JPH057750B2 - - Google Patents
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- JPH057750B2 JPH057750B2 JP59037544A JP3754484A JPH057750B2 JP H057750 B2 JPH057750 B2 JP H057750B2 JP 59037544 A JP59037544 A JP 59037544A JP 3754484 A JP3754484 A JP 3754484A JP H057750 B2 JPH057750 B2 JP H057750B2
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Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は、たとえば郵便物の表裏、上下方向を
取揃え押印する郵便物自動取揃押印機において、
郵便物のフラツプ（封緘）検出に用いられる検出
装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field of the Invention] The present invention relates to an automatic postal collection and stamping machine that aligns and stamps the front and back sides and top and bottom directions of mail pieces, for example.
The present invention relates to a detection device used to detect flaps in mail.
［発明の技術的背景］
たとえば郵便物自動取揃押印機は、周知のよう
に供給される郵便物の表裏、上下方向を取揃えて
押印するものである。その場合、郵便物の表裏、
上下方向を判定する必要があるので、たとえば第
１図に示すようなフラツプ１を有する郵便物Ｐの
場合、そのフラツプ１を検出し、その検出情報を
判定要素の１つとして用いる場合がある。[Technical Background of the Invention] For example, an automatic postal collection and stamping machine, as is well known, is used to align and stamp the front and back sides and the top and bottom of supplied mail pieces. In that case, the front and back of the mail,
Since it is necessary to determine the vertical direction, for example, in the case of a mail P having a flap 1 as shown in FIG. 1, the flap 1 may be detected and the detected information may be used as one of the determining factors.
このようなフラツプ検出に用いられる従来の検
出装置として第２図に示すようなものがある。す
なわち、ハロゲンランプなどの光源２からの光を
郵便物Ｐのフラツプ１を有する面（つまり裏面）
に対してフラツプ側の斜め方向から照射し、その
反射光を結像レンズ３によつてライセンサ４の受
光面に結像して光電変換することにより、フラツ
プ１の段差により生じた影Ｓを検出するものであ
る。この場合、ラインセンサ４による走査方向は
第１図に示す矢印ａ方向であり、またラインセン
サ４の出力信号は第３図に示すようになり、図中
Ｆはフラツプ１の段差により生じた影Ｓによるフ
ラツプ信号である。そして、ラインセンサ４の出
力信号を所定のスライス信号L1によつて量子化
することにより、フラツプ検出情報を得るもので
ある。 A conventional detection device used for such flap detection is shown in FIG. That is, the light from the light source 2 such as a halogen lamp is directed to the side of the mail P that has the flap 1 (that is, the back side).
is irradiated from an oblique direction on the flap side, and the reflected light is imaged by the imaging lens 3 on the light receiving surface of the licensor 4 and photoelectrically converted, thereby detecting the shadow S caused by the step of the flap 1. It is something to do. In this case, the scanning direction by the line sensor 4 is the direction of arrow a shown in FIG. 1, and the output signal of the line sensor 4 is as shown in FIG. This is a flap signal caused by S. Flap detection information is obtained by quantizing the output signal of the line sensor 4 using a predetermined slice signal L1 .
［背景技術の問題点］
ところが、上述した従来の検出装置には次のよ
うな問題があつた。すなわち、従来の照明方式で
あると、第２図にθ1，θ2，θ3，θ4，θ5で示すよう
に、郵便物Ｐ上の位置によつて光の照射角度が異
なる。つまり、光源２に近くなるにしたがつて照
射角度が大きくなる。ところが、郵便物Ｐのフラ
ツプ１の形状には種々なものがあり、比較的大き
な形状のフラツプの場合はそれほど問題ないが、
たとえば第１図に破線で示すような比較的小さな
形状のフラツプの場合（郵便物Ｐの比較的上側に
フラツプ１がある場合）、照射角度の大きい側に
フラツプ１が存在することになる。こうなると、
フラツプ１の段差による影Ｓがほとんど生じなく
なり（生じても非常に小さな影となる）、その結
果、検出不可能となつてしまう。たとえ検出でき
たとしても、フラツプ信号Ｆのレベルが非常に小
さく、このためノイズなどと区別できないばかり
か、量子化も不可能となつてしまう。これは、フ
ラツプ１が郵便物Ｐの上側に位置すればするほど
顕著なものとなる。[Problems with Background Art] However, the conventional detection device described above has the following problems. That is, in the conventional illumination method, the irradiation angle of light differs depending on the position on the mail P, as shown by θ 1 , θ 2 , θ 3 , θ 4 , and θ 5 in FIG. In other words, the closer the light source 2 is, the larger the irradiation angle becomes. However, there are various shapes of the flap 1 of the postal item P, and although there is no problem in the case of a flap with a relatively large shape,
For example, if the flap has a relatively small shape as shown by the broken line in FIG. 1 (if the flap 1 is located relatively above the mail P), the flap 1 will exist on the side where the irradiation angle is large. This happens when,
The shadow S caused by the step of the flap 1 is hardly produced (even if it is produced, it is a very small shadow), and as a result, it becomes undetectable. Even if it were detected, the level of the flap signal F would be so low that it would not only be impossible to distinguish it from noise, but also impossible to quantize. This becomes more noticeable as the flap 1 is positioned above the mail P.
［発明の目的］
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、そ
の目的とするところは、郵便物のフラツプ検出に
おいて、郵便物の表面の広範囲にわたつて確実に
フラツプ検出が行なえる検出装置を提供すること
にある。[Object of the Invention] The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to provide a detection device that can reliably detect flaps over a wide range of the surface of the mail. Our goal is to provide the following.
［発明の概要］
本発明は、上記目的を達成するために、郵便物
のフラツプ（封緘）が存在する表面に対して、フ
ラツプ側の斜め方向から所定の角度で平行光を照
射することにより、郵便物のフラツプが存在する
表面においてどの位置でも光の照射角度が等しく
なるようにしたものである。[Summary of the Invention] In order to achieve the above-mentioned object, the present invention irradiates parallel light at a predetermined angle from an oblique direction on the flap side to the surface where the flap (seal) of the mail item exists. The irradiation angle of light is made to be the same at any position on the surface of the mail where the flap exists.
また、本発明は、郵便物のフラツプが存在する
表面での光量差を補正する減光フイルタなどの光
学手段を設けるとともに、その光学段による光量
低下に伴なう損失を補正するシリンドリカルレン
ズなどの光学手段を郵便物のフラツプが存在する
表面の前面に設けたものである。 Furthermore, the present invention provides an optical means such as a neutral density filter that corrects the difference in light intensity on the surface where the mail flap exists, and a cylindrical lens or the like that corrects the loss caused by the decrease in light intensity caused by the optical stage. The optical means is placed in front of the surface of the mail piece where the flap is present.
［発明の実施例］
以下、本発明の一実施例について図面を参照し
て説明する。なお、第２図と同一部分には同一符
号を付して説明する。第４図において、光源２か
らの光を減光フイルタ１１と平行光レンズ１２と
からなる光学系１３によつて平行光化し、その平
行光を郵便物Ｐの裏面に対してフラツプ側の斜め
方向から所定の角度で照射し、その反射光を結像
レンズ３によつてライセンサ４の受光面に結像し
て光電変換するようになつている。上記減光フイ
ルタ１１は、照射面（郵便物Ｐの裏面）での光量
差を補正するためのもので、第５図に示すような
特性（郵便物Ｐの上下の光むらに比例した減光特
性）を有する光学フイルタであり、たとえば第６
図に断面図を示すように、透明ガラス板などのフ
イルタ基板１４の表面に郵便物Ｐの上側は光透過
率が低く、下側にゆくにしたがつて光透過率が高
くなるような蒸着膜１５を付けることによつて実
現できる。また、照射面の前面にはシリンドリカ
ルレンズ１６が設けられ、減光フイルタ１１の光
量低下による損失を補正するようになつている。
しかして、ラインセンサ４の出力信号は量子化回
路１７に供給され、可変抵抗器１８によつて設定
された所定のスライス信号L2によつて量子化さ
れるようになつている。[Embodiment of the Invention] Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that the same parts as in FIG. 2 will be described with the same reference numerals. In FIG. 4, the light from the light source 2 is converted into parallel light by an optical system 13 consisting of a dark filter 11 and a parallel light lens 12, and the parallel light is directed diagonally toward the flap side with respect to the back surface of the mail P. The reflected light is irradiated from the center at a predetermined angle, and the reflected light is imaged on the light receiving surface of the licensor 4 by the imaging lens 3 and photoelectrically converted. The above-mentioned light attenuation filter 11 is for correcting the difference in light amount on the irradiated surface (the back side of the mail P), and has the characteristic (attenuation proportional to the light unevenness above and below the mail P) as shown in FIG. For example, the sixth optical filter has
As shown in the cross-sectional view in the figure, a vapor-deposited film is formed on the surface of the filter substrate 14, such as a transparent glass plate, so that the light transmittance is low on the upper side of the mail P and becomes higher toward the lower side. This can be achieved by adding 15. Further, a cylindrical lens 16 is provided in front of the irradiation surface to correct a loss due to a decrease in the light amount of the neutral density filter 11.
Thus, the output signal of the line sensor 4 is supplied to the quantization circuit 17, and is quantized by a predetermined slice signal L2 set by the variable resistor 18.
このような構成であれば、郵便物Ｐの裏面に対
してフラツプ側の斜め方向から所定の角度で平行
光を照射することにより、郵便物Ｐ上においてど
の位置でも光の照射角度が等しく（θ）なる。こ
れにより、どのような形状のフラツプ１でも、ま
たフラツプ１がどこに位置していても、フラツプ
１の段差による影Ｓが確実に生じるようになる。
したがつて、郵便物Ｐの上下方向の広範囲にわた
つて確実にフラツプ検出が行なえる。 With such a configuration, by irradiating the back surface of the postal item P with parallel light at a predetermined angle from the diagonal direction on the flap side, the irradiation angle of the light is the same at any position on the postal item P (θ )Become. As a result, no matter what shape the flap 1 has or where the flap 1 is located, the shadow S due to the step of the flap 1 is reliably produced.
Therefore, flap detection can be reliably performed over a wide range in the vertical direction of the mail P.
また、減光フイルタ１１の作用により郵便物Ｐ
の照射面での光量差を補正し、照射面で均一な光
量が得られるとともに、シリンドリカルレンズ１
６による光の集光作用により減光フイルタ１１に
よる光量低下を緩和することができ、従来とほぼ
同様な光量が得られる。これにより、ラインセン
サ４からは第７図ａに示すような光むらによるシ
エーデイング現象のない水平な出力信号が得ら
れ、量子化回路１７において直流スライス信号
L2により容易に量子化でき、第７図ｂに示すよ
うなフラツプ量子化信号が得られる。このよう
に、減光フイルタ１１とシリンドリカルレンズ１
６を設置することにより、ラインセンサ４から光
むらによるシエーデイング現象のない光電変換信
号が得られる。これにより、容易なスライス方式
（直流スライス信号）でライセンサ４の出力信号
を確実に量子化することができる。なお、減光フ
イルタ１１を設けなかつた場合、平行光を斜め方
向から照射しているため、第４図において郵便物
Ｐの上部（光源２に近い部分）が明るく、逆に下
部（光源から遠い部分）が暗くなり、このためラ
インセンサ４の出力信号も第８図に示すように図
面に対して右上りになる傾斜した信号波形となつ
てしまう。すなわち、光むらによるシエーデイン
グ現象をもつた信号となつてしまう。このような
信号は、容易なスライス方式（たとえば直流スラ
イス信号）で量子化することは非常に困難である
など、量子化する上で種々の問題がある。そこ
で、本発明では前述したような減光フイルタ１１
を設けることにより、そのような問題を除去する
ようにしている。 Also, due to the effect of the neutral density filter 11, the mail P
By correcting the difference in light intensity on the irradiated surface, a uniform light amount can be obtained on the irradiated surface, and the cylindrical lens 1
Due to the light condensing effect of the light filter 6, the reduction in light amount caused by the attenuating filter 11 can be alleviated, and almost the same amount of light as the conventional one can be obtained. As a result, a horizontal output signal free from the shading phenomenon caused by light unevenness as shown in FIG.
L 2 allows easy quantization, resulting in a flap quantized signal as shown in FIG. 7b. In this way, the neutral density filter 11 and the cylindrical lens 1
6, it is possible to obtain a photoelectric conversion signal from the line sensor 4 without a shedding phenomenon caused by light unevenness. Thereby, the output signal of the licensor 4 can be reliably quantized using a simple slice method (DC slice signal). Note that when the attenuation filter 11 is not provided, the parallel light is irradiated from an oblique direction, so in FIG. 8) becomes dark, and as a result, the output signal of the line sensor 4 also has a signal waveform that slopes upward to the right with respect to the drawing, as shown in FIG. In other words, the signal will have a shading phenomenon due to light unevenness. There are various problems in quantizing such signals, such as the fact that it is very difficult to quantize them using a simple slice method (for example, a DC slice signal). Therefore, in the present invention, the attenuation filter 11 as described above is used.
By providing this, such problems are removed.
発明の効果
以上詳述したように本発明によれば、郵便物の
フラツプ検出において、郵便物の表面の広範囲に
わたつて確実にフラツプ検出が行なえる検出装置
を提供することができる。Effects of the Invention As described in detail above, according to the present invention, it is possible to provide a detection device that can reliably detect flaps over a wide range of the surface of the mail.
第１図はフラツプを有する郵便物の一例を示す
図、第２図は従来の検出装置を示す構成図、第３
図は第２図におけるラインセンサの出力信号を示
す波形図、第４図ないし第８図は本発明の一実施
例を説明するためのもので、第４図は全体的な構
成図、第５図は減光フイルタの特性図、第６図は
減光フイルタの構成図、第７図および第８図は動
作を説明するための信号波形図である。
Ｐ……郵便物、１……フラツプ、２……光源、
３……結像レンズ、４……ラインセンサ（光電変
換機）、１１……減光フイルタ、１２……平行光
レンズ、１３……光学系、１６……シリンドリカ
ルレンズ、１７……量子化回路。
Fig. 1 is a diagram showing an example of a mail item with a flap, Fig. 2 is a configuration diagram showing a conventional detection device, and Fig. 3 is a diagram showing an example of a mail item with a flap.
The figure is a waveform diagram showing the output signal of the line sensor in Figure 2, Figures 4 to 8 are for explaining one embodiment of the present invention, Figure 4 is an overall configuration diagram, and Figure 5 FIG. 6 is a characteristic diagram of the attenuation filter, FIG. 6 is a configuration diagram of the attenuation filter, and FIGS. 7 and 8 are signal waveform diagrams for explaining the operation. P... Mail, 1... Flap, 2... Light source,
3...Imaging lens, 4...Line sensor (photoelectric converter), 11...Dimension filter, 12...Parallel light lens, 13...Optical system, 16...Cylindrical lens, 17...Quantization circuit .
Claims (1)
出装置において、 前記郵便物の封緘が存在する表面に対して封緘
側の斜め方向から所定の角度で光を照射する光源
と、 この光源から前記郵便物の封緘が存在する表面
に照射される光を平行光に交換する第１の光学手
段と、 前記光源と前記郵便物の封緘が存在する表面と
の間に設けられ、その表面での光量差を補正す
る、その光量差に比例した減光特性を有する第２
の光学手段と、 前記郵便物の封緘が存在する表面の前面に設け
られ、前記第２の光学手段による光量低下に伴う
損失を補正する第３の光学手段と、 前記郵便物の封緘が存在する表面からの反射光
を受光して電気信号に交換する光電交換手段と、 この光電交換手段の出力信号を処理することに
より前記封緘の段差によつて生じる影を検出する
信号処理手段と を具備したことを特徴とする検出装置。[Scope of Claims] 1. A detection device for detecting a seal present on one surface of a mail piece, comprising: a light source that irradiates light at a predetermined angle from an oblique direction on the seal side to the surface of the mail piece where the seal is present. and a first optical means for converting the light irradiated from the light source onto the surface on which the seal of the mail item is present into parallel light; and a first optical means provided between the light source and the surface on which the seal of the mail item exists. , a second layer having a light attenuation characteristic proportional to the difference in light amount, which corrects the difference in light amount on the surface.
a third optical means that is provided in front of the surface on which the seal of the mail item is present and corrects a loss caused by a decrease in the amount of light caused by the second optical means; and the seal of the mail item is present. It is equipped with a photoelectric exchange means that receives reflected light from the surface and exchanges it into an electric signal, and a signal processing means that detects a shadow caused by the step of the seal by processing the output signal of the photoelectric exchange means. A detection device characterized by:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59037544A JPS60181879A (en) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | Photoelectric converting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59037544A JPS60181879A (en) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | Photoelectric converting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60181879A JPS60181879A (en) | 1985-09-17 |
| JPH057750B2 true JPH057750B2 (en) | 1993-01-29 |
Family
ID=12500466
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59037544A Granted JPS60181879A (en) | 1984-02-29 | 1984-02-29 | Photoelectric converting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60181879A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7151733B2 (en) * | 2020-01-20 | 2022-10-12 | Ｊｆｅスチール株式会社 | Surface inspection device, surface inspection method, steel manufacturing method, steel quality control method, and steel manufacturing equipment |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5137665A (en) * | 1974-09-26 | 1976-03-30 | Nippon Electric Co | |
| JPS57210458A (en) * | 1981-06-22 | 1982-12-24 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Optical reader |
-
1984
- 1984-02-29 JP JP59037544A patent/JPS60181879A/en active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5137665A (en) * | 1974-09-26 | 1976-03-30 | Nippon Electric Co | |
| JPS57210458A (en) * | 1981-06-22 | 1982-12-24 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Optical reader |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60181879A (en) | 1985-09-17 |
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|---|---|---|---|
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