JPH0599911A - 液体クロマトグラフ質量分析装置 - Google Patents
液体クロマトグラフ質量分析装置Info
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- JPH0599911A JPH0599911A JP3256409A JP25640991A JPH0599911A JP H0599911 A JPH0599911 A JP H0599911A JP 3256409 A JP3256409 A JP 3256409A JP 25640991 A JP25640991 A JP 25640991A JP H0599911 A JPH0599911 A JP H0599911A
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0431—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components for liquid samples
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/62—Detectors specially adapted therefor
- G01N30/72—Mass spectrometers
- G01N30/7233—Mass spectrometers interfaced to liquid or supercritical fluid chromatograph
- G01N30/724—Nebulising, aerosol formation or ionisation
- G01N30/7253—Nebulising, aerosol formation or ionisation by thermal means, e.g. thermospray
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- H01J49/0468—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components with means for heating or cooling the sample
Abstract
(57)【要約】
【目的】 大気圧イオン化法を用いた液体クロマトグラ
フ質量分析計において、測定者の経験に頼らず、いかな
るＬＣ条件であっても最適な霧化器温度での測定を可能
とする。 【構成】 測定者が入出力端末装置１を介しＣＰＵ２に
ＬＣ条件を入力すると、ＲＡＭ３ａに記憶された過去の
測定例の中から最も近いＬＣ条件を検索し、この検索さ
れたＬＣ条件の霧化器温度を基に今回の霧化器温度を自
動的に設定する。またはＬＣ条件と霧化器の降温プログ
ラムを入力すると、ＣＰＵ２はそのプログラムにそって
温度設定する。これらの設定温度の指令により霧化器加
熱用電源４や冷却用ファン電源５が制御される。 【効果】 初心者でも簡単に測定でき、グラジェント分
析の自動温度設定も可能とし、常に安定した移動相溶媒
の加熱噴霧により試料成分を高効率でイオン化させる。
フ質量分析計において、測定者の経験に頼らず、いかな
るＬＣ条件であっても最適な霧化器温度での測定を可能
とする。 【構成】 測定者が入出力端末装置１を介しＣＰＵ２に
ＬＣ条件を入力すると、ＲＡＭ３ａに記憶された過去の
測定例の中から最も近いＬＣ条件を検索し、この検索さ
れたＬＣ条件の霧化器温度を基に今回の霧化器温度を自
動的に設定する。またはＬＣ条件と霧化器の降温プログ
ラムを入力すると、ＣＰＵ２はそのプログラムにそって
温度設定する。これらの設定温度の指令により霧化器加
熱用電源４や冷却用ファン電源５が制御される。 【効果】 初心者でも簡単に測定でき、グラジェント分
析の自動温度設定も可能とし、常に安定した移動相溶媒
の加熱噴霧により試料成分を高効率でイオン化させる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば大気圧イオン化
方式の液体クロマトグラフ質量分析装置に関する。
方式の液体クロマトグラフ質量分析装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】液体クロマトグラフから流出した試料成
分は、移動相溶媒とともにテフロンパイプを介して霧化
器に到達する。霧化器は、１８０℃〜３３０℃に加熱さ
れており、ここで試料成分と移動相溶媒は加熱噴霧され
る。霧状になった試料成分と移動相溶媒は次に脱溶媒室
に到達し、ここで大部分の移動相溶媒が気化し除外され
たのち大気圧イオン化室に導入される。イオン化室には
コロナ放電用の針電極が設けられており、この放電によ
り溶媒分子がイオン化する。ここで生成した溶媒イオン
から試料分子に電荷が与えられ、試料分子はイオン化す
る。生成したイオンは、中間圧力部を通って質量分析計
本体へ導入され、質量分析結果がデータ処理装置（ＣＰ
Ｕ：中央処理装置）からマススペクトルとして出力され
る。
分は、移動相溶媒とともにテフロンパイプを介して霧化
器に到達する。霧化器は、１８０℃〜３３０℃に加熱さ
れており、ここで試料成分と移動相溶媒は加熱噴霧され
る。霧状になった試料成分と移動相溶媒は次に脱溶媒室
に到達し、ここで大部分の移動相溶媒が気化し除外され
たのち大気圧イオン化室に導入される。イオン化室には
コロナ放電用の針電極が設けられており、この放電によ
り溶媒分子がイオン化する。ここで生成した溶媒イオン
から試料分子に電荷が与えられ、試料分子はイオン化す
る。生成したイオンは、中間圧力部を通って質量分析計
本体へ導入され、質量分析結果がデータ処理装置（ＣＰ
Ｕ：中央処理装置）からマススペクトルとして出力され
る。
【０００３】霧化器の温度は使用する移動相溶媒の沸点
および気化熱により決定される。従って、移動相の種類
または２成分以上からなる混合溶媒の場合はその混合比
により、安定した霧化が行なわれる最適温度は異なって
くる。また、時間とともに移動相の混合比が変わるグラ
ジェント測定においては、霧化器の最適温度も時間とと
もに変わることになる。
および気化熱により決定される。従って、移動相の種類
または２成分以上からなる混合溶媒の場合はその混合比
により、安定した霧化が行なわれる最適温度は異なって
くる。また、時間とともに移動相の混合比が変わるグラ
ジェント測定においては、霧化器の最適温度も時間とと
もに変わることになる。
【０００４】大気圧イオン化法においては、霧化器温度
が試料の検出感度に及ぼす影響が著しくこの温度設定を
適確に行うことが良好なマススペクトルを得るには重要
である。
が試料の検出感度に及ぼす影響が著しくこの温度設定を
適確に行うことが良好なマススペクトルを得るには重要
である。
【０００５】従来の装置は、霧化器温度は霧化器温度コ
ントローラにより制御されておりこのコントローラから
測定者がマニュアルで温度設定を行っていた。
ントローラにより制御されておりこのコントローラから
測定者がマニュアルで温度設定を行っていた。
【０００６】なお、大気圧イオン化方式の液体クロマト
グラフ質量分析装置の従来例としては、例えば特開昭５
９−２１０３５８号，特開昭６３−２４１８４９号公報
等に開示されたものがある。
グラフ質量分析装置の従来例としては、例えば特開昭５
９−２１０３５８号，特開昭６３−２４１８４９号公報
等に開示されたものがある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来のこの種装置にお
ける霧化器の温度設定については、測定者が経験だけを
頼りにマニュアルで温度設定を行っていた。すなわち、
従来は、霧化器温度コントローラが質量分析のデータ処
理装置たるＣＰＵから独立しており、この霧化器温度コ
ントローラに対してマニュアルの温度設定を行ってい
た。このため、初心者には、温度設定が難しいという問
題があった。また、グラジェント分析を行う場合には、
本来移動相溶媒の混合比に合わせて霧化器温度を変化さ
せる必要があるが、霧化器温度を迅速かつ安定に変化さ
せる手段がなかった。
ける霧化器の温度設定については、測定者が経験だけを
頼りにマニュアルで温度設定を行っていた。すなわち、
従来は、霧化器温度コントローラが質量分析のデータ処
理装置たるＣＰＵから独立しており、この霧化器温度コ
ントローラに対してマニュアルの温度設定を行ってい
た。このため、初心者には、温度設定が難しいという問
題があった。また、グラジェント分析を行う場合には、
本来移動相溶媒の混合比に合わせて霧化器温度を変化さ
せる必要があるが、霧化器温度を迅速かつ安定に変化さ
せる手段がなかった。
【０００８】本発明は以上の点に鑑みてなされ、その目
的は、測定者がＬＣ（液体クロマトグラフ）条件を入力
すると、その条件に応じた最適な霧化器温度を自動的に
設定できる液体クロマトグラフ質量分析装置を提供する
ことにある。
的は、測定者がＬＣ（液体クロマトグラフ）条件を入力
すると、その条件に応じた最適な霧化器温度を自動的に
設定できる液体クロマトグラフ質量分析装置を提供する
ことにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、基本的には次にような課題解決手段を提案
する。
するために、基本的には次にような課題解決手段を提案
する。
【００１０】すなわち、液体クロマトグラフからの流出
液を加熱霧化した後イオン化して質量分析計で分析する
液体クロマトグラフ質量分析装置において、質量分析の
たびにその時のＬＣ条件及び加熱霧化器の使用温度を逐
次記憶する記憶手段と、オペレータが質量測定に際しＬ
Ｃ条件を入力すると、前記記憶手段に記憶した過去の測
定例の中から今回のＬＣ条件に近いＬＣ条件を自動検索
する手段と、この検索されたＬＣ条件の霧化器温度を基
に今回実行すべき最適霧化器温度を設定する温度設定手
段とを備えて成る。
液を加熱霧化した後イオン化して質量分析計で分析する
液体クロマトグラフ質量分析装置において、質量分析の
たびにその時のＬＣ条件及び加熱霧化器の使用温度を逐
次記憶する記憶手段と、オペレータが質量測定に際しＬ
Ｃ条件を入力すると、前記記憶手段に記憶した過去の測
定例の中から今回のＬＣ条件に近いＬＣ条件を自動検索
する手段と、この検索されたＬＣ条件の霧化器温度を基
に今回実行すべき最適霧化器温度を設定する温度設定手
段とを備えて成る。
【００１１】この自動温度設定手段や温度設定手段は、
例えば、質量分析の結果をデータ処理するコンピュータ
のＣＰＵにその機能を付加することで実現でき、また、
過去の測定例を記憶する手段は、等速呼出記憶装置（Ｒ
ＡＭ）により実現できる。
例えば、質量分析の結果をデータ処理するコンピュータ
のＣＰＵにその機能を付加することで実現でき、また、
過去の測定例を記憶する手段は、等速呼出記憶装置（Ｒ
ＡＭ）により実現できる。
【００１２】
【作用】測定者がＬＣ条件を入力すると、予め記憶手段
に記憶してある過去の測定例（ＬＣ条件及び霧化器温度
に係るデータ）を呼び出し、今回のＬＣ条件と照合して
最も近いＬＣ条件を検索する。温度設定手段は、その検
索されたＬＣ条件の霧化器温度を基に今回の最適霧化器
温度を設定する。この温度設定を行う場合、態様として
次のようなものを提案する。すなわち過去の測定例に今
回のＬＣ条件に近似或いは同一のものがあれば、検索し
た霧化器温度をそのまま使用する。過去の測定例に今回
のＬＣ条件に近いものがない場合には、測定者が温度設
定を行っていきこれを逐次記憶して、これを将来の測定
する場合の霧化器温度データとしてストックしてゆく。
または、過去の測定例に今回のＬＣ条件に近いものがな
い場合であっても、従来の記憶された測定例を参考にし
て今回のＬＣ条件に適した霧化器温度を推測演算し、そ
の推定霧化器温度を設定温度とする演算機能を付加する
ことも可能である。
に記憶してある過去の測定例（ＬＣ条件及び霧化器温度
に係るデータ）を呼び出し、今回のＬＣ条件と照合して
最も近いＬＣ条件を検索する。温度設定手段は、その検
索されたＬＣ条件の霧化器温度を基に今回の最適霧化器
温度を設定する。この温度設定を行う場合、態様として
次のようなものを提案する。すなわち過去の測定例に今
回のＬＣ条件に近似或いは同一のものがあれば、検索し
た霧化器温度をそのまま使用する。過去の測定例に今回
のＬＣ条件に近いものがない場合には、測定者が温度設
定を行っていきこれを逐次記憶して、これを将来の測定
する場合の霧化器温度データとしてストックしてゆく。
または、過去の測定例に今回のＬＣ条件に近いものがな
い場合であっても、従来の記憶された測定例を参考にし
て今回のＬＣ条件に適した霧化器温度を推測演算し、そ
の推定霧化器温度を設定温度とする演算機能を付加する
ことも可能である。
【００１３】そして、温度設定手段から霧化器温度にな
るよう霧化器加熱用電源に指示を送る。霧化器加熱用電
源はその指示にしたがって霧化器を設定温度まで加熱す
る。
るよう霧化器加熱用電源に指示を送る。霧化器加熱用電
源はその指示にしたがって霧化器を設定温度まで加熱す
る。
【００１４】ＬＣ条件がグラジェント分析の場合でも、
それを実行した使用温度（霧化器降温）データをその時
のＬＣ条件と共に記憶して、上記したような次回以降の
使用温度の自動設定の判断データとして用いられる。
それを実行した使用温度（霧化器降温）データをその時
のＬＣ条件と共に記憶して、上記したような次回以降の
使用温度の自動設定の判断データとして用いられる。
【００１５】なお、グラジェント分析の場合には、測定
者が降温プログラムを作成して入力し、温度設定手段が
このプログラムを基に時間経過に合わせて霧化器温度を
下げるよう降温手段（例えば霧化器冷却用ファン）の電
源に指示を送ることも可能である。
者が降温プログラムを作成して入力し、温度設定手段が
このプログラムを基に時間経過に合わせて霧化器温度を
下げるよう降温手段（例えば霧化器冷却用ファン）の電
源に指示を送ることも可能である。
【００１６】
【実施例】図１は本発明の一実施例を示す構成図、図２
はその霧化器温度の設定を行う場合の具体例を示す説明
図である。
はその霧化器温度の設定を行う場合の具体例を示す説明
図である。
【００１７】図１において、コンピュータＡは、入出力
端末装置１、中央処理装置（ＣＰＵ）２、等速呼出記憶
装置（ＲＡＭ）３ａ、読出し専用記憶装置（ＲＯＭ）３
ｂ等を備える。測定者は入出力端末装置１を介しＣＰＵ
２にＬＣ条件を入力する。一方、ＲＡＭ３ａには、質量
分析のＬＣ条件及びそれに用いた霧化器温度を逐次記憶
する機能が与えてある。ここで記憶対象となるＬＣ条件
には、グラジェント分析に関するＬＣ条件及びその降温
霧化器温度も含まれる。
端末装置１、中央処理装置（ＣＰＵ）２、等速呼出記憶
装置（ＲＡＭ）３ａ、読出し専用記憶装置（ＲＯＭ）３
ｂ等を備える。測定者は入出力端末装置１を介しＣＰＵ
２にＬＣ条件を入力する。一方、ＲＡＭ３ａには、質量
分析のＬＣ条件及びそれに用いた霧化器温度を逐次記憶
する機能が与えてある。ここで記憶対象となるＬＣ条件
には、グラジェント分析に関するＬＣ条件及びその降温
霧化器温度も含まれる。
【００１８】ＣＰＵ２は後述する質量分析計本体１８か
らの質量分析結果（測定データ）を入力し、これに基づ
きマススペクトルを出力するデータ処理機能のほかに次
の機能が付加してある。すなわち、入出力端末装置１か
らＬＣ条件が入力されると、ＲＡＭ３ａに記憶した過去
の種々の測定例のＬＣ条件と新たに入力したＬＣ条件と
を照らし合わせて、入力したＬＣ条件と近いもの（合致
または類似するもの）を検索する機能と、この検索した
ＬＣ条件に用いた霧化器温度を基に霧化器９の最適温度
を設定する機能を有する。
らの質量分析結果（測定データ）を入力し、これに基づ
きマススペクトルを出力するデータ処理機能のほかに次
の機能が付加してある。すなわち、入出力端末装置１か
らＬＣ条件が入力されると、ＲＡＭ３ａに記憶した過去
の種々の測定例のＬＣ条件と新たに入力したＬＣ条件と
を照らし合わせて、入力したＬＣ条件と近いもの（合致
または類似するもの）を検索する機能と、この検索した
ＬＣ条件に用いた霧化器温度を基に霧化器９の最適温度
を設定する機能を有する。
【００１９】またＣＰＵ２は、その設定した霧化器温度
となるように霧化器加熱用電源４、霧化器冷却用電源５
に必要に応じて指令を送る。ここで、霧化器加熱用電源
４は霧化器９に内蔵したヒータ８に電力供給を、霧化器
冷却用電源５は霧化器９の近くに配置された霧化器冷却
用の送風ファン６に電力供給を行う。冷却用ファン６は
霧化器温度に勾配を付けて質量分析を行う（グラジェン
ト質量分析）場合に用いる。すなわち、ＣＰＵ２は、単
なる霧化を行う場合には、設定温度にしたがいヒータ８
を通電制御し、グラジェント質量分析を行う場合には、
設定の降温データにしたがいヒータ８及びファン６を通
電制御し、この通電制御により霧化器９が最適温度に自
動調整される。７は霧化器の温度状態を監視する温度セ
ンサで、その検知信号がＣＰＵ２に入力される。
となるように霧化器加熱用電源４、霧化器冷却用電源５
に必要に応じて指令を送る。ここで、霧化器加熱用電源
４は霧化器９に内蔵したヒータ８に電力供給を、霧化器
冷却用電源５は霧化器９の近くに配置された霧化器冷却
用の送風ファン６に電力供給を行う。冷却用ファン６は
霧化器温度に勾配を付けて質量分析を行う（グラジェン
ト質量分析）場合に用いる。すなわち、ＣＰＵ２は、単
なる霧化を行う場合には、設定温度にしたがいヒータ８
を通電制御し、グラジェント質量分析を行う場合には、
設定の降温データにしたがいヒータ８及びファン６を通
電制御し、この通電制御により霧化器９が最適温度に自
動調整される。７は霧化器の温度状態を監視する温度セ
ンサで、その検知信号がＣＰＵ２に入力される。
【００２０】図２（ａ）に以上の霧化器温度自動設定の
各構成要素の関係が示してある。
各構成要素の関係が示してある。
【００２１】また、本実施例の質量分析装置は、グラジ
ェント質量分析を行う場合には、図２（ｂ）に示すよう
に、測定者が入出力端末装置１を通して降温プログラム
を作成してＣＰＵ２に入力し、この降温プログラムをＲ
ＡＭ３ａに記憶すると共に、この降温プログラムに従
い、時間経過に合わせて霧化器温度を下げる指令を冷却
用ファン電源５に出力する機能を有する。降温プログラ
ムはＲＡＭ３ａに保存されいつでもフィールドバックし
て使用することができる。
ェント質量分析を行う場合には、図２（ｂ）に示すよう
に、測定者が入出力端末装置１を通して降温プログラム
を作成してＣＰＵ２に入力し、この降温プログラムをＲ
ＡＭ３ａに記憶すると共に、この降温プログラムに従
い、時間経過に合わせて霧化器温度を下げる指令を冷却
用ファン電源５に出力する機能を有する。降温プログラ
ムはＲＡＭ３ａに保存されいつでもフィールドバックし
て使用することができる。
【００２２】液体クロマトグラフ１０から流出する移動
相溶媒と試料成分は、図１に示すようにテフロンパイプ
１１、ＳＵＳマイクロパイプ１２を通ったのち、前述の
様に最適温度に自動調整された霧化器９に到達する。霧
化器９では、安定しかつ最適な条件で移動相溶媒、試料
成分の加熱噴霧が行われる。霧状となった移動相溶媒と
試料成分は脱溶媒室１３へ進みここで大部分の移動相溶
媒は気化され装置外へ除去される。除去されなかった移
動相溶媒と、試料成分は大気圧イオン化室１５へ進む。
ここでは高電圧を印加された針電極１４の先端から生じ
るコロナ放電により移動相溶媒のイオン化が起こる。続
いて、生成した溶媒イオンから試料分子に電荷が移り試
料分子のイオン化が起こる。生成したイオンは中間圧力
部１６を通り、レンズ電極１７で収束されたのち質量分
析計本体１８へと送られる。
相溶媒と試料成分は、図１に示すようにテフロンパイプ
１１、ＳＵＳマイクロパイプ１２を通ったのち、前述の
様に最適温度に自動調整された霧化器９に到達する。霧
化器９では、安定しかつ最適な条件で移動相溶媒、試料
成分の加熱噴霧が行われる。霧状となった移動相溶媒と
試料成分は脱溶媒室１３へ進みここで大部分の移動相溶
媒は気化され装置外へ除去される。除去されなかった移
動相溶媒と、試料成分は大気圧イオン化室１５へ進む。
ここでは高電圧を印加された針電極１４の先端から生じ
るコロナ放電により移動相溶媒のイオン化が起こる。続
いて、生成した溶媒イオンから試料分子に電荷が移り試
料分子のイオン化が起こる。生成したイオンは中間圧力
部１６を通り、レンズ電極１７で収束されたのち質量分
析計本体１８へと送られる。
【００２３】本実施例によれば、ＬＣ条件を入力するだ
けでＣＰＵ２が最適な霧化温度に自動設定されるため経
験が浅い初心者でも簡単に測定を行うことができ、良好
な測定結果が得られる。また、ＣＰＵ制御による霧化器
冷却用ファンを設けたことにより、グラジェント分析を
行う場合それに応じて霧化器温度を下げていく降温分析
ができ、且つ過去の測定例からの検索の他に降温プログ
ラム作成により最適霧化器温度設定を行うことで、いか
なるＬＣ条件においても常に最適な条件下で移動相溶媒
の加熱噴霧が行うことができ、安定で高効率の試料成分
のイオン化が可能となり良好なマススペクトルを得るこ
とが出来る。
けでＣＰＵ２が最適な霧化温度に自動設定されるため経
験が浅い初心者でも簡単に測定を行うことができ、良好
な測定結果が得られる。また、ＣＰＵ制御による霧化器
冷却用ファンを設けたことにより、グラジェント分析を
行う場合それに応じて霧化器温度を下げていく降温分析
ができ、且つ過去の測定例からの検索の他に降温プログ
ラム作成により最適霧化器温度設定を行うことで、いか
なるＬＣ条件においても常に最適な条件下で移動相溶媒
の加熱噴霧が行うことができ、安定で高効率の試料成分
のイオン化が可能となり良好なマススペクトルを得るこ
とが出来る。
【００２４】
【発明の効果】本発明によれば、ＬＣ条件を入力するだ
けで最適な霧化器温度を自動設定するため経験が浅い初
心者でも簡単に測定が行うことができ、良好な測定結果
が得られる。
けで最適な霧化器温度を自動設定するため経験が浅い初
心者でも簡単に測定が行うことができ、良好な測定結果
が得られる。
【図１】本発明の一実施例に係る構成図。
【図２】上記実施例の温度設定の態様を示す説明図。
１…入出力端末装置、２…中央処理装置（ＣＰＵ，自動
検索手段，温度設定手段）、３ａ…記憶装置（ＲＡ
Ｍ）、４…霧化器加熱用電源、５…霧化器冷却用電源、
６…霧化器冷却用送風ファン、７…温度センサ、８…ヒ
ータ、９…霧化器、１０…液体クロマトグラフ、１１…
テフロンパイプ、１２…ＳＵＳマイクロパイプ、１３…
脱溶媒室、１４…針電極、１５…大気圧イオン化室、１
６…中間圧力部、１７…レンズ電極、１８…質量分析計
本体。
検索手段，温度設定手段）、３ａ…記憶装置（ＲＡ
Ｍ）、４…霧化器加熱用電源、５…霧化器冷却用電源、
６…霧化器冷却用送風ファン、７…温度センサ、８…ヒ
ータ、９…霧化器、１０…液体クロマトグラフ、１１…
テフロンパイプ、１２…ＳＵＳマイクロパイプ、１３…
脱溶媒室、１４…針電極、１５…大気圧イオン化室、１
６…中間圧力部、１７…レンズ電極、１８…質量分析計
本体。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 沼尻 陽子 茨城県勝田市市毛882番地 日立計測エン ジニアリング株式会社内 (72)発明者 千田 直人 茨城県勝田市市毛882番地 日立計測エン ジニアリング株式会社内 (72)発明者 坂東 智美 茨城県勝田市市毛882番地 日立計測エン ジニアリング株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】 液体クロマトグラフからの流出液を加熱
霧化した後イオン化して質量分析計で分析する液体クロ
マトグラフ質量分析装置において、質量分析のたびにそ
の時の液体クロマトグラフ条件（以下、ＬＣ条件とす
る）及び加熱霧化器の使用温度を逐次記憶する記憶手段
と、オペレータが質量測定に際しＬＣ条件を入力する
と、前記記憶手段に記憶した過去の測定例の中から今回
のＬＣ条件に近いＬＣ条件を自動検索する手段と、この
検索されたＬＣ条件の霧化器温度を基に今回実行すべき
最適霧化器温度を設定する温度設定手段とを備えて成る
ことを特徴とする液体クロマトグラフ質量分析装置。 - 【請求項２】 液体クロマトグラフからの流出液を加熱
霧化した後イオン化して質量分析計で分析し、この分析
結果をコンピュータの中央処理装置（ＣＰＵ）によりデ
ータ処理する液体クロマトグラフ質量分析装置におい
て、質量分析のたびにその時のＬＣ条件及び加熱霧化器
の使用温度を逐次記憶する記憶装置を設け、且つ前記Ｃ
ＰＵには、オペレータが質量測定に際しＬＣ条件を入力
すると、前記記憶装置に記憶した過去の測定例の中から
今回のＬＣ条件に近いＬＣ条件を自動検索する機能と、
この検索されたＬＣ条件の霧化器温度を基に今回実行す
べき最適霧化器温度を設定して温度コントローラに指令
を与える機能を付加して成ることを特徴とする液体クロ
マトグラフ質量分析装置。 - 【請求項３】 請求項１又は請求項２において、前記記
憶対象となる霧化器温度には、グラジェント分析に用い
るＬＣ条件及びその降温霧化器温度が含まれ、前記温度
設定手段（ＣＰＵ）は、この降温霧化器温度が前記自動
検索を通して選ばれると、或いは測定者により作成し入
力された降温プログラムに従い、時間経過に合わせて霧
化器温度を下げる指令を降温手段に出力する機能を有し
て成ることを特徴とする液体クロマトグラフ質量分析装
置。 - 【請求項４】 請求項３において、前記降温手段は前記
加熱霧化器を冷却する送風ファンより成ることを特徴と
する液体クロマトグラフ質量分析装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3256409A JP2790927B2 (ja) | 1991-10-03 | 1991-10-03 | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
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