JP3406951B2 - Surface condition inspection device - Google Patents

Surface condition inspection device

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JP3406951B2
JP3406951B2 JP16001295A JP16001295A JP3406951B2 JP 3406951 B2 JP3406951 B2 JP 3406951B2 JP 16001295 A JP16001295 A JP 16001295A JP 16001295 A JP16001295 A JP 16001295A JP 3406951 B2 JP3406951 B2 JP 3406951B2
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light receiving
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は表面状態検査装置に関
し、検査すべき物体表面として、例えば半導体デバイス
の製造装置において回路パターンが形成されているレチ
クルやフォトマスク等において、これらの表面にゴミや
埃等の欠陥部としての凸部材が付着しているときに、該
凸部材を精度良く検査するときに好適なものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for inspecting a surface condition, which is used as an object surface to be inspected, such as a reticle or a photomask on which a circuit pattern is formed in a semiconductor device manufacturing apparatus. It is suitable for accurately inspecting a convex member as a defective portion such as dust when it is attached.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より物体表面の表面状態、例えば表
面上にゴミや埃等の欠陥部としての凸部材が付着してい
るか否かを、レーザ光等の光ビームで表面を走査し、該
凸部材から生じる散乱光を検査して凸部材の有無を検査
するようにした表面状態検査装置が種々と提案されてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, the surface condition of an object surface, for example, whether or not a convex member as a defective portion such as dust or dust adheres to the surface is scanned by a light beam such as a laser beam, Various surface state inspection devices have been proposed which inspect the presence or absence of a convex member by inspecting scattered light generated from the convex member.

【0003】一般に対象物の表面にゴミや埃等の凸部材
が付着していると、光ビームで走査したときにその凸部
材で散乱光が発生するが、このとき凸部材の大きさによ
り、それから生ずる散乱光の光量が異なってくる。従来
の表面状態検査装置では受光素子で受光される散乱光に
基づく信号の大小を検出して凸部材の有無及びその大き
さ等を検出している。
Generally, when a convex member such as dust or dust adheres to the surface of an object, scattered light is generated by the convex member when scanning with a light beam. At this time, depending on the size of the convex member, The amount of scattered light generated from it is different. In the conventional surface condition inspection apparatus, the presence or absence of a convex member and its size are detected by detecting the magnitude of a signal based on scattered light received by a light receiving element.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来の光ビームで対象
物を走査して、そのとき対象物から生じる散乱光を検出
して表面状態を検査する表面状態検査装置では、例えば
対象物の表面がざらついているときや表面粗さが大きい
ときには、凸部材以外の正常な領域からも散乱光が発生
してくる。この為、受光素子を正反射光を受光しない領
域に単に配置して、散乱光のみを検出するようにして
も、正常な領域からの散乱光を受光してしまうこととな
り、表面に存在している凸部材からの散乱光のみを精度
良く検出することが難しいという問題点があった。
In a conventional surface condition inspection apparatus for inspecting a surface condition by scanning an object with a light beam and detecting scattered light generated from the object at that time, for example, if the surface of the object is When the surface is rough or has a large surface roughness, scattered light is also generated from a normal region other than the convex member. Therefore, even if the light receiving element is simply arranged in a region that does not receive specularly reflected light and only scattered light is detected, scattered light from a normal region will be received, and it will be present on the surface. There is a problem that it is difficult to accurately detect only the scattered light from the protruding member.

【0005】特に、凸部材が小さく、それより生ずる散
乱光が少ないときには、検出信号のS/N比が悪くなり
凸部材の有無を精度良く検出することができない場合が
あるといった問題点があった。
In particular, when the convex member is small and the scattered light generated by the convex member is small, the S / N ratio of the detection signal deteriorates, and it may not be possible to accurately detect the presence or absence of the convex member. .

【0006】この他、対象物に付着している凸部材から
生じる散乱光の強度は凸部材の大きさや、対象物の表面
から突出している突出量によっても異なってくる。この
為、受光素子から得られる散乱光量の大小を検知して
も、それより直ちに凸部材の大きさやその突出量を検出
することが難しいという問題点があった。
Besides, the intensity of the scattered light generated from the convex member attached to the object also differs depending on the size of the convex member and the amount of projection protruding from the surface of the object. Therefore, even if the amount of scattered light obtained from the light receiving element is detected, it is difficult to immediately detect the size of the convex member and the amount of protrusion thereof.

【0007】本発明は対象物の表面を光ビームで走査し
て、該表面に付着しているゴミや埃等の欠陥部としての
凸部材から生じる散乱光を空間内に適切に配置した受光
素子から得られる信号を用いることにより対象物の表面
のざらつきや不均一の影響を受けずに、該凸部材を精度
良く検出するようにした表面状態検査装置の提供を目的
とする。
According to the present invention, the surface of an object is scanned with a light beam, and scattered light generated from a convex member as a defective portion such as dust or dust adhering to the surface is appropriately arranged in space. It is an object of the present invention to provide a surface state inspection device capable of accurately detecting the convex member without being affected by the roughness and non-uniformity of the surface of the object by using the signal obtained from.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明の表面状
態検査装置は光源手段からの光ビームを用いて走査手段
で対象物を走査する際、該光ビームによる該対象物上に
おける走査線と該光ビームによる該対象物上の走査点に
おける接線とで形成される走査平面に対して、該光ビー
ムの入射側と反対側の空間内に受光素子を設けると共
に、該光ビームが対象物上に入射したときに該走査平面
に対して光ビームの入射側と反対側の空間内に射出され
る光ビームを遮光する遮光手段を設け、該受光素子によ
り該走査平面よりも該光ビームの入射側の空間内に突出
した該対象物上の凸部材から生じる散乱光を検出し、該
受光素子からの出力信号を利用して該対象物上の表面状
態を検査していることを特徴としている。請求項2の発
明は、請求項1の発明において前記遮光手段は前記走査
線に平行なナイフエッジであることを特徴としている。
請求項3の発明の表面状態検査装置は光源手段からの光
ビームを用いて走査手段で対象物を走査する際、該光ビ
ームによる該対象物上における走査線と該光ビームによ
る該対象物上の走査点における接線とで形成される走査
平面に対して、該光ビームの入射側の空間内に受光素子
を設けると共に該光ビームで該対象物を走査するときに
該対象物の走査領域から該走査平面に対して光ビームの
入射側の空間内に射出される光束が該受光素子に入射す
るのを防止する該走査線に平行なナイフエッジより成る
遮光手段を設け、該受光素子により該走査平面よりも該
光ビームの入射側の空間内に突出した該対象物上の凸部
材から生じる散乱光を検出し、該受光素子からの出力信
号を利用して該対象物上の表面状態を検査していること
を特徴としている。請求項4の発明は請求項1、2又は
3の発明において前記対象物は円筒物体又はシート状の
透明物体又は板状の透明物体であることを特徴としてい
る。
According to another aspect of the present invention, there is provided a surface condition inspection apparatus, wherein when a scanning means scans an object using a light beam from a light source means, the scanning line on the object is caused by the light beam. A light receiving element is provided in the space opposite to the incident side of the light beam with respect to the scanning plane formed by the tangent line at the scanning point on the object by the light beam, and the light beam is applied to the object. When the light beam is incident on the scanning plane, a light shielding unit for shielding the light beam emitted in the space on the side opposite to the light beam incident side is provided, and the light receiving element is arranged to shield the light beam from the scanning plane from the scanning plane. Characterized by detecting scattered light generated from a convex member on the object protruding into the space on the incident side, and inspecting a surface state on the object using an output signal from the light receiving element. There is. The invention of claim 2 is characterized in that, in the invention of claim 1, the light shielding means is a knife edge parallel to the scanning line.
The surface condition inspection apparatus according to the invention of claim 3 uses the light beam from the light source means to scan the object by the scanning means, and the scanning line on the object by the light beam and the object by the light beam. The scanning plane formed by the tangent line at the scanning point of 1) is provided with a light receiving element in the space on the incident side of the light beam, and when scanning the object with the light beam, A light-shielding means is provided, which comprises a knife edge parallel to the scanning line for preventing a light beam emitted into the space on the light beam incident side with respect to the scanning plane from entering the light receiving element, The light receiving element detects scattered light generated from a convex member on the object projecting into the space on the incident side of the light beam with respect to the scanning plane, and the output signal from the light receiving element is used to detect the scattered light on the object. Characterized by inspecting the surface condition of That. The invention of claim 4 is characterized in that, in the invention of claim 1, 2 or 3, the object is a cylindrical object, a sheet-like transparent object or a plate-like transparent object.

【0009】請求項5の発明の表面状態検査方法は請求
項1〜4のいずれか1項記載の表面状態検査装置を用い
て、対象物上の表面状態を検査していることを特徴とし
ている。
The surface condition inspection method according to the invention of claim 5 claims
The surface condition inspection device according to any one of items 1 to 4 is used to inspect a surface condition on an object.

【0010】請求項6の発明の凸量測定装置は請求項1
〜4のいずれか1項記載の表面状態検査装置を用いて、
該対象物上に付着している凸部材の凸量を測定している
ことを特徴としている。請求項7の発明の凸量測定装置
光源手段からの光ビームを用いて走査手段で対象物を
走査する際、該光ビームによる該対象物上における走査
線と該光ビームによる該対象物上の走査点における接線
とで形成される走査平面に対して、該光ビームの入射側
と反対側の空間内に受光素子を設け、該受光素子により
該走査平面よりも該光ビームの入射側の空間内に突出し
た該対象物上の凸部材から生じる散乱光を検出し、該受
光素子からの出力信号を利用して該対象物上に付着して
いる凸部材の凸量を測定していることを特徴としてい
る。請求項8の発明の凸量測定装置は光源手段からの光
ビームを用いて走査手段で対象物を走査する際、該光ビ
ームによる該対象物上における走査線と該光ビームによ
る該対象物上の走査点における接線とで形成される走査
平面に対して、該光ビームの入射側の空間内に受光素子
を設けると共に該光ビームで該対象物を走査するときに
該対象物の走査領域から該走査平面に対して光ビームの
入射側の空間内に射出される光束が該受光素子に入射す
るのを防止する遮光手段を設け、該受光素子により該走
査平面よりも該光ビームの入射側の空間内に突出した該
対象物上の凸部材から生じる散乱光を検出し、該受光素
子からの出力信号を利用して該対象物上に付着している
凸部材の凸量を測定していることを特徴としている。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a convex amount measuring device according to the first aspect.
Using the surface condition inspection device according to any one of
It is characterized in that the convex amount of the convex member attached to the object is measured. The convex amount measuring device according to the invention of claim 7 uses the light beam from the light source means to scan the object with the scanning means.
When scanning, scanning on the object by the light beam
Line and tangent line at the scanning point on the object by the light beam
The incident side of the light beam with respect to the scanning plane formed by
A light receiving element is provided in the space on the opposite side of the
Projecting into the space on the incident side of the light beam with respect to the scanning plane
The scattered light generated from the convex member on the object is detected and the received light is detected.
It is characterized in that the convex amount of the convex member attached on the object is measured by using the output signal from the optical element . The convex amount measuring device according to the invention of claim 8 uses light from the light source means.
When the object is scanned by the scanning means using the beam, the optical beam
Scan line on the object and the light beam
Scan formed by the tangent line at the scan point on the object
Light receiving element in the space on the incident side of the light beam with respect to the plane
And when scanning the object with the light beam
Of the light beam from the scanning area of the object to the scanning plane
The light beam emitted into the space on the incident side enters the light receiving element.
A light-shielding device is provided to prevent the
The projection protruding into the space on the incident side of the light beam with respect to the inspection plane
The scattered light generated from the convex member on the object is detected, and the light receiving element is detected.
It is characterized in that the convex amount of the convex member attached on the object is measured by using the output signal from the child .

【0011】本発明の表面状態検査方法は、前述の構成
(1−1),(1−2),(1−3)のいずれか1つを
用いて対象物の表面を検査していることを特徴としてい
る。本発明の凸量検査装置は、前述の構成(1−1),
(1−2),(1−3)のいずれか1つを用いて凸部材
の突出量(凸量)を測定していることを特徴としてい
る。
According to the surface condition inspection method of the present invention, the surface of the object is inspected by using any one of the above-mentioned constitutions (1-1), (1-2) and (1-3). Is characterized by. The convex amount inspection device of the present invention has the above-mentioned configuration (1-1),
It is characterized in that the protrusion amount (convex amount) of the convex member is measured using any one of (1-2) and (1-3).

【0012】[0012]

【実施例】図1は本発明の実施例1の要部概略図であ
る。図2は図1の一部分の要部断面図である。
Embodiment 1 FIG. 1 is a schematic view of the essential portions of Embodiment 1 of the present invention. FIG. 2 is a cross-sectional view of a main part of a part of FIG.

【0013】図中、1は光源手段であり、例えばHe−
Neレーザ及びそれより放射される光ビーム1aを集光
する光学系等を有している。2は偏向手段であり、回転
多面鏡(ポリゴンミラー)から成り、回転軸2aを中心
に等速回転しており、光源手段1からの光ビーム1aを
偏向反射している。3はf−θ特性を有する走査光学系
であり、ポリゴンミラー2からの光ビームを集光してい
る。偏向手段2と走査光学系3は走査手段の一要素を構
成している。4は折り返しミラーであり、走査光学系3
からの光ビームを所定方向に反射している。5は測定す
る対象物であり、本実施例では円筒形状をしており、そ
の表面5b上に付着しているゴミや埃等の凸部材(凸部
ともいう。)の有無突出量等を検出している。対象物5
は回転軸5aを中心に矢印の如く一定速度で回転してい
る。
In the figure, 1 is a light source means, for example He-
It has an Ne laser and an optical system for condensing the light beam 1a emitted from it. Denoted at 2 is a deflecting means, which is composed of a rotating polygon mirror (polygon mirror), rotates at a constant speed around a rotation axis 2a, and deflects and reflects a light beam 1a from the light source means 1. Reference numeral 3 denotes a scanning optical system having an f-θ characteristic, which focuses the light beam from the polygon mirror 2. The deflecting means 2 and the scanning optical system 3 constitute one element of the scanning means. Reference numeral 4 denotes a folding mirror, which is a scanning optical system 3
Is reflected in a predetermined direction. Reference numeral 5 denotes an object to be measured, which has a cylindrical shape in this embodiment, and detects the presence or absence of a convex member (also referred to as a convex portion) such as dust or dust adhering to the surface 5b thereof. is doing. Object 5
Rotates about the rotating shaft 5a at a constant speed as indicated by an arrow.

【0014】6は受光ファイバーであり、対象物5の表
面上の欠陥で散乱された散乱光を均一に受光し集光して
いる。7は光電変換器であり、受光ファイバー6で集め
られた光を電気信号に変換するためのものであり、例え
ばホトマルチプライヤーより成っている。8は信号処理
部であり、光電変換器7からの電気信号から欠陥の存在
を検知している。受光ファイバー6と光電変換器7は受
光手段101の一要素を構成している。尚、本実施例に
おいては受光ファイバー6の位置に直接受光素子を配置
するようにしても良い。
Reference numeral 6 is a light receiving fiber, which uniformly receives and collects the scattered light scattered by the defects on the surface of the object 5. Reference numeral 7 denotes a photoelectric converter for converting the light collected by the light receiving fiber 6 into an electric signal, which is composed of, for example, a photomultiplier. A signal processing unit 8 detects the presence of a defect from the electric signal from the photoelectric converter 7. The light receiving fiber 6 and the photoelectric converter 7 form an element of the light receiving means 101. In the present embodiment, the light receiving element may be directly arranged at the position of the light receiving fiber 6.

【0015】本実施例では、光源手段1から出た光ビー
ム1aは走査用のポリゴンミラー2で偏向され、走査光
学系3で集光され、折り返しミラー4で所定の位置に向
かうよう角度を変えられ、円筒状の対象物5の表面5b
を長手方向に走査する。5cはこのときの走査線を示し
ている。対象物5は光ビーム1aの走査速度に対しゆっ
くりと回転しており、これにより、表面5b全体を光ビ
ーム1aで走査している。
In the present embodiment, the light beam 1a emitted from the light source means 1 is deflected by the scanning polygon mirror 2, condensed by the scanning optical system 3, and changed by the folding mirror 4 so as to move toward a predetermined position. The surface 5b of the cylindrical object 5
Scan in the longitudinal direction. 5c shows the scanning line at this time. The object 5 rotates slowly with respect to the scanning speed of the light beam 1a, so that the entire surface 5b is scanned by the light beam 1a.

【0016】本実施例では対象物5は金属製であり、不
透明なため、対象物5に当たった光ビーム1aは反射も
しくは散乱する。そのとき、対象物5の表面の光ビーム
の走査状態が見える領域(図1の走査線5cと光ビーム
1aの入射点の接線5dとで形成される走査平面より上
方の光ビームの入射側の領域S1)には、表面5bでの
散乱光が届くが、対象物5自身の影になる領域(図1の
走査平面より下方の光ビームの入射側とは反対側の空間
領域である領域S2)には、表面5bでの散乱光は届か
ない。一方、対象物5の表面5bに局所的に例えば凸部
材等の欠陥部分があった場合に、光ビーム1aがちょう
どそこを走査すれば、光ビーム1aが凸部材の高い位置
で散乱されるため、凸部材での散乱光は図1の領域S2
にまで届く。そして凸部材の高さが高いほど領域S2方
向への散乱光が届く角度が広がる。
In this embodiment, the object 5 is made of metal and is opaque, so that the light beam 1a which hits the object 5 is reflected or scattered. At that time, a region where the scanning state of the light beam on the surface of the object 5 is visible (on the incident side of the light beam above the scanning plane formed by the scanning line 5c of FIG. 1 and the tangent line 5d of the incident point of the light beam 1a) The scattered light on the surface 5b reaches the area S1), but the area is a shadow of the object 5 itself (the area S2 which is a space area below the scanning plane of FIG. 1 opposite to the incident side of the light beam). ) Is not reached by the scattered light on the surface 5b. On the other hand, if the surface 5b of the object 5 has a defective portion such as a convex member locally, if the light beam 1a scans just there, the light beam 1a is scattered at a high position of the convex member. , The scattered light on the convex member is the area S2 in FIG.
Reach to. Then, the higher the height of the convex member, the wider the angle at which the scattered light reaches in the area S2 direction.

【0017】そこで本実施例では、図1の領域S2に受
光ファイバー6又は受光素子(不図示)を配置してい
る。ここが本発明の特徴とする構成である。その結果、
対象物が正常な良品部分であるときは、そこからの散乱
光は受光手段101で全く受光されない。そして表面5
b上に凸部があったときは該凸部からの散乱光のみが受
光手段101で検出される。そしてこのときの散乱光を
光電変換器7で電気信号に変えている。そして凸部等の
欠陥が存在すると、それに相当する位置でパルス状の検
出信号が得られる。これを信号処理部8で判定処理する
ことにより対象物5の表面5b上の凸部材の有無を検知
している。
Therefore, in this embodiment, the light receiving fiber 6 or the light receiving element (not shown) is arranged in the region S2 of FIG. This is the characteristic configuration of the present invention. as a result,
When the object is a normal non-defective part, the scattered light from the part is not received by the light receiving means 101 at all. And surface 5
When there is a convex portion on b, only the scattered light from the convex portion is detected by the light receiving means 101. Then, the scattered light at this time is converted into an electric signal by the photoelectric converter 7. If there is a defect such as a convex portion, a pulsed detection signal is obtained at a position corresponding to it. The presence / absence of a convex member on the surface 5b of the object 5 is detected by performing a determination process on this by the signal processing unit 8.

【0018】また受光ファイバー6の角度は、図1の領
域S1と領域S2の境界線5dを含む走査平面よりも離
れるほど、大きな凸部しか検出しなくなる。従ってこの
ときの離れ量を調整して、凸部の突出量を定量的に判定
している。次にこの理由を図2を用いて説明する。
Further, the larger the angle of the light receiving fiber 6 is from the scanning plane including the boundary line 5d between the area S1 and the area S2 in FIG. 1, the larger the convex portion is detected. Therefore, the amount of separation at this time is adjusted to quantitatively determine the amount of protrusion of the convex portion. Next, the reason for this will be described with reference to FIG.

【0019】対象物5の中心(回転中心5aに相当)を
O、半径をrとして、その表面5bの光ビーム1aが走
査している点をAとする。そして凸部の高さをdとし
て、高さdだけ凸になった点をBとする。高さdは半径
rに比べて小さく、d<<rであるが、同図では説明の
ため大きく表している。そして点Aを通る接線がADで
あり、点Bを通る接線がBEである。尚、走査線5cと
接線ADとで形成される平面が走査平面である。接線B
Eは、点Cで円と接し、角AOCをθとする。
The center of the object 5 (corresponding to the center of rotation 5a) is O, the radius is r, and the point on the surface 5b of which the light beam 1a is scanning is A. Then, the height of the convex portion is d, and the point convexed by the height d is B. The height d is smaller than the radius r and is d << r, but is shown large in the figure for the sake of explanation. The tangent line passing through the point A is AD, and the tangent line passing through the point B is BE. The plane formed by the scanning line 5c and the tangent line AD is the scanning plane. Tangent line B
E is in contact with the circle at point C, and the angle AOC is θ.

【0020】良品部の表面5bでは光ビーム1aは点A
の位置をスポット照明するため、散乱光は同図の領域S
1の範囲にしか届かない。この散乱光が届くか届かない
かの境界線は、光ビームのスポット径が理想的に小さい
とすると、点Aを通る接線ADである。一方、表面5b
に凸部があり、表面5bよりも高さdだけ高くなってい
る点Bを光ビームが走査したとすると、点Bでの散乱光
は円周に遮られるぎりぎりの角度である方向Eにまで届
くことになる。そしてこの角度は対象物5自身が遮光物
として働いているため、取り付け位置ずれや偏心にはほ
とんど影響されない。
On the surface 5b of the non-defective part, the light beam 1a has a point A.
In order to spot-illuminate the position of
It only reaches the range of 1. The boundary line of whether the scattered light reaches or does not reach is a tangent line AD passing through the point A, assuming that the spot diameter of the light beam is ideally small. On the other hand, the surface 5b
Assuming that the light beam scans a point B that has a convex portion on its surface and is higher than the surface 5b by a height d, the scattered light at the point B is extended to the direction E, which is a marginal angle blocked by the circumference. It will arrive. Since this object 5 itself acts as a light shield, this angle is hardly affected by the mounting position deviation and eccentricity.

【0021】そのときの角度θと対象物5の半径rと、
凸部の高さdとの関係は、 cosθ = r/(r+d) である。すなわち対象物5の大きさと検出すべき欠陥と
しての凸部の高さdが決まれば、受光ファイバーをどの
角度に配置すればよいかが決まる。これにより凸部の高
さを定量化して判定している。そして逆に受光する角度
を動かし、どの角度にしたときに凸部からの信号が検出
できるようになるかを測定し、上式から計算すること
で、検出している凸部の高さを測定している。
The angle θ and the radius r of the object 5 at that time are:
The relationship with the height d of the convex portion is cos θ = r / (r + d). That is, when the size of the object 5 and the height d of the convex portion as a defect to be detected are determined, the angle at which the light receiving fiber should be arranged is determined. Thereby, the height of the convex portion is quantified and determined. On the contrary, move the angle of light reception, measure at what angle the signal from the convex part can be detected, and calculate from the above formula to measure the height of the detected convex part. is doing.

【0022】以上のように本実施例によれば、良品部分
からの散乱光を全く受光せず、凸部材からの散乱光のみ
を受光するようにして高感度に凸部の有無を検出してい
る。また対象物の表面のざらつきやナシ地処理などによ
り、良品部での散乱光のばらつきが大きな場合であって
も、その影響がなくなり、高いS/Nで凸部の有無の検
出をしている。そして対象物5自身を遮光のために使用
することから、円筒状の物体に偏心があっても散乱光を
遮る角度のぶれが小さく、そのため凸部の高さの検出誤
差が小さくなる。さらに対象物5に対し、検出したい欠
陥の凸部の高さが決まれば、受光ファイバー6の配置が
決まることから、凸部の高さを定量化して凸部の有無の
判定をすることができる。さらに受光ファイバー6の角
度を移動させ、受光信号が出はじめるぎりぎりの角度を
求めることで、上記の式から凸部の高さdを求めてい
る。
As described above, according to this embodiment, the scattered light from the non-defective portion is not received at all, and only the scattered light from the convex member is received so that the presence or absence of the convex portion can be detected with high sensitivity. There is. In addition, even if the scattered light in the non-defective part has a large variation due to the surface roughness of the target object or pear texture treatment, the influence is eliminated, and the presence or absence of the convex part is detected with a high S / N. . Since the object 5 itself is used for light shielding, even if the cylindrical object has eccentricity, the deviation of the angle that blocks scattered light is small, and thus the error in detecting the height of the convex portion is small. Further, if the height of the convex portion of the defect to be detected is determined with respect to the object 5, the placement of the light receiving fiber 6 is determined, and therefore the height of the convex portion can be quantified to determine the presence or absence of the convex portion. . Further, the height d of the convex portion is obtained from the above equation by moving the angle of the light receiving fiber 6 and obtaining the angle at which the light receiving signal starts to appear.

【0023】図3は本発明の実施例2の要部概略図、図
4は図3の一部分の要部断面図である。
FIG. 3 is a schematic view of the essential portions of Embodiment 2 of the present invention, and FIG. 4 is a sectional view of the essential portions of FIG.

【0024】本実施例は表面状態を検出する対象物5と
して柔軟性のシート状の透明フィルムを用い、該透明フ
ィルムを円筒状の回転物であるガイドローラ9に矢印9
a方向に接触移動させていること、対象物5の良品部か
らの散乱光を遮光する為の遮光手段としてナイフエッジ
10を用いていることが実施例1と異なっており、その
他の構成は同じである。尚、遮光手段10は走査平面よ
りも光ビームの入射側と反対側の空間内に配置してい
る。
In this embodiment, a flexible sheet-like transparent film is used as the object 5 for detecting the surface state, and the transparent film is applied to the guide roller 9 which is a cylindrical rotating object by the arrow 9.
It is different from the first embodiment in that it is moved in contact with the a direction, and the knife edge 10 is used as a light blocking means for blocking the scattered light from the non-defective part of the target object 5, and other configurations are the same. Is. The light shielding means 10 is arranged in a space opposite to the light beam incident side with respect to the scanning plane.

【0025】本実施例では光ビーム1aで透明フィルム
からなる対象物5上の表面5bを走査している。そのと
きの走査位置は対象物5をガイドローラ9にかけてある
位置で、ガイドローラ9の表面にならって曲がっている
部分である。対象物5はガイドローラ9の回転とともに
送られることで対象物5を光ビーム1aで連続的に走査
線5cに示すように走査している。
In this embodiment, the light beam 1a scans the surface 5b on the object 5 made of a transparent film. The scanning position at that time is a position where the object 5 is placed on the guide roller 9, and is a portion which is curved following the surface of the guide roller 9. The object 5 is sent with the rotation of the guide roller 9 to scan the object 5 with the light beam 1a continuously as shown by the scanning line 5c.

【0026】そして本実施例では対象物5が透明である
ことから、実施例1で説明したような対象物自身が遮光
する効果がない。そのためナイフエッジ10を対象物5
の光ビームの走査点に近い位置に配置し、このナイフエ
ッジ10で対象物5の良品部からの散乱光を遮光してい
る。領域S1はこのナイフエッジ10に良品部からの散
乱光が遮られない領域であり、領域S2は遮られる領域
である。
In this embodiment, since the object 5 is transparent, the object itself does not have the effect of blocking light as described in the first embodiment. Therefore, the knife edge 10 is set to the target 5
This knife edge 10 blocks the scattered light from the non-defective part of the object 5 by arranging it at a position close to the scanning point of the light beam. The region S1 is a region where the scattered light from the non-defective portion is not blocked by the knife edge 10, and the region S2 is a region where it is blocked.

【0027】一方、対象物5の表面5bに凸部がある
と、光は高い位置で散乱されるため、その散乱光は領域
S2まで届くようになる。凸部の高さが高いほど領域S
2の方へ大きく広がって届くようになる。
On the other hand, if the surface 5b of the object 5 has a convex portion, the light is scattered at a high position, and the scattered light reaches the area S2. The higher the height of the protrusion, the more the area S
It will spread widely to 2 people.

【0028】そこで、受光ファイバ6を領域S2に配置
している。ここが本実施例の特徴とする構成である。本
実施例では、これにより良品部からの散乱光は全く受光
せず、凸部での散乱光のみを受光手段101で受光する
ようにしている。この散乱光を光電変換器7で電気信号
に変えている。そして凸部があると、それに相当する位
置でパルス状の検出信号が得られる。この信号を信号処
理部8で処理することにより透明フィルム5上の欠陥を
検知している。
Therefore, the light receiving fiber 6 is arranged in the region S2. This is the characteristic configuration of this embodiment. In this embodiment, the scattered light from the non-defective portion is not received at all, and only the scattered light at the convex portion is received by the light receiving means 101. This scattered light is converted into an electric signal by the photoelectric converter 7. If there is a convex portion, a pulsed detection signal can be obtained at a position corresponding to the convex portion. The signal processing unit 8 processes this signal to detect a defect on the transparent film 5.

【0029】次に図4を用いて本実施例の特徴部分を説
明する。厚さtの対象物5はガイドローラ9の上にかけ
られ、同図のようにガイドローラ9の表面にそって曲が
る。この曲がった部分のA点に光ビーム1aがスポット
状に照射する。この良品部での散乱光はナイフエッジ1
0により、点Pより下方、即ち走査平面より下方の光が
遮られ、同図の領域S1の角度には届くが、領域S2の
角度には届かない。その境界線5dは線分ADである。
一方対象物5の表面5bに高さdの凸部があると、その
凸部の点Bでの散乱光は、高い位置で散乱されることか
ら、さらに線分E方向の角度θ方向にまで届く。このと
きの角度差θはナイフエッジ10の位置Pと、光ビーム
1aの操作位置Aと凸部の高さdで決まる。
Next, the characteristic part of this embodiment will be described with reference to FIG. The object 5 having the thickness t is hung on the guide roller 9 and bent along the surface of the guide roller 9 as shown in FIG. The light beam 1a irradiates the point A of the bent portion in a spot shape. Scattered light at this non-defective part is knife edge 1
By 0, light below the point P, that is, below the scanning plane is blocked and reaches the angle of the region S1 in the figure, but does not reach the angle of the region S2. The boundary line 5d is the line segment AD.
On the other hand, if the surface 5b of the object 5 has a convex portion with a height d, the scattered light at the point B of the convex portion is scattered at a high position, so that the line segment E direction is further extended to the angle θ direction. reach. The angle difference θ at this time is determined by the position P of the knife edge 10, the operating position A of the light beam 1a, and the height d of the convex portion.

【0030】ここでは関係式が最も簡単となる、角OA
P=90度のときの例を示しているが、それ以外の場合
でも関係式が少し複雑になるだけで、本質的な差はな
い。光ビーム1aの操作位置Aとナイフエッジ10の位
置Pとの距離をLとすれば、角BAP=90度なので、 tanθ = d/L となる。すなわち、凸部の高さdが大きくなるほど、そ
こでの散乱光は領域S2へ大きな角度まで届くことにな
る。またナイフエッジ10を光ビーム1aの走査位置に
近づけるほど、同じく散乱光は大きな角度まで届くこと
になる。以上のことから、この領域S2の角度に受光フ
ァイバー6を配置することで、凸部からの散乱光のみを
とらえている。
Here, the relation OA is the simplest, the angle OA
An example is shown when P = 90 degrees, but in other cases, the relational expression is slightly complicated and there is no essential difference. If the distance between the operating position A of the light beam 1a and the position P of the knife edge 10 is L, then the angle BAP = 90 degrees, so tan θ = d / L. That is, as the height d of the convex portion increases, the scattered light there reaches a larger angle to the region S2. Further, the closer the knife edge 10 is to the scanning position of the light beam 1a, the larger the scattered light reaches. From the above, by arranging the light receiving fiber 6 at the angle of this region S2, only the scattered light from the convex portion is captured.

【0031】以上のように、本実施例によれば、良品部
分からの散乱光を全く受光せず、凸部からの散乱光のみ
を受光するようにして、高感度に凸部の有無を検出して
いる。また対象物の表面のざらつきやナシ地加工などに
より、良品部での散乱光のばらつきが大きな場合であっ
てもその影響が少なくなり、安定した高いS/N比で凸
部の検出を行っている。さらに本実施例によれば、検出
したい凸部の凸量(高さ)が決まれば、ナイフエッジ1
0と受光ファイバー6の配置が決定でき、それにより凸
部の高さを定量化して凸部の有無の判定をすることがで
きるという効果を得ている。
As described above, according to this embodiment, the scattered light from the non-defective portion is not received at all, and only the scattered light from the convex portion is received, so that the presence or absence of the convex portion can be detected with high sensitivity. is doing. Even if the scattered light in the non-defective part has a large variation due to the roughness of the surface of the target object or pear texture processing, the effect is reduced, and the convex part is detected with a stable high S / N ratio. There is. Further, according to the present embodiment, if the convex amount (height) of the convex portion to be detected is determined, the knife edge 1
0 and the arrangement of the light-receiving fiber 6 can be determined, whereby the height of the convex portion can be quantified and the presence or absence of the convex portion can be determined.

【0032】図5は本発明の実施例3の要部概略図、図
6は図5の一部分の要部断面図である。
FIG. 5 is a schematic view of the essential portions of Embodiment 3 of the present invention, and FIG. 6 is a sectional view of the essential portions of FIG.

【0033】本実施例は表面状態を検出する対象物5と
して平板性のガラス基板を用いていること、対象物5を
移動させる為に自動ステージ11を用いていること、そ
して対象物5の良品部からの散乱光を遮光する為の遮光
手段としてのナイフエッジ10を用いていることが実施
例1と異なっており、その他の構成は同じである。尚、
遮光手段10は走査平面よりも光ビームの入射側の空間
内に配置している。
In this embodiment, a flat glass substrate is used as the object 5 whose surface state is to be detected, an automatic stage 11 is used to move the object 5, and a non-defective product of the object 5 is used. The present embodiment is different from the first embodiment in that a knife edge 10 is used as a light blocking means for blocking the scattered light from the portion, and the other configurations are the same. still,
The light blocking means 10 is arranged in the space on the light beam incident side of the scanning plane.

【0034】本実施例では、光ビーム1aでガラス基板
より成る対象物5の表面5bを走査する。そして、この
光ビーム1aの走査速度に対してゆっくりと自動ステー
ジ11を移動させて、光ビームで対象物5の表面全体を
走査している。そして本実施例では対象物5が平板状な
ため、ナイフエッジ10は対象物5の上方空間に配置し
ている。これによりこのナイフエッジ10で良品部から
の散乱光を遮光している。このナイフエッジ10に良品
部からの散乱光が遮られない領域が、図5の領域S1で
あり、遮られる角度が図5の領域S2である。一方、対
象物5の表面5bに凸部があると、光ビームは凸部の高
い位置で散乱されるため、その散乱光は領域S2まで届
くようになる。凸部の高さが高いほど、領域S2の方へ
大きく広がって届くようになる。
In this embodiment, the surface 5b of the object 5 made of a glass substrate is scanned with the light beam 1a. Then, the automatic stage 11 is slowly moved with respect to the scanning speed of the light beam 1a to scan the entire surface of the object 5 with the light beam. Since the object 5 is flat in this embodiment, the knife edge 10 is arranged in the space above the object 5. As a result, the knife edge 10 blocks the scattered light from the non-defective part. A region where the scattered light from the non-defective portion is not blocked by the knife edge 10 is a region S1 in FIG. 5, and a blocked angle is a region S2 in FIG. On the other hand, if the surface 5b of the object 5 has a convex portion, the light beam is scattered at a position where the convex portion is high, and thus the scattered light reaches the area S2. As the height of the convex portion is higher, the area S2 is more widely spread and reaches the area S2.

【0035】そこで、受光ファイバ6を領域S2に配置
している。ここが本実施例の特徴とする構成である。そ
の結果、良品部からの散乱光は全く受光せず、凸部での
散乱光のみを受光手段101で受光するようにしてい
る。このときの散乱光を光電変換器7で電気信号に変え
ている。そして凸部があると、それに相当する位置でパ
ルス状の検出信号が得られる。この信号を信号処理部8
で処理することによりガラス基板上の凸部の有無を検知
している。
Therefore, the light receiving fiber 6 is arranged in the region S2. This is the characteristic configuration of this embodiment. As a result, the scattered light from the non-defective portion is not received at all, and only the scattered light at the convex portion is received by the light receiving means 101. The scattered light at this time is converted into an electric signal by the photoelectric converter 7. If there is a convex portion, a pulsed detection signal can be obtained at a position corresponding to the convex portion. This signal is sent to the signal processing unit 8
The presence / absence of a convex portion on the glass substrate is detected by performing the processing described in 1.

【0036】次に図6を用いて本実施例の特徴部分を説
明する。対象物5の点Aに光ビーム1aがスポットで照
射する。この良品部からの散乱光は、ナイフエッジ10
により、点Pより下方の光が遮られ、同図の領域S1の
角度には届くが、領域S2の角度には届かない。その境
界線5dは線分ADである。
Next, the characteristic part of this embodiment will be described with reference to FIG. The spot A of the object 5 is irradiated with the light beam 1a as a spot. The scattered light from the non-defective part is the knife edge 10
As a result, the light below the point P is blocked and reaches the angle of the area S1 in the figure, but does not reach the angle of the area S2. The boundary line 5d is the line segment AD.

【0037】一方、対象物5の表面5bに高さdの凸部
があると、その凸部の点Bからの散乱光は散乱位置が高
いことからさらに線分E方向の角度θ方向にまで届く。
このときの角度差θはナイフエッジ10の位置Pと、光
ビーム1aの走査位置Aと、凸部の高さdで決まる。光
ビーム1aの走査位置Aとナイフエッジ10の位置Pと
の間隔をLとし、ナイフエッジ点Pの、点Aからの高さ
をhとすれば、 θ = arctan L/(h−d)− arcta
n L/h となる。すなわち、凸部の高さdが大きくなるほど、そ
こでの散乱光は領域S2へ大きな角度まで届くことにな
る。
On the other hand, when the surface 5b of the object 5 has a convex portion with a height d, the scattered light from the point B of the convex portion has a high scattering position, and therefore, the angle E direction of the line segment E direction is further extended. reach.
The angle difference θ at this time is determined by the position P of the knife edge 10, the scanning position A of the light beam 1a, and the height d of the convex portion. If the distance between the scanning position A of the light beam 1a and the position P of the knife edge 10 is L, and the height of the knife edge point P from the point A is h, then θ = arctan L / (hd)- arcta
n L / h. That is, as the height d of the convex portion increases, the scattered light there reaches a larger angle to the region S2.

【0038】この領域S2に受光ファイバー6を配置す
ることで、凸部からの散乱光のみをとらえている。
By arranging the light receiving fiber 6 in this region S2, only the scattered light from the convex portion is captured.

【0039】以上のように本実施例によれば、良品部分
からの散乱光を全く受光せず、凸部からの散乱光のみ受
光するようにして、高感度に凸部の有無を検出してい
る。また対象物の表面のざらつきやナシ地処理などによ
り、良品部での散乱光のばらつきが大きく、散乱光量に
不均一がある場合でも、その影響が少なくなり高いS/
Nで凸部の有無の検出を可能としている。
As described above, according to this embodiment, the scattered light from the non-defective portion is not received at all, and only the scattered light from the convex portion is received, and the presence or absence of the convex portion is detected with high sensitivity. There is. In addition, the unevenness of the scattered light in the non-defective part is large due to the roughness of the surface of the object or the pear treatment, and even if the scattered light amount is not uniform, the effect is reduced and the S / S ratio is high.
The presence / absence of a convex portion can be detected by N.

【0040】さらに検出したい凸部の高さが決まれば、
ナイフエッジ10と受光ファイバー6の配置が決定で
き、これにより凸部の高さを定量化して凸部の有無の判
定をすることができるという効果を得ている。
If the height of the convex portion to be detected is determined,
The arrangement of the knife edge 10 and the light receiving fiber 6 can be determined, and the height of the convex portion can be quantified to determine the presence or absence of the convex portion.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、対象物の
表面を光ビームで走査して、該表面に付着しているゴミ
や埃等の欠陥部としての凸部材から生じる散乱光を空間
内に適切に配置した受光素子から得られる信号を用いる
ことにより対象物の表面のざらつきや不均一の影響を受
けずに、該凸部材を精度良く検出するようにした表面状
態検査装置を達成することができる。
As described above, according to the present invention, the surface of an object is scanned with a light beam and scattered light generated from a convex member as a defective portion such as dust or dust adhering to the surface is scattered. By using the signal obtained from the light receiving element properly arranged in the space, the surface condition inspection device which can detect the convex member accurately without being affected by the roughness and non-uniformity of the surface of the object is achieved. can do.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施例1の要部概略図FIG. 1 is a schematic view of a main part of a first embodiment of the present invention.

【図2】 本発明の実施例1の要部断面図FIG. 2 is a cross-sectional view of the essential parts of Embodiment 1 of the present invention.

【図3】 本発明の実施例2の要部概略図FIG. 3 is a schematic view of the essential portions of Embodiment 2 of the present invention.

【図4】 本発明の実施例2の要部断面図FIG. 4 is a sectional view of an essential part of a second embodiment of the present invention.

【図5】 本発明の実施例3の要部概略図FIG. 5 is a schematic view of the essential portions of Embodiment 3 of the present invention.

【図6】 本発明の実施例3の要部断面図FIG. 6 is a cross-sectional view of the essential parts of Embodiment 3 of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光源手段 2 偏向手段 3 走査光学系 4 折り返しミラー 5 対象物 6 受光ファイバー 7 光電変換器 8 信号処理回路 9 ガイドローラ 10 遮光手段 101 受光手段 1 light source means 2 deflection means 3 Scanning optical system 4 folding mirror 5 objects 6 Light receiving fiber 7 Photoelectric converter 8 Signal processing circuit 9 Guide roller 10 Shading means 101 light receiving means

フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01N 21/84 - 21/958 G01B 11/00 - 11/30 Front page continued (58) Fields surveyed (Int.Cl. 7 , DB name) G01N 21/84-21/958 G01B 11/00-11/30

Claims (8)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 光源手段からの光ビームを用いて走査手
段で対象物を走査する際、該光ビームによる該対象物上
における走査線と該光ビームによる該対象物上の走査点
における接線とで形成される走査平面に対して、該光ビ
ームの入射側と反対側の空間内に受光素子を設けると共
に、該光ビームが対象物上に入射したときに該走査平面
に対して光ビームの入射側と反対側の空間内に射出され
る光ビームを遮光する遮光手段を設け、該受光素子によ
り該走査平面よりも該光ビームの入射側の空間内に突出
した該対象物上の凸部材から生じる散乱光を検出し、該
受光素子からの出力信号を利用して該対象物上の表面状
態を検査していることを特徴とする表面状態検査装置。
1. When a scanning means scans an object with a light beam from a light source means, a scanning line on the object by the light beam and a tangent line at a scanning point on the object by the light beam. A light receiving element is provided in the space opposite to the incident side of the light beam with respect to the scanning plane formed by, and when the light beam is incident on the object, A convex member on the object which is provided with a light shielding means for shielding a light beam emitted into the space opposite to the incident side, and which is projected by the light receiving element into the space on the incident side of the light beam with respect to the scanning plane. A surface condition inspection device, which detects scattered light generated from the light receiving device and inspects a surface condition on the object using an output signal from the light receiving element.
【請求項2】 前記遮光手段は前記走査線に平行なナイ
フエッジであることを特徴とする請求項の表面状態検
査装置。
2. The surface condition inspection apparatus according to claim 1 , wherein the light shielding means is a knife edge parallel to the scanning line.
【請求項3】 光源手段からの光ビームを用いて走査手
段で対象物を走査する際、該光ビームによる該対象物上
における走査線と該光ビームによる該対象物上の走査点
における接線とで形成される走査平面に対して、該光ビ
ームの入射側の空間内に受光素子を設けると共に該光ビ
ームで該対象物を走査するときに該対象物の走査領域か
ら該走査平面に対して光ビームの入射側の空間内に射出
される光束が該受光素子に入射するのを防止する該走査
線に平行なナイフエッジより成る遮光手段を設け、該受
光素子により該走査平面よりも該光ビームの入射側の空
間内に突出した該対象物上の凸部材から生じる散乱光を
検出し、該受光素子からの出力信号を利用して該対象物
上の表面状態を検査していることを特徴とする表面状態
検査装置。
3. When a scanning means scans an object with a light beam from a light source means, a scanning line on the object by the light beam and a tangent line at a scanning point on the object by the light beam. A light receiving element is provided in the space on the incident side of the light beam with respect to the scanning plane formed by, and when scanning the object with the light beam, The scanning for preventing the light beam emitted into the space on the incident side of the light beam from entering the light receiving element
A light-shielding means composed of knife edges parallel to the line is provided, and the light receiving element detects scattered light generated from a convex member on the object projecting into the space on the incident side of the light beam with respect to the scanning plane, A surface condition inspection apparatus, which inspects a surface condition on an object using an output signal from a light receiving element.
【請求項4】 前記対象物は円筒物体又はシート状の透
明物体又は板状の透明物体であることを特徴とする請求
項1,2又は3の表面状態検査装置。
4. The surface condition inspection apparatus according to claim 1, wherein the object is a cylindrical object, a sheet-shaped transparent object, or a plate-shaped transparent object.
【請求項5】 請求項1〜4のいずれか1項記載の表面
状態検査装置を用いて、対象物上の表面状態を検査して
いることを特徴とする表面状態検査方法。
5. A surface condition inspecting method for inspecting a surface condition on an object using the surface condition inspecting apparatus according to any one of claims 1 to 4 .
【請求項6】 請求項1〜4のいずれか1項記載の表面
状態検査装置を用いて、該対象物上に付着している凸部
材の凸量を測定していることを特徴とする凸量測定装
置。
6. A convexity characterized by measuring the convexity of a convex member adhering to the object using the surface condition inspection apparatus according to claim 1. Quantity measuring device.
【請求項7】 光源手段からの光ビームを用いて走査手
段で対象物を走査する際、該光ビームによる該対象物上
における走査線と該光ビームによる該対象物上の走査点
における接線とで形成される走査平面に対して、該光ビ
ームの入射側と反対側の空間内に受光素子を設け、該受
光素子により該走査平面よりも該光ビームの入射側の空
間内に突出した該対象物上の凸部材から生じる散乱光を
検出し、該受光素子からの出力信号を利用して該対象物
に付着している凸部材の凸量を測定していることを特
徴とする凸量測定装置。
7. A scanning device using a light beam from a light source means.
On the object by the light beam when scanning the object in steps
Scanning line at and the scanning point on the object by the light beam
To the scanning plane formed by the tangent line at
Provide a light receiving element in the space on the side opposite to the incident side of the
The light element causes the sky on the incident side of the light beam with respect to the scanning plane
The scattered light generated from the convex member on the target that protrudes in the space
The object detected by using the output signal from the light receiving element
A convex amount measuring device characterized in that the convex amount of a convex member attached to the upper side is measured.
【請求項8】 光源手段からの光ビームを用いて走査手
段で対象物を走査する際、該光ビームによる該対象物上
における走査線と該光ビームによる該対象物上の走査点
における接線とで形成される走査平面に対して、該光ビ
ームの入射側の空間内に受光素子を設けると共に該光ビ
ームで該対象物を走査するときに該対象物の走査領域か
ら該走査平面に対して光ビームの入射側の空間内に射出
される光束が該受光素子に入射するのを防止する遮光手
段を設け、該受光素子により該走査平面よりも該光ビー
ムの入射側の空間内に突出した該対象物上の凸部材から
生じる散乱光を検出し、該受光素子からの出力信号を利
用して該対象物上に付着している凸部材の凸量を測定し
ていることを特徴とする凸量測定装置。
8. A scanning device using a light beam from a light source means.
On the object by the light beam when scanning the object in steps
Scanning line at and the scanning point on the object by the light beam
To the scanning plane formed by the tangent line at
A light receiving element is provided in the space on the incident side of the beam and
The scanning area of the object when scanning
Exits into the space on the incident side of the light beam with respect to the scanning plane
Light-shielding hand for preventing incident light flux from entering the light receiving element
A step is provided, and the optical beam is provided more than the scanning plane by the light receiving element.
From the convex member on the object protruding into the space on the incident side of the frame
The generated scattered light is detected and the output signal from the photo detector is used.
The convex amount measuring device is characterized in that the convex amount of the convex member attached to the object is measured.
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