JPH0372248A - Dust detector - Google Patents

Dust detector

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JPH0372248A
JPH0372248A JP20880989A JP20880989A JPH0372248A JP H0372248 A JPH0372248 A JP H0372248A JP 20880989 A JP20880989 A JP 20880989A JP 20880989 A JP20880989 A JP 20880989A JP H0372248 A JPH0372248 A JP H0372248A
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JP
Japan
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inspected
light
scanning
angle
dust
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JP20880989A
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Japanese (ja)
Inventor
Tetsushi Imi
伊美 哲志
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
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Publication of JPH0372248A publication Critical patent/JPH0372248A/en
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

PURPOSE:To enable detection of dust alone on the surface side of a light transmitting surface to be inspected by defining an angle between a scanning light incident into a surface to be inspected and reflected light thereof at a specified value to set an angle of incidence of the scanning light within a specified range. CONSTITUTION:A projection optical system 7 of a dust detector 1 is made up of a laser oscillator 4, a galvanomirror 5 and a ftheta lens 6 and a scanning light A is made to irradiate a surface 2a to be inspected of a window glass 2 to form an image of the reflected light B on a slit plate 9 through a condenser lens 8. Then, light transmitted through the slit 9a is converted into an electric signal with an optoelectrical transducer 10 and a mirror 5 is driven to rotate and inclines the scanning light A in a direction of the arrow C. Here, an angle between the scanning light A and the reflected light B is set at about 90 deg. and an angle of incidence of the scanning light A is set at about 20 deg.-40 deg. or about 50 deg.-60 deg. to the surface 2a to be inspected. Thus, scattered light is separated accurately thereby enabling detection of dust adhering to the surface of the surface 2a to be inspected.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) 本発明は、例えばCCD固体撮像素子のパッケージに接
着される窓ガラスを被検査物とする塵埃検出装置に関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Purpose of the Invention (Industrial Application Field) The present invention relates to a dust detection device whose object to be inspected is, for example, a window glass adhered to a package of a CCD solid-state image sensor.

(従来の技術) CCD固体撮像素子の撮像部に設けられる窓ガラスは、
CCDに結合される側面に塵埃が付着したまま接合され
ると、鮮明な画像を得ることができず、CCD自体も不
良品となり廃棄するしかないものであった。
(Prior art) A window glass provided in the imaging section of a CCD solid-state imaging device is
If the CCD is bonded to the side surface with dust attached to it, a clear image cannot be obtained, and the CCD itself becomes a defective product and must be discarded.

このため、CCDの上記窓ガラスを接着する前に、この
窓ガラスに塵埃が付着しているかどうかを検査すること
が必要である。
Therefore, before bonding the window glass of the CCD, it is necessary to inspect whether dust has adhered to the window glass.

こうした塵埃の検出には従来から被検査面を走査光線で
走査する表面検査装置が多く実用化されている。
To detect such dust, many surface inspection devices that scan the surface to be inspected with a scanning beam have been put into practical use.

ところが、こうした表面検査装置は主に以下の2つの理
由によりCODの窓ガラスの塵埃検出には使用すること
が不可能であった。
However, such a surface inspection device cannot be used to detect dust on COD window glass mainly for the following two reasons.

第1に、上記窓ガラスには接合面側の周囲に沿って接着
材(シール材)が設けられており、この接着材に光が当
たると強い散乱光が発生し、正確な塵埃の検出が不可能
になる。これは、窓ガラスの接着直前に塵埃の検出作業
を行う必要があるので、接着材を設けた状態での検査は
避けることができない。
First, an adhesive (sealing material) is provided along the periphery of the bonded surface of the window glass, and when light hits this adhesive, strong scattered light is generated, making it difficult to accurately detect dust. becomes impossible. This is because it is necessary to perform dust detection immediately before adhering the window glass, so inspection with the adhesive in place cannot be avoided.

第2に、窓ガラスの接着材が設けられた面に付着した塵
埃のみを検出する必要があるにもかかわらず、窓ガラス
を透過して逆の面に付着した塵埃まで検出してしまい、
効率的な検査ができなかった。
Second, although it is necessary to detect only the dust attached to the side of the window glass where the adhesive is applied, the dust that has passed through the window glass and attached to the opposite side is also detected.
Efficient testing was not possible.

このような理由によりCCD固定撮像素子に使用する窓
ガラスに付着した塵埃を検出するための塵埃検出装置は
実用化されていなかった。
For these reasons, a dust detection device for detecting dust attached to a window glass used in a fixed CCD image sensor has not been put into practical use.

(発明が解決しようとする課8) 一般に使用されている表面検査装置は光を透過する材質
の表面を検査すると、裏面側まで検査対象としてしまう
ものであった。このため、片面のみに付着した塵埃のみ
を検出することは不可能であり、裏面側の塵埃も検出し
てしまうものであった。また、被検査面に凸部があると
、これによって容易に散乱光が発生し、正確な検査がで
きなくなるものであり、CCD固体撮像素子等の窓ガラ
スのように片面のみを検査の対象とし、また、被検査面
の周囲に接着材により凸部が形成されていると、塵埃の
検出は、不可能に近い状態となり、実用化できなかった
(Problem 8 to be Solved by the Invention) Generally used surface inspection devices inspect the surface of a material that transmits light, and the back surface is also included in the inspection target. Therefore, it is impossible to detect only the dust attached to one side, and the dust on the back side is also detected. Additionally, if there is a convex part on the surface to be inspected, this will easily cause scattered light, making it impossible to perform accurate inspection. Furthermore, if a convex portion is formed around the surface to be inspected using an adhesive, detection of dust becomes almost impossible, making it impossible to put it to practical use.

本発明は上記課題に着目してなされたものであり、光透
過性の被検査物の片面のみを検査対象とすることができ
、かつ、被検査面に凸部があってもこの凸部の検査に対
する影響を最小限におさえて正確な塵埃の検出ができる
塵埃検出装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made with attention to the above-mentioned problems, and it is possible to inspect only one side of a light-transmitting object to be inspected, and even if there is a convex part on the surface to be inspected, this convex part can be inspected. It is an object of the present invention to provide a dust detection device that can accurately detect dust while minimizing the influence on inspection.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) 光源を設け、この光源からの走査光線を被検査面に照射
する投光光学系を設け、上記被検査面で反射した走査光
線のみを透過するスリットを設け、このスリットを透過
した光を電気信号に変換する光電変換素子を設け、上記
被検査面に入射する走査光線と被検査面に反射した走査
光線との挾み角を約90″とし、上記被検査面に入射す
る走査光線の入射角度を、水平近くで被検査面の凸部に
乱反射する角度の最大値から垂直近くで被検査面に反射
した光が再度光源に入射する角度の最小角度までの間で
、かつ、被検査面から45°の角度を含み光源から発し
た光が直接上記光電変換素子に入射する角度範囲を除く
角度範囲に設定した塵埃検出装置にある。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) A light source is provided, and a projection optical system is provided that irradiates a surface to be inspected with a scanning beam from the light source, so that only the scanning beam reflected by the surface to be inspected is transmitted. A photoelectric conversion element is provided to convert the light transmitted through the slit into an electrical signal, and the angle between the scanning light beam incident on the surface to be inspected and the scanning light beam reflected on the surface to be inspected is approximately 90''. The angle of incidence of the scanning light beam that enters the surface to be inspected is determined from the maximum value of the angle at which the scanning beam is diffusely reflected on the convex portion of the surface to be inspected near the horizontal to the angle at which the light reflected from the surface to be inspected re-enters the light source near the vertical. The dust detection device is set to an angular range that includes a minimum angle of 45° from the surface to be inspected and excludes the angular range in which the light emitted from the light source directly enters the photoelectric conversion element.

(作 用) 被検査面に入射する走査光線と被検査面に反射した走査
光線との挟み角を約90#とじた場合に、上記被検査面
への走査光線の入射角度を、被検査面の凸部に乱反射す
る最大角度を越える値とすることで、凸部に走査光線が
乱反射することを防止できる。また、被検査面にほぼ垂
直な方向から入射した走査光線が被検査面で反射し再度
光源に入射する最小角度より小さな角度とすることで、
被検査面からの反射光線が光源に入射することを防止で
きる。さらに、被検査面から45°の位置を含み光源か
らの光が直接光電変換素子に入射する角度を除く角度範
囲に設定することで、光電変換素子に光源からの直接光
の入射を防止できる。
(Function) When the included angle between the scanning light beam incident on the surface to be inspected and the scanning light beam reflected on the surface to be inspected is approximately 90#, the angle of incidence of the scanning light beam on the surface to be inspected is defined as the surface to be inspected. By setting the value to a value exceeding the maximum angle of diffuse reflection on the convex portion, it is possible to prevent the scanning beam from being diffusely reflected on the convex portion. In addition, by making the angle smaller than the minimum angle at which the scanning light beam incident from the direction almost perpendicular to the surface to be inspected is reflected by the surface to be inspected and re-enters the light source,
It is possible to prevent reflected light from the surface to be inspected from entering the light source. Furthermore, by setting the angle range to include a position 45° from the surface to be inspected and exclude the angle at which light from the light source directly enters the photoelectric conversion element, direct light from the light source can be prevented from entering the photoelectric conversion element.

(実施例) 本発明における一実施例を第1図乃至第10図を参照し
て説明する。図中に示される塵埃検出装置1は例えばC
CD固体撮像素子の撮像部に対向して接合される窓ガラ
ス2の接合側の面に付着した塵埃を検出するものである
(Embodiment) An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 10. The dust detection device 1 shown in the figure is, for example, C
This detects dust attached to the surface of the window glass 2 that is bonded facing the imaging section of the CD solid-state image sensor.

この窓ガラス2は例えば矩形板状に形成されており、接
合側の面の周縁部には、この周縁部に沿って接着材3が
凸状に付着されている。この窓ガラス2は上記接合側の
面を被検査面2aとして上方に向けられ、例えばX−Y
テーブルを上に載置されている。
This window glass 2 is formed, for example, in the shape of a rectangular plate, and an adhesive 3 is adhered in a convex shape along the peripheral edge of the surface on the joining side. This window glass 2 is oriented upward with the surface to be inspected 2a on the bonding side, for example, X-Y
The table is placed on top.

そして、上記塵埃検出装置1は光源としてのレーザ発振
装置4を備えている。このレーザ発振装置4は図示しな
い支持装置により、所定の方向にレーザ光を出力するよ
うになっている。このレーザ発振装置4から出力された
レーザ光の光路上にはガルバノミラ−5が配設されてお
り、所定角度で反射されるようになっている。また、こ
のガルバノミラ−5に反射したレーザ光の光路上にはf
θレンズ6が挿入されており、これにより、所定の焦点
距離に設定されている。ここで、上記レーザ発振装置4
、ガルバノミラ−5、およびfθレンズ6とにより投光
光学系7が形成されている。
The dust detection device 1 includes a laser oscillation device 4 as a light source. This laser oscillation device 4 is configured to output laser light in a predetermined direction by a support device (not shown). A galvanometer mirror 5 is disposed on the optical path of the laser beam output from the laser oscillation device 4, so that the laser beam is reflected at a predetermined angle. Also, on the optical path of the laser beam reflected by this galvano mirror 5, f
A θ lens 6 is inserted, thereby setting a predetermined focal length. Here, the laser oscillation device 4
, a galvano mirror 5, and an fθ lens 6 form a projection optical system 7.

上記fθレンズ6を通過したレーザ光は走査光線として
上記窓ガラス2の被検査面2aに所定の角度で反射され
る。この被検査面2aに反射されたレーザ光の光路上に
は集光レンズ8、スリ・ソトブレート9そして、フォト
マルチプライヤ10が順次配設されている。ここでフォ
トマルチプライヤ10は光電変換素子である。
The laser beam that has passed through the fθ lens 6 is reflected at a predetermined angle on the inspection surface 2a of the window glass 2 as a scanning beam. A condenser lens 8, a pick-pocket plate 9, and a photomultiplier 10 are sequentially arranged on the optical path of the laser beam reflected by the surface to be inspected 2a. Here, the photomultiplier 10 is a photoelectric conversion element.

そして、上記fθレンズ6と集光レンズ8とを通過する
走査光線A、Bの挟み角は約90″に設定されている。
The angle between the scanning beams A and B passing through the fθ lens 6 and the condensing lens 8 is set to about 90''.

また、上記スリットプレート9には第10図に示される
ように、被検査面2aの塵埃からの散乱光11a1接着
材3からの散乱光11b1および、被検査面2aの裏面
に付着した塵埃からの散乱光11Cとが結像される。そ
して、スリットプレート9に貫通して形成されたスリッ
ト9aは上記被検査面2aに付着した塵埃からの散乱光
11Hの結合位置に対応して形成されている。ここで、
上記スリット9aの長手方向は上記ガルバノミラ−5を
回転駆動状態に支持するガルバノメータスキャナ5aに
よって、上記レーザ発振装置4からの光が振幅する方向
に対応して形成されている。つまり、ガルバノミラ−5
によって走査光線Aが図中矢印C方向に揺動され、この
揺動範囲内に被検套面2aの幅寸法がおさまるように設
定されている。そして、被検査面2aに塵埃が付着され
ていると、散乱光11aを発し上記スリットプレート9
のスリット9a内に結像するようになっている。
Further, as shown in FIG. 10, the slit plate 9 includes scattered light 11a1 from dust on the surface to be inspected 2a, scattered light 11b1 from the adhesive 3, and dust attached to the back surface of the surface to be inspected 2a. The scattered light 11C is imaged. The slits 9a formed through the slit plate 9 are formed corresponding to the coupling positions of the scattered light 11H from the dust attached to the surface to be inspected 2a. here,
The longitudinal direction of the slit 9a is formed so as to correspond to the direction in which the light from the laser oscillation device 4 oscillates, by a galvanometer scanner 5a that supports the galvanometer mirror 5 in a rotationally driven state. In other words, galvano mirror 5
The scanning light beam A is swung in the direction of arrow C in the figure, and the width of the test sleeve 2a is set within this swiveling range. If dust is attached to the surface to be inspected 2a, scattered light 11a is emitted and the slit plate 9
The image is formed within the slit 9a.

上述のごとくして、ガルバノミラ−5の揺動により一次
元的に測定を行い、この−次元方向のAll]定を終了
すると、順次、−次元方向C(ガルバノミラ−5の揺動
方向)に直交する方向りに上記X−Yテーブルtが上記
走査光線Aのスポット直径以下の寸法分移動するように
なっている。この検査工程により、窓ガラス2のほぼ全
面積にわたってδll]定をする。
As described above, measurement is performed one-dimensionally by swinging the galvanomirror 5, and when this -dimensional direction All] determination is completed, the measurements are sequentially orthogonal to the -dimensional direction C (swinging direction of the galvanomirror 5). In this direction, the X-Y table t is moved by a dimension smaller than the spot diameter of the scanning light beam A. Through this inspection process, δll] is determined over almost the entire area of the window glass 2.

上述した構成によって、塵埃の検出をする場合において
、これまでの実験によれば以下に述べる角度範囲におい
ては、正確な塵埃の検出ができなかった。
When detecting dust with the above-described configuration, according to past experiments, it was not possible to accurately detect dust in the angular range described below.

以下、約900の挾み角をもつ上記走査光線A。Hereinafter, the scanning light beam A has an angle of about 900.

Bにおいて、ガルバノミラ−5に反射してfθレンズ6
を透過した走査光線Aが上記被検査面2aに入射する角
度が塵埃検出に与える影響について説明する。
At B, it is reflected by the galvano mirror 5 and is reflected by the fθ lens 6.
The influence of the angle at which the scanning light beam A transmitted through the inspection target surface 2a is incident on the inspection target surface 2a on dust detection will be explained.

なお、レーザ発振装置4からの走査光線Aとフォトマル
チプライヤ10に入射する走査光線Bであることを明確
にするために、図中には上記ガルバノミラ−5やfθレ
ンズ6を示さず、直接レーザ発振装置4からの走査光線
Aが被検査面2aに入射し、反射した走査光線Bが直接
フォトマルチプライヤ10に入射する状態で示す。実際
に非検査面2aを測定する場合にはガルバノミラ−5や
fθレンズ6および集光レンズ8等を備える必要がある
In addition, in order to make it clear that the scanning beam A from the laser oscillation device 4 and the scanning beam B incident on the photomultiplier 10 are shown, the galvano mirror 5 and the fθ lens 6 are not shown in the figure, and the laser beam is directly transmitted. The scanning light beam A from the oscillator 4 is shown to be incident on the surface to be inspected 2a, and the reflected scanning light beam B is shown to be directly incident on the photomultiplier 10. When actually measuring the non-inspection surface 2a, it is necessary to provide a galvanometer mirror 5, an fθ lens 6, a condensing lens 8, and the like.

まず、第5図に示されるように、走査光線Aが上記被検
査面2aに対して約90°の角度で入射された場合には
、レーザ発振装置4から出力された走査光線Aが被検査
面2aに反射された後、直接レーザ発振装置4に入射し
、レーザ発振装置4の発振状態を不安定にしてしまい、
正確な塵埃の検出ができなくなるものであった。
First, as shown in FIG. 5, when the scanning light beam A is incident on the surface to be inspected 2a at an angle of approximately 90°, the scanning light beam A output from the laser oscillation device 4 is After being reflected by the surface 2a, it directly enters the laser oscillation device 4, making the oscillation state of the laser oscillation device 4 unstable.
This made it impossible to accurately detect dust.

さらに、この状態においては第7図中に示されるように
、走査光線Aと走査光線Bとの挟み角が約90°なので
、被検査面2aに反射された走査光線Bが被検査面2a
の縁部に設けられた凸状の接着材3に遮蔽されフォトマ
ルチプライヤ10まで走査光線Bが到達しないものであ
った。この性質は90″に近い角度範囲で発生する現象
であった。
Furthermore, in this state, as shown in FIG. 7, since the included angle between the scanning beam A and the scanning beam B is approximately 90°, the scanning beam B reflected on the surface to be inspected 2a is reflected on the surface to be inspected 2a.
The scanning light beam B did not reach the photomultiplier 10 because it was blocked by the convex adhesive 3 provided on the edge of the photomultiplier 10. This property was a phenomenon that occurred in an angular range close to 90''.

また、レーザ発振装置4から出力された走査光線Aが第
6図中に示されるように、約45°の角度で入射した場
合には、破線で示されるように、レーザ発振装置4から
発した光の一部がフォトマルチプライヤ10に直接入射
してしまい、やはり正確な測定ができないという欠点が
あった。こうした性質は45°を含む45°近傍の角度
範囲で発生する現象である。
Furthermore, when the scanning beam A outputted from the laser oscillation device 4 is incident at an angle of approximately 45° as shown in FIG. A part of the light is directly incident on the photomultiplier 10, which also has the drawback that accurate measurement cannot be performed. This property is a phenomenon that occurs in an angle range around 45° including 45°.

さらに、レーザ発振装置4から出力された走査光線Aを
被検査面2aから0°に近い角度、もしくは、上記接着
材3によって形成された凸部に近接して照射すると、走
査光線Aは上記接着材3の凸部に遮蔽もしくは散乱され
てしまい、やはり正確な測定ができなくなるものである
Further, when the scanning light beam A output from the laser oscillation device 4 is irradiated from the surface to be inspected 2a at an angle close to 0° or close to the convex portion formed by the adhesive material 3, the scanning light beam A It is blocked or scattered by the convex portions of the material 3, making accurate measurement impossible.

ここで、被検査面2aが透光性であるという条件を加え
た場合、走査光線Aの入射角度が小さい場合には第9図
に示されるように、表面の塵埃で散乱される散乱光11
aと裏面の塵埃で散乱される散乱光11cとの間には、
所定の距離dが生ずる。また、走査光線Aの入射角度を
大きくした場合には第8図に示されるように表面の塵埃
で散乱される散乱光11aと裏面の塵埃で散乱される散
乱光11cとの間の距離dは上述の場合に比較して小さ
くなる。
Here, when adding the condition that the surface 2a to be inspected is translucent, when the incident angle of the scanning light beam A is small, as shown in FIG. 9, the scattered light 11 scattered by the dust on the surface
Between a and the scattered light 11c scattered by the dust on the back side,
A predetermined distance d results. Furthermore, when the incident angle of the scanning beam A is increased, the distance d between the scattered light 11a scattered by the dust on the front surface and the scattered light 11c scattered by the dust on the back surface is as shown in FIG. This is smaller than in the case described above.

こうした性質によれば、走査光線Aの入射角度はできる
だけ小さい方が、スリット9aによる結像の分離が確実
となり、表面の塵埃だけをより正確に検出することがで
きるという性質をもつことがわかる。
According to these properties, it can be seen that the smaller the incident angle of the scanning light beam A is, the more reliable the separation of images by the slit 9a becomes, and the more accurately detecting only the dust on the surface.

以上説明したような性質に基づき、本実施例の走査光線
Aの入射角度は以下に示すように設定されている。なお
、この際の被検査面2aに入射する走査光線Aと反射し
た走査光線Bとの挟み角度は約90’に限定されている
Based on the properties described above, the incident angle of the scanning light beam A in this embodiment is set as shown below. Note that at this time, the angle between the scanning light beam A incident on the surface to be inspected 2a and the reflected scanning light beam B is limited to about 90'.

この走査光線Aの具体的な入射角度の範囲は被検套面2
aに対して約20″乃至約40°又は約50″乃至約6
0’に設定されている。
The specific range of the incident angle of this scanning beam A is
about 20″ to about 40° or about 50″ to about 6° relative to a
It is set to 0'.

これは、被検査面2aから走査光線Aの開き角度が約2
0″より小さい角度の場合には上述したように接着材3
による散乱光11bが発生してしまうので、正確な測定
が不可能であり、約20゜よりも大きな角度で入射され
ることが必要なためである。
This means that the opening angle of the scanning light beam A from the surface to be inspected 2a is approximately 2.
For angles smaller than 0'', adhesive 3 is used as described above.
This is because the scattered light 11b generated by the incident light makes accurate measurement impossible, and it is necessary for the light to be incident at an angle greater than about 20°.

また、被検査面2aから45°を含む開角度約50°乃
至約60°の角度範囲で入射す走査光線Aはレーザ発振
装置4から出力されたうちの一部が被検査面2aに反射
せずに直接フォトマルチプライヤ10に入射してしまい
、正確な測定が不可能である。このため、約50″から
約60″の角度から外れた角度で走査光線Aを入射する
必要がある。
In addition, a part of the scanning beam A that is output from the laser oscillation device 4 is reflected by the surface to be inspected 2a, which is incident at an angle range of about 50 degrees to about 60 degrees including 45 degrees from the surface to be inspected. The light directly enters the photomultiplier 10 without being detected, making accurate measurement impossible. Therefore, it is necessary to make the scanning light beam A incident at an angle deviating from the angle of about 50'' to about 60''.

さらに、被検査面2aからの開き角度が約90°で走査
光線Aが入射する場合には、被検査面2aで反射された
走査光線Bが再度レーザ発振装置4に入射してしまい、
レーザ発振装置4のレーザ出力を不安定にしてしまうも
のであった。このため、約60’乃至約90’の角度を
避け、他の角度から走査光線Aを入射する必要がある。
Furthermore, if the scanning beam A is incident at an opening angle of about 90 degrees from the surface to be inspected 2a, the scanning beam B reflected by the surface to be inspected 2a will enter the laser oscillation device 4 again.
This made the laser output of the laser oscillation device 4 unstable. Therefore, it is necessary to avoid the angle of about 60' to about 90' and make the scanning light beam A incident from another angle.

上述した理由により、走査光線Aと走査光線Bとの挾み
角を90°と限定すると、上記走査光線Aの被検査面2
aへの入射角度の適性範囲は、約20°乃至約40″又
は約50’乃至約60°に限定される。
For the reason mentioned above, if the angle between the scanning beam A and the scanning beam B is limited to 90°, the surface to be inspected 2 of the scanning beam A is
The suitable range of angle of incidence on a is limited to about 20° to about 40″ or about 50′ to about 60°.

そして、被検査面2aが透光性のある窓ガラス2なので
、裏面側の塵埃の検出をさけることが必要である。この
ため走査光線Aの被検査面2aへの入射角度を小さくす
ることで、より正確な散乱光の分離ができる。この理由
により最適な入射角度としては約20″乃至約40°の
角度範囲が上げられる。
Since the surface 2a to be inspected is the window glass 2 which is transparent, it is necessary to avoid detecting dust on the back surface side. Therefore, by reducing the angle of incidence of the scanning light beam A on the surface to be inspected 2a, more accurate separation of scattered light can be achieved. For this reason, the optimum angle of incidence is in the range of about 20'' to about 40°.

こうした条件下で塵埃の検出を行えば、第10図中に示
されるように各散乱光を正確に分離し、窓ガラス2の被
検査面2aの表面に付着した塵埃を検出することができ
る。
If dust is detected under these conditions, each scattered light beam can be accurately separated as shown in FIG. 10, and dust attached to the surface of the surface to be inspected 2a of the window glass 2 can be detected.

ここで、上記約20°は被検査面2aの接着材3に乱反
射を発生する最大角度である。また、約40°乃至約5
0@は、45°を含み、レーザ発振装置4から出力され
た走査光線Aの一部が直接フォトマルチプライヤ10に
入射する角度範囲である。
Here, the above-mentioned approximately 20° is the maximum angle at which diffused reflection occurs on the adhesive 3 of the surface to be inspected 2a. Also, about 40° to about 5
0@ is an angular range that includes 45° and in which a portion of the scanning light beam A output from the laser oscillation device 4 directly enters the photomultiplier 10.

さらに、上記約60°は垂直に近い角度で入射した走査
光線Aが反射し、反射した走査光線Bが再度レーザ発振
装置4に入射する角度の最小値である。
Furthermore, the above-mentioned approximately 60° is the minimum value of the angle at which the scanning beam A that is incident at an angle close to perpendicular is reflected and the reflected scanning beam B is incident on the laser oscillation device 4 again.

上記CCD (固体撮像素子)に挿着される窓ガラス2
は、その挿着側の面2aに塵埃が付着していると、鮮明
な画像が得られず、不良品となってしまうが、この挿着
側の面2aに対向する逆側の面、(挿着後外側に向けら
れる面)には塵埃が付着していても品質には悪影響を及
ぼすものではない。
Window glass 2 inserted into the CCD (solid-state image sensor)
If dust adheres to the insertion side surface 2a, it will not be possible to obtain a clear image and the product will be defective. Even if dust adheres to the surface facing outward after insertion, it will not have a negative effect on quality.

こうした、透光性の板部材の一方の面のみに付着した塵
埃を検出するに、最適な塵埃検出装置を提供することが
できる。
It is possible to provide an optimal dust detection device for detecting dust attached only to one surface of such a light-transmitting plate member.

また、CODに挿着される窓ガラス2は挿着の直前に塵
埃検出を行う必要性が極めて高いので、被検査面2aに
はすでに接着材材3が設けられている。
Further, since it is extremely necessary to detect dust immediately before inserting the window glass 2 into the COD, the adhesive material 3 is already provided on the surface to be inspected 2a.

このように検査を行う場合には被検査面2aの周囲には
凸状の接着材3が設けられている。こうした障害物をさ
けて、測定ができるので、正確な塵埃の検出ができる。
When performing an inspection in this manner, a convex adhesive material 3 is provided around the surface to be inspected 2a. Since measurements can be made while avoiding these obstacles, dust can be detected accurately.

これにより、CCDの窓ガラス2の装着直前の塵埃検出
を、正確かつ効率的に行うことができ、従来不可能であ
った片面だけの塵埃検出を可能にした。
As a result, dust can be accurately and efficiently detected immediately before the CCD window glass 2 is mounted, and dust can be detected on only one side, which was previously impossible.

なお、本考案は上記一実施例にのみ限定されない。例え
が上記実施例では被検査面はCODの撮像面に挿着され
る窓ガラス2であったが、これに限定されず、測定する
側面に凸部が形成された透光性をもつ板部材であれば、
適用可能である。
Note that the present invention is not limited to the above embodiment. For example, in the above embodiment, the surface to be inspected is the window glass 2 that is inserted into the imaging surface of the COD, but it is not limited to this, but it is a plate member having a translucent property and having a convex portion formed on the side surface to be measured. If,
Applicable.

[発明の効果コ 被検査面に対して入射する走査光線と、被検査面に反射
される走査光線との挟み角を約90゜とし、被検査面に
入射する走査光線は、この被検査面との開き角度を被検
査面に形成された凸部に乱反射する最大角度と、被検査
面との開き角度が垂直に近い角度で光源に走査光線が反
射する最小角度との間の角度範囲内で、かつ、45°を
含んで光源からの走査光線が直接光電変換素子に入射す
る角度範囲を除く角度範囲で入射することで、乱反射を
防止し、光源を安定させ、かつ、検出性能を安定させる
ことができる。また、上記角度範囲内で入射された走査
光線によれば、被検査面が透光性をもつ場合にも、表面
側の塵埃だけを検出することができる。
[Effects of the invention] The included angle between the scanning light beam incident on the surface to be inspected and the scanning light beam reflected by the surface to be inspected is approximately 90 degrees, and the scanning light beam incident on the surface to be inspected is Within the angular range between the maximum angle at which the opening angle with the surface to be inspected is diffusely reflected by the convex portion formed on the surface to be inspected, and the minimum angle at which the scanning beam is reflected to the light source when the opening angle with the surface to be inspected is close to perpendicular. By making the scanning beam from the light source enter the photoelectric conversion element in an angular range that includes 45° and excludes the angular range in which it directly enters the photoelectric conversion element, diffuse reflection is prevented, the light source is stabilized, and detection performance is stabilized. can be done. Furthermore, with the scanning light beam incident within the above angle range, even if the surface to be inspected is translucent, only dust on the surface side can be detected.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図乃至第10図は本発明における一実施例であり、
第1図は塵埃検出装置の斜視図、第2図は窓ガラスとそ
の被検出面を示す斜視図、第3図は第2図中の■−■線
部分の断面図、第4図はい角度で入射した状態を示す正
面図、第10図はスリットプレートに結像された各散乱
光を示す正面図である。 1・・・塵埃検出装置、3・・・接着材、4・・・レー
ザ発振装置(光源)、2a・・・被検査面、7・・・音
光光学系、9a・・・スリット、10・・・フォオトマ
ルチプライヤ(光電変換素子)、A・・・被検査面に入
射する走査光線、B・・・被検査面に反射した走査光線
FIG. 1 to FIG. 10 are one embodiment of the present invention,
Fig. 1 is a perspective view of the dust detection device, Fig. 2 is a perspective view showing the window glass and its detection surface, Fig. 3 is a sectional view of the section marked ■-■ in Fig. 2, and Fig. 4 is the positive angle. FIG. 10 is a front view showing each scattered light imaged on the slit plate. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Dust detection device, 3... Adhesive material, 4... Laser oscillation device (light source), 2a... Surface to be inspected, 7... Acoustic optical system, 9a... Slit, 10 ...Photomultiplier (photoelectric conversion element), A...Scanning light beam incident on the surface to be inspected, B...Scanning light beam reflected on the surface to be inspected.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 光源と、この光源からの走査光線を周囲に凸部を有する
被検査面で走査させる投光光学系と、上記被検査面で反
射した走査光線の結像位置にこの被検査面で反射した走
査光線の結像位置にこの被検査面で反射した走査光線の
みを通過するように配置されたスリットと、スリットを
通過した光を電気信号に変更する光電変換素子とを備え
た塵埃検出装置において、上記被検査面に入射する走査
光線と被検査面に反射した走査光線との挟み角を約90
゜とし、上記被検査面に入射する走査光線の入射角度を
、水平近くで被検査面の上記凸部に乱反射する角度の最
大値と、垂直近くで被検査面に反射した光が光源に入射
する角度の最小値との間で、かつ、被検査面から45゜
の角度を含み上記光源が発した光が直接上記光電変換素
子に入射する角度範囲を除く角度範囲内に設定したこと
を特徴とする塵埃検出装置。
a light source, a light projecting optical system that causes a scanning beam from the light source to scan a surface to be inspected having a convex portion around the surface, and a scanning beam reflected by the surface to be inspected at an image formation position of the scanning beam reflected by the surface to be inspected. A dust detection device includes a slit arranged at the imaging position of the light beam so that only the scanning light beam reflected from the surface to be inspected passes through, and a photoelectric conversion element that converts the light passing through the slit into an electrical signal. The included angle between the scanning light beam incident on the surface to be inspected and the scanning light beam reflected on the surface to be inspected is approximately 90
゜, and the incident angle of the scanning light beam that enters the surface to be inspected is the maximum value of the angle at which the scanning beam is diffusely reflected by the convex portion of the surface to be inspected near the horizontal, and the light reflected from the surface to be inspected near the vertical enters the light source. and within an angular range that includes an angle of 45° from the surface to be inspected and excludes the angular range in which the light emitted by the light source directly enters the photoelectric conversion element. dust detection device.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06319524A (en) * 1993-04-26 1994-11-22 Becton Dickinson & Co Device for measuring biological activity in culture container
US6144446A (en) * 1996-11-29 2000-11-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method and apparatus for inspecting foreign substance
CN105699396A (en) * 2016-03-29 2016-06-22 同高先进制造科技(太仓)有限公司 Pollution detection device and method of welding laser head protective glasses based on light scanning
CN109693045A (en) * 2019-02-27 2019-04-30 济南森峰科技有限公司 A kind of lens of laser cutting head feux rouges detection protection and warning device

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