JPS6355833A - 偏向コイルの巻線分布検査装置 - Google Patents
偏向コイルの巻線分布検査装置Info
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- JPS6355833A JPS6355833A JP20039786A JP20039786A JPS6355833A JP S6355833 A JPS6355833 A JP S6355833A JP 20039786 A JP20039786 A JP 20039786A JP 20039786 A JP20039786 A JP 20039786A JP S6355833 A JPS6355833 A JP S6355833A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
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Landscapes
- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば偏向ヨーク装置を構成するくら型偏向
コイル（以下、「偏向コイル」という）の巻線分布のバ
ラツキを検査する偏向コイルの巻線分布検査装置に関す
る。
コイル（以下、「偏向コイル」という）の巻線分布のバ
ラツキを検査する偏向コイルの巻線分布検査装置に関す
る。
一般に、偏向ヨーク装置は偏向コイルに通電することに
より偏向磁界を発生し、所望の画面特性を得るものであ
るから、偏向コイルの巻線分布が磁界分布に影響するこ
とになり、巻線分布と画面特性は密接な関連性がある。
より偏向磁界を発生し、所望の画面特性を得るものであ
るから、偏向コイルの巻線分布が磁界分布に影響するこ
とになり、巻線分布と画面特性は密接な関連性がある。
さて、偏向コイルを製造するには、粘着銅線を巻線用金
型によってくら型状に巻回し、所定の電流を流して粘着
層を溶着することにより行なわれている。この際、偏向
コイルの巻線分布は巻線のテンション、電流の通電時間
、巻線用金型の温度によって大きな影響を受ける。
型によってくら型状に巻回し、所定の電流を流して粘着
層を溶着することにより行なわれている。この際、偏向
コイルの巻線分布は巻線のテンション、電流の通電時間
、巻線用金型の温度によって大きな影響を受ける。
このため、従来技術においては、巻線された偏向コイル
を、コア、必要とする補正コイル、磁性片等と共にボビ
ンに仮組付けし、この仮組付は品を陰極線管に取付けて
画像の状態から磁界分布を検査する画像検査方式が採用
されている。
を、コア、必要とする補正コイル、磁性片等と共にボビ
ンに仮組付けし、この仮組付は品を陰極線管に取付けて
画像の状態から磁界分布を検査する画像検査方式が採用
されている。
一方１画像検査方式と別に、偏向コイル単品での磁界分
布を測定する磁界分布測定方式も知られている。この方
式は、偏向コイルを検査治具に取付け、磁界３成分（直
角座標系の場合、ＢＸ 。
布を測定する磁界分布測定方式も知られている。この方
式は、偏向コイルを検査治具に取付け、磁界３成分（直
角座標系の場合、ＢＸ 。
ＢＹ ＋ Ｂｌ 、円筒座標系の場合、Ｂｒ 、
Ｅ＃ 。
Ｅ＃ 。
Ｂ２）を、１本または複数本のセンサ（プローブ）を用
いて測定するものである。
いて測定するものである。
しかし、前者の画像検査方式は、検査手順が面倒である
ばかりでなく、偏向コイル単品での評価ができず、さら
に仮組付けから画像評価までの過程で誤差が入りやすく
、要因分析がむずかしいばかりでなく、特殊な技能を要
し、自動化が不可能であるという問題点がある。
ばかりでなく、偏向コイル単品での評価ができず、さら
に仮組付けから画像評価までの過程で誤差が入りやすく
、要因分析がむずかしいばかりでなく、特殊な技能を要
し、自動化が不可能であるという問題点がある。
また、後者の磁界分布測定方式は、偏向コイルに対して
センサを平行移動させながら測定するもので、測定点が
多くなると、作業に時間を要して測定能率が非常に悪く
、またセンサの走行機構等に高い精度が要求され、かつ
センサからの信号処理が複雑になるという問題点がある
。
センサを平行移動させながら測定するもので、測定点が
多くなると、作業に時間を要して測定能率が非常に悪く
、またセンサの走行機構等に高い精度が要求され、かつ
センサからの信号処理が複雑になるという問題点がある
。
本発明はこのような各従来技術の問題点に鑑み、本発明
者が種々研究の結果、偏向コイル単品のインダクタンス
は、コイルの形状、即ち巻線分布に依存して変化するこ
とに着目してなされたもので、安定性、再現性、検査速
度性等に優れた偏向コイルの巻線分布検査装置を提供す
ることを目的とする。
者が種々研究の結果、偏向コイル単品のインダクタンス
は、コイルの形状、即ち巻線分布に依存して変化するこ
とに着目してなされたもので、安定性、再現性、検査速
度性等に優れた偏向コイルの巻線分布検査装置を提供す
ることを目的とする。
上記問題点を解決するために、本発明は、１本または複
数本の巻線を巻回することにより形成された偏向コイル
の巻線分布を検査する偏向コイルの巻線分布検査装置に
おいて、前記偏向コイルの巻線両端のインダクタンスを
測定し、該インダクタンスが基準値よりも高いか、低い
かを判定するインダクタンス計測手段を備えたことを特
徴とするものである。
数本の巻線を巻回することにより形成された偏向コイル
の巻線分布を検査する偏向コイルの巻線分布検査装置に
おいて、前記偏向コイルの巻線両端のインダクタンスを
測定し、該インダクタンスが基準値よりも高いか、低い
かを判定するインダクタンス計測手段を備えたことを特
徴とするものである。
偏向コイルの巻線両端をインダクタンス測定手段に接続
し、該偏向コイルのインダクタンスを測定し、この測定
結果を基準インダクタンス値と比較し、巻線分布を検査
する。この際、測定値が基準値より高い場合には、陰極
線管のスクリーン水平方向両側部の画面特性ｘＨはオー
バぎみ（集中点火面がスクリーンの外側）となり、逆に
測定値が基準値より低い場合には、画面特性ＸＨはアン
プぎみ（集中点火面が画面の内側）となる。かくして、
本発明によれば、回路定数のインダクタンスを求めるの
ではなく、当該インダクタンスを巻線分布検査の代用特
性として活用でき、偏向コイルの単品検査を簡単に行な
うことができる。
し、該偏向コイルのインダクタンスを測定し、この測定
結果を基準インダクタンス値と比較し、巻線分布を検査
する。この際、測定値が基準値より高い場合には、陰極
線管のスクリーン水平方向両側部の画面特性ｘＨはオー
バぎみ（集中点火面がスクリーンの外側）となり、逆に
測定値が基準値より低い場合には、画面特性ＸＨはアン
プぎみ（集中点火面が画面の内側）となる。かくして、
本発明によれば、回路定数のインダクタンスを求めるの
ではなく、当該インダクタンスを巻線分布検査の代用特
性として活用でき、偏向コイルの単品検査を簡単に行な
うことができる。
以下、本発明の実施例を添付図面に基づき、詳細に述べ
る。
る。
まず、第１図、第２図において、１は検査対象となるく
ら型偏向コイルで、本実施例の場合類偏向コイル１は３
本の巻線を用いることにより、〈ら型状に巻回形成され
、後端部側には他の回路と接続すべく人出用の引出線部
２Ａ 、２Ｂからなる引出線２が設けられている。３は
コイル位置決め用治具で、該治具３は基板３Ａと、該基
板３Ａ上に突設された押え板３Ｂと、位置決めピン３Ｃ
とからなり、基板３Ａ上に載置した偏向コイル１は押え
板３Ｂ、位置決めピン３Ｃによって図示のように固定さ
れる。なお、前記位置決め用治具３は精密な位置決めを
するものではなく、偏向コイルｌを載置できれば、いか
なるものでもよい。
ら型偏向コイルで、本実施例の場合類偏向コイル１は３
本の巻線を用いることにより、〈ら型状に巻回形成され
、後端部側には他の回路と接続すべく人出用の引出線部
２Ａ 、２Ｂからなる引出線２が設けられている。３は
コイル位置決め用治具で、該治具３は基板３Ａと、該基
板３Ａ上に突設された押え板３Ｂと、位置決めピン３Ｃ
とからなり、基板３Ａ上に載置した偏向コイル１は押え
板３Ｂ、位置決めピン３Ｃによって図示のように固定さ
れる。なお、前記位置決め用治具３は精密な位置決めを
するものではなく、偏向コイルｌを載置できれば、いか
なるものでもよい。
４は巻線クランプを示し、該巻線クランプ４は偏向コイ
ル１の引出線２を第３図に示す如く直列接続状態にクラ
ンプするものである。５は巻線クランプ４の次段に設け
られた結線チェック回路で、該チェック回路５は引出線
２が巻線クランプ４に正しく直列接続されたかチェック
するものである。
ル１の引出線２を第３図に示す如く直列接続状態にクラ
ンプするものである。５は巻線クランプ４の次段に設け
られた結線チェック回路で、該チェック回路５は引出線
２が巻線クランプ４に正しく直列接続されたかチェック
するものである。
６は結線チェック回路５に接続されたインダクタンス測
定器で、該測定器６によって偏向コイル１のインダクタ
ンスを測定し、当該インダクタンスが基準インダクタン
ス値（以下、「基準値」という）より高いか低いかを、
目視により、またはデジタル値等により判定しうるよう
になってぃる、なお、インダクタンス測定器６としては
通常のＬＣＲメータ等を用いることができる。
定器で、該測定器６によって偏向コイル１のインダクタ
ンスを測定し、当該インダクタンスが基準インダクタン
ス値（以下、「基準値」という）より高いか低いかを、
目視により、またはデジタル値等により判定しうるよう
になってぃる、なお、インダクタンス測定器６としては
通常のＬＣＲメータ等を用いることができる。
本実施例はこのように構成されるが、次にその作動につ
いて述べる。
いて述べる。
まず、測定対象物である偏向コイルｌをコイル位置決め
用治具３に載置し、所定位置に位置決めする０次に、偏
向コイルｌの引出線部２Ａ、２Ｂを巻線クランプ４に直
列接続するようにクランプする。ここで、実施例の場合
偏向コイル１は３本の巻線を用いた３本巻きによって巻
回形成されているものであるから、該偏向コイルｌは３
個のコイルＬＩ ＊ Ｌ２ ｒ Ｌ３から構成されて
いるものとみなすことができる。この結果、３個のコイ
ルＬｌ−Ｌ３ を直列接続すれば、これらを並列接続し
た場合に比較し、より大きなインダクタンスを得ること
ができ、巻線分布を高感度に検出することができる。
用治具３に載置し、所定位置に位置決めする０次に、偏
向コイルｌの引出線部２Ａ、２Ｂを巻線クランプ４に直
列接続するようにクランプする。ここで、実施例の場合
偏向コイル１は３本の巻線を用いた３本巻きによって巻
回形成されているものであるから、該偏向コイルｌは３
個のコイルＬＩ ＊ Ｌ２ ｒ Ｌ３から構成されて
いるものとみなすことができる。この結果、３個のコイ
ルＬｌ−Ｌ３ を直列接続すれば、これらを並列接続し
た場合に比較し、より大きなインダクタンスを得ること
ができ、巻線分布を高感度に検出することができる。
さて、前述のように巻線クランプ４により、引出線２の
クランプが行なわれたら、結線チ；ツク回路５によって
該引出線２が正しく直列接続されているか否かチェック
する。そして、このチェックが終ったら、インダクタン
ス測定器６により偏向コイルｌのインダクタンスを測定
し、このインダクタンスが基準値より大きいか否かの判
定を行なう。
クランプが行なわれたら、結線チ；ツク回路５によって
該引出線２が正しく直列接続されているか否かチェック
する。そして、このチェックが終ったら、インダクタン
ス測定器６により偏向コイルｌのインダクタンスを測定
し、このインダクタンスが基準値より大きいか否かの判
定を行なう。
然るに、本発明者が実験により、また理論的に研究した
ところ、偏向コイル単品のインダクタンスは、巻線分布
に依存して変化し、測定値が基準値より高い場合には、
第４図に示す如く、陰極線管のスクリーン７における水
平方向両測部画面特性ＸＨは、電子ビームＢ、Ｇ、Ｈの
集中点火面８が該スクリーン７の外側にくる、いわゆる
画面特性がオーバぎみとなり、一方、測定値が基準値よ
り低い場合には、第５図に示す如く、陰極線管のスクリ
ーン７の画面特性Ｘｓは、集中点火面８が該スクリーン
７の内側にくる、いわゆる画面特性がアンプぎみとなる
ことを確認した。
ところ、偏向コイル単品のインダクタンスは、巻線分布
に依存して変化し、測定値が基準値より高い場合には、
第４図に示す如く、陰極線管のスクリーン７における水
平方向両測部画面特性ＸＨは、電子ビームＢ、Ｇ、Ｈの
集中点火面８が該スクリーン７の外側にくる、いわゆる
画面特性がオーバぎみとなり、一方、測定値が基準値よ
り低い場合には、第５図に示す如く、陰極線管のスクリ
ーン７の画面特性Ｘｓは、集中点火面８が該スクリーン
７の内側にくる、いわゆる画面特性がアンプぎみとなる
ことを確認した。
かくして、インダクタンス測定器６によるインダクタン
スの測定値を基準値と比較することにより、偏向コイル
ｌ単体での巻線分布を迅速に検査することができ、直ち
に巻線工程へのフィードバックが可能となり、製品の歩
留りを高めることができる。しかも、この検査方式は安
定性、再現性に優れたものであるから、検査の自動化を
容易に行なうことができる。
スの測定値を基準値と比較することにより、偏向コイル
ｌ単体での巻線分布を迅速に検査することができ、直ち
に巻線工程へのフィードバックが可能となり、製品の歩
留りを高めることができる。しかも、この検査方式は安
定性、再現性に優れたものであるから、検査の自動化を
容易に行なうことができる。
なお、実施例では偏向コイル１は３本の巻線によって巻
回成形されるものとして述べたが、１本または任意の本
数によって巻回されたものを含むものである。
回成形されるものとして述べたが、１本または任意の本
数によって巻回されたものを含むものである。
本発明に係る偏向コイルの巻線分布検査装置は以上詳細
に述べた如くであって、インダクタンス測定手段によっ
て測定されたインダクタンス値の大小によって、偏向コ
イル単品の巻線分布を迅速に検査することができるから
、巻線工程での作業管理を的確に行なうことができ、製
品の歩留りを高め、しかも安定性、再現性に優れている
から検査装置の自動化を可能とする等の効果を奏する。
に述べた如くであって、インダクタンス測定手段によっ
て測定されたインダクタンス値の大小によって、偏向コ
イル単品の巻線分布を迅速に検査することができるから
、巻線工程での作業管理を的確に行なうことができ、製
品の歩留りを高め、しかも安定性、再現性に優れている
から検査装置の自動化を可能とする等の効果を奏する。
第１図は本実施例による巻線分布検査装置の全体構成図
、第２図は第１図中の位置決め用治具の側面図、第３図
は偏向コイルを３本の巻線によって巻回した場合の巻線
の結線図、第４図は画面特性がオーバぎみの場合を示す
説明図、第５図は同じく画面特性がアンプぎみの場合を
示す説明図である。 ｌ・・・偏向コイル、２・・・引出線、３・・・コイル
位置決め用治具、４・・・巻線クランプ、５・・・結線
チェック回路、６・・・インダクタンス測定器。 特許出願人 株式会社村田製作所 代理人 弁理士 広 瀬 和 彦同
中 村 直 樹第１図 第３図 第４図 第５図
、第２図は第１図中の位置決め用治具の側面図、第３図
は偏向コイルを３本の巻線によって巻回した場合の巻線
の結線図、第４図は画面特性がオーバぎみの場合を示す
説明図、第５図は同じく画面特性がアンプぎみの場合を
示す説明図である。 ｌ・・・偏向コイル、２・・・引出線、３・・・コイル
位置決め用治具、４・・・巻線クランプ、５・・・結線
チェック回路、６・・・インダクタンス測定器。 特許出願人 株式会社村田製作所 代理人 弁理士 広 瀬 和 彦同
中 村 直 樹第１図 第３図 第４図 第５図
Claims (2)
- （１）１本または複数本の巻線を巻回することにより形
成された偏向コイルの巻線分布を検査する偏向コイルの
巻線分布検査装置において、前記偏向コイルの巻線両端
のインダクタンスを測定し、該インダクタンスが基準値
よりも高いか、低いかを判定するインダクタンス計測手
段を備えたことを特徴とする偏向コイルの巻線分布検査
装置。 - （２）前記偏向コイルが複数本の巻線により形成されて
いる場合において、当該複数本の巻線の引出線を直列接
続し、この両端を前記インダクタンス計測手段に接続す
るようにしてなる特許請求の範囲（１）項記載の偏向コ
イルの巻線分布検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20039786A JPS6355833A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 偏向コイルの巻線分布検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20039786A JPS6355833A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 偏向コイルの巻線分布検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6355833A true JPS6355833A (ja) | 1988-03-10 |
| JPH0584623B2 JPH0584623B2 (ja) | 1993-12-02 |
Family
ID=16423641
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20039786A Granted JPS6355833A (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 偏向コイルの巻線分布検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6355833A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100401103B1 (ko) * | 2001-05-04 | 2003-10-10 | 삼성전기주식회사 | 편향 요크의 자계 측정용 지그 및 자계 측정 장치 |
| KR100439510B1 (ko) * | 2002-07-03 | 2004-07-12 | 삼성전기주식회사 | 편향 요크의 자계 측정 시스템에서의 센서 고정 구조 |
-
1986
- 1986-08-27 JP JP20039786A patent/JPS6355833A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100401103B1 (ko) * | 2001-05-04 | 2003-10-10 | 삼성전기주식회사 | 편향 요크의 자계 측정용 지그 및 자계 측정 장치 |
| KR100439510B1 (ko) * | 2002-07-03 | 2004-07-12 | 삼성전기주식회사 | 편향 요크의 자계 측정 시스템에서의 센서 고정 구조 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0584623B2 (ja) | 1993-12-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |