JPH0592703U - 螢光x線分析用液体試料容器 - Google Patents
螢光x線分析用液体試料容器Info
- Publication number
- JPH0592703U JPH0592703U JP4054292U JP4054292U JPH0592703U JP H0592703 U JPH0592703 U JP H0592703U JP 4054292 U JP4054292 U JP 4054292U JP 4054292 U JP4054292 U JP 4054292U JP H0592703 U JPH0592703 U JP H0592703U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- container
- fluorescent
- sample
- ray analysis
- measurement
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- Pending
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 同一容器中に試料を入れ替えて繰返し測定が
出来、測定窓の影響を更正できると共に、固形成分の沈
着等の影響を受けない測定の自動化に適した螢光X線分
析用試料容器を得ようとする。 【構成】 実質的に扁平な内側空間13を有し、その側
壁にマイラー等の測定窓11を形成し、一側に試料の注
入口18、その対向側に排出口19を設けた。また、測
定窓に対向する位置に撹拌用振動板12を設け、ヒータ
ー17および容積制御機構15を備える。
出来、測定窓の影響を更正できると共に、固形成分の沈
着等の影響を受けない測定の自動化に適した螢光X線分
析用試料容器を得ようとする。 【構成】 実質的に扁平な内側空間13を有し、その側
壁にマイラー等の測定窓11を形成し、一側に試料の注
入口18、その対向側に排出口19を設けた。また、測
定窓に対向する位置に撹拌用振動板12を設け、ヒータ
ー17および容積制御機構15を備える。
Description
【0001】
この考案は、螢光X線分析のために試料を収容するための容器の構造の改良に 関する。
【0002】
液体試料中の微量成分、具体的には原油、軽油、灯油、ナフサ等の石油製品中 の硫黄等の不純物などの含有量の測定のため、螢光X線分析がしばしば用いられ ている。その測定装置の基本構成は図3に示すように、下面にマイラー(商標) フィルム2を展張した試料容器1中に被測定液体3を入れ、下面からX線を照射 し、この照射によって励起された被測定液体中の元素から放射される螢光X線を 検出し、その波長、強度によって含有成分の種類、含有量を測定する。
【0003】 ところで、従来の試料容器1は、測定の都度、内枠1’の下端にマイラーフィ ルム2を張り、それを外枠1”中に挿入し、扁平な上面が開放された容器を形成 させ、この中に被測定液を注入していた。
【0004】 このように、その都度作成される試料容器は、以下のような問題を有していた 。 その都度作成しなければならず、面倒であり、特に、測定の自動化の障害とな る。 励起X線が7kev程度と軟らかいため、マイラーの厚みの違い、展張時のし わ等が容器ごとに付随する測定誤差となり、正確な測定の妨げとなる。 励起X線が軟らかいため、測定に寄与するのは試料の中、フィルムの上100 〜数100μmの厚さに過ぎないが、試料中の固形分が沈着し、また、密度の異 なる液を混合した被測定液体では、密度の大きい液の沈殿が生じ、誤差の原因と なる。
【0005】
この考案は、同一容器中に試料を入れ替えて繰返し測定が出来、測定窓の影響 を更正できると共に、固形成分の沈着等の影響を受けない螢光X線分析用試料容 器を得ようとするものである。
【0006】
上記目的を達するため、この考案の容器は、実質的に扁平な内側空間を有し、 その側壁の一部にマイラー等の薄膜によって測定窓を形成し、一側に試料の注入 口、その対向側に排出口を設けた。 この容器内で、測定窓に対向する位置に、超音波周波等による振動体を設け、 固形分の沈着を防止するのが望ましい。また、容器壁には、温度制御機構および 容積制御機構を備えることが望ましい。
【0007】
以下、図面を参照してこの考案の螢光X線分析用試料容器を実施例によって詳 細に説明する。 図1はこの考案の試料容器の1例の断面を示し、容器10の一側はマイラー等 の薄膜が展張された測定窓11、これに対向して設けられた振動板12によって 、実質的に扁平な被分析試料のための内側空間13が形成されている。振動板1 2は、ピエゾ等の振動子14によって試料に振動を与え、固形成分等の沈着を防 止する。また、この振動板12は内枠15によって変位可能であり、試料の量に 応じて内部空間13の容量を調節できる。さらに、容器外枠16はヒーター17 を内蔵し、試料の温度調節を可能としている。 容器10の一側には、試料の注入口18、排出口19を備え、排出口19には 弁20を設けてある。
【0008】 この容器は、図2のように使用される。すなわち、測定窓11がほぼ垂直とな るように配設され、弁20を閉じて注入口18から被測定試料を導入し、側面か らX線を照射し、放射される螢光X線を測定し、測定が終了すれば弁20を開い て試料を排出し、必要があれば洗浄液を流した後、次ぎの試料を再び導入して測 定を繰り返す。 このようにすれば、測定の都度、窓11によって生じる誤差が異なることはな く、一度更正しておけばその影響を除くことが出来る。 また、測定面はほぼ垂直に延びるので、固形成分が窓側に沈着することも生じ ない。さらに、粘性が高い試料等については、ヒーター17によって加熱するこ とにより、試料の流動性を高めることが出来る。
【0009】 上記のように測定窓11がほぼ垂直となるように配設した場合には、上記のよ うに固形成分の沈着の影響は少なく、振動板に代えて固定の内壁としてもよく、 逆に振動板12を設けた場合には、測定窓をほぼ水平に配置しても振動板の撹拌 作用によって沈着の影響を避けることが出来る。この場合には、試料の注入、排 出は液体の加圧によって行うことが出来、弁20を設けなくてもよい。
【0010】
この考案の螢光X線分析用液体試料容器は、上記の構成を有するので、測定の 都度試料容器を作製する必要はなく、試料調製を自動化するに便利であり、しか も、窓や固形物の沈着等による誤差を避けて高精度の測定を可能とする等、顕著 な効果を奏するものである。
【図1】この考案の螢光X線分析用液体試料容器の1実
施例の断面図である。
施例の断面図である。
【図2】この考案の螢光X線分析用液体試料容器の使用
状態の概念図である。
状態の概念図である。
【図3】従来の螢光X線分析用液体試料容器の使用状態
の概念図である。
の概念図である。
1,10 試料容器 2 マイラーフィルム
11 測定窓 12 振動板 13 内側空間
14 振動子 15 内枠 16 容器外枠
17 ヒーター 18 試料の注入口 19 排出口
20 弁
11 測定窓 12 振動板 13 内側空間
14 振動子 15 内枠 16 容器外枠
17 ヒーター 18 試料の注入口 19 排出口
20 弁
Claims (4)
- 【請求項1】 実質的に扁平な内側空間を有し、その側
壁の一部は薄膜によって形成された測定窓であり、一側
に試料の注入口、その対向側に排出口を有することを特
徴とする螢光X線分析用液体試料容器 - 【請求項2】 請求項1の容器内で、測定窓に対向する
位置に、振動体を設けたことを特徴とする螢光X線分析
用液体試料容器 - 【請求項3】 請求項1の容器が、温度制御機構を備え
ていることを特徴とする螢光X線分析用液体試料容器 - 【請求項4】 請求項1の容器が、容積制御機構を備え
ていることを特徴とする螢光X線分析用液体試料容器
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4054292U JPH0592703U (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | 螢光x線分析用液体試料容器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4054292U JPH0592703U (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | 螢光x線分析用液体試料容器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0592703U true JPH0592703U (ja) | 1993-12-17 |
Family
ID=12583339
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4054292U Pending JPH0592703U (ja) | 1992-05-22 | 1992-05-22 | 螢光x線分析用液体試料容器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0592703U (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003004673A (ja) * | 2001-06-15 | 2003-01-08 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 蛍光x線液分析計 |
WO2006049051A1 (ja) * | 2004-11-08 | 2006-05-11 | Sii Nanotechnology Inc. | 蛍光x線分析装置 |
JP2014527635A (ja) * | 2011-08-15 | 2014-10-16 | エックス−レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド | 重質試料用の試料粘度/流量制御およびそのx線分析応用 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5316937U (ja) * | 1976-07-23 | 1978-02-13 | ||
JPS5729838B2 (ja) * | 1979-11-09 | 1982-06-24 |
-
1992
- 1992-05-22 JP JP4054292U patent/JPH0592703U/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5316937U (ja) * | 1976-07-23 | 1978-02-13 | ||
JPS5729838B2 (ja) * | 1979-11-09 | 1982-06-24 |
Cited By (5)
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JPWO2006049051A1 (ja) * | 2004-11-08 | 2008-05-29 | エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 | 蛍光x線分析装置 |
US7436926B2 (en) | 2004-11-08 | 2008-10-14 | Sii Nano Technology Inc. | Fluorescent X-ray analysis apparatus |
JP2014527635A (ja) * | 2011-08-15 | 2014-10-16 | エックス−レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド | 重質試料用の試料粘度/流量制御およびそのx線分析応用 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980616 |