JPH0587933A - ガンマー線散乱成分除去装置 - Google Patents
ガンマー線散乱成分除去装置Info
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- JPH0587933A JPH0587933A JP6717792A JP6717792A JPH0587933A JP H0587933 A JPH0587933 A JP H0587933A JP 6717792 A JP6717792 A JP 6717792A JP 6717792 A JP6717792 A JP 6717792A JP H0587933 A JPH0587933 A JP H0587933A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 γ線散乱成分の除去に要する所要時間が大幅
に短縮されるとともに、γ線散乱成分の除去を高精度に
行えるようにすることにある。 【構成】 ガンマカメラにおいて被検体内に投与した放
射性同位元素から放出されるγ線のエネルギーと入射位
置とを測定し、被検体内のγ線分布を示す二次元画像を
収集する際、エネルギーウインドウを１つの光電ピーク
に関して複数設定する手段（ウインドウ回路７）と、前
記各エネルギーウインドウにより収集した画像間の演算
により散乱成分補正係数を求める手段（補正係数発生回
路８）とを備え、前記散乱成分補正係数を用いて前記二
次元画像からγ線散乱成分を除去することを特徴とす
る。
に短縮されるとともに、γ線散乱成分の除去を高精度に
行えるようにすることにある。 【構成】 ガンマカメラにおいて被検体内に投与した放
射性同位元素から放出されるγ線のエネルギーと入射位
置とを測定し、被検体内のγ線分布を示す二次元画像を
収集する際、エネルギーウインドウを１つの光電ピーク
に関して複数設定する手段（ウインドウ回路７）と、前
記各エネルギーウインドウにより収集した画像間の演算
により散乱成分補正係数を求める手段（補正係数発生回
路８）とを備え、前記散乱成分補正係数を用いて前記二
次元画像からγ線散乱成分を除去することを特徴とす
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体内に投与した放
射性同位元素（ＲＩ）から放出されるγ線を測定するガ
ンマカメラにより被検体内のγ線分布を示す二次元画像
を収集する際、この二次元画像から被検体内での散乱及
びガンマカメラ内の散乱に起因するγ線散乱成分をウイ
ンドウ設定により除去するガンマー線散乱成分除去装置
の改良に関する。
射性同位元素（ＲＩ）から放出されるγ線を測定するガ
ンマカメラにより被検体内のγ線分布を示す二次元画像
を収集する際、この二次元画像から被検体内での散乱及
びガンマカメラ内の散乱に起因するγ線散乱成分をウイ
ンドウ設定により除去するガンマー線散乱成分除去装置
の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より核医学機器システムにおいて
は、ＲＩを被検体内に投与し、そのＲＩの分布状態をガ
ンマカメラにより画像化して診断に供している。一方、
この種の核医学機器システムにおける診断能を向上する
ためには、ガンマカメラで得られる被検体内のγ線分布
を示す二次元画像に対し、被検体内でのγ線の散乱、ガ
ンマカメラ内部（例えばコリメータ、ＮａＩシンチレー
タ等の内部）でのγの散乱に起因するγ線散乱成分を有
効に除去する処理を施すことが要求される。
は、ＲＩを被検体内に投与し、そのＲＩの分布状態をガ
ンマカメラにより画像化して診断に供している。一方、
この種の核医学機器システムにおける診断能を向上する
ためには、ガンマカメラで得られる被検体内のγ線分布
を示す二次元画像に対し、被検体内でのγ線の散乱、ガ
ンマカメラ内部（例えばコリメータ、ＮａＩシンチレー
タ等の内部）でのγの散乱に起因するγ線散乱成分を有
効に除去する処理を施すことが要求される。
【０００３】そこで、従来、上記二次元画像から上記γ
線散乱成分を除去するため、例えば次の２通りの方法を
採用していた。
線散乱成分を除去するため、例えば次の２通りの方法を
採用していた。
【０００４】まず、第１のγ線散乱成分除去方法は、図
１３で示すようにγ線のエネルギースペクトル曲線の光
電ピークにメインウインドウＷｍを設定するとともに、
この光電ピークより低いエネルギーのγ線分布曲線上に
サブウインドウ（メインウインドウと同様な幅を有す
る）Ｗｓを設定する。ここで、メインウインドウＷｍよ
り得られた画像データを２次元座標上でＭ（ｘ，ｙ）と
し、サブウインドウＷｓより得られた画像データをＳ
（ｘ，ｙ）とすると、散乱線補正した所望画像データＣ
（ｘ，ｙ）は、以下の式１より求められる。
１３で示すようにγ線のエネルギースペクトル曲線の光
電ピークにメインウインドウＷｍを設定するとともに、
この光電ピークより低いエネルギーのγ線分布曲線上に
サブウインドウ（メインウインドウと同様な幅を有す
る）Ｗｓを設定する。ここで、メインウインドウＷｍよ
り得られた画像データを２次元座標上でＭ（ｘ，ｙ）と
し、サブウインドウＷｓより得られた画像データをＳ
（ｘ，ｙ）とすると、散乱線補正した所望画像データＣ
（ｘ，ｙ）は、以下の式１より求められる。
【０００５】
【数１】 Ｃ（ｘ，ｙ）＝Ｍ（ｘ，ｙ）−Ｒ・Ｓ（ｘ，ｙ） …(1) 但し、Ｒは一定値を示す。
【０００６】このような従来の散乱線除去方法は、例え
ば“ImprsvedSPECT…Photons"written by R.J.Jasjcjak
ot al.BASIL SCIEJCES Vol.25,No.8.1984 に開示して
ある。
ば“ImprsvedSPECT…Photons"written by R.J.Jasjcjak
ot al.BASIL SCIEJCES Vol.25,No.8.1984 に開示して
ある。
【０００７】また、第２の従来のγ線散乱成分除去方法
によれば、図１４で示す如く、γ線のスペクトラムエネ
ルギーの分布曲線を再現できる程度の狭い幅ΔＥを有す
るウインドウＷEnを利用して、Ｎ個（Ｎ＞１）のγ線画
像データを収集することができる。これによって、スペ
クトラムエネルギーの分布曲線の形状を把握でき、この
形状から散乱線成分を推定して、光電ピークの画像デー
タを除去し、所望のγ線の画像データを得ている。
によれば、図１４で示す如く、γ線のスペクトラムエネ
ルギーの分布曲線を再現できる程度の狭い幅ΔＥを有す
るウインドウＷEnを利用して、Ｎ個（Ｎ＞１）のγ線画
像データを収集することができる。これによって、スペ
クトラムエネルギーの分布曲線の形状を把握でき、この
形状から散乱線成分を推定して、光電ピークの画像デー
タを除去し、所望のγ線の画像データを得ている。
【０００８】この第２の従来の除去方法は、例えば“SP
ECT Compton-Scatterig …Spectra"by Kenneth F.Koral
etal.BASICS CIENCES,Vol.29,No.2 February 1988(Jou
rnalof Naclear Medicine) に開示されている。
ECT Compton-Scatterig …Spectra"by Kenneth F.Koral
etal.BASICS CIENCES,Vol.29,No.2 February 1988(Jou
rnalof Naclear Medicine) に開示されている。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
上記第１のγ線散乱成分除去方法の場合においては、以
下のような問題点がある。即ち、正確に光電ピークを包
含したエネルギー帯域換言すればメインウインドウＷrn
によって規定されたエネルギー帯域を測定したいにもか
かわらず、この帯域には散乱線成分が含まれている。ま
た、この被測定帯域以外のエネルギー帯域換言すればサ
ブウインドウＷｓで規定されたエネルギー帯域について
は、散乱線成分を測定し、この測定値を基にメインウイ
ンドウによって規定した光電ピーク帯域における散乱線
成分を推定している。この結果、現実の物理現象と異な
ることになる。特に係数Ｒは経験的に求められるもので
あり、その測定ごとに経験的に定められるものにすぎな
い。従って、γの入射位置に対する適切なγ線散乱成分
除去をなし得ず、これにともない画像の正確性を欠くこ
とになるという不具合が生じる。また、従来の上記第２
のγ線散乱成分除去方法の場合においては、γ線散乱成
分除去の精度が上記第１のγ線散乱線除去方法と比べて
向上される反面、その方法のウインドウ幅に比べて充分
に狭いウインドウ幅で多くの画像を収集することになる
から、画像の収集処理に要する所要時間が過大になり、
しかも２つ以上の光電ピークを有する核種のγ線散乱成
分を除去するためには、更に多くの画像収集を行わなけ
ればならず、実用性がますますなくなるという課題が存
在している。
上記第１のγ線散乱成分除去方法の場合においては、以
下のような問題点がある。即ち、正確に光電ピークを包
含したエネルギー帯域換言すればメインウインドウＷrn
によって規定されたエネルギー帯域を測定したいにもか
かわらず、この帯域には散乱線成分が含まれている。ま
た、この被測定帯域以外のエネルギー帯域換言すればサ
ブウインドウＷｓで規定されたエネルギー帯域について
は、散乱線成分を測定し、この測定値を基にメインウイ
ンドウによって規定した光電ピーク帯域における散乱線
成分を推定している。この結果、現実の物理現象と異な
ることになる。特に係数Ｒは経験的に求められるもので
あり、その測定ごとに経験的に定められるものにすぎな
い。従って、γの入射位置に対する適切なγ線散乱成分
除去をなし得ず、これにともない画像の正確性を欠くこ
とになるという不具合が生じる。また、従来の上記第２
のγ線散乱成分除去方法の場合においては、γ線散乱成
分除去の精度が上記第１のγ線散乱線除去方法と比べて
向上される反面、その方法のウインドウ幅に比べて充分
に狭いウインドウ幅で多くの画像を収集することになる
から、画像の収集処理に要する所要時間が過大になり、
しかも２つ以上の光電ピークを有する核種のγ線散乱成
分を除去するためには、更に多くの画像収集を行わなけ
ればならず、実用性がますますなくなるという課題が存
在している。
【００１０】本発明は、上記課題に着目してなされたも
ので、その目的とするところは、γ線散乱成分の除去に
要する所要時間が上記第２のγ線散乱除去方法を適用し
た場合よりも大幅に短縮されるとともに、γ線散乱成分
の除去を高精度に行えるガンマー線散乱成分除去装置を
提供することにある。
ので、その目的とするところは、γ線散乱成分の除去に
要する所要時間が上記第２のγ線散乱除去方法を適用し
た場合よりも大幅に短縮されるとともに、γ線散乱成分
の除去を高精度に行えるガンマー線散乱成分除去装置を
提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するため、ガンマカメラにおいて被検体内に投与し
た放射性同位元素から放出されるγ線のエネルギーと入
射位置とを測定し、被検体内のγ線分布を示す二次元画
像を収集する際、エネルギーウインドウを１つの光電ピ
ークに関して複数設定する手段と、前記各エネルギーウ
インドウにより収集した画像間の演算により散乱成分補
正係数を求める手段とを備え、前記散乱成分補正係数を
用いて前記二次元画像からγ線散乱成分を除去すること
を特徴とする。
達成するため、ガンマカメラにおいて被検体内に投与し
た放射性同位元素から放出されるγ線のエネルギーと入
射位置とを測定し、被検体内のγ線分布を示す二次元画
像を収集する際、エネルギーウインドウを１つの光電ピ
ークに関して複数設定する手段と、前記各エネルギーウ
インドウにより収集した画像間の演算により散乱成分補
正係数を求める手段とを備え、前記散乱成分補正係数を
用いて前記二次元画像からγ線散乱成分を除去すること
を特徴とする。
【００１２】
【作用】本発明によるガンマー線散乱成分除去装置の構
成であれば、被検体のγ線分布を示す二次元画像を収集
する際、エネルギーウインドウを１つの光電ピークに関
して複数設定し、その設定した各エネルギーエインドウ
内の画像データを収集して二次元画像からガンマー線散
乱成分を除去することができる。これを、図１５に示す
ような計数値−γのエネルギースペクトラム特性曲線を
用いて説明する。同図において、縦軸に計数値Ｇ、横軸
はエネルギー［ＫｅＶ］であり、そのエネルギーのスペ
クトラムはγ線の入射位置（ｘ，ｙ）で異なる。上限値
ＷＵ、下限値ＷＬとにウインドウを想定した場合、γ線
の全エネルギースペクトラムＧ（ｘ，ｙ）とし、ウイン
ドウ内の全データによる面積をＰ（ｘ，ｙ）、γ線散乱
成分を除去した光電ピークのみの面積をＮＰＡ（ｘ，
ｙ）、γ線散乱成分の面積をＢ（ｘ，ｙ）とすると、モ
ンテカルロ推定法により次の式２、式３が成立する。
成であれば、被検体のγ線分布を示す二次元画像を収集
する際、エネルギーウインドウを１つの光電ピークに関
して複数設定し、その設定した各エネルギーエインドウ
内の画像データを収集して二次元画像からガンマー線散
乱成分を除去することができる。これを、図１５に示す
ような計数値−γのエネルギースペクトラム特性曲線を
用いて説明する。同図において、縦軸に計数値Ｇ、横軸
はエネルギー［ＫｅＶ］であり、そのエネルギーのスペ
クトラムはγ線の入射位置（ｘ，ｙ）で異なる。上限値
ＷＵ、下限値ＷＬとにウインドウを想定した場合、γ線
の全エネルギースペクトラムＧ（ｘ，ｙ）とし、ウイン
ドウ内の全データによる面積をＰ（ｘ，ｙ）、γ線散乱
成分を除去した光電ピークのみの面積をＮＰＡ（ｘ，
ｙ）、γ線散乱成分の面積をＢ（ｘ，ｙ）とすると、モ
ンテカルロ推定法により次の式２、式３が成立する。
【００１３】
【数２】
【数３】 また、同図を見ると分るようにγ線散乱成分Ｂ（ｘ，
ｙ）は、台形で近似できるのでＢ（ｘ，ｙ）は次の式４
で求められる。
ｙ）は、台形で近似できるのでＢ（ｘ，ｙ）は次の式４
で求められる。
【００１４】
【数４】 以上のことから、所望の光電ピークのみの面積ＮＰＡが
求められ、実際上のγ散乱成分を除去することができ
る。即ち、上記式１の要件を満すことができる。
求められ、実際上のγ散乱成分を除去することができ
る。即ち、上記式１の要件を満すことができる。
【００１５】
【実施例】図１は、本発明のガンマー線散乱成分除去装
置が適用された第１実施例のシンチレーションカメラ装
置のシステム構成を示すブロック図である。
置が適用された第１実施例のシンチレーションカメラ装
置のシステム構成を示すブロック図である。
【００１６】この第１実施例のシンチレーションカメラ
装置は、エネルギーウインドウを１つの光電ピークに関
して３つ設定する場合のものであって、図示の如くガン
マカメラ本体、Ａ／Ｄ変換器２、イメージメモリコント
ローラ３、第１〜第３のイメージメモリ４Ａ〜４Ｃ、第
１〜第３のイメージプロセッサ５Ａ〜５Ｃ、散乱成分除
去回路６、ウインドウ回路７、補正係数発生回路８、Ｃ
ＰＵ９を備えている。
装置は、エネルギーウインドウを１つの光電ピークに関
して３つ設定する場合のものであって、図示の如くガン
マカメラ本体、Ａ／Ｄ変換器２、イメージメモリコント
ローラ３、第１〜第３のイメージメモリ４Ａ〜４Ｃ、第
１〜第３のイメージプロセッサ５Ａ〜５Ｃ、散乱成分除
去回路６、ウインドウ回路７、補正係数発生回路８、Ｃ
ＰＵ９を備えている。
【００１７】そして、ＣＰＵ９はシステム全体の制御中
枢として機能されるもので、ウインドウ回路７及び補正
係数発生回路８を制御動作させ、これにより図２に従っ
て以下述べるように二次元画像よりγ線散乱成分を除去
することを散乱成分除去回路６で行わせ、γ線散乱成分
が除去された被検体内のγ線分布を示す二次元画像をデ
ィスプレイ１０上に表示させるものである。
枢として機能されるもので、ウインドウ回路７及び補正
係数発生回路８を制御動作させ、これにより図２に従っ
て以下述べるように二次元画像よりγ線散乱成分を除去
することを散乱成分除去回路６で行わせ、γ線散乱成分
が除去された被検体内のγ線分布を示す二次元画像をデ
ィスプレイ１０上に表示させるものである。
【００１８】ガンマカメラ本体１にて、被検体に投与し
たＲＩから放出されるγ線のエネルギーと入射位置とを
測定し、エネルギー信号ｚと位置信号ｘ，ｙを得ると
（ステップＳＴ−１）、この各信号はＡ／Ｄ変換器２に
よりデジタル化される。このＡ／Ｄ変換器２より出力さ
れた位置信号ｘ，ｙはイメージメモリプロセッサ３に加
わり、他方、エネルギー信号ｚはウインドウ回路７に加
わる。ウインドウ回路７は、ウインドウレベル発生回路
７Ａとウインドウ設定回路７Ｂとからなり、ＣＰＵ９の
制御下でウインドウ設定回路７ＢがウインドウＷ1 ，Ｗ
2 ，Ｗ3 のいずれかを設定する動作がなされる毎に（ス
テップＳＴ−２）、ウインドウレベル発生回路７Ａでは
Ａ／Ｄ変換器２より出力されたエネルギー信号に応じて
各ウインドウＷ1 〜Ｗ3 毎にエネルギー領域幅を決定
し、どのイメージメモリに各ウインドウＷ1 〜Ｗ3 の画
像データを書き込むかを示す信号Ｓｎをイメージメモリ
コントローラ３へ送出する（ステップＳＴ−３）。イメ
ージメモリコントローラ３は、ウインドウレベル発生回
路７ａより受けた信号Ｓｎに対応させて第１〜第３のイ
メージメモリ４Ａ〜４Ｃへそれぞれ対応するウインドウ
Ｗ1 〜Ｗ3 内の画像データを、位置信号ｘ，ｙにより決
まるアドレスで示して書込む（ステップＳＴ−４、ＳＴ
−５、ＳＴ−６）。次に、イメージメモリ４Ａ〜４Ｃに
書込まれたウインドウＷ1 〜Ｗ3 毎の画像データを第１
〜第３のイメージプロセッサ５Ａ〜５ｃに読出し、この
第１〜第３のイメージプロセッサ５Ａ〜５ｃにおいてフ
ィルタ処理、均一性処理等の一連の画像処理がなされた
画像データを得る（ステップＳＴ−７、ＳＴ−８、ＳＴ
−９）。こうして第１〜第３のイメージプロセッサ５Ａ
〜５Ｃで得た画像データは、散乱成分除去回路６へ出力
される一方、補正係数発生回路８にも出力される。そし
て、補正係数発生回路８において、散乱成分の除去用の
パラメータを作成し、散乱成分除去回路６へ送出する
（ステップＳＴ−１０）。これに応じて散乱成分除去回
路６は、光電ピークを包含したγ線のエネルギースペク
トラムの分布から散乱成分Ｂ（ｘ，ｙ）を除去する処理
を行い（ステップＳＴ−１１）、その散乱成分Ｂ（ｘ，
ｙ）の除去されたγ線のエネルギースペクトラムの分布
画像をディスプレイ１０上に表示することになる（ステ
ップＳＴ−１２）。
たＲＩから放出されるγ線のエネルギーと入射位置とを
測定し、エネルギー信号ｚと位置信号ｘ，ｙを得ると
（ステップＳＴ−１）、この各信号はＡ／Ｄ変換器２に
よりデジタル化される。このＡ／Ｄ変換器２より出力さ
れた位置信号ｘ，ｙはイメージメモリプロセッサ３に加
わり、他方、エネルギー信号ｚはウインドウ回路７に加
わる。ウインドウ回路７は、ウインドウレベル発生回路
７Ａとウインドウ設定回路７Ｂとからなり、ＣＰＵ９の
制御下でウインドウ設定回路７ＢがウインドウＷ1 ，Ｗ
2 ，Ｗ3 のいずれかを設定する動作がなされる毎に（ス
テップＳＴ−２）、ウインドウレベル発生回路７Ａでは
Ａ／Ｄ変換器２より出力されたエネルギー信号に応じて
各ウインドウＷ1 〜Ｗ3 毎にエネルギー領域幅を決定
し、どのイメージメモリに各ウインドウＷ1 〜Ｗ3 の画
像データを書き込むかを示す信号Ｓｎをイメージメモリ
コントローラ３へ送出する（ステップＳＴ−３）。イメ
ージメモリコントローラ３は、ウインドウレベル発生回
路７ａより受けた信号Ｓｎに対応させて第１〜第３のイ
メージメモリ４Ａ〜４Ｃへそれぞれ対応するウインドウ
Ｗ1 〜Ｗ3 内の画像データを、位置信号ｘ，ｙにより決
まるアドレスで示して書込む（ステップＳＴ−４、ＳＴ
−５、ＳＴ−６）。次に、イメージメモリ４Ａ〜４Ｃに
書込まれたウインドウＷ1 〜Ｗ3 毎の画像データを第１
〜第３のイメージプロセッサ５Ａ〜５ｃに読出し、この
第１〜第３のイメージプロセッサ５Ａ〜５ｃにおいてフ
ィルタ処理、均一性処理等の一連の画像処理がなされた
画像データを得る（ステップＳＴ−７、ＳＴ−８、ＳＴ
−９）。こうして第１〜第３のイメージプロセッサ５Ａ
〜５Ｃで得た画像データは、散乱成分除去回路６へ出力
される一方、補正係数発生回路８にも出力される。そし
て、補正係数発生回路８において、散乱成分の除去用の
パラメータを作成し、散乱成分除去回路６へ送出する
（ステップＳＴ−１０）。これに応じて散乱成分除去回
路６は、光電ピークを包含したγ線のエネルギースペク
トラムの分布から散乱成分Ｂ（ｘ，ｙ）を除去する処理
を行い（ステップＳＴ−１１）、その散乱成分Ｂ（ｘ，
ｙ）の除去されたγ線のエネルギースペクトラムの分布
画像をディスプレイ１０上に表示することになる（ステ
ップＳＴ−１２）。
【００１９】前述の如くシステム動作される本実施例に
あっては、ウインドウ設定及びγ線散乱成分除去の次の
ように行う。
あっては、ウインドウ設定及びγ線散乱成分除去の次の
ように行う。
【００２０】図３に示すように、光電ピークＰp を中心
にしてＫ＋Ｗ１／２，Ｋ−Ｗ１／２のエネルギー領域幅
を持たせたメインウインドウＷ１と、このメインウイン
ドウＷ１の両端に一部オーバーラップした第１，第２サ
ブウインドウＷ２，Ｗ３とを設置する。ここでメインウ
インドウＷ１のエネルギー幅は、ガンマカメラのエネル
ギー分解能などにより決まり、モンテカルロ推定法など
で最適値が求められる。例えば光電ピークＰp のエネル
ギーの２０〜２６％程度にする。サブウインドウＷ２，
Ｗ３は、それぞれ２〜６ＫｅＶ程度に設定される。
にしてＫ＋Ｗ１／２，Ｋ−Ｗ１／２のエネルギー領域幅
を持たせたメインウインドウＷ１と、このメインウイン
ドウＷ１の両端に一部オーバーラップした第１，第２サ
ブウインドウＷ２，Ｗ３とを設置する。ここでメインウ
インドウＷ１のエネルギー幅は、ガンマカメラのエネル
ギー分解能などにより決まり、モンテカルロ推定法など
で最適値が求められる。例えば光電ピークＰp のエネル
ギーの２０〜２６％程度にする。サブウインドウＷ２，
Ｗ３は、それぞれ２〜６ＫｅＶ程度に設定される。
【００２１】次に、各ウインドウＷ１，Ｗ２，Ｗ３ごと
に収集した画像データにより次の式５、式６、式７の各
式に示す画像データＣｔ、Ｃｈ、Ｃｅを計算する。
に収集した画像データにより次の式５、式６、式７の各
式に示す画像データＣｔ、Ｃｈ、Ｃｅを計算する。
【００２２】
【数５】
【数６】
【数７】 以上によりγ線散乱成分Ｂｘｙに相当が推定でき、メイ
ンウインドウで推定された全面積データＰ（ｘ，ｙ）：
（Ｃｔ（ｘｙ）に相当する）におけるγ線散乱成分を示
す台形面積Ａｓ（ｘ，ｙ）を次の式８に従って求め、こ
れを図１の構成において補正係数発生回路８から散乱成
分除去回路６へ加えることにより、その散乱成分除去回
路６にて光電ピーク画像（メインウインドウＷ１で規定
された被検体内のγ線成分分布を示す二次元画像）から
γ線散乱成分を除去することができる。即ち、台形状の
散乱成分Ａｓは、
ンウインドウで推定された全面積データＰ（ｘ，ｙ）：
（Ｃｔ（ｘｙ）に相当する）におけるγ線散乱成分を示
す台形面積Ａｓ（ｘ，ｙ）を次の式８に従って求め、こ
れを図１の構成において補正係数発生回路８から散乱成
分除去回路６へ加えることにより、その散乱成分除去回
路６にて光電ピーク画像（メインウインドウＷ１で規定
された被検体内のγ線成分分布を示す二次元画像）から
γ線散乱成分を除去することができる。即ち、台形状の
散乱成分Ａｓは、
【数８】 Ａｓ（ｘ，ｙ）＝（Ｃｔ−（Ｃｈ＋Ｃｅ）Ｗｓ／（２Ｗｅ））／Ｃｔ (8) これら、各面積データＣｈ、Ｃｔ、Ｃｅの関係を、図４
に示す如く視覚的に表現すると上記の式８がより容易に
理解できる。
に示す如く視覚的に表現すると上記の式８がより容易に
理解できる。
【００２３】図５は、本発明のガンマー線散乱成分除去
装置が適用された第２実施例のシンチレーションカメラ
装置のシステム構成を示すブロック図である。
装置が適用された第２実施例のシンチレーションカメラ
装置のシステム構成を示すブロック図である。
【００２４】この第２実施例のシンチレーションカメラ
装置は、エネルギーウインドウを１つの光電ピークに関
して５つ設定するものである。第１の実施例ではメイン
とサブウインドウとをオーバーラップにさせた。このよ
うなオーバーラップさせた状態では画像データの収集分
離が困難である場合があるので、予め５つのウインドウ
を設定し、メインとサブのウインドウをそれぞれ図６に
示すようにしたものである。図示の如く第１〜第５のイ
メージメモリ４Ａ〜４Ｅと、第１〜第５のイメージプロ
セッサ５Ａ〜５Ｅを備え、また図１と同一符号で示す各
部は図１の各部にそれぞれ対応する。従って、本実施例
におけるシステム動作は第１実施例で説明した関係とな
るのでここでは省略する。
装置は、エネルギーウインドウを１つの光電ピークに関
して５つ設定するものである。第１の実施例ではメイン
とサブウインドウとをオーバーラップにさせた。このよ
うなオーバーラップさせた状態では画像データの収集分
離が困難である場合があるので、予め５つのウインドウ
を設定し、メインとサブのウインドウをそれぞれ図６に
示すようにしたものである。図示の如く第１〜第５のイ
メージメモリ４Ａ〜４Ｅと、第１〜第５のイメージプロ
セッサ５Ａ〜５Ｅを備え、また図１と同一符号で示す各
部は図１の各部にそれぞれ対応する。従って、本実施例
におけるシステム動作は第１実施例で説明した関係とな
るのでここでは省略する。
【００２５】このような本実施例におけるウインドウ設
定及びγ線散乱成分除去を以下説明する。
定及びγ線散乱成分除去を以下説明する。
【００２６】図６に示すようにエネルギーウインドウＷ
１〜Ｗ５（但し、図３のＷ１〜Ｗ３とは対応しないもの
とする）を設定する。ここで、Ｗ３に光電ピークを中心
に光電ピークエネルギーの２４％幅、その他のウインド
ウであるＷ１，Ｗ２，Ｗ３，Ｗ５は４ＫｅＶ幅で隣接し
て設定する。このウインドウの設定からγ線散乱成分
（散乱線分布）の除去までの処理の流れは、図７のステ
ップＳＴ−２０からステップＳＴ−２５のルーチンを経
る。
１〜Ｗ５（但し、図３のＷ１〜Ｗ３とは対応しないもの
とする）を設定する。ここで、Ｗ３に光電ピークを中心
に光電ピークエネルギーの２４％幅、その他のウインド
ウであるＷ１，Ｗ２，Ｗ３，Ｗ５は４ＫｅＶ幅で隣接し
て設定する。このウインドウの設定からγ線散乱成分
（散乱線分布）の除去までの処理の流れは、図７のステ
ップＳＴ−２０からステップＳＴ−２５のルーチンを経
る。
【００２７】具体的には、Ｗ１〜Ｗ５の如くメインウイ
ンドウＷｅ、サブウインドウＷｓを設定した後（ステッ
プＳＴ−２０）、この設定で画像データの収集を行い
（ステップＳＴ−２１）、各ウインドウに対応する画像
データＰ１（ｘ，ｙ）〜Ｐ５（ｘ，ｙ）を同時に収集す
る（ステップＳＴ−２２）。
ンドウＷｅ、サブウインドウＷｓを設定した後（ステッ
プＳＴ−２０）、この設定で画像データの収集を行い
（ステップＳＴ−２１）、各ウインドウに対応する画像
データＰ１（ｘ，ｙ）〜Ｐ５（ｘ，ｙ）を同時に収集す
る（ステップＳＴ−２２）。
【００２８】この収集終了後（ステップＳＴ−２３）、
収集した画像データＰ１（ｘ，ｙ）〜Ｐ５（ｘ，ｙ）を
利用し（ステップＳＴ−２４）、式９、式１０、式１１
を演算して所望の画像データＣｔ，Ｃｈ，Ｃｅを得る。
なお、Ｐ１〜Ｐ５に対して図示しない手段によってフィ
ルタ処理を行っても良い。
収集した画像データＰ１（ｘ，ｙ）〜Ｐ５（ｘ，ｙ）を
利用し（ステップＳＴ−２４）、式９、式１０、式１１
を演算して所望の画像データＣｔ，Ｃｈ，Ｃｅを得る。
なお、Ｐ１〜Ｐ５に対して図示しない手段によってフィ
ルタ処理を行っても良い。
【００２９】
【数９】 Ｃｔ（ｘ，ｙ）＝Ｐ２（ｘ，ｙ）＋Ｐ３（ｘ，ｙ）＋Ｐ４（ｘ，ｙ） (9) Ｃｈ（ｘ，ｙ）＝Ｐ４（ｘ，ｙ）＋Ｐ５（ｘ，ｙ） (10) Ｃｅ（ｘ，ｙ）＝Ｐ１（ｘ，ｙ）＋Ｐ２（ｘ，ｙ） (11) また、メイン，サブのウインドウ幅Ｗｓ，Ｗｅは各エネ
ルギー値Ｅ1 〜Ｅ6 によりそれぞれ式１２、式１３より
求められる。
ルギー値Ｅ1 〜Ｅ6 によりそれぞれ式１２、式１３より
求められる。
【数１０】 Ｗｓ＝Ｅ３−Ｅ１＝Ｅ６−Ｅ４ (12) Ｗｅ＝Ｅ５−Ｅ２ (13) これらの数値を用いて式１４のように散乱成分補正係数
に相当する散乱成分面積（即ち、台形面積）Ａｓ（ｘ，
ｙ）を求める。
に相当する散乱成分面積（即ち、台形面積）Ａｓ（ｘ，
ｙ）を求める。
【００３０】
【数１１】 Ａｓ（ｘ，ｙ）＝（Ｃｔ−（Ｃｈ＋Ｃｅ）Ｗｓ／（２Ｗｅ））／Ｃｔ (14)
【００３１】これを図５のシステム構成において補正係
数発生回路８から散乱成分除去回路６へ加えることによ
り、その散乱成分除去回路６にて画像Ｃｔ（ｘ，ｙ）か
ら減算してγ線散乱成分を除去した画像を作成すること
ができる。
数発生回路８から散乱成分除去回路６へ加えることによ
り、その散乱成分除去回路６にて画像Ｃｔ（ｘ，ｙ）か
ら減算してγ線散乱成分を除去した画像を作成すること
ができる。
【００３２】次に、本発明のガンマー線散乱成分除去装
置が適用された第３実施例のシンチレーションカメラ装
置について説明する。
置が適用された第３実施例のシンチレーションカメラ装
置について説明する。
【００３３】上記第２実施例では、５つのウインドウＷ
１〜Ｗ５を設定したが、両端のサブウインドウは幅が狭
いために、メインウインドウにオーバーラップする部分
なしで図８に示すようにエネルギーウインドウＷ１〜Ｗ
３（但し、図３及び図６のウインドウとは対応しないも
のとする）を設定してもよい。
１〜Ｗ５を設定したが、両端のサブウインドウは幅が狭
いために、メインウインドウにオーバーラップする部分
なしで図８に示すようにエネルギーウインドウＷ１〜Ｗ
３（但し、図３及び図６のウインドウとは対応しないも
のとする）を設定してもよい。
【００３４】この時
【数１２】 Ｃｔ（ｘ，ｙ）＝Ｐ2 （ｘ，ｙ） (15) Ｃｈ（ｘ，ｙ）＝Ｐ1 （ｘ，ｙ） (16) Ｃｅ（ｘ，ｙ）＝Ｐ3 （ｘ，ｙ） (17) ＊ Ｐ1 （ｘ，ｙ），Ｐ2 （ｘ，ｙ），Ｐ3 （ｘ，ｙ）
はそれぞれウインドウＷ１，Ｗ２，Ｗ３での収集画像デ
ータを示す。
はそれぞれウインドウＷ１，Ｗ２，Ｗ３での収集画像デ
ータを示す。
【００３５】
【数１３】 Ｗｓ＝Ｗ１＝Ｗ３（サブウインドウの幅） (18) ＷｔＷ２ （メインウインドウの幅） (19) 以上により散乱線補正係数に相当した散乱線成分面積Ａ
ｓ（ｘ，ｙ）が求まり散乱成分の補正が行なえる。
ｓ（ｘ，ｙ）が求まり散乱成分の補正が行なえる。
【００３６】図９は、この第３実施例のシンチレーショ
ンカメラ装置のシステム構成を示すブロック図であり、
図示の如く第１及び第２のイメージメモリ４Ａ，４Ｂ
と、第１及び第２のイメージプロセッサ５Ａ，５Ｂを備
える。また、図１及び図５と同一符号で示す部分は図１
及び図５の各部にそれぞれ対応する。従って、本実施例
におけるシステム動作は第１実施例で説明した関係とな
るのでここでは省略する。
ンカメラ装置のシステム構成を示すブロック図であり、
図示の如く第１及び第２のイメージメモリ４Ａ，４Ｂ
と、第１及び第２のイメージプロセッサ５Ａ，５Ｂを備
える。また、図１及び図５と同一符号で示す部分は図１
及び図５の各部にそれぞれ対応する。従って、本実施例
におけるシステム動作は第１実施例で説明した関係とな
るのでここでは省略する。
【００３７】このような本実施例におけるウインドウ設
定及びγ線散乱成分除去を以下説明する。
定及びγ線散乱成分除去を以下説明する。
【００３８】例えば、９８Ｔｃ（チタニウム）のような
光電ピークが一つの場合ではγ線散乱成分はエネルギー
が高い部分ではほとんどないと考えられるので図６のＷ
４とＷ５内の散乱成分のエネルギー幅は０で近似でき
る。また光電ピークＰ2 の両端のウインドウ幅は小さい
ので一つのウインドウＷ１で近似できる。
光電ピークが一つの場合ではγ線散乱成分はエネルギー
が高い部分ではほとんどないと考えられるので図６のＷ
４とＷ５内の散乱成分のエネルギー幅は０で近似でき
る。また光電ピークＰ2 の両端のウインドウ幅は小さい
ので一つのウインドウＷ１で近似できる。
【００３９】よって、メインウインドウＷｔ（２４％
幅）とサブウインドウＷ１（４ＫｅＶ）の二つのウイン
ドウのみで画像データＰｔ、Ｐ１を収集して散乱成分補
正が可能である。即ち、次の式２０、式２１、式２２の
ような近似式になる。
幅）とサブウインドウＷ１（４ＫｅＶ）の二つのウイン
ドウのみで画像データＰｔ、Ｐ１を収集して散乱成分補
正が可能である。即ち、次の式２０、式２１、式２２の
ような近似式になる。
【００４０】
【数１４】 Ｃｔ（ｘ，ｙ）＝Ｐｔ（ｘ，ｙ） (20) Ｃｈ（ｘ，ｙ）＝０ (21) Ｃｅ（ｘ，ｙ）＝Ｐ１（ｘ，ｙ） (22) これらによりＡｓ（ｘ，ｙ）を式２３のように計算する
ことができる。
ことができる。
【００４１】
【数１５】 Ａｓ（ｘ，ｙ）＝（Ｃｔ−（Ｃｈ＋Ｃｅ）Ｗｅ／（Ｗｅ））／Ｃｔ (23) 但し、ＷｓはＷｔのウインドウ幅、ＷｅはＷ１のウイン
ドウ幅である。
ドウ幅である。
【００４２】この関係を、図１０に示す如く視覚的に表
現すると上記の式２３がより容易に理解できる。
現すると上記の式２３がより容易に理解できる。
【００４３】次に本発明のガンマー線散乱成分除去装置
が適用された第４実施例のシンチレーションカメラ装置
について説明する。
が適用された第４実施例のシンチレーションカメラ装置
について説明する。
【００４４】核医学検査においてエネルギーピークの異
なる複数のＲＩを同時に用いて行う場合があるが、ここ
では二種類のＲＩを使って、図１１に示す如くのシステ
ム構成で散乱成分を除去するものとした。なお、図１，
図５，図９と同一符号で示す部分はその各図の各部にそ
れぞれ対応し、また本実施例のシステム動作は第１実施
例で説明した関係となるのでここでは省略する。
なる複数のＲＩを同時に用いて行う場合があるが、ここ
では二種類のＲＩを使って、図１１に示す如くのシステ
ム構成で散乱成分を除去するものとした。なお、図１，
図５，図９と同一符号で示す部分はその各図の各部にそ
れぞれ対応し、また本実施例のシステム動作は第１実施
例で説明した関係となるのでここでは省略する。
【００４５】本実施例にあっては、図１２に示すように
光電ピークＰp −１についてはよりエネルギーの高い光
電ピークＰp −２の影響でエネルギーが高い側の散乱成
分が多いため、Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３の３つのウインドウが
必要となる。一方、光電ピークＰp −２についてはエネ
ルギーの散乱成分が少いため、Ｗ４，Ｗ５の２つのウイ
ンドウでも十分である。この各ウインドウごとの画像デ
ータＰ１〜Ｐ５同時に収集する。
光電ピークＰp −１についてはよりエネルギーの高い光
電ピークＰp −２の影響でエネルギーが高い側の散乱成
分が多いため、Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３の３つのウインドウが
必要となる。一方、光電ピークＰp −２についてはエネ
ルギーの散乱成分が少いため、Ｗ４，Ｗ５の２つのウイ
ンドウでも十分である。この各ウインドウごとの画像デ
ータＰ１〜Ｐ５同時に収集する。
【００４６】光電ピークＰp −１のイメージデータＣＴ
１，Ｃｈ１，Ｃｅ１，Ａｓ１は、式２４、式２５、式２
６、式２７より計算される。
１，Ｃｈ１，Ｃｅ１，Ａｓ１は、式２４、式２５、式２
６、式２７より計算される。
【００４７】
【数１６】 Ｃｔ１（ｘ，ｙ）＝Ｐ２（ｘ，ｙ） (24) Ｃｈ１（ｘ，ｙ）＝Ｐ３（ｘ，ｙ） (25) Ｃｅ１（ｘ，ｙ）＝Ｐ１（ｘ，ｙ） (26) Ａｓ１（ｘ，ｙ）＝（Ｃｔ１−（Ｃｈ１＋Ｃｅ１）Ｗｓ／Ｗｅ））／Ｃｔ１ (27) 光電ピークＰｐ−２のイメージデータＣＴ２，Ｃｈ２，
Ｃｅ２，Ａｓ２は、式２８、式２９、式３０、式３１よ
り計算される。
Ｃｅ２，Ａｓ２は、式２８、式２９、式３０、式３１よ
り計算される。
【００４８】
【数１７】 Ｃｔ２（ｘ，ｙ）＝Ｐ５（ｘ，ｙ） (28) Ｃｈ２（ｘ，ｙ）＝０ (29) Ｃｅ２（ｘ，ｙ）＝Ｐ４（ｘ，ｙ） (30) Ａｓ２（ｘ，ｙ）＝（Ｃｔ２−（Ｃｈ２＋Ｃｅ２）Ｗｓ／Ｗｅ））／Ｃｔ２ (31) 以上より散乱成分補正係数に相当した散乱成分補正係数
Ａｓ１（ｘ，ｙ）、Ａｓ２（ｘ，ｙ）が求まり、散乱成
分の補正が行える。
Ａｓ１（ｘ，ｙ）、Ａｓ２（ｘ，ｙ）が求まり、散乱成
分の補正が行える。
【００４９】更に、本発明のガンマー線散乱成分除去装
置は、ＥＣＴ(enission computed tomography)にも適用
できる。これによって、各投影データに含まれている散
乱線成分を除去できるので高画質のＥＣＴ像を得ること
ができる。
置は、ＥＣＴ(enission computed tomography)にも適用
できる。これによって、各投影データに含まれている散
乱線成分を除去できるので高画質のＥＣＴ像を得ること
ができる。
【００５０】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、エ
ネルギーウインドウを１つの光電ピークに関して複数設
定して各ウインドウ内の画像データを収集し、γ線散乱
成分を除去できる。従って、γ線散乱成分の除去のため
の所要時間が従来に比較して大幅に短縮される。また、
この光電ピークに関してのγ線散乱成分を正確に推測し
て除去することができるので、画像の分解能が向上し、
また定量的な扱いが可能となる。
ネルギーウインドウを１つの光電ピークに関して複数設
定して各ウインドウ内の画像データを収集し、γ線散乱
成分を除去できる。従って、γ線散乱成分の除去のため
の所要時間が従来に比較して大幅に短縮される。また、
この光電ピークに関してのγ線散乱成分を正確に推測し
て除去することができるので、画像の分解能が向上し、
また定量的な扱いが可能となる。
【図１】本発明のガンマー線散乱成分除去装置が適用さ
れた第１実施例のシンチレーションカメラ装置のシステ
ム構成を示すブロック図である。
れた第１実施例のシンチレーションカメラ装置のシステ
ム構成を示すブロック図である。
【図２】図１のシステム構成における処理の流れを示す
図である。
図である。
【図３】本発明の第１実施例におけるウインドウ設定及
びγ線散乱成分除去の仕方を説明するために用いた図で
ある。
びγ線散乱成分除去の仕方を説明するために用いた図で
ある。
【図４】本発明の第１実施例にて収集した画像データを
基に得られる各面積データを視覚的に表現した図であ
る。
基に得られる各面積データを視覚的に表現した図であ
る。
【図５】本発明のガンマー線散乱成分除去装置が適用さ
れ第２実施例のシンチレーションカメラ装置のシステム
構成を示すブロック図である。
れ第２実施例のシンチレーションカメラ装置のシステム
構成を示すブロック図である。
【図６】本発明の第２実施例におけるウインドウ設定及
びγ線散乱成分除去の仕方を説明するために用いた図で
ある。
びγ線散乱成分除去の仕方を説明するために用いた図で
ある。
【図７】本発明の第２実施例におけるウインドウ設定か
らγ線散乱成分の除去までの処理の流れを示す図であ
る。
らγ線散乱成分の除去までの処理の流れを示す図であ
る。
【図８】本発明の第３実施例におけるウインドウ設定及
びγ線散乱成分除去の仕方を説明するために用いた図で
ある。
びγ線散乱成分除去の仕方を説明するために用いた図で
ある。
【図９】本発明の第３実施例のシンチレーションカメラ
装置のシステム構成を示すブロック図である。
装置のシステム構成を示すブロック図である。
【図１０】本発明の第３実施例にて収集した画像データ
を基に得られる各面積データを視覚的に表現した図であ
る。
を基に得られる各面積データを視覚的に表現した図であ
る。
【図１１】本発明の第４実施例のシンチレーションカメ
ラ装置のシステム構成を示すブロロック図である。
ラ装置のシステム構成を示すブロロック図である。
【図１２】本発明の第４実施例におけるウインドウ設定
及びγ線散乱成分除去の仕方を説明するために用いた図
である。
及びγ線散乱成分除去の仕方を説明するために用いた図
である。
【図１３】従来のガンマー線散乱成分除去装置における
ウインドウ設定及びγ線散乱成分除去の仕方の第１例を
説明するために用いた図である。
ウインドウ設定及びγ線散乱成分除去の仕方の第１例を
説明するために用いた図である。
【図１４】従来のガンマー線散乱成分除去装置における
ウインドウ設定及びγ線散乱成分除去の仕方の第２例を
説明するために用いた図である。
ウインドウ設定及びγ線散乱成分除去の仕方の第２例を
説明するために用いた図である。
【図１５】本発明のガンマー線散乱成分除去装置におけ
るウインドウの設定及びγ線散乱成分除去の仕方を説明
するために用いた図である。
るウインドウの設定及びγ線散乱成分除去の仕方を説明
するために用いた図である。
１ ガンマカメラ ２ Ａ／Ｄ変換器 ３ イメージメモリコントローラ ４Ａ〜４Ｅ イメージメモリ ５Ａ〜５Ｅ イメージプロセッサ ６ 散乱成分除去回路 ７ ウインドウ回路 ８ 補正係数発生回路 ９ ＣＰＵ
Claims (1)
- 【請求項１】 ガンマカメラにおいて被検体内に投与し
た放射性同位元素から放出されるγ線のエネルギーと入
射位置とを測定し、被検体内のγ線分布を示す二次元画
像を収集する際、エネルギーウインドウを１つの光電ピ
ークに関して複数設定する手段と、 前記各エネルギーウインドウにより収集した画像間の演
算により散乱成分補正係数を求める手段とを備え、 前記散乱成分補正係数を用いて前記二次元画像からγ線
散乱成分を除去することを特徴とするガンマー線散乱成
分除去装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6717792A JPH0769428B2 (ja) | 1991-03-27 | 1992-03-25 | ガンマー線散乱成分除去装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6344391 | 1991-03-27 | ||
| JP3-63443 | 1991-03-27 | ||
| JP6717792A JPH0769428B2 (ja) | 1991-03-27 | 1992-03-25 | ガンマー線散乱成分除去装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0587933A true JPH0587933A (ja) | 1993-04-09 |
| JPH0769428B2 JPH0769428B2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=26404567
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6717792A Expired - Lifetime JPH0769428B2 (ja) | 1991-03-27 | 1992-03-25 | ガンマー線散乱成分除去装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0769428B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06138237A (ja) * | 1992-10-23 | 1994-05-20 | Toshiba Corp | シンチレーションカメラ |
| JPH08271633A (ja) * | 1995-03-29 | 1996-10-18 | Toshiba Corp | 放射線検出装置 |
| JPH08322826A (ja) * | 1995-05-31 | 1996-12-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｘ線撮像装置 |
| JPH0996675A (ja) * | 1995-10-02 | 1997-04-08 | Toshiba Corp | 核医学診断装置および放射性同位元素の分離方法 |
| JPH09145842A (ja) * | 1995-11-22 | 1997-06-06 | Picker Internatl Inc | ガンマカメラと共に使用するための散乱補正 |
| JP2003057349A (ja) * | 2001-08-13 | 2003-02-26 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | バックグラウンド計数率の推定方法及びこれを実施する測定装置 |
| US9870608B2 (en) | 2013-03-21 | 2018-01-16 | Hitachi, Ltd. | Gamma camera, spect device, pet device, and method for generating measured gamma ray images |
| JP2020529616A (ja) * | 2017-09-14 | 2020-10-08 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 陽電子放出断層撮影における狭いエネルギー窓カウントから再構成された放出画像推定を使用した散乱補正 |
-
1992
- 1992-03-25 JP JP6717792A patent/JPH0769428B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06138237A (ja) * | 1992-10-23 | 1994-05-20 | Toshiba Corp | シンチレーションカメラ |
| JPH08271633A (ja) * | 1995-03-29 | 1996-10-18 | Toshiba Corp | 放射線検出装置 |
| JPH08322826A (ja) * | 1995-05-31 | 1996-12-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Ｘ線撮像装置 |
| JPH0996675A (ja) * | 1995-10-02 | 1997-04-08 | Toshiba Corp | 核医学診断装置および放射性同位元素の分離方法 |
| JPH09145842A (ja) * | 1995-11-22 | 1997-06-06 | Picker Internatl Inc | ガンマカメラと共に使用するための散乱補正 |
| JP2003057349A (ja) * | 2001-08-13 | 2003-02-26 | Central Res Inst Of Electric Power Ind | バックグラウンド計数率の推定方法及びこれを実施する測定装置 |
| US9870608B2 (en) | 2013-03-21 | 2018-01-16 | Hitachi, Ltd. | Gamma camera, spect device, pet device, and method for generating measured gamma ray images |
| JP2020529616A (ja) * | 2017-09-14 | 2020-10-08 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 陽電子放出断層撮影における狭いエネルギー窓カウントから再構成された放出画像推定を使用した散乱補正 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0769428B2 (ja) | 1995-07-31 |
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