JPH0584661A - 自動抜取り検査方法及びその装置 - Google Patents

自動抜取り検査方法及びその装置

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JPH0584661A
JPH0584661A JP24799491A JP24799491A JPH0584661A JP H0584661 A JPH0584661 A JP H0584661A JP 24799491 A JP24799491 A JP 24799491A JP 24799491 A JP24799491 A JP 24799491A JP H0584661 A JPH0584661 A JP H0584661A
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JP24799491A
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Yuji Suzuki
祐司 鈴木
Etsuo Uchida
悦雄 内田
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Tokyo Seimitsu Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ワークの抜き取り、及び抜き取ったワークの
外径寸法の測定を自動的に行い、人件費を削減してコス
ト低減を図り、また、測定ミスをなくしてワークの外径
寸法を許容範囲内に確実に入れる。 【構成】 ワーク34を自動的に抜き取る抜取り手段1
2と抜き取ったワーク34の外径寸法を自動的に測定す
る測定手段14とを備えた。抜取り手段12はセンタレ
ス研削盤28で研削されて受け籠62に落下する途中の
複数のワーク34から所定量のワーク34を採集すると
共に採集した所定量のワーク34を所定位置まで移動す
る。そして、抜取り手段12は所定位置まで移動した所
定量のワーク34を漏斗36Aを介して一個づつチュー
ブ36B内に落下し、チューブ36Bの端部から一個づ
つ落下するワーク34を自動的に抜き取る。更に、抜き
取られたワーク34の外径寸法は測定手段14で自動的
に測定される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は自動抜取り検査方法及
びその装置に係り、特にセンタレス研削盤で研削された
小径のピンを抜き取り、抜取ったピンの外径を測定する
自動抜取り検査方法及びその装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、センタレス研削盤で小径のピン外
径を研削する場合、研削されたピンの中から作業者が手
作業で適宜ピンを抜き取り、更に抜き取ったピンの外径
を作業者がマイクロメータで測定する。そして、研削さ
れたピンの外径寸法が設定された許容範囲内に入るよう
にマイクロメータの測定値に基づいてセンタレス研削盤
の切込み量を調整する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】センタレス研削盤のス
ループットの向上に伴い、従来の点数検査方式では測定
が追いつかないという問題がある。本発明はこのような
事情に鑑みてなされたもので、ピンの抜き取りや、ピン
の外径測定を自動的に行うことにより、測定ミスをなく
してピンの外径寸法を許容範囲内に確実に入れることが
できる自動抜取り検査方法及びその装置を提供すること
を目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成する為に、センタレス研削盤で被研削部材の外径を連
続的に研削すると共に研削した被研削部材を連続的に収
容網に落下させて、該収容網で被研削部材と研削油とを
分離するセンタレス研削盤において、前記落下途中の複
数の被研削部材から所定量の被研削部材を採集し、該採
集された所定量の被研削部材を漏斗を介して一個づつチ
ューブ内に落下し、該チューブの端部から一個づつ落下
する被研削部材を抜き取り、該抜き取られた被研削部材
の外径寸法を測定することを特徴とする。
【0005】
【作用】本発明によれば、被研削部材を自動的に抜き取
る抜取り手段と抜き取った被研削部材の外径寸法を自動
的に測定する測定手段とを備えた。抜取り手段はセンタ
レス研削盤で研削されて収容網に落下する途中の複数の
被研削部材から所定量の被研削部材を採集すると共に採
集した所定量の被研削部材を所定位置まで移動する。そ
して、抜取り手段は所定位置まで移動した所定量の被研
削部材を漏斗を介して一個づつチューブ内に落下し、チ
ューブの端部から一個づつ落下する被研削部材を自動的
に抜き取る。更に、抜き取った被研削部材の外径寸法は
測定手段で自動的に測定される。
【0006】
【実施例】以下添付図面に従って本発明に係る自動抜取
り検査方法及びその装置について詳説する。図1には本
発明に係る自動抜取り検査装置10の全体図が示されて
いる。自動抜取り検査装置10は抜取り手段12及び測
定手段14を備えていて、抜取り手段12のロータアク
チュエータ16は支柱18を有している。支柱18には
同軸上に回動軸20が回動自在に支持されていて、回動
軸20にはアーム22の一端部が設けられている。ま
た、アーム22の他端部には受け皿24がアーム22の
軸を中心に回動自在に支持されていて、受け皿24は網
部材で形成されている。この受け皿24は回動軸20の
回動で位置Aから位置B間を回動する。
【0007】受け皿24の上方にはセンタレス研削盤2
8が設けられている。センタレス研削盤28は砥石30
及び調整車32を備え、この砥石30及び調整車32は
前工程から搬送されてきた小径のピン(以下ワークと称
す。)34、34…の外径を鏡面状に研削する。研削さ
れたワーク34、34…はセンタレス研削盤28から落
下し、受け皿24はワーク34、34…が落下する位置
Aに配置されている。従って、位置Aに配置されている
受け皿24に研削されたワーク34、34…が落下し
て、受け皿24にワーク34、34…が採集される。
【0008】また、受け皿24が位置Aから180°回
動した位置Bの下方には、分離部材36が設けられてい
る。分離部材36は逆円錐形に形成された漏斗36Aを
備え、漏斗36Aの下部には下方向に延長しているチュ
ーブ36Bが連結されている。チューブ36Bの内径は
ワーク34の外径より僅かに大きく形成されている。従
って、位置Bに配置された受け皿24がアーム22の軸
を中心に回動すると、受け皿24内に採集されているワ
ーク34、34…が分離部材36の漏斗36A内に落下
する。落下したワーク34、34…は一個づつチューブ
36B内に供給されてチューブ36Bの下端から落下す
る。
【0009】チューブ36B内の下方にはチャック4
0、42、44が縦方向に配置されている。チャック4
0、42、44は同一部材で構成されているので、構成
についてはチャック40で説明してチャック42、44
についての説明は省略する。チャック40は対向して配
設された一対のチャック片で構成され、一対のチャック
片は開口位置と閉塞位置間を移動するように構成されて
いる。この一対のチャック片が開口位置にある時、チャ
ック40の開口部はワーク34の外径より大きくなるよ
うに設定されている。従って、チャック40が開口位置
にある時落下しているワーク34はチャック40の開口
部を通過し、チャック40が閉塞位置にある時落下して
いるワーク34はチャックに当接して停止する。
【0010】そして、チャック42がワーク34を挟持
し、チャック40、44がワーク34を停止または落下
する。チャック42がワーク34を挟持する場合、チャ
ック40、42をそれぞれ開口位置に保持すると共にチ
ャック44を閉塞位置に保持する。これにより、案内部
36Bの下端から落下したワーク34はチャック40、
42を通過して、チャック44に当接して停止する。ワ
ーク34が停止するとチャック42が閉塞位置の方向に
移動してワーク34を挟持する。
【0011】また、チャック42は移動手段(図示せ
ず)に設けられていて、これにより、チャック42は後
述する測定手段14までスライド移動する。測定手段1
4は図2に示すように投光部50及び受光部52を有
し、投光部50と受光部52とは支持板54の両端部に
設けられている。そして、チャック42が投光部50、
受光部52間の略中央の位置までスライド移動される。
従って、チャック42に挟持されているワーク34に投
光部50から光が投光され、投光された光は受光部52
に受光される。これにより、チャック42に挟持された
ワーク34の外径が測定される。
【0012】尚、図1上で60は研削液を貯留する容器
であり、62は研削されたワーク34、34…を受ける
網状の受け籠である。このように構成された本願発明に
係る自動抜取り検査装置の作用について説明する。先
ず、センタレス研削盤28の砥石30及び調整車32で
前工程から搬送されてきたワーク34、34…の外径を
鏡面状に研削し、研削されたワーク34、34…はセン
タレス研削盤28から網状の受け籠62内に落下する。
この場合、網状の受け籠62でワーク34、34…に付
着されている研削液をワーク34から分離する。そし
て、分離された研削液は容器60に貯留される。
【0013】この状態で回動軸20を回動して受け皿2
4を位置A(すなわち、砥石30及び調整車32で研削
されたワーク34、34…が落下する位置)まで回動し
て受け皿24でセンタレス研削盤28から落下するワー
ク34、34…を採集する。採集完了後、回動軸20を
180°回動して受け皿24を位置Bまで回動し、位置
Bに配置された受け皿24をアーム22の軸を中心に回
動する。これにより、受け皿24内に採集されたワーク
34、34…が分離部材36の漏斗36A内に落下す
る。
【0014】落下したワーク34、34…は一個づつ案
内部36B内に供給されてチューブ36Bの下端から落
下する。この場合、チャック40、42をそれぞれ開口
位置に保持すると共にチャック44を閉塞位置に保持す
ると、チューブ36Bの下端から落下したワーク34は
チャック40、42を通過して、チャック44に当接し
て停止する。そして、ワーク34が停止した後、チャッ
ク42を閉塞位置の方向に移動してワーク34を挟持す
る。
【0015】次いで、移動手段(図示せず)でチャック
42を投光部50、受光部52間の略中央の位置までス
ライド移動する。従って、チャック42に挟持されてい
るワーク34に投光部50から光が投光され、投光され
た光は受光部52に受光される。これにより、ワーク3
4の外径が測定される。測定完了後、チャック42を開
口してワーク34を下方に落下する。
【0016】続いて、移動手段(図示せず)を作動して
チャック42をチャック40、44間にリターンして、
前述した工程を順次切り返して新たなワーク34の外径
を測定する。このようにして測定されたワーク34の外
径寸法に基づいてワーク34の外径寸法が設定された許
容範囲内に入るようにセンタレス研削盤28の切込み量
を調整する。
【0017】前記実施例では非接触式の光学測定手段1
4でワーク34の外径を測定したが、これに限らず、接
触式等の他の測定手段を使用してもよい。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る自動抜
取り検査方法及びその装置によれば、センタレス研削盤
で研削された被研削部材を自動的に抜き取り、抜き取っ
た被研削部材の外径寸法を自動的に測定することができ
る。従って、作業者が被研削部材の抜き取りや、被研削
部材の外径を測定する必要がないので、人件費がかから
なくなりコスト低減を図ることができる。また、測定ミ
スがなくなり被研削部材の外径寸法を許容範囲内に確実
に入れることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る自動抜取り検査方法の全体概略図
【図2】本発明に係る自動抜取り検査方法に使用されて
いるの測定手段の概略図(すなわち、図1のA−A矢視
図)
【符号の説明】
10…自動抜取り検査装置 12…抜取り手段 14…測定手段 24…受け皿 28…センタレス研削盤 36…分離部材 36A…漏斗 36B…チューブ 40、42、44…チャック 34…ワーク 62…受け籠

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 センタレス研削盤で被研削部材の外径を
    連続的に研削すると共に研削した被研削部材を連続的に
    収容網に落下させて、該収容網で被研削部材と研削油と
    を分離するセンタレス研削盤において、 前記落下途中の複数の被研削部材から所定量の被研削部
    材を採集し、 該採集された所定量の被研削部材を漏斗を介して一個づ
    つチューブ内に落下し、 該チューブの端部から一個づつ落下する被研削部材を抜
    き取り、 該抜き取られた被研削部材の外径寸法を測定することを
    特徴とする自動抜取り検査方法。
  2. 【請求項2】 センタレス研削盤で被研削部材の外径を
    連続的に研削すると共に研削した被研削部材を連続的に
    収容網に落下させて、該収容網で被研削部材と研削油と
    を分離するセンタレス研削盤において、 前記落下途中の複数の被研削部材から所定量の被研削部
    材を採集すると共に該採集した所定量の被研削部材を所
    定位置まで移動して前記一部の被研削部材を漏斗を介し
    て一個づつチューブ内に落下し、該チューブの端部から
    一個づつ落下する被研削部材を抜き取る抜取り手段と、 前記抜き取られた被研削部材の外径寸法を測定する測定
    手段と、 を備えたことを特徴とする自動抜取り検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20160018783A (ko) 2013-10-08 2016-02-17 야마하하쓰도키 가부시키가이샤 기판 반송 장치

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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