JPH0587626A - 測光装置 - Google Patents
測光装置Info
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- JPH0587626A JPH0587626A JP24787391A JP24787391A JPH0587626A JP H0587626 A JPH0587626 A JP H0587626A JP 24787391 A JP24787391 A JP 24787391A JP 24787391 A JP24787391 A JP 24787391A JP H0587626 A JPH0587626 A JP H0587626A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測光角の異なる２つの測光光学系を備えつ
つ、これらの測光光学系の受光素子の出力信号の補正が
容易な測光装置を提供することを目的とする。 【構成】 第１の集光レンズ１ａとこれにより集光され
た光束を受光する第１の受光素子４ａとを有し、狭い範
囲の明るさを測定する狭角測光光学系と、第２の集光レ
ンズ１ｂとこれにより集光された光束を受光する第２の
受光素子４ｂとを有し、広い範囲の明るさを測定する広
角測光光学系とを備え、 ω1 2・ｈ1 2 = ｋ・ω2 2・ｈ2 2 ０.７ ＜ ｋ ＜ １.４ ただし、 ｋ: 比例定数 ω1: 狭角測光光学系の画角 ｈ1: 第１の集光レンズの有効径 ω2: 広角測光光学系の画角 ｈ2: 第２の集光レンズの有効径 の条件を満たすことを特徴とする。
つ、これらの測光光学系の受光素子の出力信号の補正が
容易な測光装置を提供することを目的とする。 【構成】 第１の集光レンズ１ａとこれにより集光され
た光束を受光する第１の受光素子４ａとを有し、狭い範
囲の明るさを測定する狭角測光光学系と、第２の集光レ
ンズ１ｂとこれにより集光された光束を受光する第２の
受光素子４ｂとを有し、広い範囲の明るさを測定する広
角測光光学系とを備え、 ω1 2・ｈ1 2 = ｋ・ω2 2・ｈ2 2 ０.７ ＜ ｋ ＜ １.４ ただし、 ｋ: 比例定数 ω1: 狭角測光光学系の画角 ｈ1: 第１の集光レンズの有効径 ω2: 広角測光光学系の画角 ｈ2: 第２の集光レンズの有効径 の条件を満たすことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、被写体の輝度を測定
する測光装置に関し、特に、異なる測光角の明るさを独
立した２つの測光光学系を用いて測定する測光装置に関
する。
する測光装置に関し、特に、異なる測光角の明るさを独
立した２つの測光光学系を用いて測定する測光装置に関
する。
【０００２】
【従来の技術】この種の測光装置としては、従来から画
面全体の平均的な明るさを測定する全体測光光学系と、
画面の一部の明るさを測光するスポット測光光学系とを
備えるものがある（例えば、特公平１−５７７７０号公
報参照）。
面全体の平均的な明るさを測定する全体測光光学系と、
画面の一部の明るさを測光するスポット測光光学系とを
備えるものがある（例えば、特公平１−５７７７０号公
報参照）。
【０００３】各測光光学系は、被写体側からの光束を集
光させる集光レンズと、集光された光束を受光する受光
素子とから構成され、受光素子にはＣｄＳ素子、ＳＰＤ
(セルフォトダイオード)等が用いられている。
光させる集光レンズと、集光された光束を受光する受光
素子とから構成され、受光素子にはＣｄＳ素子、ＳＰＤ
(セルフォトダイオード)等が用いられている。
【０００４】このような２つの測光光学系を有する測光
装置では、測光値を利用した露出演算に当たり、物体の
明るさと出力信号との関係が両方の測光光学系で互いに
等しくなければならない。このため、均質な明るさの物
体に対して両方の測光光学系から同一の信号が得られる
よう両者の出力を調整する補正回路が必要となる。
装置では、測光値を利用した露出演算に当たり、物体の
明るさと出力信号との関係が両方の測光光学系で互いに
等しくなければならない。このため、均質な明るさの物
体に対して両方の測光光学系から同一の信号が得られる
よう両者の出力を調整する補正回路が必要となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、全体測
光のための測光光学系とスポット測光のための測光光学
系とでは光学系の特性が異なるため、両測光光学系にお
ける入射光量と受光素子の受光量との間の関係は不確定
であり、補正回路が複雑になる。
光のための測光光学系とスポット測光のための測光光学
系とでは光学系の特性が異なるため、両測光光学系にお
ける入射光量と受光素子の受光量との間の関係は不確定
であり、補正回路が複雑になる。
【０００６】
【発明の目的】この発明は、上述した従来技術の課題に
鑑みてなされたものであり、画角の異なる２つの測光光
学系を備えつつ、これらの測光光学系の受光素子の出力
信号の補正が容易な測光装置を提供することを目的とす
る。
鑑みてなされたものであり、画角の異なる２つの測光光
学系を備えつつ、これらの測光光学系の受光素子の出力
信号の補正が容易な測光装置を提供することを目的とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる測光装
置は、上記の目的を達成させるため、第１の集光レンズ
により集光された光束を受光する第１の受光素子を有
し、狭い範囲の明るさを測定する狭角測光光学系と、第
２の集光レンズにより集光された光束を受光する第２の
受光素子を有し、広い範囲の明るさを測定する広角測光
光学系とを備え、 ω1 2・ｈ1 2 = ｋ・ω2 2・ｈ2 2 ０.７ ＜ ｋ ＜ １.４ ただし、 ｋ: 比例定数 ω1: 狭角測光光学系の画角 ｈ1: 第１の集光レンズの有効径 ω2: 広角測光光学系の画角 ｈ2: 第２の集光レンズの有効径 の条件を満たすことを特徴とする。
置は、上記の目的を達成させるため、第１の集光レンズ
により集光された光束を受光する第１の受光素子を有
し、狭い範囲の明るさを測定する狭角測光光学系と、第
２の集光レンズにより集光された光束を受光する第２の
受光素子を有し、広い範囲の明るさを測定する広角測光
光学系とを備え、 ω1 2・ｈ1 2 = ｋ・ω2 2・ｈ2 2 ０.７ ＜ ｋ ＜ １.４ ただし、 ｋ: 比例定数 ω1: 狭角測光光学系の画角 ｈ1: 第１の集光レンズの有効径 ω2: 広角測光光学系の画角 ｈ2: 第２の集光レンズの有効径 の条件を満たすことを特徴とする。
【０００８】
【実施例】以下、この発明を図面に基づいて説明する。
図１及び図２はこの発明の一実施例を示したものであ
り、図１は狭角測光光学系としてのスポット測光光学
系、図２は広角測光光学系としての全体測光光学系を示
す。
図１及び図２はこの発明の一実施例を示したものであ
り、図１は狭角測光光学系としてのスポット測光光学
系、図２は広角測光光学系としての全体測光光学系を示
す。
【０００９】スポット測光光学系は、被写体からの光束
を集光させる被写体側に凸面を向けた正のメニスカスレ
ンズである第１の集光レンズ１ａと、この集光レンズ１
ａの後方に設けられて光束の範囲を規制する第１の絞り
２ａと、集光位置近傍に設けられた第２の絞り３ａと、
第２の絞り３ａより後方に設けられた第１の受光素子と
してのＣｄＳ素子４ａとから構成されている。
を集光させる被写体側に凸面を向けた正のメニスカスレ
ンズである第１の集光レンズ１ａと、この集光レンズ１
ａの後方に設けられて光束の範囲を規制する第１の絞り
２ａと、集光位置近傍に設けられた第２の絞り３ａと、
第２の絞り３ａより後方に設けられた第１の受光素子と
してのＣｄＳ素子４ａとから構成されている。
【００１０】一方、全体測光光学系は、同様に第２の集
光レンズ１ｂと、２枚の絞り２ｂ，３ｂと、絞り３ｂよ
り後方に、かつ集光位置より手前に設けられた第２の受
光素子としてのＣｄＳ素子４ｂとから構成されている。
光レンズ１ｂと、２枚の絞り２ｂ，３ｂと、絞り３ｂよ
り後方に、かつ集光位置より手前に設けられた第２の受
光素子としてのＣｄＳ素子４ｂとから構成されている。
【００１１】なお、ＣｄＳ素子はＳＰＤと比較して安価
であるため、実施例のように２つの測光光学系の受光素
子として共にＣｄＳ素子を用いることにより、装置のコ
ストダウンを図ることが可能となる。
であるため、実施例のように２つの測光光学系の受光素
子として共にＣｄＳ素子を用いることにより、装置のコ
ストダウンを図ることが可能となる。
【００１２】ＣｄＳ素子４ａ，４ｂは、受光面に蛇行し
た受光パターンが形成されており、このパターン全体に
対する受光量によって抵抗値が変化する。図示せぬ測光
回路は、ＣｄＳ素子の抵抗値の変化を検出することによ
り被写体の輝度を測定する。
た受光パターンが形成されており、このパターン全体に
対する受光量によって抵抗値が変化する。図示せぬ測光
回路は、ＣｄＳ素子の抵抗値の変化を検出することによ
り被写体の輝度を測定する。
【００１３】このように蛇行した受光パターンを有する
受光素子を用いる場合、受光素子を集光位置に配置する
とパターンの間隙部分に集光して測光ができない場合が
あるため、集光位置からずらして配置する必要がある。
受光素子を用いる場合、受光素子を集光位置に配置する
とパターンの間隙部分に集光して測光ができない場合が
あるため、集光位置からずらして配置する必要がある。
【００１４】集光位置からずらすという意味では、集光
位置より集光レンズに近付く側、遠ざかる側のいずれに
配置してもよいこととなる。スペース効率の点では、集
光位置の手前側に配置することが望ましいため、全体測
光用の光学系においては集光位置の手前にＣｄＳ素子４
ｂを配置している。
位置より集光レンズに近付く側、遠ざかる側のいずれに
配置してもよいこととなる。スペース効率の点では、集
光位置の手前側に配置することが望ましいため、全体測
光用の光学系においては集光位置の手前にＣｄＳ素子４
ｂを配置している。
【００１５】しかしながら、スポット測光に用いる場合
には、集光位置より手前側に設けると、測光すべき範囲
以外の領域からの光束の一部をも受光することとなり、
正確なスポット測光ができない。そこで、ＣｄＳ素子４
ａを集光位置より後方に配置して２つの絞り２ａ，３ａ
を設け、ＣｄＳ素子４ａに取り込まれる光束の範囲を正
確にコントロールすることを可能としている。
には、集光位置より手前側に設けると、測光すべき範囲
以外の領域からの光束の一部をも受光することとなり、
正確なスポット測光ができない。そこで、ＣｄＳ素子４
ａを集光位置より後方に配置して２つの絞り２ａ，３ａ
を設け、ＣｄＳ素子４ａに取り込まれる光束の範囲を正
確にコントロールすることを可能としている。
【００１６】次に、両測光光学系のＣｄＳ素子の出力信
号を一定のレベルに揃えるための手段について説明す
る。
号を一定のレベルに揃えるための手段について説明す
る。
【００１７】集光位置から離れた位置に配置される受光
素子の受光量は、集光位置に配置される受光素子の受光
量を測定する場合のように集光レンズのＦナンバーのみ
に基づいて決定することができない。一般的には、受光
量を測定するために受光素子の出力を積分する必要があ
り、測定自体も困難である。
素子の受光量は、集光位置に配置される受光素子の受光
量を測定する場合のように集光レンズのＦナンバーのみ
に基づいて決定することができない。一般的には、受光
量を測定するために受光素子の出力を積分する必要があ
り、測定自体も困難である。
【００１８】この発明では、以下に説明する手法により
ＣｄＳ素子等の受光素子を用いた場合にも容易に両測光
光学系の出力のバランスを調整することができる。
ＣｄＳ素子等の受光素子を用いた場合にも容易に両測光
光学系の出力のバランスを調整することができる。
【００１９】各測光光学系の測光画角ω1、ω2は、それ
ぞれの測光範囲により設計値として初期的に決定されて
いる。入射瞳径ｈ1、ｈ2は、画角０で入射する軸上光の
光量を１００％とし、それぞれ画角ω1、ω2で入射する
光束の光量が５０％となるように定められる。
ぞれの測光範囲により設計値として初期的に決定されて
いる。入射瞳径ｈ1、ｈ2は、画角０で入射する軸上光の
光量を１００％とし、それぞれ画角ω1、ω2で入射する
光束の光量が５０％となるように定められる。
【００２０】このとき、 ω1 2・ｈ1 2 ω2 2・ｈ2 2 がそれぞれの測光光学系のトータルの受光量を表す目安
となる。
となる。
【００２１】このため、 ω1 2・ｈ1 2 = ω2 2・ｈ2 2 の関係が成り立つ場合には、２つの測光光学系の受光量
は互いに等しくなり、相対的な測光値補正が不要とな
る。
は互いに等しくなり、相対的な測光値補正が不要とな
る。
【００２２】また、必ずしも等しい場合のみでなく、 ω1 2・ｈ1 2 = ｋ・ω2 2・ｈ2 2 として、 ０．７ ＜ ｋ ＜ １．４ の条件を満たす場合には、定数ｋの比率で全体測光光学
系の出力を補正することにより、両測光光学系の出力信
号を同一のレベルに揃えることができ、いずれの出力信
号に応じた場合にも正確に露出値を演算することができ
る。また、補正が簡単であるため、補正回路を簡素にす
ることができる。
系の出力を補正することにより、両測光光学系の出力信
号を同一のレベルに揃えることができ、いずれの出力信
号に応じた場合にも正確に露出値を演算することができ
る。また、補正が簡単であるため、補正回路を簡素にす
ることができる。
【００２３】なお、受光量と抵抗値とが一次関数的に変
化する受光量の範囲、すなわち簡単に精度良く測光でき
る範囲は、各ＣｄＳ素子の仕様により決定されている。
絞りの径と位置、レンズのＦナンバー等は受光量がその
範囲内に収まるように決定され、その範囲内で上記の条
件が満たされるように光学系を設計する。
化する受光量の範囲、すなわち簡単に精度良く測光でき
る範囲は、各ＣｄＳ素子の仕様により決定されている。
絞りの径と位置、レンズのＦナンバー等は受光量がその
範囲内に収まるように決定され、その範囲内で上記の条
件が満たされるように光学系を設計する。
【００２４】また、上記の実施例では、狭角測光光学系
としてスポット測光光学系、広角測光光学系として全体
測光光学系を示したが、この発明は、この他にも例えば
測光角の異なる２つのスポット測光光学系を用いる測光
装置にも適用することができる。
としてスポット測光光学系、広角測光光学系として全体
測光光学系を示したが、この発明は、この他にも例えば
測光角の異なる２つのスポット測光光学系を用いる測光
装置にも適用することができる。
【００２５】
【効果】以上説明したように、この発明によれば、測光
角が異なる２つの測光光学系の測光角と集光レンズの入
射瞳径を適宜設定することにより、両光学系の受光素子
から出力される信号のレベルを同一に揃え、あるいは比
例関係にすることができ、補正の演算を不要、あるいは
容易にすることができる。
角が異なる２つの測光光学系の測光角と集光レンズの入
射瞳径を適宜設定することにより、両光学系の受光素子
から出力される信号のレベルを同一に揃え、あるいは比
例関係にすることができ、補正の演算を不要、あるいは
容易にすることができる。
【図１】 実施例にかかる測光装置の狭角測光光学系を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図２】 実施例にかかる測光装置の広角測光光学系を
示す説明図である。
示す説明図である。
１ａ，１ｂ…集光レンズ ２ａ，２ｂ…絞り ３ａ，３ｂ…絞り ４ａ，４ｂ…ＣｄＳ素子（受光素子）
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成４年１２月２４日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００７
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００７】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる測光装
置は、上記の目的を達成させるため、第１の集光レンズ
により集光された光束を受光する第１の受光素子を有
し、狭い範囲の明るさを測定する第１の測光光学系と、
第２の集光レンズにより集光された光束を受光する第２
の受光素子を有し、広い範囲の明るさを測定する第２の
測光光学系とを備え、 ０.７ ＜ (ω1 2・ｈ1 2)／(ω2 2・ｈ2 2) ＜ １.４ ただし、 ω1: 第１の測光光学系の開口効率５０％の画角 ｈ1: 第１の集光レンズの軸上光線束の半径 ω2: 第２の測光光学系の開口効率５０％の画角 ｈ2: 第２の集光レンズの軸上光線束の半径 の条件を満たすことを特徴とする。
置は、上記の目的を達成させるため、第１の集光レンズ
により集光された光束を受光する第１の受光素子を有
し、狭い範囲の明るさを測定する第１の測光光学系と、
第２の集光レンズにより集光された光束を受光する第２
の受光素子を有し、広い範囲の明るさを測定する第２の
測光光学系とを備え、 ０.７ ＜ (ω1 2・ｈ1 2)／(ω2 2・ｈ2 2) ＜ １.４ ただし、 ω1: 第１の測光光学系の開口効率５０％の画角 ｈ1: 第１の集光レンズの軸上光線束の半径 ω2: 第２の測光光学系の開口効率５０％の画角 ｈ2: 第２の集光レンズの軸上光線束の半径 の条件を満たすことを特徴とする。
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００８】
【実施例】以下、この発明を図面に基づいて説明する。
図１及び図２はこの発明の一実施例を示したものであ
り、図１は第１の測光光学系としてのスポット測光光学
系、図２は第２の測光光学系としての全体測光光学系を
示す。
図１及び図２はこの発明の一実施例を示したものであ
り、図１は第１の測光光学系としてのスポット測光光学
系、図２は第２の測光光学系としての全体測光光学系を
示す。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１９
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１９】各測光光学系の光線束は、絞り２ａ，２
ｂ，３ａ，３ｂにより遮蔽されるように設計され、開口
効率が５０％となる画角をω1、ω2と定めている。
ｂ，３ａ，３ｂにより遮蔽されるように設計され、開口
効率が５０％となる画角をω1、ω2と定めている。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２１】このため、 (ω1 2・ｈ1 2)／(ω2 2・ｈ2 2) ＝１ の関係が成り立つ場合には、２つの測光光学系の受光量
は互いに等しくなり、相対的な測光値補正が不要とな
る。
は互いに等しくなり、相対的な測光値補正が不要とな
る。
【手続補正６】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２２
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２２】また、必ずしも等しい場合のみでなく、 ０.７ ＜ (ω1 2・ｈ1 2)／(ω2 2・ｈ2 2) ＜ １.４ の条件を満たす場合には、この比率で全体測光光学系の
出力を補正することにより、両測光光学系の出力信号を
同一のレベルに揃えることができ、いずれの出力信号に
応じた場合にも正確に露出値を演算することができる。
また、補正が簡単であるため、補正回路を簡素にするこ
とができる。
出力を補正することにより、両測光光学系の出力信号を
同一のレベルに揃えることができ、いずれの出力信号に
応じた場合にも正確に露出値を演算することができる。
また、補正が簡単であるため、補正回路を簡素にするこ
とができる。
【手続補正７】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２４
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２４】また、上記の実施例では、狭角測光光学系
としてスポット測光光学系、広角測光光学系として全体
測光光学系を示したが、この発明は、この他にも例えば
測光角の異なる２つのスポット測光光学系を用いる測光
装置にも適用することができる。
としてスポット測光光学系、広角測光光学系として全体
測光光学系を示したが、この発明は、この他にも例えば
測光角の異なる２つのスポット測光光学系を用いる測光
装置にも適用することができる。
【手続補正８】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図１】 実施例にかかる測光装置の第１の測光光学系
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図２】 実施例にかかる測光装置の第２の測光光学系
を示す説明図である。
を示す説明図である。
Claims (3)
- 【請求項１】第１の集光レンズと該第１の集光レンズに
より集光された光束を受光する第１の受光素子とを有
し、狭い範囲の明るさを測定する狭角測光光学系と、 第２の集光レンズと該第２の集光レンズにより集光され
た光束を受光する第２の受光素子とを有し、広い範囲の
明るさを測定する広角測光光学系とを備え、以下の条件
を満たすことを特徴とする測光装置。 ω1 2・ｈ1 2 = ｋ・ω2 2・ｈ2 2 ０.７ ＜ ｋ ＜ １.４ ただし、 ｋ : 比例定数 ω1: 狭角測光光学系の画角 ｈ1: 第１の集光レンズの有効径 ω2: 広角測光光学系の画角 ｈ2: 第２の集光レンズの有効径 - 【請求項２】前記第１の受光素子は、前記第１の集光レ
ンズによる集光位置より後方に設けられ、第２の受光素
子は、前記第２の受光素子による集光位置より手前側に
設けられていることを特徴とする請求項１に記載の測光
装置。 - 【請求項３】前記第１、第２の受光素子は、ＣｄＳ素子
であることを特徴とする請求項２に記載の測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03247873A JP3133416B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 測光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03247873A JP3133416B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 測光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0587626A true JPH0587626A (ja) | 1993-04-06 |
| JP3133416B2 JP3133416B2 (ja) | 2001-02-05 |
Family
ID=17169889
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03247873A Expired - Fee Related JP3133416B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 測光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3133416B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5897382A (en) * | 1996-05-23 | 1999-04-27 | Yokowo Co., Ltd. | Pivotally movable electrical connector and electronic apparatus using same |
| US6002583A (en) * | 1997-01-31 | 1999-12-14 | Citizen Watch Co., Ltd. | Portable computer provided with removable battery pack |
| US6078496A (en) * | 1994-09-06 | 2000-06-20 | Citizen Watch Co., Ltd | Portable computer with hinged detachable battery pack |
| JP2009109315A (ja) * | 2007-10-30 | 2009-05-21 | Sony Corp | 光計測装置及び走査光学系 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4159298B2 (ja) | 2001-09-04 | 2008-10-01 | シャープ株式会社 | 電気掃除機及び機器 |
-
1991
- 1991-09-26 JP JP03247873A patent/JP3133416B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6535378B1 (en) | 1994-06-09 | 2003-03-18 | Citizen Watch Co., Ltd. | Portable computer with detachable battery pack |
| US6078496A (en) * | 1994-09-06 | 2000-06-20 | Citizen Watch Co., Ltd | Portable computer with hinged detachable battery pack |
| US5897382A (en) * | 1996-05-23 | 1999-04-27 | Yokowo Co., Ltd. | Pivotally movable electrical connector and electronic apparatus using same |
| US6002583A (en) * | 1997-01-31 | 1999-12-14 | Citizen Watch Co., Ltd. | Portable computer provided with removable battery pack |
| JP2009109315A (ja) * | 2007-10-30 | 2009-05-21 | Sony Corp | 光計測装置及び走査光学系 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| JP3133416B2 (ja) | 2001-02-05 |
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