JPH0584623B2 - - Google Patents
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- JPH0584623B2 JPH0584623B2 JP20039786A JP20039786A JPH0584623B2 JP H0584623 B2 JPH0584623 B2 JP H0584623B2 JP 20039786 A JP20039786 A JP 20039786A JP 20039786 A JP20039786 A JP 20039786A JP H0584623 B2 JPH0584623 B2 JP H0584623B2
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Landscapes
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば偏向ヨーク装置を構成するく
ら型偏向コイル（以下、「偏向コイル」という）
の巻線分布のバラツキを検査する偏向コイルの巻
線分布検査装置に関する。
ら型偏向コイル（以下、「偏向コイル」という）
の巻線分布のバラツキを検査する偏向コイルの巻
線分布検査装置に関する。
一般に、偏向ヨーク装置は偏向コイルに通電す
ることにより偏向磁界を発生し、所望の画面特性
を得るものであるから、偏向コイルの巻線分布が
磁界分布に影響することになり、巻線分布と画面
特性は密接な関連性がある。
ることにより偏向磁界を発生し、所望の画面特性
を得るものであるから、偏向コイルの巻線分布が
磁界分布に影響することになり、巻線分布と画面
特性は密接な関連性がある。
さて、偏向コイルを製造するには、粘着銅線を
巻線用金型によつてくら型状に巻回し、所定の電
流を流して粘着層を溶着することにより行なわれ
ている。この際、偏向コイルの巻線分布は巻線の
テンシヨン、電流の通電時間、巻線用金型の温度
によつて大きな影響を受ける。
巻線用金型によつてくら型状に巻回し、所定の電
流を流して粘着層を溶着することにより行なわれ
ている。この際、偏向コイルの巻線分布は巻線の
テンシヨン、電流の通電時間、巻線用金型の温度
によつて大きな影響を受ける。
このため、従来技術においては、巻線された偏
向コイルを、コア、必要とする補正コイル、磁性
片等と共にボビンに仮組付けし、この仮組付け品
を陰極線管に取付けて画像の状態から磁界分布を
検査する画像検査方式が採用されている。
向コイルを、コア、必要とする補正コイル、磁性
片等と共にボビンに仮組付けし、この仮組付け品
を陰極線管に取付けて画像の状態から磁界分布を
検査する画像検査方式が採用されている。
一方、画像検査方式と別に、偏向コイル単品で
の磁界分布を測定する磁界分布測定方式も知られ
ている。この方式は、偏向コイルを検査治具に取
付け、磁界３成分（直角座標系の場合、BX，BY，
BZ、円筒座標系の場合、Br，B〓，BZ）を、１本
または複数本のセンサ（プローブ）を用いて測定
するものである。
の磁界分布を測定する磁界分布測定方式も知られ
ている。この方式は、偏向コイルを検査治具に取
付け、磁界３成分（直角座標系の場合、BX，BY，
BZ、円筒座標系の場合、Br，B〓，BZ）を、１本
または複数本のセンサ（プローブ）を用いて測定
するものである。
しかし、前者の画像検査方式は、検査手順が面
倒であるばかりでなく、偏向コイル単品での評価
ができるず、さらに仮組付けられ画像評価までの
過程で誤差が入りやすく、要因分析がむずかしい
ばかりでなく、特殊な技能を要し、自動化が不可
能であるという問題点がある。
倒であるばかりでなく、偏向コイル単品での評価
ができるず、さらに仮組付けられ画像評価までの
過程で誤差が入りやすく、要因分析がむずかしい
ばかりでなく、特殊な技能を要し、自動化が不可
能であるという問題点がある。
また、後者の磁界分布測定方式は、偏向コイル
に対してセンサを平行移動させながら測定するも
ので、測定点がが多くなると、作業に時間を要し
て測定能率が非常に悪く、またセンサの走行機構
等に高い精度が要求され、かつセンサからの信号
処理が複雑になるという問題点がある。
に対してセンサを平行移動させながら測定するも
ので、測定点がが多くなると、作業に時間を要し
て測定能率が非常に悪く、またセンサの走行機構
等に高い精度が要求され、かつセンサからの信号
処理が複雑になるという問題点がある。
本発明はこのような各従来技術の問題点に鑑
み、本発明者が種々研究の結果、偏向コイル単品
のインダクタンスは、コイルの形状、即ち巻線分
布に依存して変化することに着目してなされたも
ので、安定性、、再現性、検査速度性等に優れた
偏向コイルの巻線分布検査装置を提供することを
目的とする。
み、本発明者が種々研究の結果、偏向コイル単品
のインダクタンスは、コイルの形状、即ち巻線分
布に依存して変化することに着目してなされたも
ので、安定性、、再現性、検査速度性等に優れた
偏向コイルの巻線分布検査装置を提供することを
目的とする。
上記問題点を解決するために、本発明は複数本
の巻線を巻回することにより形成された偏向コイ
ルの巻線分布を検査する偏向コイルの巻線分布検
査装置であつて、本発明が採用する構成の特徴
は、前記偏向コイルを形成する複数本の巻線の引
出線を直列に接続する巻線クランプと、該巻線ク
ランプに直列接続された偏向コイルの巻線両端の
インダクタンスを測定し、該インダクタンスが基
準値よりも高いか、低いかを判定するためのイン
ダクタンス測定器とを備えたことにある。
の巻線を巻回することにより形成された偏向コイ
ルの巻線分布を検査する偏向コイルの巻線分布検
査装置であつて、本発明が採用する構成の特徴
は、前記偏向コイルを形成する複数本の巻線の引
出線を直列に接続する巻線クランプと、該巻線ク
ランプに直列接続された偏向コイルの巻線両端の
インダクタンスを測定し、該インダクタンスが基
準値よりも高いか、低いかを判定するためのイン
ダクタンス測定器とを備えたことにある。
偏向コイルを形成する複数本の巻線の引出線を
巻線クランプによつて直列に接続し、当該巻線の
両端をインダクタンス測定器に接続することによ
り、該インダクタンス測定器では各引出線を並列
接続した場合より大きなインダクタンスを測定し
うる。そこで、インダクタンス測定器の測定結果
を基準インダクタンス値と比較し、巻線分布を検
査する。この際、測定値が基準値より高い場合に
は、陰極線管のスクリーン水平方向両側部の画面
特性XHはオーバぎみ（集中点火面がスクリーン
の外側）となり、逆に測定値が基準値より低い場
合には、画面特性XHはアンダぎみ（集中点火面
が画面の内側）となるから、撚合線等からなる偏
向コイル単品の検査を簡単に行なうことができ
る。
巻線クランプによつて直列に接続し、当該巻線の
両端をインダクタンス測定器に接続することによ
り、該インダクタンス測定器では各引出線を並列
接続した場合より大きなインダクタンスを測定し
うる。そこで、インダクタンス測定器の測定結果
を基準インダクタンス値と比較し、巻線分布を検
査する。この際、測定値が基準値より高い場合に
は、陰極線管のスクリーン水平方向両側部の画面
特性XHはオーバぎみ（集中点火面がスクリーン
の外側）となり、逆に測定値が基準値より低い場
合には、画面特性XHはアンダぎみ（集中点火面
が画面の内側）となるから、撚合線等からなる偏
向コイル単品の検査を簡単に行なうことができ
る。
以下、本発明の実施例を添付図面に基づき、詳
細に述べる。
細に述べる。
まず、第１図、第２図において、１は検査対象
となるくら型偏向コイルで、本実施例の場合該偏
向コイル１は３本の巻線を用いることにより、く
ら型状に巻回形成され、後端部側には他の回路と
接続すべく入出用の引出線部２Ａ，２Ｂからなる
引出線２が設けられている。３はコイル位置決め
用治具で、該治具３は基板３Ａと、該基板３Ａ上
に突設された押え板３Ｂと、位置決めピン３Ｃと
からなり、基板３Ａ上に載置した偏向コイル１は
押え板３Ｂ、位置決めピン３Ｃによつて図示のよ
うに固定される。なお、前記位置決め用治具３は
精密な位置決めをするものではなく、偏向コイル
１を載置できれ、いかなるものでもよい。
となるくら型偏向コイルで、本実施例の場合該偏
向コイル１は３本の巻線を用いることにより、く
ら型状に巻回形成され、後端部側には他の回路と
接続すべく入出用の引出線部２Ａ，２Ｂからなる
引出線２が設けられている。３はコイル位置決め
用治具で、該治具３は基板３Ａと、該基板３Ａ上
に突設された押え板３Ｂと、位置決めピン３Ｃと
からなり、基板３Ａ上に載置した偏向コイル１は
押え板３Ｂ、位置決めピン３Ｃによつて図示のよ
うに固定される。なお、前記位置決め用治具３は
精密な位置決めをするものではなく、偏向コイル
１を載置できれ、いかなるものでもよい。
４は巻線クランプを示し、該巻線クランプ４は
偏向コイル１の引出線２を第３図に示す如く直列
接続状態にクランプするものである。５は巻線ク
ランプ４の次段に設けられた結線チエツク回路
で、該チエツク回路５は引出線２が巻線クランプ
４に正しく直列接続されたかチエツクするもので
ある。
偏向コイル１の引出線２を第３図に示す如く直列
接続状態にクランプするものである。５は巻線ク
ランプ４の次段に設けられた結線チエツク回路
で、該チエツク回路５は引出線２が巻線クランプ
４に正しく直列接続されたかチエツクするもので
ある。
６は結線チエツク回路５に接続されたインダク
タンス測定器で、該測定器６によつて偏向コイル
１のインダクタンスを測定し、当該インダクタン
スが基準インダクタンス値（以下、「基準値」と
いう）より高いか低いかを、目視により、または
デジタル値等により判定しうるようになつてい
る。なお、インダクタンス測定器６としては通常
のLCRメータ等を用いることができる。
タンス測定器で、該測定器６によつて偏向コイル
１のインダクタンスを測定し、当該インダクタン
スが基準インダクタンス値（以下、「基準値」と
いう）より高いか低いかを、目視により、または
デジタル値等により判定しうるようになつてい
る。なお、インダクタンス測定器６としては通常
のLCRメータ等を用いることができる。
本実施例はこのように構成されるが、次のその
作動について述べる。
作動について述べる。
まず、測定対象物である偏向コイル１をコイル
位置決め用治具３に載置し、所定位置に位置決め
する。次に、偏向コイル１の引出線部２Ａ，２Ｂ
を巻線クランプ４に直列接続するようにクランプ
する。ここで、実施例の場合偏向コイル１は３本
の巻線を用いた３本巻きによつて巻回形成されて
いるものであるから、該偏向コイル１は３個のコ
イルL1，L2，L3から構成されているものとみな
すことができる。この結果、３個のコイルL1〜
LCを直列接続すれば、これらを並列接続した場
合に比較し、より大きなインダクタンスを得るこ
とができ、巻線分布を高感度に検出することがで
きる。
位置決め用治具３に載置し、所定位置に位置決め
する。次に、偏向コイル１の引出線部２Ａ，２Ｂ
を巻線クランプ４に直列接続するようにクランプ
する。ここで、実施例の場合偏向コイル１は３本
の巻線を用いた３本巻きによつて巻回形成されて
いるものであるから、該偏向コイル１は３個のコ
イルL1，L2，L3から構成されているものとみな
すことができる。この結果、３個のコイルL1〜
LCを直列接続すれば、これらを並列接続した場
合に比較し、より大きなインダクタンスを得るこ
とができ、巻線分布を高感度に検出することがで
きる。
さて、前述のように巻線クランプ４により、引
出線２のクランプが行なわれたら、結線チエツク
回路５によつて該引出線２が正しく直列接続され
ているか否かチエツクする。そして、このチエツ
クが終つたら、インダクタンス測定器６により偏
向コイル１のインダクタンスを測定し、このイン
ダクタンスが基準値より大きいか否かの判定を行
なう。
出線２のクランプが行なわれたら、結線チエツク
回路５によつて該引出線２が正しく直列接続され
ているか否かチエツクする。そして、このチエツ
クが終つたら、インダクタンス測定器６により偏
向コイル１のインダクタンスを測定し、このイン
ダクタンスが基準値より大きいか否かの判定を行
なう。
然るに、本発明者が実験により、また理論的に
研究したところ、偏向コイル単品のインダクタン
スは、巻線分布に依存して変化し、測定値が基準
値より高い場合には、第４図に示す如く、陰極線
管のスクリーン７における水平方向両側部画面特
性XHは、電子ビームＢ，Ｇ，Ｒの集中点火面８
が該スクリーン７の外側にくる、いわゆる画面特
性がオーバぎみとなり、一方、測定値が基準値よ
り低い場合には、第５図に示す如く、陰極線管の
スクリーン７の画面特性XHは、集中点火面８が
該スクリーン７の内側にくる、いわゆる画面特性
がアンダぎみとなることを確認した。
研究したところ、偏向コイル単品のインダクタン
スは、巻線分布に依存して変化し、測定値が基準
値より高い場合には、第４図に示す如く、陰極線
管のスクリーン７における水平方向両側部画面特
性XHは、電子ビームＢ，Ｇ，Ｒの集中点火面８
が該スクリーン７の外側にくる、いわゆる画面特
性がオーバぎみとなり、一方、測定値が基準値よ
り低い場合には、第５図に示す如く、陰極線管の
スクリーン７の画面特性XHは、集中点火面８が
該スクリーン７の内側にくる、いわゆる画面特性
がアンダぎみとなることを確認した。
かくして、インダクタンス測定器６によるイン
ダクタンスの測定値を基準値と比較することによ
り、偏向コイル１単体での巻線分布を迅速に検査
することができ、直ちに巻線工程へのフイードバ
ツクが可能となり、製品の歩留りを高めることが
できる。しかも、この検査方式は安定性、再現性
に優れたものであるから、検査の自動化を容易に
行なうことができる。
ダクタンスの測定値を基準値と比較することによ
り、偏向コイル１単体での巻線分布を迅速に検査
することができ、直ちに巻線工程へのフイードバ
ツクが可能となり、製品の歩留りを高めることが
できる。しかも、この検査方式は安定性、再現性
に優れたものであるから、検査の自動化を容易に
行なうことができる。
なお、実施例では偏向コイル１は３本の巻線に
よつて巻回成形されるものとして述べたが、２本
以上の任意の本数によつて巻回されたものを含む
ものである。
よつて巻回成形されるものとして述べたが、２本
以上の任意の本数によつて巻回されたものを含む
ものである。
〔発明の効果〕
本発明に係る偏向コイルの巻線分布検査装置は
以上詳細に述べた如くであつて、巻線クランプに
よつて複数本の引出線を直列に接続してなる偏向
コイルのインダクタンスをインダクタンス測定器
で測定し、よりり大きな値として測定されたイン
ダクタンス値の大小によつて偏向コイル単品との
巻線分布を検査することができるから、測定され
たインダクタンスを巻線分布検査の代用特性とし
て活用することによつて、偏向コイルの単品検査
を迅速で簡単に行なうことができると共に、巻線
工程での作業管理を的確に行なうことによつて、
製品の歩留まりを高め、しかも安定性、再現性に
優れているから、検査装置の自動化を可能とする
等の効果を奏する。
以上詳細に述べた如くであつて、巻線クランプに
よつて複数本の引出線を直列に接続してなる偏向
コイルのインダクタンスをインダクタンス測定器
で測定し、よりり大きな値として測定されたイン
ダクタンス値の大小によつて偏向コイル単品との
巻線分布を検査することができるから、測定され
たインダクタンスを巻線分布検査の代用特性とし
て活用することによつて、偏向コイルの単品検査
を迅速で簡単に行なうことができると共に、巻線
工程での作業管理を的確に行なうことによつて、
製品の歩留まりを高め、しかも安定性、再現性に
優れているから、検査装置の自動化を可能とする
等の効果を奏する。
第１図は本実施例による巻線分布検査装置の全
体構成図、第２図は第１図中の位置決め用治具の
側面図、第３図は偏向コイルを３本の巻線によつ
て巻回した場合の巻線の結線図、第４図は画面特
性がオーバぎみの場合を示す説明図、第５図は同
じく画面特性がアンダぎみの場合を示す説明図で
ある。 １…偏向コイル、２…引出線、３…コイル位置
決め用治具、４…巻線クランプ、５…結線チエツ
ク回路、６…インダクタンス測定器。
体構成図、第２図は第１図中の位置決め用治具の
側面図、第３図は偏向コイルを３本の巻線によつ
て巻回した場合の巻線の結線図、第４図は画面特
性がオーバぎみの場合を示す説明図、第５図は同
じく画面特性がアンダぎみの場合を示す説明図で
ある。 １…偏向コイル、２…引出線、３…コイル位置
決め用治具、４…巻線クランプ、５…結線チエツ
ク回路、６…インダクタンス測定器。
Claims (1)
- １ 複数本の巻線を巻回することにより形成され
た偏向コイルの巻線分布を検査する偏向コイルの
巻線分布検査装置において、前記偏向コイルを形
成する複数本の巻線の引出線を直列に接続する巻
線クランプと、該巻線クランプに直列接続された
偏向コイルの巻線両端のインダクタンスを測定
し、該インダクタンスが基準値よりも高いか、低
いかを判定するためのインダクタンス測定器とか
ら構成したことを特徴とする偏向コイルの巻線分
布検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20039786A JPS6355833A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 偏向コイルの巻線分布検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20039786A JPS6355833A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 偏向コイルの巻線分布検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6355833A JPS6355833A (ja) | 1988-03-10 |
| JPH0584623B2 true JPH0584623B2 (ja) | 1993-12-02 |
Family
ID=16423641
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20039786A Granted JPS6355833A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 偏向コイルの巻線分布検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6355833A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100401103B1 (ko) * | 2001-05-04 | 2003-10-10 | 삼성전기주식회사 | 편향 요크의 자계 측정용 지그 및 자계 측정 장치 |
| KR100439510B1 (ko) * | 2002-07-03 | 2004-07-12 | 삼성전기주식회사 | 편향 요크의 자계 측정 시스템에서의 센서 고정 구조 |
-
1986
- 1986-08-27 JP JP20039786A patent/JPS6355833A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6355833A (ja) | 1988-03-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |