JPH0575344B2 - - Google Patents

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JPH0575344B2
JPH0575344B2 JP26069087A JP26069087A JPH0575344B2 JP H0575344 B2 JPH0575344 B2 JP H0575344B2 JP 26069087 A JP26069087 A JP 26069087A JP 26069087 A JP26069087 A JP 26069087A JP H0575344 B2 JPH0575344 B2 JP H0575344B2
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JP
Japan
Prior art keywords
bimorph
wavelength
light
piezoelectric
transparent substrate
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP26069087A
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English (en)
Other versions
JPH01101421A (ja
Inventor
Masayuki Katagiri
Masanori Watanabe
Yasuhiko Inami
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP26069087A priority Critical patent/JPH01101421A/ja
Publication of JPH01101421A publication Critical patent/JPH01101421A/ja
Publication of JPH0575344B2 publication Critical patent/JPH0575344B2/ja
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  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す可変干渉装置
の斜視図である。第2図はバイモルフの動作を説
明するために供する説明図である。第3図は第1
図に示す可変干渉装置の動作の一例を示す特性図
である。第4図は本発明の他の実施例を示す断面
図である。第5図は本発明の更に他の実施例を示
す断面図である。第6図は従来の可変干渉装置の
構成断面図である。 1,2……透光性基板、3……スペーサ、4…
…反射膜、5……バイモルフ、6……ホルダー、
10……圧電材料、11……弾性体、12……支
持具、20……縦効果型圧電素子、21……電
極、22……ホルダー。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 2つの対向する反射体と該反射体を支持する
    支持体により上記2つの反射体に囲まれた空洞を
    擁するフアブリーペロー干渉計に、上記反射体の
    少なくとも一方をバイモルフ型圧電素子を用いて
    変形させることにより干渉特性を制御することを
    特徴とする可変干渉装置。 2 上記バイモルフ型圧電素子が圧電体と弾性体
    から成り、該弾性体が厚さ方向に迂曲しているこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の可変
    干渉装置。 3 上記バイモルフ型圧電素子が上記反射体の少
    なくとも一方と一部あるいは全面で結合している
    特許請求の範囲第1項記載の可変干渉装置。 【特許請求の範囲】 <技術分野> 本発明はフアブリー・ペロー干渉計を利用した
    小型の分光装置に関するものである。 <従来の技術> 従来、分光装置としては、回折格子を用いたも
    のが多く使われている。これは、回折格子を機械
    的に回動させることにより必要な単色光を得るも
    のであつて、高い分解能が得られる反面、各光学
    素子の位置設定に高い精度を必要とし、また大型
    化する等の問題点を有している。一方、他の方式
    の分光装置として圧電素子の縦効果(電界の方向
    と伸縮の方向が同じ)を利用したフアブリー・ペ
    ロー干渉装置が知られている。第6図にこの構成
    を示す。この分光装置は対向する2つの反射鏡間
    隔を縦効果型圧電素子の伸縮によつて制御し、干
    渉特性の変化から必要な単色光を得るものであ
    る。この構造においては、2つの反射鏡の間隔は
    極めて精度よく制御しなければならず、2個の縦
    効果型圧電素子の制御は容易でない。また周囲温
    度の変動によるホルダーの熱膨張に起因して、反
    射鏡の間隔が変動する可能性がある。上記従来の
    構造では反射鏡の間隔制御の精度及び安定性に大
    きな問題があつた。 <発明の目的> 本発明はフアブリー・ペロー干渉計の原理に基
    づいて干渉計の光路長を高精度にかつ安定に制御
    することができ、分光機能を有する小型の可変干
    渉装置を提供することを目的とする。 <実施例> 以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳細
    に説明する。第1図は本発明の一実施例の説明に
    供する可変分光装置の斜視図である。透光性基板
    1,2はスペーサ3を介して所定の間隔をもつて
    対向している。その対向している内面には反射膜
    4が形成され中空構造となつている。透光性基板
    1,2にはガラス、透光性セラミツクスまたは高
    分子樹脂が用いられる。反射膜4は金属膜または
    単層あるいは多層の誘電体膜から成る。スペーサ
    3及び反射膜4は蒸着法、スパツタ法又はCVD
    法等の薄膜形成法によつて作製される。 ここで可変干渉装置の基本原理について説明す
    る。光が基板面に対して垂直に入射し、反射膜4
    での光の位相のとびがない場合を考える。反射膜
    4間の距離をd、その間の媒体の屈折率をnとす
    ると、フアブリー・ペロー干渉透過率T(λ)は
    次の式で表わされる波長λm毎に最大になる。 λm=2nd/m(m=1、2、3……) ここで、m=1の場合について考える。このと
    きのλ1の走査波長領域をλaからλb(ただしλb<
    2λa)までとすると、反射膜4間の距離dがλa/
    2n≦d≦λb/2nを満足するとき、波長λ1=2nd
    を中心波長とする光が透過する。すなわちdを
    λa/2nからλb/2nまで任意に変化させると、λa
    からλbまで波長領域の任意の波長の光だけを透
    過させることができる。例えば、走査波長領域を
    400〜750nmとすると、反射膜4間隔dは200nm
    から375nmの間で制御すればよい。この場合、反
    射膜4間は中空であるから屈折率は約1である。
    厳密にはλaより短波長の光も透過するので、λa
    以下の波長の光を除去するフイルターを用いる
    が、λa以下の波長の光に対して感度のない受光
    素子(図示せず)を用いればよい。 ここで、全体の構成について説明する。透光性
    基板2はホルダー6に固定されている。そして、
    バイモルフ5は透光性基板1のほぼ中央で、バイ
    モルフ5が軽く接触するか、あるいはごくわずか
    の間隔をあけて、バイモルフの動きが妨げられな
    いように、バイモルフ5の端部でホルダー6に固
    定されている。光線は透光性基板1,2のほぼ中
    央を通る。そのための光学系(図示せず)を具備
    する必要がある。その光学系は光フアイバ、レン
    ズ及び受光素子等の組合せである。またバイモル
    フ5には光軸を妨げないように切り込みをいれて
    おくとよい。 バイモルフ5とは圧電材料の横効果(電界方向
    と材料の伸縮方向が直交している)を利用して、
    伸縮方向の異なる2種類の圧電材料を貼り合せ
    て、電圧を印加すれば湾曲する性質をもつている
    圧電素子である。圧電材料にはチタン酸バリウ
    ム、チタン酸鉛、チタン酸ジルコン酸鉛及びメタ
    ニオブ酸鉛等のセラミツクス系そしてポリフツ化
    ビニリデン等の高分子系材料がある。第2図に一
    般的なパラレル型バイモルフを示す。これは圧電
    材料10が弾性体11(通常金属板で電極になつ
    ている)を挾んで、サンドイツチ構造を成してい
    る。そしてこれを支持具12で片端支持をしてい
    る。このときの変位量と発生力を示す。バイモル
    フの自由長(有効長)をl、幅をw、厚さをtと
    し、印加電圧をVとすると、弾性板の厚さが圧電
    材料に比べて充分薄いとき、無負荷状態での変位
    量U0は次式で示される。 U0=6d31(l/t)2・V ここでd31は圧電定数で圧電材料固有の定数で
    ある。また変位量0のときの発生力は F=3/2d31Y11 E(1−K31 2)・wt/l・V で示される。ここでY11 Eはある結晶方向の弾性定
    数で、K31は電気機械間エネルギー結合係数であ
    る。チタン酸ジルコン酸鉛の代表的な数値示す
    と、d31=−190×10-12m/V、Y11 E=6×
    1010N/m2、K31=0.3である。形状を適宜に選定
    すれば充分な発生力が得られる。このようにし
    て、バイモルフは電圧印加すると、湾曲しようと
    して、そのとき生ずる発生力は電圧で制御するこ
    とができる。本実施例ではバイモルフ5の先端が
    透光性基板1に接触していて、バイモルフに電圧
    を印加すると発生力が生じ、それが透光性基板1
    に作用する。これを受けて、透光性基板1は湾曲
    し、反射膜間の距離dが変化する。すなわち、バ
    イモルフに印加する電圧によつて反射膜間の距離
    dを変化させることができ、該干渉装置の干渉特
    性を制御することができる。 第3図は本実施例の動作の一例を示す。バイモ
    ルフの印加電圧が低いときには透光性基板1に掛
    る負荷は小さく、反射膜間の距離dは大きいの
    で、長波長に中心波長をもつた光が透過する。バ
    イモルフの印加電圧が高くなると、透光性基板1
    に掛る負荷は増加し、反射膜間の距離dは小さく
    なるので、透過光の中心波長は短波長側へシフト
    する。 バイモルフは印加する電圧の方向によつて、湾
    曲する向きが異なり、上に凸にも下に凸にも湾曲
    する。そこでバイモルフ5を透光性基板1を接着
    して透光性基板1を引き上げる力をも利用すれば
    バイモルフのより一層の小形化が図れる。 バイモルフの大きな利点は変位量が大きいこと
    である。透光性基板1を湾曲させるのには透過波
    長の半分程度のごくわずかの変位量が必要であ
    る。その点では縦効果を利用した積層型圧電素子
    (変位量は数μm程度)を用いることもできる。し
    かしそれは該積層型圧電素子及び干渉装置の位置
    設定にμmオーダーの精度が必要であることを意
    味する。バイモルフの変位量は数100μm程度あ
    り、各部品の設定位置精度が大幅に緩和される。
    このように干渉計が一体構造で構成されているこ
    と、外部から基板に加える力を制御して干渉計の
    光路長の制御を行なつていること及び駆動素子に
    バイモルフを用いていること等によつて可変干渉
    計の作製が容易となつた。 第4図に本発明による他の実施例を示す。バイ
    モルフは圧電材料10と弾性体11から構成され
    ていて、圧電材料10が弾性体11を挾持し、一
    体構造となつている。バイモルフは両端支持され
    ている。片端支持の場合に比べて、変位量は減少
    する。しかし、バイモルフの支持を弾性体部で行
    ない、その弾性体に曲線部をもたせることで、変
    位量の減少を低減している。両端支持の利点はバ
    イモルフの取付け精度が確保できることである。
    動作原理については第1図の実施例と同様であ
    る。 第5図に更に他の実施例を示す。バイモルフ5
    は透光性基板1に直接全面あるいは一部で固着さ
    れている。バイモルフに印加電圧に応じて発生す
    る力は透光性基板1全体に作用し、透光性基板1
    を変形させる。バイモルフ5には光線の通る部分
    に孔があけてある。本実施例では可変干渉装置を
    小形にすることができる。そしてバイモルフと可
    変干渉装置が一体となつているので、第1図及び
    第4図の実施例でホルダー6に対して要求されて
    いたバイモルフの取付け精度は、本実施例では全
    く不要である。 <発明の効果> 本発明によれば、一体構造のフアブリーペロー
    干渉計の光路長を外部から駆動系によつて制御す
    るため、高精度にかつ安定に制御することがで
    き、また複雑な機構部品を用いず、各部品の設定
    精度も大幅に緩和でき、かつバイモルフにはほと
    んど電流が流れないので、消費電力もごくわずか
    で動作させることができ、分光機能をもつた小型
    の可変干渉装置を容易に作製することができる。
JP26069087A 1987-10-15 1987-10-15 可変干渉装置 Granted JPH01101421A (ja)

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RU2092948C1 (ru) * 1996-01-31 1997-10-10 Виктор Викторович Аполлонов Зеркало с пространственно неоднородным комплексным коэффициентом отражения
JP2008061970A (ja) * 2006-09-11 2008-03-21 Olympus Corp 可変分光素子および可変分光装置
NO336140B1 (no) * 2009-09-18 2015-05-26 Sintef Aktuator for mikro optisk enhet

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