test sheet width. It is extremely difficult to manufacture the concave mirror of the above with high precision.

上述した従来の装置のもう一つの問題は、投光部から受
光部に至る光路上に反射鏡を設置しているため、検出精
度に関して信頼性が低いということである。すなわち、
反射鏡に微細な塵、ほこり等が付着し、それによって光
ビームが散乱、拡散されてしまうと、受光部に検出信号
が現われても、それが被検シートの欠陥によるものか、
塵やほこり等の影響によるものか、区別することができ
ない。
Another problem of the above-described conventional device is that the reflecting mirror is installed on the optical path from the light projecting unit to the light receiving unit, so that the detection accuracy is low. That is,
If fine dust, dust, etc. adhere to the reflector and the light beam is scattered and diffused by it, even if a detection signal appears in the light receiving part, whether it is due to a defect in the test sheet,
It cannot be distinguished whether it is due to the influence of dust or dust.

<発明が解決しようとする課題> この発明の目的は、従来の装置の上述した問題点を解決
し、被検シートの走行方向と一致している細長い欠陥で
も検出することができるのはもちろんのこと、構成が簡
単で、しかも、検出精度が高い欠陥検出装置を提供する
にある。
<Problems to be Solved by the Invention> It is needless to say that the object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the conventional device and to detect even an elongated defect that coincides with the traveling direction of the test sheet. That is, it is to provide a defect detection device having a simple structure and high detection accuracy.

<課題を解決するための手段> 上記目的を達成するために、この発明は、走行中の被検
シートの欠陥を検出する装置であって、走行している被
検シートの一面に、光ビームを、その被検シートの走行
方向と直交する方向に対して角度θ(0°<θ<90°)
で走査する投光部と、上記被検シートの一面または他面
に対向し、かつ、走査された上記光ビームの主ビームが
入射しない位置に設けた、上記光ビームの、上記被検シ
ートの欠陥による拡散光を受光する受光部と、上記受光
部に接続して設けた、上記受光部の出力から上記欠陥を
判別するデータ処理部と、を備えていることを特徴とす
る欠陥検出装置を提供する。上記の角度θ(θは正でも
負でもよい)は、好ましくは15°〜60°である。また、
光ビームの走査軌跡上で、かつ、検出幅の外に、光ビー
ムの走査基準位置を検出する手段を設けることもある。
<Means for Solving the Problems> In order to achieve the above object, the present invention is an apparatus for detecting a defect of a running test sheet, wherein a light beam is provided on one surface of the running test sheet. At an angle θ (0 ° <θ <90 °) with respect to the direction orthogonal to the running direction of the test sheet.
Of the light beam, which is provided at a position facing the one surface or the other surface of the sheet to be inspected and which does not enter the main beam of the scanned light beam, of the sheet to be inspected. A defect detecting device comprising: a light receiving unit that receives diffused light due to a defect; and a data processing unit that is connected to the light receiving unit and that determines the defect from the output of the light receiving unit. provide. The angle θ (θ may be positive or negative) is preferably 15 ° to 60 °. Also,
A means for detecting the scanning reference position of the light beam may be provided on the scanning locus of the light beam and outside the detection width.

上記において、投光部は、光源や光ビームの走査器、そ
れらと組み合わされる光学レンズ等で構成される。光源
としては、通常、レーザー光源を用いる。また、光ビー
ムの走査器としては、通常、ポリゴンミラーを用いる。
In the above, the light projecting unit is composed of a light source, a light beam scanner, an optical lens combined with them, and the like. A laser light source is usually used as the light source. A polygon mirror is usually used as the light beam scanner.

光ビームの主ビームとは、被検シートに指向された光ビ
ームのうち、被検シートによって散乱、拡散されること
なくその被検シートを透過し、または、被検シートによ
って反射された光ビームである。
The main beam of a light beam is a light beam, which is a light beam directed to a test sheet, that passes through the test sheet without being scattered or diffused by the test sheet, or is reflected by the test sheet. Is.

投光部は、光ビームを、被検シートの走行方向と直交す
る方向に対して角度θほど傾いた方向に走査することが
できるものである。この傾きの角度θは、原理的には、
0°でなければよい。しかしながら、実用上は、あまり
0°に近くなると検出信号が小さくなり、かつ、欠陥の
方向の微妙なずれで検出信号が得られなくなることがあ
るので、5°以上とするのがよい。十分に大きな信号を
安定して得るためには、15°以上であるのがよい。一
方、90°に近くなると、被検シートを順次走査する操作
が難しくなるので、80°以下、好ましくは60°以下にす
るのが適当である。このような範囲において、検出した
い欠陥の性状、受光部の構成等に応じて選定する。
The light projecting unit can scan the light beam in a direction inclined by an angle θ with respect to a direction orthogonal to the traveling direction of the test sheet. The angle θ of this inclination is, in principle,
It need not be 0 °. However, in practice, if the angle is too close to 0 °, the detection signal becomes small, and the detection signal may not be obtained due to a slight deviation in the direction of the defect. In order to obtain a sufficiently large signal stably, it is preferable that the angle be 15 ° or more. On the other hand, when the angle is close to 90 °, it becomes difficult to sequentially scan the test sheet. Therefore, it is appropriate to set the angle to 80 ° or less, preferably 60 ° or less. In such a range, it is selected according to the nature of the defect to be detected, the configuration of the light receiving section, and the like.

受光部としては、1個または複数個の、フォトダイオー
ド、CCD(Charge Coupled Device)、光電子増倍管等の
光電変換素子を使用することができる。また、光ファイ
バーや光ロッド等の導光物体の端面または側面に上記の
光電変換素子を配置した構成とすることができる。
As the light receiving section, one or a plurality of photoelectric conversion elements such as a photodiode, CCD (Charge Coupled Device), and photomultiplier can be used. Further, the photoelectric conversion element may be arranged on the end surface or side surface of a light guide object such as an optical fiber or an optical rod.

受光部は、被検シートに対向して、投光部とは反対側
か、または、同じ側に設置される。被検シートを透過す
る光のほうが多いときには前者を、反射される光のほう
が多いときには後者を、それぞれ採用する。両側に設置
してもよい。
The light receiving unit is installed opposite to the light projecting unit or on the same side as the sheet to be inspected. The former is adopted when more light is transmitted through the test sheet, and the latter is adopted when more light is reflected. May be installed on both sides.

受光部は、また、被検シートを透過し、または、被検シ
ートによって反射された光ビームの主ビームが入射しな
い位置に設置される。
The light receiving section is also installed at a position where the main beam of the light beam transmitted through the test sheet or reflected by the test sheet does not enter.

データ処理部は、受光部の出力に基いて、被検シートの
欠陥の有無や、必要に応じて欠陥の程度、大きさ、位置
等を判定するための、受光部の出力がある値よりも大き
いか否かを判定する比較回路や、クロックパルス発生
器、クロックカウンタ、信号増幅器等からなっている。
このデータ処理部は、マイクロコンピュータにその機能
をもたせることができる。
The data processing unit, based on the output of the light receiving unit, determines whether or not there is a defect in the sheet to be inspected, and if necessary, determines the degree, size, position, etc. of the defect, rather than a certain value of the output of the light receiving unit. It is composed of a comparison circuit for judging whether or not it is large, a clock pulse generator, a clock counter, a signal amplifier and the like.
This data processing unit can make the microcomputer have its function.

光ビームの走査基準位置を検出する手段は、光ビームの
走査軌跡上で、かつ、検出幅の外に設置される。この手
段は、通常、上述した光電変換素子で構成されるが、被
検シートの側縁(エッジ)を光ビームが通ったときに受
光部に現われる信号を利用するようにしてもよい。
The means for detecting the scanning reference position of the light beam is installed on the scanning trajectory of the light beam and outside the detection width. This means is usually composed of the above-mentioned photoelectric conversion element, but it is also possible to use the signal appearing in the light receiving portion when the light beam passes through the side edge of the test sheet.

さて、よく知られているように、光を透過または反射す
るシート上の細長い欠陥に光ビームを照射したとき、欠
陥の性状が屈折性であっても遮光性であっても拡散光を
生ずるが、その拡散光は、ほとんどが欠陥の長手方向に
対して直交する面内に広がり、その他の方向にはほとん
ど分布しない。したがって、欠陥の長手方向に対して直
交する面内において光量の変動を観測すれば、上記の欠
陥を容易に検出できる。
As is well known, when an elongated defect on a sheet that transmits or reflects light is irradiated with a light beam, diffused light is generated regardless of whether the defect is refractive or light-shielding. , Most of the diffused light spreads in a plane orthogonal to the longitudinal direction of the defect and is hardly distributed in other directions. Therefore, the above defect can be easily detected by observing the fluctuation of the light amount in the plane orthogonal to the longitudinal direction of the defect.

一方、走行している被検シートの欠陥を光ビームの走査
によって検出する装置においては、光ビームの走査方向
を被検シートの走行方向に対して直交する方向に設定す
るのが常識である。これは、光ビームの走査幅を最小に
することができるために光学系の設計が容易になること
と、比較的大きな欠陥のみを検出すればよい場合には、
拡散光の観測ではなく、透過または反射後の主ビームの
光量変化を観測することで十分であるという理由によ
る。しかしながら、拡散光の観測なしに検出できないよ
うな細長く微細な欠陥の場合、光ビームの走査方向と直
交する欠陥では、その欠陥による拡散光が広がる面と光
ビームとが一致することになる。すなわち、被検シート
の走行方向と直交する方向に光ビームを走査すると、走
行方向に細長い欠陥による拡散光は、主ビームに影響さ
れて非常に検出しにくくなる。しかるに、被検シート
に、その製造工程において各種のロール等でこすられて
できる傷等の欠陥は、微細な細長い欠陥の代表的なもの
であるが、それは、生成過程からして走査方向と一致し
て細長いものである。したがって、そのような欠陥を精
度よく検出するためには、光ビームの走査方向を、常識
的な、被検シートの走査方向に対して直交する方向から
傾けたほうがよい。この場合でも、光ビームの走査方向
と直交する方向の欠陥の検出は難しいが、あらゆる方向
の欠陥を検出したいときには、2台の装置を異なる2方
向において設置すればよい。
On the other hand, in an apparatus that detects a defect of a running inspection sheet by scanning a light beam, it is common sense to set the scanning direction of the light beam to a direction orthogonal to the traveling direction of the inspection sheet. This is because the scanning width of the light beam can be minimized, which facilitates the design of the optical system, and when only a relatively large defect needs to be detected,
This is because it is sufficient to observe the change in the amount of light of the main beam after transmission or reflection, not observation of diffused light. However, in the case of an elongated fine defect that cannot be detected without observing the diffused light, in the defect orthogonal to the scanning direction of the light beam, the surface where the diffused light spreads due to the defect coincides with the light beam. That is, when the light beam is scanned in a direction orthogonal to the traveling direction of the sheet to be inspected, the diffused light due to the elongated defect in the traveling direction is affected by the main beam and is very difficult to detect. However, defects such as scratches formed on the test sheet by rubbing it with various rolls in the manufacturing process are typical of fine and elongated defects, but they are inconsistent with the scanning direction from the generation process. It is a long and slender one. Therefore, in order to detect such a defect with high accuracy, it is better to incline the scanning direction of the light beam from a common sense direction orthogonal to the scanning direction of the sheet to be inspected. Even in this case, it is difficult to detect a defect in a direction orthogonal to the scanning direction of the light beam, but when it is desired to detect a defect in any direction, two devices may be installed in two different directions.

<作用> 投光部によって被検シート上に指向、走査された光ビー
ムは、その被検シートに欠陥が存在しなければ、そのま
ま透過または反射し、受光部には入射しない。したがっ
て、受光部に出力は現れない。
<Operation> The light beam directed and scanned on the inspection sheet by the light projecting portion is transmitted or reflected as it is and does not enter the light receiving portion unless the inspection sheet has a defect. Therefore, no output appears at the light receiving portion.

これに対して、被検シートに欠陥が存在するときは、欠
陥に光ビームが照射されると、欠陥の長手方向と直交す
る面内に光が拡散し、その一部が受光部に入射し、受光
部に出力が現れるようになる。
On the other hand, when the inspection sheet has a defect, when the defect is irradiated with a light beam, the light is diffused in a plane orthogonal to the longitudinal direction of the defect, and a part of the light is incident on the light receiving unit. , The output will appear on the light receiving part.

そこで、受光部の出力をデータ処理部に入力し、欠陥の
有無や、その他、必要に応じて、欠陥の程度、大きさ、
位置等を判定する。すなわち、受光部の出力を、あらか
じめ定めるか、または、受光部の出力の移動平均等によ
って緩やかに変動するスレッショルドレベルと比較し、
それよりも大きい圧力が現われたときに欠陥が存在する
ものと判定する。また、出力のピーク値で欠陥の程度を
判定し、持続時間で欠陥の大きさを判定することができ
る。さらに、クロックカウンタの値と、クロックパルス
の周期および光ビームの走査速度とから光ビームの走査
方向における位置を求め、光ビームの走査回数と、光ビ
ームの走査周期および被検シートの走行速度とから、被
検シートの走行方向における位置を求めれば、欠陥の位
置を知ることができる。
Therefore, the output of the light receiving unit is input to the data processing unit, and the presence / absence of a defect, and the degree of defect, size,
Determine the position etc. That is, the output of the light receiving unit is determined in advance, or compared with a threshold level that gently changes depending on the moving average of the output of the light receiving unit,
A defect is determined to be present when a higher pressure appears. Further, it is possible to judge the degree of the defect by the peak value of the output and the size of the defect by the duration. Further, the position in the scanning direction of the light beam is obtained from the value of the clock counter, the period of the clock pulse, and the scanning speed of the light beam, and the number of times the light beam is scanned, the scanning period of the light beam, and the traveling speed of the sheet to be inspected. From this, the position of the defect can be known by obtaining the position of the test sheet in the traveling direction.

<実施態様> 第1図において、投光部14は、光ビーム源たるレーザー
光源2と、光ビーム8の光路上に設けた、集光レンズ
3、モータ5によって矢印方向に定速で駆動されるポリ
ゴンミラー4、および、集光レンズ6とを備えている。
そうして、この投光部14は、光ビーム8を、被検シート
1の走行方向(L方向)と直交する方向(W方向)に対
して角度θだけ傾いたS方向に走査することができるよ
うに設置されている。
<Embodiment> In FIG. 1, the light projecting unit 14 is driven at a constant speed in the arrow direction by a laser light source 2 as a light beam source, a condenser lens 3 and a motor 5 provided on the optical path of the light beam 8. A polygon mirror 4 and a condenser lens 6.
Then, the light projecting unit 14 can scan the light beam 8 in the S direction inclined by the angle θ with respect to the direction (W direction) orthogonal to the traveling direction (L direction) of the test sheet 1. It is installed so that it can be done.

一方、被検シート1に関して投光部14とは反対側には、
受光部15が設置されている。この受光部15は、被検シー
ト1の欠陥による拡散光9の一部を受光する光ロッド10
と、この光ロッド10内を導かれてきた拡散光を測光す
る、その光ロッド10の各端面に設けた光電子増倍管11、
11とを備えている。そうして、受光部15は、その光ロッ
ド10に光ビーム8の主ビーム13が入射しないよう、光ロ
ッド10が光ビーム8の走査軌跡からわずかに離れた位置
になるように設置されている。
On the other hand, with respect to the sheet 1 to be inspected,
A light receiving unit 15 is installed. The light receiving portion 15 is an optical rod 10 that receives a part of the diffused light 9 due to the defect of the inspection sheet 1.
And a photomultiplier tube 11 provided on each end face of the optical rod 10 for measuring diffused light guided in the optical rod 10.
It has 11 and. Then, the light receiving unit 15 is installed so that the main rod 13 of the light beam 8 does not enter the optical rod 10 so that the optical rod 10 is at a position slightly away from the scanning trajectory of the light beam 8. .

また、受光部15の光電子増倍管11、11には、データ処理
部12が接続されている。
A data processing unit 12 is connected to the photomultiplier tubes 11 of the light receiving unit 15.

さらに、光ビーム8の走査軌跡上で、かつ、検出幅の
外、すなわち、被検シート1の外方で、その側縁近くに
は、データ処理部12に接続された、光ビームの走査基準
位置検出用受光器16が設置されている。
Further, on the scanning locus of the light beam 8 and outside the detection width, that is, outside the test sheet 1, near the side edge thereof, the light beam scanning reference connected to the data processing unit 12 is provided. A position detection light receiver 16 is installed.

さて、レーザー光源2から出射した光ビーム8は、集光
レンズ3によってポリゴンミラー4上に集光され、その
ポリゴンミラー4によって走査され、集光レンズ6によ
って被検シート1上に焦点を結ぶ。光ビーム8の走査方
向は、S方向である。
The light beam 8 emitted from the laser light source 2 is condensed on the polygon mirror 4 by the condenser lens 3, scanned by the polygon mirror 4, and focused on the test sheet 1 by the condenser lens 6. The scanning direction of the light beam 8 is the S direction.

被検シート1上に指向、走査された光ビーム8は、被検
シート1に欠陥が存在しなければそのまま被検シート1
を透過して直進し、光ロッド10には入射しない。したが
って、受光部15に出力が現われることはない。これに対
し、被検シート1にその走行方向と一致して延びる長い
線状の欠陥7が存在すると、光ビーム8がその欠陥7で
拡散され、欠陥7の長手方向に対して直交する面内に広
がる拡散光9が生ずる。したがって、その拡散光9の一
部が光ロッド10で捕捉され、受光部15に出力が現われる
ようになる。
The light beam 8 that is directed and scanned on the inspection sheet 1 is used as it is if the inspection sheet 1 has no defect.
Goes straight through and does not enter the optical rod 10. Therefore, no output appears in the light receiving unit 15. On the other hand, when the sheet 1 to be inspected has a long linear defect 7 extending in the same direction as the traveling direction of the sheet 1, the light beam 8 is diffused by the defect 7 and is in a plane orthogonal to the longitudinal direction of the defect 7. A diffused light 9 is generated which spreads. Therefore, a part of the diffused light 9 is captured by the optical rod 10 and an output appears in the light receiving section 15.

データ処理部12は、受光部15の出力を、あらかじめ定め
るか、または、受光部15の出力の移動平均等によって緩
やかに変動するスレッショルドレベルと比較し、それよ
りも大きい出力が現われたときに欠陥7が存在するもの
と判定する。また、出力のピーク値で欠陥7の程度を判
定することができるし、持続時間で欠陥7の大きさを判
定することができる。さらに、欠陥7の位置を、走査さ
れる光ビーム8が走査基準位置検出用受光器16上を通る
時にリセットされるクロックカウンタの値と、クロック
パルスの周期および光ビーム8の走査速度とから光ビー
ム8の走査方向における位置を求め、光ビーム8の走査
回数と、光ビーム8の走査周期および被検シート1の走
行速度とから、被検シート1の走行方向における位置を
求めることによって知ることができる。さらにまた、光
ビーム8の連続的走査において欠陥7の位置がどのよう
に継がって現われるかを調べることで、欠陥7の形状を
判定することができる。
The data processing unit 12 compares the output of the light receiving unit 15 with a threshold level that is determined in advance or that gradually changes due to a moving average of the output of the light receiving unit 15 or the like, and when an output larger than that appears, a defect occurs. It is determined that 7 exists. Further, the degree of the defect 7 can be determined by the peak value of the output, and the size of the defect 7 can be determined by the duration. Further, the position of the defect 7 is determined based on the value of the clock counter which is reset when the scanned light beam 8 passes over the scanning reference position detecting optical receiver 16, the period of the clock pulse and the scanning speed of the light beam 8. The position of the beam 8 in the scanning direction is obtained, and the position of the test sheet 1 in the running direction is obtained from the number of scans of the light beam 8, the scanning period of the light beam 8 and the traveling speed of the inspection sheet 1. You can Furthermore, the shape of the defect 7 can be determined by examining how successive positions of the defect 7 appear in successive scans of the light beam 8.

第2図は、上述した、ロールによるすり傷をもつポリエ
ステルフィルムを被検シートとしたときの検出結果を示
すグラフである。なお、横軸は時刻の関数であり、縦軸
は受光部の出力の関数である。このときの上記角度θ
は、30°である。
FIG. 2 is a graph showing the detection results when the polyester film having scratches due to the roll described above is used as the test sheet. The horizontal axis is a function of time, and the vertical axis is a function of the output of the light receiving unit. The angle θ at this time
Is 30 °.

いうまでもないが、上述した装置を使用すれば、被検シ
ートの走行方向に長い欠陥以外の欠陥でも検出できる。
すなわち、走査方向に対して垂直な方向に長い欠陥を除
けば、光拡散性のあるものならば検出できる。また、点
状の欠陥でも検出できる。第3図は、クレータ状の欠陥
の検出結果を示すグラフである。この例では、欠陥が光
ビームのビーム径よりも大きいために、検出信号が2回
現われている。この場合、2つの信号間の間隔が欠陥の
大きさを表している。
Needless to say, if the above-mentioned device is used, it is possible to detect defects other than defects long in the running direction of the test sheet.
That is, except for defects that are long in the direction perpendicular to the scanning direction, any light diffusive one can be detected. In addition, point defects can be detected. FIG. 3 is a graph showing the detection results of crater-like defects. In this example, the detection signal appears twice because the defect is larger than the beam diameter of the light beam. In this case, the distance between the two signals represents the size of the defect.

<発明の効果> この発明の装置は、光ビームを被検シートの走行方向と
直交する方向に対して角度θで走査する投光部と、上記
被検シートの一面または他面に対向し、かつ、走査され
た上記光ビームの主ビームが入射しない位置に設けた、
上記光ビームの、上記被検シートの欠陥による拡散光を
受光する受光部とを備えているので、被検シートの走行
方向と一致する細長い欠陥でも検出することができるの
はもちろんのこと、装置が振動しても主ビームが受光部
に入射する心配がほとんどなく、また、反射鏡を使用し
ないからそれに付着する塵、ほこり等の影響を受けるこ
とがなく、検出精度が極めて高い。また、格別の防振対
策が不要であり、しかも、光学的に高精度の反射鏡等を
用意する必要もないので、構成が簡単で装置コストも安
い。
<Effects of the Invention> The apparatus of the present invention includes a light projecting unit that scans a light beam at an angle θ with respect to a direction orthogonal to the traveling direction of the test sheet, and one surface or the other surface of the test sheet, And provided at a position where the main beam of the scanned light beam does not enter,
Since the light beam is provided with a light receiving unit that receives diffused light due to a defect in the inspection sheet, it is of course possible to detect even an elongated defect that coincides with the traveling direction of the inspection sheet. There is almost no concern that the main beam will enter the light-receiving portion even if oscillates, and since the reflector is not used, it is not affected by dust, dust, etc. adhering to it, and the detection accuracy is extremely high. In addition, no special anti-vibration measures are required, and it is not necessary to prepare a highly accurate reflecting mirror or the like, so that the structure is simple and the device cost is low.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は、この発明の一実施態様に係る装置の概略斜視
図、第2図および第3図は、それぞれ異なる被検シート
について欠陥を検出した結果を示すグラフである。 1:被検シート 2:レーザー光源 3:集光レンズ 4:ポリゴンミラー 5:モータ 6:集光レンズ 7:欠陥 8:光ビーム 9:拡散光 10:光ロッド 11:光電子増倍管 12:データ処理部 13:光ビームの主ビーム 14:投光部 15:受光部 16:走査基準位置検出用受光器
FIG. 1 is a schematic perspective view of an apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 and 3 are graphs showing the results of detecting defects on different test sheets. 1: Test sheet 2: Laser light source 3: Condenser lens 4: Polygon mirror 5: Motor 6: Condenser lens 7: Defect 8: Light beam 9: Diffused light 10: Optical rod 11: Photomultiplier tube 12: Data Processing unit 13: Main beam of light beam 14: Light emitting unit 15: Light receiving unit 16: Optical receiver for scanning reference position detection

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】走行中の被検シートの欠陥を検出する装置
であって、走行している被検シートの一面に、光ビーム
を、その被検シートの走行方向と直交する方向に対して
角度θ(0°<θ<90°)で走査する投光部と、上記被
検シートの一面または他面に対向し、かつ、走査された
上記光ビームの主ビームが入射しない位置に設けた、上
記光ビームの、上記被検シートの欠陥による拡散光を受
光する受光部と、上記受光部に接続して設けた、上記受
光部の出力から上記欠陥を判別するデータ処理部と、を
備えていることを特徴とする欠陥検出装置。
1. A device for detecting defects in a running test sheet, wherein a light beam is directed onto one surface of the running test sheet in a direction orthogonal to the running direction of the test sheet. The light projecting portion for scanning at an angle θ (0 ° <θ <90 °) and the one surface or the other surface of the sheet to be inspected faced each other, and were provided at a position where the main beam of the scanned light beam did not enter. A light receiving unit for receiving diffused light of the light beam due to a defect of the inspection sheet, and a data processing unit connected to the light receiving unit for determining the defect from the output of the light receiving unit. A defect detection device characterized in that
【請求項2】角度θが15°〜60°である請求項(1)記
載の欠陥検出装置。
2. The defect detecting device according to claim 1, wherein the angle θ is 15 ° to 60 °.
【請求項3】光ビームの走査軌跡上で、かつ、検出幅の
外に、光ビームの走査基準位置を検出する手段を設け
た、請求項(1)または(2)記載の欠陥検出装置。
3. A defect detecting apparatus according to claim 1, further comprising means for detecting a scanning reference position of the light beam on the scanning locus of the light beam and outside the detection width.
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