JPH0584661A - 自動抜取り検査方法及びその装置 - Google Patents
自動抜取り検査方法及びその装置Info
- Publication number
- JPH0584661A JPH0584661A JP24799491A JP24799491A JPH0584661A JP H0584661 A JPH0584661 A JP H0584661A JP 24799491 A JP24799491 A JP 24799491A JP 24799491 A JP24799491 A JP 24799491A JP H0584661 A JPH0584661 A JP H0584661A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ground
- workpieces
- outer diameter
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- chuck
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- Granted
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ワークの抜き取り、及び抜き取ったワークの
外径寸法の測定を自動的に行い、人件費を削減してコス
ト低減を図り、また、測定ミスをなくしてワークの外径
寸法を許容範囲内に確実に入れる。 【構成】 ワーク３４を自動的に抜き取る抜取り手段１
２と抜き取ったワーク３４の外径寸法を自動的に測定す
る測定手段１４とを備えた。抜取り手段１２はセンタレ
ス研削盤２８で研削されて受け籠６２に落下する途中の
複数のワーク３４から所定量のワーク３４を採集すると
共に採集した所定量のワーク３４を所定位置まで移動す
る。そして、抜取り手段１２は所定位置まで移動した所
定量のワーク３４を漏斗３６Ａを介して一個づつチュー
ブ３６Ｂ内に落下し、チューブ３６Ｂの端部から一個づ
つ落下するワーク３４を自動的に抜き取る。更に、抜き
取られたワーク３４の外径寸法は測定手段１４で自動的
に測定される。
外径寸法の測定を自動的に行い、人件費を削減してコス
ト低減を図り、また、測定ミスをなくしてワークの外径
寸法を許容範囲内に確実に入れる。 【構成】 ワーク３４を自動的に抜き取る抜取り手段１
２と抜き取ったワーク３４の外径寸法を自動的に測定す
る測定手段１４とを備えた。抜取り手段１２はセンタレ
ス研削盤２８で研削されて受け籠６２に落下する途中の
複数のワーク３４から所定量のワーク３４を採集すると
共に採集した所定量のワーク３４を所定位置まで移動す
る。そして、抜取り手段１２は所定位置まで移動した所
定量のワーク３４を漏斗３６Ａを介して一個づつチュー
ブ３６Ｂ内に落下し、チューブ３６Ｂの端部から一個づ
つ落下するワーク３４を自動的に抜き取る。更に、抜き
取られたワーク３４の外径寸法は測定手段１４で自動的
に測定される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は自動抜取り検査方法及
びその装置に係り、特にセンタレス研削盤で研削された
小径のピンを抜き取り、抜取ったピンの外径を測定する
自動抜取り検査方法及びその装置に関する。
びその装置に係り、特にセンタレス研削盤で研削された
小径のピンを抜き取り、抜取ったピンの外径を測定する
自動抜取り検査方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、センタレス研削盤で小径のピン外
径を研削する場合、研削されたピンの中から作業者が手
作業で適宜ピンを抜き取り、更に抜き取ったピンの外径
を作業者がマイクロメータで測定する。そして、研削さ
れたピンの外径寸法が設定された許容範囲内に入るよう
にマイクロメータの測定値に基づいてセンタレス研削盤
の切込み量を調整する。
径を研削する場合、研削されたピンの中から作業者が手
作業で適宜ピンを抜き取り、更に抜き取ったピンの外径
を作業者がマイクロメータで測定する。そして、研削さ
れたピンの外径寸法が設定された許容範囲内に入るよう
にマイクロメータの測定値に基づいてセンタレス研削盤
の切込み量を調整する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】センタレス研削盤のス
ループットの向上に伴い、従来の点数検査方式では測定
が追いつかないという問題がある。本発明はこのような
事情に鑑みてなされたもので、ピンの抜き取りや、ピン
の外径測定を自動的に行うことにより、測定ミスをなく
してピンの外径寸法を許容範囲内に確実に入れることが
できる自動抜取り検査方法及びその装置を提供すること
を目的とする。
ループットの向上に伴い、従来の点数検査方式では測定
が追いつかないという問題がある。本発明はこのような
事情に鑑みてなされたもので、ピンの抜き取りや、ピン
の外径測定を自動的に行うことにより、測定ミスをなく
してピンの外径寸法を許容範囲内に確実に入れることが
できる自動抜取り検査方法及びその装置を提供すること
を目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成する為に、センタレス研削盤で被研削部材の外径を連
続的に研削すると共に研削した被研削部材を連続的に収
容網に落下させて、該収容網で被研削部材と研削油とを
分離するセンタレス研削盤において、前記落下途中の複
数の被研削部材から所定量の被研削部材を採集し、該採
集された所定量の被研削部材を漏斗を介して一個づつチ
ューブ内に落下し、該チューブの端部から一個づつ落下
する被研削部材を抜き取り、該抜き取られた被研削部材
の外径寸法を測定することを特徴とする。
成する為に、センタレス研削盤で被研削部材の外径を連
続的に研削すると共に研削した被研削部材を連続的に収
容網に落下させて、該収容網で被研削部材と研削油とを
分離するセンタレス研削盤において、前記落下途中の複
数の被研削部材から所定量の被研削部材を採集し、該採
集された所定量の被研削部材を漏斗を介して一個づつチ
ューブ内に落下し、該チューブの端部から一個づつ落下
する被研削部材を抜き取り、該抜き取られた被研削部材
の外径寸法を測定することを特徴とする。
【０００５】
【作用】本発明によれば、被研削部材を自動的に抜き取
る抜取り手段と抜き取った被研削部材の外径寸法を自動
的に測定する測定手段とを備えた。抜取り手段はセンタ
レス研削盤で研削されて収容網に落下する途中の複数の
被研削部材から所定量の被研削部材を採集すると共に採
集した所定量の被研削部材を所定位置まで移動する。そ
して、抜取り手段は所定位置まで移動した所定量の被研
削部材を漏斗を介して一個づつチューブ内に落下し、チ
ューブの端部から一個づつ落下する被研削部材を自動的
に抜き取る。更に、抜き取った被研削部材の外径寸法は
測定手段で自動的に測定される。
る抜取り手段と抜き取った被研削部材の外径寸法を自動
的に測定する測定手段とを備えた。抜取り手段はセンタ
レス研削盤で研削されて収容網に落下する途中の複数の
被研削部材から所定量の被研削部材を採集すると共に採
集した所定量の被研削部材を所定位置まで移動する。そ
して、抜取り手段は所定位置まで移動した所定量の被研
削部材を漏斗を介して一個づつチューブ内に落下し、チ
ューブの端部から一個づつ落下する被研削部材を自動的
に抜き取る。更に、抜き取った被研削部材の外径寸法は
測定手段で自動的に測定される。
【０００６】
【実施例】以下添付図面に従って本発明に係る自動抜取
り検査方法及びその装置について詳説する。図１には本
発明に係る自動抜取り検査装置１０の全体図が示されて
いる。自動抜取り検査装置１０は抜取り手段１２及び測
定手段１４を備えていて、抜取り手段１２のロータアク
チュエータ１６は支柱１８を有している。支柱１８には
同軸上に回動軸２０が回動自在に支持されていて、回動
軸２０にはアーム２２の一端部が設けられている。ま
た、アーム２２の他端部には受け皿２４がアーム２２の
軸を中心に回動自在に支持されていて、受け皿２４は網
部材で形成されている。この受け皿２４は回動軸２０の
回動で位置Ａから位置Ｂ間を回動する。
り検査方法及びその装置について詳説する。図１には本
発明に係る自動抜取り検査装置１０の全体図が示されて
いる。自動抜取り検査装置１０は抜取り手段１２及び測
定手段１４を備えていて、抜取り手段１２のロータアク
チュエータ１６は支柱１８を有している。支柱１８には
同軸上に回動軸２０が回動自在に支持されていて、回動
軸２０にはアーム２２の一端部が設けられている。ま
た、アーム２２の他端部には受け皿２４がアーム２２の
軸を中心に回動自在に支持されていて、受け皿２４は網
部材で形成されている。この受け皿２４は回動軸２０の
回動で位置Ａから位置Ｂ間を回動する。
【０００７】受け皿２４の上方にはセンタレス研削盤２
８が設けられている。センタレス研削盤２８は砥石３０
及び調整車３２を備え、この砥石３０及び調整車３２は
前工程から搬送されてきた小径のピン（以下ワークと称
す。）３４、３４…の外径を鏡面状に研削する。研削さ
れたワーク３４、３４…はセンタレス研削盤２８から落
下し、受け皿２４はワーク３４、３４…が落下する位置
Ａに配置されている。従って、位置Ａに配置されている
受け皿２４に研削されたワーク３４、３４…が落下し
て、受け皿２４にワーク３４、３４…が採集される。
８が設けられている。センタレス研削盤２８は砥石３０
及び調整車３２を備え、この砥石３０及び調整車３２は
前工程から搬送されてきた小径のピン（以下ワークと称
す。）３４、３４…の外径を鏡面状に研削する。研削さ
れたワーク３４、３４…はセンタレス研削盤２８から落
下し、受け皿２４はワーク３４、３４…が落下する位置
Ａに配置されている。従って、位置Ａに配置されている
受け皿２４に研削されたワーク３４、３４…が落下し
て、受け皿２４にワーク３４、３４…が採集される。
【０００８】また、受け皿２４が位置Ａから１８０°回
動した位置Ｂの下方には、分離部材３６が設けられてい
る。分離部材３６は逆円錐形に形成された漏斗３６Ａを
備え、漏斗３６Ａの下部には下方向に延長しているチュ
ーブ３６Ｂが連結されている。チューブ３６Ｂの内径は
ワーク３４の外径より僅かに大きく形成されている。従
って、位置Ｂに配置された受け皿２４がアーム２２の軸
を中心に回動すると、受け皿２４内に採集されているワ
ーク３４、３４…が分離部材３６の漏斗３６Ａ内に落下
する。落下したワーク３４、３４…は一個づつチューブ
３６Ｂ内に供給されてチューブ３６Ｂの下端から落下す
る。
動した位置Ｂの下方には、分離部材３６が設けられてい
る。分離部材３６は逆円錐形に形成された漏斗３６Ａを
備え、漏斗３６Ａの下部には下方向に延長しているチュ
ーブ３６Ｂが連結されている。チューブ３６Ｂの内径は
ワーク３４の外径より僅かに大きく形成されている。従
って、位置Ｂに配置された受け皿２４がアーム２２の軸
を中心に回動すると、受け皿２４内に採集されているワ
ーク３４、３４…が分離部材３６の漏斗３６Ａ内に落下
する。落下したワーク３４、３４…は一個づつチューブ
３６Ｂ内に供給されてチューブ３６Ｂの下端から落下す
る。
【０００９】チューブ３６Ｂ内の下方にはチャック４
０、４２、４４が縦方向に配置されている。チャック４
０、４２、４４は同一部材で構成されているので、構成
についてはチャック４０で説明してチャック４２、４４
についての説明は省略する。チャック４０は対向して配
設された一対のチャック片で構成され、一対のチャック
片は開口位置と閉塞位置間を移動するように構成されて
いる。この一対のチャック片が開口位置にある時、チャ
ック４０の開口部はワーク３４の外径より大きくなるよ
うに設定されている。従って、チャック４０が開口位置
にある時落下しているワーク３４はチャック４０の開口
部を通過し、チャック４０が閉塞位置にある時落下して
いるワーク３４はチャックに当接して停止する。
０、４２、４４が縦方向に配置されている。チャック４
０、４２、４４は同一部材で構成されているので、構成
についてはチャック４０で説明してチャック４２、４４
についての説明は省略する。チャック４０は対向して配
設された一対のチャック片で構成され、一対のチャック
片は開口位置と閉塞位置間を移動するように構成されて
いる。この一対のチャック片が開口位置にある時、チャ
ック４０の開口部はワーク３４の外径より大きくなるよ
うに設定されている。従って、チャック４０が開口位置
にある時落下しているワーク３４はチャック４０の開口
部を通過し、チャック４０が閉塞位置にある時落下して
いるワーク３４はチャックに当接して停止する。
【００１０】そして、チャック４２がワーク３４を挟持
し、チャック４０、４４がワーク３４を停止または落下
する。チャック４２がワーク３４を挟持する場合、チャ
ック４０、４２をそれぞれ開口位置に保持すると共にチ
ャック４４を閉塞位置に保持する。これにより、案内部
３６Ｂの下端から落下したワーク３４はチャック４０、
４２を通過して、チャック４４に当接して停止する。ワ
ーク３４が停止するとチャック４２が閉塞位置の方向に
移動してワーク３４を挟持する。
し、チャック４０、４４がワーク３４を停止または落下
する。チャック４２がワーク３４を挟持する場合、チャ
ック４０、４２をそれぞれ開口位置に保持すると共にチ
ャック４４を閉塞位置に保持する。これにより、案内部
３６Ｂの下端から落下したワーク３４はチャック４０、
４２を通過して、チャック４４に当接して停止する。ワ
ーク３４が停止するとチャック４２が閉塞位置の方向に
移動してワーク３４を挟持する。
【００１１】また、チャック４２は移動手段（図示せ
ず）に設けられていて、これにより、チャック４２は後
述する測定手段１４までスライド移動する。測定手段１
４は図２に示すように投光部５０及び受光部５２を有
し、投光部５０と受光部５２とは支持板５４の両端部に
設けられている。そして、チャック４２が投光部５０、
受光部５２間の略中央の位置までスライド移動される。
従って、チャック４２に挟持されているワーク３４に投
光部５０から光が投光され、投光された光は受光部５２
に受光される。これにより、チャック４２に挟持された
ワーク３４の外径が測定される。
ず）に設けられていて、これにより、チャック４２は後
述する測定手段１４までスライド移動する。測定手段１
４は図２に示すように投光部５０及び受光部５２を有
し、投光部５０と受光部５２とは支持板５４の両端部に
設けられている。そして、チャック４２が投光部５０、
受光部５２間の略中央の位置までスライド移動される。
従って、チャック４２に挟持されているワーク３４に投
光部５０から光が投光され、投光された光は受光部５２
に受光される。これにより、チャック４２に挟持された
ワーク３４の外径が測定される。
【００１２】尚、図１上で６０は研削液を貯留する容器
であり、６２は研削されたワーク３４、３４…を受ける
網状の受け籠である。このように構成された本願発明に
係る自動抜取り検査装置の作用について説明する。先
ず、センタレス研削盤２８の砥石３０及び調整車３２で
前工程から搬送されてきたワーク３４、３４…の外径を
鏡面状に研削し、研削されたワーク３４、３４…はセン
タレス研削盤２８から網状の受け籠６２内に落下する。
この場合、網状の受け籠６２でワーク３４、３４…に付
着されている研削液をワーク３４から分離する。そし
て、分離された研削液は容器６０に貯留される。
であり、６２は研削されたワーク３４、３４…を受ける
網状の受け籠である。このように構成された本願発明に
係る自動抜取り検査装置の作用について説明する。先
ず、センタレス研削盤２８の砥石３０及び調整車３２で
前工程から搬送されてきたワーク３４、３４…の外径を
鏡面状に研削し、研削されたワーク３４、３４…はセン
タレス研削盤２８から網状の受け籠６２内に落下する。
この場合、網状の受け籠６２でワーク３４、３４…に付
着されている研削液をワーク３４から分離する。そし
て、分離された研削液は容器６０に貯留される。
【００１３】この状態で回動軸２０を回動して受け皿２
４を位置Ａ（すなわち、砥石３０及び調整車３２で研削
されたワーク３４、３４…が落下する位置）まで回動し
て受け皿２４でセンタレス研削盤２８から落下するワー
ク３４、３４…を採集する。採集完了後、回動軸２０を
１８０°回動して受け皿２４を位置Ｂまで回動し、位置
Ｂに配置された受け皿２４をアーム２２の軸を中心に回
動する。これにより、受け皿２４内に採集されたワーク
３４、３４…が分離部材３６の漏斗３６Ａ内に落下す
る。
４を位置Ａ（すなわち、砥石３０及び調整車３２で研削
されたワーク３４、３４…が落下する位置）まで回動し
て受け皿２４でセンタレス研削盤２８から落下するワー
ク３４、３４…を採集する。採集完了後、回動軸２０を
１８０°回動して受け皿２４を位置Ｂまで回動し、位置
Ｂに配置された受け皿２４をアーム２２の軸を中心に回
動する。これにより、受け皿２４内に採集されたワーク
３４、３４…が分離部材３６の漏斗３６Ａ内に落下す
る。
【００１４】落下したワーク３４、３４…は一個づつ案
内部３６Ｂ内に供給されてチューブ３６Ｂの下端から落
下する。この場合、チャック４０、４２をそれぞれ開口
位置に保持すると共にチャック４４を閉塞位置に保持す
ると、チューブ３６Ｂの下端から落下したワーク３４は
チャック４０、４２を通過して、チャック４４に当接し
て停止する。そして、ワーク３４が停止した後、チャッ
ク４２を閉塞位置の方向に移動してワーク３４を挟持す
る。
内部３６Ｂ内に供給されてチューブ３６Ｂの下端から落
下する。この場合、チャック４０、４２をそれぞれ開口
位置に保持すると共にチャック４４を閉塞位置に保持す
ると、チューブ３６Ｂの下端から落下したワーク３４は
チャック４０、４２を通過して、チャック４４に当接し
て停止する。そして、ワーク３４が停止した後、チャッ
ク４２を閉塞位置の方向に移動してワーク３４を挟持す
る。
【００１５】次いで、移動手段（図示せず）でチャック
４２を投光部５０、受光部５２間の略中央の位置までス
ライド移動する。従って、チャック４２に挟持されてい
るワーク３４に投光部５０から光が投光され、投光され
た光は受光部５２に受光される。これにより、ワーク３
４の外径が測定される。測定完了後、チャック４２を開
口してワーク３４を下方に落下する。
４２を投光部５０、受光部５２間の略中央の位置までス
ライド移動する。従って、チャック４２に挟持されてい
るワーク３４に投光部５０から光が投光され、投光され
た光は受光部５２に受光される。これにより、ワーク３
４の外径が測定される。測定完了後、チャック４２を開
口してワーク３４を下方に落下する。
【００１６】続いて、移動手段（図示せず）を作動して
チャック４２をチャック４０、４４間にリターンして、
前述した工程を順次切り返して新たなワーク３４の外径
を測定する。このようにして測定されたワーク３４の外
径寸法に基づいてワーク３４の外径寸法が設定された許
容範囲内に入るようにセンタレス研削盤２８の切込み量
を調整する。
チャック４２をチャック４０、４４間にリターンして、
前述した工程を順次切り返して新たなワーク３４の外径
を測定する。このようにして測定されたワーク３４の外
径寸法に基づいてワーク３４の外径寸法が設定された許
容範囲内に入るようにセンタレス研削盤２８の切込み量
を調整する。
【００１７】前記実施例では非接触式の光学測定手段１
４でワーク３４の外径を測定したが、これに限らず、接
触式等の他の測定手段を使用してもよい。
４でワーク３４の外径を測定したが、これに限らず、接
触式等の他の測定手段を使用してもよい。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る自動抜
取り検査方法及びその装置によれば、センタレス研削盤
で研削された被研削部材を自動的に抜き取り、抜き取っ
た被研削部材の外径寸法を自動的に測定することができ
る。従って、作業者が被研削部材の抜き取りや、被研削
部材の外径を測定する必要がないので、人件費がかから
なくなりコスト低減を図ることができる。また、測定ミ
スがなくなり被研削部材の外径寸法を許容範囲内に確実
に入れることができる。
取り検査方法及びその装置によれば、センタレス研削盤
で研削された被研削部材を自動的に抜き取り、抜き取っ
た被研削部材の外径寸法を自動的に測定することができ
る。従って、作業者が被研削部材の抜き取りや、被研削
部材の外径を測定する必要がないので、人件費がかから
なくなりコスト低減を図ることができる。また、測定ミ
スがなくなり被研削部材の外径寸法を許容範囲内に確実
に入れることができる。
【図１】本発明に係る自動抜取り検査方法の全体概略図
【図２】本発明に係る自動抜取り検査方法に使用されて
いるの測定手段の概略図（すなわち、図１のＡ−Ａ矢視
図）
いるの測定手段の概略図（すなわち、図１のＡ−Ａ矢視
図）
１０…自動抜取り検査装置 １２…抜取り手段 １４…測定手段 ２４…受け皿 ２８…センタレス研削盤 ３６…分離部材 ３６Ａ…漏斗 ３６Ｂ…チューブ ４０、４２、４４…チャック ３４…ワーク ６２…受け籠
Claims (2)
- 【請求項１】 センタレス研削盤で被研削部材の外径を
連続的に研削すると共に研削した被研削部材を連続的に
収容網に落下させて、該収容網で被研削部材と研削油と
を分離するセンタレス研削盤において、 前記落下途中の複数の被研削部材から所定量の被研削部
材を採集し、 該採集された所定量の被研削部材を漏斗を介して一個づ
つチューブ内に落下し、 該チューブの端部から一個づつ落下する被研削部材を抜
き取り、 該抜き取られた被研削部材の外径寸法を測定することを
特徴とする自動抜取り検査方法。 - 【請求項２】 センタレス研削盤で被研削部材の外径を
連続的に研削すると共に研削した被研削部材を連続的に
収容網に落下させて、該収容網で被研削部材と研削油と
を分離するセンタレス研削盤において、 前記落下途中の複数の被研削部材から所定量の被研削部
材を採集すると共に該採集した所定量の被研削部材を所
定位置まで移動して前記一部の被研削部材を漏斗を介し
て一個づつチューブ内に落下し、該チューブの端部から
一個づつ落下する被研削部材を抜き取る抜取り手段と、 前記抜き取られた被研削部材の外径寸法を測定する測定
手段と、 を備えたことを特徴とする自動抜取り検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24799491A JP2614957B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 自動抜取り検査方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24799491A JP2614957B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 自動抜取り検査方法及びその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0584661A true JPH0584661A (ja) | 1993-04-06 |
| JP2614957B2 JP2614957B2 (ja) | 1997-05-28 |
Family
ID=17171614
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24799491A Expired - Fee Related JP2614957B2 (ja) | 1991-09-26 | 1991-09-26 | 自動抜取り検査方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2614957B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160018783A (ko) | 2013-10-08 | 2016-02-17 | 야마하하쓰도키 가부시키가이샤 | 기판 반송 장치 |
-
1991
- 1991-09-26 JP JP24799491A patent/JP2614957B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20160018783A (ko) | 2013-10-08 | 2016-02-17 | 야마하하쓰도키 가부시키가이샤 | 기판 반송 장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2614957B2 (ja) | 1997-05-28 |
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