JPH0582055B2 - - Google Patents

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JPH0582055B2
JPH0582055B2 JP1010110A JP1011089A JPH0582055B2 JP H0582055 B2 JPH0582055 B2 JP H0582055B2 JP 1010110 A JP1010110 A JP 1010110A JP 1011089 A JP1011089 A JP 1011089A JP H0582055 B2 JPH0582055 B2 JP H0582055B2
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JP
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carrier
decal
flexible membrane
electronic device
tool
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Suteibun Kanpaaman Jeemuzu
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International Business Machines Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 A 産業上の利用分野 本発明は、可撓膜キヤリアの一表面上に印刷配
線された配線リード端子にはんだ付けされた電子
デバイスから成る可撓膜電子デバイス・キヤリ
ア、すなわち、デカル、を剛性回路基板上に特定
のキヤリア工具を用いて取付ける方法および回路
基板の取付けられているデカルを上記キヤリア工
具を用いて回路基板から分離する方法に関する。
本発明の好ましい態様では、可撓膜電子部品キ
ヤリアは、半導体チツプを装着し、リード・ボン
デイング・パツドを形成した可撓膜半導体チツ
プ・キヤリアである。
B 従来技術 電子回路パツケージ、特に比較的薄い可撓膜キ
ヤリアを使用する電子回路パツケージの製作に
は、細心の注意が必要である。たとえば、米国特
許第4231154号明細書では、電子部品を装着し、
それをリード・ボンデイング・パツドによつて基
板に接着した、ポリイミド等の可撓膜キヤリアを
使用した種類の電子回路パツケージ組立体につい
て論じている。
電子部品を装着した可撓膜キヤリアは、一般に
「デカル」と呼ばれている。デカルを回路板や回
路カード等、所期の基板に接着する前に、可撓膜
キヤリアを適切に扱うことができるような形で支
持する個別のキヤリア・フレーム上でデカルを形
成させる。接着は、デカルのリード・パツドを、
基板上の対応するパツドに接触させた後、接合部
を加熱してリフローさせることによつて行なう。
ただし、接着を行なうには、リードは基板に対し
て平坦でなければならない。そのためには、キヤ
リア・フレームが平坦であり、デカル表面に欠陥
がなく、基板にチツプを収容するための凹部があ
ることが必要である(たとえば第2図参照)。
これらの要件のため、デカル、基板またはキヤ
リア・フレームの表面は欠陥があると、接着の際
に問題が生じ、適切に製作されなかつた製品を廃
棄になければならないことになる。さらに、デカ
ルは極めて薄く非常に柔軟であるため、損傷を与
えないように注意深く取り扱う必要がある。
さらに、欠陥のある可撓膜部品キヤリアまたは
電子部品を、集積回路板や集積回路カード等の基
板から除去して、回路板や回路カードを再使用可
能にすることは、極めて困難である。たとえば、
キヤリアと基板との接着が粘着性であり、キヤリ
アが可撓性であるため、パツケージを適切に取り
扱つて、カードや回路板に再使用に適さなくなる
ような損傷を与えずに、キヤリア及び部品を回路
カードや回路板から完全に除去することは困難で
ある。
さらに、従来の製法では、可撓膜キヤリアを基
板と接着した後、分離するまで、フレームにキヤ
リアをつけたままにしておく必要がある。しか
し、この手順は、第2図に示すようにデカルと基
板の形状に制約があるため、望ましくない。ま
た、従来の製法は、部品を個別に生産する場合に
しか適していない。
C 発明が解決しようとする問題点 本発明によれば、可撓膜電子部品キヤリアを基
板と接着する前に、支持フレームを除去すること
が可能になる。さらに、本発明によれば、従来技
術のようなチツプを収容するための凹部を必要と
する基板ではなく、平坦な基板に使用することが
可能になる。また、本発明によればデカルの表面
の欠陥も、支持フレームの平坦性からの逸脱も許
容される。
さらに、接着前にデカルを支持フレームから除
去できるため、第2の応力緩和のためのリフロー
が不要になり、したがつて処理工程の経済性が改
善される。また、本発明によれば、部品を自動的
に取り扱うこと、及びマルチアツプ方式でデカル
を製造することが可能になる。
D 問題点を解決するための手段 本発明によれば、一表面上に配線リードが印刷
配線され、その一部の配線リード端子上に電子バ
イスがフエース・ボンデングされ、残余の配線リ
ード端子上にリード・ボンデイグ・パツドが形成
されて支持フレームで保持されている可撓性薄膜
(可撓膜電子デバイス・キヤリアまたは可撓膜キ
ヤリアと呼ぶ)、すなわちデカル、を剛性回路基
板上に装着したり、または回路基板から分離した
りする際に特殊のキヤリア工具を使用する。この
キヤリア工具は、内壁に多数の吸気孔を有する実
質的に角柱状の形態をなしており、その先端面が
平坦面でありその中央部に電子デバイスを含む可
撓膜キヤリア部分を収容しうる大きさの凹状キヤ
ビテイが設けられている。このキヤビテイの外周
辺に沿つて加熱素子、さらに、その外周辺に沿つ
て多数の吸気孔が並設されている。
このようなキヤリア工具を用いてデカルを回路
基板上に装着する本発明の方法は次の段階を含
む。
上記デカル上の電子デバイスおよびリード・ボ
ンデイング・パツド位置に対応するデカルの裏面
位置に上記キヤリア工具のキヤビテイおよび加熱
素子が各々整列するようにキヤリア工具に関して
デカル配置する段階、 上記内壁の吸気孔および上記先端平坦面の吸気
孔を介してデカルの裏面を吸引してデカルをキヤ
リア工具の上記先端平坦面およびキヤビテイ位置
に吸着して保持する段階、 上記キヤリア工具に保持されている上記デカル
の周辺部に位置する上記支持フレームを含む可撓
膜の部分を切断して分離する段階、 上記リード・ボンデイング・パツドが回路基板
の所定回路端子に接触するように上記デカルを平
坦状の回路基板上に配置する段階、 上記キヤリア工具の加熱素子に通電することに
よりデカルを基板上にはんだ付けする段階、 上記吸気を遮断してキヤリア工具をデカルから
引離す段階、 より成る。
一方、デカルを基板から分離する本発明の方法
は、次の段階を含む。
主平面上に電子デバイスが取り付けられ、さら
に該主平面にはリード・ボンデイグ・パツドが設
けられている可撓膜電子デバイス・キヤリアが接
着されている回路基板から該可撓膜電子デバイ
ス・キヤリアを分離するための方法であつて、 上記可撓膜キヤリアに付着される電子デバイス
を収容するに十分な深さの凹状キヤビテイをも
ち、該キヤビテイの表面は該電子デバイスと接触
可能になされ、該キヤビテイの周辺部分は、該可
撓膜のリード・ボンテイング領域と接触可能にな
され、該キヤビテイの表面には、該可撓膜キヤリ
アと、該可撓膜キヤリアに付着された電子デバイ
スを保持するべき吸引を行なうための開口が設け
られ、さらに上記可撓膜キヤリアの上記リード・
ボンデイング・パツドに接触可能である加熱エレ
メントを設けられれなる本体部分を有する工具の
該キヤビテイ表面に接触させるように、上記可撓
膜キヤリアを配置する段階、 上記可撓膜キヤリアを所望の位置に保持するた
めに上記工具を上記開口を介して吸気する段階、 上記可撓膜キヤリアのリード・ボンデイング領
域を加熱する段階、 上記可撓膜キヤリアを上記基板から分離するた
めに上記工具を引き上げる段階、 上記吸気を遮断する段階、 から成る回路基板に接着している可撓膜電子デバ
イス・キヤリアの分離方法。
E 実施例 第2図は、半導体チツプを取り付けたデカル
を、支持基板上に接着する従来技術の構成を示
す。具体的には、はんだボンド3でチツプ2を接
着したデカル1を、デカルのパツド5を基板4の
対応するパツド6に接触させることにより、基板
4に接着させる。次にデカルと基板とを加熱し
て、接合部をリフローさせる。図に示すように、
リードは基板に対して平坦でなければならず、そ
のためには、デカルのキヤリア・フレームが平坦
であり、デカルの表面に欠陥がなく、基板にチツ
プを受けるための凹部7を有する必要がある。
第1図は、本発明による取付け具の概略図であ
る。取付け具の概略図である。取付け具10は、
フリツト化した青銅等、適当な構造材料で作成し
た壁部11を有する。また、取付け具10は、取
付け具の中央部付近に凹部12を有する。凹部1
2は、半導体チツプを収容するのに十分な深さを
有する。取付け具10の表面13は実質的に平坦
で、後で取り付けるデカルに対して減圧するため
の穴14を有する。この真空により、デカルは所
定の位置に保持される。取付け具の外周部の内側
にも、真空を容易に得るための穴15が設けてあ
る。穴14,15を設ける代りに、取付け具を多
孔質の材料で作成して減圧手段としてもよい。取
付け具表面の周辺部に、加熱エレメント16があ
る。この加熱エレメント16は、リードを加熱し
て、デカルを基板に接着させたり、すでに形成し
た部品のボンドを軟化させて、基板から皮膜を除
去する。
第3a図ないし第3c図は、本発明の取付け具
を使用して、可撓膜電子部品キヤリアを基板上に
装着する方法を示す。具体的には、第3a図は、
取付け具10を反転した形で示す。支持フレーム
21中の可撓膜電子部品キヤリア20が、電子部
品22を装着した状態で、取付け具10の下に置
いてある。キヤリア20は、ボンデイング・パツ
ド23も有する。キヤリア20の電子部品22か
ら離れた側の表面は、取付け具10と接触させる
ために、取付け具10に向けて置いてある。可撓
膜キヤリアすなわちデカルを吸引させるために真
空にし、これによりチツプ等の電子部品を取付け
具の凹部内に保持する(第36図)。次にダイ
(図示せず)を使つて、可撓膜キヤリアから支持
フレームを除去する。必要があれば、デカル20
を基板24に正確に整合させるために、既知の光
学システム、たとえば光学的分離装置(図示せ
ず)を使用する。次に、取付け具でデカル20を
基板24に圧着させ、同時に取付け具の周囲に設
けた加熱コイル16によつて、キヤリア及び基板
の各リード・ボンデイング区域(23及び25)
を加熱して、キヤリアを基板を接着させる(第3
C図)。この熱によつてはんだがリフローし、基
板とキヤリアの間に強固な接着を生じさせる。電
子部品22は基板24に接触している。次に、真
空を解除して、取付け具を引き上げる。このよう
にして、基板に装着し接着したデカルが得られ
る。
代表的なはんだは、Pb−Snはんだで、融点が
約185℃のSn63%、Pb37%のものや、融点が約
320℃のSn10%、Pb90%のものなどがある。
第4a図及び第4b図は、本発明の取付け具
を、両面チツプ・キヤリア30と共に用いたとこ
ろを示す。具体的には、第4a図は、取付け具1
0を反転した形で示す。支持フレーム21に取り
付けた可撓膜電子部品キヤリア30が、電子部品
31を装着した状態で、取付け具10の下に置い
てある。キヤリア30は、リード・ボンデイン
グ・パツド32も有する。キヤリア30の電子部
品31に近い側の表面は、取付け具10と接触さ
せるために、取付け具に向けて置いてある。可撓
膜キヤリアすなわちデカルを吸引させるために真
空にし、これによりチツプ等の電子部品を取付け
具の凹部内に保持する。次にダイ(図示せず)を
使つて、可撓膜キヤリアから支持フレームを除去
する。必要があれば、デカル30を基板24に正
確に整合させるために(第4b図参照)、既知の
光学システム、たとえば光学的分離装置(図示せ
ず)を使用する。次に、取付け具でデカル30を
基板24に圧着させ、同時に取付け具の周囲に設
けた加熱コイル16によつて、キヤリア及び基板
の各リード・ボンデイング区域(32及び33)
を加熱して、キヤリアを基板に接着させる。この
熱によつてはんだがリフローし、基板とキヤリア
の間に強固な接着を生じさせる。電子部品31は
基板24に接触している。次に、真空を解放し
て、取付け具を引き上げる。このようにして基板
に取り付け接着したデカルが得られる。
さらに、本発明の取付け具を使つて、可撓膜電
子部品キヤリアを接着した基板から、キヤリアを
取り除くことができる。そうすることが望ましい
のは、欠陥のある部品を回収して、キヤリアを基
板から除去した後で基板を再使用するときであ
る。この方法は、キヤリアに接着した基板が取付
け具から離れた位置にくるように、可撓膜電子部
品キヤリアを本発明の取付け具に接触させること
を含んでいる。次に、取付け具を介して減圧し、
可撓膜電子部品キヤリアを所期の位置に支持す
る。取付け具の周辺部に設けた加熱エレメントに
よつて可撓膜キヤリアのリード・ボンデイング区
域を加熱し、ボンデイング・パツドの材料を溶融
させる。
次に取付け具を引き上げ、キヤリアを基板から
分離した後、真空を解除する。
本発明に使用するデカルすなわち電子部品キヤ
リアは、たとえば米国特許第4231154号明細書に
開示されたものである。具体的には、好ましい可
撓性キヤリアは、一般に厚みが約0.5ミクロンな
いし約50ミクロン、好ましくは約5ないし約10ミ
クロンの、薄いポリイミド基板である。支持フレ
ームは、一般にチタン等の比較的剛性の材料であ
る。ポリイミドとチツプを溶着させる基板は、一
般にセラミツク材料やエポキシ回路板等の剛性基
板、及びポリイミド等の可撓膜である。
F 発明の効果 以上述べたように、本発明によれば、可撓膜電
子部品キヤリアを基板と接着する前に、可撓膜電
子部品キヤリアから支持フレームを除去すること
が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の取付け具の等角図、第2図
は、従来技術による電子回路パツケージの構成の
概略図、第3a図ないし第3c図、及び第4a図
と第4b図は、本発明の取付け具を使つて基板上
にキヤリアを装着する方法を示す概略図である。 1……デカル、2……チツプ、3……ソルダ・
ポンド、4……基板、10……取付け具、12…
…凹部、14,15……穴、16……加熱エレメ
ント、20,30……可撓膜電子部品キヤリア、
22,31……電子部品、24……基板。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 一表面上に配線リードが印刷配線され、その
    一部の配線リード端子上に電子デバイスがフエー
    ス・ボンデングされ、残余の配線リード端子上に
    はんだ被膜のリード・ボンデング・パツドが形成
    され、支持フレームで保持されている可撓性薄膜
    の電子デバイス・キヤリア(以後デカルと呼ぶ)
    を準備する段階、 内壁に多数の吸気孔を有する実質的に角柱状の
    形態であり、その先端面が平坦面であると共にそ
    の中心部に電子デバイスを含むデカル部分を収容
    しうる大きさの凹状のキヤビテイが設けられてお
    り、そのキヤビテイの外周辺に沿つて加熱素子、
    さらにその外周辺につて多数の吸気孔が並設され
    ているキヤリア工具を準備する段階、 上記デカル上の電子デバイスおよびリード・ボ
    ンデイング・パツド位置に対応するデカルの裏面
    位置に上記キヤリア工具のキヤビテイおよび加熱
    素子が各々整列するようにキヤリア工具に関して
    デカルを配置する段階、 上記内壁の吸気孔および上記先端平坦面の吸気
    孔を介してデカルの裏面を吸引してデカルをキヤ
    リア工具の上記先端平坦面およびキヤビテイ位置
    に吸着して保持する段階、 上記キヤリア工具に保持されている上記デカル
    の周辺部に位置する上記支持フレームを含む可撓
    膜の部分を切断して分離する段階、 上記リード・ボンデイング・パツドが回路基板
    の所定回路端子に接触するように上記デカルを平
    坦状の回路基板上に配置する段階、 上記キヤリア工具の加熱素子に通電することに
    よりデカルを基板上にはんだ付けする段階、 上記吸気を遮断してキヤリア工具をデカルから
    引離す段階、 から成る可撓膜電子デバイス・キヤリアの取付方
    法。 2 主平面上に電子デバイスが取り付けられ、さ
    らに該主平面にはリード・ボンデイグ・パツドが
    設けられている可撓膜電子デバイス・キヤリアが
    接着されている回路基板から該可撓膜電子デバイ
    ス・キヤリアを分離するための方法であつて、 上記可撓膜キヤリアに付着される電子デバイス
    を収容するに十分な深さの凹状キヤビテイをも
    ち、該キヤビテイの表面は該電子デバイスと接触
    可能になされ、該キヤビテイの周辺部分は、該可
    撓膜のリード・ボンテイング領域と接触可能にな
    され、該キヤビテイの表面には、該可撓膜キヤリ
    アと、該可撓膜キヤリアに付着された電子デバイ
    スを保持するべき吸引を行なうための開口が設け
    られ、さらに上記可撓膜キヤリアの上記リード・
    ボンデイング・パツドに接触可能である加熱エレ
    メントを設けられれてなる本体部分を有する工具
    の該キヤビテイ表面に接触させるように、上記可
    撓膜キヤリアを配置する段階、 上記可撓膜キヤリアを所望の位置に保持するた
    めに上記工具を上記開口を介して吸気する段階、 上記可撓膜キヤリアのリード・ボンデイング領
    域を加熱する段階、 上記可撓膜キヤリアを上記基板から分離するた
    めに上記工具を引き上げる段階、 上記吸気を遮断する段階、 から成る回路基板に接着している可撓膜電子デバ
    イス・キヤリアの分離方法。
JP1010110A 1988-04-20 1989-01-20 可撓膜電子デバイス・キャリアの取付方法及びその分離方法 Granted JPH01270327A (ja)

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US183948 1988-04-20

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